JPH0452281A - 金属層の形成方法 - Google Patents
金属層の形成方法Info
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- JPH0452281A JPH0452281A JP16232790A JP16232790A JPH0452281A JP H0452281 A JPH0452281 A JP H0452281A JP 16232790 A JP16232790 A JP 16232790A JP 16232790 A JP16232790 A JP 16232790A JP H0452281 A JPH0452281 A JP H0452281A
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Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
〔産業上の利用分野〕
この発明は窒化アルミニウム基板の表面に金属層を形成
する方法に関する。
する方法に関する。
高密度実装用、高出力半導体素子用のプリント配線板の
製造に通した絶縁基板として、セラミック基板がある。
製造に通した絶縁基板として、セラミック基板がある。
セラミック基板には優れた電気絶縁性および熱伝導性が
要求されるが、現在、アルミナ(A l t Ox )
基板がよく利用されている。
要求されるが、現在、アルミナ(A l t Ox )
基板がよく利用されている。
しかし、さらに実装密度や出力を上げるために、アルミ
ナ基板兼の電気絶縁性をもち、アルミニウム基板に比べ
熱伝導性の良い(1桁良い熱伝導率である)窒化アルミ
ニウム(A A N)基板が注目されている。窒化アル
ミニウム基板は、その他、熱膨張係数が半導体棄子自体
並の小さい値であるため、大型の半導体素子の実装に適
する。
ナ基板兼の電気絶縁性をもち、アルミニウム基板に比べ
熱伝導性の良い(1桁良い熱伝導率である)窒化アルミ
ニウム(A A N)基板が注目されている。窒化アル
ミニウム基板は、その他、熱膨張係数が半導体棄子自体
並の小さい値であるため、大型の半導体素子の実装に適
する。
もちろん、窒化アルミニウム基板は、表面に回路用の金
属層を形成して使うものであることは言うまでもない。
属層を形成して使うものであることは言うまでもない。
窒化アルミニウム基板の表面に金属層を形成する方法に
は、銅箔を窒化アルミニウム基板の表面に接合する方法
(例えば、エレクトロニクス・セラミックス 1988
年11月号 P、17〜21)、あるいは、無電解銅メ
ッキ法により窒化アルミニウム基板の表面に銅層を析出
させる方法(例えば、エレクトロニクス・セラミックス
1988年11月号 P、38〜42)がある。
は、銅箔を窒化アルミニウム基板の表面に接合する方法
(例えば、エレクトロニクス・セラミックス 1988
年11月号 P、17〜21)、あるいは、無電解銅メ
ッキ法により窒化アルミニウム基板の表面に銅層を析出
させる方法(例えば、エレクトロニクス・セラミックス
1988年11月号 P、38〜42)がある。
前者の銅箔接合方法の場合、銅箔の密着力が十分である
という特徴があるが、銅箔を使う関係上、銅層の厚みが
どうしても厚く、回路の微細化が難しく高密度化に適し
ていない。それに、銅箔接合処理の際に温度及び雰囲気
を厳密に制御しなければならないという欠点がある。
という特徴があるが、銅箔を使う関係上、銅層の厚みが
どうしても厚く、回路の微細化が難しく高密度化に適し
ていない。それに、銅箔接合処理の際に温度及び雰囲気
を厳密に制御しなければならないという欠点がある。
後者の無電解銅メッキ法の場合、厚みの薄い銅層が形成
できるという特徴があり、高密度化に通した方法である
と言える。しかしながら、銅層の密着力が十分でなく、
また、フクレが発生し易いという問題がある。これは、
銅層の密着力を高めるため、窒化アルミニウム基板の表
面を予め粗化しておくのではあるが、無電解銅メッキ液
が強アルカリ性であるため、銅の析出と平行して窒化ア
ルミニウム基板表面のエツチングが進行し、粗化面が侵
され、粗化(アンカー)効果が失われてしまうからであ
る。メッキ処理の際に、下記式(11の反応が進行し表
面が滑らかになるのである。
できるという特徴があり、高密度化に通した方法である
と言える。しかしながら、銅層の密着力が十分でなく、
また、フクレが発生し易いという問題がある。これは、
銅層の密着力を高めるため、窒化アルミニウム基板の表
面を予め粗化しておくのではあるが、無電解銅メッキ液
が強アルカリ性であるため、銅の析出と平行して窒化ア
ルミニウム基板表面のエツチングが進行し、粗化面が侵
され、粗化(アンカー)効果が失われてしまうからであ
る。メッキ処理の際に、下記式(11の反応が進行し表
面が滑らかになるのである。
AIN+NaOH+4HzO→NH4OH+NaA1(
OH)4・・・(tlこの発明は、上記事情に鑑み、窒
化アルミニウム基板表面にフクレのない密着力十分な金
属層を形成する方法を提供することを課題とする。
OH)4・・・(tlこの発明は、上記事情に鑑み、窒
化アルミニウム基板表面にフクレのない密着力十分な金
属層を形成する方法を提供することを課題とする。
前記課題を解決するため、表面が粗化されている窒化ア
ルミニウム基板の前記表面に無電解メッキ法により金属
層を形成するにあたり、前記窒化アルミニウム基板とし
て、表面が酸化されている基板を用いるようにしている
。
ルミニウム基板の前記表面に無電解メッキ法により金属
層を形成するにあたり、前記窒化アルミニウム基板とし
て、表面が酸化されている基板を用いるようにしている
。
通常、窒化アルミニウム表面を酸化してから表面を粗化
する。
する。
基板表面を酸化するには、例えば、常圧空気雰囲気下、
1000〜1400℃の温度で熱処理すればよい。この
酸化処理で出来る酸化層(A 1t03層)の厚みは、
3〜10μの範囲であることが好ましい。3μ未満では
次ぎの粗化処理で表面の酸化層が薄れ未酸化層が覗くな
ど必要厚みが確保されない恐れがある。10I!@を越
えると酸化層と非酸化層の間にA1.O,とAlNの熱
膨張率差に起因するクランクが入り易くなる。ただ、N
1−P系の無電解メッキの場合は、粗化面損傷作用が比
較的軽いため、酸化層が多少薄くてもかまわない。
1000〜1400℃の温度で熱処理すればよい。この
酸化処理で出来る酸化層(A 1t03層)の厚みは、
3〜10μの範囲であることが好ましい。3μ未満では
次ぎの粗化処理で表面の酸化層が薄れ未酸化層が覗くな
ど必要厚みが確保されない恐れがある。10I!@を越
えると酸化層と非酸化層の間にA1.O,とAlNの熱
膨張率差に起因するクランクが入り易くなる。ただ、N
1−P系の無電解メッキの場合は、粗化面損傷作用が比
較的軽いため、酸化層が多少薄くてもかまわない。
基板表面を粗化するには、例えば、サンドブラスト法等
の機械的粗化方法、酸性液、アルカリ性液を用いた化学
的粗化方法があるが、後者の化学的粗化方法の方が、微
細・均一な粗化が行えるので好ましい。化学的粗化方法
の場合、具体的には、例えば、250〜330℃のリン
酸浴に、0.5〜5分程度窒化アルミニウム基板を浸漬
するようにする。この粗化処理の後、酸化層が約1μ以
上残っているようにすることが望ましい。
の機械的粗化方法、酸性液、アルカリ性液を用いた化学
的粗化方法があるが、後者の化学的粗化方法の方が、微
細・均一な粗化が行えるので好ましい。化学的粗化方法
の場合、具体的には、例えば、250〜330℃のリン
酸浴に、0.5〜5分程度窒化アルミニウム基板を浸漬
するようにする。この粗化処理の後、酸化層が約1μ以
上残っているようにすることが望ましい。
粗化処理の後、普通、核(Pd等)付は処理してから、
銅系、あるいは、N1−P系の無電解メッキ液に浸漬し
、銅層、あるいは、ニッケル層を形成する。強アルカリ
性で液温の高い高速無電解銅メッキ液などでも何ら問題
ない、金属層は、2〜3 kg/j程度の十分な強度で
確りと窒化アルミニウム基板表面に密着している。
銅系、あるいは、N1−P系の無電解メッキ液に浸漬し
、銅層、あるいは、ニッケル層を形成する。強アルカリ
性で液温の高い高速無電解銅メッキ液などでも何ら問題
ない、金属層は、2〜3 kg/j程度の十分な強度で
確りと窒化アルミニウム基板表面に密着している。
酸化処理、粗、化処理は、上記例示の処理に限らないこ
とは言うまでもない。酸化処理、粗化処理の順序も、窒
化アルミニウム基板の表面を粗化してから酸化するとい
う上記と逆の順であってもよい。
とは言うまでもない。酸化処理、粗化処理の順序も、窒
化アルミニウム基板の表面を粗化してから酸化するとい
う上記と逆の順であってもよい。
窒化アルミニウム基板の表面は、酸化により無電解メッ
キ液でエツチングされ難くなっており、無電解メッキ中
も粗化面が正常な状態で維持されるため、形成される金
属層は、密着力が従来よりも高くてフクレのないものと
なる。
キ液でエツチングされ難くなっており、無電解メッキ中
も粗化面が正常な状態で維持されるため、形成される金
属層は、密着力が従来よりも高くてフクレのないものと
なる。
以下、この発明の詳細な説明する。
一実施例1−
市販の窒化アルミニウム基板(厚み0.635m、縦2
インチ、横2インチ)を、常圧大気雰囲気下、1250
℃の温度で1時間熱処理し酸化処理した。酸化層の厚み
は、3〜4μであった。
インチ、横2インチ)を、常圧大気雰囲気下、1250
℃の温度で1時間熱処理し酸化処理した。酸化層の厚み
は、3〜4μであった。
ついで、表面を酸化した窒化アルミニウム基板を、33
0℃のリン酸浴中に0.5分浸漬し、粗化処理した。
0℃のリン酸浴中に0.5分浸漬し、粗化処理した。
粗化処理後、通常のセンシーアクチ法によりPd核付は
処理した後、無電解銅メッキ液に浸漬し、厚みIonの
銅層を表面に形成した。
処理した後、無電解銅メッキ液に浸漬し、厚みIonの
銅層を表面に形成した。
一実施例2−
実施例1と同じアルミニウム基板を、常圧大気雰囲気下
、1250℃の温度で1時間熱処理し酸化処理した。酸
化層の厚みは、3〜4nであったついで、表面を酸化し
た窒化アルミニウム基板を、300℃のリン酸浴中に1
.0分浸漬し、粗化処理した。
、1250℃の温度で1時間熱処理し酸化処理した。酸
化層の厚みは、3〜4nであったついで、表面を酸化し
た窒化アルミニウム基板を、300℃のリン酸浴中に1
.0分浸漬し、粗化処理した。
以後、実施例1と同様にして、厚み10μの銅層を形成
した。
した。
一実施例3一
実施例1と同じアルミニウム基板を、常圧大気雰囲気下
、1300℃の温度で1時間熱処理し酸化処理した。酸
化層の厚みは、5〜5.nであったついで、表面を酸化
した窒化アルミニウム基板を、330℃のリン酸浴中に
0.5分浸漬し、粗化処理した。
、1300℃の温度で1時間熱処理し酸化処理した。酸
化層の厚みは、5〜5.nであったついで、表面を酸化
した窒化アルミニウム基板を、330℃のリン酸浴中に
0.5分浸漬し、粗化処理した。
以後、実施例1と同様にして、厚み10μの銅層を形成
した。
した。
一実施例4一
実施例1と同じアルミニウム基板を、常圧大気雰囲気下
、1300℃の温度で1時間熱処理し酸化処理した。酸
化層の厚みは、5〜6μであったついで、表面を酸化し
た窒化アルミニウム基板を、280℃のリン酸浴中に1
.5分浸漬し、粗化処理した。
、1300℃の温度で1時間熱処理し酸化処理した。酸
化層の厚みは、5〜6μであったついで、表面を酸化し
た窒化アルミニウム基板を、280℃のリン酸浴中に1
.5分浸漬し、粗化処理した。
以後、実施例1と同様にして、厚みIonの銅層を形成
した。
した。
一実施例5一
実施例1と同じアルミニウム基板を、常圧大気雰囲気下
、1350℃の温度で1時間熱処理し酸化処理した。酸
化層の厚みは、8〜IoInAであった。
、1350℃の温度で1時間熱処理し酸化処理した。酸
化層の厚みは、8〜IoInAであった。
ついで、表面を酸化した窒化アルミニウム基板を、33
0℃のリン酸浴中に1.0分浸漬し、粗化処理した。
0℃のリン酸浴中に1.0分浸漬し、粗化処理した。
以後、実施例1と同様にして、厚みIonの銅層を形成
した。
した。
−実施例6−
実施例1と同じアルミニウム基板を、常圧大気雰囲気下
、1150℃の温度で1時間熱処理し酸化処理した。酸
化層の厚みは、1〜2μであったついで、表面を酸化し
た窒化アルミニウム基板を、300℃のリン酸浴中に1
.0分浸漬し、粗化処理した。
、1150℃の温度で1時間熱処理し酸化処理した。酸
化層の厚みは、1〜2μであったついで、表面を酸化し
た窒化アルミニウム基板を、300℃のリン酸浴中に1
.0分浸漬し、粗化処理した。
粗化処理後、通常のセンシーアクチ法でPd核付は処理
した後、N1−P系無電解銅メッキ液に浸漬し、厚み1
0nのニッケル層を形成した。
した後、N1−P系無電解銅メッキ液に浸漬し、厚み1
0nのニッケル層を形成した。
−比較例1
酸化処理しなかった他は、実施例1と同様にして厚みL
Otrmの銅層を形成した。
Otrmの銅層を形成した。
比較例2
酸化処理しなかった他は、実施例2と同様にして厚み1
0μの銅層を形成した。
0μの銅層を形成した。
一比較例3一
実施例1と同じ窒化アルミニウム基板を酸化処理せずに
、50℃のlN−NaOH浴中に60分浸漬し粗化処理
した。
、50℃のlN−NaOH浴中に60分浸漬し粗化処理
した。
粗化処理後、通常のセンシーアクチ法によりPd核付は
処理した後、無電解銅メッキ液に浸漬し、厚み10mの
銅層を表面に形成した。
処理した後、無電解銅メッキ液に浸漬し、厚み10mの
銅層を表面に形成した。
比較例4−
IN−NaOH浴中の浸漬時間が80分である他は、比
較例3と同様にして厚み1(lnwの銅層を形成した。
較例3と同様にして厚み1(lnwの銅層を形成した。
実施例および比較例で形成した金属層の接着強度および
フクレの有無を調べた。結果を、第1表に示す。
フクレの有無を調べた。結果を、第1表に示す。
第1表
実施例1〜6で形成された金属層は十分な密着強度を有
しフクレが生じておらず、これに対し、比較例1〜4で
形成された金属層は十分な密着強度を有さずフクレが生
じている。これにより、窒化アルミニウム基板の表面を
酸化することが有用な作用を発揮することがよく分かる
。
しフクレが生じておらず、これに対し、比較例1〜4で
形成された金属層は十分な密着強度を有さずフクレが生
じている。これにより、窒化アルミニウム基板の表面を
酸化することが有用な作用を発揮することがよく分かる
。
以上に述べたように、この発明にかかる金属層の形成方
法では、窒化アルミニウム基板の粗化面が無電解メッキ
中も正常な状態で維持されるため、形成される金属層は
、密着力が従来よりも高くてフクレの無いものとなる。
法では、窒化アルミニウム基板の粗化面が無電解メッキ
中も正常な状態で維持されるため、形成される金属層は
、密着力が従来よりも高くてフクレの無いものとなる。
代理人 弁理士 松 本 武 彦
手続補正書(帥
平成2年8月r1゛
Claims (1)
- 1 表面が粗化されている窒化アルミニウム基板の前記
表面に無電解メッキ法により金属層を形成する方法にお
いて、前記窒化アルミニウム基板として、表面が酸化さ
れている基板を用いることを特徴とする金属層の形成方
法。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP16232790A JPH0452281A (ja) | 1990-06-19 | 1990-06-19 | 金属層の形成方法 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP16232790A JPH0452281A (ja) | 1990-06-19 | 1990-06-19 | 金属層の形成方法 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH0452281A true JPH0452281A (ja) | 1992-02-20 |
Family
ID=15752433
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP16232790A Pending JPH0452281A (ja) | 1990-06-19 | 1990-06-19 | 金属層の形成方法 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH0452281A (ja) |
-
1990
- 1990-06-19 JP JP16232790A patent/JPH0452281A/ja active Pending
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