JPH0446486B2 - - Google Patents

Info

Publication number
JPH0446486B2
JPH0446486B2 JP59195379A JP19537984A JPH0446486B2 JP H0446486 B2 JPH0446486 B2 JP H0446486B2 JP 59195379 A JP59195379 A JP 59195379A JP 19537984 A JP19537984 A JP 19537984A JP H0446486 B2 JPH0446486 B2 JP H0446486B2
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
voltage
common
bipolar transistor
emitter
field effect
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Expired - Lifetime
Application number
JP59195379A
Other languages
Japanese (ja)
Other versions
JPS6172411A (en
Inventor
Toshio Shigekane
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Fuji Electric Co Ltd
Original Assignee
Fuji Electric Co Ltd
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Fuji Electric Co Ltd filed Critical Fuji Electric Co Ltd
Priority to JP59195379A priority Critical patent/JPS6172411A/en
Publication of JPS6172411A publication Critical patent/JPS6172411A/en
Publication of JPH0446486B2 publication Critical patent/JPH0446486B2/ja
Granted legal-status Critical Current

Links

Landscapes

  • Electronic Switches (AREA)

Description

【発明の詳細な説明】 〔発明の属する技術分野〕 本発明はバイポーラ形パワートランジスタと電
界効果形パワートランジスタとが並列に構成され
スイツチング動作を行う半導体装置に関する。
DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION [Field of the Invention] The present invention relates to a semiconductor device in which a bipolar power transistor and a field effect power transistor are configured in parallel and perform a switching operation.

〔従来技術とその問題点〕[Prior art and its problems]

以下各図の説明において同一の符号は同一又は
相当部分を示す。
In the following description of each figure, the same reference numerals indicate the same or corresponding parts.

スイツチング動作を行うこの種の装置としては
従来バイポーラ形パワートランジスタ(以下バイ
ポーラトランジスタと呼ぶ)、あるいは電界効果
形パワートランジスタ(以下FETと呼ぶ)を用
いることが知られている。しかしバイポーラトラ
ンジスタはON電圧が低いものの、ターンオン時
間(以下tonと記す)、降下時間(フオール時間と
も呼び以下tfと記す)が遅く、又ターンオフ時に
トランジスタに加わる逆電圧がいわゆる安全動作
領域内に納まる必要があるなどの問題もあつて、
使用しにくいものであつた。他方FETについて
は上記のようなスイツチング時の問題はないもの
の、ON電圧が高いため、これもまた使用しにく
いものであつた。
Conventionally, it is known to use a bipolar type power transistor (hereinafter referred to as a bipolar transistor) or a field effect type power transistor (hereinafter referred to as an FET) as this type of device that performs a switching operation. However, although bipolar transistors have a low ON voltage, their turn-on time (hereinafter referred to as ton) and fall time (hereinafter referred to as TF) are slow, and the reverse voltage applied to the transistor at turn-off is within the so-called safe operating area. There are also issues such as the need for
It was difficult to use. On the other hand, although FETs do not have the above-mentioned switching problems, they are also difficult to use because of their high ON voltages.

そこで上記の問題点を解決するため、従来、第
5図のようにバイポーラトランジスタQ1と
FETQ2を並列にすなわち前者Q1のエミツタE
1と後者Q2のソースSを接続して共通エミツタ
Eとし、前者Q1のコレクタC1と後者Q2のド
レインDを接続して共通コレクタCとして、スイ
ツチング回路に使用することが知られている。
Therefore, in order to solve the above problem, conventionally, as shown in Fig. 5, a bipolar transistor Q1 and
FETQ2 in parallel, i.e. the emitter E of the former Q1
It is known that the sources S of the former Q1 and the latter Q2 are connected to form a common emitter E, and the collector C1 of the former Q1 and the drain D of the latter Q2 are connected to form a common collector C, which is used in a switching circuit.

この半導体装置は第5図のトランジスタQ1,
Q2のベースB、ゲートGに第6図1,2の波形
のような駆動信号(ベース電流IB、ゲート電圧
VG)を入れることによつて、トランジスタQ2
をQ1より早くONさせ遅くOFFさせるものであ
る。
This semiconductor device consists of the transistor Q1 in FIG.
Driving signals (base current IB, gate voltage
By inserting transistor Q2
Q1 is turned on earlier and turned off later than Q1.

すなわち第6図1〜4はそれぞれバイポーラト
ランジスタQ1のベース電流IB、FETQ2のゲ
ート電圧VG、バイポーラトランジスタQ1のコ
レクタ電流IC、FETQ2のドレイン電流IDの各
波形を示す。同図2のように時点t0にFETQ2
のゲートGにそのしきい値電圧より高い値のゲー
ト電圧VGが与えられることによりFETQ2は速
やかにON状態となり、同図4のようにスイツチ
ング回路の負荷電流Iがドレイン電流IDとして
流れ始める。
That is, FIGS. 1 to 4 show the waveforms of the base current IB of the bipolar transistor Q1, the gate voltage VG of the FETQ2, the collector current IC of the bipolar transistor Q1, and the drain current ID of the FETQ2, respectively. As shown in Figure 2, FETQ2 at time t0
When a gate voltage VG higher than the threshold voltage is applied to the gate G of FETQ2, FETQ2 is immediately turned on, and the load current I of the switching circuit begins to flow as drain current ID as shown in FIG.

次に期間T1ののちの時点t1にバイポーラト
ランジスタQ1のベースBに同図1のようにベー
ス流IBが与えられ、バイポーラトランジスタQ
1のエミツタ・コレクタ電圧は比較的ゆるやかに
下降してON電圧となり、これとともに負荷電流
Iは同図3,4のコレクタ電流IC、ドレイン電
流IDのように除々にON電圧がFETQ2より低い
バイポーラトランジスタQ1側に移行し、やがて
大部分の負荷電流Iがコレクタ電流ICとしてバ
イポーラトランジスタQ1を流れるようになる。
Next, at time t1 after period T1, a base current IB is applied to the base B of bipolar transistor Q1 as shown in FIG.
The emitter-collector voltage of FETQ1 gradually decreases to the ON voltage, and along with this, the load current I gradually increases to the bipolar transistor whose ON voltage is lower than that of FETQ2, as shown in the collector current IC and drain current ID in Figures 3 and 4. Shifts to the Q1 side, and soon most of the load current I begins to flow through the bipolar transistor Q1 as the collector current IC.

次に同図1のようにベース電流IBが期間T2
だけ流されたのち時点t2に断たれると、バイポ
ーラトランジスタQ1は再び除々にOFF状態に
移行し、同図3,4のように負荷電流Iはバイポ
ーラトランジスタQ1側からFETQ2側にドレイ
ン電流IDとして移行する。
Next, as shown in Figure 1, the base current IB changes during period T2.
When the bipolar transistor Q1 is turned off at time t2, the bipolar transistor Q1 gradually shifts to the OFF state again, and as shown in Figures 3 and 4, the load current I flows from the bipolar transistor Q1 side to the FET Q2 side as a drain current ID. Transition.

次に時点t2から期間T3を経た時点t3にゲ
ート電圧VGが断たれると、FETQ2は同図4の
ドレイン電流IDのように速やかにOFF状態とな
つて負荷電流Iが断たれ、スイツチング動作1サ
イクル(1開閉)が終わる。
Next, when the gate voltage VG is cut off at time t3 after a period T3 has passed from time t2, FETQ2 immediately turns off as shown in the drain current ID in FIG. 4, the load current I is cut off, and switching operation 1 The cycle (1 open/close) is completed.

このように第5図の半導体装置では、最初に
FETQ2がONするため、ターンオン損失は
FETQ2のみで発生するが、FETQ2のターンオ
ン時間tonは短いため、バイポーラトランジスタ
Q1がONする場合に比較すれば、ターンオフ損
失ははるかに小さい。
In this way, in the semiconductor device shown in FIG.
Since FETQ2 is turned on, the turn-on loss is
This occurs only in FETQ2, but since the turn-on time ton of FETQ2 is short, the turn-off loss is much smaller than when the bipolar transistor Q1 is turned on.

一方、T2期間中はバイポーラトランジスタQ
1もONするが、第7図の両トランジスタQ1,
Q2のON電圧特性(すなわち第7図はそれぞれ
バイポーラトランジスタQ1又はFETQ2のコレ
クタ電流IC又はドレイン電流IDの大きさと、ON
電圧つまり飽和コレクタ・エミツタ電圧VCE
(sat)又はドレイン・ソースON電圧VDSONの
関係を示している。)に示されるように、バイポ
ーラトランジスタQ1の方がON電圧が低いため
このトランジスタQ1側に電流が流れる。またタ
ーンオフ時tofもFETQ2が後からOFFするため、
ターンフ損失はFETQ2で発生するが小さい。
On the other hand, during the T2 period, the bipolar transistor Q
1 is also turned on, but both transistors Q1,
The ON voltage characteristics of Q2 (i.e., Figure 7 shows the magnitude of the collector current IC or drain current ID of bipolar transistor Q1 or FETQ2, respectively, and the ON voltage characteristics
Voltage or saturated collector-emitter voltage VCE
(sat) or drain-source ON voltage VDSON. ), since the ON voltage of bipolar transistor Q1 is lower, current flows to this transistor Q1 side. Also, at turn-off, tof is turned off later because FETQ2 is turned off.
Turnoff loss occurs in FETQ2, but it is small.

このことによつて、ton、tofが小さくかつON
電圧が小さいと言う効果を得ていたのであるが、
この装置には次のような欠点がある。
This makes ton and tof small and ON.
The effect was that the voltage was low, but
This device has the following drawbacks:

端子が4端子あるため、同一パツケージ内に
2つのトランジスタQ1,Q2を構成しようと
すると、従来装置に比べ端子を1つ余分につく
らなければならないため大形化する。
Since there are four terminals, if two transistors Q1 and Q2 are to be constructed in the same package, one extra terminal must be created compared to the conventional device, resulting in an increase in size.

トランジスタQ1とQ2の入力信号(ベース
電流IBとゲート電圧VG)がそれぞれ別な波形
をしており、入力信号電圧(駆動信号電圧とも
いう)をつくるための回路が複雑化する。
The input signals (base current IB and gate voltage VG) of transistors Q1 and Q2 have different waveforms, which complicates the circuit for creating the input signal voltage (also called drive signal voltage).

〔発明の目的〕[Purpose of the invention]

この発明は前述の欠点を除き、従来のスイツチ
ング用半導体装置と同じく3端子素子であり、か
つ単純な方形波パルスの入力信号電圧で、ton、
tofが短かくON電圧の低いスイツチング用半導体
装置を提供することを目的とする。
Except for the above-mentioned drawbacks, this invention uses a three-terminal device like the conventional switching semiconductor device, and can operate with a simple square wave pulse input signal voltage of ton,
The purpose of the present invention is to provide a switching semiconductor device with a short tof and a low ON voltage.

〔発明の要点〕[Key points of the invention]

本発明の要点はバイポーラトランジスタのエミ
ツタ、コレクタをそれぞれ電界効果トランジスタ
のソース、ドレインに接続してバイポーラトラン
ジスタと電界効果トランジスタとの並列接続と
し、この共通に接続されたエミツタ、ソースを共
通エミツタ、同じくコレクタ、ドレインを共通コ
レクタとし、前記共通エミツタ、共通コレクタ間
で負荷電流を開閉する半導体装置において、 通電阻止手段の一端をバイポーラトランジスタ
のベースに接続し、前記通電阻止手段の他端に前
記電界効果トランジスタのゲートを接続してこの
他端とゲートとの接続点を共通駆動端子とし、前
記通電阻止手段は前記共通駆動端子から印加する
印加電圧が前記電界効果トランジスタのゲートの
しきい値電圧(スレツシユホルド電圧など)を超
える所定電圧に達する迄通電を阻止する素子と
し、前記共通駆動端子と前記共通エミツタ間に、
少なくとも前記所定電圧以上の波高値を持ち、そ
の立上り時、立下り時に前記しきい値電圧に相当
する電圧と前記所定電圧に相当する電圧に達する
のに時間的ずれを生ずる台形状の駆動信号電圧を
与え、前記バイポーラトランジスタと電界効果ト
ランジスタが異なる時間に開閉するようにした点
と、もしくはさらに前記通電阻止手段の素子はツ
エナダイオード又は該ツエナダイオードと抵抗と
の直列回路からなるようにした点と、又はさらに
前記駆動信号電圧は前記共通駆動端子と前記共通
エミツタ間に接続されたコンデンサ(及び必要に
応じその他の手段)を介して(方形波信号電圧か
ら)形成されるようにした点にあり、これにより
共通の方形波駆動信号電圧を用いてバイポーラト
ランジスタが電界効果トランジスタより遅くON
し、早くOFFできるようにした点にある。
The main point of the present invention is to connect the emitter and collector of the bipolar transistor to the source and drain of the field effect transistor, respectively, to form a parallel connection between the bipolar transistor and the field effect transistor, and connect the commonly connected emitter and source to the common emitter, as well. In a semiconductor device in which a collector and a drain are used as a common collector and a load current is switched between the common emitter and the common collector, one end of the conduction blocking means is connected to the base of a bipolar transistor, and the other end of the conduction blocking means is connected to the field effect The gates of the transistors are connected, and a connection point between the other end and the gate is used as a common drive terminal, and the current conduction blocking means is arranged such that the applied voltage applied from the common drive terminal is a threshold voltage (threshold voltage) of the gate of the field effect transistor. between the common drive terminal and the common emitter;
A trapezoidal drive signal voltage having a peak value at least equal to or higher than the predetermined voltage, and which causes a time lag between reaching the voltage corresponding to the threshold voltage and the voltage corresponding to the predetermined voltage at the rise and fall of the voltage. and the bipolar transistor and the field effect transistor are opened and closed at different times, or the element of the current blocking means is composed of a Zener diode or a series circuit of the Zener diode and a resistor. or further characterized in that the drive signal voltage is formed (from a square wave signal voltage) via a capacitor (and other means as required) connected between the common drive terminal and the common emitter. , which allows bipolar transistors to turn on later than field-effect transistors using a common square-wave drive signal voltage.
The main point is that it can be turned off quickly.

〔発明の実施例〕[Embodiments of the invention]

以下第1図〜第4図に基づいて本発明の実施例
を説明する。第1図、第2図はそれぞれ本発明の
異つた実施例の構成を示す回路図、第3図は本発
明の原理構成を示す回路図、第4図は第3図にお
ける入力信号電圧の波形例を示す図である。
Embodiments of the present invention will be described below based on FIGS. 1 to 4. Figures 1 and 2 are circuit diagrams showing the configurations of different embodiments of the present invention, Figure 3 is a circuit diagram showing the principle configuration of the present invention, and Figure 4 is the waveform of the input signal voltage in Figure 3. It is a figure which shows an example.

まず第3図、第4図について説明する。第3図
におけるZDはツエナダイオード、R1は抵抗で
あり、第4図の入力信電圧Viは第3図の端子A
と共通エミツタE間に、つまりFETQ2のゲート
Gには直接に、バイポーラトランジスタQ1のベ
ースBには抵抗R1とツエナダイオードZDとの
直列回路を介して与えられる。
First, FIGS. 3 and 4 will be explained. In Figure 3, ZD is a Zener diode, R1 is a resistor, and the input voltage Vi in Figure 4 is the terminal A in Figure 3.
and the common emitter E, that is, directly to the gate G of FET Q2, and to the base B of bipolar transistor Q1 via a series circuit of resistor R1 and Zener diode ZD.

また第4図においてVPは入力信号電圧Viの最
高値、VZはツエナダイオードZDのツエナ電圧、
V0はFETQ2のゲートGのしきい値電圧(スレ
ツシユホルド電圧)を示す。
In addition, in Fig. 4, VP is the highest value of the input signal voltage Vi, VZ is the Zener voltage of the Zener diode ZD,
V0 indicates the threshold voltage of the gate G of FETQ2.

いま第3図の端子Aに第4図のような台形の入
力信号電圧Viを入れるとVi≧V0となり始める
点P1でFETQ2がONする。さらにVi≧VZと
なり始める点P2以後ではバイポーラトランジス
タQ1にベース電流IBが流れトランジスタQ1
がONする。抵抗R1はこのときのベース電流IB
の調節用のものであり、入力信号電圧Viが最高
値VPにあるとき所定のベース電流IBが流れるよ
うに、すなわち R1=(VP−VZ)/IBのように抵抗R1が定め
られる。また、Vi<Vzとなる点P3以後はまず
バイポーラトランジスタQ1がOFFし、さらに
Vi<V0となる点P4以後ではFETQ2がOFFす
るためトランジスタQ2はQ1より常に早くON
し、遅くOFFするため、目的の効果が得られる
ことになる。
Now, when inputting a trapezoidal input signal voltage Vi as shown in FIG. 4 to the terminal A in FIG. 3, FETQ2 turns ON at a point P1 where Vi≧V0 begins. Furthermore, after the point P2 where Vi≧VZ starts to meet, the base current IB flows to the bipolar transistor Q1 and the transistor Q1
turns on. Resistor R1 is the base current IB at this time
The resistor R1 is set so that a predetermined base current IB flows when the input signal voltage Vi is at the maximum value VP, that is, R1=(VP-VZ)/IB. Moreover, after point P3 where Vi<Vz, bipolar transistor Q1 is first turned off, and then
After point P4 where Vi<V0, FETQ2 turns off, so transistor Q2 always turns on earlier than Q1.
However, since it turns off later, the desired effect can be obtained.

次に第1図、第2図の実施例を説明する。両図
におけるK1は入力信号電圧Viの立上り、立下
りの変化をゆるやかにするためのコンデンサ、R
2はコンデンサK1の放電抵抗である。コンデン
サ1は第1図ではトランジスタQ1,Q2の共通
エミツタEと端子Aとの間に接続されているが、
第2図ではコンデンサK1の端子A側への接続点
が、抵抗R1とツエナダイオードZDとの接続点
A1に置換つている。
Next, the embodiments shown in FIGS. 1 and 2 will be explained. In both figures, K1 is a capacitor R that smooths the rise and fall changes of the input signal voltage Vi.
2 is the discharge resistance of the capacitor K1. Capacitor 1 is connected between the common emitter E of transistors Q1 and Q2 and terminal A in FIG.
In FIG. 2, the connection point of the capacitor K1 to the terminal A side is replaced by the connection point A1 between the resistor R1 and the Zener diode ZD.

コンデンサK1の付加により入力信号電圧Vi
が方形波状に立上りかつ立下つた場合でもコンデ
ンサK1の両端電圧が第4図の台形波状に変化す
る。すなわち第1図の場合は入力信号電圧Viの
立上りの際コンデンサK1は図外の入力信号源の
内部抵抗によつて制限される電流によつて充電さ
れゆるやかに立上り、また同じく立下りの際は前
記内部抵抗及び抵抗R2を介してゆるやかに放電
する。また第2図は前記内部抵抗が小さい場合の
回路構成例で、抵抗R1が前記内部抵抗の代りに
もなる。このようにして方形波という単純な波形
の入力信号電圧Viを端子Aに加えることによつ
て第3図で述べたと同様なトランジスタQ1,Q
2のスイツチング動作を行わせることができる。
By adding capacitor K1, the input signal voltage Vi
Even if the voltage rises and falls in a square waveform, the voltage across the capacitor K1 changes in a trapezoidal waveform as shown in FIG. In other words, in the case of Fig. 1, when the input signal voltage Vi rises, the capacitor K1 is charged by the current limited by the internal resistance of the input signal source (not shown) and rises slowly; It is discharged slowly via the internal resistance and the resistance R2. Further, FIG. 2 shows an example of the circuit configuration when the internal resistance is small, and the resistor R1 can also be used in place of the internal resistance. In this way, by applying the input signal voltage Vi having a simple waveform of a square wave to the terminal A, the transistors Q1 and Q similar to those described in FIG.
2 switching operations can be performed.

なお本発明におけるトランジスタQ1とQ2と
の組合せは前述の実施例のような、NPNトラン
ジスタとNチヤネルFETとの組合せのみならず、
PNPトランジスタとPチヤネルFETとの組合せ
でも有効である。ただし後者の場合第1図、第2
図のツエナダイオードZDの方向は逆とする必要
がある。またバイポーラトランジスタQ1はダー
リントン接続のトランジスタであつてもかまわな
い。
Note that the combination of transistors Q1 and Q2 in the present invention is not limited to the combination of an NPN transistor and an N-channel FET as in the above-mentioned embodiments.
A combination of a PNP transistor and a P channel FET is also effective. However, in the latter case, Figures 1 and 2
The direction of the Zener diode ZD in the figure needs to be reversed. Further, the bipolar transistor Q1 may be a Darlington-connected transistor.

〔発明の効果〕〔Effect of the invention〕

以上の説明から明らかなように、本発明によれ
ばバイポーラトランジスタとFETとのエミツタ
とソース及びコレククタとドレインをそれぞれ接
続した半導体装置において、バイポーラトランジ
スタのベース端子にツエナダイオードと抵抗との
直列回路の一端をツエナダイオーがベース端子側
となるように接続し、かつコンデンサの一端を共
通エミツタに、該コンデンサの他端を前記直列回
路の他端又は前記抵抗とツエナダイオードとの接
続点に接続し前記コンデンサの他端にFETのゲ
ートを接続して共通のベース端子としたため、 3端子素子であり 単純な方形波入力信号電圧で制御でき、かつ ton、tofが速くON電圧の低い 半導体装置を構成できると言う効果が得られ
る。
As is clear from the above description, according to the present invention, in a semiconductor device in which the emitter and source and the collector and drain of a bipolar transistor and an FET are respectively connected, a series circuit of a Zener diode and a resistor is connected to the base terminal of the bipolar transistor. One end of the capacitor is connected so that the Zener diode is on the base terminal side, one end of the capacitor is connected to a common emitter, and the other end of the capacitor is connected to the other end of the series circuit or the connection point between the resistor and the Zener diode. By connecting the gate of the FET to the other end and using it as a common base terminal, it is a three-terminal element that can be controlled by a simple square wave input signal voltage, and it is possible to construct a semiconductor device with fast ton and tof and low ON voltage. You can get the desired effect.

【図面の簡単な説明】[Brief explanation of the drawing]

第1図は本発明の1実施例の構成を示す回路
図、第2図は同じく他の実施例の構成を示す回路
図、第3図は本発明の原理を説明する回路図、第
4図は第3図における入力信号電圧の波形例を示
す図、第5図は従来装置の構成を示す回路図、第
6図は第5図の動作を説明する各部波形図、第7
図はバイポーラトランジスタとFETとのON電圧
特性を比較して示す図である。 Q1…バイポーラトランジスタ、Q2…電界効
果トランジスタ(FET)、ZD…ツエナダイオー
ド、K1…コンデンサ、R1,R2…抵抗、Vi
…入力信号電圧。
FIG. 1 is a circuit diagram showing the configuration of one embodiment of the present invention, FIG. 2 is a circuit diagram showing the configuration of another embodiment, FIG. 3 is a circuit diagram explaining the principle of the invention, and FIG. 4 is a diagram showing an example of the waveform of the input signal voltage in FIG. 3, FIG. 5 is a circuit diagram showing the configuration of a conventional device, FIG. 6 is a waveform diagram of each part explaining the operation of FIG.
The figure is a diagram showing a comparison of the ON voltage characteristics of a bipolar transistor and a FET. Q1... Bipolar transistor, Q2... Field effect transistor (FET), ZD... Zener diode, K1... Capacitor, R1, R2... Resistor, Vi
...Input signal voltage.

Claims (1)

【特許請求の範囲】 1 バイポーラトランジスタのエミツタ、コレク
タをそれぞれ電界効果トランジスタのソース、ド
レインに接続してバイポーラトランジスタと電界
効果トランジスタとの並列接続とし、この共通に
接続されたエミツタ、ソースを共通エミツタ、同
じくコレクタ、ドレインを共通コレクタとし、前
記共通エミツタ、共通コレクタ間で負荷電流を開
閉する半導体装置において、通電阻止手段の一端
をバイポーラトランジスタのベースに接続し、前
記通電阻止手段の他端に前記電界効果トランジス
タのゲートを接続してこの他端とゲートとの接続
点を共通駆動端子とし、前記通電阻止手段は前記
共通駆動端子から印加する印加電圧が前記電界効
果トランジスタのゲートのしきい値電圧を超える
所定電圧に達する迄通電を阻止する素子とし、前
記共通駆動端子と前記共通エミツタ間に、少なく
とも前記所定電圧以上の波高値を持ち、その立上
り時、立下り時に前記しきい値電圧に相当する電
圧と前記所定電圧に相当する電圧に達するのに時
間的ずれを生ずる台形状の駆動信号電圧を与え、
前記バイポーラトランジスタと電界効果トランジ
スタが異なる時間に開閉することを特徴とするス
イツチング用半導体装置。 2 特許請求の範囲第1項に記載の装置におい
て、前記通電阻止手段の素子はツエナダイオード
又は該ツエナダイオードと抵抗との直列回路から
なることを特徴とするスイツチング用半導体装
置。 3 特許請求の範囲第1項又は第2項に記載の装
置において、前記駆動信号電圧は前記共通駆動端
子と前記共通エミツタ間に接続されたコンデンサ
を介して形成されるものであることを特徴とする
スイツチング用半導体装置。
[Claims] 1. The emitter and collector of a bipolar transistor are connected to the source and drain of a field effect transistor, respectively, so that the bipolar transistor and the field effect transistor are connected in parallel, and the commonly connected emitter and source are connected to the common emitter. Similarly, in a semiconductor device in which a collector and a drain are used as a common collector and a load current is switched between the common emitter and the common collector, one end of the conduction blocking means is connected to the base of a bipolar transistor, and the other end of the conduction blocking means is connected to the base of the bipolar transistor. The gates of the field effect transistors are connected, and the connection point between the other end and the gate is used as a common drive terminal, and the current conduction blocking means is arranged so that the applied voltage applied from the common drive terminal is the threshold voltage of the gate of the field effect transistor. between the common drive terminal and the common emitter, the element has a peak value of at least the predetermined voltage or more, and corresponds to the threshold voltage at the rise and fall of the element. applying a trapezoidal drive signal voltage that causes a time lag in reaching a voltage corresponding to the voltage corresponding to the predetermined voltage;
A semiconductor device for switching, characterized in that the bipolar transistor and the field effect transistor open and close at different times. 2. A switching semiconductor device according to claim 1, wherein the element of the current blocking means comprises a Zener diode or a series circuit of the Zener diode and a resistor. 3. The device according to claim 1 or 2, wherein the drive signal voltage is formed via a capacitor connected between the common drive terminal and the common emitter. Semiconductor device for switching.
JP59195379A 1984-09-18 1984-09-18 Semiconductor device for switching Granted JPS6172411A (en)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP59195379A JPS6172411A (en) 1984-09-18 1984-09-18 Semiconductor device for switching

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP59195379A JPS6172411A (en) 1984-09-18 1984-09-18 Semiconductor device for switching

Publications (2)

Publication Number Publication Date
JPS6172411A JPS6172411A (en) 1986-04-14
JPH0446486B2 true JPH0446486B2 (en) 1992-07-30

Family

ID=16340186

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP59195379A Granted JPS6172411A (en) 1984-09-18 1984-09-18 Semiconductor device for switching

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JPS6172411A (en)

Families Citing this family (7)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN102859858B (en) 2010-02-05 2015-04-15 松下电器产业株式会社 Power conversion device
JP2012234926A (en) * 2011-04-28 2012-11-29 Sanken Electric Co Ltd Semiconductor device
JP5854895B2 (en) * 2011-05-02 2016-02-09 三菱電機株式会社 Power semiconductor device
JP5805513B2 (en) * 2011-12-14 2015-11-04 三菱電機株式会社 Power semiconductor device
KR101643492B1 (en) 2012-04-06 2016-07-27 미쓰비시덴키 가부시키가이샤 Composite semiconductor switch device
JP5783997B2 (en) * 2012-12-28 2015-09-24 三菱電機株式会社 Power semiconductor device
GB201522651D0 (en) 2015-12-22 2016-02-03 Rolls Royce Controls & Data Services Ltd Solid state power control

Family Cites Families (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS49133550U (en) * 1973-03-19 1974-11-16
JPS57176742U (en) * 1981-04-24 1982-11-09

Also Published As

Publication number Publication date
JPS6172411A (en) 1986-04-14

Similar Documents

Publication Publication Date Title
US5502632A (en) High voltage integrated circuit driver for half-bridge circuit employing a bootstrap diode emulator
CN110890878B (en) Adaptive multi-level gate driver circuit and method for switching a half-bridge circuit
US6208185B1 (en) High performance active gate drive for IGBTs
US4760293A (en) Combined bipolar and MOSFET switch
EP0649579B1 (en) Circuit for driving a half-bridge
US5281862A (en) Power MOSFET driver with cross-conduction current reduction
EP3537582B1 (en) Drive circuit for power element
JP2000253646A (en) Gate circuit of insulated gate semiconductor device
JP3430878B2 (en) MOS gate type element driving circuit
JPS6382123A (en) drive circuit
JPH0865125A (en) Gate drive circuit of power mosfet switch
JPH05308717A (en) Short circuit protection circuit
JP2001223571A (en) Gate drive device for voltage driven semiconductor device
JPH04322123A (en) Overload protection circuit device for semiconductor devices
JPH11205112A (en) High voltage power integrated circuit
JPH0446486B2 (en)
JPH0393457A (en) Drive circuit for voltage driving type element
US5534769A (en) Synchronous rectifying circuit
US6683777B2 (en) Semiconductor protective control unit for controlling output transistors connected to inductive load
JP2001169534A (en) Gate circuit of insulated gate type semiconductor device
EP0177148A2 (en) Power supplies using mosfet devices
JPH05199093A (en) P-channel field-effect transistor driver circuit
JP2004088892A (en) Gate circuit of insulated gate semiconductor device
Bayerer et al. Low impedance gate drive for full control of voltage controlled power devices
US6330172B1 (en) Switching device