JPH0450920A - 表示装置の製造方法 - Google Patents
表示装置の製造方法Info
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- JPH0450920A JPH0450920A JP15718490A JP15718490A JPH0450920A JP H0450920 A JPH0450920 A JP H0450920A JP 15718490 A JP15718490 A JP 15718490A JP 15718490 A JP15718490 A JP 15718490A JP H0450920 A JPH0450920 A JP H0450920A
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Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
〔産業上の利用分野〕
本発明は表示装置の製造方法に関し、例えば、液晶デイ
スプレィ等の表示装置の製造方法に関する。
スプレィ等の表示装置の製造方法に関する。
第2図は、従来の表示装置としてアクティブマトリック
ス液晶表示装置の一例を示す断面図である。
ス液晶表示装置の一例を示す断面図である。
従来の液晶表示装置の製造に当たっては、まず透明基板
11の一面12aに薄膜トランジスタ(以下、TPTと
表示)、画素電極等を備えたTFTアレイ基板13を用
意するとともに、透明基板14の一面12bにカラーフ
ィルタ層、共通電極等を備えたフィルタ基板15を用意
する。この様に基板の一面のみにTFTアレイ、カラー
フィルタ等を形成すると、基板に引張り又は圧縮等の応
力が加わり、その結果基板に反りが生じる。その為、そ
れぞれの面12a、12bを互いに対向させ、スペーサ
16を介して基板の反りに応じた押圧力を加えて貼り合
わせ、基板間隔を均一にしてから液晶17を注入、封止
する。更にTFTアレイ基板13、フィルタ基板15の
外側の而18a、18bに偏光膜19を設けて、第2図
に示す液晶表示装置を形成していた。
11の一面12aに薄膜トランジスタ(以下、TPTと
表示)、画素電極等を備えたTFTアレイ基板13を用
意するとともに、透明基板14の一面12bにカラーフ
ィルタ層、共通電極等を備えたフィルタ基板15を用意
する。この様に基板の一面のみにTFTアレイ、カラー
フィルタ等を形成すると、基板に引張り又は圧縮等の応
力が加わり、その結果基板に反りが生じる。その為、そ
れぞれの面12a、12bを互いに対向させ、スペーサ
16を介して基板の反りに応じた押圧力を加えて貼り合
わせ、基板間隔を均一にしてから液晶17を注入、封止
する。更にTFTアレイ基板13、フィルタ基板15の
外側の而18a、18bに偏光膜19を設けて、第2図
に示す液晶表示装置を形成していた。
しかしながら、こうした従来の製造方法では、以下のよ
うな問題点かあった。
うな問題点かあった。
即ち、表示セル間隔の均一な表示装置を得る為に、スペ
ーサを介して基板の反りに応じた強い押圧力を基板間に
加えて貼り合わせる工程か設けられていた。そのため、
基板の反りが大きいと基板同士が最初に接触した部分で
素子やスペーサ等にこの押圧力が集中し、この素子やス
ペーサ等を破壊してしまうことがあり、表示装置の表示
品質を低下させてしまうという問題があった。
ーサを介して基板の反りに応じた強い押圧力を基板間に
加えて貼り合わせる工程か設けられていた。そのため、
基板の反りが大きいと基板同士が最初に接触した部分で
素子やスペーサ等にこの押圧力が集中し、この素子やス
ペーサ等を破壊してしまうことがあり、表示装置の表示
品質を低下させてしまうという問題があった。
そこで本発明は上記したような問題を解決するためにな
されたもので、その目的とするところは、素子やスペー
サ等を破壊することなく、従来より表示品質の良い表示
装置か高歩留りで得られる方法を提供することにある。
されたもので、その目的とするところは、素子やスペー
サ等を破壊することなく、従来より表示品質の良い表示
装置か高歩留りで得られる方法を提供することにある。
本発明の表示装置の製造方法は、透明基板の一方の面に
表示素子要素を形成する工程と、上記基板の他方の面に
上記基板の反りに抗する内部応力を有する反り矯正膜を
形成する工程と、上記矯正膜を形成した基板を対向配置
する工程とを有することを特徴とするものである。
表示素子要素を形成する工程と、上記基板の他方の面に
上記基板の反りに抗する内部応力を有する反り矯正膜を
形成する工程と、上記矯正膜を形成した基板を対向配置
する工程とを有することを特徴とするものである。
本発明の表示装置の製造方法においては、透明基板の一
方の面に形成した表示用の素子要素による基板の反りを
、反りに抗する内部応力を有する反り矯正膜を基板の他
方の面に形成してこの反り矯正膜の内部応力によって矯
正させてから対向配置させる。よって、容易に基板間隔
を均一にすることができ、従来の様に表示装置を製造す
る工程で対向配置した基板間に強い押圧力を加える必要
がないので、表示用素子要素やスペーサ等を破壊するこ
とがない。従って、表示品質の低下を防げる。
方の面に形成した表示用の素子要素による基板の反りを
、反りに抗する内部応力を有する反り矯正膜を基板の他
方の面に形成してこの反り矯正膜の内部応力によって矯
正させてから対向配置させる。よって、容易に基板間隔
を均一にすることができ、従来の様に表示装置を製造す
る工程で対向配置した基板間に強い押圧力を加える必要
がないので、表示用素子要素やスペーサ等を破壊するこ
とがない。従って、表示品質の低下を防げる。
以下、図面を参照して本発明の第1の実施例を説明する
。
。
第1図は、本実施例の方法で形成されたアクティブマト
リックス液晶表示装置の一例を示す断面図であり、第2
図と同一の構成要素には同一の符号を付す。
リックス液晶表示装置の一例を示す断面図であり、第2
図と同一の構成要素には同一の符号を付す。
以下、同図に示す液晶表示装置の製造方法を説明する。
ます、TFTアレイ基板13を作成する。
この為には、透明基板11の内側の面12aにアモルフ
ァスシリコン(a−S 1)TPT、画素電極等の素子
を形成し、次にこのTFTアレイ基板13の外側の面1
8a上に、基板13の反りを矯正する圧縮又は引張りの
内部応力を有する透明絶縁膜1を形成する。透明絶縁膜
1は、例えばSiNx膜であり、例えばアンモニア(N
Ha)とシラン(SiH,)を主成分とする反応ガスを
用いた、グロー放電によるプラズマCVD法で形成され
る。膜厚は例えば、2000人から1μmの範囲であり
、基板13の反りが大きい時には、透明絶縁膜1の膜厚
を厚くする。
ァスシリコン(a−S 1)TPT、画素電極等の素子
を形成し、次にこのTFTアレイ基板13の外側の面1
8a上に、基板13の反りを矯正する圧縮又は引張りの
内部応力を有する透明絶縁膜1を形成する。透明絶縁膜
1は、例えばSiNx膜であり、例えばアンモニア(N
Ha)とシラン(SiH,)を主成分とする反応ガスを
用いた、グロー放電によるプラズマCVD法で形成され
る。膜厚は例えば、2000人から1μmの範囲であり
、基板13の反りが大きい時には、透明絶縁膜1の膜厚
を厚くする。
一方、フィルタ基板15を次の様に作成する。
即ち、透明基板14の内側の面12bにカラーフィルタ
層、共通電極等を形成し、次に、フィルタ基板15の外
側の面18b上に、基板15の反りを矯正する圧縮また
は引張りの内部応力を有する透明絶縁膜2を形成する。
層、共通電極等を形成し、次に、フィルタ基板15の外
側の面18b上に、基板15の反りを矯正する圧縮また
は引張りの内部応力を有する透明絶縁膜2を形成する。
透明絶縁膜2は、例えばSiN、膜であり、透明絶縁膜
1と同様に形成され、またその膜厚は同様の考慮に基つ
いて定められる。
1と同様に形成され、またその膜厚は同様の考慮に基つ
いて定められる。
次に、TFTアレイ基板13とフィルタ基板15を、内
側の面12a、12bが互いに対向するように、スペー
サ16を介して貼り合わせる。
側の面12a、12bが互いに対向するように、スペー
サ16を介して貼り合わせる。
更に、基板間に液晶17を注入、封止し、TFTアレイ
基板13、フィルタ基板15の透明絶縁膜1.2上に偏
光膜19を設け、これによって液晶表示装置が形成され
る。
基板13、フィルタ基板15の透明絶縁膜1.2上に偏
光膜19を設け、これによって液晶表示装置が形成され
る。
以下、透明絶縁膜1による基板13の反りの矯正作用に
ついて詳細に説明する。
ついて詳細に説明する。
第3図はプラズマCVD法により形成されるSiN、膜
のガス組成比とその内部応力との関係を示す図であり、
第4図はTFTアレイ基板13に設けられた透明絶縁膜
1を示す図である。
のガス組成比とその内部応力との関係を示す図であり、
第4図はTFTアレイ基板13に設けられた透明絶縁膜
1を示す図である。
第3図に示される様に、SiNx膜は成膜される際に主
成分として用いられる反応ガス組成比NH3/SiH4
がある一定の値即ち約3.6より小さい場合に圧縮応力
を有し、また上記一定の値より大きいと、引張応力を有
するようになることが知られている。
成分として用いられる反応ガス組成比NH3/SiH4
がある一定の値即ち約3.6より小さい場合に圧縮応力
を有し、また上記一定の値より大きいと、引張応力を有
するようになることが知られている。
そこで、外側の面18aが一様に凹型に反ったTFTア
レイ基板13(第4図(a))を矯正する場合、例えば
、NH3/5iH4= 2の反応ガス組成比で絶縁膜1
を一様に形成する。絶縁膜1は圧縮応力f1を有するの
で(第4図(b)) 、この圧縮応力f1によって基板
13の反りが矯正される。
レイ基板13(第4図(a))を矯正する場合、例えば
、NH3/5iH4= 2の反応ガス組成比で絶縁膜1
を一様に形成する。絶縁膜1は圧縮応力f1を有するの
で(第4図(b)) 、この圧縮応力f1によって基板
13の反りが矯正される。
また、外側の面18aが一様に凸型に反ったTFTアレ
イ基板13(第4図(C))を矯正する場合、例えば、
NH3/SiH,= 6の反応ガス組成比で絶縁膜1を
一様に形成する。絶縁膜1は引張応力f2を有するので
(第4図(d))、この引張応力f2によって基板13
の反りが矯正される。
イ基板13(第4図(C))を矯正する場合、例えば、
NH3/SiH,= 6の反応ガス組成比で絶縁膜1を
一様に形成する。絶縁膜1は引張応力f2を有するので
(第4図(d))、この引張応力f2によって基板13
の反りが矯正される。
透明絶縁膜2のフィルタ基板15の反り矯正作用も上記
の透明絶縁膜1と同様である。
の透明絶縁膜1と同様である。
以上の様に第1の実施例によれば、透明基板11.14
の内側の面12a、12bに素子、フィルタ層等を形成
した後に、TFTアレイ基板13、フィルタ基板15の
反りに応じた圧縮又は引張りの内部応力を有する透明絶
縁膜1.2を基板13.15の外側の面18a、18b
に適当な膜厚で一様に形成するので、絶縁膜1.2の有
する圧縮、引張応力によって基板13.15の反りを矯
正することかできる。よって反りを矯正した基板13.
15を用いて表示装置を形成することができるので、容
易に基板間隔を均一にすることができ、従来の様に対向
配置した基板間に強い押圧力を加える必要がないので、
素子、カラーフィルタ層、スペーサ16等の破壊が防げ
、従来より表示品質が向上する。
の内側の面12a、12bに素子、フィルタ層等を形成
した後に、TFTアレイ基板13、フィルタ基板15の
反りに応じた圧縮又は引張りの内部応力を有する透明絶
縁膜1.2を基板13.15の外側の面18a、18b
に適当な膜厚で一様に形成するので、絶縁膜1.2の有
する圧縮、引張応力によって基板13.15の反りを矯
正することかできる。よって反りを矯正した基板13.
15を用いて表示装置を形成することができるので、容
易に基板間隔を均一にすることができ、従来の様に対向
配置した基板間に強い押圧力を加える必要がないので、
素子、カラーフィルタ層、スペーサ16等の破壊が防げ
、従来より表示品質が向上する。
次に、本発明の第2の実施例、第3の実施例及び第4の
実施例について説明する。
実施例について説明する。
本実施例は、透明絶縁膜1.2としてTFTアレイ基板
13、フィルタ基板15の反りの態様に応じたパターン
を有するものを形成する点を特徴とする。この様なパタ
ーンの形成は、例えば、膜を一様に形成した後、エツチ
ングにより不要の部分を除去することによりなされる。
13、フィルタ基板15の反りの態様に応じたパターン
を有するものを形成する点を特徴とする。この様なパタ
ーンの形成は、例えば、膜を一様に形成した後、エツチ
ングにより不要の部分を除去することによりなされる。
第5図、第6図及び第7図はそれぞれ第2、第3及び第
4の実施例を示し、基板13の反りに方向性がある場合
、および反りの程度が基板の部分によって異なる場合の
それぞれに適した透明絶縁膜1のパターンを示したもの
である。これらの図において、第1図と同一の構成要素
には同一の符号を付しである。
4の実施例を示し、基板13の反りに方向性がある場合
、および反りの程度が基板の部分によって異なる場合の
それぞれに適した透明絶縁膜1のパターンを示したもの
である。これらの図において、第1図と同一の構成要素
には同一の符号を付しである。
まず、第2の実施例として第5図に示されるように、T
FTアレイ基板13が端辺ABから端辺DCの方向に一
様に湾曲した外側の面18aが、凹型の反りを有する場
合について説明する。この場合、基板13の外側面18
aに圧縮応力を有する透明絶縁膜1、例えばNH3/5
iH4= 2の反応ガス組成比で膜厚2000A〜1μ
mのSiNx膜を一様に成膜した後、第5図(a)に示
すように基板13の反りの程度に応じて、ホトリソエツ
チングによって端辺BCに平行なストライプ状にパター
ンニングする(同図(b))。このパターンニングの巾
によっても基板13の反りを矯正する圧縮応力の大きさ
を調整することができるので、同図(C)のように基板
13の反りが小さい場合には、細くパターンニングしく
同図(d)) 、又同図(e)のように基板13の反り
が大きい場合には、太いパターンニングを形成する(同
図(f))。
FTアレイ基板13が端辺ABから端辺DCの方向に一
様に湾曲した外側の面18aが、凹型の反りを有する場
合について説明する。この場合、基板13の外側面18
aに圧縮応力を有する透明絶縁膜1、例えばNH3/5
iH4= 2の反応ガス組成比で膜厚2000A〜1μ
mのSiNx膜を一様に成膜した後、第5図(a)に示
すように基板13の反りの程度に応じて、ホトリソエツ
チングによって端辺BCに平行なストライプ状にパター
ンニングする(同図(b))。このパターンニングの巾
によっても基板13の反りを矯正する圧縮応力の大きさ
を調整することができるので、同図(C)のように基板
13の反りが小さい場合には、細くパターンニングしく
同図(d)) 、又同図(e)のように基板13の反り
が大きい場合には、太いパターンニングを形成する(同
図(f))。
次に第3の実施例として第6図(a)に示す様に、湾曲
の方向が基板の端辺に対して平行ではなく、ある角度を
なす場合には(基板13の上側の面に施された破線が反
りの態様を示す)、第6図(b)に示すように絶縁膜1
のストライプの長手方向を湾曲の方向に合致させる。
の方向が基板の端辺に対して平行ではなく、ある角度を
なす場合には(基板13の上側の面に施された破線が反
りの態様を示す)、第6図(b)に示すように絶縁膜1
のストライプの長手方向を湾曲の方向に合致させる。
第6図(a)の場合は、対角線B’ D’の方向に湾曲
しているので、ストライプはB’ D’ に平行に形
成されている。
しているので、ストライプはB’ D’ に平行に形
成されている。
更に、第4の実施例として第7図(a)に示すように基
板の部分によって反りの程度が異なる場合には、第7図
(b)に示すように反りの程度の大きい部分は絶縁膜1
のパターンを高密度にし、反りの程度の小さい部分は絶
縁膜1のパターンを低密度にする。パターンを高密度に
するには例えば、ストライプの巾を大きくし、ストライ
プ間隔を小さくする。第7図(a)の場合には、基板の
一端側(端辺BCの側)が反りの程度が大きいので、こ
の部分の絶縁膜1のパターンを高密度にしている。
板の部分によって反りの程度が異なる場合には、第7図
(b)に示すように反りの程度の大きい部分は絶縁膜1
のパターンを高密度にし、反りの程度の小さい部分は絶
縁膜1のパターンを低密度にする。パターンを高密度に
するには例えば、ストライプの巾を大きくし、ストライ
プ間隔を小さくする。第7図(a)の場合には、基板の
一端側(端辺BCの側)が反りの程度が大きいので、こ
の部分の絶縁膜1のパターンを高密度にしている。
尚、フィルタ基板15の反りを矯正する透明絶縁膜2に
ついても、上記絶縁膜1と同様の矯正作用を行なう。
ついても、上記絶縁膜1と同様の矯正作用を行なう。
以上説明したように第2、第3及び第4の実施例によれ
ば、透明絶縁膜1.2を一様に成膜した後、基板13.
15の反りの方向、程度に応じてパターンニング方向、
巾を変える事によって、内部応力を調整し、基板13.
15の反りを矯正する。よって、第1の実施例の効果に
加え、更に適切な矯正力を基板13.15に加えること
ができるので、基板13.15の平行性を一層高めるこ
とができる。従って、従来より更に表示品質を向上させ
た表示装置を得ることができるという効果かある。
ば、透明絶縁膜1.2を一様に成膜した後、基板13.
15の反りの方向、程度に応じてパターンニング方向、
巾を変える事によって、内部応力を調整し、基板13.
15の反りを矯正する。よって、第1の実施例の効果に
加え、更に適切な矯正力を基板13.15に加えること
ができるので、基板13.15の平行性を一層高めるこ
とができる。従って、従来より更に表示品質を向上させ
た表示装置を得ることができるという効果かある。
尚、上記の実施例においては透明絶縁膜1.2はSiN
、を主成分とするものを用いたか、本発明はこれに限定
されることなく、同様な圧縮または弓張りの内部応力を
有する5IOX、 Al2O8等を用いてもよい。
、を主成分とするものを用いたか、本発明はこれに限定
されることなく、同様な圧縮または弓張りの内部応力を
有する5IOX、 Al2O8等を用いてもよい。
又、上記の実施例においては、アクティブマトリックス
液晶表示装置の製造方法について説明したが、本発明は
これに限定されず、ノンアクティブ液晶表示装置、プラ
ズマデイスプレィ装置等の対向基板間隔を制御する必要
のある表示装置の製造においても有効である。
液晶表示装置の製造方法について説明したが、本発明は
これに限定されず、ノンアクティブ液晶表示装置、プラ
ズマデイスプレィ装置等の対向基板間隔を制御する必要
のある表示装置の製造においても有効である。
以上説明したように、本発明の製造方法によれば透明基
板の一方の面に表示用素子要素を形成した後に、引張り
または圧縮の内部応力を有する反り矯正膜を基板の他方
の面に形成する工程を設けた。よって、透明基板に形成
した表示用素子要素が原因で生じる基板の反りを、反り
矯正膜の内部応力によって矯正してから対向配置させて
表示装置を形成することかでき、従来に比べて容易に基
板間隔を均一にすることができる。また、従来の様に表
示装置を製造する工程で、対向配置した基板間に強い押
圧力を与える必要がないので、押圧力による表示用素子
要素、スペーサ等の破壊か防げ、従来より表示品質の良
い表示装置が高歩留りで得られるという効果かある。
板の一方の面に表示用素子要素を形成した後に、引張り
または圧縮の内部応力を有する反り矯正膜を基板の他方
の面に形成する工程を設けた。よって、透明基板に形成
した表示用素子要素が原因で生じる基板の反りを、反り
矯正膜の内部応力によって矯正してから対向配置させて
表示装置を形成することかでき、従来に比べて容易に基
板間隔を均一にすることができる。また、従来の様に表
示装置を製造する工程で、対向配置した基板間に強い押
圧力を与える必要がないので、押圧力による表示用素子
要素、スペーサ等の破壊か防げ、従来より表示品質の良
い表示装置が高歩留りで得られるという効果かある。
第1図は第1実施例の製造方法で形成された液晶表示装
置を示す断面図、 第2図は従来の製造方法で形成された液晶表示装置を示
す断面図、 第3図はSiN、膜の反応ガス組成比と内部応力の関係
を示す図、 第4図(a)乃至(d)はTFTアレイ基板に設けられ
た絶縁膜の働きを説明する図、第5図は、第2実施例に
よる絶縁膜のパターンを示し、基板の外側の面が凹型に
反った場合の矯正用の絶縁膜のパターンを示す図、 第6図は、第3実施例による絶縁膜のパターンを示し、
基板の反りによる湾曲の方向か基板の端面に対して斜め
である場合の矯正用の絶縁膜のパターンを示す図、 第7図は、第4実施例による絶縁膜のパターンを示し、
基板の反りの程度が部分によって異なる場合の矯正用の
絶縁膜のパターンを示す図である。 1・・・・・・透明絶縁膜、 2・・・・・・透明絶縁膜、 11・・・透明基板、 12a、12b・・・内側の面、 13・・・TFTアレイ基板、 14・・・透明基板、 15・・・フィルタ基板、 16・・・スペーサ、 17・・・液晶、 18a、18b・・・外側ノ面、 19・・・偏光膜。 特許出願人 沖電気工業株式会社
置を示す断面図、 第2図は従来の製造方法で形成された液晶表示装置を示
す断面図、 第3図はSiN、膜の反応ガス組成比と内部応力の関係
を示す図、 第4図(a)乃至(d)はTFTアレイ基板に設けられ
た絶縁膜の働きを説明する図、第5図は、第2実施例に
よる絶縁膜のパターンを示し、基板の外側の面が凹型に
反った場合の矯正用の絶縁膜のパターンを示す図、 第6図は、第3実施例による絶縁膜のパターンを示し、
基板の反りによる湾曲の方向か基板の端面に対して斜め
である場合の矯正用の絶縁膜のパターンを示す図、 第7図は、第4実施例による絶縁膜のパターンを示し、
基板の反りの程度が部分によって異なる場合の矯正用の
絶縁膜のパターンを示す図である。 1・・・・・・透明絶縁膜、 2・・・・・・透明絶縁膜、 11・・・透明基板、 12a、12b・・・内側の面、 13・・・TFTアレイ基板、 14・・・透明基板、 15・・・フィルタ基板、 16・・・スペーサ、 17・・・液晶、 18a、18b・・・外側ノ面、 19・・・偏光膜。 特許出願人 沖電気工業株式会社
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 透明基板の一方の面に表示素子要素を形成する工程と、 上記基板の他方の面に上記基板の反りに抗する内部応力
を有する反り矯正膜を形成する工程と、上記矯正膜を形
成した基板を対向配置する工程とを有することを特徴と
する表示装置の製造方法。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP15718490A JPH0450920A (ja) | 1990-06-15 | 1990-06-15 | 表示装置の製造方法 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP15718490A JPH0450920A (ja) | 1990-06-15 | 1990-06-15 | 表示装置の製造方法 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH0450920A true JPH0450920A (ja) | 1992-02-19 |
Family
ID=15644032
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP15718490A Pending JPH0450920A (ja) | 1990-06-15 | 1990-06-15 | 表示装置の製造方法 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH0450920A (ja) |
Cited By (5)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| EP1323860A1 (en) | 2001-12-07 | 2003-07-02 | Ricoh Company, Ltd. | Receiving cloth for thermal transfer recording, and method of thermal transfer recording using the cloth |
| KR100757488B1 (ko) * | 2001-05-22 | 2007-09-11 | 엘지.필립스 엘시디 주식회사 | 액정표시소자의 기판 크기 조절방법 |
| US7582903B2 (en) | 2002-11-14 | 2009-09-01 | Samsung Electronics Co., Ltd. | Thin film transistor array panel |
| US7795796B2 (en) | 2005-01-18 | 2010-09-14 | Seiko Epson Corporation | Wiring substrate, electro optic device and electronic equipment |
| US9234988B2 (en) | 2012-10-29 | 2016-01-12 | Seiko Epson Corporation | Fabrication method for microlens array substrate |
-
1990
- 1990-06-15 JP JP15718490A patent/JPH0450920A/ja active Pending
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