JPH045129B2 - - Google Patents
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- JPH045129B2 JPH045129B2 JP2983984A JP2983984A JPH045129B2 JP H045129 B2 JPH045129 B2 JP H045129B2 JP 2983984 A JP2983984 A JP 2983984A JP 2983984 A JP2983984 A JP 2983984A JP H045129 B2 JPH045129 B2 JP H045129B2
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- 238000001514 detection method Methods 0.000 claims description 30
- 230000007547 defect Effects 0.000 claims description 28
- 238000005303 weighing Methods 0.000 claims description 10
- 238000004519 manufacturing process Methods 0.000 description 14
- 238000005259 measurement Methods 0.000 description 13
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 12
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 7
- 230000008439 repair process Effects 0.000 description 5
- 238000007689 inspection Methods 0.000 description 4
- 230000001360 synchronised effect Effects 0.000 description 3
- 230000003111 delayed effect Effects 0.000 description 2
- 238000000034 method Methods 0.000 description 2
- 238000003860 storage Methods 0.000 description 2
- 239000006185 dispersion Substances 0.000 description 1
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Description
【発明の詳細な説明】
本発明は、複数の物品を重量によつて選別する
自動重量選別装置に係わり、特に物品の重量が一
定の割合いで不良になつたときに警告信号を出力
する自動重量選別装置に関する。
自動重量選別装置に係わり、特に物品の重量が一
定の割合いで不良になつたときに警告信号を出力
する自動重量選別装置に関する。
製造工場の品質検査工程等においては、製造さ
れる物品に重量の基準値を設定し、この基準値に
対して予め定められた正量範囲以外の過量品、軽
量品を不良品として選別機によつて排除してい
る。このような、良品を選別して不良品を排除す
る自動重量選別装置のなかには、不良判別される
物品数が予め定められた許容限界数以上になると
警告信号を出力する不良検出回路を備えたものが
ある。そして、監視員はこの警告信号が出力され
ると製造装置等を点検、修理、調整するようにし
ている。
れる物品に重量の基準値を設定し、この基準値に
対して予め定められた正量範囲以外の過量品、軽
量品を不良品として選別機によつて排除してい
る。このような、良品を選別して不良品を排除す
る自動重量選別装置のなかには、不良判別される
物品数が予め定められた許容限界数以上になると
警告信号を出力する不良検出回路を備えたものが
ある。そして、監視員はこの警告信号が出力され
ると製造装置等を点検、修理、調整するようにし
ている。
従来の自動重量選別装置の不良検出回路におい
ては、一般に前記警告信号を出力する条件とし
て、不良判定される物品の許容連続数を設定して
いる。すなわち、物品が上記許容限界数を越えて
連続して不良と判定されると警告信号が出力され
るように設定されている。
ては、一般に前記警告信号を出力する条件とし
て、不良判定される物品の許容連続数を設定して
いる。すなわち、物品が上記許容限界数を越えて
連続して不良と判定されると警告信号が出力され
るように設定されている。
しかしながらこのように構成された自動重量選
別装置であれば、物品の製造時における重量のば
らつき等を考慮すると、製造装置の不良等によつ
て物品の重量が徐々に一方に変化する場合等にお
いては、その変化現象の検出が遅れる恐れが有
り、上記製造装置の点検、修理、調整が遅れ、多
量の不良物品を製造してしまう問題があつた。
別装置であれば、物品の製造時における重量のば
らつき等を考慮すると、製造装置の不良等によつ
て物品の重量が徐々に一方に変化する場合等にお
いては、その変化現象の検出が遅れる恐れが有
り、上記製造装置の点検、修理、調整が遅れ、多
量の不良物品を製造してしまう問題があつた。
また、別の自動重量選別装置においては、製造
時における1ロツト分に相当する量の物品全部の
重量を測定した後、その中に含まれる不良物品数
を検出してその不良物品数が予め設定された限界
数を越えたとき、警告信号を出力するようにした
ものもある。しかし、このような不良検出方法を
有する装置であれば、1ロツト全部の物品の測定
が終了しなければ警告信号は出力されないので、
上述の例のように重量が徐々にに変化した場合途
中でその変化を検出出来なく、上述の例と同様に
多量の不良物品を製造してしまう恐れがあつた。
時における1ロツト分に相当する量の物品全部の
重量を測定した後、その中に含まれる不良物品数
を検出してその不良物品数が予め設定された限界
数を越えたとき、警告信号を出力するようにした
ものもある。しかし、このような不良検出方法を
有する装置であれば、1ロツト全部の物品の測定
が終了しなければ警告信号は出力されないので、
上述の例のように重量が徐々にに変化した場合途
中でその変化を検出出来なく、上述の例と同様に
多量の不良物品を製造してしまう恐れがあつた。
さらに、常時一定数の物品における重量の平均
値を算出していく方法であれば、常に物品の重量
平均値を把握することは可能であるが、平均値は
ほとんど変化せずに、ばらつき値を示す標準偏差
のみが増大した場合、警告信号は出力されないの
でやはり多量の不良物品を製造することになる。
値を算出していく方法であれば、常に物品の重量
平均値を把握することは可能であるが、平均値は
ほとんど変化せずに、ばらつき値を示す標準偏差
のみが増大した場合、警告信号は出力されないの
でやはり多量の不良物品を製造することになる。
本発明は、このような事情に基づいてなされた
ものであり、その目的とするところは、常に一定
量の重量データにおける不良物品数量を検出する
ことによつて、たとえ物品の重量が徐々に変化し
たとしてもその変化を直ちに検出でき、不良物品
の製造量を最少限に抑制でき、製造された物品の
歩留りを向上できる自動重量選別装置を提供する
ことにある。
ものであり、その目的とするところは、常に一定
量の重量データにおける不良物品数量を検出する
ことによつて、たとえ物品の重量が徐々に変化し
たとしてもその変化を直ちに検出でき、不良物品
の製造量を最少限に抑制でき、製造された物品の
歩留りを向上できる自動重量選別装置を提供する
ことにある。
以下本発明を図面を用いて説明する。第1図は
本発明の一実施例に係わる自動重量選別装置を示
す概略構成図である。
本発明の一実施例に係わる自動重量選別装置を示
す概略構成図である。
図中1は図示しない製造装置にて連続的に製造
された物品2を搬入する搬入コンベアであり、こ
の搬入コンベア1の搬送方向に隣接して上記物品
2の重量を測定する計量器3が設置されている。
この計量器3には搬入コンベア1にて搬入される
物品2を乗せるための秤量コンベア4が組込まれ
ている。また、この計量器3に隣接して重量測定
済みの物品2を搬出するための搬出コンベア5が
設置されており、この搬出コンベア5の計量器3
側寄りに上記測定済みの物品2をその重量値に応
じて過量、正量、軽量の3段階に選別する選別機
6が取付けられている。さらに、前記搬入コンベ
ア1に、秤量コンベア4に乗せられた物品2の重
量を測定するタイミングを設定するための光電管
7が設置されている。
された物品2を搬入する搬入コンベアであり、こ
の搬入コンベア1の搬送方向に隣接して上記物品
2の重量を測定する計量器3が設置されている。
この計量器3には搬入コンベア1にて搬入される
物品2を乗せるための秤量コンベア4が組込まれ
ている。また、この計量器3に隣接して重量測定
済みの物品2を搬出するための搬出コンベア5が
設置されており、この搬出コンベア5の計量器3
側寄りに上記測定済みの物品2をその重量値に応
じて過量、正量、軽量の3段階に選別する選別機
6が取付けられている。さらに、前記搬入コンベ
ア1に、秤量コンベア4に乗せられた物品2の重
量を測定するタイミングを設定するための光電管
7が設置されている。
第2図に上記構成の自動重量選別装置の制御ブ
ロツク図を示す。すなわち、前記各物品2の重量
を測定する計量器3の出力信号は増幅器8にて増
幅されてA/O変換器9へ入力される。このA/
D変換器9には前記光電管7のトリガー信号にて
制御されるタイマ回路10からの測定タイミング
信号が入力される。その結果、最適タミングで測
定された物品2のデジタルの重量データがA/D
変換器9から表示器11および比較器にて構成さ
れた判定回路12へ送出される。この判定回路1
2には、物品2の重量値を基準重量に対して予め
定められた前記過量、正量、軽量の値に設定する
重量設定器13からの設定データが入力される。
しかしてこの判定回路12はA/D変換器9から
の重量データを重量設定器13からの設定データ
に基づいて過量、正量、軽量に判定し、その結果
を判定信号として前記選別機6へ送出すると共
に、過量と軽量とを一括して不良信号とし、正量
を良信号として不良検出回路14へ送出する。
ロツク図を示す。すなわち、前記各物品2の重量
を測定する計量器3の出力信号は増幅器8にて増
幅されてA/O変換器9へ入力される。このA/
D変換器9には前記光電管7のトリガー信号にて
制御されるタイマ回路10からの測定タイミング
信号が入力される。その結果、最適タミングで測
定された物品2のデジタルの重量データがA/D
変換器9から表示器11および比較器にて構成さ
れた判定回路12へ送出される。この判定回路1
2には、物品2の重量値を基準重量に対して予め
定められた前記過量、正量、軽量の値に設定する
重量設定器13からの設定データが入力される。
しかしてこの判定回路12はA/D変換器9から
の重量データを重量設定器13からの設定データ
に基づいて過量、正量、軽量に判定し、その結果
を判定信号として前記選別機6へ送出すると共
に、過量と軽量とを一括して不良信号とし、正量
を良信号として不良検出回路14へ送出する。
前記不良検出回路14は例えば第3図のように
構成されている。すなわち、判定回路12からの
良信号または不良信号の判定信号sは入力ゲート
15を介して例えば10桁のシフトレジスタ16へ
入力される。この判定信号sは良信号のとき0、
不良信号のとき1に設定されている。またシフト
レジスタ16のクロツク入力端子に測定タイミン
グに同期したクロツク信号cが入力される。シフ
トレジスタ16の10個の各出力信号はこのシフト
レジスタ16に記憶された10個の判定信号sに含
まれる1レベルの不良信号数を計測する計測手段
としてのアナログスイツチ回路17へ入力され
る。このアナログスイツチ回路17には図示する
ように10個のスイツチ18が設けられており、各
スイツチ18はシフトレジスタ16の各出力端子
から出力される前記1又は0の値によつてオン・
オフ制御される。実施例では1がオン、0がオフ
に対応している。各スイツチ18の一方の端子に
はそれぞれ別のスイツチ19の一端が接続されて
いおり、各スイツチ19の他端は共通して基準電
圧Vf1の電圧供給端子20に接続されている。
これ等各スイツチ19と電圧供給端子20は、前
記計量器3にて連続測定される物品の連続数Nを
設定する第1の設定器21を構成する。一方、前
記各スイツチ18の他方の端子はそれぞれ抵抗2
2を介して加算器23の入力端子に接続されてお
り、この加算器23の出力端子は比較器24の一
方の入力端子に接続されている。なお、加算器2
3の入出力端子間には抵抗25が接続されてい
る。比較器24の他方の入力端子には、前記第1
の設定器21にて設定された連続数Nの判定信号
sに含まれる1レベルの不良信号数の許容限界数
aを設定する第2の設定器26における10個の各
スイツチ27の一端に共通に接続されている。各
スイツチ27の各他端はそれぞれ同一値を有する
抵抗28でもつて相互に接続されており、両端に
位置する抵抗28の一方は抵抗29を介して接地
されており、他方は基準電圧Vf2の電圧供給端
子30に接続されている。さらに、比較器24の
出力端子は警告信号kを出力する出力回路31の
入力端子に接続されている。
構成されている。すなわち、判定回路12からの
良信号または不良信号の判定信号sは入力ゲート
15を介して例えば10桁のシフトレジスタ16へ
入力される。この判定信号sは良信号のとき0、
不良信号のとき1に設定されている。またシフト
レジスタ16のクロツク入力端子に測定タイミン
グに同期したクロツク信号cが入力される。シフ
トレジスタ16の10個の各出力信号はこのシフト
レジスタ16に記憶された10個の判定信号sに含
まれる1レベルの不良信号数を計測する計測手段
としてのアナログスイツチ回路17へ入力され
る。このアナログスイツチ回路17には図示する
ように10個のスイツチ18が設けられており、各
スイツチ18はシフトレジスタ16の各出力端子
から出力される前記1又は0の値によつてオン・
オフ制御される。実施例では1がオン、0がオフ
に対応している。各スイツチ18の一方の端子に
はそれぞれ別のスイツチ19の一端が接続されて
いおり、各スイツチ19の他端は共通して基準電
圧Vf1の電圧供給端子20に接続されている。
これ等各スイツチ19と電圧供給端子20は、前
記計量器3にて連続測定される物品の連続数Nを
設定する第1の設定器21を構成する。一方、前
記各スイツチ18の他方の端子はそれぞれ抵抗2
2を介して加算器23の入力端子に接続されてお
り、この加算器23の出力端子は比較器24の一
方の入力端子に接続されている。なお、加算器2
3の入出力端子間には抵抗25が接続されてい
る。比較器24の他方の入力端子には、前記第1
の設定器21にて設定された連続数Nの判定信号
sに含まれる1レベルの不良信号数の許容限界数
aを設定する第2の設定器26における10個の各
スイツチ27の一端に共通に接続されている。各
スイツチ27の各他端はそれぞれ同一値を有する
抵抗28でもつて相互に接続されており、両端に
位置する抵抗28の一方は抵抗29を介して接地
されており、他方は基準電圧Vf2の電圧供給端
子30に接続されている。さらに、比較器24の
出力端子は警告信号kを出力する出力回路31の
入力端子に接続されている。
つぎに、このように構成された自動重量選別装
置の動作説明を行なう。まず、第1の設定器21
にて前記連続数Nを設定する。具体的には1番目
からN番目までのスイツチ19を投入する。第3
図においては、N=10に設定されている。したが
つて、アナログスイツチ回路17の全てのスイツ
チ18の一端に基準電圧Vf1が印加される。次
に、第2の設定器26にて前記連続数N個に含ま
れる不良信号数の許容限界数aを設定する。この
場合、下からa番目のスイツチ27を投入すれば
よい。実施例においてはa=3に設定されてい
る。各スイツチ27相互間に挿入された各抵抗2
8の値は等しいので設定数aに比例した電圧が比
較器24の一方の入力端子へ入力される。
置の動作説明を行なう。まず、第1の設定器21
にて前記連続数Nを設定する。具体的には1番目
からN番目までのスイツチ19を投入する。第3
図においては、N=10に設定されている。したが
つて、アナログスイツチ回路17の全てのスイツ
チ18の一端に基準電圧Vf1が印加される。次
に、第2の設定器26にて前記連続数N個に含ま
れる不良信号数の許容限界数aを設定する。この
場合、下からa番目のスイツチ27を投入すれば
よい。実施例においてはa=3に設定されてい
る。各スイツチ27相互間に挿入された各抵抗2
8の値は等しいので設定数aに比例した電圧が比
較器24の一方の入力端子へ入力される。
しかして、搬入コンベア1にて連続して搬入さ
れる物品2の重量を計量器3にて順次測定する
と、測定が終了した物品2は選別機6によつて過
量、正量、軽量の3段階に選別されると共に、判
定回路12から出力される各物品2の判定信号s
が順次不良検出回路14の入力ゲート15へ印加
される。そして、この判定信号sは、測定タイミ
ングに同期したクロツク信号cがシフトレジスタ
16のクロツク入力端子に入力される毎にこのシ
フトレジスタ16に順次格納される。その結果、
シフトレジスタ16の10個の記憶領域には常に最
新の10個の判定信号sが順番に格納されているこ
とになる。従つて、アナログスイツチ回路17に
おいて、シフトレジスタ16に格納された10個の
判定信号sに含まれる不良信号数に相当する数の
スイツチ18がオンされる。その結果、加算器2
3は上記不良信号数に相当する電圧を出力する。
この電圧は比較器24にて第2の設定器26から
の許容限界数aに相当する電圧と比較される。そ
して、加算器23からの電圧の方が高い場合に1
レベルの信号が出力回路31へ印加され、出力回
路31は警告信号kを出力する。第3図の状態で
は、許容限界数a=3で、シフトレジスタ16に
4個の不良信号が格納されているので、出力回路
31から1レベルの警告信号kが出力される。
れる物品2の重量を計量器3にて順次測定する
と、測定が終了した物品2は選別機6によつて過
量、正量、軽量の3段階に選別されると共に、判
定回路12から出力される各物品2の判定信号s
が順次不良検出回路14の入力ゲート15へ印加
される。そして、この判定信号sは、測定タイミ
ングに同期したクロツク信号cがシフトレジスタ
16のクロツク入力端子に入力される毎にこのシ
フトレジスタ16に順次格納される。その結果、
シフトレジスタ16の10個の記憶領域には常に最
新の10個の判定信号sが順番に格納されているこ
とになる。従つて、アナログスイツチ回路17に
おいて、シフトレジスタ16に格納された10個の
判定信号sに含まれる不良信号数に相当する数の
スイツチ18がオンされる。その結果、加算器2
3は上記不良信号数に相当する電圧を出力する。
この電圧は比較器24にて第2の設定器26から
の許容限界数aに相当する電圧と比較される。そ
して、加算器23からの電圧の方が高い場合に1
レベルの信号が出力回路31へ印加され、出力回
路31は警告信号kを出力する。第3図の状態で
は、許容限界数a=3で、シフトレジスタ16に
4個の不良信号が格納されているので、出力回路
31から1レベルの警告信号kが出力される。
次に、第4図に示すように重量が時間と共に
徐々に増加するような物品2をこの自動重量選別
装置を用いて測定したとする。図において黒丸は
不良物品を示し、白丸は良物品を示す。さらに、
物品2の連続測定数N=10、許容限界数a=5と
する。しかして、図示するように、10番目の物品
2を測定した時点では不良数は2であるので警告
信号kは出力されない。このように順次測定して
ゆき、17番目の物品を測定した時点で不良数が5
となり出力回路31から警告信号kが出力され
る。ちなみに、従来の装置のように不良物品の連
続数が5になつた時点で警告信号を出力するシス
テムであれば、図中破線で示すように25番目の物
品を測定した時点で警告信号が出力される。この
ように重量が徐々に変化する場合、直ちにその変
化を検出して警告信号kを出力するので監視員は
その警告信号に基づいて速やかに製造装置等を点
検、修理、調整することが出来る。したがつて不
良物品の製造量を最少限に抑制でき、製造された
物品の歩留りを向上出来る。
徐々に増加するような物品2をこの自動重量選別
装置を用いて測定したとする。図において黒丸は
不良物品を示し、白丸は良物品を示す。さらに、
物品2の連続測定数N=10、許容限界数a=5と
する。しかして、図示するように、10番目の物品
2を測定した時点では不良数は2であるので警告
信号kは出力されない。このように順次測定して
ゆき、17番目の物品を測定した時点で不良数が5
となり出力回路31から警告信号kが出力され
る。ちなみに、従来の装置のように不良物品の連
続数が5になつた時点で警告信号を出力するシス
テムであれば、図中破線で示すように25番目の物
品を測定した時点で警告信号が出力される。この
ように重量が徐々に変化する場合、直ちにその変
化を検出して警告信号kを出力するので監視員は
その警告信号に基づいて速やかに製造装置等を点
検、修理、調整することが出来る。したがつて不
良物品の製造量を最少限に抑制でき、製造された
物品の歩留りを向上出来る。
また、このような不良検出回路14であれば平
均値はほとんど変化せずに、ばらつき値を示す標
準偏差のみが増大した場合においても不良物品数
が許容限界数aに達すると、直ちに警告信号kが
出力されるので上述と同じ効果を得ることができ
る。
均値はほとんど変化せずに、ばらつき値を示す標
準偏差のみが増大した場合においても不良物品数
が許容限界数aに達すると、直ちに警告信号kが
出力されるので上述と同じ効果を得ることができ
る。
さらに、計量器3にて連続測定される物品2の
連続数Nを第1の設定器21にて任意に設定でき
るので、1ロツト全部の物品2の測定終了を待つ
必要なく、多量の不良物品を知らずに製造してし
まうことはない。
連続数Nを第1の設定器21にて任意に設定でき
るので、1ロツト全部の物品2の測定終了を待つ
必要なく、多量の不良物品を知らずに製造してし
まうことはない。
第5図は、本発明の自動重量選別装置の他の実
施例の不良検出回路14を示すブロツク構成図で
ある。判定回路12からの判定信号sは入力ゲー
ト41を介して可変長シフトレジスタ42へ入力
される。この可変長シフトレジスタ42のクロツ
ク入力端子に測定タイミングに同期したクロツク
信号cの他に、このクロツク信号cよりも周波数
が2桁程度高いクロツク信号dが入力ゲート43
を介して入力される。また、可変長シフトレジス
タ42には記憶領域の量、すなわち前記物品2の
連続数Nを設定するためのデジタルスイツチから
なる第1の設定器44からの設定信号が入力され
る。また、可変長シフトレジスタ42の出力端子
から出力される判定信号は前記入力ゲート41へ
入力される。第1の設定器44からの設定信号は
入力ゲート43を制御するプリセツトカウンタ4
5の制御端子へも入力される。プリセツトカウン
タ45の入力端子には前記クロツク信号dが入力
される。
施例の不良検出回路14を示すブロツク構成図で
ある。判定回路12からの判定信号sは入力ゲー
ト41を介して可変長シフトレジスタ42へ入力
される。この可変長シフトレジスタ42のクロツ
ク入力端子に測定タイミングに同期したクロツク
信号cの他に、このクロツク信号cよりも周波数
が2桁程度高いクロツク信号dが入力ゲート43
を介して入力される。また、可変長シフトレジス
タ42には記憶領域の量、すなわち前記物品2の
連続数Nを設定するためのデジタルスイツチから
なる第1の設定器44からの設定信号が入力され
る。また、可変長シフトレジスタ42の出力端子
から出力される判定信号は前記入力ゲート41へ
入力される。第1の設定器44からの設定信号は
入力ゲート43を制御するプリセツトカウンタ4
5の制御端子へも入力される。プリセツトカウン
タ45の入力端子には前記クロツク信号dが入力
される。
可変長シフトレジスタ42出力端子から出力さ
れる判定信号は不良信号数を計測する計測手段と
してのカウンタ46へ送出される。このカウンタ
46にて計測された不良信号数のデータは比較器
47の一方の入力端子へ入力され、比較器47の
他方の入力端子には前記連続数N個の判定信号に
含まれる不良信号の許容限界数aを設定するため
のデジタルスイツチからなる第2の設定器48か
らの設定データが入力される。比較器47の出力
端子は警告信号kを出力する出力回路49の入力
端子に接続されている。
れる判定信号は不良信号数を計測する計測手段と
してのカウンタ46へ送出される。このカウンタ
46にて計測された不良信号数のデータは比較器
47の一方の入力端子へ入力され、比較器47の
他方の入力端子には前記連続数N個の判定信号に
含まれる不良信号の許容限界数aを設定するため
のデジタルスイツチからなる第2の設定器48か
らの設定データが入力される。比較器47の出力
端子は警告信号kを出力する出力回路49の入力
端子に接続されている。
このような不良検出回路14において、始めに
第1の設定器44および第2の設定器48に物品
2の連続測定数Nおよび許容限界数aを設定す
る。すると、可変長シフトレジスタ42に記憶で
きる判定信号数がN個に設定される。さらに、プ
リセツトカウンタ45のカウント数もNに設定さ
れる。しかして、1個の判定信号sが入力ゲート
41に入力すると、クロツク信号cに同期して可
変長シフトレジスタ42へ入力される。同時にプ
リセツトカウンタ45にてセツトされたN個の高
周波数のクロツク信号dが可変長シフトレジスタ
42のクロツク入力端子へ印加される。その結
果、可変長シフトレジスタ42の出力端子には既
に格納されていたN個の判定信号が一括して出力
され、この判定信号に含まれる1レベルの不良信
号数がカウンタ46にて計測される。なお、一括
して出力された上記判定信号は、再び入力ゲート
41を介して可変長シフトレジスタ42へ入力さ
れるので、可変長シフトレジスタ42には常に最
新のN個の判定信号が記憶されている。カウンタ
46から出力された不良信号数は、比較器47に
て第2の設定器48からの許容限界数aと比較さ
れ、上記不良信号数の方が大きい場合に比較器4
7から1レベルの信号が出力される。その結果、
出力回路49から警告信号kが出力される。
第1の設定器44および第2の設定器48に物品
2の連続測定数Nおよび許容限界数aを設定す
る。すると、可変長シフトレジスタ42に記憶で
きる判定信号数がN個に設定される。さらに、プ
リセツトカウンタ45のカウント数もNに設定さ
れる。しかして、1個の判定信号sが入力ゲート
41に入力すると、クロツク信号cに同期して可
変長シフトレジスタ42へ入力される。同時にプ
リセツトカウンタ45にてセツトされたN個の高
周波数のクロツク信号dが可変長シフトレジスタ
42のクロツク入力端子へ印加される。その結
果、可変長シフトレジスタ42の出力端子には既
に格納されていたN個の判定信号が一括して出力
され、この判定信号に含まれる1レベルの不良信
号数がカウンタ46にて計測される。なお、一括
して出力された上記判定信号は、再び入力ゲート
41を介して可変長シフトレジスタ42へ入力さ
れるので、可変長シフトレジスタ42には常に最
新のN個の判定信号が記憶されている。カウンタ
46から出力された不良信号数は、比較器47に
て第2の設定器48からの許容限界数aと比較さ
れ、上記不良信号数の方が大きい場合に比較器4
7から1レベルの信号が出力される。その結果、
出力回路49から警告信号kが出力される。
このような構成を有した自動重量選別装置であ
つても、物品2の連続測定数N個の判定信号に含
まれる不良信号数が許容限界数aに達すると、直
ちに警告信号kが出力されるので、前述した実施
例と同様な効果を得ることができる。
つても、物品2の連続測定数N個の判定信号に含
まれる不良信号数が許容限界数aに達すると、直
ちに警告信号kが出力されるので、前述した実施
例と同様な効果を得ることができる。
第6図は本発明のさらに別の実施例を不良検出
回路14を示すものである。この実施例の不良検
出回路においては、可変長シフトレジスタ42か
らの判定信号に含まれる不良信号を計測するカウ
ンタ46と比較器47との間に割算器50を介挿
している。この計算器50に第1の設定器44か
らの設定データが入力される。そして、割算器5
0にて連続測定数N個の判定信号sに含まれる不
良信号数の比率を算出して、比較器47へ出力す
る。一方第2の設定器51には前記連続測定数N
個の判定信号sに含まれる不良信号数の比率の許
容限界値bが設定されており、比較器47にて割
算器50からの比率と第2の設定器51からの比
率bとを比較し、その結果を出力回路49へ出力
するようにしている。
回路14を示すものである。この実施例の不良検
出回路においては、可変長シフトレジスタ42か
らの判定信号に含まれる不良信号を計測するカウ
ンタ46と比較器47との間に割算器50を介挿
している。この計算器50に第1の設定器44か
らの設定データが入力される。そして、割算器5
0にて連続測定数N個の判定信号sに含まれる不
良信号数の比率を算出して、比較器47へ出力す
る。一方第2の設定器51には前記連続測定数N
個の判定信号sに含まれる不良信号数の比率の許
容限界値bが設定されており、比較器47にて割
算器50からの比率と第2の設定器51からの比
率bとを比較し、その結果を出力回路49へ出力
するようにしている。
このように構成された不良検出回路14を有し
た自動重量選別装置であれば、不良物品2の発生
比率が予め設定された許容限界の比率bに達する
と警告信号kが出力されるので、前述した実施例
と同様の効果が得られる。
た自動重量選別装置であれば、不良物品2の発生
比率が予め設定された許容限界の比率bに達する
と警告信号kが出力されるので、前述した実施例
と同様の効果が得られる。
第7図は本発明のさらに別の実施例の自動重量
選別装置を示す制御ブロツク図である。第2図と
同一部分には同一符号が付してある。この実施例
においては、判定回路12から出力される判定信
号sは信号分配器52へ入力される。この信号分
配器52は連続して入力される上記判定信号sを
3つの不良検出回路14a,14b,14cへ入
力順に順次分配送出する。それぞれ3個おきの判
定信号が入力される各不良検出回路14a,14
b,14cはそれぞれ前述した不良検出回路14
と同一構成であり、それぞれ入力した判定信号に
含まれる不良信号数が許容限界数aに達すると、
それぞれ警告信号kを出力する。
選別装置を示す制御ブロツク図である。第2図と
同一部分には同一符号が付してある。この実施例
においては、判定回路12から出力される判定信
号sは信号分配器52へ入力される。この信号分
配器52は連続して入力される上記判定信号sを
3つの不良検出回路14a,14b,14cへ入
力順に順次分配送出する。それぞれ3個おきの判
定信号が入力される各不良検出回路14a,14
b,14cはそれぞれ前述した不良検出回路14
と同一構成であり、それぞれ入力した判定信号に
含まれる不良信号数が許容限界数aに達すると、
それぞれ警告信号kを出力する。
このような構成の自動重量選別装置は、例え
ば、3台の製造装置でもつて同一の物品を同時に
製造する場合の品質検査工程等に設置すればその
効果を最大限に発揮させることが出来る。その適
用例を第8図に示す。この図において物品2の連
続測定数Nを6、許容限界数aを3に設定してい
る。実施例の不良検出回路の設置数nは3である
ので、第8図の上段に示すような判定信号sのデ
ータ群が判定回路12から出力されると、各不良
検出回路14a,14b,14cはそれぞれ第8
図の下段のA、B、Cに示すように各不良信号を
検出する。すなわち、1番目から30番目までの計
測期間中に不良検出回路14aおよび14bは警
告信号kを出力せずに、不良検出回路14cのみ
が21番目の物品2の重量を計測した時点で警告信
号kを出力する。
ば、3台の製造装置でもつて同一の物品を同時に
製造する場合の品質検査工程等に設置すればその
効果を最大限に発揮させることが出来る。その適
用例を第8図に示す。この図において物品2の連
続測定数Nを6、許容限界数aを3に設定してい
る。実施例の不良検出回路の設置数nは3である
ので、第8図の上段に示すような判定信号sのデ
ータ群が判定回路12から出力されると、各不良
検出回路14a,14b,14cはそれぞれ第8
図の下段のA、B、Cに示すように各不良信号を
検出する。すなわち、1番目から30番目までの計
測期間中に不良検出回路14aおよび14bは警
告信号kを出力せずに、不良検出回路14cのみ
が21番目の物品2の重量を計測した時点で警告信
号kを出力する。
したがつて、監視員は不良検出回路14cの警
告信号kを確認すると、3台の製造装置のうちの
不良検出回路14cに対応する製造装置を点検、
修理、調整すればよい。したがつて不良物品を製
造している製造装置を直ちに特定でき、点検、修
理、調整を速やかに実施できるので、前述した実
施例と同様の効果を得ることが出来る。
告信号kを確認すると、3台の製造装置のうちの
不良検出回路14cに対応する製造装置を点検、
修理、調整すればよい。したがつて不良物品を製
造している製造装置を直ちに特定でき、点検、修
理、調整を速やかに実施できるので、前述した実
施例と同様の効果を得ることが出来る。
なお、本発明は上述した実施例に検定されるも
のではない。第7図における不良検出回路14
a,14b,14cの設置数は製造装置等によつ
て任意に変更してもよい。
のではない。第7図における不良検出回路14
a,14b,14cの設置数は製造装置等によつ
て任意に変更してもよい。
以上説明したように本発明によれば、常に一定
量の重量データにおける不良物品数量を検出して
この数量が許容限界値に達すると、警告信号を出
力するようにしている。したがつて、たとえ物品
の重量が徐々に変化したとしてもその変化を直ち
に検出でき、不良物品の製造量を最少限に抑制で
き、製造された物品の歩留りを向上できる。
量の重量データにおける不良物品数量を検出して
この数量が許容限界値に達すると、警告信号を出
力するようにしている。したがつて、たとえ物品
の重量が徐々に変化したとしてもその変化を直ち
に検出でき、不良物品の製造量を最少限に抑制で
き、製造された物品の歩留りを向上できる。
第1図は本発明の一実施例に係わる自動重量選
別装置を示す概略構成図、第2図は同選別装置の
制御ブロツク図、第3図は同選別装置の不良検出
回路のブロツク図、第4図は同選別装置の効果を
説明するための図、第5図および第6図は本発明
の他の実施例の自動重量選別装置の不良検出回路
のブロツク図、第7図は本発明のさらに別の実施
例の自動重量選別装置を示す制御ブロツク図、第
8図は第7図の選別装置の効果を説明するための
図である。 2……物品、3……計量器、6……選別機、9
……A/D変換器、12……判定回路、13……
重量設定器、14,14a,14b,14c……
不良検出回路、16……シフトレジスタ、17…
…アナログスイツチ回路(計測手段)、21,4
4……第1の設定器、24,47……比較器、2
6,48,51……第2の設定器、31,49…
…出力回路、42……可変長シフトレジスタ、4
5……プリセツトカウンタ、46……カウンタ、
50……割算器、52……信号分配器。
別装置を示す概略構成図、第2図は同選別装置の
制御ブロツク図、第3図は同選別装置の不良検出
回路のブロツク図、第4図は同選別装置の効果を
説明するための図、第5図および第6図は本発明
の他の実施例の自動重量選別装置の不良検出回路
のブロツク図、第7図は本発明のさらに別の実施
例の自動重量選別装置を示す制御ブロツク図、第
8図は第7図の選別装置の効果を説明するための
図である。 2……物品、3……計量器、6……選別機、9
……A/D変換器、12……判定回路、13……
重量設定器、14,14a,14b,14c……
不良検出回路、16……シフトレジスタ、17…
…アナログスイツチ回路(計測手段)、21,4
4……第1の設定器、24,47……比較器、2
6,48,51……第2の設定器、31,49…
…出力回路、42……可変長シフトレジスタ、4
5……プリセツトカウンタ、46……カウンタ、
50……割算器、52……信号分配器。
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 1 複数の物品の重量を順次測定する計量器と;
該計量器にて測定された前記各物品の重量を基準
重量に対して予め定められた過量、正量、軽量の
3段階に判定する判定回路と;該判定回路から出
力される判定信号に基づき前記物品を前記3段階
に選別する選別機と;前記判定回路における前記
過量又は軽量のいずれか一方又はその双方に不良
判定される数が許容限界数になると警告信号を出
力する不良検出回路とを備えた自動重量選別装置
において:前記不良検出回路は、前記計量器にて
連続測定される物品の連続数を設定する第1の設
定器と;前記判定回路から出力される判定信号を
順次記憶するメモリと;該メモリの記憶された前
記連続数の判定信号に含まれる不良信号数を計測
する計測手段と;前記連続数の判定信号に含まれ
る不良信号の許容限界数を設定する第2の設定器
と;前記計測手段が前記許容限界数を計測したと
き警告信号を出力する出力手段とを有することを
特徴とする自動重量選別装置。 2 判定回路は、前記各物品の重量が前記過量と
軽量とのいずれか一方に判定されたときのみ不良
信号を出力することを特徴とする特許請求の範囲
第1項記載の自動重量選別装置。 3 複数の物品の重量を順次測定する計量器と;
該計量器にて測定された前記各物品の重量を基準
重量に対して予め定められた過量、正量、軽量の
3段階に判定する判定回路と;該判定回路から出
力される判定信号に基づき前記物品を前記3段階
に選別する選別機と;前記判定回路から出力され
る判定信号を予め定められた個数おきに出力する
複数の出力端子を有する信号分配器と;該信号分
配器の各出力端子から出力される判定信号を受領
し、前記判定回路における前記過量又は軽量のい
ずれか一方又はその双方に不良判定される数が許
容限界数になると警告信号を出力する複数の不良
検出回路とを備えた自動重量選別装置において:
前記各不良検出回路は、前記信号分配器から該不
良検出回路へ送出される物品の連続数を設定する
第1の設定器と;前記判定回路から出力される判
定信号を順次記憶するメモリと;該メモリに記憶
された前記連続数の判定信号に含まれる不良信号
数を計測する計測手段と;前記連続数の判定信号
に含まれる不良信号の許容限界数を設定する第2
の設定器と;前記計測手段が前記許容限界数を計
測したとき警告信号を出力する出力手段とを有す
ることを特徴とする自動重量選別装置。 4 判定回路は、前記各物品の重量が前記過量と
軽量とのいずれか一方に判定されたときのみ不良
信号を出力することを特徴とする特許請求の範囲
第3項記載の自動重量選別装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP2983984A JPS60173420A (ja) | 1984-02-20 | 1984-02-20 | 自動重量選別装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP2983984A JPS60173420A (ja) | 1984-02-20 | 1984-02-20 | 自動重量選別装置 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS60173420A JPS60173420A (ja) | 1985-09-06 |
| JPH045129B2 true JPH045129B2 (ja) | 1992-01-30 |
Family
ID=12287179
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP2983984A Granted JPS60173420A (ja) | 1984-02-20 | 1984-02-20 | 自動重量選別装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS60173420A (ja) |
Families Citing this family (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP6676494B2 (ja) * | 2016-07-26 | 2020-04-08 | 大和製衡株式会社 | 重量選別機 |
-
1984
- 1984-02-20 JP JP2983984A patent/JPS60173420A/ja active Granted
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPS60173420A (ja) | 1985-09-06 |
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