JPH04503713A - センサ信号の処理装置 - Google Patents

センサ信号の処理装置

Info

Publication number
JPH04503713A
JPH04503713A JP3501222A JP50122290A JPH04503713A JP H04503713 A JPH04503713 A JP H04503713A JP 3501222 A JP3501222 A JP 3501222A JP 50122290 A JP50122290 A JP 50122290A JP H04503713 A JPH04503713 A JP H04503713A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
switch
capacitor
operational amplifier
voltage
charge
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Granted
Application number
JP3501222A
Other languages
English (en)
Other versions
JP2515456B2 (ja
Inventor
シュナイダー,ゲオルク
ヴァーグナー,リヒャルト
Original Assignee
エンドレス ウント ハウザー ゲゼルシャフト ミット ベシュレンクテル ハフツング ウント コンパニー
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by エンドレス ウント ハウザー ゲゼルシャフト ミット ベシュレンクテル ハフツング ウント コンパニー filed Critical エンドレス ウント ハウザー ゲゼルシャフト ミット ベシュレンクテル ハフツング ウント コンパニー
Publication of JPH04503713A publication Critical patent/JPH04503713A/ja
Application granted granted Critical
Publication of JP2515456B2 publication Critical patent/JP2515456B2/ja
Anticipated expiration legal-status Critical
Expired - Lifetime legal-status Critical Current

Links

Classifications

    • G—PHYSICS
    • G01—MEASURING; TESTING
    • G01L—MEASURING FORCE, STRESS, TORQUE, WORK, MECHANICAL POWER, MECHANICAL EFFICIENCY, OR FLUID PRESSURE
    • G01L9/00—Measuring steady of quasi-steady pressure of fluid or fluent solid material by electric or magnetic pressure-sensitive elements; Transmitting or indicating the displacement of mechanical pressure-sensitive elements, used to measure the steady or quasi-steady pressure of a fluid or fluent solid material, by electric or magnetic means
    • G01L9/0041—Transmitting or indicating the displacement of flexible diaphragms
    • G01L9/0072—Transmitting or indicating the displacement of flexible diaphragms using variations in capacitance
    • G—PHYSICS
    • G01—MEASURING; TESTING
    • G01D—MEASURING NOT SPECIALLY ADAPTED FOR A SPECIFIC VARIABLE; ARRANGEMENTS FOR MEASURING TWO OR MORE VARIABLES NOT COVERED IN A SINGLE OTHER SUBCLASS; TARIFF METERING APPARATUS; MEASURING OR TESTING NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • G01D5/00—Mechanical means for transferring the output of a sensing member; Means for converting the output of a sensing member to another variable where the form or nature of the sensing member does not constrain the means for converting; Transducers not specially adapted for a specific variable
    • G01D5/12—Mechanical means for transferring the output of a sensing member; Means for converting the output of a sensing member to another variable where the form or nature of the sensing member does not constrain the means for converting; Transducers not specially adapted for a specific variable using electric or magnetic means
    • G01D5/14—Mechanical means for transferring the output of a sensing member; Means for converting the output of a sensing member to another variable where the form or nature of the sensing member does not constrain the means for converting; Transducers not specially adapted for a specific variable using electric or magnetic means influencing the magnitude of a current or voltage
    • G01D5/24—Mechanical means for transferring the output of a sensing member; Means for converting the output of a sensing member to another variable where the form or nature of the sensing member does not constrain the means for converting; Transducers not specially adapted for a specific variable using electric or magnetic means influencing the magnitude of a current or voltage by varying capacitance
    • G01D5/241—Mechanical means for transferring the output of a sensing member; Means for converting the output of a sensing member to another variable where the form or nature of the sensing member does not constrain the means for converting; Transducers not specially adapted for a specific variable using electric or magnetic means influencing the magnitude of a current or voltage by varying capacitance by relative movement of capacitor electrodes
    • G01D5/2417—Mechanical means for transferring the output of a sensing member; Means for converting the output of a sensing member to another variable where the form or nature of the sensing member does not constrain the means for converting; Transducers not specially adapted for a specific variable using electric or magnetic means influencing the magnitude of a current or voltage by varying capacitance by relative movement of capacitor electrodes by varying separation
    • G—PHYSICS
    • G01—MEASURING; TESTING
    • G01L—MEASURING FORCE, STRESS, TORQUE, WORK, MECHANICAL POWER, MECHANICAL EFFICIENCY, OR FLUID PRESSURE
    • G01L9/00—Measuring steady of quasi-steady pressure of fluid or fluent solid material by electric or magnetic pressure-sensitive elements; Transmitting or indicating the displacement of mechanical pressure-sensitive elements, used to measure the steady or quasi-steady pressure of a fluid or fluent solid material, by electric or magnetic means
    • G01L9/12—Measuring steady of quasi-steady pressure of fluid or fluent solid material by electric or magnetic pressure-sensitive elements; Transmitting or indicating the displacement of mechanical pressure-sensitive elements, used to measure the steady or quasi-steady pressure of a fluid or fluent solid material, by electric or magnetic means by making use of variations in capacitance, i.e. electric circuits therefor
    • G—PHYSICS
    • G01—MEASURING; TESTING
    • G01R—MEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
    • G01R27/00—Arrangements for measuring resistance, reactance, impedance, or electric characteristics derived therefrom
    • G01R27/02—Measuring real or complex resistance, reactance, impedance, or other two-pole characteristics derived therefrom, e.g. time constant
    • G01R27/26—Measuring inductance or capacitance; Measuring quality factor, e.g. by using the resonance method; Measuring loss factor; Measuring dielectric constants ; Measuring impedance or related variables
    • G01R27/2605—Measuring capacitance

Landscapes

  • Physics & Mathematics (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • Power Engineering (AREA)
  • Measurement Of Resistance Or Impedance (AREA)
  • Measuring Fluid Pressure (AREA)
  • Package Closures (AREA)
  • Processing Of Meat And Fish (AREA)
  • Shaping Of Tube Ends By Bending Or Straightening (AREA)
  • Lining Or Joining Of Plastics Or The Like (AREA)
  • Containers And Plastic Fillers For Packaging (AREA)
  • Indication And Recording Devices For Special Purposes And Tariff Metering Devices (AREA)

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるため要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 センサ信号の処理装置 本発明は、容量式センサから供給されるセンサ信号を処理するための装置を対象 とし、この場合該センサは、検出されるべき物理的な測定量により影響される測 定容量を有する測定コンデンサおよび、別の形式で影響される基準容量を有する 少なくとも1つの基準コンデンサを含み、さらに前記センサはこれらの両方に依 存する測定結果を供給するようにし、さらに前記の処理装置は、スイッチ・コン デンサ・構成体と電荷バランスとを用いての、量子化された電荷転送の方式で少 なくとも時間平均において動作する信号地理回路を備えており、該信号処理回路 は測定結果を表わすセンサ信号を受信して、該測定結果に相応する出力信号を供 給するようにし、該コンデンサの第1の電極が固定の電位へ置かれるようにし、 さらに第2の電極は電荷転送を実施する目的で入力演算増幅器の第1の入力側と 接続可能であり、該第2の入力側は基準電位へ置かれており、該基準電位は、転 送される電荷パケットの形成のために必要とされる、コンデンサの電荷入れ替え の目的のために切り換えられるように構成されている。
刊行物”IEEE Transactions 。
n Instrumentation and Measurement”、1 2.1987の第873頁〜第878頁に記載されている容量式センサから供給 されるセンサ信号を処理するための装置においては、該センサは、検出されるべ き物理的な測定量により影響される測定容量を有する測定コンデンサおよび、別 の形式で影響される基準容量を有する少なくとも1つの基準コンデンサを含み、 さらに前記センサはこれらの両方のコンデンサに依存する測定結果を供給するよ うにし、さらに前記の処理装置は、スイッチ・bンデンサ・構成体および電荷バ ランスを用いての量子化された電荷転送の方式により少なくとも時間平均におい て動作する信号処理回路を備えており、該信号処理回路は測定結果を表わすセン サ信号を受信して、該測定結果に相応する出力信号を供給する。
スイッチ・コンデンサ・構成体と電荷バランスを用いての、量子化された電荷伝 送方式による信号処理は次の利点を有する。即ち使用される演算増幅器のオフセ ット電圧が出力信号へ影響を与えないこと、回路をCMDS技術で完全に集積化 可能であること、および正確でかつ長時間安定する基準電圧を必要としない利点 を有する。さらに電荷伝送を実施するスイッチ・コンデンサ・構成体を制御する クロックパルスから、周波数比またはパルスオンオフ比が測定結果に比例する2 つのクロックパルス信号が導出され、そのため測定結果がディジタル形式で設け られる。この公知の回路の場合、センサのコンデンサの電極がないしこれらのコ ンデンサに共通の電極が、信号処理回路へ導びかれる信号線路により演算増幅器 の一方の入力側と接続されている。さらにその他方の入力側は固定の電位へ例え ばアース電位へ置かれる。センサコンデンサの別の電極には、周期的に操作され るスイッチにより、伝送されるべき電荷パケットの形成のための電荷入れ替えに 必要とされる電圧が加えられる。
前述の装置の欠点は、センサコンデンサの全部の電極が作動されることである。
そのため信号線路と接続されている電極へ外部の電界から電荷が入力結合される 時に、この装置の機能が損なわれることがある。その抑圧のために必要とされる 遮へいが構造および使用を制限し、そのため必ずしも常に使用できるとは限らな い。
本発明の課題は、スイッチ・コンデンサ・構成体と電荷バランスを用いての量子 化された電荷伝送方式の利点の維持の下に、センサコンデンサの片側を任意の電 位へ固定可能にすることである。
本発明による装置の場合、演算増幅器の両方の入力側は、オフセット電圧を除い て、仮想的に同じ電位に置かれる。そのため入力演算増幅器の基準電位の切り換 えにより、その都度に他方の入力側と接続されているコンデンサ電極の電位が同 様に変化される。このようにしてセンサコンデンサの電荷入れ替えに必要とされ る電圧変化が、信号線路と接続されているコンデンサ電極から取り出せるように なる。他方、常に作動されない他方の電極は任意の電位へ置かれる。この電位は 例えば相応のセンサのケーシング電位とすることができる。この電位のために、 この電位が短絡領域において、信号処理に用いられる給電信号に対して安定でな ければならないという条件だけが生ずる。
本発明の有利な構成が請求項2以下に示されている。
本発明の別の特徴および利点は、図面に表示されている実施例の説明に示されて いる。
第1図は本発明の基礎とする課題を説明する基本図である。第2図は容量式セン サの横断面図である。第3図はスイッチ・コンデンサ・構成体を用いての量子化 された電荷転送と電荷バランスとにより動作する信号処理回路−その出力信号は 周波数である−の第1実施例の回路図である。第4図は第3図の信号処理回路の 作動の際に生ずる信号の時間ダイヤグラム図である。
第5図はスイッチ・コンデンサ・構成体を用いての量子化された電荷転送と電荷 バランスとにより動作する信号処理回路−その出力信号は周波数である−の第2 実施例の回路図である。第6図は第5図の信号処理回路の作動の際に生ずる信号 の時間ダイヤグラム図である。
一層よく理解できるように第1図に本発明の基礎とする、センサ信号の処理の基 本が示されている。第1図は物理量Gを測定すべき容量式センサlと、このセン サ1に接続されている信号処理回路2を含む、センサlは測定コンデンサを有し それの容量は、測定径れるべき物理量に依存して変化される。給電信号源3はセ ンサlへ給電信号Vを供給し、この信号は、測定容量の変化を電気的センサ信号 へ変換する。このセンサ信号は信号処理回路2へ導びかれ、測定結果Mを表わす 、この測定結果は、測定されるべき物理量Gと測定容量との間の関係を示す、信 号処理回路2はセンサ信号を所望の形式の、例えば基準信号S r*lに関する 出力信号Sへ変換する。信号処理回路2の形成に応じて出力信号Sは例えばアナ ログ信号、ディジタル信号または周波数とすることができる。
例えば測定されるべき量Gが圧力であることを前提−とされている時は、センサ lとして、第2図に切欠図で示されている容量式圧力センサ10を用いることが できる。圧力センサ10は基体11とダイヤフラム12を有しており1、これら は周縁においてスペーサリング13により互いに結合されている。ダイヤフラム 12の、基体11と同じ側の面に金属化部14が設けられている。この金属化部 は、スペーサリング13と基体11を貫通する接続線15と接続されている。基 体11のダイヤフラム12と同じ側の面は、中央の円形の金属化部16を支持し ており、この金属化部は基体11を貫通する接続線17と接続されている。さら に前記の面は、金属化部16を囲むリング状の金属化部18を有しており、これ は、基体11を貫通する接続線19と接続されている。
ダイヤフラム12の外面へ圧力Pが作用するとダイヤフラムは変形し、その結果 、金属化部14の中央領域とこれに対向する中央の金属化部16との間の間隔が 、この圧力に依存して変化する。そのため両方の金属化部14と16は測定コン デンサの電極を形成し、その容量C8は圧力に依存して接続線15と17の間で 測定できる。他方、金属化部14の周縁領域とこれに対するリング状の電極18 との間の間隔は、ダイヤフラム12の圧力に依存する変形の場合に実質的に変化 されない、何故ならばこの間隔はスペーサリング13により固定されているから である。そのため両方の金属化部14と18は基準コンデンサの電極を形成し、 その容量CIllは圧力Pには依存せずに接続線】5と19との間で測定するこ とができる。
圧力に依存する測定結果Mは信号処理回路2において、出力信号S/S、、+の 発生の目的で用いられる。
そのためこの測定結果はこの種の容量式圧力センサの場合、基準容量Cr *  lに対する測定容量C,の相対的変化である。測定結果は、適用例に応じて異な る形式で形成できる9例えば測定結果M−よ、測定容量と基準容量との間の容量 比Cつ/C=−tに相応させることができる。さらに容量比(C,−C,,1) /、C,,1も用いられる。何故ならば差の形成により一層大きい相対変化を得 ることができるからである。別の構成として容量比(c、−c、、+)、、IC ,、も可能である。もちろん、圧力に依存する容量C8だけを測定結果として用 いることもできる。しかし商形成は、両方のコンデンサC8およびC71,へ同 様に作用する障害となる影響から実質的に影響されない利点を有する。
第3図は容量式センサ20から供給されるセンサ信号の信号準備処理用の、第1 図の信号処理回路2の実施例を示す、センサ20は容量C,の測定コンデンサ2 1および容量C20,の基準コンデンサ22を含む。
電極24は測定コンデンサ21および基準コンデンサ22に共通である。測定コ ンデンサ21は、共通の電極24と共同する電極26により、構成されている。
さらに基準コンデンサ22は、共通の電極24と共働する電極28により、構成 されている。容量式センサ20は例えば第2図に示されている構造を有しており 、この場合、第3図の電極24,26.28は第2図の金属化部14.16ない し18に相応する。所期の測定結果Mは容量比(C,−C,,1)IC,,1で ある。
共通の電極24はその、第2図の接続線15に相応する接続線25を介して、固 定の電位へ置かれる。この電位は例えばセンサ20のケーシング電位とすること ができる。そのためセンサ20は片側が電位に接続されている、第3図において 接続線25における電位は、固定の電圧U1だけ、基準線30の電位とは異なる ;電位U、$1図の給電電圧Vとは異なる。
電極26.28は、第2図の接続線17ないし19に相応する遮へいされた信号 線27.29を介して、信号処理回路の機能ブロック31と接続されている。
機能ブロック31は2つのスイッチ群32と33を含む、この機能ブロックにさ らに、3つの直列に接続された抵抗35,36.37を有する分圧器34が所属 する。この分圧器へ、接続線25と基準線30との間に形成される電圧U1が加 えられている1分圧器34は、抵抗35と36との間の第1のタップ38および 、抵抗36と37との間の第2のタップ39を有する。
分圧器34に電圧U1が加えられると、タップ38と基準線30との間に電圧U 、が形成され、さらにタップ39と基準線30との間に電圧U3が形成される。
 。
機能ブロック31に一時メモリ40が後置接続されている。このメモリは、演算 増幅器A+、容量C1のメモリコンデンサ41および2つのスイッチ$1とS、 を含む、スイッチS1が閉じられている時は、このスイッチは演算増幅器A1の 出力側をその反転入力側と接続する。スイッチS、が閉じられている時は、この スイッチは演算増幅器A、の出力側をメモリコンデンサ41の一方の電極と接続 する。このメモリコンデンサの他方の電極は演算増幅器A、の反転入力側と接続 されている。そのためメモリコンデンサ41は演算増幅器A1の帰還回路の中に 存在する。非反転入力側に加えられる演算増幅器A1の基準電位は、電圧U4に よる基準線路30の電位とは異なる0反転入力における電位は、演算増幅器A、 のオフセット電圧U、lだけ、非反転入力側の基準電位とは異なる。
演算増幅器A、の反転入力側と基準線路30との間に、第3図においてコンデン サ記号で示されている寄生容量C,が形成される。
スイッチ群32は4つのスイッチS、、S、、S、。
S、を含む、スイッチS、が閉じられている時は、このスイッチは測定コンデン サ21の電極を演算増幅器A1の反転入力側と接続する。スイッチS4が閉じら れている時は、このスイッチは測定コンデンサ21の電極26を演算増幅器A、 の非反転入力側における基準電−位へ接続する。スイッチS、が閉しられている 時は、このスイッチは基準コンデンサ22の電極28を演算増幅器A1の反転入 力側と接続する。スイッチS、が閉じられている時は、このスイッチは基準コン デンサ22の電極28を演算増幅器A、の非反転入力側における基準電位へ置く 。
スイッチ群33は2つのスイッチS、とS、を含む。
スイッチS、が閉しられている時は、このスイッチは演算増幅器A、の非反転入 力側を分圧器34のタップ38と接続する。そのため演算増幅器A、の非反転入 力側に加わる電圧U4は電圧U、により形成される。スイッチS、が閉じられて いる時は、このスイッチは演算増幅器A1の非反転入力側を分圧器34のタップ 39と接続する。そのため演算増幅器A1の非反転入力側に加わる電圧U4が電 圧U、により形成される。
一時メモリ40に積分器42が後置接続されている。
積分器42は演算増幅器A z 1 この演算増幅器A、の帰還回路中に設けら れている、容量C2の積分コンデンサ43.およびスイッチS、を含む、スイッ チS、が閉じられている時は、このスイッチは演算増幅器A、の反転入力側を、 一時メモリ40におけるメモリコンデンサ41と接続する。演算増幅器A1の非 反転入力側はアースへ置かれている0反転入力側における電位は、演算増幅器A 、のオフセット電圧U0.たけ、非反転入力側のアース電位とは異なる。演算増 幅器A、の出力側と基準線路30との間に出力電圧UA!が現われる。
積分器42に後置接続されている比較器45は演算増幅器A3を含む、この演算 増幅器は公知の様に、その帰還路が開かれている閾値比較器として接続されてい る。演算増幅器A、の反転入力側は積分器42における演算増幅器人、の出力側 と接続されている。さらに演算増幅器Aコの非反転入力側へ、基準線路30に対 して閾値電圧U、が加えられる。演算増幅器A、の両方の入力側の間にオフセッ ト電圧Uosが形成される。
この種の閾値比較器の公知の作用に応じて、演算増幅器A3の出力電圧UAIは 、電圧U。が閾値電圧U、を上回わる時に低い値を取り、電圧UA1が閾値電圧 U、を下回る時に高い値を取る。
スイッチS、〜S、は、制御回路46により供給される制御信号により、操作さ れる。制御回路は、クロックパルス発生器47により供給されるクロックパルス 信号により、同期化される。簡単化のために制御信号にはこれらにより制御され るスイッチと同じ記号S1゜St、、、Ssが付されている。制御信号の時間経 過が第4図のダイヤグラムに示されている。各々のスイッチS+ 、 St、、 、 Ssは、これを制御する信号が低い値を有する時は開かれており、他方、こ れを制御する信号が高い信号値を有する時は閉じられている。
スイッチ3113t、、、S、は記号では機械的スイッチとして示されているが 、もちろんこれらは実際は、例えば電界効果トランジスタにより構成される迅速 な電子スイッチにより構成されている。
fpJ#回路46は制御入力側を有しており、これは比較器45における演算増 幅器A、の出力側と接続されている。さらに制御回路46は、測定サイクル計数 器48へ接続されている出力側と、補償サイクル計数器49へ接続されている別 の出力側とを有する。
M3図に示されている回路は電荷バランス方式で動作する。スイッチS、〜S、 により制御されて相続くサイクルにおいて、センサ20のコンデンサ21と22 へ電荷パケットが形成される。この電荷パケットは電圧Uz、 Ujおよび、こ れらのコンデンサの容量C!。
C7,、に依存する。この回路内での電荷パケットの最大員は、センサ20の所 定の容量値の場合、分圧器34により定められる。電荷パケットはメモリコンデ ンサ41において一時記憶され、さらにスイッチS、の閉成により積分コンデン サ43へ伝送されてここで加算される。電圧UAIは積分コンデンサ43におけ る電圧に相応する。後者の電圧は、積分コンデンサにおいて積分される電荷に依 存する。この回路の経過は、C−> C、−rの場合に電圧UA!が連続的によ り小さくなるように、制御される。電圧UA!が比較器45の所定の閾値電圧U 、を下回わると、比較器の出力電圧U a sはその最大値へ跳躍し、これによ り制御回路46が補償サイクルの実施のために始動される。この補償サイクルに おいてスイッチS、 = S、が次のように制御される。
即ちスイッチS、の次の閉成の際に積分コンデンサ43へ、基準コンデンサ22 の容jlC−rに実質的に比例する補償電荷パケットが、電圧UA!が再び閾値 電圧U、よりも高められるような極性で伝送されるように、制御される。これに より積分コンデンサ43において電荷バランスが行なわれる、何故ならば、時間 平均において、全部の積分された電荷パケットの和はゼロに等しいからである。
このバランスは、電圧UA、が比較器45の閾値電圧U、を下回わる時点に、常 に存在する。
前述の経過を次に第4図のダイヤグラムを用いて詳細に説明する。第4図のダイ ヤグラムは、スイッチ制御信号81〜S、の前述の時間経過のほかに、さらに複 数個のサイクル−そのうちの1つは補償サイクルにである−における電圧U、、 UゎおよびUA!の、ならびにメモリコンデンサ41における電圧Uc、の時間 経過も示す、補償サイクルではない別のサイクルは測定サイクルMと称される。
各々のサイクルは6つの時相から成り、1〜6が付されている。
スイッチS1とS!は周期的な方形波信号によりプッシュプル形式で制御される 。その結果、スイッチSIが閉じられている時はスイッチSlが開かれており、 スイッチS、が開かれている時はスイッチS1が閉じられている。各々のサイク ルにおいてスイッチS1は、時相1−2および4−5の間中は閉じられており、 時相3および6の間中は開かれている。スイッチS、が閉じられかつスイッチS 、が開かれている時は、演算増幅器A1の入力回路中に設けられている、センサ 20のコンデンサ21および22はスイッチS、ないしS、により、演算増幅器 A1の反転入力側に形成される電圧へ置かれて相応に充電される。この場合この 充電によりメモリコンデンサ41における電荷が影響されない。この状態は“条 件化時相”と称される。
スイッチS、とS、も周期的な方形波信号によりブツシュプル形式で制御される 。その結果、スイッチSlが閉じられている時はスイッチS、が開かれており、 スイッチS、が開かれている時はスイッチS、は閉じられている。スイッチS7 が閉じられかつスイッチS、が開かれている時は、電圧U4は電圧U、に等しい :スイッチSlが閉じられかつスイッチS、が開かれている時は5電圧U、は電 圧U、に等しい、この場合、U ! > U −である。測定−および補償電荷 パケットは実質的に電圧U4の跳躍的変化により形成される。
スイッチS、はその都度にスイッチS、と同期して操作される。スイッチ$4は 補償サイクルを除いてその都度にスイッチS、と同期して操作される。スイッチ S、とSlのタスクは、センサ20のその都度に作動されない信号線路27ない し29を、作動中の信号線路の電位から演算増幅器A1のオフセット電圧だけ下 回わる電位へ置くことである。これにより誤電荷が、その都度に作動されないセ ンサコンデンサ21ないし22およびその信号線路27ないし29を介して作動 中の線路へ入力結合されることが、回避される。この作用は以下の説明において 前提とされる;そのためスイッチS、と86のその都度の位置は特別に述べない 。
次に信号処理回路の作動の時間経過を、最初に測定サイクルMの場合に、次に補 償サイクルにの場合に説明する。
1.7Ji定サイクル 時相1・ 各々の測定サイクルMの時相1の始めにメモリコンデンサには、先行のサイクル において形成された電荷がまだ存在している。スイッチSIとS・は閉じられ、 他方、同時にスイッチS、が開かれる。これによりメモリコンデンサが演算増幅 器A、の出力側から切り離されて、積分器42の入力側と接続される。その結果 、メモリコンデンサ41から積分コンデンサ43への電荷伝送が行なわれる。さ らに時相lにおいてスイッチS7が開かれてスイッチS、が閉しられる。その結 果、演算増幅器A、の非反転入力側における電圧U、が、電圧U、により形成さ れる。メモリコン、デンサ41の放電後にメモリコンデンサ41に式(1)で示 される定量化された電圧が加えられる。
Uc、 = IJ6! −Us −Uo+ (1)そのためメモリコンデンサ4 1に式(2)で示される残留電荷が存在する。
Qc、++u = (Uox −l33− U=+) ・C,(2)入れ替え電 荷員は積分コンデンサ43へ流れるつ各々のサイクルの全部の時相2〜5におい てスイッチS、が開かれている。その結果この時相においてメモリコンデンサ4 1から積分コンデンサ43への電荷入れ替えは行なうことができない。
さらに時相1においてスイッチS8が閉じられている、その結果、測定コンデン サ21は演算増幅器A1の反転入力側と接続されている。同時にスイッチS1が 閉じられスイッチS2が開かれているため、この回路は測定コンデンサ21のた めの条件化時相にある。
測定コンデンサ21はU、−U、により、式(3)で示される電荷へ充電(条件 化)される。
Qcxn+ = (Uo+ + Us −Ul) (3)この場合この充電によ りメモリコンデンサ41の電荷は影響を受けない。
時相2: 時相2においてスイッチS、が開かれ、他方、スイッチS、は開かれたままであ る。その結果、センサ20の両方のコンデンサ21と22は演算増幅器A、の入 力側から切り離されている。同時にスイッチS、が閉じられスイッチS、が開か れ、その結果、電圧U、が値U3から埴U、へ跳躍する。寄生容量C−よ相応に 電荷が入れ替えられる。さらにスイッチSlが閉じられスイッチS、が開かれて いるため、寄生容IC2の電荷入れ替えのために必要とされている全を荷が演算 増幅器A1の出力側から供給される。メモリコンデンサ41と積分コンデンサ4 3の電荷は、この電荷入れ替えにより影響を受けない。
時相3゜ 時相3においてはスイッチS1が開かれておりスイッチS、が閉じられている。
その結果、一時メモリ40は、電荷をメモリコンデンサ41へ引き受ける準備状 態にある。同時にスイッチS、が再び閉じられている。その結果、測定コンデン サ21は演算増幅器A1の反転入力側と接続されていて、式(4)で示される電 荷へ入れ替えられる。
C6x(1+ ” (U61 + UK −ロ+ ) (4)式(5)で示され る入れ替え電荷量はメモリコンデンサ41へ流れる。
dQc−+s+ = Qc−+x+ −Qc−+++ = (II: −IJ+ ) ・C−(5)時相4: 時相4は基準コンデンサ22に対する条件化時相である、何故ならばスイッチ$ 1が閉じられスイッチS。
が開かれており、同時にスイッチS、が閉じられているからである。その結果、 基準コンデンサ22が演算増幅器A、の反転入力側と接続されている。さらにス るため、電圧U1は値U、を有する6そのため基準コンデンサ22は式(6)で 示される電荷へ充電(条件化)される。
Qc+*++++ = (Uo+ + Us −Ul) ・Cr*t (6)こ の場合、この充電によりメモリコンデンサ41の電荷が影響はされない。
時相5: スイッチS、が開かれ、その結果、基準コンデンサ22が演算増幅器A1の反転 入力側から切り離される。
スイッチS、が開かれスイッチS、が閉じられ、その結果、電圧U4が値U、か ら値U、へ跳躍して寄生容量C3が相応に電荷が入れ替えられる。さらにスイッ チS1が閉じられスイッチS、が開かれているため、寄生容量C2の電荷入れ替 えのために必要とされる全電荷が演算増幅器A、の出力側から供給される。この 場合この動作によりメモリコンデンサ41の電荷および積分コンデンサ43の電 荷が影響されない。
時相6 時相6においてスイッチS、が開かれスイッチS、が閉じられている。その結果 、一時メモリ40は、電荷をメモリコンデンサ41へ伝送する準備状態にある。
同時にスイッチS、が再び閉じられ、その結果、基準コンデンサ22が演算増幅 器A、の反転入力側と接続されて式(7)で示される電荷へ入れ替えられる。
Qc2.++−+ = (U0+ + Us −Ul) (7)式(8)で示さ れる入れ替え電荷量がメモリコンデンサ41へ流れる。
dQc−−t +*、” Qc、−+ ta+−Qc−r +−+= −<Us −Us’l’C1−+ (8)そのため測定サイクルMが終了される。測定サイ クルMの終りにメモリコンデンサ41が式く9)で示される合成電荷を有する。
Qcl = Qc++++++ dQcl、+++ dQczzs+−C6,。
++ (U2−03)・(C,−C,、、) (9)後続のサイクルの時相1に おいてメモリコンデンサ41が再び式(2)で示される残留電荷Qcx*+へ放 電される。この場合、式(10)で示される入れ替え電荷が積分コンデンサ43 へ伝送される。
dQ、−Qc、fRl−QC,=−(U、−Ul)−(C,−C,,1) <1 (1)入れ替え電荷量dQyは測定電荷パケットと称される。
C工〉C2,IかっUユ> U sのためこの測定電荷パケットdQ、は負であ る。その結果このことが電圧UAffにおいて負の電圧跳躍的変化を生ぜさせる 。
各々の測定サイクルMの時相1〜6が、電圧UA!がコンデンサ45の閾値電圧 U、を上回わり、さらに電圧UA、のレベルが低い値から高い値へ移行するまで 、周期的に繰り返される。これにより補償サイクルにの実施のための制御回路4 6が始動される。
2、補償サイクルに 補償サイクルにのための経過順序は測定サイクルMの経過順序と同一であるが、 ただし異なる点は、スイッチS、が常に開かれておりスイッチS、が常に閉じら れていることである。これにより補償サイクルにの全体の間中は電荷が測定コン デンサ22からメモリコンデンサ41へ流れ)い。その結果、式(5)ではなく 次の式(11)が当てはまる: dQc−+s+ = O(11) 式(11)と式(8)を式(9)の中へ代入すると、補償サイクルにの終りのメ モリコンデンサ41における合成電荷として式(12)が得られる:Q(1”  Qcl、l÷dQcx +s++ dQc+*+ +s+= Qc−++u−( Ut−Us) ・ C1,、+ (12)後続のサイクルの時相lにおいてメモ リコンデンサ4工が再び式(2)で示された残留電荷Q c e。、へ放電され る。この場合、式(13)で示される入れ替え電荷が積分コンデンサ43へ伝送 される。
dQg −QC*Tl1l−Qcs ”÷(Us−Us)・cyst (13) 入れ替え電荷量dQえは補償電荷パケットと称される。
U 1 > U 、のため補償電荷パケットdQxは正でありその結果このdQ xが電圧UA!における正の電圧の跳躍変化を作動させる。この正の電圧跳躍変 化の結果、電圧UA!が再び閾値電圧U、よりも高められる。その結果、電圧U 、のレベルが再び高い値から低い値へ移行する。これにより制#回路46が再び 測定サイクルMの実施のために作動され、さらに補償サイクルKが終了される。
電荷バランス 式(10)および(13)により測定電荷パケットdQMおよび補償電荷パケッ トdQえが示されている。
ち積分コンデンサ43における電荷バランスが用いられる。電荷バランスは時間 的平均において常に、閾値電圧U、を下回わる時点において存在する。積分コン デンサ43の電荷状態を考察すると、所定数の測定電荷パケットdQMが、閾値 電圧U、を下回わるまで、積分される;次に積分された測定電荷パケットは補償 電荷パケットdQににより補償され、さらにこの過程が最初から新たに始められ る。
制御回路46は測定サイクルMの各々の実施の場合に1つのパルスを測定サイク ル計数器48の計数器入力側へ供給し、他方、補償サイクルの実施ごとに1つの パルスを補償サイクル計数器49の計数入力側へ供給する。測定サイクル計数器 48が全部でn個の測定サイクルMを計数し、かつ補償サイクル計数器49が全 部でに個の補償サイクルKを計数した時間間隔を考察すると、電荷バランスの結 果、式(14)と式(15)が当てはまる: n−dQM+ k−dQt −0(+4)−n・(Uz−Us)・(C−Cra z)÷k・、(U、−Us)・C,、、= 0 (15)そのため所期の容量比 が、前述の時間間隔において計数器48と49において計数されたパルスから、 式、(16)により示されるように直接求められる:k C,−C,,1 一= (16) n Cr a 1 両方の計数器48および49へ導びかれるパルス列の繰り返し周波数の比が形成 される吟も、同じ結果が得られる。
コンデンサ41と43の容量値、演算増幅器のオフセット電圧、センサ20の基 準電位U1.この回路の作動電圧1周波数−この周波数で制御回路46がクロッ ク制御される−は、式(16)に示されている様に、測定結果へは参入しない。
電圧U1の値はこの回路の動作領域だけにより制限される。
第3図に信号線路27および29が、スイッチ群33から演算増幅器A、へ導び かれる線路と接続されている。そのためこのシールドの電位は入力演算増幅器の 変化する基準電位へ追従され、そのため実質的にシールド導体の電位に常に相応 する。この構成も作動中の信号線路へのエラー電荷の入力結合を回避するのに寄 与する。
第5図は、容量式センサ20から供給されるセンサ信号の信号準備処理用の、第 1図の信号準備処理回路2のM2実施例を示す、第5図の信号準備処理回路は第 3図のそれとは次の点で異なる。即ちその比較器45ならびに両方の計数器48 .49が設けられていない、しかしその他の部分回路および部品は含まれており 、これらは第3図におけるのと同じ参照記号が付されている。別の相違点は、ス イッチS l a + S I +から成る第3のスイッチ群50の存在である 。
分圧器34の、基準線路30とは反対の側は、スイッチS1゜を介して積分器4 2の出力側と、またはスイッチS I+を介して接続線25と接続されている9 両方のスイッチS1゜+SI+−これらのf#IJ#信号も制御回路が発生する ーは同時には閉じられていない、さらにこれらのスイッチは一スイッチS、、、 、 S、のように−、制御信号が低い信号値を有する時は開かれており、高い信 号値を有する時は閉じられている。それらの制御信号にも同じ参照記号S、。+ S11が付されており、これらは迅速な電子スイッチを用いて実現されている。
第5図の回路も第3図の回路と同様に電荷バランスの形式で動作する。さらにス イッチS、1.. S、+こより制御されて相続くサイクルでセンサ20のコン デンサ21.22へ電荷パケットが形成される。これらの電荷パケットは、これ らのコンデンサCう、C,、、の電圧U 1 、 U sおよび容量に依存する 。この回路内の電荷パケットの最大量はセンサ20の所定の容量値の場合、分圧 器34により設定される。電荷パケットはメモリコンデンサ41において一時記 憶され、スイッチS。
の閉成により積分コンデンサ43へ伝送されここで加算される。電圧UA1は、 このコンデンサで積分される電荷に依存する、積分コンデンサ43における電圧 に相応する。
第5図の同じく通常の機能の経過を、次に第6図の4図のダイヤグラムと異なる 点を詳細に説明する。第6図は、スイッチ制御信号S+、、、 S目の時間経過 のほかに、さらに電圧Ua、UAlの時間経過およびメモリコンデンサ41にお ける電圧の時間経過を複数個のサイクルにおいて示す、このサイクルのうち各々 の第2のサイクルは補償サイクルにである。補償サイクルではないその他のサイ クルは測定サイクルMと称する。
jI6図における両方の種舐のサイクルの交番する順序は一例にすぎない;さら に任意の個数の補償サイクルを任意の個数の測定サイクルへ続けることができる 。
各々のサイクルは同様に6つの時相から成り、これらに番号1〜6が付されてい る。
スイッチS+、、、Saの制御およびこれにより形成される機能は第3図のスイ ッチS、、、、 S、のそれらと同一である。第3図とは反対にスイッチS、は 各々の補償サイクルにの間中は開かれたままであり、その結果、積分コンデンサ 43へは測定サイクルMのそれぞれ位相1の間中に電荷が伝送される。
さらにS目は測定サイクルMの間中および補償サイクルにの時相1−この時間に おいてスイッチS1゜は開かれている−の間中は閉じられている。そのためこれ  。
らの時点において、分圧器34の基準線路30とは反対側の端部が接続、[25 にしたがって固定の電圧υ1に接続される。
この時相に式(17)が当てはまる: U2− Us = U+ 43g/(R3a”Rss+R+y) =IIJ+・ V* 、(17)他方、補償サイクルにの時相2〜6においてスイッチ311は 開かれスイッチS、。は閉じられている。そのため分圧器34は積分器42の出 力便と接続されておりしたがって分圧器34に演算増幅器A!のアナログの出力 電圧UA*が加わる。
この時相において式(18)が当てはまる:U2− Us ” UAt4sa/ (Rss+Rsg+Rsy) = UAt’Vt (18)式(17)、(18 )においてR,、、R3,、R,、で、分圧器34の抵抗35..36.37の それぞれの抵抗値が示されている。
そのためサイクルの任意の個数n、kに対して当てはまる式(1,5)、(16 )は次の形式を有するニーn−IJ+・V*(C++−(:tar) + k− UA*−v*−C,、t = O(19)(k/n)・(UA!/III)=( C,−C,,1)/C,、T 、 (20)FIG、4 FIG、5 要 約 す センサ信号の処理装置 この処理装置は、容態式センサ(1,10,20)から供給されるセンサ信号を 処理するために用いられる。このセンサは、検出されるべき物理的な測定量によ り影響される測定容量(Cx)を有する測定コンデンサ(21)および、別の形 式で影響される基準容量(Cref)を有する少なくとも1つの基準コンデンサ (22)を含み、さらに前記センナはこれらの両方に依存する測定結果(M)を 供給する。さらにこの処理装置は、スイッチ・コンデンサ・構成体と電荷バラン スとを用いての、量子化された電荷転送の方式で少なくとも時間平均4二おいて 動作する信号処理回路(2)を備えており、この信号処理回路は測定結果を表わ すセンサ信号を受信して、該測定結果に相応する例えばアナログの出力信号(S  / 5ref)を供給する。コンデンサ(21,22)の第1の電極(14; 24)が固定の電位(Ul)へ置かれるようにし、さらに第2の電極(16,1 8,26,28)は電荷転送を実施する目的で入力演算増幅器(Al)の第1の 入力側と接続可能であり、その第2の入力側は基準電位(U4)へ置かれており 、この基準電位は、転送される電荷パケットの形成のために必要とされる、コン デンサ(21,22)の電荷入れ替えの目的のために切り換えられる。
国際調査報告 国際調査報告 PCT/EP 90102124

Claims (7)

    【特許請求の範囲】
  1. 1.容量式センサ(1,10,20)から供給されるセンサ信号を処理するため の装置であって、該センサは、検出されるべき物理的な測定量により影響される 測定容量(Cx)を有する測定コンデンサ(21)および、別の形式で影響され る基準容量(Cref)を有する少なくとも1つの基準コンデンサ(22)を含 み、さらに前記センサはこれらの両方に依存する測定結果(M)を供給するよう にし、さらに前記の処理装置は、スイッチ、コンデンサ、構成体と電荷バランス とを用いての、量子化された電荷転送の方式で少なくとも時間平均において動作 する信号処理回路(2)を構えており、該信号処理回路は測定結果を表わすセン サ信号を受信して、該測定結果に相応ずる出力信号(S/Sref)を供給する ようにし、該コンデンサ(21,22)の第1の電極(14;24)が固定の電 位(U1)へ置かれるようにし、さらに第2の電極(16,18;26,28) は電荷転送を実施する目的で入力演算増幅器(Al)の第1の入力側と接続可能 であり、該第2の入力側は基準電位(U4)へ置かれており、該基準電位は、転 送される電荷バケットの形成のために必要とされる、コンデンサ(21,22) の電荷入れ替えの目的のために切り換えられるようにしたことを特徴とするセン サ信号の処理装置。
  2. 2.電荷転送の実施の目的でその都度に入力演算増幅器(A1)とは接続されな い方の、コンデンサの第2の電極(26,28)が、その基準電位(A4)へ接 続されている請求項1記載の装置。
  3. 3.入力演算増幅器(A1)の第1の入力側へ導びかれる接続線の中に存在する 寄生容量(P)を除去する目的で、コンデンサ(21,22)が、基準電位(u 4)の切り換え中は入力演算増幅器から分離されているようにした請求項1又は 2記載の装置。
  4. 4.センサ(1,10,20)と入力演算増幅器(A1)との間に、周期的に操 作される第1群のスイッチ(S3...S6)を含む機能ブロック(31)が挿 入接続されており、該スイッチはコンデンサ(21,22)の第2の電極(26 ,28)を選択的に入力演算増幅器(A1)の第1入力側と接続線するか、ない しその基準電位(U4)へ置くようにし、さらに前記の機能ブロック(31)が 第2群の周期的に操作されるスイッチ(S7...S■)を含むようにし、該ス イッチは基準電位を切り換える目的で交番的に2つの電圧(U2,U3)の一方 または他方を演算増幅器(A1)の第2入力側へ置くようにした請求項1から3 までのいずれか1項記載の装置。
  5. 5.電極(26,28)から入力演算増幅器(A1)へ導びかれる信号線路が遮 へいされており、該信号線路の電位が入力演算増幅器(A1)の基準電位(U4 )へ追従されるようにした請求項1から4までのいずれか1項記載の装置。
  6. 6.機能ブロック(31)が分圧器(34)を含み、該分圧器から測定電荷パケ ットを形成するために用いられる電圧(U2,u3)が取り出されるようにし、 さらに該分圧器は、測定電荷パケットを信号処理回路(2)の作動領域へ適合調 整する目的で、設定調整されている請求項1から5までのいずれか1項記載の装 置。
  7. 7.アナログ出力信号(UA2)を有する請求項1〜6のいずれか1項に記載の 装置において、分圧器(34)の、基準導体(30)とは接続されていない方の 終端が、第3スイッチ群(50)の一方のスイッチ(S10)を介して、補償電 荷バケット形成の目的で積分器(42)の出力側と接続可能であるか、または第 3スイッチ群(50)の他方のスイッチ(S11)を介して測定電荷パケット形 成の目的で固定の電位(U1)と接続可能であるようにした請求項1から6まで のいずれか1項記載の装置。
JP3501222A 1989-12-20 1990-12-11 センサ信号の処理装置 Expired - Lifetime JP2515456B2 (ja)

Applications Claiming Priority (2)

Application Number Priority Date Filing Date Title
DE3942159.7 1989-12-20
DE19893942159 DE3942159A1 (de) 1989-12-20 1989-12-20 Anordnung zur verarbeitung von sensorsignalen

Publications (2)

Publication Number Publication Date
JPH04503713A true JPH04503713A (ja) 1992-07-02
JP2515456B2 JP2515456B2 (ja) 1996-07-10

Family

ID=6395937

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP3501222A Expired - Lifetime JP2515456B2 (ja) 1989-12-20 1990-12-11 センサ信号の処理装置

Country Status (8)

Country Link
EP (1) EP0458931B1 (ja)
JP (1) JP2515456B2 (ja)
CA (1) CA2046344C (ja)
DE (2) DE3942159A1 (ja)
DK (1) DK0458931T3 (ja)
ES (1) ES2051584T3 (ja)
IE (1) IE904484A1 (ja)
WO (1) WO1991009278A1 (ja)

Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US6882164B2 (en) 2001-07-12 2005-04-19 Sony Corporation Electrostatic capacitance sensor and fingerprint collator comprising it
JP2013519091A (ja) * 2010-02-02 2013-05-23 エム ケー エス インストルメンツ インコーポレーテッド 容量型圧力センサ

Families Citing this family (15)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
DE4133426A1 (de) * 1991-10-09 1993-04-15 Bosch Gmbh Robert Schaltungsanordnung zur auswertung und zum test eines kapazitiven sensors
FR2682768A1 (fr) * 1991-10-21 1993-04-23 Otic Fischer & Porter Methodes de conversion de rapports d'impedances applicables aux appareils de mesure, notamment aux transmetteurs de pression industriels, et leurs dispositifs de mise en óoeuvre.
DE4225113C2 (de) * 1992-07-30 1995-05-04 Erhardt & Leimer Gmbh Vorrichtung zur Überwachung einer laufenden Warenbahn
DE4227052C1 (de) * 1992-08-13 1994-03-10 Schmidt Werner Dr Sensorsystem zur berührungsfreien Abtastung von Etiketten
DE4237196C1 (de) * 1992-11-04 1994-02-10 Vega Grieshaber Gmbh & Co Verfahren und Anordnung zur Messung zumindest einer Kapazität
DE4434338C2 (de) * 1994-09-26 1996-12-19 Siemens Ag Ausleseschaltung für einen kapazitiven Sensor
DE19744152A1 (de) * 1997-10-07 1999-04-29 Ifm Electronic Gmbh Schaltungsanordnung zur Erfassung der Kapazität bzw. einer Kapazitätsänderung eines kapazitiven Schaltungs- oder Bauelementes
DE19711215C1 (de) * 1997-03-18 1998-05-07 Heidenhain Gmbh Dr Johannes Verfahren und Vorrichtung zur Umschaltung zwischen verschiedenen Ausgangssignal-Arten einer Positionsmeßeinrichtung
DE19833210C2 (de) * 1998-07-23 2000-06-21 Siemens Ag Verstärkerschaltung zur Kapazitätsmessung
DE19833211C2 (de) 1998-07-23 2000-05-31 Siemens Ag Verfahren zur Bestimmung sehr kleiner Kapazitäten und Verwendung
JP3588276B2 (ja) * 1999-07-26 2004-11-10 株式会社山武 センサ信号処理回路
EP1830182A1 (fr) * 2006-02-22 2007-09-05 Glaverbel Vitrage feuilleté
ATE526559T1 (de) 2009-03-10 2011-10-15 Em Microelectronic Marin Sa Elektronischer schaltkreis mit kapazitivem sensor zur messung eines physikalischen parameters und verfahren zur ingangsetzung des elektronischen schaltkreises
DE102009057439B4 (de) 2009-10-27 2012-09-27 Gerd Reime Vorrichtung und Verfahren zur fehlerfreien kapazitiven Messwerterfassung
CN118758460B (zh) * 2024-09-09 2024-11-19 成都时代慧道科技有限公司 压力传感器的压力变量转化为电变量的工作方法及系统

Citations (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS5465689A (en) * 1977-10-31 1979-05-26 Package Machinery Co Wrapping machine
JPS5836338A (ja) * 1981-07-01 1983-03-03 ヘルベルト・ニ−デツカ− 腸詰物などの詰込み閉塞方法

Family Cites Families (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US4039940A (en) * 1976-07-30 1977-08-02 General Electric Company Capacitance sensor

Patent Citations (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS5465689A (en) * 1977-10-31 1979-05-26 Package Machinery Co Wrapping machine
JPS5836338A (ja) * 1981-07-01 1983-03-03 ヘルベルト・ニ−デツカ− 腸詰物などの詰込み閉塞方法

Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US6882164B2 (en) 2001-07-12 2005-04-19 Sony Corporation Electrostatic capacitance sensor and fingerprint collator comprising it
JP2013519091A (ja) * 2010-02-02 2013-05-23 エム ケー エス インストルメンツ インコーポレーテッド 容量型圧力センサ

Also Published As

Publication number Publication date
DE59005540D1 (de) 1994-06-01
ES2051584T3 (es) 1994-06-16
EP0458931B1 (de) 1994-04-27
CA2046344C (en) 2000-03-07
DK0458931T3 (da) 1994-07-25
CA2046344A1 (en) 1991-06-21
WO1991009278A1 (de) 1991-06-27
DE3942159A1 (de) 1991-06-27
JP2515456B2 (ja) 1996-07-10
IE904484A1 (en) 1991-07-03
EP0458931A1 (de) 1991-12-04

Similar Documents

Publication Publication Date Title
US7454967B2 (en) Signal conditioning methods and circuits for a capacitive sensing integrated tire pressure sensor
EP2030324B1 (en) Capacitance-to-digital modulator with sensor failure-mode detection
CN103842829B (zh) 抵消由传感器电路贡献的乱真力的用于换能器前端的使用单一放大器的线性电容-电压转换器
EP1861723B1 (en) One terminal capacitor interface circuit
CA2010987C (en) Pulse-driven accelerometer arrangement
US5451940A (en) Capacitive sensor signal processing arrangement using switch capacitor structures
JP2001525071A (ja) 物理変量の検出装置及び方法
CN114487615B (zh) 电容测量电路及电容测量方法
JP2515456B2 (ja) センサ信号の処理装置
JPH1068661A (ja) 静電容量式測定センサおよびその読出し回路
JPH0718900B2 (ja) 抵抗半ブリツジにおける抵抗比測定方法及び測定装置
JP4508480B2 (ja) 静電容量型センサのセンサ特性測定装置
EP2751527B1 (en) Surface charge reduction technique for capacitive sensors
EP0240102A2 (en) Power meter having self-test function
EP0015253B1 (en) A transducer for sensing a variable parameter and for converting a so-obtained analog signal to a digital signal
EP0322802B1 (en) Watthour meter or wattmeter comprising hall sensors
US7340955B2 (en) Capacitive acceleration sensor arrangement
EP0128559B1 (en) A load cell type weight measuring device and a sensitivity checking method thereof
WO1991011685A1 (fr) Detecteur de position
JPH0638088B2 (ja) 容量測定用回路
JP3161307B2 (ja) 電磁流量計
JPS60203864A (ja) 検出装置
JPS63133069A (ja) 直流差電圧の測定装置
SU1449845A1 (ru) Многоканальное измерительное устройство дл дифференциальных индуктивных датчиков
De Geeter et al. A portable 3-axis 11-bit shock measurement circuit

Legal Events

Date Code Title Description
R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20080828

Year of fee payment: 10

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20080828

Year of fee payment: 10

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20090828

Year of fee payment: 11

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20090828

Year of fee payment: 11

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20100828

Year of fee payment: 12

EXPY Cancellation because of completion of term
FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20100828

Year of fee payment: 12