JPH04504308A - 可変温度固体磁気共鳴分光を行うための方法及び装置 - Google Patents

可変温度固体磁気共鳴分光を行うための方法及び装置

Info

Publication number
JPH04504308A
JPH04504308A JP2506260A JP50626090A JPH04504308A JP H04504308 A JPH04504308 A JP H04504308A JP 2506260 A JP2506260 A JP 2506260A JP 50626090 A JP50626090 A JP 50626090A JP H04504308 A JPH04504308 A JP H04504308A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
gas
sample
spin
magnetic resonance
solid
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Granted
Application number
JP2506260A
Other languages
English (en)
Other versions
JPH087168B2 (ja
Inventor
バツスカ・ビクター・ジェイ
ルイス・ディビット・エイチ
Original Assignee
オオツカ・エレクトロニクス(ユー・エス・エイ)・インコーポレーテッド
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by オオツカ・エレクトロニクス(ユー・エス・エイ)・インコーポレーテッド filed Critical オオツカ・エレクトロニクス(ユー・エス・エイ)・インコーポレーテッド
Publication of JPH04504308A publication Critical patent/JPH04504308A/ja
Publication of JPH087168B2 publication Critical patent/JPH087168B2/ja
Anticipated expiration legal-status Critical
Expired - Lifetime legal-status Critical Current

Links

Classifications

    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01RMEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
    • G01R33/00Arrangements or instruments for measuring magnetic variables
    • G01R33/20Arrangements or instruments for measuring magnetic variables involving magnetic resonance
    • G01R33/28Details of apparatus provided for in groups G01R33/44 - G01R33/64
    • G01R33/30Sample handling arrangements, e.g. sample cells, spinning mechanisms
    • G01R33/31Temperature control thereof

Landscapes

  • Physics & Mathematics (AREA)
  • Condensed Matter Physics & Semiconductors (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Sampling And Sample Adjustment (AREA)
  • Magnetic Resonance Imaging Apparatus (AREA)
  • Analysing Materials By The Use Of Radiation (AREA)
  • Crystals, And After-Treatments Of Crystals (AREA)

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるため要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 可変温度固体磁気共鳴分光を行うための方法及び装置A、技術分野 本発明は、一般に、固体磁気共鳴分光の分野に関するものである。 より詳しくは、本発明は、固体の可変温度磁気共鳴分光の分野に関するものであ る。 B、背景技術 磁気共鳴分光は、核磁気共鳴(NMR)分光を含む分析化学の一分野である。こ の技術は、特定の材料の特徴を定め、かつその材料の基本的な構造及び組成を識 別するために用いられる。その技術は、物質が適正な周波数及び配向の電磁線に さらされると、それらの物質は、その物質の特定の分子及び原子構造に特徴的な 放射線を発することによって反応することがあるという周知の事実に基礎を置い ている。固体状の物質についてこのような影響を感じるためには、材料は、強力 な磁界において高周波数で回転されなければならない。 さらに、材料の温度は、正確に設定される必要かあるかもしれない。 歴史的に見て、磁気共鳴分光の技術は、まず液体状の材料について1948年に 開発された。この開発は、マがてはノーペル賞に通じることになる。液体状の材 料を分析する技術の一部として、それらの材料は、強力な磁界に置かれ、かつ時 々100ヘルツ(6000r pm)までの周波数で回転された。回転は、液体 を分析するには本来必要ないか、外部の磁界における勾配によって生じる実験上 の問題を克服するための技術として開発された。固体状の物質の分析は、最初は 同様の技術を用いて試みられたか、固体は、液体のようには外部のfII激に全 く反応しない。液体状の材料のNMR分先は、比較的簡単でかつ容易にもたらさ れる貴重な情報であったのて、液体NMRの分野は、それを考案した理論に基礎 を置く科学者から、応用志向の人々へと急速に移っていった。液体NMRの技術 は十分理解されるようになったので、理論家はほとんど関わっていない。 しかしながら、理論家は、固体状の材料の磁気共鳴において遭遇する困難には依 然として関わっており、かつ1960年代の半ばには根本的な突破口か生じた。 これらの突破口は、十分解決された結果を達成するにはある重要な相違か必要で あるという認識に基づいている。簡単に言えば、試料を単に磁界で回転させるだ けでは十分てはないと一般に理解されるようになった。むしろ、試料は磁界(い わゆる“マジックアングル”)に対して配向されなければならず、しかも試料は 極度に高い周波数で、およそ多キロヘルツ(数十刃rpm)て回転されなければ ならない。液体NMRが行われる方法に対して程度か変化するというよりはむし ろ、固体試料の高速回転は、液体NMRにおけるような実験上の困難を伴わなか った。それよりも、それは、結果として材料の核スピン相互作用を減じることに なる根本的な理由によるものであった。液体NMRの応用志向の開発と関連づけ られたこのような根本的な相違の結果、液体状態NMRの当業者と固体磁気共鳴 の当業者とが区別されることになった。両者は磁気共鳴の一般的な原理に基礎を 置いているということで関連はあるが、二つの技術分野はほとんど重なりがなく 、実際、彼らの技術背景は著しく異なるものであった。 固体磁気共鳴の技術が改良されるにつれ、多くの実際上の困難に遭遇した。これ らの困難の多くは、かなり長い間固体磁気共鳴を広い規模で商業的に受け入れら れることを妨げていたような性質のものである。固体磁気共鳴のある面は受け入 れられたが、他の面は独特の困難をもたらした。これらの領域の一つは、可変温 度固体磁気共鳴の分野であった。この分野は、ごく最近開発された。その開発に おいて直面する障害の一つは、分析されるべき固体材料の温度を正確にかつ均一 に制御することである。固体磁気共鳴におけるほとんどすへての試料は、ガスに よって駆動される回転子を使用することによってスピンされるので、固体磁気共 鳴の当業者が試料の温度を制御するためのガスの駆動に焦点を合わせたのは、ご く当然であった。それはスピンガス(しばしばベアリングガス及びドライブガス は別々に供給される)の温度を単に変化させるのに十分簡単であるように思われ るか、この結果はかの問題が生じた。 おそらく、スピンガスに対する温度制御の方法における主たる困難は、温度か変 化したために、回転の周波数も変化したということであった。このことは、スピ ンガスの密度の変動によるだけでなく、必要とされる圧力及び温度の組み合わせ は、低い温度ではスピンガスの凝縮をもたらし、高い温度では容認てきないほど 低くなったガスの密度をもたらすことによるものである。このような影響に加え て、回転子及び磁石の近傍の(典型的には、超伝導の温度に保たれている)電子 装置の温度に影響を与えるという問題があるために、可変温度固体磁気共鳴分光 の固有の問題となった。−例として、本発明より以前に、温度/回転周波数の値 は、そのような温度範囲にわたるいかなる周波数の変化も避けようという当業者 による努力にも関わらず、208C/8KHzないし一50°C/6KHzない し一1508C/2KHzの範囲に及んだ。 可変温度固体磁気共鳴分光の分野を開発している人々か遭遇するさらなる問題は 、試料の正確かつ均一な温度制御の問題であった。 感温は主として、回転子に供給されるガスの温度を関知することによって達成さ れたので、それは試料の温度の直接の表現ではなかった。この面及び他の面は、 James F、Haw等による記事([直交偏光及びマジックアングルスピニ ングを伴う可変温度固体核磁気共鳴における実験的考察J、Analytica l Chem、58. 3172(1986))において説明されている。多く の異なる効果があるために、試料の温度か正確に評価されないだけでな(、試料 の温度が不均一となる。これを避けるために、当業者は、本発明の技術と異なり 、回転子内の温度勾配を最小限にしかつ避けようとしている。温度の不均一はま た、可変温度の作業における信号の解像度に直接影響を与えた。いくつかの影響 を克服するために、ベアリングガスの温度及びドライブガスの温度を独立して制 御しようという努力かなされているが、一般にこの方法の結果、試料の温度か容 認できないほど不均一となり、よって信号の解像度か低下した。 それゆえに、当業者は、温度勾配を避けようと試みた。 C1発明の開示 可変温度固体磁気共鳴分光において遭遇するこれら及び他の問題を解決するため に、本発明が開発された。すなわち、特定の形態で別のサンプルガスを供給する ことによって、正確な温度制御及び均一性が試料自体内で達成されうるというこ とだけでなく、試料の温度の回転周波数に対する望ましくない影響を実質的に排 除しうるということかわかった。さらに、本発明は、固体磁気共鳴分光を行うエ ネルギー及びコストの関係を実質的に高める設計を提供する。この点に関して、 分析は、時には極度に低い温度で何日間も試料を流すことを必要とするというこ とを理解すべきである。明らかに、従来の技術のコストは一つの関心事となり得 る。さらに、比較的高価な極低温ガスが窒素の液化限界温度を克服するために利 用される場合には、そのような分析に対する操作費用か重要な要因となりうる。 本発明の基礎は比較的単純であると考えることができるが、固体磁気共鳴の当業 者は、先行技術の限界を克服するために構成要素の適切な組み合わせ及び選択を 実現することかできなかったことは事実である。本発明の実施技術及び構成要素 は利用できても、適切な試料の温度制御の問題に焦点を合わせている人々は、そ の問題を解決することができなかった。スピンガスの温度が試料の温度制御に必 ず結び付けられるという予想から、当業者は本発明の方向から離れて教示するこ とになった。当業者は、問題は試料の温度かスピンガスの温度に結び付けられる という仮定にあることにあると理解することが全くできなかった。本発明まで、 可変温度固体磁気共鳴分光の問題を克服しようとする当業者によってかなりの試 みがなされたが、そのような試みの結果、問題の完全な解決には至らなかった。 このことは特に、本発明はたとえごくわずかな努力及び資金しかそれを市場に出 すために費やされなかったとしても、その分野の研究者によって十分骨は入れら れたという事実によって強調されているように思われる。これらの研究者らはま た、そのような単純なシステムか、非常に効果的に働き、非常に容易にいっでも 使えるようになっており、しかも当業者に知られていないという驚きを表明した 。 よって、本発明の目的は、固体磁気共鳴試料の温度をより正確に制御する設計を 提供することである。本発明の目的は、固体試料か維持される正確な温度をより 正確に制御することである。本発明の目的はまた、磁気共鳴分光分析中の試料の 実際の温度を感知する際の精度を高めることである。他の目的は、固体試料の温 度を均一に制御することである。他の目的は、このように、どのような温度変動 も、分析されている材料から離れて制限することである。 本発明のさらなる目的は、固体試料磁気共鳴試料のその試料の回転周波数に対す る温度変化の影響を克服することである。本発明の目的は、このように、試料の 回転速度に容認できないほど影響を与えることなく、試料の極端な温度を達成す ることである。 本発明のさらなる目的は、固体磁気共鳴試料の温度の制御をその試料を回転させ るためのシステムから切り離すことである。本発明の目的はまた、回転磁気共鳴 分光計におけるスピンシステムに影響を及ぼすことなく、温度制御システムの動 作を完全に閉じ込めることができる設計を提供することである。本発明の目的は 、試料の温度が、そのような分光計のスピンシステムに含まれるガスとは別のガ スによって制御される設計を提供することである。本発明の目的はまた、試料の 温度が、スピンシステムで利用されるガスと比較すると、比較的低い圧力のガス を使用することによって制御されつる設計を提供することである。 本発明のさらなる目的は、可変温度固体磁気共鳴分光計の操作において、エネル ギー及びコストの節約を達成することである。本発明の目的は、このように、そ のような分光計における不必要なエネルギーの制御を避けることである。従って 、試料の温度制御の影響を、望ましい領域のみに限ることが目的である。 本発明のさらなる目的は、可変温度固体磁気共鳴分光計の動作を容易にする設計 を提供することである。この目標を進める際に、分光計の実際上の操作を容易に するためにガス排気システムを利用することが目的である。本発明の目的は、排 気ガスを混合し、よって圧力と温度とを結びつけた結果排気ガスからの悪影響を 最小限にする条件を生じることである。この一般的な目的を保つ際に、最小の温 度調節回数で容易に扱うことができる設計を提供することもまた、目標である。 従って、本発明の目的は、可変温度サンプルガス供給管路を、スピンシステムの それと区別する設計を提供することである。 4、
【図面の簡単な説明】
FIG、lは、スピン機構の好ましい実施例の断面図である。 FIG、2は、プローブから離された、かつ回転子を設置する前の、FIG、1 に示されるスピン機構の斜視図である。 FIG、3は、接続前の、プローブアセンブリの斜視図である。 FIG、4は、分光計の操作中に存在するような、磁石ハウジングに設置される プローブアセンブリの斜視図である。 FIG、5Aないし5Cは、分光計の操作中に回転子の中心軸にそった、一般的 な温度のグラフ表示である。 FIG、6A及び6Bは、先行技術の装置及び本発明において存在する、試料を 横切る代表的な温度勾配の比較である。 FIG、7Aないし7Dは、ある磁気共鳴信号に対する一般的な温度の影響のグ ラフ表示である。 FIG、8は、先行技術の装置及び本発明に関して、回転子の速度に対する温度 の影響を比較する、グラフ表示である。 FIG、9は、スピン機構の近傍における、排気ガス接合点の上面図である。 E1発明を実施するための最良の形態 図面から見られるように、本発明の基本的な概念は、いくつかの異なる側面を含 んでいる。まずFIG、4を参照して、スピン機構(1)は、動作可能状態にお かれている。スピン機構(1)は、典型的には、プローブ(2)内に設置され、 プローブ(2)はまた、磁石(3)内の中心に設置される。本発明の好ましい実 施例では、サンプルガスは、サンプルガス供給管路(4)を介して供給される。 スピンガスは、ドライブガス供給管路(5)及びベアリングガス供給管路(6) を介して、プローブ(2)の他方端部に供給される。 浄化(purge)ガスは、当該技術分野において周知であるが、浄化ガス管路 (34)を介して供給されうる。動作において、固体試料は、ドライブガス供給 管路(5)を介して供給されるドライブガス及びベアリングガス供給管路(6) を介して供給されるベアリングガスの作用によって、スピン機構(1)内で回転 される。固体試料の温度は、サンプルガス供給管路(4)を介して供給されたサ ンプルガスを介して制御される。次に、磁気共鳴放射は、スピン機構(1)内で 感知され、かつ図示されない配線を介して分光計の残りの部分に電気的に伝達さ れる。 FIG、3は、プローブ(2)を、固定された端部(7)及び取り外し可能な端 部(8)に分解した斜視図である。組み立てられると、これらの端部は、スピン 機構(1)を収容し、かつそれは磁石(3)内に設置される。後に理解されるで あろうが、プローブ(2)を介するガスの供給は、本発明の一側面である。組立 工程の一部として、固体試料は、スピン機構(1)内に置かれなければならない 。FIG、2に示されるように、スピン機構(1)は、一端が円錐形である回転 子(9)を収容するように特に設計されたハウジングである。回転子(9)は、 固体試料を含むように設計され、かつ回転子のボート(10)を介して挿入する ことによってスピン機構(1)内に容易に置かれる。当然、回転子(9)は、中 実の、機械で作られた、試料の形状となるだろう。次に、回転子(9)は、スピ ンガスの作用によってスピンされる。回転子(9)は、ベルヌーイの原理によっ て、動作中スピン機構(1)内に保持される。 FIG、1には、回転子(9)か挿入されたスピン機構(1)の断面図か示され る。スピン機構(1)は、回転子(9)を取り囲み、かつその中に種々の通路を 有し、スピンガス及びサンプルガスの両方を回転子(9)の適当な領域に向けか つ供給する。これらのさまざまな通路の位置を識別しようとする際に、本発明の 主たる概念の理解を簡単にするため、そのような通路はサンプルガスに関連のあ るものを除いて、スピン機構(1)の断面図から削除されている。 これらの通路は三次元の空間で経路指定されているので、用意した図面上にそれ らを示すのは困難である。確かに、そのような通路を設ける技術は、当該技術分 野において周知であり、かつ本発明者に関わる米国特許4.511.841号に さらに説明されている。FIo、2に図示されるように、スピン機構(1)内の これらの通路は、いくつかのボートまたは管路、例えば、ドライブガス供給ボー ト(11) 、サンプルガス供給管路(4)及びサンプルガス排気管路(14) で終端する。当該技術分野においてよく理解されるが、ドライブガス供給ボート (11)及びベアリングガス供給ボート(図示されず)は、スピン機構(1)の 中間軸上に設置される。この設置によって、プローブ(2)内の適当な位置にあ るスピン機構(1)か構造的に保持されるだけでなく、プローブ(2)の中心軸 に対して、よって磁界に対して回転子(9)の中心軸の角度を調節することかで きる。 スピン機構(1)内にはまた、種々のガスを排気できるようにするための通路も ある。この実施例では、これらの通路は、表面上のスピン機構(1)の終端にお いては単にスロットである。ダクトを設ける必要がないので、これらのスロット の各々によって、適当なガスか自由にスピン機構(1)を出ていくことかできる 。 サンプルガス供給管路(4)及びサンプルガス排気管路(14)と関して、これ らのボートはスピン機構(1)上に角度をもって設置されてもよい。この角度的 な設置は、磁界線に対して、スピン機構(1)の典型的なアングリングを容易に する。このアングリングは、固体磁気共鳴分光の当該技術分野において周知であ るが、典型的には、54.7度の「マジックアングル」について調節される。 プローブ(2)を介するかつスピン機構(1)へのサンプルガス供給管路(4) の接続は、固定された又は伸縮性の接合部を介して行われる。同様に、サンプル ガス排気管路(14)が設けられてもよい。好ましい実施例はサンプルガスに対 する低い圧力を利用しているので、両方のサンプルガス管路をゆるく接続するこ とができる。 図示されるように、サンプルガス排気管路(14)は、好ましい実施例における サンプルガス供給管路(4)より大きい直径を存する。 このサイズは、適当な圧力が試料室(24)内に存在するために利用される。さ らに、サンプルガス供給管路(4)及びサンプルガス排気管路(14)の両方は 、スピン機構(1)に摺動可能に嵌まる。 このことは、磁界に対するスピン機構(1)の角度の調節を考慮しているだけで なく、生じる熱膨張及び収縮を調節している。 再びFIG、1を参照して、スピン機構(1)の断面をさらに理解することかで きる。図示のように、スピン機構(1)は、固定子ハウジング(15)を含む。 この固定子ハウジングは、互いに接続されるいくつかの部分に分かれていてもよ い。固定子ハウジング(15)の中央部は、上方ガス軸受(16)、下方ガス軸 受(17)、及び駆動ボート(18)を収容するように設計されてもよい。 当該技術分野において周知でありかつ発明者の先行特許の主題であるが、駆動ボ ート(18)は、ガス軸受(16及び17)と共に作用し、回転子(9)の高速 回転を達成する。また当該技術分野において公知であるように、回転子(9)は 、固体試料(2I)を含む回転子シリンダー(20)へつながる円錐形の端部( 19)を含む。 固体試料(21)は、スペーサ(22)の使用によって、回転子(9)内に置か れる。スペーサ(22)は、好ましくは、絶縁材料で作られ、後に論じるように 温度勾配の閉じ込めを高めている。本発明にとって重要なことは、固体試料(2 1)の近傍で回転子(9)を取り囲むように設計された環状の室である試料室( 24)を含むということである。試料室(24)内には、アンテナ(25)(断 面ではコイルとして示される)が含まれ、磁気共鳴放射を感知する。最後に、F IG、1の断面図で示される特徴を理解する際に、2つの環状の固定子シール( 26)か設けられる。 スピン機構(1)の動作は、次のように理解することができる。 まず、ベアリングガスは、上方ガス軸受(16)及び下方ガス軸受(17)の両 方に供給される。このベアリングガスは、回転子(9)を固定子ハウジング(1 5)とのどの接点からも絶縁し、かつ回転子(9)か固定子ハウジング(15) 内で自由に回転できるようにするのに役立つ。次に、ドライブガスは、駆動ボー ト(18)を介して供給され、円錐形の端部(19)に作用しかつ回転子(9) を回転させる。固体試料(21)を約400、OOOrpmの速度で回転させる 必要があるので、極端な圧力条件が必要となる。このことを低温を与える必要性 と結びつけると、用いられるガス(典型的には窒素)か凝縮する可能性かあり、 同様にそのようなガスの密度か高くなる。回転子(9)の中心軸の配向の正確な 維持が望ましいので、いくつかの設計においては(発明ではそうてはないが)、 ガス軸受(16及び17)はまた、回転子シリンダー(20)の表面に近接して 非常に精密な許容度まで維持される。このように近接することにより、ガスの凝 縮による悪影響の可能性がさらに高くなる。これら側面の各々は、温度が変化す る時に適切な回転子の速度を維持することを困難にする。本発明までは、回転の 一定の周波数を維持し、回転の高速度を維持し、かつ固体試料(21)の温度を 変化させる必要を同時に満たすことかできず、これらはトレードオフの関係にあ った。FIG、8の特性から見られるように、本発明より以前には、回転の周波 数は、維持されることが望ましい温度に非常に左右された。先行技術について見 られるように、低温では、凝縮及び密度か高くなった結果、回転子(9)の回転 に対するより大きな摩擦抵抗が生じ、よって温度が下がるにつれて速度が遅くな る。曲線の他方端部では、より高い温度が利用されるにつれて、高くなった温度 のために結果としてドライブガスが希薄となり、その結果回転速度も遅くなった 。たいていの設計は室温環境に対して最大限に活用されてきたので、最適回転速 度(すなわち、最高回転速度)は、室温の付近に集中した。本発明は、回転速度 が、典型的な範囲にわたって温度に大きく依存しないようにすることによって、 先行技術の限界を実質的に克服している。 本発明が先行技術の限界を克服するのに成功した程度は、著しい。 −例として、かつ先に述べたように、先行技術では、回転速度は、典型的な温度 範囲にわたっ75%はども減じられうる。この大きい変化と著しく違って、本発 明の結果、そのような変化かほぼ2オーダー減少した。例えば、先行技術におけ る回転速度の75%の変化を生じる温度範囲にわたって、本発明における回転速 度は、約1パーセント(1%)だけ変化する。この驚くべき結果は、おそらく何 よりも、本発明か説明された時研究者がうける初期の驚きの一因であった。 FIG、1に戻って、本発明が先行技術と驚くほど相違している理由を最もよく 理解することかできる。先に説明したように、サンプルガスは、ガス供給管路( 4)を介して試料室(24)へ供給される。この供給は、スピンガス、ドライブ ガス又はベアリングガスのいずれかとは無関係である。その結果、ドライブガス 及びベアリングガスの両方は、回転子(9)の回転を最小限にするために、最適 な圧力又は温度で維持されうる。本発明にとって重要なことは、固体試料(21 )の温度が別のガスによって維持されるということだけではなく、そのようなガ スは分離されかつ主として試料室(24)のみに閉じこめられるということであ る。これは、試料室(24)へ直接至る別のサンプルガス排気管路(14)を設 けることにより達成される。ベアリングガス及びドライブガスの両方は、それら 自身の別々の排気ポートを有するので、サンプルガスが他のガスのいずれかと混 ざるという傾向は、最小限にされる。分離されたサンプルガスの使用はまた、対 流エネルギー伝達の相対的な割合を増すことによって、試料の温度の直接制御性 を高める。このことは、重要である。というのは先行技術の装置が、試料の温度 を制御するために、回転子を介する伝達に著しく依存しているからである。別の 排気システムを設けるのに加えて、この実施例は、環状の固定子シール(26) を含む。これら二つのシールは、完全に回転子(9)を取り囲み、かつ、本発明 におけるように、ガス軸受(16又は17)のいずれかより回転子(9)の近傍 においてより精密な許容度で嵌め合わされるように設計され、かつそれと軸受と の間に設置されたベアリングガス排気ボート(27)を存している。この場合、 ベアリングガスは当然に、ベアリングガス排気ボート(27)を介して排気され 、かつドライブガスは、ドライブガス排気ポート(28)を介して排気される。 このため、回転子(9)の長さにわたる温度変化は、固体試料(21)から離れ た領域に限られることになる。 サンプルガスのさらなる側面は、軸受手段又は回転手段のいずれかを最大限に活 用するのに必要な圧力より低い圧力で供給されてもよいということである。サン プルガスを低い圧力で供給することによって、スピン機構(1)への接続が容易 にされるだけでなく、サンプルガスに対する回転子(9)の摩擦が最小限にされ る。固体試料(21)の温度を制御するためにより低い圧力及びより低いガス供 給量を利用し、かつこの温度を固体試料(21)の領域のみに限ることの実際の 効果は、必要なエネルギー及びそのようなエネルギーを供給するコストの両方を 最小限にするということである。この効果は、試料が一150°Cで3日間も流 されるかもしれないということを考慮すると、実際には非常に重要である。 FIG、5Aないし5Cを参照して、本発明のさらなる側面を理解することがで きる。図に示されるように、スピンガスのうちいずれか又は両方の温度を制御す ることによって固体試料(21)の温度を制御する先行技術の装置では、温度が 正確に感知されずかつ温度分布が不均一になった。これらの効果の各々は、先に 述べたHaWの記事に詳細に説明されている。温度が正確に感知されないことに 関しては、試料の温度のセンサは、実際には、先行技術の装置では供給されるス ピンガスの温度センサであるということを理解すべきである。磁気共鳴放射は固 体試料(21)に非常に近接して検出されなければならないので、かつ温度を感 知するのに使用されるセンサの電子装置は含まれるこの及び他の信号を妨害する ので、典型的には、温度センサは固体試料(21)からある距離の所に置かれな ければならない。Hawの記事において説明されているように、この結果、一部 にはジュール−トムソンの冷却及び他の効果のために、温度が正確に評価されな い。特にベアリングガスの温度がドライブガスの温度に等しくないとき生じる混 合はまた、実際の固体試料の温度と感知された温度との間の差を大きくすること になり、かつ推定誤差をより大きくすることになる。Hawの記事において説明 されているように、これらの変化の結果、試料の実際の温度は感知される温度と ほぼ35°Cはとも異なることがある。本発明におけるサンプルガスのスピンガ スからの分離は、明らかにこのような不安定な状態を最小限にする。 先行技術の装置における感温の不正確さに加えて、固体試料(21)内に温度勾 配も存在した。Hawの記事において説明されているように、この温度勾配は、 非常に望ましくなかった。FIG、5Aないし5C及びFIG、7Aないし7D を参照して、この温度勾配の影響は、代表信号(representative  signal)に対する温度の影響を見ることによって、最もよく理解するこ とができる。FIG。 5Aは、回転子(9)内の温度を、回転子の軸に沿った位置の関数として載せて いる。グラフでは、この位置は、先行技術のシステムではFTG、5Bに示され 、かつ本発明ではFIG、5Cに示される。図示のように、FIG、5Bに示さ れる回転子(9)を駆動するために可変温度の空気を使用した結果、固体試料( 21)内で温度変化が生じる。FTG、5Cに示されるように回転子(9)の固 体試料(21)内の温度にある変化も存在するが、この変化は十分に減じられる 。さらなる側面は、先行技術における固体試料(21)内の望ましい温度を達成 するために、スピンガスの温度は適切な回転のための最適温度と実質的に異なる 必要があるかもしれないということである。先行技術及び本発明におけるスピン ガスの温度の差は、FIG、5Aにグラフで示され、かつ先に述べたように、与 えられた温度に対する回転速度に実質的に強い影響を与える。 FIG、7AないしFIG、7DならびにFIG、6A及びFIG、6Bを参照 して、これらの温度勾配に対する影響をよりよく理解することかできる。FIG 、6A及びFIG、6Bでは、先行技術の試料に対する最低及び最高温度が、T 1及びT2として記載され、本発明ではT3及びT4として記載される。FIG 、7A及び7Bでは、種々の温度での代表信号が示される。図に見られるように 、信号のずれは、温度が変化するにつれて生じる。この信号のずれは、本来、あ る信号の水平軸に沿ったずれである。 FIG、7Aないし7Dを参照して、先行技術においても存在したと思われる、 固体試料(21)内に一つ以上の温度が存在することの影響を見ることができる 。FIG、7Cでは、先行技術は、本来、FIG、7Aに示されるのと類似の信 号を示すが、それは実際には二つの異なる温度の平均である。微細な特長が信号 に存在することがあり、かつそれは分析されている材料の特徴を理解する際に根 本的に重要でありうるので、温度のずれの影響の結果、先行技術では、FIG、 7Cに示される信号の特長を隠してしまう。本発明は、存在するであろう温度勾 配の大部分を分離しかつ固体試料(21)から離れた領域に閉じ込めることによ って、このような困難を避けることかできる。従って、代表信号の優れた特長を 感知するのに必要な解決がなされつる。というのは固体試料(21)のすべての 部分は、一つの均一な温度に非常に近くなるからである。 本発明がこの温度勾配問題を克服する程度をさらに理解する際に、回転子の実際 の温度をその中心軸に沿った位置の関数として評価することか役立つ。FIG、 5Aないし5Cを参照して、先行技術に対して評価される影響か、本発明に対し て評価される影響と比較して示される。試料の温度がスピンガスの一つ又は両方 を介して制御される先行技術の装置において示されるように、温度変化は回転子 (9)の中心軸全体を通じて存在するのが見られる。回転子(9)の端部では、 ベアリングガス及びドライブガスの両方が供給されるので、この近傍での回転子 の温度は、おおよそ所望の温度で固体試料(21)を維持する必要があるもので ある。従って、この領域での回転子(9)の温度は、回転子の最適な回転を生ず るのに必要な最適な温度ではないかもしれない。先行技術を表す曲線から見られ るように、温度は、回転子(9)の中心軸に沿って絶えず変化する。 このため、固体試料(21)内に温度勾配か生じる。試料内に存在する温度勾配 を最小限にしようという努力がなされてきたが、そのような努力は、必要な程度 まではうまくいかなかった。本発明では、本発明を表す曲線上に示されるように 、回転子の端部の温度が、回転子(9)の最もよい回転のために最大限に活用さ れるかもしれないということか見られるだけでなく、温度勾配は固体試料(21 )の領域から離れて大きく制限されるのが見られる。このような温度勾配の閉じ 込めは、それによって固体試料(21)の温度の制御に依存しなくなるので、本 発明にとって根本的に重要である。 本発明の別の特徴は、種々のガスがスピン機構(1)に供給される方法である。 FIG、3及びFIG、4を参照して見られるように、ベアリングガス及びドラ イブガスの両方は、プローブ(2)の一方側に供給され、かつそのサンプルガス はプローブ(2)の他方側に供給される。このことは、サンプルガスの温度の極 端な影響を、プローブ(2)の端側に分離するという実際的な結果を与える。そ うすることによって、これらの影響(それらは電子装置、封止された取付具、及 び伸縮性のチューブに対する影響を含むことがある)か分離される。プローブ( 2)の固定端部(7)は取付リング(33)を介して装着されるように設計され るので、それは、試料を変化させるか又は一連の実験を行う時、絶えず取り外さ れかつ交換される必要がない。サンプルガス供給管路(4)を固定端部(7)を 介して供給することは、他の設計に固有の付随する困難及び時間を浪費する待機 期間を避ける。逆に、ベアリングガス供給管路(6)及びドライブガス供給管路 (5)の両方をプローブ(2)の移動可能な端部(8)を介して設けることは、 実験中のプローブ(2)の操作を容易にし、かつまた一つのガスから他のガスへ のいかなる温度の伝達をも分離する。先に述べたように任意のスピンガスが室温 で供給されるので、このことは重要である。当然、この特性は、本発明の他の側 面をもってかつそれなしに達成されうる。好ましい実施例のさらなる特性は、そ れが排気ガスを結合して取扱いを容易にするという能力が与えられるということ である。ガスは異なる圧力及び温度で供給されるので、すべてのガスを結合して 一つの通路に入れることは、それらの混合を容易にし、よって排気ガスをスピン 機構(1)からダクトで送る際の温度又は圧力における極端を避ける。FIG、 3に示されるように、排気ガスは、接合点(29)で容易に結合される。次に、 結合された排気ガスは、別の排気管内を又は単に、図示されるプローブ(2)内 の残りの空間を介して、運び去られる。 極端な状態を排除するという結果を達成する際に、排気管すなわちダクトの断面 積は、すべての他のガス供給管路の断面積の和と少なくとも同じであるべきであ ると思われる。FIG、9、すなわち接合点(29)の断面図を参照して、サン プルガス供給管路(4)の断面領域(30)は、排気ガス接合オリフィス(31 )のそれ、かつサンプルガス排気管(35)の断面よりはるかに小さく示されて いる。さらに、好ましい実施例では、プローブ(2)の固定端部(7)の残りの 内部領域全体は、排気ガスをスピン機構(1)からダクトで送るために用いられ る。好ましい実施例では、サンプルガス排気管(14)は、サンプルガスの接合 点(29)への排気を直接ダクトで送るのに利用される。好ましい実施例では、 サンプルガスは比較的低い圧力で供給されるので、このことは、サンプルガスを ベアリングガス及びドライブガスの両方のより高い圧力環境から分離し、ついに はそのようなガスが結合され、かつ接合点(29)の先に存在するより大きな断 面領域によって影響を及ぼされる。当然、この一般的な技術の他の変更は、利用 される特定の設計によっては可能である。 以上の説明及びそれに続くクレームは、本発明の好ましい実施例を説明している 。特にクレームに関しては、その本質から逸脱することなく本発明を変更しても よいということを理解すべきである。 この点に関して、そのような変更はなお本発明の範囲内にあるよう意図されてい る。行ってもよい本発明に対するあらゆる可能な修正を説明しかつ特許請求の範 囲に記載するのは全く実際的ではない。 そのような修正は、その程度まで本発明の本質を利用しており、その修正の各々 は、当然この特許に包含される広い保護内にあるだろう。このことは、基本的な 概念及び理解が根底にあるので、本発明に対して特に事実である。 Fig、1 Fig、2 特表平4−504308 (8) Fig、3 Fig、4 Fig、5A Fig、6A Fig、6B 周波数 周波数 F i g、7CF i g、7D 周波数 周波数 Fig、8 F i g、 9 国際調査報告 1+−市−1r!−NIシ・6・番^峠bCal中””PCT/US90101 985国際調査報告 US 9001985 SA 36284

Claims (36)

    【特許請求の範囲】
  1. 1.可変温度固体磁気共鳴分光を行う方法であって、a.固体試料を回転子に置 き、 b.前記回転子を磁界内に設置し、 c.前記回転子を、少なくとも一つのスピンガスの作用によってスピンさせ、 d.前記固体試料の温度に影響を与えるため前記回転子を取り囲むガス間に温度 勾配を作り、 e.前記温度勾配を、前記固体試料から離れた回転子の領域に閉じ込め、かつ f.前記試料の磁気共鳴放射を検知する工程を含む、方法。
  2. 2.前記固体試料の温度を、前記スピンガスと無関係に制御する工程をさらに含 む、請求項1記載の可変温度固体磁気共鳴分光を行う方法。
  3. 3.前記スピンガスが、ドライブガス及びベアリングガスを含む、請求項2記載 の可変温度固体磁気共鳴分光を行う方法。
  4. 4.前記固体試料の温度を制御する前記工程は、前記試料を別のサンプルガスに さらすことを含む、請求項3記載の可変温度固体磁気共鳴分光を行う方法。
  5. 5.温度勾配を閉じ込める前記工程は、前記固体試料を含む回転子の領域を、回 転子の他の領域から絶縁する工程を含む、請求項4記載の可変温度固体磁気共鳴 分光を行う方法。
  6. 6.前記絶縁する工程が、スピンガスが実質的に前記回転子の近傍のサンプルガ スと混ざるという可能性を妨げる工程を含む、請求項5記載の可変温度固体磁気 共鳴分光を行う方法。
  7. 7.前記妨げる工程が、回転子の周囲にかっそれに近接して環状の固定子シール を設置することを含む、請求項6記載の可変温度固体磁気共鳴分光を行う方法。
  8. 8.回転子を絶縁する前記工程が、固体試料を含む回転子の領域から前記スピン ガスを排気する工程を含む、請求項5記載の可変温度固体磁気共鳴分光を行う方 法。
  9. 9.回転子を絶縁する前記工程が、 a.固体試料を含む回転子の領域から前記スピンガスを排気し、かつ b.絶縁体を回転子に設ける工程をさらに含む、請求項7記載の可変温度固体磁 気共鳴分光を行う方法。
  10. 10.前記スピンガスはドライブガス及びベアリングガスを含み、かつ前記絶縁 工程は、前記サンプルガスの圧力を前記サンプルガスに隣接するスピンガスの圧 力より大きくなるように設定する工程をさらに含む、請求項8記載の可変温度固 体磁気共鳴分光を行う方法。
  11. 11.前記ベアリングガスは前記サンプルガスに隣接する、請求項10記載の可 変温度固体磁気共鳴分光を行う方法。
  12. 12.可変温度固体磁気共鳴分光を行う方法であって、a.固体試料を回転子に 置き、 b.前記回転子を、取り外し可能な端部を有するプローブ内の磁界に設置し、 c.前記回転子を、少なくとも一つのスピンガスの作用によって回転させ、 d.前記回転子を取り囲むガス間に温度勾配を作り、サンプルガスの作用によっ て前記固体試料の温度に影響を与え、e.前記スピンガス及び前記サンプルガス が回転子に供給される方向を分離し、かつ f.前記試料の磁気共鳴放射を検知する工程を含む、方法。
  13. 13.前記スピンガスが、プローブの前記取り外し可能な端部を介して供給され る、請求項12記載の可変温度固体磁気共鳴分光を行う方法。
  14. 14.前記スピンガス及び前記サンプルガスが回転子に供給される方向を分離す る工程をさらに含む、請求項4、7又は11記載の可変温度固体磁気共鳴分光を 行う方法。
  15. 15.回転子は取り外し可能な端部を有するプローブ内に設置され、かつ前記ス ピンガスは前記プローブの取り外し可能な端部を介して供給される、請求項14 記載の可変温度固体磁気共鳴分光を行う方法。
  16. 16.前記供給されるガスの各々は前記固定子から排気され、かつ前記排気ガス を前記固定子の近傍の排気管に結合する工程をさらに含む、請求項1、4、7又 は11記載の可変温度固体磁気共鳴分光を行う方法。
  17. 17.前記排気管は比較的大きい断面積を有する、請求項16記載の可変温度固 体磁気共鳴分光を行う方法。
  18. 18.前記供給されるガスの各々は前記固定子から排気され、かつ前記排気ガス を結合して前記固定子の近傍の排気管に入れる工程をさらに含む、請求項12記 載の可変温度固体磁気共鳴分光を行う方法。
  19. 19.前記排気管は比較的大きい断面積を有する、請求項18記載の可変温度固 体磁気共鳴分光を行う方法。
  20. 20.前記サンプルガスはある断面積を有するサンプルガス供給管路を介して供 給され、かつ排気管の前記断面積はすべてのガス供給管路の断面積の和と少なく とも同じである、請求項19記載の可変温度固体磁気共鳴分光を行う方法。
  21. 21.固体磁気共鳴分光を行う可変温度試料スピン機構であって、a.固体試料 を含むように設計された回転子と、b.前記回転子を取り囲み、かつ磁界内に含 まれるべき固定子ハウジングと、 c.前記回転子をスピンさせる手段とを備え、前記スピン手段は、前記回転子に 対して少なくとも一つのスピンガスを供給し、及び d.前記固体試料の温度を制御する手段をさらに備え、前記制御手段は前記回転 子をスピンさせる手段から独立している、機構。
  22. 22.前記スピンガスはドライブガス及びベアリングガスを含む、請求項21記 載の固体磁気共鳴分光を行う可変温度試料スピン機構。
  23. 23.前記制御手段は、前記スピンガスとは別のサンプルガスを含む、請求項2 2記載の固体磁気共鳴分光を行う可変温度試料スピン機構。
  24. 24.前記サンプルガスを前記スピンガスから絶縁する手段をさらに備える、請 求項23記載の固体磁気共鳴分光を行う可変温度試料スピン機構。
  25. 25.前記絶縁手段は、前記回転子の周囲のかつそれに近接した環状の固定子シ ールを備える、請求項24記載の固体磁気共鳴分光を行う可変温度試料スピン機 構。
  26. 26.前記絶縁手段は、スピンガスを前記固体試料から引き離すように設置され た少なくとも一つのダクトを備える、請求項24記載の固体磁気共鳴分光を行う 可変温度試料スピン機構。
  27. 27.前記絶縁手段は、前記サンプルガス及び前記スピンガスの相対圧力を調節 する少なくとも一つの圧力弁を備える、請求項24記載の固体磁気共鳴分光を行 う可変温度試料スピン機構。
  28. 28.前記絶縁手段は、 a.前記回転子の周囲のかつそれに近接した固定子シール、b.スピンガスを前 記固体試料から引き離すように設置された少なくとも一つのダクト、及び c.前記サンプルガス及び前記スピンガスの相対圧力を調節する少なくとも一つ の圧力弁を備える、請求項24記載の固体磁気共鳴分光を行う可変温度試料スピ ン機構。
  29. 29.スピンガスは前記サンプルガスに隣接し、かつ前記隣接するスピンガスの 圧力は前記サンプルガスの圧力より低い、請求項27記載の固体磁気共鳴分光を 行う可変温度試料スピン機構。
  30. 30.前記隣接するスピンガスはベアリングガスである、請求項29記載の固体 磁気共鳴分光を行う可変温度試料スピン機構。
  31. 31.前記サンプルガスに鱗接する前記スピンガスはドライブガスである、請求 項29記載の固体磁気共鳴分光を行う可変温度試料スピン機構。
  32. 32.前記サンプルガス及び前記スピンガスは、回転子の近傍で、それぞれ反対 の方向から供給される、請求項23、25又は30記載の固体磁気共鳴分光を行 う可変温度試料スピン機構。
  33. 33.前記回転子は取り外し可能な端部を有するプローブ内に設置され、かつ前 記スピンガスはプローブの前記取り外し可能な端部を介して供給される、請求項 32記載の固体磁気共鳴分光を行う可変温度試料スピン機構。
  34. 34.少なくとも二つの排気ガスを結合するようにかつ排気ガスを供給するよう に接続された排気接合点をさらに備える、請求項21、23、25又は30記載 の固体磁気共鳴分光を行う可変温度試料スピン機構。
  35. 35.前記排気管は比較的大きい断面積を有する、請求項34記載の固体磁気共 鳴分光を行う可変温度試料スピン機構。
  36. 36.前記ガスのすべては各々がある断面積を有するガス供給管路を介して供給 され、かつ排気管の前記断面積は前記供給管路のすべての断面積の和と少なくと も同じである、請求項35記載の固体磁気共鳴分光を行う可変温度試料スピン機 構。
JP2506260A 1989-04-14 1990-04-12 可変温度固体磁気共鳴分光を行うための方法及び装置 Expired - Lifetime JPH087168B2 (ja)

Applications Claiming Priority (3)

Application Number Priority Date Filing Date Title
US339,053 1989-04-14
US07/339,053 US4940942A (en) 1989-04-14 1989-04-14 Method and apparatus for conducting variable-temperature solid state magnetic resonance spectroscopy
PCT/US1990/001985 WO1990013046A1 (en) 1989-04-14 1990-04-12 Method and apparatus for conducting variable-temperature solid state magnetic resonance spectroscopy

Publications (2)

Publication Number Publication Date
JPH04504308A true JPH04504308A (ja) 1992-07-30
JPH087168B2 JPH087168B2 (ja) 1996-01-29

Family

ID=23327284

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP2506260A Expired - Lifetime JPH087168B2 (ja) 1989-04-14 1990-04-12 可変温度固体磁気共鳴分光を行うための方法及び装置

Country Status (9)

Country Link
US (1) US4940942A (ja)
EP (1) EP0467963B1 (ja)
JP (1) JPH087168B2 (ja)
AT (1) ATE148235T1 (ja)
AU (1) AU5439090A (ja)
DE (1) DE69029800T2 (ja)
DK (1) DK0467963T3 (ja)
ES (1) ES2099711T3 (ja)
WO (1) WO1990013046A1 (ja)

Cited By (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2011529562A (ja) * 2007-07-19 2011-12-08 バリアン・インコーポレイテッド 中央に供給され径方向外側へと流れる気体を利用したロータ駆動装置および方法
JP2013238487A (ja) * 2012-05-15 2013-11-28 Jeol Resonance Inc Nmr用試料管およびnmr装置
DE102016225559A1 (de) 2015-12-21 2017-06-22 Jeol Ltd. Kernspinresonanz-messvorrichtung und verfahren zum behandeln von abgas
JP2017116322A (ja) * 2015-12-22 2017-06-29 日本電子株式会社 Nmr測定用スピナ装置
JP2018081079A (ja) * 2016-09-28 2018-05-24 ブルーカー バイオスピン ゲゼルシヤフト ミツト ベシユレンクテル ハフツングBruker BioSpin GmbH Nmr−masロータの改善された温度制御

Families Citing this family (29)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
FR2662253B1 (fr) * 1990-05-15 1994-04-29 Sadis Bruker Spectrospin Ensemble de conditionnement de l'echantillon pour mesures de resonance magnetique nucleaire a hautes temperatures.
US5122746A (en) * 1990-06-12 1992-06-16 Gas Research Institute Hydrocarbon gas measurements using nuclear magnetic resonance
DE4018734A1 (de) * 1990-06-12 1991-12-19 Spectrospin Ag Probentemperiervorrichtung
US5202633A (en) * 1990-11-01 1993-04-13 Doty Scientific, Inc. High temperature nmr sample spinner
US5260657A (en) * 1992-03-26 1993-11-09 Otsuka Electronics (U.S.A.) Inc. Magnetic resonance spectroscopy sample spinning apparatus with mechanical bearing
US5289130A (en) * 1992-07-31 1994-02-22 Doty Scientific Inc. NMR sample rotor cooling technique
US5408181A (en) * 1993-08-30 1995-04-18 Auburn International, Inc. NMR system for measuring polymer properties
US6064398A (en) * 1993-09-10 2000-05-16 Geovector Corporation Electro-optic vision systems
AU7722194A (en) * 1993-09-23 1995-04-10 Auburn International, Inc. Nmr on-line viscometer for liquids or polymer melts
US6804726B1 (en) * 1996-05-22 2004-10-12 Geovector Corporation Method and apparatus for controlling electrical devices in response to sensed conditions
US6320384B1 (en) 1996-12-23 2001-11-20 David F. Doty Thermal buffering of cross-coils in high-power NMR decoupling
US6054857A (en) * 1997-03-18 2000-04-25 Doty Scientific, Inc. NMR MAS sealing sample cells and methods
US7075303B2 (en) * 2003-07-30 2006-07-11 Syracuse University Polymeric NMR sample tubes and method for using
US7170292B2 (en) * 2004-10-20 2007-01-30 Doty Scientific, Inc. NMR MAS inflow bernoulli bearing
US7151374B2 (en) * 2005-01-12 2006-12-19 Doty Scientific, Inc. NMR MAS probe with cryogenically cooled critical circuit components
US7282919B2 (en) * 2005-02-10 2007-10-16 Doty Scientific, Inc. NMR CryoMAS probe for high-field wide-bore magnets
WO2007003218A1 (en) * 2005-07-05 2007-01-11 Commissariat A L'energie Atomique Apparatus for high-resolution nmr spectroscopy and/or imaging with an improved filling factor and rf field amplitude
WO2008070430A1 (en) * 2006-12-08 2008-06-12 Doty Scientific, Inc. Improved nmr cryomas probe for high-field wide-bore magnets
CA2851252C (en) * 2011-10-04 2021-02-23 Pressure Biosciences, Inc. High pressure sample containment system for electromagnetic measurements
JP5953633B2 (ja) * 2012-10-09 2016-07-20 日本電子株式会社 Nmr測定用スピナ
US9062904B2 (en) 2012-10-23 2015-06-23 Doty Scientific, Inc. Stabilizing control of a saturated cold gas stream
FR3000553B1 (fr) * 2012-12-27 2016-02-19 Commissariat Energie Atomique Sonde, dispositif et procede d'analyse par resonnance magnetique nucleaire
FR3000554B1 (fr) 2012-12-27 2015-03-13 Commissariat Energie Atomique Dispositif d'analyse par resonance magnetique
DE102017220707B4 (de) 2017-11-20 2019-05-29 Bruker Biospin Ag MAS-NMR-Probenkopfanordnung mit auswechselbarem Stator
DE102017220709B4 (de) * 2017-11-20 2019-05-29 Bruker Biospin Ag MAS-NMR-Rotorsystem mit verbesserter Raumnutzung
DE102019202001B3 (de) * 2019-02-14 2020-06-25 Bruker Biospin Gmbh MAS-Probenkopf mit thermisch isolierter Probenkammer
JP7583008B2 (ja) 2022-11-08 2024-11-13 日本電子株式会社 Mas装置
DE102023202880B3 (de) * 2023-03-29 2024-07-18 Bruker Biospin Gmbh Verwendung Funktionsspezifischer Gase in einer MAS-Mikrogasturbine für die Festkörper NMR
WO2025046415A1 (en) 2023-09-01 2025-03-06 Doty Scientific Inc. Nmr probe for efficient mas-dnp operation at ultra-low temperatures

Family Cites Families (12)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS52116285A (en) * 1976-03-26 1977-09-29 Hitachi Ltd Nuclear magnetic resonator probe
US4088944A (en) * 1976-10-04 1978-05-09 Varian Associates, Inc. NMR Spectrometer employing self centering turbine
SU765724A1 (ru) * 1977-06-03 1980-09-23 Институт Кибернетики Ан Эстонской Сср Датчик сигналов дерного магнитного резонанса
US4266194A (en) * 1979-07-23 1981-05-05 Varian Associates, Inc. Sensor for VT probes
US4301410A (en) * 1979-09-28 1981-11-17 International Business Machines Corporation Spin imaging in solids using synchronously rotating field gradients and samples
JPS5712463A (en) * 1980-06-25 1982-01-22 Nippon Gakki Seizo Kk Tape reproducing device
US4306878A (en) * 1980-08-29 1981-12-22 Brown Charles E Method of selecting flame retardants for polymers
US4456882A (en) * 1982-01-04 1984-06-26 University Of South Carolina High speed cylindrical nuclear magnetic resonance (NMR) sample spinner
US4511841A (en) * 1982-06-17 1985-04-16 Chemagnetics, Inc. Method and apparatus for high speed magic angle spinning
US4510450A (en) * 1982-09-28 1985-04-09 The Medical College Of Wisconsin, Inc. Apparatus and assay method for the quantitative determination of mineral content in bone
US4587492A (en) * 1984-03-02 1986-05-06 Varian Associates, Inc. Thermal barrier for variable temperature NMR
JP5712463B2 (ja) 2009-02-19 2015-05-07 日本電気株式会社 磁気テープ装置

Cited By (7)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2011529562A (ja) * 2007-07-19 2011-12-08 バリアン・インコーポレイテッド 中央に供給され径方向外側へと流れる気体を利用したロータ駆動装置および方法
JP2013238487A (ja) * 2012-05-15 2013-11-28 Jeol Resonance Inc Nmr用試料管およびnmr装置
DE102016225559A1 (de) 2015-12-21 2017-06-22 Jeol Ltd. Kernspinresonanz-messvorrichtung und verfahren zum behandeln von abgas
US10241064B2 (en) 2015-12-21 2019-03-26 Jeol Ltd. Nuclear magnetic resonance measurement apparatus having an exhaust gas processing mechanism and method for processing exhaust gas in a nuclear magnetic resonance measurement apparatus
JP2017116322A (ja) * 2015-12-22 2017-06-29 日本電子株式会社 Nmr測定用スピナ装置
JP2018081079A (ja) * 2016-09-28 2018-05-24 ブルーカー バイオスピン ゲゼルシヤフト ミツト ベシユレンクテル ハフツングBruker BioSpin GmbH Nmr−masロータの改善された温度制御
US10459044B2 (en) 2016-09-28 2019-10-29 Bruker Biospin Gmbh Temperature control of an NMR-MAS rotor

Also Published As

Publication number Publication date
DE69029800T2 (de) 1997-06-05
DK0467963T3 (da) 1997-02-10
ATE148235T1 (de) 1997-02-15
WO1990013046A1 (en) 1990-11-01
US4940942A (en) 1990-07-10
AU5439090A (en) 1990-11-16
EP0467963B1 (en) 1997-01-22
ES2099711T3 (es) 1997-06-01
DE69029800D1 (de) 1997-03-06
JPH087168B2 (ja) 1996-01-29
EP0467963A1 (en) 1992-01-29

Similar Documents

Publication Publication Date Title
JPH04504308A (ja) 可変温度固体磁気共鳴分光を行うための方法及び装置
Basu et al. Wide temperature range IR spectroscopy cell for studies of adsorption and desorption on high area solids
US5270266A (en) Method of adjusting the temperature of a semiconductor wafer
EP2052248B1 (en) Devices for circulating air
EP2404170B1 (en) System and method for a gas chromatograph to mass spectrometer interface
US5754048A (en) Method and apparatus for precisely controlling the periodic motion of an object
Heyrman et al. Improvements and new capabilities for the multiple Knudsen cell device used in high‐temperature mass spectrometry
JPS63152845A (ja) 液体クロマトグラフィー/質量分析計用インターフェース
EP0175467A1 (en) Gas chromatograph/mass spectrometer interface
US6202439B1 (en) Dilution refrigerator
Ziemann et al. Model of bias sputtering in a dc‐triode configuration applied to the production of Pd films
US4877584A (en) Temperature programmed spectroscopy techniques
Keck et al. UHV‐compatible reaction cell for combined high‐and low‐pressure studies of surface reactions
Komiya et al. Direct‐molecular‐beam method for mass selective outgassing rate measurement
US20070045559A1 (en) Method of operating liquid in the vacuum or low-pressure environment and observing the operation and device for the operation and observation
Meyer Residual gas analysis studies during sputtering of reactive metals
JPH034165A (ja) ガスクロマトグラフ・カセット
US8043565B1 (en) Analytical instrumentation and processes
Chambers et al. Chemical identification of individual surface atoms in the atom probe
EP1722394A2 (en) Method of operating liquid in the vacuum or low-pressure environment and observing the operation and device for the operation and observation
Lo et al. Mössbauer characterization of reactively sputtered iron nitride films
Gogol Rate controlling and composition analysis of Si/Al–Si processes by electron impact emission spectroscopy (EIES)
Huber et al. Validity of mass spectrometric measurements at pressures exceeding 10− 4 mbar
Hengevoss et al. Cryogenically Pumped Coating Plant for Thin-Film Production under Clean Vacuum Condition
Denton Differentially Pumped Ion Nitriding Furnace

Legal Events

Date Code Title Description
R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20090129

Year of fee payment: 13

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20090129

Year of fee payment: 13

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20100129

Year of fee payment: 14

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20100129

Year of fee payment: 14

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20110129

Year of fee payment: 15

EXPY Cancellation because of completion of term
FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20110129

Year of fee payment: 15