JPH0452661Y2 - - Google Patents

Info

Publication number
JPH0452661Y2
JPH0452661Y2 JP3423687U JP3423687U JPH0452661Y2 JP H0452661 Y2 JPH0452661 Y2 JP H0452661Y2 JP 3423687 U JP3423687 U JP 3423687U JP 3423687 U JP3423687 U JP 3423687U JP H0452661 Y2 JPH0452661 Y2 JP H0452661Y2
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
output
amplifier
circuit
signal
gain
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Expired
Application number
JP3423687U
Other languages
Japanese (ja)
Other versions
JPS63141434U (en
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed filed Critical
Priority to JP3423687U priority Critical patent/JPH0452661Y2/ja
Publication of JPS63141434U publication Critical patent/JPS63141434U/ja
Application granted granted Critical
Publication of JPH0452661Y2 publication Critical patent/JPH0452661Y2/ja
Expired legal-status Critical Current

Links

Landscapes

  • Measuring Instrument Details And Bridges, And Automatic Balancing Devices (AREA)
  • Photometry And Measurement Of Optical Pulse Characteristics (AREA)
  • Radiation Pyrometers (AREA)

Description

【考案の詳細な説明】 <産業上の利用分野> 本考案は、低温から高温まで広い範囲の温度を
測定することができる放射温度計に関するもので
ある。
[Detailed Description of the Invention] <Industrial Application Field> The present invention relates to a radiation thermometer that can measure temperatures in a wide range from low to high temperatures.

<従来の技術> 第3図は従来の放射温度計の一例を示したもの
である。図において、1はレンズ、2は光学フイ
ルタ、3は光検出器、400は帰還抵抗401を
有する初段アンプ、11はアナログ/デイジタル
変換回路、12は温度演算回路である。このよう
な構成において、被測定物体から放射された放射
光は、レンズ1で収束され、光学フイルタ2を介
して光検出器3で電気信号に変換される。この変
換された電気信号は信号処理回路を構成する初段
アンプ400で増幅され、アナログ/デイジタル
変換回路11を介してデイジタル信号に変換され
て温度演算回路に入力される。この温度演算回路
はマイクロプロセツサ等で構成されており、入力
されたデイジタル信号を温度に変換する演算を行
つて出力する。
<Prior Art> FIG. 3 shows an example of a conventional radiation thermometer. In the figure, 1 is a lens, 2 is an optical filter, 3 is a photodetector, 400 is a first stage amplifier having a feedback resistor 401, 11 is an analog/digital conversion circuit, and 12 is a temperature calculation circuit. In such a configuration, the synchrotron radiation emitted from the object to be measured is converged by the lens 1, passed through the optical filter 2, and converted into an electrical signal by the photodetector 3. This converted electric signal is amplified by a first stage amplifier 400 constituting a signal processing circuit, converted to a digital signal via an analog/digital conversion circuit 11, and inputted to a temperature calculation circuit. This temperature calculation circuit is composed of a microprocessor, etc., and performs calculations to convert an input digital signal into temperature and outputs the result.

ところで、放射温度計を使用して例えば400〜
3000℃にわたる広範囲の温度を測定するために
は、pW程度の微弱光からmW程度まで非常に広
い範囲の光測定を必要とする。ところが、第3図
のような従来の回路ではこのような広い範囲の光
測定が出来ず、このため従来は初段アンプ400
の帰還抵抗401をかえて数機種で400〜3000℃
程度の温度範囲をカバーするのが普通であつた。
By the way, using a radiation thermometer for example 400 ~
In order to measure a wide range of temperatures over 3000℃, it is necessary to measure light in a very wide range from the weak light of about pW to about mW. However, the conventional circuit shown in Figure 3 cannot measure light over such a wide range, and for this reason, conventionally the first stage amplifier 400
400 to 3000℃ with some models by changing the feedback resistor 401
It was common to cover a temperature range of about

<考案が解決しようとする問題点> このように従来の放射温度計においては、1機
種で被測定物体からの放射光をpWからmWの広
い範囲で測定できなかつた理由に、初段アンプ4
00の自動ゲイン切替が難しいことがあげられ
る。これは、初段アンプの自動ゲイン切替を行う
ためには、初段アンプに入つてくる前の入力信号
(光検出器3の出力信号)の段階で、その入力信
号の大きさのレべルが分かつている必要がある
が、普通初段アンプを通したあとでないとこの入
力信号の大きさのレべルを知るのが難しいためで
ある。
<Problems to be solved by the invention> As described above, the reason why conventional radiation thermometers cannot measure the radiation from the object to be measured in a wide range from pW to mW is that the first stage amplifier 4
00 automatic gain switching is difficult. This means that in order to automatically switch the gain of the first-stage amplifier, the level of the input signal must be determined at the stage of the input signal (output signal of photodetector 3) before it enters the first-stage amplifier. This is because it is usually difficult to know the level of the input signal until it has passed through the first stage amplifier.

<問題点を解決するための手段> 本考案はこのような問題点を解決する為になさ
れたもので、初段アンプで自動ゲイン切替を行う
ことができるようにしたものである。即ち、自動
ゲイン切替を達成するために、光検出器の出力を
増幅するための初段アンプとその初段アンプの出
力を保持するためのサンプル&ホールド回路と、
そのサンプル&ホールド回路の出力をさらに増幅
するための第2アンプと、前記サンプル&ホール
ド回路の出力を対数変換するための対数変換回路
と、その対数変換された値より初段アンプおよび
第2アンプのゲインを決定するための初段アンプ
および第2アンプのゲイン切替信号発生回路によ
り信号処理回路を構成した。
<Means for Solving the Problems> The present invention has been made to solve these problems, and is designed to enable automatic gain switching in the first stage amplifier. That is, in order to achieve automatic gain switching, a first-stage amplifier for amplifying the output of the photodetector and a sample-and-hold circuit for holding the output of the first-stage amplifier;
A second amplifier for further amplifying the output of the sample and hold circuit, a logarithmic conversion circuit for logarithmically converting the output of the sample and hold circuit, and a logarithmically converted value of the first stage amplifier and the second amplifier. A signal processing circuit was constructed by a gain switching signal generation circuit for a first stage amplifier and a second amplifier for determining the gain.

以下、実施例について本考案を説明する。 The present invention will be described below with reference to examples.

<実施例> 第1図は本考案に係る放射温度計の一実施例を
示す接続図である。図において、1はレンズ、2
は光学フイルタ、3は光検出器、4はゲイン切替
手段を有する初段アンプである。初段アンプ4に
おいて、41はその入力端子間に前記光検出器3
が接続された演算増幅器、C1〜C3はその容量
がC1>C2>C3に選ばれたコンデンサ、SW
1〜SW3はそれぞれ切替接点a,bを持つ切替
スイツチである。コンデンサC1〜C3とスイツ
チSW1〜SW3はそれぞれ直列に接続され、こ
れらの直列回路は演算増幅器41の帰還回路に並
列に接続されている。このような構成の初段アン
プ4は光検出器3の出力を積分するが、広レンジ
を実現するために後述するように選択するコンデ
ンサに応じて積分時間を変えるようになつてい
る。5は初段アンプ4の出力をサンプルし、ホー
ルドするサンプル&ホールド回路で、スイツチ
SW4とコンデンサC4およびボルテージフオロ
ワ51で構成されている。6は対数変換回路で、
増幅器61とその帰還回路に接続されたダイオー
ドDおよび反転入力端子に接続された抵抗R2と
直流電圧源Eよりなり、抵抗R1を介して入力さ
れるサンプル&ホールド回路5の出力VsHを対数
変換する。7は初段アンプ4のゲインを切り替え
る切替信号P1〜P3およびサンプル&ホールド
回路5のサンプル用スイツチSW4を制御する信
号P4を発生させる信号発生回路で、演算増幅器
71〜73とそれぞれ値のことなる基準電圧源
Vr1〜Vr3よりなるコンパレータおよびスイツ
チ制御信号発生回路74で構成され、前記対数変
換回路6の出力端に接続されている。
<Example> FIG. 1 is a connection diagram showing an example of the radiation thermometer according to the present invention. In the figure, 1 is a lens, 2
3 is an optical filter, 3 is a photodetector, and 4 is a first stage amplifier having gain switching means. In the first stage amplifier 4, reference numeral 41 indicates that the photodetector 3 is connected between its input terminals.
is connected to an operational amplifier, C1 to C3 are capacitors whose capacitances are selected as C1>C2>C3, and SW
1 to SW3 are changeover switches each having changeover contacts a and b. The capacitors C1 to C3 and the switches SW1 to SW3 are connected in series, respectively, and these series circuits are connected in parallel to the feedback circuit of the operational amplifier 41. The first stage amplifier 4 having such a configuration integrates the output of the photodetector 3, but in order to realize a wide range, the integration time is changed depending on the capacitor selected as described later. 5 is a sample and hold circuit that samples and holds the output of the first stage amplifier 4.
It consists of SW4, capacitor C4, and voltage follower 51. 6 is a logarithmic conversion circuit,
It consists of an amplifier 61, a diode D connected to its feedback circuit, a resistor R2 connected to the inverting input terminal, and a DC voltage source E, and logarithmically converts the output Vs H of the sample-and-hold circuit 5 inputted via the resistor R1. do. 7 is a signal generation circuit that generates switching signals P1 to P3 that change the gain of the first stage amplifier 4 and a signal P4 that controls the sample switch SW4 of the sample and hold circuit 5, and has a reference value different from that of the operational amplifiers 71 to 73, respectively. voltage source
It consists of a comparator consisting of Vr1 to Vr3 and a switch control signal generation circuit 74, and is connected to the output terminal of the logarithmic conversion circuit 6.

10は分解能を増すために設けた第2アンプで
ある。第2アンプ10は演算増幅器101と抵抗
R3〜R6およびスイツチSW5〜SW7よりな
るもので、増幅器101の非反転入力端子は前記
サンプル&ホールド回路5の出力端子に接続さ
れ、反転入力端子は抵抗R3を介して共通電位点
COMに接続され、その反転入力端子と出力端子
間にはそれぞれ抵抗R4〜R6とスイツチSW5
〜SW7よりなる直列回路が並列に接続されてい
る。8は第2アンプのゲインを切り替える切替信
号P5〜P7を発生させるゲイン切替発生回路
で、演算増幅器81〜83とそれぞれ値のことな
る基準電圧Vr4〜Vr6よりなるコンパレータお
よびスイツチ制御信号発生回路84で構成され、
対数変換回路6の出力端に接続されている。11
は第2アンプの出力をデイジタル信号に変換する
アナログ/デイジタル変換器、12は温度演算回
路である。温度演算回路12はマイクロプロセツ
サ等で構成されており、入力されたデイジタル信
号を温度に変換する演算を行つて出力する。13
は基準パルス発生回路で、これは初段アンプゲイ
ン切替信号発生回路7と第2アンプゲイン切替信
号発生回路8にゲイン切替信号を発生させるため
のものである。前記した初段アンプ4、サンプル
ホールド回路5、第2アンプ10、アナログ/デ
イジタル変換回路11、温度演算回路12等を含
む回路は光検出器3が出力する電気信号を信号処
理し、被測定物体の温度を求める信号処理回路を
構成する。
10 is a second amplifier provided to increase resolution. The second amplifier 10 consists of an operational amplifier 101, resistors R3 to R6, and switches SW5 to SW7.The non-inverting input terminal of the amplifier 101 is connected to the output terminal of the sample & hold circuit 5, and the inverting input terminal is connected to the resistor R3. common potential point through
COM, and resistors R4 to R6 and switch SW5 are connected between the inverting input terminal and output terminal, respectively.
A series circuit consisting of SW7 is connected in parallel. 8 is a gain switching generation circuit that generates switching signals P5 to P7 for switching the gain of the second amplifier; operational amplifiers 81 to 83; a comparator and switch control signal generation circuit 84 consisting of reference voltages Vr4 to Vr6 having different values, respectively; configured,
It is connected to the output terminal of the logarithmic conversion circuit 6. 11
12 is an analog/digital converter that converts the output of the second amplifier into a digital signal, and 12 is a temperature calculation circuit. The temperature calculation circuit 12 is composed of a microprocessor, etc., and performs calculations to convert an input digital signal into temperature and outputs the result. 13
1 is a reference pulse generation circuit, which is used to generate a gain switching signal in the first stage amplifier gain switching signal generation circuit 7 and the second amplifier gain switching signal generation circuit 8. The circuit including the first stage amplifier 4, sample hold circuit 5, second amplifier 10, analog/digital conversion circuit 11, temperature calculation circuit 12, etc. described above processes the electrical signal output from the photodetector 3, and detects the value of the object to be measured. Configure a signal processing circuit to determine temperature.

このような構成の本考案に係る放射温度計の動
作を第2図のタイミングチヤートを用いて説明す
ると次の如くなる。第3図で説明したと同様に、
被測定物体から放射された放射光はレンズ1で収
束されたのち光学フイルタ2を介して光検出器3
で電気信号に変換される。一方、信号処理回路を
構成する基準パルス発生回路13は第2図aに示
すごとく、一定の期間T1の間ロウ(low)の信
号を出力し、続いて期間T2の間ハイ(high)の
信号を出力する。一方、初段アンプゲイン切替信
号発生回路7におけるスイツチ制御信号発生回路
74は第2図b〜dに示すごとく、時間幅t1のス
イツチパルスP1、時間幅t2のスイツチパルスP
2(および時間幅t3のスイツチパルスP3)を発
生する。パルスP1〜P3によつて初段アンプ4
のスイツチSW1〜SW3が駆動されるが、時間
幅t1,t2,t3は、例えばt1が0.5msec、t2が
5msec、t3が25msecとなつており、またコンデ
ンサC1,C2,C3の容量は、C1が1μF、C
2が0.01μF、C3が50pFに選ばれている。従つ
て、パルスP1,P2,P3が選ばれた場合の初
段アンプ4のゲインの比は、1:103:106となる
ので、広い範囲の測定が可能となる。そこでまず
期間T1では、初段アンプのゲインを最小にする
ために、コンデンサC1,C2,C3のうち容量
の一番大きいコンデンサC1に接続されているス
イツチSW1をb接点側よりa接点側に切り替え
る。これにより、コンデンサC1は検出器3の出
力電流によつて充電され始める。このとき他のス
イツチSW2,SW3はb接点のままになつてい
る。これらスイツチSW1,SW2,SW3の動作
は前記したようにスイツチパルスP1〜P3によ
つて行われる。一方、サンプル&ホールド回路5
のスイツチSW4は時間幅t1のスイツチパルスP
4(第2図e)によつてオフからオンに切り替え
られる。コンデンサC1への充電はスイツチパル
スP1の時間幅t1の間行われ、その後スイツチ
SW1はふたたびb接点側に戻され、その直前に
サンプル&ホールド回路5のスイツチSW4はオ
フとなつて初段アンプ4の出力電圧Vsがコンデ
ンサC4によつて保持される。第3図fは初段ア
ンプ4の出力Vsを示し、第3図gにサンプル&
ホールド回路5の出力VsHを示す。この後、サン
プル&ホールド回路5の出力は対数変換回路6で
対数変換され、その対数変換された電圧は初段ア
ンプゲイン切替信号発生回路7を構成するコンパ
レータ71,72,73に加えられ、そのレべル
が基準電圧Vr1,Vr2,Vr3と比較、判定され
る。この判定結果がスイツチ制御信号発生回路7
4に送られ、この回路74の次の期間T2での初
段アンプ4のゲインの決定が行われる。この状態
は次の期間T1に入るまで記憶される。
The operation of the radiation thermometer according to the present invention having such a configuration will be explained as follows using the timing chart shown in FIG. As explained in Figure 3,
The synchrotron radiation emitted from the object to be measured is converged by a lens 1 and then passed through an optical filter 2 to a photodetector 3.
is converted into an electrical signal. On the other hand, the reference pulse generation circuit 13 configuring the signal processing circuit outputs a low signal for a certain period T1, and then a high signal for a period T2, as shown in FIG. 2a. Output. On the other hand, the switch control signal generation circuit 74 in the first stage amplifier gain switching signal generation circuit 7 generates a switch pulse P1 with a time width t1 and a switch pulse P1 with a time width t2, as shown in FIGS.
2 (and a switch pulse P3 with a time width t3). First stage amplifier 4 by pulses P1 to P3
The switches SW1 to SW3 are driven, and the time widths t1, t2, and t3 are, for example, 0.5 msec for t1 and 0.5 msec for t2.
5msec, t3 is 25msec, and the capacitances of capacitors C1, C2, and C3 are 1μF for C1 and 25msec for t3.
2 is selected to be 0.01μF, and C3 is selected to be 50pF. Therefore, the ratio of the gains of the first stage amplifier 4 when pulses P1, P2, and P3 are selected is 1:10 3 :10 6 , making it possible to measure a wide range. Therefore, first, in period T1, in order to minimize the gain of the first stage amplifier, the switch SW1 connected to the capacitor C1 having the largest capacity among the capacitors C1, C2, and C3 is switched from the B contact side to the A contact side. As a result, the capacitor C1 begins to be charged by the output current of the detector 3. At this time, the other switches SW2 and SW3 remain as b contacts. The operations of these switches SW1, SW2, and SW3 are performed by switch pulses P1 to P3, as described above. On the other hand, sample & hold circuit 5
The switch SW4 is a switch pulse P with a time width t1.
4 (FIG. 2e) from off to on. The capacitor C1 is charged during the time width t1 of the switch pulse P1, and then the switch
SW1 is returned to the b contact side again, and just before that, switch SW4 of the sample & hold circuit 5 is turned off, and the output voltage Vs of the first stage amplifier 4 is held by the capacitor C4. Figure 3f shows the output Vs of the first stage amplifier 4, and Figure 3g shows the sample &amp;
The output Vs H of the hold circuit 5 is shown. Thereafter, the output of the sample and hold circuit 5 is logarithmically converted by a logarithmic conversion circuit 6, and the logarithmically converted voltage is applied to comparators 71, 72, 73 that constitute the first stage amplifier gain switching signal generation circuit 7. The signal is compared with reference voltages Vr1, Vr2, and Vr3 and determined. This determination result is the switch control signal generation circuit 7.
4, and the gain of the first stage amplifier 4 in the next period T2 of this circuit 74 is determined. This state is stored until the next period T1 begins.

さて、期間T2ではさきの期間T1での初段ア
ンプ4のゲインの判定の結果に応じて、スイツチ
SW1,SW2,SW3のいずれかがb接点側から
a接点側へ切り替えられる。第2図では、期間T
2になると同時に、スイツチパルスP2によつて
スイツチSW2がb接点側からa接点側に切り替
わり、検出器3の出力電流によつてコンデンサC
2に電荷が充電され始める。またサンプル&ホー
ルド回路5のスイツチSW4は、時間幅t2のスイ
ツチパルスP4によつてオフからオンに切り替わ
る。コンデンサC2への充電はスイツチパルスP
2のパルス幅t2の間行われ、その後スイツチSW
2は再びスイツチパルスP2によつてb接点側へ
戻され、その直前にサンプル&ホールド回路5の
スイツチSW4はオフとなつて初段アンプ4の出
力が保持される。この後、サンプル&ホールド回
路5の出力は対数変換回路6で対数変換され、そ
の対数変換された電圧のレべルを今度は第2アン
プゲイン切替信号発生回路8を構成するコンパレ
ータ81,82,83に加えられ、そのレべルが
基準電圧Vr4,Vr5,Vr6で判定される。この
判定結果がスイツチ制御信号発生回路84に送ら
れ、第2アンプ10のゲイン決定が行われる。第
2アンプを構成するスイツチSW5,SW6,SW
7は、それぞれ第2図h,i,jに示すスイツチ
パルスP5,P6,P7によつて駆動される。こ
こでは、対数変換回路6の出力のゲインの判定の
結果スイツチパルスP7が選ばれ、これによりス
イツチSW7がオンとなる場合を考えることにす
る。第2図に示すように、サンプル&ホールド回
路5において初段アンプ4の出力を保持してから
所定時間経過後発生するスイツチパルスP7によ
つてスイツチSW7がオンとなる。その結果、第
2アンプ10のゲインは(R3+R6)/R3と
なる。スイツチSW7がオンになつている間に、
第2図に示すようにアナログ/デイジタル変換回
路11によつて第2アンプ10の出力がデイジタ
ル信号に変換され、そのデイジタル信号は温度演
算回路12に渡され、ここで温度が求められる。
Now, in period T2, the switch is activated according to the result of the determination of the gain of the first stage amplifier 4 in the previous period T1.
One of SW1, SW2, and SW3 is switched from the B contact side to the A contact side. In Figure 2, the period T
2, the switch SW2 is switched from the B contact side to the A contact side by the switch pulse P2, and the capacitor C is changed by the output current of the detector 3.
2 begins to be charged. Further, the switch SW4 of the sample and hold circuit 5 is switched from off to on by a switch pulse P4 having a time width t2. Charging to capacitor C2 is done by switch pulse P.
2 pulse width t2, and then the switch SW
2 is again returned to the b contact side by the switch pulse P2, and just before that, the switch SW4 of the sample & hold circuit 5 is turned off and the output of the first stage amplifier 4 is held. Thereafter, the output of the sample and hold circuit 5 is logarithmically converted by a logarithm conversion circuit 6, and the level of the logarithmically converted voltage is then applied to comparators 81, 82, 83, and its level is determined using reference voltages Vr4, Vr5, and Vr6. This determination result is sent to the switch control signal generation circuit 84, and the gain of the second amplifier 10 is determined. Switches SW5, SW6, SW that constitute the second amplifier
7 are driven by switch pulses P5, P6 and P7 shown in FIG. 2h, i and j, respectively. Here, we will consider a case where switch pulse P7 is selected as a result of determination of the gain of the output of logarithmic conversion circuit 6, and switch SW7 is thereby turned on. As shown in FIG. 2, a switch SW7 is turned on by a switch pulse P7 generated after a predetermined period of time has passed since the output of the first stage amplifier 4 is held in the sample and hold circuit 5. As a result, the gain of the second amplifier 10 becomes (R3+R6)/R3. While switch SW7 is on,
As shown in FIG. 2, the output of the second amplifier 10 is converted into a digital signal by the analog/digital conversion circuit 11, and the digital signal is passed to the temperature calculation circuit 12, where the temperature is determined.

以上で一点の測定が終わるが、基準パルスP0
の発生に応じて上記の測定シーケンスが繰り返し
て行われる。
This completes the measurement at one point, but the reference pulse P0
The above measurement sequence is repeated in response to the occurrence of.

<考案の効果> 以上説明したように、本考案によれば、初段ア
ンプで自動ゲイン切替を行う方式であるので、従
来複数の機種でカバーしてきた温度範囲を一機種
でカバーする放射温度計を構成することができ
る。さらに、初段アンプは積分アンプになつてお
り、積分時間がゲインによつて変わる方式である
ので、被測定信号のS/Nが小さい微弱光の測定
時に長い積分時間にし、S/Nが大きい強い光の
場合には短い積分時間にできるので、従来のよう
に最低の強度の光に全範囲の測定を合わせて不必
要に測定時間(従つて測定器の応答時間)をおそ
くする必要がなく合理的である。
<Effects of the invention> As explained above, according to the invention, since the first stage amplifier automatically switches the gain, it is possible to create a radiation thermometer that covers the temperature range that was conventionally covered by multiple models with a single model. Can be configured. Furthermore, since the first stage amplifier is an integrating amplifier, and the integration time changes depending on the gain, a long integration time is used when measuring weak light with a small S/N of the signal to be measured, and a strong signal with a large S/N is used. In the case of light, the integration time can be shortened, so it is rational because there is no need to unnecessarily slow down the measurement time (and therefore the response time of the measuring instrument) by adjusting the measurement of the entire range to the lowest intensity light as in the past. It is true.

【図面の簡単な説明】[Brief explanation of the drawing]

第1図は本考案に係る放射温度計の一実施例を
示す接続図、第2図は第1図の回路の動作を説明
するタイミング図、第3図は従来例である。 1……レンズ、2……光学フイルタ、3……光
検出器、4……初段アンプ、5……サンプル&ホ
ールド回路、6……対数アンプ、7……初段アン
プゲイン切替信号発生回路、8……第2アンプゲ
イン切替信号発生回路、10……第2アンプ、1
1……アナログ/デイジタル変換回路、12……
温度演算回路、13……基準パルス発生回路。
FIG. 1 is a connection diagram showing an embodiment of the radiation thermometer according to the present invention, FIG. 2 is a timing diagram explaining the operation of the circuit shown in FIG. 1, and FIG. 3 is a conventional example. 1... Lens, 2... Optical filter, 3... Photodetector, 4... First stage amplifier, 5... Sample & hold circuit, 6... Logarithmic amplifier, 7... First stage amplifier gain switching signal generation circuit, 8 ...Second amplifier gain switching signal generation circuit, 10...Second amplifier, 1
1...Analog/digital conversion circuit, 12...
Temperature calculation circuit, 13...Reference pulse generation circuit.

Claims (1)

【実用新案登録請求の範囲】[Scope of utility model registration request] 被測定物体からの放射光を光学フイルタを介し
て光検出器に与え、この光検出器の出力電気信号
を信号処理回路で処理することにより前記被測定
物体の温度を求めるようにした放射温度計におい
て、前記信号処理回路を、ゲインが切り替えられ
そのゲインに応じて積分時間が変えられる積分機
能を持ち前記光検出器の出力信号が与えられる初
段アンプと、この初段アンプの出力を保持するサ
ンプル&ホールド回路と、その保持された出力を
対数変換する対数変換回路と、初段アンプのゲイ
ンを決定するために前記対数変換回路の出力より
コンパレータを用いて初段アンプのゲイン切替信
号を発生する回路と、前記サンプル&ホールド回
路の出力を増幅するためのゲイン切替を持つ第2
アンプと、前記対数アンプ出力よりコンパレータ
を用いて第2アンプのゲイン切替信号を発生する
回路と、前記第2アンプの出力をデイジタル信号
に変換するアナログ/デイジタル変換回路と、こ
のアナログ/デイジタル変換回路の出力信号を温
度に変換する演算を行う演算回路とで構成したこ
とを特長とする放射温度計。
A radiation thermometer in which the temperature of the object to be measured is determined by applying emitted light from the object to be measured to a photodetector via an optical filter and processing the electrical signal output from the photodetector by a signal processing circuit. In the above, the signal processing circuit includes a first stage amplifier which has an integration function whose gain is switched and whose integration time is changed according to the gain and is supplied with the output signal of the photodetector, and a sample amplifier which holds the output of this first stage amplifier. a hold circuit, a logarithmic conversion circuit that logarithmically converts the held output thereof, and a circuit that generates a gain switching signal for the first stage amplifier using a comparator from the output of the logarithmic conversion circuit to determine the gain of the first stage amplifier; a second with gain switching for amplifying the output of the sample and hold circuit;
an amplifier, a circuit that uses a comparator to generate a gain switching signal for a second amplifier from the output of the logarithmic amplifier, an analog/digital conversion circuit that converts the output of the second amplifier into a digital signal, and the analog/digital conversion circuit. A radiation thermometer characterized by comprising an arithmetic circuit that performs arithmetic operations to convert an output signal into temperature.
JP3423687U 1987-03-09 1987-03-09 Expired JPH0452661Y2 (en)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP3423687U JPH0452661Y2 (en) 1987-03-09 1987-03-09

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP3423687U JPH0452661Y2 (en) 1987-03-09 1987-03-09

Publications (2)

Publication Number Publication Date
JPS63141434U JPS63141434U (en) 1988-09-19
JPH0452661Y2 true JPH0452661Y2 (en) 1992-12-10

Family

ID=30842594

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP3423687U Expired JPH0452661Y2 (en) 1987-03-09 1987-03-09

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JPH0452661Y2 (en)

Families Citing this family (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2528521B2 (en) * 1989-08-31 1996-08-28 日機装株式会社 Automatic measurement range switching device for surface area measuring device
JP4722332B2 (en) * 2001-06-18 2011-07-13 浜松ホトニクス株式会社 Photodetector

Also Published As

Publication number Publication date
JPS63141434U (en) 1988-09-19

Similar Documents

Publication Publication Date Title
EP1158789B1 (en) Photodetector device
EP1197735B1 (en) Photodetector
JP2007534952A (en) Measuring method and apparatus using synchronous detection and correlation sampling
JPH0452661Y2 (en)
US4660075A (en) Color information detecting device
JPH0587812B2 (en)
JP3512902B2 (en) Optical position detector
JP2571809B2 (en) Operational amplifier circuit and photoelectric switch using the operational amplifier circuit
SU1126883A1 (en) Logarithmic resistance converter
JPS6022682Y2 (en) Digital to analog converter
JPH0537248Y2 (en)
JPH0526979Y2 (en)
SU855534A1 (en) Device for measuring direct-current resistance
JPH0619082Y2 (en) Optical detector
SU1569590A1 (en) Digital meter of temperature
JP3129005B2 (en) Signal converter
RU2157586C1 (en) Automatic zero-level corrector for analog device
SU982192A1 (en) Integrating analogue-digital converter
JPH0583135A (en) Double integral type a/d converter
SU1399646A1 (en) Apparatus for registering and processing probe characteristics
SU1538059A1 (en) Photometer
JPH0454461Y2 (en)
JPH0512746Y2 (en)
JP2688895B2 (en) Photoelectric analog smoke detector
SU741190A1 (en) Comparator of division coeffieients of resistances