JPH0447236A - 偏光検出装置 - Google Patents
偏光検出装置Info
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- JPH0447236A JPH0447236A JP2158076A JP15807690A JPH0447236A JP H0447236 A JPH0447236 A JP H0447236A JP 2158076 A JP2158076 A JP 2158076A JP 15807690 A JP15807690 A JP 15807690A JP H0447236 A JPH0447236 A JP H0447236A
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- light
- grating
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Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
〔産業上の利用分野〕
本発明は、光ピツクアップ等に用いられる偏光検出装置
に係り、詳しくは、入射光を異なる偏光成分の光束に分
離する偏光回折素子を備えた偏光検出装置に関するもの
である。
に係り、詳しくは、入射光を異なる偏光成分の光束に分
離する偏光回折素子を備えた偏光検出装置に関するもの
である。
格子間隔が使用する光の波長程度となるように形成され
た回折素子は偏光特性を存することが知られている(K
、Yokomori、”Dielectric 5ur
facerelief gratings with
high diffractionefficienc
y”、AppIied 0ptics Vol、23.
No、14.pp2303、1984参照)。
た回折素子は偏光特性を存することが知られている(K
、Yokomori、”Dielectric 5ur
facerelief gratings with
high diffractionefficienc
y”、AppIied 0ptics Vol、23.
No、14.pp2303、1984参照)。
第5図に示すように、偏光回折素子21はガラス等の透
明な基板22の一方の表面に、格子間隔が入射光の波長
程度の所定の値となるように形成された偏光特性を有す
る回折格子23(便宜上ハツチングで示す)を備えてい
る0回折格子23は2光束干渉法等により形成される。
明な基板22の一方の表面に、格子間隔が入射光の波長
程度の所定の値となるように形成された偏光特性を有す
る回折格子23(便宜上ハツチングで示す)を備えてい
る0回折格子23は2光束干渉法等により形成される。
すなわち、回折格子23は、例えば、フォトレジストか
らなり、例えば、その厚さが1μm、格子間隔が0.5
μmに設定されている。又、回折格子23は、入射光2
4中のP偏光成分をほぼ100%透過させる一方、S偏
光成分をほぼ100%回折させるように作製されている
。
らなり、例えば、その厚さが1μm、格子間隔が0.5
μmに設定されている。又、回折格子23は、入射光2
4中のP偏光成分をほぼ100%透過させる一方、S偏
光成分をほぼ100%回折させるように作製されている
。
このような偏光回折素子21に、例えば、波長が0.8
μmの入射光24をブラッグ角で入射させると、入射光
24のうちP偏光成分が0次回折光24aとして回折格
子23を透過し、1次回折光24bとして回折されるこ
とはほとんどない。
μmの入射光24をブラッグ角で入射させると、入射光
24のうちP偏光成分が0次回折光24aとして回折格
子23を透過し、1次回折光24bとして回折されるこ
とはほとんどない。
一方、入射光24のうちS偏光成分は1次回折光24b
として回折格子23により回折され、0次回折光24a
として透過することはほとんどない。
として回折格子23により回折され、0次回折光24a
として透過することはほとんどない。
又、偏光回折素子21を含む偏光検出装置において、上
記のように分離された0次回折光24a及び1次回折光
24bの偏光成分の検出は、それぞれ集光レンズ25・
26を介して光検出器27・28に集光させて行う。
記のように分離された0次回折光24a及び1次回折光
24bの偏光成分の検出は、それぞれ集光レンズ25・
26を介して光検出器27・28に集光させて行う。
上記のように、回折格子23は、異なる偏光成分を分離
する特性を有するので、光磁気記録再生装置用の光ピツ
クアップにおける従来の偏光ビームスプリッタに代用し
て利用することができ、それにより、光ピツクアップの
小型・軽量化を図ることができる。
する特性を有するので、光磁気記録再生装置用の光ピツ
クアップにおける従来の偏光ビームスプリッタに代用し
て利用することができ、それにより、光ピツクアップの
小型・軽量化を図ることができる。
ところが、上記した従来の偏光回折素子21では、回折
格子23による回折光の回折角は入射光24の波長に依
存するので、例えば、光源にレーザダイオードを用いた
場合、レーザダイオードから出射される光の波長が周囲
の温度変化等により変動すると、それに伴って上記回折
角が変化する問題がある。
格子23による回折光の回折角は入射光24の波長に依
存するので、例えば、光源にレーザダイオードを用いた
場合、レーザダイオードから出射される光の波長が周囲
の温度変化等により変動すると、それに伴って上記回折
角が変化する問題がある。
例えば、入射光24の波長が所定の値である時1次回折
光24bは所定の回折角で回折され、集光レンズ26に
より光検出器28に集光されるものとする。ここで、レ
ーザダイオードの周囲温度が低下して入射光24の波長
が上記所定値より小さくなると、回折角もそれに伴って
小さくなり、回折格子23により回折された1次回折光
24bは、図中に2点鎖線で示すように所定の光路から
外れて進む、このため、1次回折光24bが光検出器2
8の所定の位置に集光されな(なり、S偏光成分の検出
が行えなくなるという不具合が生じる。
光24bは所定の回折角で回折され、集光レンズ26に
より光検出器28に集光されるものとする。ここで、レ
ーザダイオードの周囲温度が低下して入射光24の波長
が上記所定値より小さくなると、回折角もそれに伴って
小さくなり、回折格子23により回折された1次回折光
24bは、図中に2点鎖線で示すように所定の光路から
外れて進む、このため、1次回折光24bが光検出器2
8の所定の位置に集光されな(なり、S偏光成分の検出
が行えなくなるという不具合が生じる。
上記のように、偏光回折素子21は、回折格子23の格
子間隔が波長程度とされているので、入射光240波長
が僅かに変化したのみで回折角が大きく変化し、1次回
折光24bの光路を移動させることになる。
子間隔が波長程度とされているので、入射光240波長
が僅かに変化したのみで回折角が大きく変化し、1次回
折光24bの光路を移動させることになる。
そこで、光検出器2日の受光部を大きくして、光路の外
れた1次回折光24bを受光させることが考えられるが
、その場合、偏光回折素子21を光検出器28とともに
光ピツクアップに組み込む際に、光ピツクアップも大型
になるので、光ピツクアップの小型・軽量化を図る上で
マイナス要因となる。又、光検出器28を大きくして光
路の変動にかかわらず1次回折光24bを光検出器28
で受光させるようにしても、光検出器28上での1次回
折光24bの集光点が入射光24の波長の変動によって
移動するので、S偏光成分の検出精度が低下するという
問題がある。
れた1次回折光24bを受光させることが考えられるが
、その場合、偏光回折素子21を光検出器28とともに
光ピツクアップに組み込む際に、光ピツクアップも大型
になるので、光ピツクアップの小型・軽量化を図る上で
マイナス要因となる。又、光検出器28を大きくして光
路の変動にかかわらず1次回折光24bを光検出器28
で受光させるようにしても、光検出器28上での1次回
折光24bの集光点が入射光24の波長の変動によって
移動するので、S偏光成分の検出精度が低下するという
問題がある。
更に、1次回折光24bの回折角が100°前後の大き
な角度となるので、1次回折光24bと0次回折光24
aとが大きく離れて進むことになり、光検出器27・2
8を互いに離間した位置に設けねばならなくなるため、
光ピツクアップの小型・軽量化を図ることが困難となっ
ていた。
な角度となるので、1次回折光24bと0次回折光24
aとが大きく離れて進むことになり、光検出器27・2
8を互いに離間した位置に設けねばならなくなるため、
光ピツクアップの小型・軽量化を図ることが困難となっ
ていた。
ところで、回折格子23は、P偏光成分をほぼ100%
透過させ、S偏光成分をほぼ100%回折させるように
作製されるが、実際には、入射光24が1つの回折格子
23のみに入射する場合、P偏光成分が0次回折光24
aとして透過する際の(0次)回折効率η。2及びS偏
光成分が1次回折光24bとして回折される際の(1次
)回折効率η2.はともに0.99程度である。このた
め、回折格子23を透過したO次回折光24aには、0
.01程度の回折効率η。、でS偏光成分が僅かに含ま
れる。又、回折格子23により回折された1次回折光2
4bには、0.01程度の回折効率η、でP偏光成分が
僅かに含まれる。
透過させ、S偏光成分をほぼ100%回折させるように
作製されるが、実際には、入射光24が1つの回折格子
23のみに入射する場合、P偏光成分が0次回折光24
aとして透過する際の(0次)回折効率η。2及びS偏
光成分が1次回折光24bとして回折される際の(1次
)回折効率η2.はともに0.99程度である。このた
め、回折格子23を透過したO次回折光24aには、0
.01程度の回折効率η。、でS偏光成分が僅かに含ま
れる。又、回折格子23により回折された1次回折光2
4bには、0.01程度の回折効率η、でP偏光成分が
僅かに含まれる。
このように、1つの回折格子23に入射光24を分離さ
せた場合、所望の偏光成分におけるそれ以外の偏光成分
の割合、すなわち、偏光度は、0次回折光24aにおい
てはP偏光成分の回折効率η。、に対するS偏光成分の
回折効率η。、の比で表され、1次回折光24bにおい
てはS偏光成分の回折効率η1.に対するP偏光成分の
回折効率+71Pの比で表される。
せた場合、所望の偏光成分におけるそれ以外の偏光成分
の割合、すなわち、偏光度は、0次回折光24aにおい
てはP偏光成分の回折効率η。、に対するS偏光成分の
回折効率η。、の比で表され、1次回折光24bにおい
てはS偏光成分の回折効率η1.に対するP偏光成分の
回折効率+71Pの比で表される。
これに従って、O次回折光24a及び1次回折光24b
の偏光度を求めると、ともに約0.01となり、P偏光
成分とS偏光成分の分離度が実用できる程度に満足すべ
き値であるとは言えない。
の偏光度を求めると、ともに約0.01となり、P偏光
成分とS偏光成分の分離度が実用できる程度に満足すべ
き値であるとは言えない。
そこで、偏光回折素子を含む偏光検出装置を第6図乃至
第8図に示すように構成することが考えられる。
第8図に示すように構成することが考えられる。
すなわち、第6図において、偏光回折素子1は、ガラス
等からなる透明、かつ、平板状の基板2を備え、基板2
0両面にそれぞれ回折格子3・4(便宜上ハツチングで
示す)が設けられている。
等からなる透明、かつ、平板状の基板2を備え、基板2
0両面にそれぞれ回折格子3・4(便宜上ハツチングで
示す)が設けられている。
回折格子3・4は、それぞれ格子間隔が入射光5の波長
程度に設定されるとともに、いずれも格子方向が図の紙
面と直交する方向とされている0回折格子3・4は、例
えば、基板2にエツチングを施すことにより、レリーフ
型回折格子として作製される。
程度に設定されるとともに、いずれも格子方向が図の紙
面と直交する方向とされている0回折格子3・4は、例
えば、基板2にエツチングを施すことにより、レリーフ
型回折格子として作製される。
第7図に示すように、回折格子3・4は等しい格子間隔
りで形成された複数の正弦波状の凸部6・6・・・を有
している0回折格子3・4は入射光5のうち、その電界
が第6図の紙面と平行に振動するP偏光成分をほぼ10
0%透過させる一方、入射光5のうち、その電界が第6
図の紙面と直交する方向に振動するS偏光成分をほぼ1
00%回折させるように設けられている。このため、例
えば、第6図の入射光5の波長が0.8μm、基板2の
屈折率が1.5の場合、格子間隔りは約0. 5μm、
格子の深さtは約1μmに設定される。
りで形成された複数の正弦波状の凸部6・6・・・を有
している0回折格子3・4は入射光5のうち、その電界
が第6図の紙面と平行に振動するP偏光成分をほぼ10
0%透過させる一方、入射光5のうち、その電界が第6
図の紙面と直交する方向に振動するS偏光成分をほぼ1
00%回折させるように設けられている。このため、例
えば、第6図の入射光5の波長が0.8μm、基板2の
屈折率が1.5の場合、格子間隔りは約0. 5μm、
格子の深さtは約1μmに設定される。
上記の構成において、入射光5が偏光回折素子1に入射
角θ、1で入射すると、P偏光成分は0次回折光5aと
して回折格子3・4を透過し、偏光回折素子1から出射
する。一方、入射光5のうちS偏光成分は、1次回折光
5bとして回折格子3により回折角θ1で回折され、更
に、回折格子4により回折角θ2て回折されて偏光回折
素子1から出射する。
角θ、1で入射すると、P偏光成分は0次回折光5aと
して回折格子3・4を透過し、偏光回折素子1から出射
する。一方、入射光5のうちS偏光成分は、1次回折光
5bとして回折格子3により回折角θ1で回折され、更
に、回折格子4により回折角θ2て回折されて偏光回折
素子1から出射する。
この時、上記回折角θ、・θ2は、回折格子3・4の格
子間隔りと入射光5の波長により決まるので、回折格子
3・4が互いに等しい格子間隔りで形成されている場合
、回折角θ8 ・θ2も等しくなり、0次回折光5a及
び1次回折光5bは偏光回折素子1から互いに平行に出
射する。又、入射光5の波長をλとした時、回折格子3
に対する入射角θ、を θ1l=Sin−’ (λ/2D) なる式を満たす、いわゆるブラッグ角に設定しておけば
、上記入射角θi1を、回折格子3により回折された1
次回折光5bが回折格子4に入射する入射角0.2と等
しくすることができ、回折格子3・4の特性を揃えやす
くなる。
子間隔りと入射光5の波長により決まるので、回折格子
3・4が互いに等しい格子間隔りで形成されている場合
、回折角θ8 ・θ2も等しくなり、0次回折光5a及
び1次回折光5bは偏光回折素子1から互いに平行に出
射する。又、入射光5の波長をλとした時、回折格子3
に対する入射角θ、を θ1l=Sin−’ (λ/2D) なる式を満たす、いわゆるブラッグ角に設定しておけば
、上記入射角θi1を、回折格子3により回折された1
次回折光5bが回折格子4に入射する入射角0.2と等
しくすることができ、回折格子3・4の特性を揃えやす
くなる。
次に、上記のように分離された0次回折光5a及び1次
回折光5bの検出について説明する。
回折光5bの検出について説明する。
第8図に示すように、0次回折光5aの光路上には、偏
光回折素子1から所定の距離をおいて集光レンズ7が設
けられるとともに、集光レンズ7による所定の集光位置
に光検出器8が設けられている。一方、1次回折光5b
の光路上には、偏光回折素子1から所定の距離をおいて
集光レンズ9が設けられるとともに、所定の集光位置に
光検出器10が設けられている。光検出器8・1oは、
それぞれパッケージ11・12内に配されている。
光回折素子1から所定の距離をおいて集光レンズ7が設
けられるとともに、集光レンズ7による所定の集光位置
に光検出器8が設けられている。一方、1次回折光5b
の光路上には、偏光回折素子1から所定の距離をおいて
集光レンズ9が設けられるとともに、所定の集光位置に
光検出器10が設けられている。光検出器8・1oは、
それぞれパッケージ11・12内に配されている。
上記の構成において、入射光5の波長が所定C値より小
さくなると、回折角θ、・θ2がともL小さくなり、θ
1° ・θ2° となる。このため、回折格子3により
回折された1次回折光5bは、図中2点鎖線で示すよう
に所定の光路から外れズ進み、回折格子4に入射する位
置もずれることCSなる。
さくなると、回折角θ、・θ2がともL小さくなり、θ
1° ・θ2° となる。このため、回折格子3により
回折された1次回折光5bは、図中2点鎖線で示すよう
に所定の光路から外れズ進み、回折格子4に入射する位
置もずれることCSなる。
しかしながら、基板2は充分に薄く形成されているので
、上記光路の外れは僅かなものとなり、1次回折光5b
が偏光回折素子1から出射する代置も僅かにずれるのみ
である。又、前記のように、回折格子3・4の格子間隔
りは互いに等しいので、回折角θ1゛ ・θ、゛ も互
いに等しくなり、1次回折光5bはO次回折光5aと平
行に偏光回折素子1から出射される。それゆえ、入射光
50波長が小さくなっても、偏光回折素子1における1
次回折光5bの出射位置に大きなずれが生じることはな
く、1次回折光5bを集光レンズ9により光検出器IO
上の所定の位置に集光させることができる。
、上記光路の外れは僅かなものとなり、1次回折光5b
が偏光回折素子1から出射する代置も僅かにずれるのみ
である。又、前記のように、回折格子3・4の格子間隔
りは互いに等しいので、回折角θ1゛ ・θ、゛ も互
いに等しくなり、1次回折光5bはO次回折光5aと平
行に偏光回折素子1から出射される。それゆえ、入射光
50波長が小さくなっても、偏光回折素子1における1
次回折光5bの出射位置に大きなずれが生じることはな
く、1次回折光5bを集光レンズ9により光検出器IO
上の所定の位置に集光させることができる。
次に、回折格子3・4による偏光度について説明する。
第6図に示すように、入射光5のうち、回折格子3を透
過したO次回折光5aには、実際には、回折効率η。、
で透過したP偏光成分以外に、回折効率η。、で透過し
たS偏光成分が僅かに含まれている。この時の偏光度は
、回折効率η。PとηO3をそれぞれ0.99及び0.
01とすると、0次回折光5aにおける偏光度は約0.
01となる。
過したO次回折光5aには、実際には、回折効率η。、
で透過したP偏光成分以外に、回折効率η。、で透過し
たS偏光成分が僅かに含まれている。この時の偏光度は
、回折効率η。PとηO3をそれぞれ0.99及び0.
01とすると、0次回折光5aにおける偏光度は約0.
01となる。
そして、回折格子3と同一のP偏光成分及びS偏光成分
の回折効率η。、・η、、を有する回折格子4に上記O
次回折光5aが入射すると、回折効率ηop・ηo3が
それぞれ二乗され、P偏光成分が回折効率η。iで透過
し、S偏光成分が回折効率las”で透過する。そこで
、上記と同様に回折格子3・4を透過したO次回折光5
aの偏光度を求めると、約0.0001となり、回折格
子3のみを透過した場合に比べ、約1/100の値とな
る。
の回折効率η。、・η、、を有する回折格子4に上記O
次回折光5aが入射すると、回折効率ηop・ηo3が
それぞれ二乗され、P偏光成分が回折効率η。iで透過
し、S偏光成分が回折効率las”で透過する。そこで
、上記と同様に回折格子3・4を透過したO次回折光5
aの偏光度を求めると、約0.0001となり、回折格
子3のみを透過した場合に比べ、約1/100の値とな
る。
一方、入射光5は、P偏光成分の回折効率η1゜及びS
偏光成分の回折効率ηI!で回折格子3により1次回折
光5bとして回折される。そして、この1次回折光5b
は回折格子4に入射し、P偏光成分が回折効率ηIF”
で回折され、S偏光成分が回折効率η、−で回折される
。従って、回折効率η12及びη1.をそれぞれ0.O
l及び0.99とすると、1次回折光5bの偏光度は回
折格子3透過時に約0.01となり、回折格子4透過時
に約0.0001となる、これは、0次回折光5aに含
まれるS偏光成分がほとんどないと考えて良いほど小さ
くなり、1次回折光5bに含まれるP偏光成分も同様に
ほとんどないと考えて良いほど小さくなることを意味し
ている。
偏光成分の回折効率ηI!で回折格子3により1次回折
光5bとして回折される。そして、この1次回折光5b
は回折格子4に入射し、P偏光成分が回折効率ηIF”
で回折され、S偏光成分が回折効率η、−で回折される
。従って、回折効率η12及びη1.をそれぞれ0.O
l及び0.99とすると、1次回折光5bの偏光度は回
折格子3透過時に約0.01となり、回折格子4透過時
に約0.0001となる、これは、0次回折光5aに含
まれるS偏光成分がほとんどないと考えて良いほど小さ
くなり、1次回折光5bに含まれるP偏光成分も同様に
ほとんどないと考えて良いほど小さくなることを意味し
ている。
従って、上記のように、入射光5に回折格子3・4を通
過させることにより、入射光5におけるP偏光成分とS
偏光成分との分離度を実用上充分満足できる程度に高く
することができる。
過させることにより、入射光5におけるP偏光成分とS
偏光成分との分離度を実用上充分満足できる程度に高く
することができる。
次に、第6図〜第8図の偏光検出装置を変形したものを
第9図に示す、なお、第6図〜第8図の偏光検出装置と
同様の機能を有する部材には、同一の番号を付し、説明
を省略する。
第9図に示す、なお、第6図〜第8図の偏光検出装置と
同様の機能を有する部材には、同一の番号を付し、説明
を省略する。
第9図に示すように、0次回折光5a及び1次回折光5
bをともに集光する集光レンズ13が、それぞれの回折
光の光路上に設けられるとともに、集光レンズ13によ
る所定の集光位置においてO次回折光5a及び1次回折
光5bをそれぞれ受光する光検出器8・10が同一のパ
ッケージエイ内に配されている。
bをともに集光する集光レンズ13が、それぞれの回折
光の光路上に設けられるとともに、集光レンズ13によ
る所定の集光位置においてO次回折光5a及び1次回折
光5bをそれぞれ受光する光検出器8・10が同一のパ
ッケージエイ内に配されている。
このような構成では、O次回折光5a及び1次回折光5
bを1つの集光レンズ13により、両部光成分のほぼ中
間位置に集光させるとともに、光検出器8・10を同一
のパッケージ14内の基板部に並べて配置したり、光検
出器8・1oをSt等の単一の半導体基板上に形成する
等により、光検出器8・10を近接して配置することが
できる。
bを1つの集光レンズ13により、両部光成分のほぼ中
間位置に集光させるとともに、光検出器8・10を同一
のパッケージ14内の基板部に並べて配置したり、光検
出器8・1oをSt等の単一の半導体基板上に形成する
等により、光検出器8・10を近接して配置することが
できる。
ところが、第6図〜第8図の偏光検出装置では、O次回
折光5aと1次回折光5bにそれぞれ集光レンズ7・9
が2個必要である。一方、第9図の偏光検出装置では、
互いに平行に入射する0次回折光5aと1次回折光5b
を1つの集光レンズ13によって近接した集光点に集光
させねばならないので、集光レンズ13に入射する時に
O次回折光5aと1次回折光5bとが互いに重ならない
ように空間的に分離されていなければならない。
折光5aと1次回折光5bにそれぞれ集光レンズ7・9
が2個必要である。一方、第9図の偏光検出装置では、
互いに平行に入射する0次回折光5aと1次回折光5b
を1つの集光レンズ13によって近接した集光点に集光
させねばならないので、集光レンズ13に入射する時に
O次回折光5aと1次回折光5bとが互いに重ならない
ように空間的に分離されていなければならない。
よって集光レンズ13の有効径は入射光5の直径の少な
くとも2倍以上必要である。
くとも2倍以上必要である。
以上のように、第6図〜第8図又は第9図の偏光検出装
置では、集光光学系の小型・軽量化が充分に考慮されて
いないものである。
置では、集光光学系の小型・軽量化が充分に考慮されて
いないものである。
〔課題を解決するための手段]
本発明に係る偏光検出装置は、上記の課2を解決するた
めに、入射光の波長λ程度の幅を有する格子間隔り、で
形成された第1の回折格子と、同じく入射光の波長λ程
度の格子間隔Dtで形成された第2の回折格子とが、そ
れぞれ平板状の基板における異なる面に互いに格子方向
が一致するように形成された偏光回折素子を備え、上記
波長λと格子開隔D1 ・Dよとの間に 0<|λ(1/D、−1/D2)(1 −(λ/2 DL) t ) −(+/Kl l≦0.
35 又は0く1λ(1/D、 −17DZ )
(1−(λ/D、−λ/ 2 Dz ) t )−(+
/!川≦用、35(但し、1 1 は絶対値、以下、同
様)・・・■ の関係が満たされるとともに、上記第1及び第2の回折
格子をともに透過した光束と、第1及び第2の回折格子
でともに回折された光束とが入射される集光レンズと、
この集光レンズで集光される上記1対の光束をそれぞれ
受光する1対の光検出器とを備えていることを特徴とす
るものである。
めに、入射光の波長λ程度の幅を有する格子間隔り、で
形成された第1の回折格子と、同じく入射光の波長λ程
度の格子間隔Dtで形成された第2の回折格子とが、そ
れぞれ平板状の基板における異なる面に互いに格子方向
が一致するように形成された偏光回折素子を備え、上記
波長λと格子開隔D1 ・Dよとの間に 0<|λ(1/D、−1/D2)(1 −(λ/2 DL) t ) −(+/Kl l≦0.
35 又は0く1λ(1/D、 −17DZ )
(1−(λ/D、−λ/ 2 Dz ) t )−(+
/!川≦用、35(但し、1 1 は絶対値、以下、同
様)・・・■ の関係が満たされるとともに、上記第1及び第2の回折
格子をともに透過した光束と、第1及び第2の回折格子
でともに回折された光束とが入射される集光レンズと、
この集光レンズで集光される上記1対の光束をそれぞれ
受光する1対の光検出器とを備えていることを特徴とす
るものである。
なお、上記入射光は上記第1の回折格子に対しsin−
’ (λ/2D2)≦θi≦ sin−’ (λ/D、−λ/ 2 Dz ) 又は
sin−’ (λ/DI−λ/2D8)≦θi≦sin
−’ (λ/2DI) ・・・■を満た
す入射角θiで入射するように設定されていることが好
ましい。
’ (λ/2D2)≦θi≦ sin−’ (λ/D、−λ/ 2 Dz ) 又は
sin−’ (λ/DI−λ/2D8)≦θi≦sin
−’ (λ/2DI) ・・・■を満た
す入射角θiで入射するように設定されていることが好
ましい。
上記のような偏光検出装置において、第1及び第2の回
折格子の格子間隔DI −Dtを上記の0式を満たすよ
うな値に設定すると、偏光回折素子に所定の波長の入射
光が入射した場合、第1及び第2の回折格子をともに透
過した光束と、第1及び第2の回折格子でともに回折さ
れた光束とは、互いに離れる方向に20°以内の角度差
を有するように偏光回折素子から出射される。この場合
、集光レンズへの入射時に上記の2つの光束が互いに重
なりあっていても焦点面において異なる位置に集光させ
ることができるので、比較的有効径の小さい単一の集光
レンズで上記の2つの光束を容易に分離してそれぞれの
光束を受光する光検出器上に収束させることができるよ
うになる。
折格子の格子間隔DI −Dtを上記の0式を満たすよ
うな値に設定すると、偏光回折素子に所定の波長の入射
光が入射した場合、第1及び第2の回折格子をともに透
過した光束と、第1及び第2の回折格子でともに回折さ
れた光束とは、互いに離れる方向に20°以内の角度差
を有するように偏光回折素子から出射される。この場合
、集光レンズへの入射時に上記の2つの光束が互いに重
なりあっていても焦点面において異なる位置に集光させ
ることができるので、比較的有効径の小さい単一の集光
レンズで上記の2つの光束を容易に分離してそれぞれの
光束を受光する光検出器上に収束させることができるよ
うになる。
一方、第1の回折格子と第2の回折格子の格子間隔の差
はごく僅かであるので、入射光の波長変動によって生じ
る光検出器上での集光スポットの位置ずれを抑制する効
果はほとんど損なわれることがない。
はごく僅かであるので、入射光の波長変動によって生じ
る光検出器上での集光スポットの位置ずれを抑制する効
果はほとんど損なわれることがない。
又、入射角θiを上記の0式を満たすように設定すると
、入射角θiのブラッグ角からのずれも僅かになるので
、光学特性の劣化もほとんど生しない。
、入射角θiのブラッグ角からのずれも僅かになるので
、光学特性の劣化もほとんど生しない。
なお、上記のような偏光検出装置を光ピンクアップに組
み込むことによって、光ピツクアンプのより一層の小型
・軽量化を実現できる。
み込むことによって、光ピツクアンプのより一層の小型
・軽量化を実現できる。
本発明の一実施例を第1図乃至第4図に基づいて説明す
れば、以下の通りである。
れば、以下の通りである。
本実施例の偏光検出装置は、例えば、第3図に示すよう
な光ピツクアップに組み込まれて使用されるものである
。まず、この光ピツクアップにつき述べる。
な光ピツクアップに組み込まれて使用されるものである
。まず、この光ピツクアップにつき述べる。
第3図において、半導体レーザ41から出射されたほぼ
楕円状の強度分布を有するレーザ光は、コリメートレン
ズ42を介して複合プリズム43に入射し、複合プリズ
ム43でほぼ円形の強度分布に変換された後、ミラー4
4で反射され、対物レンズ45により記録媒体46上に
集光されるようになっている。
楕円状の強度分布を有するレーザ光は、コリメートレン
ズ42を介して複合プリズム43に入射し、複合プリズ
ム43でほぼ円形の強度分布に変換された後、ミラー4
4で反射され、対物レンズ45により記録媒体46上に
集光されるようになっている。
記録媒体46で反射された反射光は、再度、対物レンズ
45及びミラー44を介して複合プリズム43に到り、
面43aで直角に反射されて面43bに入射する。面4
3bで、記録媒体46カ痰の反射光の一部が直角に反射
され、集光レンズ47及びシリンドリカルレンズ48を
介して光検d器50上に集光され、ここで、トラッキン
グ及びフォーカス制御信号が得られる。
45及びミラー44を介して複合プリズム43に到り、
面43aで直角に反射されて面43bに入射する。面4
3bで、記録媒体46カ痰の反射光の一部が直角に反射
され、集光レンズ47及びシリンドリカルレンズ48を
介して光検d器50上に集光され、ここで、トラッキン
グ及びフォーカス制御信号が得られる。
一方、面43bを透過した光は、面43cで直角に反射
され、(1/2)波長板49を介して本偏光検出装置に
入射する。
され、(1/2)波長板49を介して本偏光検出装置に
入射する。
この偏光検出装置は、第1図にも示すように、偏光回折
素子31と、集光レンズ32と、1つのパッケージ33
内に配置された1対の光検出器34・35とを備えてい
る。
素子31と、集光レンズ32と、1つのパッケージ33
内に配置された1対の光検出器34・35とを備えてい
る。
第2図(川に示すように、偏光回折素子31は、ガラス
等からなる透明で、がっ、平板状の基板36を備え、基
板36の両面にそれぞれ第1及び第2の回折格子37・
38(便宜上ハツチングで示す)が形成されている。第
1の回折格子37の格子間隔D1及び第2の回折格子3
8の格子間隔りはともに入射光40の波長λ程度に設定
されるとともに、いずれも格子方向が図の紙面と直交す
る方向と一致している。第1及び第2の回折格子37・
38は、例えば、基板36にエツチングを施すことによ
り、レリーフ型回折格子として作製される。なお、第1
及び第2の回折格子37・38の断面形状は、例えば、
第7図のものと同様に正弦波状とされる。
等からなる透明で、がっ、平板状の基板36を備え、基
板36の両面にそれぞれ第1及び第2の回折格子37・
38(便宜上ハツチングで示す)が形成されている。第
1の回折格子37の格子間隔D1及び第2の回折格子3
8の格子間隔りはともに入射光40の波長λ程度に設定
されるとともに、いずれも格子方向が図の紙面と直交す
る方向と一致している。第1及び第2の回折格子37・
38は、例えば、基板36にエツチングを施すことによ
り、レリーフ型回折格子として作製される。なお、第1
及び第2の回折格子37・38の断面形状は、例えば、
第7図のものと同様に正弦波状とされる。
第1及び第2の回折格子37・38は入射光40のうち
、その電界が第1図の紙面と平行に振動するP偏光成分
をほぼ100%透過させる一方、入射光40のうち、そ
の電界が第1図の紙面と直交する方向に振動するS偏光
成分をほぼlOO%回折させるように形成されている。
、その電界が第1図の紙面と平行に振動するP偏光成分
をほぼ100%透過させる一方、入射光40のうち、そ
の電界が第1図の紙面と直交する方向に振動するS偏光
成分をほぼlOO%回折させるように形成されている。
又、第1及び第2の回折格子37・38の格子間隔り、
−D、と入射光40の波長λとは、0<|λ(1/ D
t −1/ Dz ) (1−(λ/2DI)鵞)
=11/1旧≦0.35 又は0く1λ(1/D、
−1/Dt ) (1−(λ/D、−λ/2 Dz
> ” ) −””’ l≦0.35の関係を満たすよ
うになっている。
−D、と入射光40の波長λとは、0<|λ(1/ D
t −1/ Dz ) (1−(λ/2DI)鵞)
=11/1旧≦0.35 又は0く1λ(1/D、
−1/Dt ) (1−(λ/D、−λ/2 Dz
> ” ) −””’ l≦0.35の関係を満たすよ
うになっている。
二のため、例えば、第1図の入射光4oの波長λをO,
Burnとし、基#l136の屈折率を1. 5とした
場合、第1の回折格子37の格子間隔D1は0.470
μm程度、第2の回折格子38の格子間隔Dtは0.4
80μm程度とするのが好ましい、又、格子深さtは、
例えば、1.2μm程度とする。
Burnとし、基#l136の屈折率を1. 5とした
場合、第1の回折格子37の格子間隔D1は0.470
μm程度、第2の回折格子38の格子間隔Dtは0.4
80μm程度とするのが好ましい、又、格子深さtは、
例えば、1.2μm程度とする。
上記の構成において、入射光4oが偏光回折素子31の
第1の回折格子37に入射角θ1で入射すると、P偏光
成分は0次回折光40aとして第1及び第2の回折格子
37・38を透過し、偏光回折素子31から出射する。
第1の回折格子37に入射角θ1で入射すると、P偏光
成分は0次回折光40aとして第1及び第2の回折格子
37・38を透過し、偏光回折素子31から出射する。
一方、入射光4oのうち、S偏光成分は1次回折光40
bとして第1の回折格子37により基板36の法線方向
に対し角度θ2をなす方向へ回折され、更に第2の回折
格子38により上記法線方向に対し角度θコをなす方向
に回折されて偏光回折素子31から出射する。
bとして第1の回折格子37により基板36の法線方向
に対し角度θ2をなす方向へ回折され、更に第2の回折
格子38により上記法線方向に対し角度θコをなす方向
に回折されて偏光回折素子31から出射する。
この時、角度θ8 ・θ、は次式を満たす。
sinθ1 + sinθ8−λ/D+−(1)sin
θ、 十sinθコ=λ/Dz”(2)入射角θ1は第
1及び第2の回折格子37・3Bの双方においてブラッ
グ条件が満たされるように設定するのが最も好ましいが
、D、≠D2の時にはそのような条件を満たすθ、は存
在しない。
θ、 十sinθコ=λ/Dz”(2)入射角θ1は第
1及び第2の回折格子37・3Bの双方においてブラッ
グ条件が満たされるように設定するのが最も好ましいが
、D、≠D2の時にはそのような条件を満たすθ、は存
在しない。
従って、第1及び第2の回折格子37・38において入
射角とブラッグ角とのずれがほぼ等しくなるように設定
するのが好ましい。
射角とブラッグ角とのずれがほぼ等しくなるように設定
するのが好ましい。
すなわち、
sin−’ (λ/2D2)≦θ1≦
sin−’ (λ/D、−λ/2Dり 又はsin−’
(λ/D、−λ/2D! ) ≦θ1 ≦sin−’
(λ/2D2) −(3)を満たすようにすると
良い。
(λ/D、−λ/2D! ) ≦θ1 ≦sin−’
(λ/2D2) −(3)を満たすようにすると
良い。
ここで、第2図ら)及び具体的数値を用いて上記の角度
関係について説明する。
関係について説明する。
Dl−0,470μm、 Dz −0,480μm、λ
−08μmとすると、第1及び第2の回折格子37・3
8のブラッグ角θ□・θ、8は θ、、am 3in−1(λ/2D+ )= sin−
’ (0,8/(2Xo、47) ) −58,33”
θmz= sin−’ (λ/ 2 Dz )
= sin−’ (0,87(2Xo、48)
) =56.44゜一方、(3)式より、58.3
3’ ≦t3+ ≦60.32″となるので、はぼ中
央の値を取り、θ、 =59.33として(1)(2)
式に代入すると、 θ、 =57.35° θ、 =55.55°となり
、O次回折光40aと1次回折光40bの光軸同士の間
a角度αは、α=θ1−θ3=3.8°となる。
−08μmとすると、第1及び第2の回折格子37・3
8のブラッグ角θ□・θ、8は θ、、am 3in−1(λ/2D+ )= sin−
’ (0,8/(2Xo、47) ) −58,33”
θmz= sin−’ (λ/ 2 Dz )
= sin−’ (0,87(2Xo、48)
) =56.44゜一方、(3)式より、58.3
3’ ≦t3+ ≦60.32″となるので、はぼ中
央の値を取り、θ、 =59.33として(1)(2)
式に代入すると、 θ、 =57.35° θ、 =55.55°となり
、O次回折光40aと1次回折光40bの光軸同士の間
a角度αは、α=θ1−θ3=3.8°となる。
このように0次回折光40aと1次回折光4Cbとが互
いに離れる方向に角度差を有している2、仮にO次回折
光40aと1次回折光40bと力重なりあって集光レン
ズ32に入射しても、焦4面では異なる集光スポットを
形成するので、Oδ回折光40aと1次回折光40bと
を容易に分離できる0例えば、α=3.8°で集光レン
ズ32の焦点距離fが10mmであれば、0次回折光4
0aと1次回折光40bの集光スポットは互いに500
μm離れて形成される。
いに離れる方向に角度差を有している2、仮にO次回折
光40aと1次回折光40bと力重なりあって集光レン
ズ32に入射しても、焦4面では異なる集光スポットを
形成するので、Oδ回折光40aと1次回折光40bと
を容易に分離できる0例えば、α=3.8°で集光レン
ズ32の焦点距離fが10mmであれば、0次回折光4
0aと1次回折光40bの集光スポットは互いに500
μm離れて形成される。
又、集光レンズ32に入射する際、O次回折光40aと
1次回折光40bとが重なりあっていても良いので、集
光レンズ32の有効径Bは入射光40の有効径Aより若
干大きい程度で充分である。
1次回折光40bとが重なりあっていても良いので、集
光レンズ32の有効径Bは入射光40の有効径Aより若
干大きい程度で充分である。
更に、集光レンズ32への入射時に0次回折光40aと
1次回折光40bとが重なりあっていても良いので、基
板36の厚みを従来より更に薄くすることができる。
1次回折光40bとが重なりあっていても良いので、基
板36の厚みを従来より更に薄くすることができる。
一方、第1及び第2の回折格子37・38の格子間隔り
、・D2の差は僅かであるので、第1及び第2の回折格
子37・38を設けることにより、入射光40の波長変
動による集光スポットの移動を抑制する効果が第6図〜
第8図又は第9図の装置と比べて損なわれることはほと
んどなく、偏光度を改善する効果も維持される。
、・D2の差は僅かであるので、第1及び第2の回折格
子37・38を設けることにより、入射光40の波長変
動による集光スポットの移動を抑制する効果が第6図〜
第8図又は第9図の装置と比べて損なわれることはほと
んどなく、偏光度を改善する効果も維持される。
ここで、格子間隔り、・D□が満すべき条件について述
べる。D、とD8の差が大きくなるにつれてαは大きく
なるが、αが大きくなるに伴って入射角がブラッグ条件
から外れていき、偏光特性が劣化する。従って、D+
とD!の差は一定の範囲内としておく必要がある。
べる。D、とD8の差が大きくなるにつれてαは大きく
なるが、αが大きくなるに伴って入射角がブラッグ条件
から外れていき、偏光特性が劣化する。従って、D+
とD!の差は一定の範囲内としておく必要がある。
第2図ら)中Δθ1、Δθ2はそれぞれ第1及び第2の
回折格子37・38のブラング角θIl+・θと入射角
θ1 ・θ2との差を示す。入射角θ1θ2がブラング
角θ1・θ、の近傍であるとすると、 θ、+θ2埼2θ。
回折格子37・38のブラング角θIl+・θと入射角
θ1 ・θ2との差を示す。入射角θ1θ2がブラング
角θ1・θ、の近傍であるとすると、 θ、+θ2埼2θ。
、°、02′、2θ□−θ1 =2 (θ、−Δθ2)
−θ1=θ、−2Δθ1 ・・
・(4)又、θ2+θz”、20m2 、.03 ≠2θm2−θ2 =θ2−2Δθ2・・・
(5)(5)式に(4)式を代入すると、 θ、L−、θ1−2(Δθ1+Δθ2)従って、α=θ
1−θ3:=:2(Δθ1+Δθ2)・・・ (6) となる。
−θ1=θ、−2Δθ1 ・・
・(4)又、θ2+θz”、20m2 、.03 ≠2θm2−θ2 =θ2−2Δθ2・・・
(5)(5)式に(4)式を代入すると、 θ、L−、θ1−2(Δθ1+Δθ2)従って、α=θ
1−θ3:=:2(Δθ1+Δθ2)・・・ (6) となる。
一方、D + =0.47a m、格子深さt =1.
17μmの回折格子の回折効率の入射角依存性は、第4
図に示す通りである。なお、従来の技術の欄と同様η。
17μmの回折格子の回折効率の入射角依存性は、第4
図に示す通りである。なお、従来の技術の欄と同様η。
2はP偏光成分のO次回折効率、η、PはP偏光成分の
1次回折効率、η。、はS偏光成分の0次回折効率、η
2.はS偏光成分の1次回折効率である。同図から明ら
かなように、入射角が(ブラッグ角±5°)の範囲内に
存在すれば(但し、ブラッグ角は58.33” ) 、
ηop、η1s≧0.90、一方、7?os、η、≦0
,05であり、第1及び第2の回折格子37・38を通
過したO次回折光及び1次回折光の各偏光度(η。5/
η。2)2 (η1?/η1.)2≦0.003とな
るので、実用に供することができる。
1次回折効率、η。、はS偏光成分の0次回折効率、η
2.はS偏光成分の1次回折効率である。同図から明ら
かなように、入射角が(ブラッグ角±5°)の範囲内に
存在すれば(但し、ブラッグ角は58.33” ) 、
ηop、η1s≧0.90、一方、7?os、η、≦0
,05であり、第1及び第2の回折格子37・38を通
過したO次回折光及び1次回折光の各偏光度(η。5/
η。2)2 (η1?/η1.)2≦0.003とな
るので、実用に供することができる。
従って、Δθ1、Δθ2≦5°とする必要があり、これ
を(6)式に代入すると、 α≦20’ =0.35r a d −=
(6’ )となる。
を(6)式に代入すると、 α≦20’ =0.35r a d −=
(6’ )となる。
一方、 (1)(2)式より、
sinθ、 −sinθ3=λ(1/D、−1/D2)
、’、 sinL −sin CfB−cr)−λ(1
/D。
、’、 sinL −sin CfB−cr)−λ(1
/D。
1/Dl)
従って、 sinθ+ Sinθ、cos a +
sin αcosθ1−λ(1/DI 1/Dt
)・・・(7)αは充分に小さいので、COSα−1,
sin(r’iαと近似できる。これを(7)式に代入
して整理すると、 α彎λ (1/D、−1/Dz )/ cosθ1 ・
・・(8)sin2 θ1±cos ” θ宜=1と(
3)式から、cosθ≦(1−(λ/2 D、 ) 2
) +l/H又はCOSθ≦(1−(λ/D、 −
λ/ 2 D2> Z ) N/!1・・・ (9) (8)(9)式から、 λ (1/D、−1/D2) (1−(λ/2 D、
) 2 ) −(I/H≦α 又はλ (1/D、−
1/D2 )(1−(λ/ D+λ/ 2 D z )
” ) −i′/21 ≦α ・・・(10)
(6′)式より、α≦0.35 r a dであるから
、0<|λ(1/D、−1/D2)(1 −(λ/2 DI ) ” ) −”” I≦0.35
又は0<|λ(1/DI −1/Dz )(t−(
λ/ D + −λ/2 Dz )” ) −””’
l≦0.35を満たすようにり、・D2を設定すれば良
い。
sin αcosθ1−λ(1/DI 1/Dt
)・・・(7)αは充分に小さいので、COSα−1,
sin(r’iαと近似できる。これを(7)式に代入
して整理すると、 α彎λ (1/D、−1/Dz )/ cosθ1 ・
・・(8)sin2 θ1±cos ” θ宜=1と(
3)式から、cosθ≦(1−(λ/2 D、 ) 2
) +l/H又はCOSθ≦(1−(λ/D、 −
λ/ 2 D2> Z ) N/!1・・・ (9) (8)(9)式から、 λ (1/D、−1/D2) (1−(λ/2 D、
) 2 ) −(I/H≦α 又はλ (1/D、−
1/D2 )(1−(λ/ D+λ/ 2 D z )
” ) −i′/21 ≦α ・・・(10)
(6′)式より、α≦0.35 r a dであるから
、0<|λ(1/D、−1/D2)(1 −(λ/2 DI ) ” ) −”” I≦0.35
又は0<|λ(1/DI −1/Dz )(t−(
λ/ D + −λ/2 Dz )” ) −””’
l≦0.35を満たすようにり、・D2を設定すれば良
い。
なお、上記の実施例では、基板36の両面に第1及び第
2の回折格子37・38をエツチングにより形成するも
のとして説明したが、これ以外に、例えば、フォトレジ
スト等で形成しても良い。
2の回折格子37・38をエツチングにより形成するも
のとして説明したが、これ以外に、例えば、フォトレジ
スト等で形成しても良い。
又、第1及び第2の回折格子37・38の断面形状も第
7図に示すような正弦波状に限定されるものではなく、
例えば、矩形状、3角形状、台形状等であっても良い。
7図に示すような正弦波状に限定されるものではなく、
例えば、矩形状、3角形状、台形状等であっても良い。
[発明の効果]
本発明に係る偏光検出装置は、以上のように、入射光の
波長λ程度の幅を有する格子間隔D1で形成された第1
の回折格子と、同じく入射光の波長λ程度の格子間隔D
!で形成された第2の回折格子とが、それぞれ平板状の
基板における異なる面に互いに格子方向が一致するよう
に形成された偏光回折素子を備え、上記波長λと格子間
隔り。
波長λ程度の幅を有する格子間隔D1で形成された第1
の回折格子と、同じく入射光の波長λ程度の格子間隔D
!で形成された第2の回折格子とが、それぞれ平板状の
基板における異なる面に互いに格子方向が一致するよう
に形成された偏光回折素子を備え、上記波長λと格子間
隔り。
・Dよとの間に
0く1λ(1/D、 −t/Dx ) (を−(λ/
2 DI ) ” )”””’ I ≦0.35 又
ハ0<|λ(1/D、−1/Dt )(1−(λ/D、
−λ/2 Dt ) ” ) −””’ I≦0.35
の関係が満たされるとともに、上記第1及び第2の回折
格子をともに透過した光束と、第1及び第2の回折格子
でともに回折された光束とが入射される集光レンズと、
この集光レンズで集光される上記1対の光束をそれぞれ
受光する1対の光検出器とを備えている構成である。
2 DI ) ” )”””’ I ≦0.35 又
ハ0<|λ(1/D、−1/Dt )(1−(λ/D、
−λ/2 Dt ) ” ) −””’ I≦0.35
の関係が満たされるとともに、上記第1及び第2の回折
格子をともに透過した光束と、第1及び第2の回折格子
でともに回折された光束とが入射される集光レンズと、
この集光レンズで集光される上記1対の光束をそれぞれ
受光する1対の光検出器とを備えている構成である。
これにより、偏光回折素子に所定の波長の入射光が入射
した場合、第1及び第2の回折格子をともに透過した光
束と、第1及び第2の回折格子でともに回折された光束
とは、互いに離れる方向に20° (0,35r a
d )以内の角度差を持って偏光回折素子から出射され
る。この場合、集光レンズへの入射時に上記の2つの光
束が互いに重なりあっていても焦点面において異なる位
置に集光させることができるので、比較的有効径の小さ
い単一の集光レンズで上記の2つの光束を容易に分離し
てそれぞれに光束を受光する光検出器上に収束させるこ
とができるようになる。
した場合、第1及び第2の回折格子をともに透過した光
束と、第1及び第2の回折格子でともに回折された光束
とは、互いに離れる方向に20° (0,35r a
d )以内の角度差を持って偏光回折素子から出射され
る。この場合、集光レンズへの入射時に上記の2つの光
束が互いに重なりあっていても焦点面において異なる位
置に集光させることができるので、比較的有効径の小さ
い単一の集光レンズで上記の2つの光束を容易に分離し
てそれぞれに光束を受光する光検出器上に収束させるこ
とができるようになる。
一方、第1の回折格子と第2の回折格子の格子間隔の差
はごく僅かであるので、入射光の波長変動によって生じ
る光検出器上での集光スポットの位置ずれを抑制する効
果はほとんど損なわれることがない。
はごく僅かであるので、入射光の波長変動によって生じ
る光検出器上での集光スポットの位置ずれを抑制する効
果はほとんど損なわれることがない。
又、上記入射光が上記第1の回折格子に対しsin−’
(λ/2D2)(1−≦θi≦sin−’ (λ/D
1−λ/2D2)又はsin−’ (λ/D、−λ/2
Dり≦θi≦sin−’ (λ/2D2) を満たす入射角θiで入射するように設定すれば、入射
角θiのブラッグ角からのずれも僅かになるので、光学
特性の劣化もほとんど生じない。
(λ/2D2)(1−≦θi≦sin−’ (λ/D
1−λ/2D2)又はsin−’ (λ/D、−λ/2
Dり≦θi≦sin−’ (λ/2D2) を満たす入射角θiで入射するように設定すれば、入射
角θiのブラッグ角からのずれも僅かになるので、光学
特性の劣化もほとんど生じない。
なお、上記のような偏光検出装置を光ピツクアップに組
み込むことによって、光ピツクアップのより一層の小型
・軽量化を実現できる。
み込むことによって、光ピツクアップのより一層の小型
・軽量化を実現できる。
第1図乃至第4図は本発明の一実施例を示すものである
。 第1図は偏光検出装置の概略構成図である。 第2図(a)は偏光回折素子の概略説明図である。 第2図(b)は格子間隔が満たすべき条件を説明するた
めの説明図である。 第3図は光ピツクアップの概略構成図である。 第4圀は入射角と回折効率との関係を示すグラフである
。 第5図は従来の偏光検出装置の概略構成ズである。 第6図乃至第8図は従来装置の改良例を示すものである
。 第6図は偏光回折素子の概略説明図である。 第7図は回折格子の断面説明図である。 第8図は偏光検出装置の概略構成図である。 第9図は従来装置の他の改良例としての偏光検出装置を
示す概略構成図である。 31は偏光回折素子、32は集光レンズ、34折格子、
38は第2の回折格子、40は入射光である。
。 第1図は偏光検出装置の概略構成図である。 第2図(a)は偏光回折素子の概略説明図である。 第2図(b)は格子間隔が満たすべき条件を説明するた
めの説明図である。 第3図は光ピツクアップの概略構成図である。 第4圀は入射角と回折効率との関係を示すグラフである
。 第5図は従来の偏光検出装置の概略構成ズである。 第6図乃至第8図は従来装置の改良例を示すものである
。 第6図は偏光回折素子の概略説明図である。 第7図は回折格子の断面説明図である。 第8図は偏光検出装置の概略構成図である。 第9図は従来装置の他の改良例としての偏光検出装置を
示す概略構成図である。 31は偏光回折素子、32は集光レンズ、34折格子、
38は第2の回折格子、40は入射光である。
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 1、入射光の波長λ程度の幅を有する格子間隔D_1で
形成された第1の回折格子と、同じく入射光の波長λ程
度の格子間隔D_2で形成された第2の回折格子とが、
それぞれ平板状の基板における異なる面に互いに格子方
向が一致するように形成された偏光回折素子を備え、上
記波長λと格子間隔D_1・D_2との間に 0<|λ(1/D_1−1/D_2)(1−(λ/2D
_1)^2)^−^(^1^/^2^)|≦0.35又
は0<|λ(1/D_1−1/D_2)(1−(λ/D
_1−λ/2D_2)^2)^−^(^1^/^2^)
|≦0.35の関係が満たされるとともに、上記第1及
び第2の回折格子をともに透過した光束と、第1及び第
2の回折格子でともに回折された光束とが入射される集
光レンズと、この集光レンズで集光される上記1対の光
束をそれぞれ受光する1対の光検出器とを備えているこ
とを特徴とする偏光検出装置。 2、上記入射光が上記第1の回折格子に対しsin^−
^1(λ/2D_1)≦θi≦ sin^−^1(λ/D_1−λ/2D_2)又はsi
n^−^1(λ/D_1−λ/2D_2)≦θi≦si
n^−^1(λ/2D_1) を満たす入射角θiで入射するように設定されているこ
とを特徴とする請求項第1項に記載の偏光検出装置。
Priority Applications (6)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP2158076A JPH087099B2 (ja) | 1990-06-13 | 1990-06-13 | 偏光検出装置 |
| CA002043978A CA2043978C (en) | 1990-06-13 | 1991-06-06 | Polarization diffraction element and polarization detector employing the same |
| US07/713,840 US5257131A (en) | 1990-06-13 | 1991-06-12 | Polarization diffraction element and polarization detector employing the same |
| DE69114769T DE69114769T2 (de) | 1990-06-13 | 1991-06-13 | Polarisierendes Diffraktionselement und dieses Element verwendender Polarisationsdetektor. |
| KR1019910009730A KR960012782B1 (ko) | 1990-06-13 | 1991-06-13 | 편광회절소자 및 그것을 사용한 편광검출장치 |
| EP91305375A EP0462757B1 (en) | 1990-06-13 | 1991-06-13 | Polarization diffraction element and polarization detector employing the same |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP2158076A JPH087099B2 (ja) | 1990-06-13 | 1990-06-13 | 偏光検出装置 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH0447236A true JPH0447236A (ja) | 1992-02-17 |
| JPH087099B2 JPH087099B2 (ja) | 1996-01-29 |
Family
ID=15663774
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP2158076A Expired - Fee Related JPH087099B2 (ja) | 1990-06-13 | 1990-06-13 | 偏光検出装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH087099B2 (ja) |
-
1990
- 1990-06-13 JP JP2158076A patent/JPH087099B2/ja not_active Expired - Fee Related
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPH087099B2 (ja) | 1996-01-29 |
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Legal Events
| Date | Code | Title | Description |
|---|---|---|---|
| LAPS | Cancellation because of no payment of annual fees |