JPH0452692Y2 - - Google Patents
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- Publication number
- JPH0452692Y2 JPH0452692Y2 JP1986154718U JP15471886U JPH0452692Y2 JP H0452692 Y2 JPH0452692 Y2 JP H0452692Y2 JP 1986154718 U JP1986154718 U JP 1986154718U JP 15471886 U JP15471886 U JP 15471886U JP H0452692 Y2 JPH0452692 Y2 JP H0452692Y2
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- board
- printed circuit
- circuit board
- mounting table
- holding plate
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Expired
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- Testing Of Short-Circuits, Discontinuities, Leakage, Or Incorrect Line Connections (AREA)
Description
【考案の詳細な説明】
[産業上の利用分野]
本考案は、両面に回路が形成されたプリント回
路基板、特にフイルム状のプリント回路基板の検
査に好適な装置に関する。
路基板、特にフイルム状のプリント回路基板の検
査に好適な装置に関する。
[従来の技術]
絶縁基板の両面に電気回路が形成された、いわ
ゆる両面プリント基板においては、スルーホール
導通部やその他の回路パターンの抵抗が局部的に
高いと、使用時、回路に導電している間に発熱し
て、そのために断線してしまうことがある。特に
スルーホール導通部はばらつきで抵抗が高いもの
が発生する度合が高いので、上記問題が発生す
る。以上の問題のため、スルーホール導通部やそ
の他の回路パターンに異常が無いことを検査する
必要がある。
ゆる両面プリント基板においては、スルーホール
導通部やその他の回路パターンの抵抗が局部的に
高いと、使用時、回路に導電している間に発熱し
て、そのために断線してしまうことがある。特に
スルーホール導通部はばらつきで抵抗が高いもの
が発生する度合が高いので、上記問題が発生す
る。以上の問題のため、スルーホール導通部やそ
の他の回路パターンに異常が無いことを検査する
必要がある。
第2図に示す両面プリント基板のパターンの抵
抗を検査する場合、従来の検査装置では両面のパ
ターンに圧接するように上下にプローブを配置す
ると、プローブの付勢力によつて基板が局部的に
波打ち、測定が不安定になる。特に両面プリント
基板がフイルム状のものでは基板が破損してしま
う。そのため、第3図のようにプローブをプリン
ト基板の片面側にしか設けることができないの
で、スルーホール導通部の抵抗は第2図における
両面プリント基板の表側のリードパターン4aと
4bとに第3図の検査装置の上部プローブを接触
させて検査をしていた。
抗を検査する場合、従来の検査装置では両面のパ
ターンに圧接するように上下にプローブを配置す
ると、プローブの付勢力によつて基板が局部的に
波打ち、測定が不安定になる。特に両面プリント
基板がフイルム状のものでは基板が破損してしま
う。そのため、第3図のようにプローブをプリン
ト基板の片面側にしか設けることができないの
で、スルーホール導通部の抵抗は第2図における
両面プリント基板の表側のリードパターン4aと
4bとに第3図の検査装置の上部プローブを接触
させて検査をしていた。
第3図の従来の検査装置について説明する。同
図は検査装置の測定部の概略を示す断面図であ
り、基材23にはガイドポスト24及び図示はし
ないが、プリント回路基板の位置決め用のガイド
ピンが立設してある。プローブ固定板25は前記
ガイドポストにより上下に移動可能に載置してあ
る。また、前記プローブ固定板を挿通摺動する部
分にはリニアモーシヨンベアリング26を装着さ
せてある。プローブ固定板25には上部プローブ
27が下方に付勢させて植設してある。
図は検査装置の測定部の概略を示す断面図であ
り、基材23にはガイドポスト24及び図示はし
ないが、プリント回路基板の位置決め用のガイド
ピンが立設してある。プローブ固定板25は前記
ガイドポストにより上下に移動可能に載置してあ
る。また、前記プローブ固定板を挿通摺動する部
分にはリニアモーシヨンベアリング26を装着さ
せてある。プローブ固定板25には上部プローブ
27が下方に付勢させて植設してある。
[考案が解決しようとする問題点]
従来の方法では、スルーホール導通部だけの抵
抗を検査することができない。スルーホール導通
部以外のパターンを含む抵抗で検査をしていたた
め、検査スペツクがスルーホール導通部以外のパ
ターンを含む比較的大きな抵抗が基準となるの
で、スルーホール導通部に製品故障を発生させ得
る、局部的なマイクロクラツク等の異常があつた
としても発見できない場合があつた。
抗を検査することができない。スルーホール導通
部以外のパターンを含む抵抗で検査をしていたた
め、検査スペツクがスルーホール導通部以外のパ
ターンを含む比較的大きな抵抗が基準となるの
で、スルーホール導通部に製品故障を発生させ得
る、局部的なマイクロクラツク等の異常があつた
としても発見できない場合があつた。
また、検査をするパターンの両端のうち一端が
裏面にある場合には、検査そのものができなかつ
た。
裏面にある場合には、検査そのものができなかつ
た。
更に、スルーホール導通部の抵抗の検査以外の
各種の検査においても、プリント回路基板の両面
にプローブを当てて測定ができないことは、正確
な測定ができないため検査に障害があつた。
各種の検査においても、プリント回路基板の両面
にプローブを当てて測定ができないことは、正確
な測定ができないため検査に障害があつた。
従つて、本考案は上記従来技術の欠点に鑑み、
プリント回路基板のスルーホール導通部のみの抵
抗を検査することができ、またプリント回路基板
が例えばフイルム状のものであつても両面から安
定した測定が可能なプリント回路基板の検査装置
を提供することを目的とする。
プリント回路基板のスルーホール導通部のみの抵
抗を検査することができ、またプリント回路基板
が例えばフイルム状のものであつても両面から安
定した測定が可能なプリント回路基板の検査装置
を提供することを目的とする。
[問題点を解決するための手段]
本考案は、上記従来技術の欠点を解決するため
に、両面に回路を形成してなるプリント回路基板
の検査装置において、支持台の上方には前記プリ
ント回路基板を載置する基板載置台および基板押
え板が、各々上下動可能に設けられ、前記基板押
え板を上方より押し下げて前記プリント回路基板
を前記基板載置台の上面と前記基板押え板の下面
の間に挟持可能となし、前記基板押え板には上部
プローブが下方に付勢されて植設されており、前
記支持台には下部プローブが上方に付勢されて植
設されており、前記基板載置台には前記下部プロ
ーブが上下に移動可能に挿通する透孔が設けてあ
り、前記基板載置台が上方に位置するときは前記
下部プローブは前記基板載置台の上面から突出せ
ず、前記基板載置台が下方に位置するときは突出
して、前記プリント回路基板の下面の回路に圧接
可能に構成した。
に、両面に回路を形成してなるプリント回路基板
の検査装置において、支持台の上方には前記プリ
ント回路基板を載置する基板載置台および基板押
え板が、各々上下動可能に設けられ、前記基板押
え板を上方より押し下げて前記プリント回路基板
を前記基板載置台の上面と前記基板押え板の下面
の間に挟持可能となし、前記基板押え板には上部
プローブが下方に付勢されて植設されており、前
記支持台には下部プローブが上方に付勢されて植
設されており、前記基板載置台には前記下部プロ
ーブが上下に移動可能に挿通する透孔が設けてあ
り、前記基板載置台が上方に位置するときは前記
下部プローブは前記基板載置台の上面から突出せ
ず、前記基板載置台が下方に位置するときは突出
して、前記プリント回路基板の下面の回路に圧接
可能に構成した。
[作用]
上記技術的手段は次のように作用する。
両面に回路パターンが形成されたプリント回路
基板を基板載置台に載置し、基板押え板を下方に
下ろすと、最初に上部プローブがプリント回路基
板の上面のパターンの測定点に圧接し、更に基板
押え板が下方に移動すると、上部プローブがプリ
ント回路基板の上面のパターンの測定点に圧接し
たまま、上部プローブは基板押え板に埋没し、基
板押えの下面はプリント回路基板の上面に当接
し、従つてプリント回路基板は基板押え板と基板
載置台に挟持され、更に基板押え板が下方に移動
すると、プリント回路基板と基板載置台も一体に
下方に移動し、その結果として下部プローブがプ
リント回路基板の下面のパターンの測定点に圧接
するに到る。このとき、プリント回路基板のプロ
ーブが圧接する部分の反対の面は、基板押え板あ
るいは基板載置台で支持されているので、プロー
ブの付勢力で基板が波打つたり、基板が破損した
りすることがなく、その結果として測定が不安定
となつたりしない。
基板を基板載置台に載置し、基板押え板を下方に
下ろすと、最初に上部プローブがプリント回路基
板の上面のパターンの測定点に圧接し、更に基板
押え板が下方に移動すると、上部プローブがプリ
ント回路基板の上面のパターンの測定点に圧接し
たまま、上部プローブは基板押え板に埋没し、基
板押えの下面はプリント回路基板の上面に当接
し、従つてプリント回路基板は基板押え板と基板
載置台に挟持され、更に基板押え板が下方に移動
すると、プリント回路基板と基板載置台も一体に
下方に移動し、その結果として下部プローブがプ
リント回路基板の下面のパターンの測定点に圧接
するに到る。このとき、プリント回路基板のプロ
ーブが圧接する部分の反対の面は、基板押え板あ
るいは基板載置台で支持されているので、プロー
ブの付勢力で基板が波打つたり、基板が破損した
りすることがなく、その結果として測定が不安定
となつたりしない。
[実施例]
以下、本考案を第1図及び第2図によつて説明
する。
する。
第2図は両面プリント回路基板の要部を示す図
であり、従来技術の説明におけるものと同一であ
る。図において1は両面プリント回路基板であ
り、絶縁基板2にスルーホール導通部3、表面に
位置する表側リードパターン4、裏面に位置する
裏側リードパターン5が形成されており、表側リ
ードパターン4と裏側リードパターン5はスルー
ホール導通部3を介して導通している。両面プリ
ント回路基板1は、より具体的には、ポリエステ
ルやポエステルテレフタレート樹脂からなるフイ
ルム状の絶縁基板2に印刷抵抗体4cや印刷スイ
ツチ(図示せず)を形成し、更に導体インクによ
りスルーホール導通部3及びリードパターン4,
5を形成してなる。
であり、従来技術の説明におけるものと同一であ
る。図において1は両面プリント回路基板であ
り、絶縁基板2にスルーホール導通部3、表面に
位置する表側リードパターン4、裏面に位置する
裏側リードパターン5が形成されており、表側リ
ードパターン4と裏側リードパターン5はスルー
ホール導通部3を介して導通している。両面プリ
ント回路基板1は、より具体的には、ポリエステ
ルやポエステルテレフタレート樹脂からなるフイ
ルム状の絶縁基板2に印刷抵抗体4cや印刷スイ
ツチ(図示せず)を形成し、更に導体インクによ
りスルーホール導通部3及びリードパターン4,
5を形成してなる。
本考案の検査装置では、スルーホール導通部3
の抵抗のみを測定するために、前記表側リードパ
ターン4のスルーホール導通部3に極めて近い表
側測定点4aと、前記裏側リードパターン5のス
ルーホール導通部3に極めて近い裏側測定点5a
とにプローブを接触させることができる。
の抵抗のみを測定するために、前記表側リードパ
ターン4のスルーホール導通部3に極めて近い表
側測定点4aと、前記裏側リードパターン5のス
ルーホール導通部3に極めて近い裏側測定点5a
とにプローブを接触させることができる。
第1図は、本考案の両面プリント回路基板1の
検査装置を示す要部断面図である。
検査装置を示す要部断面図である。
台座6の上には、基材7と基材7上に固定され
た下部プローブ固定部材8からなる支持台9が固
定されている。前記下部プローブ固定部材8には
下部プローブ10の外被10aが植設され、外被
10a内部のバネにより、下部プローブ10は上
下に摺動可能にかつ上方に付勢されている。ま
た、前記下部プローブ固定部材8には後述の被検
査物である両面プリント回路基板1の位置合わせ
のためのガイドピン11及び後述の基板押え板2
1を案内するパイロツトピン12が突出して固定
されている。前記下部プローブ固定部材8の上方
には間隙を介して基板載置台13が、下部プロー
ブ固定部材8に立設したガイドポスト14により
上下に移動可能に載置され、かつ圧縮コイルバネ
15により前記下部プローブ固定部材8に対して
上方に付勢されている。なお、前記基板載置台1
3の、前記ガイドポスト14が挿通摺動する部分
にはリニアモーシヨンベアリング16が装着され
ている。前記基板載置台13には、前記下部プロ
ーブ10が通る部分に透孔17が、前記ガイドピ
ン11及び前記パイロツトピン12の通る部分に
逃げ孔が明けてある。
た下部プローブ固定部材8からなる支持台9が固
定されている。前記下部プローブ固定部材8には
下部プローブ10の外被10aが植設され、外被
10a内部のバネにより、下部プローブ10は上
下に摺動可能にかつ上方に付勢されている。ま
た、前記下部プローブ固定部材8には後述の被検
査物である両面プリント回路基板1の位置合わせ
のためのガイドピン11及び後述の基板押え板2
1を案内するパイロツトピン12が突出して固定
されている。前記下部プローブ固定部材8の上方
には間隙を介して基板載置台13が、下部プロー
ブ固定部材8に立設したガイドポスト14により
上下に移動可能に載置され、かつ圧縮コイルバネ
15により前記下部プローブ固定部材8に対して
上方に付勢されている。なお、前記基板載置台1
3の、前記ガイドポスト14が挿通摺動する部分
にはリニアモーシヨンベアリング16が装着され
ている。前記基板載置台13には、前記下部プロ
ーブ10が通る部分に透孔17が、前記ガイドピ
ン11及び前記パイロツトピン12の通る部分に
逃げ孔が明けてある。
前記台座6の外辺にはガイドポスト18が立設
されており、上方支持部材19がガイドポスト1
8に貫通されて上下に摺動可能にかつ前記台座6
に平行に載置されている。なお、前記上方支持部
材19の、前記ガイドポスト18が挿通摺動する
部分にはリニアモーシヨンベアリング20が装着
されている。
されており、上方支持部材19がガイドポスト1
8に貫通されて上下に摺動可能にかつ前記台座6
に平行に載置されている。なお、前記上方支持部
材19の、前記ガイドポスト18が挿通摺動する
部分にはリニアモーシヨンベアリング20が装着
されている。
前記上方支持部材19の下側には、前記基板載
置台13の上方に間隙を介して位置する基板押え
板21が固定されている。前記基板押え板21に
は、上部プローブ22の外被22aが埋設され、
外被22a内部のバネにより、上部プローブ22
は上下に摺動可能にかつ下方に付勢されて前記基
板押え板21の下面から突出している。
置台13の上方に間隙を介して位置する基板押え
板21が固定されている。前記基板押え板21に
は、上部プローブ22の外被22aが埋設され、
外被22a内部のバネにより、上部プローブ22
は上下に摺動可能にかつ下方に付勢されて前記基
板押え板21の下面から突出している。
前記基板押え板21には、前記パイロツトピン
12との係合用のガイド孔と、前記ガイドピン1
1の逃げ孔が明けられている。
12との係合用のガイド孔と、前記ガイドピン1
1の逃げ孔が明けられている。
上記構成を持つ本考案の検査装置の動作を説明
する。
する。
上方支持部材19は最初、上方支持部材19に
固定された上下方向駆動源(図示せず)により上
方に持ち上げられている。
固定された上下方向駆動源(図示せず)により上
方に持ち上げられている。
この状態で両面プリント回路基板1を基板載置
台13の上にガイドピン11を契合して位置合わ
せをして載置する。
台13の上にガイドピン11を契合して位置合わ
せをして載置する。
次に、前記上下方向駆動源により上方支持部材
19を下降させる。すると基板押え板21の下面
に突出した上部プローブ22が両面プリント回路
基板1の表側測定点4aに接触し、更に上方支持
部材19を下降させると上部プローブ22が基板
押え板21に没入し、基板押え板21の下面が両
面プリント回路基板1の表面に接触する。更に上
方支持部材19を下降させると両面プリント回路
基板1は両面を基板押え板21と基板載置台13
との間にはさまれた状態で三者は一体となつて下
降する。そして、基板載置台13の逃げ孔を通し
て下部プローブ10が両面プリント回路基板1の
裏側の裏側測定点5aに接触するに到る。そして
上方支持部材19の下降が停止され、抵抗の測定
が行われる。
19を下降させる。すると基板押え板21の下面
に突出した上部プローブ22が両面プリント回路
基板1の表側測定点4aに接触し、更に上方支持
部材19を下降させると上部プローブ22が基板
押え板21に没入し、基板押え板21の下面が両
面プリント回路基板1の表面に接触する。更に上
方支持部材19を下降させると両面プリント回路
基板1は両面を基板押え板21と基板載置台13
との間にはさまれた状態で三者は一体となつて下
降する。そして、基板載置台13の逃げ孔を通し
て下部プローブ10が両面プリント回路基板1の
裏側の裏側測定点5aに接触するに到る。そして
上方支持部材19の下降が停止され、抵抗の測定
が行われる。
なお、以上の説明においては、スルーホール導
通部の検査について述べたが、本考案はスルーホ
ール導通部の検査のみならず、他のパターンの検
査についても有効であり、また、両面プリント回
路基板1の上に部品を搭載した状態の被検査物
も、前記基板載置台及び基板押え板21に部品の
逃げ凹部を適宜設けることにより検査が可能であ
る。
通部の検査について述べたが、本考案はスルーホ
ール導通部の検査のみならず、他のパターンの検
査についても有効であり、また、両面プリント回
路基板1の上に部品を搭載した状態の被検査物
も、前記基板載置台及び基板押え板21に部品の
逃げ凹部を適宜設けることにより検査が可能であ
る。
[考案の効果]
以上述べたように本考案によれば、両面に回路
を形成してなるプリント回路基板の検査装置にお
いて、支持台の上方には前記プリント回路基板を
載置する基板載置台および基板押え板が、各々上
下動可能に設けられ、前記基板押え板を上方より
押し下げて前記プリント回路基板を前記基板載置
台の上面と前記基板押え板の下面の間に挟持可能
となし、前記基板押え板には上部プローブが下方
に付勢されて植設されており、前記支持台には下
部プローブが上方に付勢されて植設されており、
前記基板載置台には前記下部プローブが上下に移
動可能に挿通する透孔が設けてあり、前記基板載
置台が上方に位置するときは前記下部プローブは
前記基板載置台の上面から突出せず、前記基板載
置台が下方に位置するときは突出して、前記プリ
ント回路基板の下面の回路に圧接可能に構成した
ので、両面に測定用プローブを配置しても、測定
時にプリント回路基板が基板押え板の下面と基板
載置台上面との間で大きな面積で挟持され、かつ
プリント回路基板に測定用プローブが圧接する部
分の反対の面は、基板押え板あるいは基板載置台
で支持されているので、測定用プローブの付勢力
で基板が波打つたり、その結果として測定が不安
定になつたり基板が破損したりすることがない。
そして、スルーホール導通部のみの抵抗を検査す
ることができるので、確実な検査が可能となる。
また、スルーホール導通部の抵抗検査以外の各種
検査においても、プリント回路基板の両面にプロ
ーブを当てて測定ができるので、正確な検査が可
能となつた。
を形成してなるプリント回路基板の検査装置にお
いて、支持台の上方には前記プリント回路基板を
載置する基板載置台および基板押え板が、各々上
下動可能に設けられ、前記基板押え板を上方より
押し下げて前記プリント回路基板を前記基板載置
台の上面と前記基板押え板の下面の間に挟持可能
となし、前記基板押え板には上部プローブが下方
に付勢されて植設されており、前記支持台には下
部プローブが上方に付勢されて植設されており、
前記基板載置台には前記下部プローブが上下に移
動可能に挿通する透孔が設けてあり、前記基板載
置台が上方に位置するときは前記下部プローブは
前記基板載置台の上面から突出せず、前記基板載
置台が下方に位置するときは突出して、前記プリ
ント回路基板の下面の回路に圧接可能に構成した
ので、両面に測定用プローブを配置しても、測定
時にプリント回路基板が基板押え板の下面と基板
載置台上面との間で大きな面積で挟持され、かつ
プリント回路基板に測定用プローブが圧接する部
分の反対の面は、基板押え板あるいは基板載置台
で支持されているので、測定用プローブの付勢力
で基板が波打つたり、その結果として測定が不安
定になつたり基板が破損したりすることがない。
そして、スルーホール導通部のみの抵抗を検査す
ることができるので、確実な検査が可能となる。
また、スルーホール導通部の抵抗検査以外の各種
検査においても、プリント回路基板の両面にプロ
ーブを当てて測定ができるので、正確な検査が可
能となつた。
更に、構造が簡単なために、装置の作成が容易
で、安価な装置を提供できる。
で、安価な装置を提供できる。
第1図は、本考案のプリント回路基板の検査装
置の一実施例を示す要部断面図、第2図はプリン
ト回路基板を示す要部斜視図、第3図は従来のプ
リント回路基板の検査装置を示す要部断面図であ
る。 1……プリント回路基板、7……基材、8……
下部プローブ固定部材、9……支持台、10……
下部プローブ、13……基板載置台、17……透
孔、21……基板押え板、22……上部プロー
ブ。
置の一実施例を示す要部断面図、第2図はプリン
ト回路基板を示す要部斜視図、第3図は従来のプ
リント回路基板の検査装置を示す要部断面図であ
る。 1……プリント回路基板、7……基材、8……
下部プローブ固定部材、9……支持台、10……
下部プローブ、13……基板載置台、17……透
孔、21……基板押え板、22……上部プロー
ブ。
Claims (1)
- 【実用新案登録請求の範囲】 両面に回路を形成してなるプリント回路基板の
検査装置において、 支持台の上方には前記プリント回路基板を載置
する基板載置台および基板押え板が、各々上下動
可能に設けられ、 前記基板押え板を上方より押し下げて前記プリ
ント回路基板を前記基板載置台の上面と前記基板
押え板の下面の間に挟持可能となし、 前記基板押え板には上部プローブが下方に付勢
されて植設されており、 前記支持台には下部プローブが上方に付勢され
て植設されており、 前記基板載置台には前記下部プローブが上下に
移動可能に挿通する透孔が設けてあり、 前記基板載置台が上方に位置するときは前記下
部プローブは前記基板載置台の上面から突出せ
ず、 前記基板載置台が下方に位置するときは突出し
て、前記プリント回路基板の下面の回路に圧接可
能に構成されていることを特徴とするプリント回
路基板の検査装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP1986154718U JPH0452692Y2 (ja) | 1986-10-08 | 1986-10-08 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP1986154718U JPH0452692Y2 (ja) | 1986-10-08 | 1986-10-08 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS6360972U JPS6360972U (ja) | 1988-04-22 |
| JPH0452692Y2 true JPH0452692Y2 (ja) | 1992-12-10 |
Family
ID=31074770
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP1986154718U Expired JPH0452692Y2 (ja) | 1986-10-08 | 1986-10-08 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH0452692Y2 (ja) |
Family Cites Families (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH041507Y2 (ja) * | 1985-03-29 | 1992-01-20 |
-
1986
- 1986-10-08 JP JP1986154718U patent/JPH0452692Y2/ja not_active Expired
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPS6360972U (ja) | 1988-04-22 |
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