JPH0445274Y2 - - Google Patents

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JPH0445274Y2
JPH0445274Y2 JP1986181296U JP18129686U JPH0445274Y2 JP H0445274 Y2 JPH0445274 Y2 JP H0445274Y2 JP 1986181296 U JP1986181296 U JP 1986181296U JP 18129686 U JP18129686 U JP 18129686U JP H0445274 Y2 JPH0445274 Y2 JP H0445274Y2
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solder
solder resist
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  • Electric Connection Of Electric Components To Printed Circuits (AREA)

Description

【考案の詳細な説明】 A 産業上の利用分野 本考案は配線基板に関し、特にリフロー半田処
理によつてチツプ部品を絶縁基板上に形成された
配線パターン上に半田付けする場合に適用して好
適なものである。
[Detailed description of the invention] A. Industrial application field The present invention relates to wiring boards, and is particularly suitable for application when chip components are soldered onto wiring patterns formed on an insulating board by reflow soldering. It is something.

B 考案の概要 本考案はリフロー処理によつてチツプ部品を半
田付けするようになされた配線基板において、チ
ツプ部品を接続すべきランド間に穿設したスルー
ホールを囲むとうに2層の半田レジスト層を重積
するように形成するようにしたことにより、一段
と高密度に配線パターンを形成し得る。
B. Summary of the invention The present invention is based on a wiring board to which chip parts are soldered by reflow processing, in which two layers of solder resist are formed to surround through holes drilled between lands to which chip parts are to be connected. By forming the wiring patterns in a stacked manner, it is possible to form wiring patterns with even higher density.

C 従来の技術 従来この種の配線基板においては、チツプ部品
の小型化が進むにつれて、プリント基板の大きさ
が一段と小型化している。
C. Prior Art Conventionally, in this type of wiring board, as chip components become smaller, the size of the printed board becomes smaller.

これに応じて絶縁基板上に形成される配線パタ
ーンの配線密度がますます高くなり、絶縁基板上
にできるだけ無駄なスペースが生じないようにす
る工夫がされている。
In response to this, the wiring density of wiring patterns formed on insulating substrates is becoming higher and higher, and efforts are being made to minimize wasted space on insulating substrates.

しかし実際上リフロー処理をする際に、クリー
ム半田が付着されているランドに接近する他のラ
ンドがあると、溶解した半田がランド間をブリツ
ジするおそれが大きくなり、このような場合に絶
縁基板上のスペースを有効に利用し得ない場合が
ある。
However, in practice, when performing reflow processing, if there is another land that comes close to the land to which cream solder is attached, there is a greater risk that the melted solder will bridge between the lands, and in such cases space may not be used effectively.

例えば絶縁基板の両面にチツプ部品を半田付け
する方式の回路基板の場合は、表面の配線パター
ンを裏面の配線パターンにスルーホールを介して
接続する方法が一般に採用されているが、スルー
ホールは、リフローによつてチツプ部品の電極が
絶縁基板上に形成されたランドに半田付けする際
にブリツジが生じるおそれがないような位置に設
ける必要がある。このため実際上、チツプ部品接
続用のランドの近傍にはスルーホールを設けるこ
とができないものと考えられており、結局配線基
板を小型化するにつき、スルーホールをランドに
近付けることができない分限度があつた。
For example, in the case of a circuit board in which chip components are soldered to both sides of an insulating board, a method is generally adopted in which the wiring pattern on the front side is connected to the wiring pattern on the back side via a through hole. It is necessary to provide the electrodes of the chip components at a position where there is no risk of bridging when soldering the electrodes of the chip components to the lands formed on the insulating substrate by reflow. For this reason, it is considered that in practice it is not possible to provide through holes near lands for connecting chip components, and as wiring boards become smaller, there is a limit to the fact that through holes cannot be placed close to lands. It was hot.

特にチツプ部品の両端に設けられている電極を
半田付けするための一対のランド間のスペース
は、チツプ部品の小型化に伴つて狭くなるため
に、従来は当該一対のランド間にスルーホールを
設ければ、リフロー時に当該スルーホールのラン
ドと、電極接続用の他のランドとの間にブリツジ
が生ずるおそれが大きいから、このような位置に
スルーホールを設けることを避けるような設計が
なされていた。
In particular, the space between a pair of lands for soldering electrodes provided at both ends of a chip component becomes narrower as chip components become smaller, so conventionally a through hole was provided between the pair of lands. If so, there is a high risk that bridging will occur between the land of the through hole and another land for electrode connection during reflow, so the design was made to avoid providing the through hole in such a position. .

D 考案が解決しようとする問題点 ところがこのようにすると、チツプ部品の直下
のスペースを、表面及び裏面間を接続する手段と
してスルーホールを設けるために利用できなくな
り、この分絶縁基板上のスペースが無駄になる問
題がある。
D. Problems that the invention aims to solve However, if this method is used, the space directly under the chip component cannot be used to provide a through hole as a means of connecting between the front and back surfaces, and the space on the insulating board is used up accordingly. There is a problem of waste.

例えば第3図及び第4図において、絶縁基板1
の表面1Aにチツプ部品2の両端に設けられてい
る電極2A及び2Bを半田付けするための一対の
チツプ部品接続用ランド3及び4を設けると共
に、一方のチツプ部品接続用ランド3を、配線パ
ターン7、スルーホール用ランド8、スルーホー
ル6、内のメツキ部9、裏面側に形成されたスル
ーホール用ランド10を介して裏面1B上に形成
された配線パターン5に接続する場合を考える
と、表面1A上に形成された一対のチツプ部品接
続用ランド3及び4間の狭いスペーにスルーホー
ル用ランド8が形成されることにより、チツプ部
品接続用ランド4と、スルーホール用ランド8と
の間の距離は、ますます接近することのなり、リ
フロー処理時ランド4及び8間に溶解した半田が
ブリツジするおそれが大きくなる。
For example, in FIGS. 3 and 4, the insulating substrate 1
A pair of chip component connecting lands 3 and 4 are provided on the surface 1A of the chip component 2 for soldering the electrodes 2A and 2B provided at both ends of the chip component 2, and one chip component connecting land 3 is connected to the wiring pattern. 7. Considering the case of connecting to the wiring pattern 5 formed on the back surface 1B via the through-hole land 8, the through-hole 6, the plating part 9 inside, and the through-hole land 10 formed on the back surface side. By forming the through-hole land 8 in the narrow space between the pair of chip component connection lands 3 and 4 formed on the surface 1A, there is a gap between the chip component connection land 4 and the through-hole land 8. As the distance between them becomes closer, there is a greater possibility that the solder melted between the lands 4 and 8 will bridge during the reflow process.

特に第4図に示すように、タンタル電解コンデ
ンサのように、電極2A,2Bが下側表面上をお
互いに接近するように内側に長く延長しているよ
うなチツプ部品2の場合には、スルーホール用ラ
ンド8に接続されていない方電極2Bがスルーホ
ール用ランド8に近づくように内方に長く延長し
ていることにより、チツプ部品2がチツプ部品接
続用ランド3及び4に対して少しでも内側に寄つ
た位置に位置ずれしてマウントされた場合には、
電極2Bとスルーホール用ランド8間の距離はま
すます接近することになるので、リフロー処理時
に溶解した半田がブリツジするおそれがますます
大きくなる。
In particular, as shown in FIG. 4, in the case of a chip component 2, such as a tantalum electrolytic capacitor, in which the electrodes 2A and 2B extend long inward on the lower surface so as to approach each other, the through-hole Since the electrode 2B that is not connected to the land 8 for the hole extends inward for a long time so as to approach the land 8 for the through hole, the chip component 2 can be slightly connected to the lands 3 and 4 for connecting the chip component. If it is mounted inwardly,
Since the distance between the electrode 2B and the through-hole land 8 becomes closer and closer, there is a greater possibility that the solder melted during the reflow process will bridge.

本考案は以上の点を考慮してなせれたもので、
チツプ部品接続用ランド間の狭いスペースにスル
ーホールを設けた場合にも、当該チツプ部品接続
用のランドと、スルーホールのランドとの間にブ
リツジが生ずるおそれを有効に回避し得るように
した配線基板を提案しようとするものである。
This idea was created taking the above points into consideration.
Even when a through hole is provided in a narrow space between lands for connecting chip components, the wiring can effectively avoid the possibility of bridging between the land for connecting chip components and the land of the through hole. This is an attempt to propose a board.

E 問題点を解決するための手段 かかる問題点を解決するため本考案において
は、絶縁基板1の第1の面1Aに所定のチツプ部
品2を接続するための複数の接続用ランド3,4
を設け、複数の接続用ランド3,4間のスペース
であつてチツプ部品2の直下の部分に、複数の接
続用ランド3,4の1つ3に連結された接続パタ
−ン7と、当該接続パタ−ン7に接続されかつ絶
縁基板1の厚みを貫通して第2の面1Bに設けら
れているランド10に電気的に接続されたスルー
ホール6とを設け、絶縁基板1の第1の面1Aの
少なくとも上記所定のチツプ部品2に対応する複
数の接続用ランド3,4及びスルーホール6を除
く部分に第1の半田レジスト層11を形成すると
共に、複数の接続用ランド3,4間のスペースで
あつてチツプ部品2の直下の部分にスルーホール
6を囲むようにかつ第1の半田レジスト層11に
重積するように第2の半田レジスト層12を形成
し、複数の接続用ランド3,4に当該所定のチツ
プ部品2を接続するリフロー処理時に溶解した半
田13A,13Bが接続パターン7に接続された
接続用ランド3以外のランド4とスルーホール6
との間にブリツジすることを、第1及び第2の半
田レジスト層11及び12の重積部分によつて防
止するようにする。
E. Means for Solving the Problem In order to solve this problem, the present invention provides a plurality of connecting lands 3, 4 for connecting predetermined chip components 2 to the first surface 1A of the insulating substrate 1.
A connection pattern 7 connected to one of the plurality of connection lands 3, 4 is provided in the space between the plurality of connection lands 3, 4 directly below the chip component 2, and a corresponding A through hole 6 is provided which is connected to the connection pattern 7 and is electrically connected to the land 10 provided on the second surface 1B through the thickness of the insulating substrate 1. A first solder resist layer 11 is formed on the surface 1A excluding at least the plurality of connection lands 3, 4 corresponding to the predetermined chip component 2 and the through holes 6, and the plurality of connection lands 3, 4 A second solder resist layer 12 is formed in the space directly below the chip component 2 so as to surround the through hole 6 and overlap the first solder resist layer 11. Solder 13A, 13B melted during the reflow process for connecting the predetermined chip component 2 to the lands 3, 4 is connected to the connection pattern 7. Lands 4 and through-holes 6 other than the connection land 3
The overlapping portions of the first and second solder resist layers 11 and 12 prevent bridging between the solder resist layers 11 and 12.

F 作用 リフロー処理時チツプ部品接続用ランド3,4
上に付着された半田13A及び13Bは、溶解し
てチツプ部品2の電極2A及び2Bを対応するチ
ツプ部品接続用ランド3及び4に半田付けする。
F Function Lands 3 and 4 for connecting chip parts during reflow processing
The solders 13A and 13B deposited thereon melt and solder the electrodes 2A and 2B of the chip component 2 to the corresponding lands 3 and 4 for connecting the chip component.

その際に溶解した半田は第1及び第2の半田レ
ジスト層11及び12の厚さがチツプ部品接続用
ランド3及び4間のスペースにおいて厚くなつて
いることにより、溶解した半田がいわゆる「ぬ
れ」現象によつて電極2A,2Bの先端部まで流
れ込んで行つても、その量は半田レジスト層11
及び12の厚みが厚い分少なくなり、スルーホー
ル用ランド8にまで到達しない程度に抑えられ
る。
At that time, the melted solder becomes so-called "wet" because the thickness of the first and second solder resist layers 11 and 12 is thicker in the space between the chip component connecting lands 3 and 4. Even if it flows to the tips of the electrodes 2A and 2B due to the phenomenon, the amount will be smaller than the solder resist layer 11.
The thickness of the holes 12 and 12 is reduced by the increased thickness, and can be suppressed to such an extent that it does not reach the land 8 for the through hole.

かくしてチツプ部品接続用ランド3,4と、そ
の間に形成されたスルーホール用ランド8との間
に半田のブリツジが生ずるおそれを有効に防止し
得る。
In this way, it is possible to effectively prevent solder bridging between the chip component connecting lands 3 and 4 and the through-hole land 8 formed therebetween.

G 実施例 以下図面について本考案の一実施例を詳述す
る。
G. Embodiment An embodiment of the present invention will be described below in detail with reference to the drawings.

第3図及び第4図との対応部分に同一符号を付
して示す第1図及び第2図において、絶縁基板1
の表面1A上には、クリーム半田を付着すべきチ
ツプ部品接続用ランド3及び4とスルーホール6
の近傍部分とを除いて、他の部分に第1の半田レ
ジスト層11が例えばシルク印刷により形成され
る。
1 and 2, in which parts corresponding to those in FIGS. 3 and 4 are denoted by the same reference numerals, an insulating substrate 1
On the surface 1A, there are lands 3 and 4 for connecting chip components to which cream solder should be applied, and through holes 6.
The first solder resist layer 11 is formed on other parts except for the vicinity of the first solder resist layer 11 by silk printing, for example.

これにより、絶縁基板1の表面1Aに形成され
ているチツプ部品接続用ランド3及び4上にクリ
ーム半田が溶解した際に、当該溶解した半田が、
第1の半田レジスト層11が形成されなかつた部
分に限つて、高い精度で半田付けし得るようにな
されている。
As a result, when the cream solder melts on the chip component connecting lands 3 and 4 formed on the surface 1A of the insulating substrate 1, the melted solder
Only the portions where the first solder resist layer 11 is not formed can be soldered with high precision.

これに加えて第1の半田レジスト層11の、チ
ツプ部品接続用ランド3及び4間におけるスルー
ホール溶解ランド8の周囲には、第1の半田レジ
スト層11に重積するように第2の半田レジスト
層12が形成される。
In addition, a second solder is applied around the through-hole melting land 8 between the chip component connecting lands 3 and 4 of the first solder resist layer 11 so as to overlap the first solder resist layer 11. A resist layer 12 is formed.

この実施例の場合、この第2の半田レジスト層
12は、第1の半田レジスト層11と比較して半
田をはねる能力が大きく、しかも第1の半田レジ
スト層11とは異なる色相の色を有する材質で構
成されている。
In this embodiment, the second solder resist layer 12 has a greater ability to repel solder than the first solder resist layer 11, and has a different hue from the first solder resist layer 11. It is made up of materials.

この状態においてチツプ部品接続用ランド3及
び4上にクリーム半田13A及び13Bが印刷に
より付着され、かくして配線基板は、クリーム半
田13A及び13B上に電極2A及び2Bが接触
した状態でチツプ部品2をマウントし得る状態に
なる。
In this state, cream solder 13A and 13B are attached by printing on the chip component connecting lands 3 and 4, and thus the wiring board mounts the chip component 2 with the electrodes 2A and 2B in contact with the cream solder 13A and 13B. become possible.

かくしてチツプ部品2がクリーム半田13A及
び13B上にマウントされた状態においてリフロ
ー処理がなされると、クリーム半田13A及び1
3Bが溶解して接触しているチツプ部品接続用ラ
ンド3及び4に対して電極2A及び2Bを半田付
けする。
When reflow processing is performed with the chip part 2 mounted on the cream solders 13A and 13B, the cream solders 13A and 1
The electrodes 2A and 2B are soldered to the chip component connecting lands 3 and 4 which are in contact with the melted electrodes 3B.

以上の構成によれば、リフロー時にクリーム半
田13A及び13Bが溶解して電極2A及び2B
に溶着する際に、いわゆる「ぬれ」現象によつて
溶解した半田が電極2A及び2Bの表面に沿つて
内方(すなわちスルーホール用ランド8に向かう
方向)に溶け込んでいく。
According to the above configuration, the cream solders 13A and 13B are melted during reflow, and the electrodes 2A and 2B are
When welding, the melted solder melts inward along the surfaces of the electrodes 2A and 2B (that is, in the direction toward the through-hole land 8) due to a so-called "wetting" phenomenon.

しかしチツプ部品接続用ランド3及び4間にお
けるスルーホール用ランド8の周りには、第1の
半田レジスト層11に積層するように第2の半田
レジスト層12が形成されていることにより、溶
解された半田がその厚みによつて妨げられて不必
要に電極2A及び2Bから離れてさらに内側に侵
入するおそれを有効に防止し得る。
However, a second solder resist layer 12 is formed around the through-hole land 8 between the chip component connecting lands 3 and 4 so as to be laminated on the first solder resist layer 11, so that it is not melted. It is possible to effectively prevent the solder from being blocked by the thickness and unnecessarily separating from the electrodes 2A and 2B and penetrating further inside.

かくするにつき上述の実施例の場合には、第2
の半田レジスト層12として第1の半田レジスト
層11と比較して溶解した半田をはねる能力が大
きい材料が用いられていることにより、全ての半
田レジスト層を第1の半田レジスト層11の材料
で構成した場合と比較して、溶解した半田の内側
への侵入を一段と有効に妨げることができる。
Therefore, in the case of the above-mentioned embodiment, the second
Since a material having a greater ability to repel melted solder than the first solder resist layer 11 is used as the solder resist layer 12, all the solder resist layers can be made of the material of the first solder resist layer 11. Compared to the case where this configuration is configured, it is possible to more effectively prevent the melted solder from entering the inside.

またこの実施例の場合、第2の半田レジスト層
12は、第1の半田レジスト層11の色(例えば
緑色)とは視覚上明確に異なる色(例えば褐色)
に着色されているので、チツプ部品接続用ランド
3及び4間のスペースが、周囲の色(第1の半田
レジスト層11の色)とは著しく異なる色(第2
の半田レジスト層12の色)で埋められることに
なる。従つて、チツプ部品2を例えば自動マウン
タによつてチツプ部品接続用ランド3及び4に脱
落することなくマウントされた場合には、第2の
半田レジスト層12の色(すなわち褐色)が見え
ないことにより、当該正しくマウントされた状態
を一目して確認することができる。
Further, in the case of this embodiment, the second solder resist layer 12 has a color (for example, brown) that is visually clearly different from the color (for example, green) of the first solder resist layer 11.
Since the space between the chip component connecting lands 3 and 4 is colored in a color (the color of the second solder resist layer 11) that is significantly different from the surrounding color (the color of the first solder resist layer 11),
(the color of the solder resist layer 12). Therefore, when the chip component 2 is mounted on the chip component connection lands 3 and 4 by an automatic mounter without falling off, the color (i.e., brown) of the second solder resist layer 12 cannot be seen. This allows you to check at a glance whether the file is correctly mounted.

これに対してチツプ部品接続用ランド3及び4
間に褐色の領域を見ることができる状態にあれ
ば、この状態を直ちにチツプ部品2が欠落してい
る状態であると判定し得る。
On the other hand, lands 3 and 4 for connecting chip parts
If a brown area can be seen in between, it can be immediately determined that the chip component 2 is missing.

なお上述の実施例においては、絶縁基板1の表
面1Aだけに半田レジスト層11及び12を形成
するようにした場合について述べたが、これと共
に裏面1Bにも形成するようにしても、上述の場
合と同様の効果を得ることができる。
In the above-mentioned embodiment, the case was described in which the solder resist layers 11 and 12 were formed only on the front surface 1A of the insulating substrate 1, but even if the solder resist layers 11 and 12 were formed on the back surface 1B as well, the above-mentioned case would not occur. You can get the same effect as .

また上述の実施例においては、一対のチツプ部
品接続用ランド3及び4間のスペースに第2の半
田レジスト層12を形成するようにした実施例を
述べたが、これに限らず、3つ以上複数のチツプ
部品接続用ランド間のスペースに形成するように
しても良い。
Further, in the above-described embodiment, the second solder resist layer 12 is formed in the space between the pair of chip component connecting lands 3 and 4, but the second solder resist layer 12 is not limited to this. It may also be formed in a space between a plurality of chip component connecting lands.

H 考案の効果 上述のように本考案によれば、チツプ部品の電
極を半田付けすべきチツプ部品接続用ランド間
に、絶縁基板の表面及び裏面間を接続するスルー
ホールを設けても、半田によるブリツジを有効に
防止し得ることにより、従来の場合と比較して一
段と高密度な配線パターンを形成し得る配線基板
を容易に実現し得る。
H. Effects of the invention As described above, according to the invention, even if a through hole is provided between the chip component connection lands to which the electrodes of the chip component are to be soldered, to connect the front and back surfaces of the insulating substrate, the solder cannot be used. By being able to effectively prevent bridging, it is possible to easily realize a wiring board on which a wiring pattern with higher density than in the conventional case can be formed.

【図面の簡単な説明】[Brief explanation of the drawing]

第1図は、本考案による配線基板の一実施例の
要部を示す平面図、第2図はその−線上にと
つて示す拡大断面図、第3図は従来の配線基板の
要部を示平面図、第4図はそのー線上にとつ
て示す断面図である。 1……絶縁基板、2……チツプ部品、3,4…
…チツプ部品接続用ランド、6……スルーホー
ル、8,10……スルーホール用ランド、9……
メツキ部、11,12……第1、第2の半田レジ
スト層、13A,13B……クリーム半田。
Fig. 1 is a plan view showing the main parts of an embodiment of the wiring board according to the present invention, Fig. 2 is an enlarged sectional view taken along the - line, and Fig. 3 shows the main parts of a conventional wiring board. The plan view and FIG. 4 are cross-sectional views taken along the -line. 1... Insulating board, 2... Chip parts, 3, 4...
...Land for chip component connection, 6...Through hole, 8,10...Land for through hole, 9...
Plated parts, 11, 12...first and second solder resist layers, 13A, 13B...cream solder.

Claims (1)

【実用新案登録請求の範囲】 絶縁基板の第1の面に所定のチツプ部品を接続
するための複数の接続用ランドを設け、 上記複数の接続用ランド間のスペースであつて
上記チツプ部品の直下の部分に、上記複数の接続
用ランドの1つに連結された接続パターンと、当
該接続パターンに接続されかつ上記絶縁基板の厚
味を貫通して第2の面に設けられているランドに
電気的に接続されたスルーホールとを設け、 上記絶縁基板の第1の面の少くとも上記所定の
チツプ部品に対応する上記複数の接続用ランド及
び上記スルーホールを除く部分に第1の半田レジ
スト層を形成すると共に、上記複数の接続用ラン
ド間のスペースであつて上記チツプ部品の直下の
部分に上記スルーホールを囲むようにかつ上記第
1の半田レジスト層に重積するように第2の半田
レジスト層を形成し、 上記複数の接続用ランドに上記所定のチツプ部
品を接続するリフロー処理時に溶解した半田が上
記接続パターンに接続された接続用ランド以外の
接続用ランドと上記スルーホールとの間にブリツ
ジすることを、上記第1及び第2の半田レジスト
層の重積部分によつて防止する ようにしたことを特徴とする配線基板。
[Claims for Utility Model Registration] A plurality of connection lands for connecting predetermined chip components are provided on the first surface of an insulating substrate, and a space between the plurality of connection lands and directly below the chip component. A connection pattern connected to one of the plurality of connection lands, and a land connected to the connection pattern and provided on the second surface passing through the thickness of the insulating substrate are provided with electricity. a first solder resist layer on at least a portion of the first surface of the insulating substrate excluding the plurality of connection lands and the through holes corresponding to the predetermined chip components; At the same time, a second solder is formed in the space between the plurality of connection lands and directly under the chip component so as to surround the through hole and overlap the first solder resist layer. A resist layer is formed, and the solder melted during the reflow process to connect the predetermined chip components to the plurality of connection lands is between the connection lands other than the connection lands connected to the connection pattern and the through holes. 1. A wiring board, characterized in that bridging is prevented by an overlapping portion of the first and second solder resist layers.
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