JPH0449524A - サンプルサーボピットのディフェクト検出回路 - Google Patents

サンプルサーボピットのディフェクト検出回路

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Publication number
JPH0449524A
JPH0449524A JP15761990A JP15761990A JPH0449524A JP H0449524 A JPH0449524 A JP H0449524A JP 15761990 A JP15761990 A JP 15761990A JP 15761990 A JP15761990 A JP 15761990A JP H0449524 A JPH0449524 A JP H0449524A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
signal
pit
defect
clock
pits
Prior art date
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Pending
Application number
JP15761990A
Other languages
English (en)
Inventor
Shigeaki Wachi
滋明 和智
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Sony Corp
Original Assignee
Sony Corp
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Filing date
Publication date
Application filed by Sony Corp filed Critical Sony Corp
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Publication of JPH0449524A publication Critical patent/JPH0449524A/ja
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Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 〔産業上の利用分野j この発明は、光磁気ディスクの記録トラックを形成する
ために、あらかじめ形成されているサンプルサーボピッ
トの欠陥を検出することができるサンプルサーボピット
検出回路に関するものである。
[発明の概要] 本発明の光磁気ディスクにおけるサンプルサーボピット
の検出回路は、記録トラックを形成するために所定の間
隔で同心円状に配置されている1対のウォーブリングピ
ットや、記録又は再生中のクロック基準を形成するクロ
ックピットの欠陥を効果的に検出するために、前記3個
のサーボビットの出力を減算すると共に、その減算値を
2乗して加算することによって、光磁気ディスクにあら
かじめ形成されているサンプルサーボピットのディフェ
クトがただちに検出できるようにしたものである。
3、発明の詳細な説明 〔従来の技術] 光に感応してデータを記録することができるような光磁
気ディスクには、同心円状の記録トラック又は渦巻状の
記録トラックをあらかじめプリグループの形状でスタン
ピングしたものと、離散的に配置されているサンプルサ
ーボピットによって記録トラックを形成するものがある
第5図は記録トラックがサンプルサーボピットによって
形成される場合の光磁気ディスクのフォーマットを示し
たものでS、−S、□は、例えば円周方向に32分割さ
れているセクターを示す。
各セクターSのトラックには、アドレス領域ADと、こ
れに続く18バイトのデータ領域が42のセグメントS
G、〜42に分割して記録されるようになされている。
各セグメントSGには、例えば、第6図に示すように最
初に2バイトのサーボバイトSBが配置され、これに続
いて16バイトのデータバイトDB1〜DBnが設けら
れている。
サーボバイトSBにはトラックTを中心とじて外周及び
内周方向に偏位していて、1対のウォーブリングピット
P、、P2とトラックTの中心線上に配置されているク
ロックピットP3があらかじめエンボス加工等によって
形成されている。
ウォーブリングピットP、  P2とクロックピットP
3の中間は、ミラー面MRとされ、このミラー面から反
射されたレーザ光によって、フォーカスサーボ信号が検
出されると共に、レーザパワのコントロールを行うこと
ができるようにしている。
このような光磁気ディスクの場合は、通常ウォーブリン
グピットP、、P、をサンプル点tt2で検出した時の
反射光を演算することによってトラッキングエラー信号
を形成することができ、又、クロックピットP3をサン
プル点t3で検出したときの信号によってデータの読み
出しクロック(チャンネルクロック)を形成している。
チャンネルクロックは、通常クロックピットからの反射
光からそのピーク点を求め、ピーク点のタイミング信号
と電圧可変発振器の出力の位相を比較した信号によって
電圧制御発振器を制御するPLL回路によって形成して
いる。
〔発明が解決しようとする問題点1 このようなサンプルサーボピット形式の光磁気ディスク
は、前記各サンプルピット点をサンプリングしながら、
クロック情報や、トラッキング情報を得ることができる
が、光磁気ディスクの製造過程で前記サンプルサーボピ
ットに欠陥が生じると、適正なサーボ回路が構築できな
いばかりが、特にクロックピットに大きな欠陥が生じる
と、データの読み出し、又は書き込みの基準となるクロ
ック信号がゆさぶられることによって誤りデータを多発
したり、誤った位置にデータが記録されるという重大な
事故が発生する。
そこで、従来の場合も、特にクロック信号を形成するP
 L L回路の位相比較器の出力等を監視し、クロック
ピットの異状を検出することが知られているが、このP
LL回路のエラー信号による検出方式は必ずしも正確な
ディフェクト検出が行われないという問題があると同時
に、ビット欠陥位置と検出のタイミングにずれが生じる
ため、ビット欠陥時の対策に時間遅れが生じるという問
題があった。
〔問題点を解決するための手段1 本発明はかかる問題点を解消し、より明確なディフェク
ト検出が行われるようにするために、トラック中心線上
にあるクロックピットより検出されたクロック信号と、
トラック中心より内周及び外周側に偏位しているウォー
ブリングピットより得られた2つの信号をそれぞれ減算
する減算手段を備えると共に、この減算された2つの信
号のレベルを2乗して加える加算手段を設けている。
そして、加算出力が成る一定値からずれたときに、サー
ボビットに欠陥がありと判断するようにしたものである
〔作用] トラックの中心線に位置しているクロックピットに対し
て、ウォーブリングピットは属トラック偏位された位置
に配置されているから、クロックピットの検出信号から
一方のウォーブリングピットの検出信号を減算した第1
の値と、前記クロックピットから他方のウォーブリング
ピットを減算した第2の値は、90・の位相差をもって
変化することになる。
したがって、各サーボビットが正常であれば、前記第1
の値を2乗したものと、前記第2の値を2乗したものは
常に一定値(1)となり、クロックピットに欠陥がない
ことを判別することができる。
[実施例] 第1図は、本発明のサンプルサーボピットの欠陥検出を
行うための一実施例をブロック図としたもので、lは前
述したようにサンプルサーボピットが形成されている光
磁気ディスク、2は光磁気ディスクlを回転するモータ
、3は光磁気ディスクのデータを読み出す光学ピックア
ップを示し、光磁気ディスクにデータを記録する記録モ
ードとすることが出来る。
4はRF信号の再生アンプを示し、再生出力はA/D変
換器5を介して、本発明のディフェクト検出部10に供
給されている。
又、サンプルサーボピット及びデータ領域から得られた
再生信号は、サーボコントロール回路6、及び再生信号
処理部7へ供給される。
サーボコントロール回路はサンプルサーボピットより得
られた信号から、トラッキングエラー信号や、フォーカ
スエラー信号を形成し、図示しないサーボ回路に供給さ
れると同時に、クロック信号CLKを抽出し、RF信号
からデータの抽出を行う。
又、クロック信号より形成されるサンプルパルスは、デ
フォーカス検出部10のサンプリング回路11A  、
JIB、IIcに供給され、前記したウォーブリングピ
ット、クロックピットの検出が行われる。
以下、ディフェクト検出部10の検出動作な説明する。
各セグメント毎に配置されているクロックピット、及び
ウォーブリングピットの検出信号は、サンプル回路11
B及びIIA、IICで検出され、それぞれ、係数器1
2A−12Bに供給されて所定のレベルとなるように制
御される。
第2図に示すようにトラックTの中心線上に配置されて
いるクロックピットPeに対し、ウォーブリングピット
p、、、p、□はそれぞれ属トラック間隔ずれた点に配
置されているため、光磁気ディスクの半径方向にスポッ
トがずれたときに出力される各ビットのトラ−バース信
号は位相差で90・ずれることになる。
すなわち、第3図に示すようにクロックピットPCの検
出信号Scに対し、ウォーブリングピットp w+及び
P wzの検出信号S w++ Swiはベクトル的に
±90・の位相差を有する。
したがって、これらの信号はトラバース中には第4図の
実線、及び点線で示すように変化する。
減算器13Aで検出信号Sc及びS 1112が減算さ
れると、ベクトル的には第1の信号E、が形成され、減
算器13Bで検出信号Sc、及び検出信号S w+が加
算されるとベクトル的には第2の信号E2が形成される
第1の信号E1と第2の信号E2は第4図に示すように
変化するから、例えば第1の信号EをA sinωLで
表示すると、第2の信号E2は、A cosωtて表示
される。
そして、減算器13A、13Bの出力はそれぞれ2東回
路14A、14Bに供給され、再び加算器】5で加算さ
れる。
したがって、加算器15の出力Eは、 E=  (A−sin  ωt 12+(A・cos 
 ttrL )”A2・・・・・・・・・・・・・・i
llの一定値となる。
上記(1)式が成立するのは、第3図において第1の信
号E1及び第2の信号E2の位相差が90・ どなって
いるときであり、この条件を満足するためには、クロッ
クピットPCの検出信号Scが不可欠となる。
すなわち、光磁気ディスクの一部分に欠陥があり、再生
中、又は記録中に上記クロックピットPCに欠落や異状
があるところでは、上記C11式が成立しない。
したがって、加算器15の出力Eと基準レベル信号17
の基準値Fを比較器16で比較し、その差の信号を絶対
値回路18に入力して、その出力値がある値以上になれ
ば、ディフェクト検出器19が動作するようにしておけ
ば、少なくとも、クロックピットPCの欠陥を直ちに検
知することができるようになる。
又、ディフェクト検出器19から連続して数回、クロッ
クピットPCの欠陥が検知されたときは、例えば、PL
Lサーボ回路の制御信号をホールドすると共に記録モー
ドを一時的に中断することによって誤記録の防止をする
ことができる。
このようなディフェクト検出は光磁気ディスクの各セグ
メント!ii位で行われるため、ディフェクト検出スピ
ードが高くなり迅速な対策を立てることができる。
本発明のディフェクト検出はトラックへの情報の書き込
み中は勿論、所望のトラックをシークしているときでも
欠陥検出を行うことができる。
又、クロックピットの外、ウォーブリングピットの欠陥
検出にも使用することができるという利点がある。
[発明の効果] 以上説明したように、本発明のサンプルサーボピットの
ディフェクト検出回路は各セグメント毎に出力されるサ
ンプルピット情報を直接演算してビットの欠陥や異状が
検出できるようにしているので、光磁気ディスクの動作
中に発生した欠陥情報を利用して、早急に欠陥対策をた
てることができるという利点がある。
また、データのシーク動作中でもディフェクト検出を行
うことができるため、光磁気ディスクの品質管理が向上
し、誤りデータの発生を未然に防止することができる等
の効果を生じる。
【図面の簡単な説明】
第1図は本発明の一実施例を示すブロック図、第2図は
サンプルサーボピットの説明図、第3図はサンプルサー
ボピットの検出信号とその位相を示すベクトル図、 第4図は演算された第1の信号と第2の信号の位相差を
示す波形図、 第5図、第6図は光磁気ディスクの記録フォーマットと
サンプルサーボピットの説明図である。 図中、IIA、IIB、IICはサンプリング回路、1
3A、13Bは減算器、14A、14Bは2乗回路、1
5Aは加算器を示す。 ゛ぐ′ ぐ

Claims (1)

    【特許請求の範囲】
  1.  渦巻状に形成されているトラックの中心から内周側及
    び外周側にそれぞれ偏位している1対のウォーブルピッ
    トと、トラック中心線上に設けられているクロックピッ
    トをそれぞれ検出する検出手段と、検出された前記1対
    のウォーブリングピットと前記クロックピットの再生信
    号をそれぞれ減算する第1、及び第2の減算器と、前記
    第1及び第2の減算器の出力をそれぞれ2乗する第1及
    び第2の乗算器と、前記第1及び第2の乗算器出力を加
    算し、その加算力レベルの変動から前記サンプルピット
    の欠陥を判定するディフェクト判定回路を備えているこ
    とを特徴とするサンプルサーボピットのディフェクト検
    出回路。
JP15761990A 1990-06-18 1990-06-18 サンプルサーボピットのディフェクト検出回路 Pending JPH0449524A (ja)

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Application Number Priority Date Filing Date Title
JP15761990A JPH0449524A (ja) 1990-06-18 1990-06-18 サンプルサーボピットのディフェクト検出回路

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JP15761990A JPH0449524A (ja) 1990-06-18 1990-06-18 サンプルサーボピットのディフェクト検出回路

Publications (1)

Publication Number Publication Date
JPH0449524A true JPH0449524A (ja) 1992-02-18

Family

ID=15653691

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP15761990A Pending JPH0449524A (ja) 1990-06-18 1990-06-18 サンプルサーボピットのディフェクト検出回路

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JP (1) JPH0449524A (ja)

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2002300935A (ja) * 2001-04-05 2002-10-15 T S Tec Kk 回転シートのロック装置

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2002300935A (ja) * 2001-04-05 2002-10-15 T S Tec Kk 回転シートのロック装置

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