JPH0450677A - Method for measuring components mounted on printed circuit board - Google Patents
Method for measuring components mounted on printed circuit boardInfo
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Abstract
Description
【発明の詳細な説明】
(産業上の利用分野)
本発明は、プリント基板上の実装部品が正しく実装され
ているか、不良部品が実装されていないか、隣接゛する
測定点間にショート・オープンしている箇所がないか等
の測定を行うプリント基板の実装部品測定方法に関する
ものである。Detailed Description of the Invention (Industrial Application Field) The present invention is used to check whether components mounted on a printed circuit board are correctly mounted, whether defective components are mounted, or whether there is a short open between adjacent measurement points. The present invention relates to a method for measuring components mounted on a printed circuit board, which measures whether or not there are any parts that are damaged.
(従来の技術)
従来、プリント基板上の抵抗、コンデンサ、コイル、ダ
イオード、トランジスタ等の実装部品の測定は、1部品
ずつプローブを移動させてその都度測定を繰り返すこと
により行っていた。(Prior Art) Conventionally, measurements of components mounted on a printed circuit board, such as resistors, capacitors, coils, diodes, and transistors, have been carried out by moving a probe one component at a time and repeating the measurement each time.
(発明が解決しようとする課題)
しかしながら、このような従来の測定では、測定部品の
数だけプローブビンが移動しなければ、1枚のプリント
基板の検査が終了しないので、測定に時間を要する問題
点があった9
本発明の目的は、能率よくプリント基板上の実装部品の
測定を行うことができるプリント基板の実装部品測定方
法を提出することにある。(Problem to be Solved by the Invention) However, in such conventional measurement, the inspection of one printed circuit board is not completed unless the probe bin moves by the number of parts to be measured, so there is a problem that measurement takes time. An object of the present invention is to provide a method for measuring components mounted on a printed circuit board that can efficiently measure components mounted on a printed circuit board.
(課題を解決するための手段)
上記の目的を達成するための本発明の詳細な説明すると
、本発明に係るプリント基板の実装部品の測定方法は、
プリント基板を第1〜第nの測定エリアに分割し、該プ
リント基板を搬送するコンベアの移動方向に沿って前記
第1〜第nの測定エリアの測定のために専用の第1〜第
nの移動プローブユニットを配置し、前記プリント基板
の前記第1の測定エリアが前記第1の移動プローブユニ
ットに対向した位置で該第1の測定エリアの実装部品を
前記第1の移動プローブユニットで測定し、前記プリン
ト基板が前記コンベアで移動されて前記第2の測定エリ
アが前記第2の移動プローブユニットに対向した位置で
該第2の測定エリアの実装部品を前記第2の移動プロー
ブユニットで測定し1、これらの測定を順次行い、全測
定エリアの実装部品の測定を行うことを特徴とする。(Means for Solving the Problems) To explain in detail the present invention for achieving the above object, the method for measuring components mounted on a printed circuit board according to the present invention includes:
The printed circuit board is divided into first to nth measurement areas, and the first to nth measurement areas are dedicated for measuring the first to nth measurement areas along the moving direction of the conveyor that conveys the printed circuit board. A movable probe unit is arranged, and the mounted component in the first measurement area is measured with the first movable probe unit at a position where the first measurement area of the printed circuit board faces the first movable probe unit. , at a position where the printed circuit board is moved by the conveyor and the second measurement area faces the second moving probe unit, the mounted component in the second measurement area is measured with the second moving probe unit; 1. The method is characterized in that these measurements are performed sequentially, and the mounted components in the entire measurement area are measured.
(作用)
このようにプリント基板を複数の測定エリアに分割し、
該プリント基板をコンベアで移動させて各測定エリアが
そのエリアの測定のために専用に設けられている移動プ
ローブユニットに対応したときに当該測定エリアの各実
装部品の測定をそれぞれ行うようにすると、複数のプリ
ント基板を位置をずらせて同時に測定することができる
。例えば3枚のプリント基板を、第1番目のプリント基
板の第3の測定エリアを第3の移動プローブユニットで
測定しているときに、第2番目のプリン1へ基板の第2
の測定エリアを第2の移動プローブユニットで測定させ
、第3番目のプリント基板の第1の測定エリアを第1の
測定エリアを第1の移動プローブユニットで測定させる
ようにすると、1枚当りの測定に要する時間をプリント
基板の分割測定エリアの数N分の1即ち1/Nに短縮す
ることができる。(Function) In this way, the printed circuit board is divided into multiple measurement areas,
When the printed circuit board is moved by a conveyor and each measurement area corresponds to a moving probe unit provided exclusively for the measurement of that area, each mounted component in the measurement area is measured, respectively. Multiple printed circuit boards can be measured at the same time by shifting their positions. For example, when measuring three printed circuit boards, the third measurement area of the first printed circuit board is being measured with the third moving probe unit.
The measurement area of the third printed circuit board is measured by the second moving probe unit, and the first measurement area of the third printed circuit board is measured by the first moving probe unit. The time required for measurement can be reduced to 1/N, that is, 1/N, the number of divided measurement areas on the printed circuit board.
(実施例)
以下、本発明の実施例を図面を参照して詳細に説明する
。(Example) Hereinafter, an example of the present invention will be described in detail with reference to the drawings.
第2図に示すように本発明では、測定しようとするプリ
ント基板1上の各実装部品2をn個、この実施例では4
個、即ち第1〜第4の測定エリア31〜34に分割する
。As shown in FIG. 2, in the present invention, there are n pieces of each mounted component 2 on the printed circuit board 1 to be measured, four in this embodiment.
, that is, into first to fourth measurement areas 31 to 34.
第1図に示すようにこのプリント基板1を搬送するコン
ベア4上には、該コンベア4の移動方向にそって、これ
ら第1〜第4の測定エリア31〜34の測定のために専
用の第1〜第4の移動プローブユニット51〜54を配
置する。各移動プローブユニット51〜54は、第3図
に示すようにX方向レール6.6上にX方向レール7.
7かX方向に移動自在に搭載され、各X方向レール77
上には移動プローブ8,8がX方向に移動自在に搭載さ
れた構造になっていて、これら移動プローブ8,8をサ
ーボモータでX、X方向に移動させて目的とする実装部
品2の半田付は部分を第4図に示すようにして測定する
ようになっている。As shown in FIG. 1, on the conveyor 4 that conveys the printed circuit board 1, along the moving direction of the conveyor 4, there is a dedicated area for measuring the first to fourth measurement areas 31 to 34. First to fourth mobile probe units 51 to 54 are arranged. Each moving probe unit 51-54 is mounted on an X-direction rail 6.6 on an X-direction rail 7.6, as shown in FIG.
It is mounted movably in the X direction, and each X direction rail 77
Moving probes 8, 8 are mounted on the top so as to be movable in the X direction, and these moving probes 8, 8 are moved in the X, X directions by a servo motor to solder the target mounted component 2. The attached portion is to be measured as shown in Figure 4.
各移動プローブユニット51〜54の測定データは、第
5図に示すように測定ユニット9に集積されるようにな
っている。また、各移動プローブユニット5、〜54に
おける各移動プローブ8の測定点への移動データは、移
動プローブ制御ユニット10から与えられるようになっ
ている。さらに、各移動プローブ8の測定条件、移動量
等のデータの管理や、測定ユニット9及び移動プローブ
制御ユニット10に逐次与えるテスト条件、移動量の指
示はコントローラー11から与えられるようになってい
る。The measurement data of each of the moving probe units 51 to 54 is accumulated in the measurement unit 9 as shown in FIG. Further, movement data of each moving probe 8 to a measurement point in each moving probe unit 5 to 54 is given from the moving probe control unit 10. Furthermore, the controller 11 manages data such as measurement conditions and movement amounts for each mobile probe 8, and sequentially provides test conditions and movement amounts to the measurement unit 9 and the mobile probe control unit 10.
次に、以上のようなボードテスターを用いた本発明によ
るプリント基板の実装部品測定方法の一例を第6図(A
)〜(D)を参照して説明する。Next, an example of a method for measuring components mounted on a printed circuit board according to the present invention using the above board tester is shown in FIG.
) to (D).
第6図(A)に示すように第1番目のプリント基板11
の最初の測定エリアである第1の測定エリア31が第1
の移動プローブユニット5.に対向する位置にコンベア
4で搬送されたときに、該コンベア4を一旦止めて該第
1の測定エリア31の各実装部品2の測定を第1の移動
プローブユニット・51で行い、測定データを測定ユニ
ット9に集積する。As shown in FIG. 6(A), the first printed circuit board 11
The first measurement area 31, which is the first measurement area of
Mobile probe unit 5. When the conveyor 4 is transported to a position opposite to the conveyor 4, the conveyor 4 is temporarily stopped and each mounted component 2 in the first measurement area 31 is measured by the first movable probe unit 51, and the measurement data is collected. It is collected in the measurement unit 9.
第1番目のプリント基板11の第1の測定エリア31の
測定が終了したら、コンベア4を駆動し、第6図(B)
に示すように該第1番目のプリント基板11の第2の測
定エリア32が第2の移動70−ブユニツト52に対向
し、且つ第2番目のプリント基板12の第1の測定エリ
ア31が第1の移動プローブユニット51に対向する状
態になった時コンベア4の移動を停止させ、該第1番目
のプリント基板11の第2の測定エリア32の各実装部
品2の測定を第2の移動プローブユニット52で行い、
且つ第2番目のプリント基板12の第1の測定エリア3
1の各実装部品2の測定を第1の移動プローブユニット
5、で行い、得られた各測定データを測定ユニット9に
薬槽する。When the measurement of the first measurement area 31 of the first printed circuit board 11 is completed, the conveyor 4 is driven, and as shown in FIG.
As shown in FIG. When the conveyor 4 is in a state facing the moving probe unit 51, the movement of the conveyor 4 is stopped, and the measurement of each mounted component 2 in the second measurement area 32 of the first printed circuit board 11 is carried out by the second moving probe unit. Performed at 52,
and the first measurement area 3 of the second printed circuit board 12
The first movable probe unit 5 measures each mounted component 2 in the first embodiment, and the obtained measurement data is transferred to the measurement unit 9.
第1番目のプリント基板1の第2の測定エリア32の測
定と第2番目のプリント基板1□の第1の測定エリア3
□の測定が終了したら、コンベア4を駆動し、第611
(C)に示すように該第1番目のプリント基板11の第
3の測定エリア3.が第3の移動プローブユニット5.
に対向し、且つ第2番目のプリント基板12の第2の測
定エリア32が第2の移動プローブユニット52に対向
し、且つ第3番目のプリント基板13の第1の測定エリ
ア31が第1の移動プローブユニット51に対向する状
態になったときにコンベア4の移動を停止させ、該第1
番目のプリント基板11の第3の測定エリア33の各実
装部品2の測定を第3の移動プローブユニット5.で行
い、且つ第2番目のプリント基板12の第2の測定エリ
ア32の各実装部品2の測定を第2の移動ブローツユニ
ット52で行い、且つ第3番目のプリント基板]3の第
1の測定エリア3□の各実装部品2の測定を第1の移動
プローブユニット51で行い、得られた各測定データを
測定ユニット9に集積する。Measurement of the second measurement area 32 of the first printed circuit board 1 and the first measurement area 3 of the second printed circuit board 1 □
When the measurement of □ is completed, the conveyor 4 is driven and the 611th
As shown in (C), the third measurement area 3. of the first printed circuit board 11. is the third mobile probe unit 5.
The second measurement area 32 of the second printed circuit board 12 faces the second moving probe unit 52, and the first measurement area 31 of the third printed circuit board 13 faces the first measurement area 32 of the second printed circuit board 12. When the conveyor 4 comes to face the moving probe unit 51, the movement of the conveyor 4 is stopped, and the first
The measurement of each mounted component 2 in the third measurement area 33 of the third printed circuit board 11 is carried out by the third moving probe unit 5. , and the measurement of each mounted component 2 in the second measurement area 32 of the second printed circuit board 12 is performed by the second moving parts unit 52, and The first movable probe unit 51 measures each mounted component 2 in the measurement area 3□, and the obtained measurement data is accumulated in the measurement unit 9.
次に、コンベア4を駆動し、第6図(D>に示すように
第1番目のプリント基板11のI&後の測定エリアであ
る第4の測定エリア34か第4の移動プローブユニット
54に対向し、且つ第2のプリント基板12の第3の測
定エリア33が第3の移動プローブユニット53に対向
し、且つ第3のプリント基板13の第2の測定エリア3
2が第2の移動プローブユニット52に対向し、且つ第
4番目のプリント基板14の第1の測定エリア31が第
1の移動プローブユニット51に対向する状態になった
ときにコンベア4の移動を停止させ、該第1番目のプリ
ント基板11の第4の測定エリア34の各実装部品2の
測定を第4の移動プローブユニット54で行い、且つ第
2番目のプリント基板1□の第3の測定エリア33の各
実装部品2の測定を第3の移動プローブユニット53で
行い、且つ第3番目のプリント基板13の第2の測定エ
リア32の各実装部品2の測定を第2の移動プローブユ
ニット52で行い、且つ第4番目のプリント基板14の
第1の測定エリア31の各実装部品の測定を第1の移動
プローブユニット5□で 行ない、得られた各測定デー
タを測定ユニット9に集積する。Next, the conveyor 4 is driven, and as shown in FIG. The third measurement area 33 of the second printed circuit board 12 faces the third moving probe unit 53, and the second measurement area 33 of the third printed circuit board 13 faces the third moving probe unit 53.
2 faces the second moving probe unit 52 and the first measurement area 31 of the fourth printed circuit board 14 faces the first moving probe unit 51. Then, each mounted component 2 in the fourth measurement area 34 of the first printed circuit board 11 is measured by the fourth moving probe unit 54, and a third measurement is performed on the second printed circuit board 1□. The measurement of each mounted component 2 in the area 33 is performed by the third moving probe unit 53, and the measurement of each mounted component 2 in the second measurement area 32 of the third printed circuit board 13 is performed by the second moving probe unit 52. At the same time, each mounted component in the first measurement area 31 of the fourth printed circuit board 14 is measured by the first movable probe unit 5□, and the obtained measurement data are accumulated in the measurement unit 9.
この工程で第1番目のプリント基板11は総ての測定エ
リア31〜34の測定が終了し、第2番目のプリント基
板12は、第1〜第3の測定エリア31〜33即ち3/
4の測定エリアの測定が終了し、第3番目のプリント基
板1.は第1〜第2の測定エリア31〜3□即ち2/4
の測定エリアの測定が終了し、第4番目のプリント基板
14は第1の測定エリア3I即ち1/4の測定エリアの
測定が終了する。In this step, the measurement of all the measurement areas 31 to 34 of the first printed circuit board 11 is completed, and the measurement of the second printed circuit board 12 is completed in the first to third measurement areas 31 to 33, that is, 3/3.
The measurement of the measurement area 4 is completed, and the measurement of the third printed circuit board 1. is the first to second measurement area 31 to 3□, that is, 2/4
The measurement of the measurement area of the fourth printed circuit board 14 is completed, and the measurement of the first measurement area 3I, that is, 1/4 of the measurement area of the fourth printed circuit board 14 is completed.
従って、第1番目のプリント基板11は総ての測定が終
了したので、各測定データを合せて該第1番目のプリン
ト基板11の良否の判定を行う。Therefore, since all measurements have been completed for the first printed circuit board 11, the quality of the first printed circuit board 11 is determined by combining the measurement data.
このような操作を順次繰り返して各プリント基板の測定
を行う。These operations are repeated in order to measure each printed circuit board.
上記実施例では、共通の測定ユニット9と移動プローブ
制御ユニット10とコントローラ11とを用いて測定を
行ったが、第7図に示すような測定ユニットを91〜9
4及び移動プローブ制御ユニットを10.〜104を各
移動プローブユニット51〜54に対応させて設け、且
つこれらを移動プローブユニット51〜54にそれぞれ
附属させ、共通のコントローラー11により制御するこ
ともできる。In the above embodiment, measurements were performed using the common measurement unit 9, mobile probe control unit 10, and controller 11, but the measurement units 91 to 9 as shown in FIG.
4 and the mobile probe control unit 10. 104 can be provided corresponding to each of the mobile probe units 51 to 54, and these can also be attached to the mobile probe units 51 to 54, respectively, and controlled by the common controller 11.
また、上記実施例では、各移動ブローブユニッ)5+〜
54はそれぞれ2個の移動プローブ8を用いたが、2個
以上の移動プローブ8を有する構造にすることもできる
。In addition, in the above embodiment, each movable probe unit) 5+ to
54 uses two movable probes 8, but a structure having two or more movable probes 8 is also possible.
(発明の効果)
以上説明したように本発明に係るプリント基板の実装部
品測定方法では、プリント基板を複数の測定エリアに分
割し、該プリント基板をコンベアで移動させて各測定エ
リアかそのエリアの測定のためにそれぞれ設けられてい
る移動プローブユニットに対応したときに当該測定エリ
アの各実装部品の測定をそれぞれ行うので、複数のプリ
ント基板を位置をずらせて同時に測定することができる
。このような方法により複数のプリント基板を連続的に
同時に測定すると、1枚のプリント基板の測定に要する
時間を、該プリント基板の分割測定エリアの数N分の1
、即ち1/Nに短縮することができ、能率よく測定を行
うことがてきる。(Effects of the Invention) As explained above, in the method for measuring components mounted on a printed circuit board according to the present invention, the printed circuit board is divided into a plurality of measurement areas, and the printed circuit board is moved by a conveyor to Since each mounted component in the measurement area is measured respectively when corresponding to the movable probe unit provided for measurement, a plurality of printed circuit boards can be measured at the same time by shifting their positions. When multiple printed circuit boards are measured simultaneously using this method, the time required to measure one printed circuit board is reduced to 1/N, the number of divided measurement areas on the printed circuit board.
, that is, it can be shortened to 1/N, and measurements can be carried out efficiently.
4、zi管5階
第1図は本発明に係る測定方法を実施する装置の一例を
示す側面図、第2図は本発明で測定の対象としているプ
リント基板の測定エリア分割状態を示す平面図、第3図
は本発明で用いている移動プローブユニットの一例を示
す平面図、第4図は該移動プローブユニットによるプリ
ント基板の測定状態を示す側面図、第5図は本実施例で
用いているボードテスターの構成を示すブロック図、第
6図(A)〜(D)は本実施例により各測定エリアの測
定工程を示す説明図、第7図は本発明で用いるボードテ
スターの他の例を示すブロック図である。4. 5th floor of zi tube FIG. 1 is a side view showing an example of an apparatus for carrying out the measurement method according to the present invention, and FIG. 2 is a plan view showing how the measurement area of a printed circuit board, which is the object of measurement in the present invention, is divided. , FIG. 3 is a plan view showing an example of the moving probe unit used in the present invention, FIG. 4 is a side view showing the state of measurement of a printed circuit board by the moving probe unit, and FIG. 5 is a plan view showing an example of the moving probe unit used in the present invention. 6(A) to 6(D) are explanatory diagrams showing the measurement process of each measurement area according to this embodiment. FIG. 7 is another example of the board tester used in the present invention. FIG.
1・・プリント基板、
11〜14・・・第1〜第4番目のプリント基板、2・
・・実装部品、
31〜34・・・第1〜第4の測定エリア、51〜54
・・・第1〜第4の移動プローブユニット、
6・・・X方向レール、7・・・Y方向レール、8・・
・移動プローブ、
9.91〜94・・・測定ユニット、
10.10+〜104・・・移動プローブ制御ユニット
、
11・・・コントローラ。1. Printed circuit board, 11-14... 1st to 4th printed circuit board, 2.
...Mounted components, 31-34...First to fourth measurement areas, 51-54
...first to fourth moving probe units, 6...X direction rail, 7...Y direction rail, 8...
- Moving probe, 9.91-94...Measurement unit, 10.10+-104...Moving probe control unit, 11...Controller.
Claims (1)
リント基板を搬送するコンベアの移動方向に沿って前記
第1〜第nの測定エリアの測定のために専用の第1〜第
nの移動プローブユニットを配置し、前記プリント基板
の前記第1の測定エリアが前記第1の移動プローブユニ
ットに対向した位置で該第1の測定エリアの実装部品を
前記第1の移動プローブユニットで測定し、前記プリン
ト基板が前記コンベアで移動されて前記第2の測定エリ
アが前記第2の移動プローブユニットに対向した位置で
該第2の測定エリアの実装部品を前記第2の移動プロー
ブユニットで測定し、これらの測定を順次行い、全測定
エリアの実装部品の測定を行うことを特徴とするプリン
ト基板の実装部品測定方法。The printed circuit board is divided into first to nth measurement areas, and the first to nth measurement areas are dedicated for measuring the first to nth measurement areas along the moving direction of the conveyor that conveys the printed circuit board. A movable probe unit is arranged, and the mounted component in the first measurement area is measured with the first movable probe unit at a position where the first measurement area of the printed circuit board faces the first movable probe unit. , at a position where the printed circuit board is moved by the conveyor and the second measurement area faces the second moving probe unit, the mounted component in the second measurement area is measured with the second moving probe unit; A method for measuring mounted components on a printed circuit board, characterized in that these measurements are sequentially performed to measure mounted components in all measurement areas.
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP15158590A JPH0450677A (en) | 1990-06-12 | 1990-06-12 | Method for measuring components mounted on printed circuit board |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP15158590A JPH0450677A (en) | 1990-06-12 | 1990-06-12 | Method for measuring components mounted on printed circuit board |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH0450677A true JPH0450677A (en) | 1992-02-19 |
Family
ID=15521735
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP15158590A Pending JPH0450677A (en) | 1990-06-12 | 1990-06-12 | Method for measuring components mounted on printed circuit board |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH0450677A (en) |
-
1990
- 1990-06-12 JP JP15158590A patent/JPH0450677A/en active Pending
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