JPH0445761B2 - - Google Patents

Description

【発明の詳細な説明】 この発明は、タイヤ内に埋設されたコードの配
列を放射線を用いて検査するタイヤのコード配列
検査機に関する。

従来、上述のようなタイヤのコード配列検査機
としては、例えば特公昭55−703号公報に記載さ
れているものが知られている。このものは、水平
状態の揺動フレーム上にタイヤが搬入されると、
揺動フレームが略直立状態まで傾動する。このと
き、タイヤのトレツド面はベルトに接触し、この
ベルトが走行するとタイヤはその回転軸線回りに
回転する。また、この傾動によつてタイヤのビー
ド部で囲まれた空間（一般にはリムが配置され
る）には、タイヤの回転軸線と平行な回転ロツド
の先端が挿入される。この回転ロツドは揺動フレ
ームを支持するフレームに回転可能に支持されて
いる。そして、この回転ロツドの先端にはラジオ
アイソトープを保持したアームが固定され、ま
た、前記揺動フレームにはこのラジオアイソトー
プからの放射線を受ける一対の検出器が固定され
ている。そして、揺動フレームの傾動完了後、回
転ロツドが回転されラジオアイソトープがタイヤ
内の規定位置まで移動される。次に、ベルトが走
行されてタイヤが回転される。このとき、ラジオ
アイソトープからの放射線はタイヤを透過して検
出器に到達するが、この際放射線がゴム部分又は
コード部分のいずれかを透過したかにより、検出
器の受ける放射線の強さは異なり、この結果、タ
イヤのコード配列の乱れ等が検出できるのであ
る。ここで、検査するタイヤのサイズに変更があ
つた場合には、このタイヤのサイズに対応して測
定すべき部位がタイヤの半径方向に変化するので
ある。

しかしながら、前述のようなタイヤのコード配
列検査機にあつては、タイヤのサイズに関する情
報が与えられないため、タイヤのサイズに変更が
あつたとき、ラジオアイソトーブと検出器とを結
ぶ直線を正確にタイヤの測定すべき部位と交差さ
せることができず、このため、検査結果に誤差が
生じるという問題点がある。

この発明は、前述の問題点に着目してなされた
もので、タイヤのサイズに応じて放射線源および
検出器を規定位置に正確に移動させることによ
り、正確な検査を行なうことを目的としている。

このような目的は、タイヤのサイズを判定する
判定機構と、このタイヤを一定位置で保持する保
持機構と、放射線を放射する放射線源と、タイヤ
を透過してきた前記放射線源からの放射線を受け
て該放射線の強さを検出する検出器と、前記放射
線源と検出器とを結ぶ直線が前記判定機構の判定
結果に基づいて決定されたタイヤの測定部位に交
差する位置までこれら放射線源および検出器を移
動させる移動機構と、前記タイヤを保持位置にお
いてその回転軸線回りに回転させる回転機構と、
タイヤの回転時に検出器が検出した放射線の強弱
に基づいてタイヤのコード配列を測定する測定機
構と、を備えることにより達成することができ
る。

以下、この発明の一実施例を図面に基づいて説
明する。

第１，２図において、１は床面であり、この床
面１上にはフレーム２が設置されている。フレー
ム２は中央に垂直な中央ビーム３を有し、この中
央ビーム３より一方側のフレーム２にはタイヤの
サイズを１本づつ判定する判定機構４が設置され
ている。判定機構４は水平ビーム５を有し、この
水平ビーム５には軸受６を介して載置台７の基端
が回動可能に支持されている。載置台７の先端は
フレーム２に固定されたストツパー８に当接して
いる。９はヘツド側がフレーム２の下端に連結さ
れたシリンダであり、このシリンダ９のピストン
ロツド１０の先端は前記載置台７の中央部に連結
されている。この結果、シリンダ９が作動する
と、載置台７はストツパー８に当接する載置位置
Ａと、略直立位置Ｂとの間を揺動する。そして、
この載置台７の上面は、異なつたサイズのタイヤ
Ｔが載置台７上に載置された場合でも、それぞれ
のタイヤＴの回転軸線を共通した垂直面Ｐ上に位
置させるような形状に形成されている。１１，１
２はフレーム２の上部および水平ビーム５に固定
された一対の垂直な案内ロツドであり、これらの
案内ロツド１１，１２には一対の移動部材１３，
１４が上下に離れて摺動可能に支持されている。
１５はフレーム２の上部および水平ビーム５に回
転可能に支持されたねじ軸であり、このねじ軸１
５の上部および下部には逆ねじが形成され、これ
らのねじ部分が前記移動部材１３，１４にねじ込
まれている。この結果、このねじ軸１５が駆動手
段１６により回転されると、移動部材１３，１４
は互に接近あるいは離隔する。前記移動部材１
３，１４には光電子スイツチ１７，１８が設けら
れ、これらの光電子スイツチ１７，１８は前記垂
直面Ｐ上に位置している。前記ねじ軸１５にはこ
のねじ軸が１回転する度に１つのパルスを発生す
る２個のパルスエンコーダ（図示していない）が
取り付けられ、このパルスは図示していないパル
スカウンターに送られカウントされる。そして、
前記光電子スイツチ１７，１８は入光あるいは遮
光されることにより、パルスエンコーダからパル
スカウンターに向かうパルスを制御し、これによ
つてタイヤＴの内、外径を測定し、タイヤＴのサ
イズを判定するようにしている。前述した水平ビ
ーム５、載置台７、シリンダ９、案内ロツド１
１，１２、移動部材１３，１４、ねじ軸１５、駆
動手段１６、光電子スイツチ１７，１８、パルス
エンコーダ、パルスカウンターは全体として前記
判定機構４を構成する。中央ビーム３およびフレ
ーム２の他端部にはそれぞれ支持台２１，２２が
固定され、各支持台２１，２２にはローラ２３，
２４が回転可能に支持されている。このローラ２
３と載置台７の基端部との間には中央ビーム３に
固定された案内板２５が設置され、この案内板２
５は、載置台７が略直立位置Ｂに向かつて揺動さ
れることにより載置台７から排出されたタイヤＴ
を前記ローラ２３，２４まで案内する。ローラ２
３より上方の中央ビーム３およびフレーム２の他
端部には水平な支持ビーム２６，２７が取り付け
られ、これらの支持ビーム２６，２７には垂直な
複数の案内ローラ２８，２９が回転可能に支持さ
れている。そして、前記タイヤＴは、案内板２５
上を転動する際、両側からこれら案内ローラ２
８，２９により挾まれるため、転倒することはな
い。３０は下側ガイドであり、この下側ガイド３
０は、第１，２，３図に示すように、支持台２
１，２２に支持された一対の水平な回動軸３１，
３２を有し、これらの回動軸３１，３２は支持ビ
ーム２６，２７と平行である。回動軸３１，３２
には互に噛み合う扇形の外歯車３３，３４が固定
され、これにより、回動軸３１，３２は同期して
逆方向に回動する。各回動軸３１，３２には一対
の移動バー３５，３６の基端が固定され、これら
の移動バー３５，３６は第１図に示すように上方
に向かうに従がい互に接近するよう傾斜してい
る。各移動バー３５，３６の先端部内面には複数
のミニローラー３７が取り付けられ、これらのミ
ニローラー３７は移動バー３５，３６がタイヤＴ
のサイドウオール部に当接していても、タイヤＴ
の回転を許容する。３８は支持台２２に取り付け
られたシリンダであり、このシリンダ３８のピス
トンロツド３９の先端は一方の移動バー３５に連
結されている。この結果、シリンダ３８が作動す
ると、移動バー３５，３６は回動軸３１，３２を
中心として同期して開閉し、これにより、ローラ
２３，２４に支持されたタイヤＴのセンタリング
がなされる。前述した回動軸３１，３２、外歯車
３３，３４、移動バー３５，３６、シリンダ３８
は全体として前記下側ガイド３０を構成する。再
び、第１、２図において、下側ガイド３０の上方
には、この下側ガイド３０と同様の構成をした上
側ガイド４１が設けられている。この上側ガイド
４１はフレーム２の上部に取り付けられた２対の
軸受４２を有し、これらの軸受４２には互に噛み
合う扇形の外歯車４３，４４が取り付けられた回
動軸４５，４６が支持されている。各回動軸４
５，４６には複数のミニローラー４７が取り付け
られた一対の移動バー４８，４９が固定されてい
る。５０はフレーム２の上部に取り付けられたシ
リンダであり、このシリンダ５０のピストンロツ
ド５１の先端は回動軸４５に取り付けられたリン
ク５２に連結されている。この結果、シリンダ５
０が作動すると、移動バー４８，４９は同期して
開閉し、タイヤＴのセンタリングを行なう。前述
した軸受４２、外歯車４３，４４、回動軸４５，
４６、移動バー４８，４９、シリンダ５０は全体
として前記上側ガイド４１を構成する。そして、
前記ローラ２３，２４、案内ローラ２８，２９、
下側ガイド３０、上側ガイド４１は全体としてタ
イヤＴを一定位置に保持する保持機構５３を構成
する。第２図において、６１は他方側のフレーム
２の前面に設けられたビード開き機構であり、こ
のビード開き機構６１は保持機構５３に保持され
たタイヤＴの両ビード部を押し開き、後述する放
射線源をタイヤＴ内に容易に挿入できるようにす
る。ビード開き機構６１は昇降フレーム６２を有
し、この昇降フレーム６２はフレーム２の上部に
連結されたシリンダ５９のピストンロツド６０の
先端に取り付けられている。昇降フレーム６２に
は前後方向に延在する、水平なシリンダ６３が取
り付けられ、このシリンダ６３のピストンロツド
６４の先端には移動フレーム６５が連結されてい
る。移動フレーム６５は、第４図に詳示するよう
に、一対の円筒状ガイド６６，６７を有し、各円
筒状ガイド６６，６７には前後方向に延びる移動
ロツド６８，６９が摺動可能に挿入されている。
７０は中央が移動フレーム６５に回動可能に支持
されたリンクであり、このリンク７０の両端は前
記移動ロツド６８，６９に連結されている。ま
た、移動フレーム６５にはシリンダ７１が取り付
けられ、このシリンダ７１のピストンロツド７２
の先端は移動ロツド６８に連結されている。この
結果、シリンダ７１が作動すると、移動ロツド６
８，６９は同期して逆方向に往復動する。移動ロ
ツド６８，６９の先端にはホルダ７３，７４が固
定され、これらのホルダ７３，７４に対向するホ
ルダ７４，７３に向かつて突出する開き爪７５，
７６の基端部が回転可能に支持されている。これ
らの開き爪７５，７６は同軸であり、各開き爪７
５，７６の先端にはタイヤＴの両ビード部Ｃの内
面にころがり接触する円板７７，７８が形成され
ている。前述した昇降フレーム６２、シリンダ６
３、移動フレーム６５、移動ロツド６８，６９、
リンク７０、シリンダ７１、開き爪７５，７６は
全体として前記ビード開き機構６１を構成する。
第１，２，５図において、他方側のフレーム２の
後部には垂直なシリンダ９１が設けられ、このシ
リンダ９１のヘツド側はフレーム２の上部に連結
されている。シリンダ９１のピストンロツド９２
の先端には略Ｌ字形の昇降フレーム９３が取り付
けられている。フレーム２の後部には垂直なガイ
ド体９４が固定され、このガイド体９４には昇降
フレーム９３に取り付けられたガイドブロツク９
５が摺動可能に係合している。昇降フレーム９３
の上部には前後方向に延びる水平ガイドフレーム
９６が取り付けられ、このガイドフレーム９６に
は前後方向に移動可能な移動フレーム９７が摺動
可能に支持される。９８は昇降フレーム９３に取
り付けられたシリンダであり、このシリンダ９８
のピストンロツド９９の先端は移動フレーム９７
に連結されている。この移動フレーム９７には放
射線、例えばＸ線、を放射する放射線源としての
Ｘ線チユーブ１００が支持され、このＸ線チユー
ブ１００の放射口１０１から26度の広がりをもつ
て前後両方向に向かつてＸ線が放射される。昇降
フレーム９３の下端で前部および後部には、支持
台１０２，１０３が取り付けられ、各支持台１０
２，１０３には第５図に示すように傾斜したガイ
ドバー１０４が固定されている。各ガイドバー１
０４には移動台１０５に固定されたガイドブロツ
ク１０６が摺動可能に係合している。１０７は支
持台１０２，１０３に取り付けられたシリンダで
あり、各シリンダ１０７のピストンロツド１０８
の先端は前記移動台１０５に連結されている。移
動台１０５にはそれぞれ検出器１０９，１１０が
取り付けられ、これらの検出器１０９，１１０は
タイヤＴを通過してきたＸ線チユーブ１００から
のＸ線を受けて該Ｘ線の強さを検出する。このよ
うに、共通の昇降フレーム９３にＸ線チユーブ１
００および検出器１０９，１１０が取り付けられ
ているので、第１移動機構としてのシリンダ９１
の作動により、これらＸ線チユーブ１００および
検出器１０９，１１０は一体となつてタイヤＴの
半径方向、この場合には上下方向、に移動する。
この結果、Ｘ線チユーブ１００と検出器１０９，
１１０とのタイヤＴの半径方向の位置関係はこれ
らが移動しても変化せず常に一定となり、検出精
度が向上する。また、前記検出器１０９，１１０
の視野の交差領域Ｄ上には前記Ｘ線チユーブ１０
０の放射口１０１の移動経路Ｅが位置している。
この結果、第２移動機構としてのシリンダ９８を
作動してＸ線チユーブ１００の放射口１０１のみ
を交差領域ＤまでタイヤＴの回転軸線方向に移動
させるだけで、検出準備ができ、検出作業が迅
速、確実となるとともに軸線方向の相対的な位置
関係も個別に位置決めする場合より正確となる。
また、前述のようにビード開き機構６１によつて
タイヤＴのビード部Ｃを押し開くようにしたた
め、前記Ｘ線チユーブ１００が大型のものでもタ
イヤＴ内に挿入することができ、この結果、Ｘ線
チユーブ１００から放射されるＸ線の強度を高め
ることができる。このため、第５図に仮想線で示
すように、移動台１０５に複数（第５図では２
台）の検出器をさらに設けても充分に検出するこ
とができる。このように、検出器の台数が増加す
ると、広い範囲でタイヤＴのコード配列を検出す
ることができ、検出を正確なものとすることがで
きる。前述したシリンダ９１，９８は全体として
Ｘ線チユーブ１００および検出器１０９，１１０
を測定位置まで移動させる移動機構１２１を構成
する。そして、これらのシリンダ９１，９８のピ
ストンロツド９２，９９の伸縮量は前記判定機構
４の判定結果に基づいて決定される。すなわち、
前記判定機構４によるタイヤイのサイズの判定に
よつてタイヤＴのどの部位を測定するのが最良か
が決定されるが、この測定部位に前記放射口１０
１と検出器１０９，１１０とを結ぶ直線Ｆ（第２
図参照）が交差する位置までＸ線チユーブ１００
および検出器１０９，１１０を移動させるよう両
シリンダ９１，９８が制御されるのである。この
結果、タイヤＴのサイズに変更があつても、常に
最良の位置においてタイヤコードの配列を検査す
ることができる。前記検出器１０９，１１０は、
第６図に示すように、受け入れるＸ線を細いビー
ム状にするスリツト１３１と、スリツト１３１を
通過してきたＸ線を光に変換するシンチレータ１
３２と、シンチレータ１３２における光を電気信
号に変換する光電増倍管を含む検出回路１３３
と、から構成されている。再び、第１，２図にお
いて、フレーム２の下部には支持台１４１を介し
てモータ１４２が取り付けられ、このモータ１４
２には減速機１４３が連結されている。減速機１
４３の出力軸に固定されたローラ１４４と前記ロ
ーラ２３，２４とにはベルト１４５が掛け渡さ
れ、前記モータ１４２が作動することによりロー
ラ２３，２４が等速度で同一方向に回転する。中
央ビーム３の上部にはアーム１４６の一端が回動
可能に連結され、このアーム１４６の他端にはロ
ーラ２３，２４上に載置されたタイヤＴをこれら
ローラ２３，２４に押し付ける押えローラ１４７
が回転可能に支持されている。１４８はフレーム
２の上部に取り付けられた垂直なシリンダであ
り、このシリンダ１４８のピストンロツド１４９
の先端は前記アーム１４６の中央部に連結されて
いる。そして、押えローラ１４７でタイヤＴをロ
ーラ２３，２４に押え付けながらモータ１４２を
作動すると、タイヤＴは第１図に示す保持位置Ｇ
において振動することなく一定の回転速度でその
回転軸線回りに回転する。前述したモータ１４
２、減速機１４３、ローラ２３，２４，１４４、
ベルト１４５、アーム１４６、押えローラ１４７
は全体として回転機構１５０を構成するが、ここ
で、ローラ２３，２４は保持機構５３と兼用であ
る。ローラ２３，２４間の中点よりローラ２３側
のフレーム２下部には垂直なシリンダ１５１が立
設され、このシリンダ１５１のピストンロツド１
５２の先端には突出ブロツク１５３が取り付けら
れている。１５４は揺動可能なストツパー板であ
り、このストツパー板１５４は、タイヤＴの搬入
時には第１図に仮想線で示す傾斜位置Ｈに位置し
てタイヤＴがころげ出るのを阻止するとともに、
タイヤＴの搬出時には同図に実線で示す水平位置
Ｊに位置しタイヤＴを次工程に案内する。再び、
第６図において、１６１は検出器１０９，１１０
に接続された測定機構であり、この測定機構１６
１はタイヤＴの回転時に検出器１０９，１１０が
検出したＸ線の強弱に基づいてタイヤＴのコード
配列を測定し、タイヤＴの合否判定を行なう。

次に、この発明の一実施例の作用について説明
する。

まず、図示していない搬入装置によりあるサイ
ズのタイヤＴが判定機構４に搬入され、載置位置
Ａに位置する載置台７上に載置される。このと
き、タイヤＴは、サイズがいかなるものでも、そ
の回転軸線が垂直面Ｐ上に位置している。また、
このとき、移動部材１３，１４は互に最も接近
し、光電子スイツチ１７，１８がタイヤＴの回転
軸線近傍の垂直面Ｐ上に位置している。次に、駆
動手段１６を作動してねじ軸１５を回転させる。
これにより、移動部材１３，１４は案内ロツド１
１，１２に案内されながら互に離隔する。一方、
ねじ軸１５の回転により、パルスエンコーダから
内径および外径測定用のパルスカウンターにパル
スが送られ、それぞれにおいてパルス数が積算さ
れる。そして、光電子スイツチ１７，１８がタイ
ヤＴのビード部Ｃに到達して遮光されると、内径
測定用パルスカウンターへのパルス供給が停止さ
れる。これにより、タイヤＴの内径が測定され
る。一方、外径測定用パルスカウンターの積算は
継続され、光電子スイツチ１７，１８がタイヤＴ
のトレツド部を通過して入光されると、外径測定
用パルスカウンターへのパルス供給が停止され
る。これにより、タイヤＴの外径が測定される。
そして、これらタイヤＴの内、外径の測定により
タイヤＴのサイズが判定され、このサイズに関す
る情報は移動機構１２１に送られる。タイヤＴの
サイズ判定が終了すると、タイヤ要求信号がシリ
ンダ９に送られピストンロツド１０が突出する。
これにより、載置台７が載置位置Ａから略直立位
置Ｂまで揺動し、タイヤＴが案内板２５上に送り
込まれる。タイヤＴは案内板２５上を転動した後
傾斜位置Ｈのストツパー板１５４に衝突して転動
を停止し、ローラ２３，２４によつて保持され
る。このタイヤＴの転動中、タイヤＴは案内ロー
ラ２８，２９によつて挾まれているので転倒する
ことはない。次に、シリンダ３８，５０を作動し
てピストンロツド３９，５１を突出し、移動バー
３５，３６，４８，４９を閉じる。これにより、
ローラ２３，２４上のタイヤＴはセンタリングさ
れる。このように、タイヤＴを上、下側ガイド４
１，３０によつてタイヤＴの回転軸線方向に移動
させてセンタリングするので、Ｘ線チユーブ１０
０、検出器１０９，１１０をタイヤＴの幅の変化
および保持位置Ｇの変化に合わせてタイヤＴの回
転軸線方向に移動させる必要はない。次に、シリ
ンダ１４８を作動してピストンロツド１４９を突
出し、押えローラ１４７をタイヤＴに押し付けて
タイヤＴとローラ２３，２４との接触圧を高め
る。次に、モータ１４２を作動し、ベルト１４５
を介してローラ２３，２４を同一方向に等速度で
回転させる。これにより、タイヤＴはその回転軸
線回りに一定速度で回転する。このとき、移動バ
ー３５，，３６，４８，４９のミニローラー３７，
４７がタイヤＴのサイドウオール部にころがり接
触しているため、タイヤＴは振動することはな
い。次に、ビード開き機構６１のシリンダ６３を
作動してピストンロツド６４を突出し、開き爪７
５，７６をタイヤＴのセンターに向かつて進入さ
せる。そして、開き爪７５，７６間の中点がタイ
ヤＴの赤道面上に到達すると、シリンダ６３の作
動を停止する。次に、シリンダ５９を作動しピス
トンロツド６０を突出し、昇降フレーム６２を下
降させる。そして、この昇降フレーム６２の下降
は開き爪７５，７６がタイヤＴのビード部Ｃに接
触した時点で停止する。次に、シリンダ７１を作
動してピストンロツド７２を突出し、開き爪７
５，７６を互に離隔させる。このとき、円板７
７，７８が両ビード部Ｃを外側に押し開き、ビー
ド間隔を広くする。このとき、開き爪７５，７６
はホルダ７３，７４に回転可能に支持されている
ので、タイヤＴに悪影響を及ぼさない。前記ビー
ド開き機構６１のシリンダ６３の作動と同時に、
移動機構１２１のシリンダ９１を作動し、ピスト
ンロツド９２を突出させる。これにより昇降フレ
ーム９３は下降し、この下降はＸ線チユーブ１０
０がタイヤＴのリム空間に侵入可能となつた時点
で停止する。次に、シリンダ９８を作動してその
ピストンロツド９９を突出させる。これにより、
Ｘ線チユーブ１００のみが、すなわち検出器１０
９，１１０は静止して、タイヤＴの回転軸線に沿
つて移動する。このとき、放射口１０１は移動経
路Ｅに沿つて移動する。そして、前述のように検
出器１０９，１１０の視野の交差領域Ｄはこの移
動経路Ｅ上に位置しているので、Ｘ線チユーブ１
００を移動させ放射口１０１をこの交差領域Ｄに
到達させるだけで、Ｘ線チユーブ１００と検出器
１０９，１１０との相対的位置関係を決定でき
る。また、この交差領域ＤはタイヤＴの赤道面上
に位置しているので、Ｘ線チユーブ１００のタイ
ヤＴに対する回転軸線方向の位置関係を前記作動
により同時に決定できる。次に再びシリンダ９１
を作動してピストンロツド９２を突出し、昇降フ
レーム９３、Ｘ線チユーブ１００、検出器１０
９，１１０を一体的に下降させ、Ｘ線チユーブ１
００をタイヤＴ内に挿入する。このとき、ビード
開き機構６１によつてビード部Ｃを押し開いてい
るので、Ｘ線チユーブ１００が大型のものであつ
ても容易にタイヤＴ内に挿入することができる。
そして、前記タイヤＴのサイズに関する情報によ
りタイヤＴの測定最良部位が決定されるが、この
部位に放射口１０１と検出器１０９，１１０とを
結ぶ直線Ｆ交差すると、シリンダ９１の作動が停
止される。なお、このタイヤＴの測定部位はタイ
ヤＴのサイズが異なると変化するが、この発明で
はタイヤＴのサイズに関する情報を判定機構４か
ら取り入れるようにしているので、常に測定部位
のタイヤＴを測定できる。次に、シリンダ１０７
が作動してピストンロツド１０８が突出し、タイ
ヤＴ等との干渉を避けるため退避していた検出器
１０９，１１０がタイヤＴに接近し、測定準備が
完了する。この状態でタイヤＴのコード配列が検
査されるのであるが、この検査原理を第６図およ
び第７ａ，ｂ，ｃ，ｄ図を用いて説明する。今、
タイヤＴが回転することによりタイヤＴの測定部
位が矢印方向に移動しているとする。このとき、
Ｘ線チユーブ１００の放射口１０１から放射され
たＸ線はタイヤＴを透過した後検出器１０９，１
１０のスリツト１３１によつて絞られシンチレー
タ１３２によつて光に変換される。この光は光電
子増倍管を含む検出回路１３３によつて電気信号
に変換される。ここで、Ｘ線がタイヤＴのゴム部
分Ｋを透過する場合と例えばスチール製のコード
部分Ｌを透過する場合とでは、Ｘ線の減衰量が異
なる。この結果、第７ａ図に示すように、Ｘ線が
ゴム部分Ｋを透過する場合には検出回路１３３か
ら所定値の信号が出力され、また、Ｘ線がコード
部分Ｌを透過する場合には略零の信号が出力され
る。そして、この検出回路１３３からの出力はタ
イヤＴの回転によつて刻々と変化する。次に、こ
の検出回路１３３からの出力は測定機構１６１に
入力されるが、この測定機構１６１内において次
のような作動が行なわれる。まず、前記信号は予
め設定されたスレツシヨルドレベルと比較され、
該レベルより信号値が大きいときはＨレベルの、
該レベルより信号値が小さいときはＬレベルの信
号が出力され、第７ａ図の波形は第７ｂ図の波形
に成形される。次に、Ｈレベルの信号が入力され
ている時のみ開くＨゲートおよびＬレベルの信号
が入力されている時のみ開くＬゲートに、高周波
パルス発生回路からパルスを送り、Ｈゲートおよ
びＬゲートを通過してくるパルスを別々のパルス
カウンターでカウントする。第７ｃ図はＬゲート
を通過してきたパルス波形を示しており、また、
第７ｄ図はＨゲートを通過してきたパルス波形を
示している。なお、前記パルスカウンターはいず
れもパルスが一定の短時間入力されないときはリ
セツトされるため、パルス群が発生する度に各パ
ルス群のパルス数をカウントする。そして、Ｌゲ
ートを通過してきた一群のパルス（Ｘ線がコード
を透過しているときに通過する）数がコード部分
Ｌの直径に対応するパルス数より多いときは、タ
イヤＴ内でコードが重なり合つているおそれがあ
るため不良タイヤであると判断される。一方、Ｈ
ゲートを通過してきた一群のパルス（Ｘ線がゴム
部分を透過しているときに通過する）数が規定の
コード間隔に対応するパルス数より多いときに
も、タイヤＴのコードが離れ過ぎているおそれが
あるため不良タイヤであると判断される。このよ
うにして、タイヤＴのコード配列検査が終了する
と、前述と逆の作動により検出器１０９，１１
０、Ｘ線チユーブ１００、ビード開き機構６１が
原位置に復帰する。また、タイヤＴの回転も停止
し、さらに上、下側ガイド４１，３０が開くとと
もに押えローラ１４７がタイヤＴから離れる。次
に、ストツパー板１５４を傾斜位置Ｈから水平位
置Ｊまで揺動させてタイヤＴを排出可能にした後
シリンダ１５１を作動してピストンロツド１５２
を突出させる。これにより、突出ブロツク１５３
がタイヤＴをストツパー板１５４に向かつて突き
出し、タイヤＴはストツパー板１５４上を転動し
て次工程へ送られる。以上が１つのタイヤＴに着
目したタイヤのコード配列検査作業の１サイクル
であり、以後このサイクルが繰り返される。

なお、前述の実施例においては、放射線源とし
てＸ線チユーブを使用した場合について説明した
が、γ線を放射するラジオアイソトープ等を使用
してもよい。

以上説明したように、この発明によれば、タイ
ヤのサイズに応じて放射線源および検出器を規定
位置に正確に移動させることができるため、正確
な検査を行なうことができる。

【図面の簡単な説明】

第１図はこの発明の一実施例を示す概略正面
図、第２図はその右側面図、第３図は下側ガイド
を示す右側面図、第４図はビード開き機構の先端
部を示す断面図、第５図はＸ線チユーブ、検出器
近傍の右側面図、第６図は検出動作を説明する説
明図、第７ａ，ｂ，ｃ，ｄ図は波形図である。 ４……判定機構、５３……保持機構、１００…
…放射線源（Ｘ線チユーブ）、１０９，１１０…
…検出器、１２１……移動機構、１５０……回転
機構、１６１……測定機構、Ｔ……タイヤ。

Claims (1)

1. 【特許請求の範囲】 １ タイヤのサイズを判定する判定機構と、この
   タイヤを一定位置で保持する保持機構と、放射線
   を放射する放射線源と、タイヤを透過してきた前
   記放射線源からの放射線を受けて該放射線の強さ
   を検出する検出器と、前記放射線源と検出器とを
   結ぶ直線が前記判定機構の判定結果に基づいて決
   定されたタイヤの測定部位に交差する位置までこ
   れら放射線源および検出器を移動させる移動機構
   と、前記タイヤを保持位置においてその回転軸線
   回りに回転させる回転機構と、タイヤの回転時に
   検出器が検出した放射線の強弱に基づいてタイヤ
   のコード配列を測定する測定機構と、を備えたこ
   とを特徴とするタイヤのコード配列検査機。 ２ 前記移動機構は、放射線源および検出器を一
   体的にタイヤの半径方向に移動させる第１移動機
   構と、放射線源のみをタイヤの回転軸線方向に移
   動させる第２移動機構と、を有し、前記検出器の
   視野内に第２移動機構の作動による放射線源の移
   動経路が位置している特許請求の範囲第１項記載
   のタイヤのコード配列検査機。