JPH0451609A - Semiconductor integrated circuit - Google Patents
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Abstract
Description
【発明の詳細な説明】
〔産業上の利用分野〕
本発明は半導体集積回路に関し、特に高耐圧出力バッフ
ァ回路を有する半導体集積回路に関する。DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION [Field of Industrial Application] The present invention relates to a semiconductor integrated circuit, and particularly to a semiconductor integrated circuit having a high voltage output buffer circuit.
第3図に示すように、従来の半導体集積回路(IC)の
高圧出力部は、前段のMOSロジック回路(区示せず)
が出力する低い電圧でかつ互に逆相の論理信号対Vil
及びVi2を低圧側のnチャネルトランジスタ(nMO
3と略す)Q2゜Q4に入力して、高電圧VHにソース
を接続する負荷のnチャネルトランジスタ(pMO3と
略す)Ql、QBを有する差動入力回路1と、差動増幅
された高圧論理信号Vdをゲートに入力するpMO3Q
5と低圧論理信号Vi4をゲートに入力するn M O
S Q 6のCMOS)ランジスタを設けた高電圧出力
バッファ回路3を有していた。As shown in Fig. 3, the high voltage output section of a conventional semiconductor integrated circuit (IC) is a MOS logic circuit (not shown) in the previous stage.
A pair of logic signals Vil with low voltage and mutually opposite phases outputted by Vil
and Vi2 are connected to the low voltage side n-channel transistor (nMO
A differential input circuit 1 has n-channel transistors (abbreviated as pMO3) Ql and QB as loads whose sources are connected to the high voltage VH, and a differentially amplified high voltage logic signal. pMO3Q inputting Vd to the gate
5 and low voltage logic signal Vi4 are input to the gate n M O
It had a high voltage output buffer circuit 3 provided with SQ6 CMOS) transistors.
高圧出力部に供給される高電圧VHは200V程度であ
り、使用され出力バッファトランジスタQ5は、大電流
・高耐圧に設計されている。The high voltage VH supplied to the high voltage output section is about 200V, and the output buffer transistor Q5 used is designed to have a large current and a high withstand voltage.
上述した従来の半導体集積回路は、高耐圧出力バッファ
素子がオフ状態からオン状態へ移るとき、0MO3のバ
ッファ素子が同時にオンしている期間−時的にスイッチ
ング電流が流れる。In the conventional semiconductor integrated circuit described above, when the high voltage output buffer element changes from the off state to the on state, a switching current flows temporally during the period when the 0MO3 buffer elements are simultaneously on.
高耐圧バッファ素子では200V程度の高耐圧が印加さ
れており、またオン抵抗が低いのでこのスイッチング電
流は大きい。In the high-voltage buffer element, a high breakdown voltage of about 200 V is applied, and since the on-resistance is low, this switching current is large.
従ってバッファ素゛子を多数持つICの場合、バッファ
素子の電源ラインには特に電流が集中し、ICの電源ラ
インは簡単に破壊されてしまうという欠点があった。Therefore, in the case of an IC having a large number of buffer elements, current particularly concentrates on the power supply line of the buffer element, and the IC power supply line is easily destroyed.
本発明の半導体集積回路は、ゲートに第1の高圧論理信
号が入力されソースに高電圧源が接続されドレインが電
圧制限素子を介して第2の高圧論理信号を出力するpチ
ャネルソースホロワトランジスタとゲートに第1の低圧
論理信号が入力されドレインが電流制限抵抗を介して前
記電圧制限素子に接続されソースが低電圧源に接続され
るnチャネルトランジスタとを有する電圧コントロール
回路と、二つのソースが前記高電圧源及び低電圧源との
間に挿入されがっnチャネルトランジスタのゲートに前
記第2の高圧論理信号が入力されnチャネルトランジス
タのゲートに第2の低圧論理信号が入力されて共通ドレ
インから高圧論理出力信号を出力するCMOSトランジ
スタを有する高電圧出力バッファ回路を含んで構成され
ている。The semiconductor integrated circuit of the present invention has a p-channel source follower transistor whose gate receives a first high-voltage logic signal, whose source is connected to a high-voltage source, and whose drain outputs a second high-voltage logic signal via a voltage limiting element. and an n-channel transistor having a gate to which a first low voltage logic signal is input, a drain connected to the voltage limiting element via a current limiting resistor, and a source connected to the low voltage source; and two sources. is inserted between the high voltage source and the low voltage source, the second high voltage logic signal is input to the gate of the n-channel transistor, and the second low voltage logic signal is input to the gate of the n-channel transistor, so that a common It is configured to include a high voltage output buffer circuit having a CMOS transistor that outputs a high voltage logic output signal from its drain.
次に本発明について図面を参照して説明する。 Next, the present invention will be explained with reference to the drawings.
第1図は本発明の第1の実施例の回路図である。FIG. 1 is a circuit diagram of a first embodiment of the present invention.
本実施例の高圧出力部は、第3図の従来の差動入力回路
1と高電圧出力バッファ回路3との間に電圧コントロー
ル回路2を挿入している。In the high voltage output section of this embodiment, a voltage control circuit 2 is inserted between the conventional differential input circuit 1 and the high voltage output buffer circuit 3 shown in FIG.
低圧電源を使用したMOSロジック回路はデジタル信号
処理を行い信号Vil〜V i 4を高圧出力部に供給
する。A MOS logic circuit using a low voltage power supply performs digital signal processing and supplies signals Vil to Vi4 to the high voltage output section.
高圧出力部には高耐圧・高電流を得やすい高圧pMOs
Q1.Q3.Q5.Q7とその相補型で同じく高耐圧を
得やすい二重拡散nMO8Q2゜Q4.Q6.Q8およ
び電流制限用抵抗9,10と電圧制限用ツェナーダイオ
ード11で構成する。High-voltage pMOS is used in the high-voltage output section, making it easy to obtain high withstand voltage and high current.
Q1. Q3. Q5. Q7 and its complementary type, double-diffused nMO8Q2゜Q4. Q6. It consists of Q8, current limiting resistors 9 and 10, and a voltage limiting Zener diode 11.
高耐圧pMO8の共通ソースは全てVHの高圧電源に接
続されている。The common sources of all the high voltage pMO8s are connected to the high voltage power supply VH.
差動入力回路1のpMO3Q1のドレインは高耐圧二重
拡散nMO3Q2のドレインおよびpMO3Q3のゲー
トに接続され、対称的にpMO3Q3のドレインは高耐
圧二重拡散nMOsQ4のドレインとpMO8Q1のゲ
ートに接続されVdを出力する。The drain of pMO3Q1 of differential input circuit 1 is connected to the drain of high voltage double diffusion nMO3Q2 and the gate of pMO3Q3, and symmetrically, the drain of pMO3Q3 is connected to the drain of high voltage double diffusion nMOsQ4 and the gate of pMO8Q1, and Vd is connected to the drain of pMO3Q1. Output.
電圧コントロール回路2のpMO3Q7のゲートは電圧
Vdを受けまた、ドレインは電圧制限用ツェナーダイオ
ード11のカソードに接続されると同時に電流制限用抵
抗9にも接続されている。The gate of pMO3Q7 of the voltage control circuit 2 receives the voltage Vd, and the drain is connected to the cathode of the voltage limiting Zener diode 11 and also to the current limiting resistor 9.
この抵抗9の他端はツェナーダイオード11のアノード
および高電圧出力バッファ回路3のpMO6Q5のゲー
トに接続されると共に電流制限用抵抗10を介して高耐
圧二重拡散n M OS Q 8のドレインに接続され
ている。The other end of this resistor 9 is connected to the anode of the Zener diode 11 and the gate of pMO6Q5 of the high voltage output buffer circuit 3, and is also connected to the drain of the high voltage double diffusion nMOS Q 8 via the current limiting resistor 10. has been done.
高耐圧二重拡散nMO8Q2.Q4.Q6Q8のソース
は全て接地電源14に接続されており、Q6のドレイン
は出力バッファ素子である高耐圧pMO3Q5のドレイ
ンと相互に接続され、出力端子に高圧論理出力信号VO
を出力する。High voltage double diffusion nMO8Q2. Q4. The sources of Q6Q8 are all connected to the ground power supply 14, the drain of Q6 is mutually connected to the drain of high voltage pMO3Q5 which is an output buffer element, and the high voltage logic output signal VO is connected to the output terminal.
Output.
低圧論理信号Vil〜V i 4はそれぞれ高耐圧nM
O3のゲートに接続されており、信号Vi1、Vi3は
同相、−Vi2.Vi4はV i 1 。Each of the low voltage logic signals Vil to Vi 4 has a high breakdown voltage nM.
It is connected to the gate of O3, and the signals Vi1 and Vi3 are in phase, -Vi2. Vi4 is Vi1.
Vi3とは逆相の信号で、おのおのタイミングをずらし
て入力される。This signal has a phase opposite to that of Vi3, and is input with shifted timing.
低圧論理信号Vil〜Vi4の入力順序は、出力信号■
0が“L”→“H′lに変化する時は、(1)・・・V
i 4
(2)・・・Vi3
(3)・・・Vil、Vi2
またVOが′H°′→“L IIに変化する時は(1)
・・・Vi3
(2)・・・V i 1 、 V i 2(3)・
・・Vi4
の順に設定されている。The input order of the low voltage logic signals Vil to Vi4 is the output signal ■
When 0 changes from "L" to "H'l", (1)...V
i 4 (2)...Vi3 (3)...Vil, Vi2 Also, when VO changes from 'H°' to "L II" (1)
...Vi3 (2)...V i 1, Vi 2 (3)・
...It is set in the order of Vi4.
高圧論理出力信号■0が“し”のとき、すなわち低圧論
理信号Vil、Vi3が“′L′°でVi2、Vi4が
“H”のとき、高耐圧MO3QI。When the high voltage logic output signal ■0 is "Yes", that is, when the low voltage logic signals Vil and Vi3 are "'L'" and Vi2 and Vi4 are "H", the high voltage MO3QI.
Q4.Ql、Q6はオン、Q2.Q3.Q8゜Q5はオ
フ状態にある。Q4. Ql, Q6 are on, Q2. Q3. Q8°Q5 is in the off state.
ここで低圧信号Vi4がH′”→“L ”に変わると、
MO3Q6が徐々にオフとなる。Here, when the low voltage signal Vi4 changes from "H'" to "L",
MO3Q6 is gradually turned off.
入力論理信号Vi3が“L ”→“H″′に変わった後
、信号VilがL″→”H”、■12が“′H°′→”
L ”に変化すると、MO8Q8が徐々にオンし、そ
の後MO8Q2もオンし、MO3Q4はオフする。After the input logic signal Vi3 changes from "L" to "H"', the signal Vil changes from L" to "H", and ■12 changes from "'H°'→"
When it changes to L'', MO8Q8 gradually turns on, then MO8Q2 also turns on, and MO3Q4 turns off.
このときMO3Q7がオン状態のままMOSQ8が徐々
にオンするため、MO3Q7.Q8は同時にオンの状態
となるが、電流制限抵抗9.10により電源電流は抑え
られる。At this time, since MOSQ8 is gradually turned on while MO3Q7 remains on, MO3Q7. Q8 is turned on at the same time, but the power supply current is suppressed by the current limiting resistor 9.10.
またこのときMO3Q5のゲート電圧はツェナーダイオ
ード11のツェナー電圧分Vzだけ高圧電源の電圧VH
から引き下げられるのて、高耐圧pMO3Q5のソース
・ドレイン間にかかる電圧VGはpMO3Q7がわずか
でもオンして電流が流れる限りツェナー電圧Vz以上は
決してかからず、MO3Q5に流れる電流工。はMO3
Q7かオフするまでは一定電流に制限される。Also, at this time, the gate voltage of MO3Q5 is equal to the voltage VH of the high voltage power supply by the Zener voltage Vz of the Zener diode 11.
As long as pMO3Q7 is turned on even slightly and current flows, the voltage VG applied between the source and drain of high voltage pMO3Q5 will never exceed the zener voltage Vz, and the current flowing to MO3Q5 will never exceed the Zener voltage Vz. is MO3
The current is limited to a constant level until Q7 turns off.
MO3Q7が完全にオフし、MOSQ5かオンする時に
はMO3Q6は完全にオフしているかあるいは十分な抵
抗をもつ状態のため、スイッチングによる瞬間的な大電
流は流れない。When MO3Q7 is completely off and MOSQ5 is on, MO3Q6 is either completely off or has sufficient resistance, so no instantaneous large current will flow due to switching.
逆に出力信号VOが“Hパのとき、すなわち低圧論理信
号Vi l、Vi3が“’)l”、Vi2.Vi4が′
″L ”のときは高耐圧MO3QI、Q4゜Ql、Q6
はオフ、Q2.Q3.Q8.Q5はオン状態にある。Conversely, when the output signal VO is "H", that is, the low voltage logic signals Vi1 and Vi3 are "')l", and Vi2.Vi4 are "')".
When “L”, high voltage MO3QI, Q4゜Ql, Q6
is off, Q2. Q3. Q8. Q5 is in the on state.
ここで入力信号Vi3が”H“→” L ”に変わると
、MO3Q8は徐々にオンする。そしてVilがH″→
“L ”に、Vi2がL ”→” H”に変化した後、
Vi4が” L ”→H(H11に変化すルト、MO8
Q2.Q3は徐々ニ、t 7、MOSQ4、Qlは徐々
にオンし、その結果MO8Q7も徐々にオンする。Here, when the input signal Vi3 changes from "H" to "L", MO3Q8 is gradually turned on. And Vil is H″→
After Vi2 changes from “L” to “H”,
Vi4 changes from “L” to H (H11, MO8
Q2. Q3 gradually turns on, t7, MOSQ4, and Ql gradually turn on, and as a result, MO8Q7 also turns on gradually.
このためMO3Q7.Q8は同時にオンの状態となるが
、前述の場合と同様に電流制限抵抗9゜10により電源
からの電流は抑えられまたMO3Q5のゲート・ソース
間電圧VGはMO6Q7がわずかでもオンしている限り
はツェナー電圧VzがかかりMOSQ5に流れる電流工
。は一定に制限される。Therefore, MO3Q7. Q8 is turned on at the same time, but as in the previous case, the current from the power supply is suppressed by the current limiting resistor 9°10, and the gate-source voltage VG of MO3Q5 remains as long as MO6Q7 is turned on even slightly. Zener voltage Vz is applied and current flows to MOSQ5. is limited to a certain extent.
MO3Q7が完全にオンしMO3Q8が完全にオフする
とMO3Q5もオフし電流は流れなくなる。When MO3Q7 is completely turned on and MO3Q8 is completely turned off, MO3Q5 is also turned off and no current flows.
このように高耐圧pMO8Q5のスイッチング時に流れ
る電流■oはゲートの前段に挿入された電圧コントロー
ル回路2により完全に制御され、瞬間的な大電流は発生
せずにICの電源ラインの破壊を防ぐことができる。In this way, the current flowing during switching of the high-voltage pMO8Q5 is completely controlled by the voltage control circuit 2 inserted before the gate, preventing the destruction of the IC power supply line without generating a momentary large current. I can do it.
第2図は本発明の第2の実施例の回路図である。FIG. 2 is a circuit diagram of a second embodiment of the invention.
第1の実施例とほぼ同様の高圧出力回路であるが、第1
の実施例では高耐圧pMOsQ7のドレインに電流制限
抵抗9および電圧制限用ツェナーダイオード11を使用
していたのに対し、本実施例では高耐圧pMO3Q12
を使用している。The high voltage output circuit is almost the same as the first embodiment, but the first
In this example, a current limiting resistor 9 and a voltage limiting Zener diode 11 were used at the drain of the high voltage pMO3Q7, whereas in this example, a high voltage pMO3Q12 was used.
are using.
この高耐圧PMO3Q12はソースが高耐圧pMO3Q
7のドレインに接続され、ゲートはドレイと接続されて
高耐圧pMO3Q5のゲートおよび電流制限抵抗10の
一端に接続されている。電流制限抵抗10の他端は第1
の実施例と同様高耐圧二重拡散nMOsQ8のドレイン
に接続されている。The source of this high voltage PMO3Q12 is a high voltage PMO3Q.
7, and its gate is connected to the drain and connected to the gate of high voltage pMO3Q5 and one end of current limiting resistor 10. The other end of the current limiting resistor 10 is the first
As in the embodiment, it is connected to the drain of the high voltage double-diffused nMOS Q8.
pMO3Q12はゲートがドレインに接続されており、
ソース・ドレイン間もほぼ一定の電圧に保つという特徴
がある。The gate of pMO3Q12 is connected to the drain,
It has the characteristic that it maintains a nearly constant voltage between the source and drain.
またQl2とQ5は全く同様の構造をもつ高耐圧pMO
sのQlがオンしている間はミラー回路を精成しており
、Ql2とQ5のチャネル幅の比はおのおののドレイン
電流の比となる。Also, Ql2 and Q5 are high voltage pMOs with exactly the same structure.
While Ql of s is on, the mirror circuit is refined, and the ratio of the channel widths of Ql2 and Q5 becomes the ratio of their respective drain currents.
もしpMOsQl2とQBのチャネル幅の比がれる電流
の10倍の電流がpMO3Q5のドレインに流れるよう
にpMOsQl 2によってQBのゲート電圧VGは常
に一定に制限されることになる。If the ratio of the channel widths of pMOsQl2 and QB is 10 times the current flowing to the drain of pMO3Q5, the gate voltage VG of QB will always be limited to a constant value by pMOsQl2.
このように本実施例も第1の実施例と同様の動作を行い
、高耐圧出力バッファ素子に流れる過電流を制限するこ
とができ、しかも第1の実施例に比べ電圧制限回路とし
てトランジスタ以外の素子を使用せずMOSFETで構
成するため回路構成が簡単で省スペースであるという利
点がある。In this way, this embodiment also operates in the same way as the first embodiment, and can limit the overcurrent flowing to the high voltage output buffer element. Since it is constructed using MOSFETs without using any elements, it has the advantage that the circuit construction is simple and space-saving.
以上説明したように本発明は、高耐圧出力バッファ素子
のゲートの前段に電圧コントロール回路を設けることに
より、出力バッファ素子のスイッチング時に流れる過電
流を制限できる効果がある。As described above, the present invention has the effect of limiting the overcurrent flowing during switching of the output buffer element by providing a voltage control circuit before the gate of the high voltage output buffer element.
第1図は本発明の第1の実施例の回路図、第2図は本発
明の第2の実施例の回路図、第3図は本発明の従来の半
導体集積回路の一例の回路図である。
1・・・差動入力回路、2・・・電圧コントロール回路
、3・・・出力バッファ回路、9,1o・・・電流制限
抵抗、11・・・電圧制限用ツェナーダイオード、13
・・・高圧電源、14・・・接地電源、Ql、QB。
QB、Q7.Ql 2−・・高耐圧pMO8,Q2゜Q
4.Q6.Q8.、、高耐圧二重拡散nMO3、Vil
〜V i 4・・・低圧論理信号、■o・・・高圧論理
出力信号、Vd・・・差動増幅された高圧論理信号、V
G・・・ゲート電圧、VH・・・高電圧。FIG. 1 is a circuit diagram of a first embodiment of the present invention, FIG. 2 is a circuit diagram of a second embodiment of the present invention, and FIG. 3 is a circuit diagram of an example of a conventional semiconductor integrated circuit of the present invention. be. DESCRIPTION OF SYMBOLS 1... Differential input circuit, 2... Voltage control circuit, 3... Output buffer circuit, 9, 1o... Current limiting resistor, 11... Zener diode for voltage limiting, 13
... High voltage power supply, 14... Ground power supply, Ql, QB. QB, Q7. Ql 2-...High voltage pMO8, Q2゜Q
4. Q6. Q8. , , High voltage double-diffused nMO3, Vil
~V i 4...Low voltage logic signal, ■o...High voltage logic output signal, Vd...Differentially amplified high voltage logic signal, V
G...Gate voltage, VH...High voltage.
Claims (1)
源が接続されドレインが電圧制限素子を介して第2の高
圧論理信号を出力するpチャネルソースホロワトランジ
スタとゲートに第1の低圧論理信号が入力されドレイン
が電流制限抵抗を介して前記電圧制限素子に接続されソ
ースが低電圧源に接続されるnチャネルトランジスタと
を有する電圧コントロール回路と、二つのソースが前記
高電圧源及び低電圧源との間に挿入されかつpチャネル
トランジスタのゲートに前記第2の高圧論理信号が入力
されnチャネルトランジスタのゲートに第2の低圧論理
信号が入力されて共通ドレインから高圧論理出力信号を
出力するCMOSトランジスタを有する高電圧出力バッ
ファ回路を含むことを特徴とする半導体集積回路。A p-channel source follower transistor whose gate receives a first high-voltage logic signal, whose source is connected to a high-voltage source, and whose drain outputs a second high-voltage logic signal via a voltage limiting element; a voltage control circuit having an n-channel transistor to which a signal is input, a drain connected to the voltage limiting element via a current limiting resistor, and a source connected to a low voltage source; and two sources connected to the high voltage source and the low voltage source. the second high-voltage logic signal is input to the gate of the p-channel transistor, the second low-voltage logic signal is input to the gate of the n-channel transistor, and a high-voltage logic output signal is output from the common drain. A semiconductor integrated circuit comprising a high voltage output buffer circuit having a CMOS transistor.
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP2160176A JPH0451609A (en) | 1990-06-19 | 1990-06-19 | Semiconductor integrated circuit |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP2160176A JPH0451609A (en) | 1990-06-19 | 1990-06-19 | Semiconductor integrated circuit |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH0451609A true JPH0451609A (en) | 1992-02-20 |
Family
ID=15709489
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP2160176A Pending JPH0451609A (en) | 1990-06-19 | 1990-06-19 | Semiconductor integrated circuit |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH0451609A (en) |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH0792109A (en) * | 1993-09-22 | 1995-04-07 | Shibuya Kogyo Co Ltd | Foreign matter inspection device |
-
1990
- 1990-06-19 JP JP2160176A patent/JPH0451609A/en active Pending
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH0792109A (en) * | 1993-09-22 | 1995-04-07 | Shibuya Kogyo Co Ltd | Foreign matter inspection device |
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