JPH0451415Y2 - - Google Patents

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JPH0451415Y2
JPH0451415Y2 JP14251084U JP14251084U JPH0451415Y2 JP H0451415 Y2 JPH0451415 Y2 JP H0451415Y2 JP 14251084 U JP14251084 U JP 14251084U JP 14251084 U JP14251084 U JP 14251084U JP H0451415 Y2 JPH0451415 Y2 JP H0451415Y2
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cylindrical body
metal bellows
vacuum
bellows
secondary electron
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【考案の詳細な説明】 [産業上の利用分野] 本考案は、2次電子による走査電子顕微鏡像を
得る装置の改良に関し、特に試料室内が超高真空
状態に保たれた場合に使用して有効な装置を提供
するものである。
[従来の技術] 走査電子顕微鏡の試料装置としては、水平移動
方向の微動ばかりでなく、試料をあらゆる方向か
ら観察することができるように傾斜機構が組込ま
れている。更に、試料の上下機構を組込み、高分
解能の観察を行う場合には試料を対物レンズにで
きるだけ接近して配置し、大型試料の傾斜観察あ
るいは各種付属装置を取付ける場合には、試料を
対物レンズの主面から離して観察している。
この様に試料を上下移動させた場合、試料から
発生する2次電子を検出するための2次電子検出
器が試料室に固定されていると、検出面の試料に
対する距離及び向き具合が変わり、2次電子の検
出量が変化する。そこで試料の上下移動に伴なつ
て2次電子の検出量が変化しないように、2次電
子検出器を球体を用いて試料室に傾動且つ移動可
能に取付けることにより検出面の試料に対する距
離及び向き具合を調整できるようになしてある。
[考案が解決しようとする問題点] この場合、試料室の真空度が10-8程度の高真空
状態で使用されているときには、球体軸受部にO
リングパツキングの真空シールが用いられ、2次
電子検出器の傾斜角度に何等の制限を受けること
がない。然しながら試料室の真空度が10-8以上の
超高真空を必要とする場合には、Oリングパツキ
ングを使用することができなくなり、金属ベロー
ズを使用しなければならなくなるため、2次電子
検出器の傾斜角に制限が生じ、試料の上下移動の
広い範囲にわたつて検出面に対する試料との距離
及び向き具合を満足させることができなくなる。
本考案は斯様な不都合を解決することを目的と
するものである。
[問題点を解決するための手段] 本願考案の構成は、鏡体内におかれた試料に電
子線を照射することにより発生する2次電子を検
出するための2次電子検出器と、該2次電子検出
器を前記鏡体側壁に回動可能に取付けるための部
材と、該部材と鏡体との間の真空シールを行うた
めのシール部材とを備え、前記シール部材は2つ
の径の異なつた金属ベローズと筒体とから成り、
径の大なるベローズの内側に筒体を配置し、該筒
体の内側に径の小なるベローズを配置し、該筒体
の一方の端に一方の金属ベローズの一端を耐真空
的に固定し、該筒体の他方の端に他の金属ベロー
ズの一端を耐真空的に固定してなる2次電子検出
装置を特徴としている。
[実施例] 第1図は本考案の一実施例を示す縦断面図、第
2図は第1図のAA断面図である。両図におい
て、1は走査電子顕微鏡の試料室で、上部に図示
外の電子銃から発生した電子線2を細く集束して
試料3上に照射するための対物レンズ4が置かれ
ている。5は前記試料2を支持するためのステー
ジで、図示しないが試料を水平微動、傾斜及び上
下移動させるための機構が組込まれている。6は
2次電子検出器で、該検出器は先端にシンチレー
タ7及び加速電極8を備えたライトガイド9と光
電子増倍管10とシールドケース11とから構成
されている。この内、ライトガイド9は押え金具
12及び真空シール部材13を介して球体14に
耐真空的に固定されており、又、光電子増倍管1
0は同じく球体14にビスにより固定された有底
筒状の保持体15内に挿入されている。この光電
子増倍管は図示外のコイルバネによりライトガイ
ド9の端面に押圧、接触されている。更にシール
ドケース11はライトガイド9の外周を囲んだ状
態で球体14にビスにより固定されている。
16は前記球体14を回転可能に支持するため
の球体軸受で、この球体軸受は筒状に加工され、
その端部外周に雄ネジ17が設けてあり、又、こ
の球体軸受の中央部には第2図に示すように四角
形の鍔部18が形成してある。この鍔部18の両
側は電子線2の光軸Zと平行に置かれたガイド板
19a,19bにより挟持され、鍔部18(球体
軸受16)が光軸方向に沿つて上下動できるよう
になしてある。20はその駆動を与えるための押
しネジ、21a及び21bは鍔部18を常に押し
ネジ20に当接させるためのスプリングである。
前記ガイド板19a,19bは試料室1の内壁に
夫々ビスにより固定されている。
22は前記試料室1に着脱可能に取付けられた
蓋体で、この蓋体の中央部には前記球体軸受16
の外径よりも大きな径を有する穴23が設けてあ
り、この穴内を球体軸受が貫通し、又、この蓋体
の側面には球体軸受16の雄ネジ17に螺合され
たナツト24が接触している。
25は前記2次電子検出器6を光軸Zを含む平
面内で球体14を中心にして傾動させるための押
しネジで、前記球体軸受16に形成した突出部2
6に螺合され、その先端が保持体15の下面と接
触している。27はこの押しネジ25と保持体1
5とを常に接触させるためのスプリングである。
28,29はキー及びキー溝で、前記球体14の
傾動をガイドするためのものである。
30は前記試料室1と球体14との間に設置す
ることにより2次電子検出器6のライトガイド9
部分を真空内に配置するための真空シール部材で
あり、この真空シール部材は径が異なつた2つの
内側及び外側金属ベローズ31,32と筒体33
とから構成されている。これらの部材の組立に際
しては、先ず内側金属ベローズ31の一端を球体
14に溶接により耐真空的に固定すると共にこの
内側金属ベーズの他端を、その外周に配置した筒
体33の一端にリング板34を介して耐真空的に
固定する。次に、筒体33の他端を、この筒体の
外周に配置した外側金属ベローズ32の一端にリ
ング板35を介して耐真空的に固定すると共にこ
の外側金属ベローズ32を試料室1に金属シール
部材36を介して固定されたフランジ37に耐真
空時に固定する。前記フランジ37にはリング板
34に当接した環状の突起38が設けてあり、外
側金属ベローズ32が大気圧により押しつぶされ
ることなく、自由長を維持するようになしてあ
る。
39は前記2次電子検出器6の加速電極8に所
定の加速電圧を供給するためのケーブルで、この
ケーブルはライトガイド9の外周に巻回され、更
に球体14を貫通して大気中に取り出されてい
る。40はケーブル39の球体14の入口部分に
設けられた気密端子である。
今、試料位置を実線の状態からから点線で示す
位置まで降下させた場合には、押しネジ25を回
すことにより上方に移動させれば、保持体15が
球体14を中心にして反時計方向に回転するた
め、ライトガイド9(シールドケース11)が降
下し、一点鎖線で示す位置まで移動する。しかる
後、ナツト24を回して球体軸受16を左方向に
移動させることにより2次電子検出器6の傾動に
よる試料3とシンチレータ7との距離変化を調整
し、2次電子検出器を最適な検出位置にセツトす
る。
ここで、本考案においては球体の真空シール手
段として、金属ベローズを二重に組合せて使用し
ているため、2次電子検出器6の傾斜角θを1個
の金属ベローズを使用する場合に比べて大きくす
ることができる。つまり、押しネジ25の移動に
より球体14が反時計方向に回転すると、先ず内
側金属ベローズ31の球体14側の端部が第3図
に示すように下方に押し下げられながら伸びる。
しかして、この内側金属ベローズの伸びがベロー
ズ特性限界に達成すると、今度は筒体33がフラ
ンジ37の突起38に沿つて降下するため、外側
金属ベローズ32が同図に示すように筒体33の
降下に伴なつて下方に引張られながらベローズ特
性限界まで伸びる。その結果、該筒体33の降下
によつて内側金属ベローズ31の伸びが緩和さ
れ、その分更に押しネジ25を押して2次電子検
出器を傾斜させることができる。すなわち、この
外側金属ベローズ32の伸び分だけ傾斜角θを大
きくすることができるわけである。
尚、押しネジ20による球体軸受16の上下動
は2次電子検出器6の光軸方向の位置を微少に調
整するために使用される。又、フランジ37には
外側ベローズ32と筒体33との間の空間を排気
するための排気穴41が形成してある。更に、前
述の説明では本考案を走査電子顕微鏡に実施した
場合について述べたが、透過型電子顕微鏡に走査
像観察装置を組込むことにより走査電子顕微鏡像
を観察できるようにした装置にも同様に実施でき
ることは言うまでもない。
[考案の効果] 以上のように本考案においては、前記シール部
材は2つの径の異なつた金属ベローズと筒体とか
ら成り、径の大なるベローズの内側に筒体を配置
し、該筒体の内側に径の小なるベローズを配置
し、該筒体の一方の端に一方の金属ベローズの一
端を耐真空的に固定し、該筒体の他方の端に他の
金属ベローズの一端を耐真空的に固定するように
しているため、2次電子検出器の傾斜角を大きく
することができる。その結果、超高真空を必要と
する試料室内において、試料上下動の広い範囲に
わたつて検出面に対する試料との距離及び向き具
合を任意に調整することができる効果を有し、実
用性大である。
【図面の簡単な説明】
第1図は本考案の一実施例を示す縦断面図、第
2図は第1図のAA断面図、第3図は本考案の動
作を説明するための一部拡大断面図である。 1……試料室、2……電子線、3……試料、4
……対物レンズ、5……ステージ、6……2次電
子検出器、7……シンチレータ、8……加速電
極、9……ライトガイド、10……光電子増倍
管、14……球体、15……保持台、16……球
体軸受、22……蓋体、25……押しネジ、28
……キー、29……キー溝、30……真空シール
部材、31……内側金属ベローズ、32……外側
金属ベローズ、33……筒体、34,35……リ
ング板、36……金属シール部材、37……フラ
ンジ、39……ケーブル。

Claims (1)

    【実用新案登録請求の範囲】
  1. 鏡体内におかれた試料に電子線を照射すること
    により発生する2次電子を検出するための2次電
    子検出器と、該2次電子検出器を前記鏡体側壁に
    回動可能に取付けるための部材と、該部材と鏡体
    との間の真空シールを行うためのシール部材とを
    備え、前記シール部材は2つの径の異なつた金属
    ベローズと筒体とから成り、径の大なるベローズ
    の内側に筒体を配置し、該筒体の内側に径の小な
    るベローズを配置し、該筒体の一方の端に一方の
    金属ベローズの一端を耐真空的に固定し、該筒体
    の他方の端に他の金属ベローズの一端を耐真空的
    に固定してなる2次電子検出装置。
JP14251084U 1984-09-20 1984-09-20 Expired JPH0451415Y2 (ja)

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JPS6157464U JPS6157464U (ja) 1986-04-17
JPH0451415Y2 true JPH0451415Y2 (ja) 1992-12-03

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ID=30700831

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JP14251084U Expired JPH0451415Y2 (ja) 1984-09-20 1984-09-20

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JPS6157464U (ja) 1986-04-17

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