JPH04216471A - プリント配線板布線検査装置 - Google Patents

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】

【０００１】

【産業上の利用分野】本発明は、プリント配線板の配線
状態の正常・異状を、プローブを布線検査用治具として
検査するためのプリント配線板布線検査装置に関する。

【０００２】

【従来の技術】図３は、従来の一般的なプリント配線板
の概略平面図であり、プリント配線板１　は、その配線
基板３　の表面若しくは表裏両面に所定パターンに布線
設計されたパターン通電部１ａの電気配線が施されてい
る。このパターン通電部１ａには部分的に比較的高精細
（　例えば０．５ｍｍ前後のファインピッチ）　なパタ
ーンの微細通電端子部など微細通電部１ｂが施されてい
るものである。

【０００３】また、上記配線板１　の通電部１ａの適宜
個所、若しくはその通電部１ａ以外の適宜個所には、表
面から裏面にかけてスルーホール２　（　例えば直径０
．９から１．５ｍｍ前後）が貫設され、該スルーホール
２　の外周から内部に連続して通電部２ａが被覆されて
いる。このスルーホール２　は、前記微細通電部１ｂよ
りも粗い、比較的大きいピッチ間隔で施されている。

【０００４】また、前記配線板１　のパターン通電部１
ａを含む領域、若しくは該通電部１ａに隣接して通電を
要しない領域には、所定膜厚の絶縁性ソルダーレジスト
４　が塗布され適宜絶縁性が保持されているものである
。

【０００５】従来のプリント配線板１　の前記通電部１
ａ、１ｂ、２ａにおける断線、短絡の発生など、配線状
態の正常・異状を検査する方式としては、形成されたプ
リント配線板１　の通電部１ａ、１ｂ、２ａに、予め設
定した検査すべき通電部に対応して所定位置に配置した
通電検査用のプローブ（　接触子）　を、該配線板１　
の対応する通電部１ａ、１ｂ、２ａ部分に接触させて通
電状態を検査するものであり、接触方式によって、プレ
ーンな形状のプローブを配置したシート状の検査治具（
　押圧治具）　によるプレーン接触方式、固定配置した
ピンに押圧接触させて検査するリジットピン接触方式、
又はレシプロ可動ピンによるスプリングピン接触方式な
どがある。

【０００６】ところで、特に微細（ファイン）　ピッチ
の前記微細通電部１ｂに検査用プローブを接触させてプ
リント配線板１　の通電検査をする場合、そのプローブ
は、微細通電部１ｂの精細度合に対応した微細なピッチ
をもって配置する必要があり、且つ、高度な接触位置精
度をもって検査することが要求される。そのため、検査
装置に使用する接触用プローブとしては、図４に示すよ
うに、極細径で、且つ押圧性に対する信頼性は比較的低
いが位置的信頼性の高い固定方式のリジットピン７　を
用い、接触性の信頼度を高めるために弾力性のある厚さ
方向偏向導電性ゴムシート５　を介して、プリント配線
板１　を基盤Ｂ上に位置決め載置し、上側より押圧駆動
手段６　によって絶縁性の押圧治具Ａを下降動作して押
圧して検査する必要があり、リジットピン配置用基盤Ｂ
（定盤）の穿孔、及び穿孔位置へのリジットピン７　の
立設、嵌め込みなど検査準備作業に要する時間、手間は
膨大である。

【０００７】一方、プリント配線板１　の比較的大きい
ピッチ（　ラフピッチ）　間隔をもって施される前記ス
ルーホール２　の外周通電部２ａに検査用のプローブを
接触させて通電検査する場合、接触検査用プローブは、
その通電部２ａに対応したピッチ間隔で配置する必要は
あるが、前記微細通電部１ｂに接触させるリジットピン
のような微細なピッチ間隔で配置する必要はなく、且つ
接触位置精度もリジットピンほどは要求されないため、
図５に示すように、位置精度に対する信頼性は比較的低
くても、押圧性に対する信頼度の高い可動押圧式のスプ
リングピン８（レシプロ動作）　を用いて、その先端部
８ａを直接スルーホール２　の外周通電部２ａに接触さ
せて検査を行っているものである。

【０００８】

【発明が解決しようとする課題】上記、従来の検査方式
においては、図４のように微細通電部１ｂの通電検査に
はリジットピン７　と導電性ゴムシート５　を使用し、
スルーホール通電部２ａの通電検査には導電性ゴムシー
ト５　は使用せず、図５のように直接スプリングピン８
　を通電部２ａに接触させて検査するなど、所謂、微細
通電部とスルーホール通電部とのそれぞれ検査は、別方
式により行っているため、検査工程が煩雑になりやすい
傾向があった。

【０００９】そこで、微細通電部とスルーホール通電部
との検査を同じ基盤Ｂ上で一度に実施するためには、少
なくとも、微細通電部の検査を可能とするリジットピン
による検査方式に統一することが考えられるが、その場
合、リジットピン接触方式によってスルーホール外周通
電部の検査までも行うとすれば、下記のような不都合が
生ずる。

【００１０】即ち、図６はリジットピン接触方式によっ
てスルーホール外周通電部の検査を行う場合の説明ずで
あり、基盤Ｂ（定盤）上の所定位置に、布線検査パター
ンに応じた配置によって、通電性のリジッド（　固定式
）　ピン７　を配置し、必要に応じて該ピン７　以外の
部分に、該ピン７の頂部７ａが突出する程度にシート状
の絶縁性のスペーサーＢ１　を積層し、該スペーサーＢ
１　の上に弾性シート状の導電性ゴム５　を載置し、そ
の上に、前記リジットピン７　の頂部７ａに対向して、
スルーホール２　が位置するようにプリント配線板１　
を載せ、該配線板１　上側より押圧することによって、
スルーホール２　の通電部２ａをリジットピン７　に圧
接して、リジットピン７　から配線板１　のスルーホー
ル２　の通電部２ａ及びパターン通電部１ａに電流を流
すことによってスルーホール２　の通電部２ａ若しくは
パターン通電部１ａの断線、短絡の発生の有無を検査す
るものである。

【００１１】ところが、上記リジットピン７　によるス
ルーホール外周通電部２ａの検査においては、プリント
配線板１　の表面に施される絶縁性のソルダーレジスト
４　の膜厚が、ホール外周通電部２ａの膜厚よりも厚く
形成される場合があり、ホール外周通電部２ａと導電性
ゴム５　との間に高低差が生じ、押圧治具Ａによる圧接
が不十分になり、検査エラーが発生し易い傾向がある。

【００１２】本発明検査装置は、プリント配線板のパタ
ーン通電部、微細通電部、スルーホール外周通電部を、
同一検査装置の基盤上で接触不良による検査エラーの発
生がなく、一度に検査できるようにすることを目的とす
るものである。

【００１３】

【課題を解決するための手段】本発明は、プリント配線
板に施された配線様式に応じて検査すべき所定位置にプ
ローブを配置した検査用基盤によりプリント配線板の配
線パターンの短絡、断線の有無を検査する装置において
、検査用基盤に、配線板のスルーホール通電部に相当す
る位置に設けたレシプロ弾性可動方式のプローブと、少
なくとも該配線板の微細通電部に相当する位置に設けた
固定リジットピン方式のプローブとを備えたことを特徴
とするプリント配線板布線検査装置である。

【００１４】

【実施例】本発明装置を図１の一実施例図面に従って詳
細に説明すれば、装置本体フレーム基台１２に立設する
ポール１１上に水平支持台９　（　厚板状のベークライ
ト製、絶縁表面を有する金属製）　を設け、該支持台９
　の両端部に垂直に基盤支持シャフト１３をバネ１３ａ
　を介して上下動作可能に支持されている。前記支持シ
ャフト１３上には検査用基盤Ｂ（　ガラス−エポキシ製
、ベークライト製）　を水平になるように取付け固定す
る。従って、該基盤Ｂは、支持台９　に対してバネ１３
ａ　によって上方向に付勢された状態で上下に可動状態
に取付けられている。なお、基盤Ｂと支持シャフト１３
とは、接続部１４にて切り離し可能にして基盤Ｂを交換
可能にしてもよい。

【００１５】例えば、前記接続部１４は、基盤Ｂ側の孔
設部Ｂ２　と支持シャフト１３側の先端部１３ｂ　とを
嵌合することによって接続取付け、取外し可能にするこ
とによって、プリント配線板１　の通電パターンに応じ
て基盤Ｂを交換するものである。該基盤Ｂの上側には、
該基盤Ｂに平行に所定の間隔を有して、上下動作可能な
押圧治具Ａが設置され、下方に向かって基盤Ｂを押圧可
能である。 該基盤Ｂの両端部、周辺部には、プリント配線板を位置
決め固定するためのガイドピン１０を該基盤Ｂの上面よ
り突出するように２本乃至数本立設固定する。

【００１６】該基盤Ｂの上面に載置されるプリント配線
板１　の通電配線パターン検査ポイントの内、パターン
通電部１ａ、乃至は微細通電部１ｂに対応する該基盤Ｂ
面には、所定の直径の孔Ｂ３　が孔設され、その孔にリ
ジットピン１５を取付け固定する。該ピン１５の頂部１
５ａ　は基盤Ｂより僅かに突出している。基盤Ｂの上面
は、樹脂フィルムなど絶縁性のスペーサーＢ１　を積層
することにより、リジットピンの突出高さを調整するこ
とは可能である。 該ピン１５の下部端部は支持台９　に打ち込まれており
、その下部末端部は配線１５ｃ　によって検査用コネク
ター１７に通電可能に接続されている。

【００１７】また、前記基盤Ｂには、該基盤Ｂの上面に
載置されるプリント配線板１　の通電配線パターン検査
ポイントの内、スルーホール２　の外周通電部２ａに対
応する位置に、所定の直径の孔Ｂ４　が該基盤Ｂに対し
て垂直方向に孔設され、その孔に、垂直方向にレシプロ
動作可能な可動ピン１６（スプリングピン）を嵌挿する
ものである。該ピン１５の頂部１６ａ　は、スルーホー
ル２　の直径よりも大径であり、円錐形、若しくは円錐
台形であり、通常は基盤Ｂ上面より下位に位置し、該頂
部１６ａ　を支持する可動シャフト１６ｂ　は、その下
部端部をバネ１６ｄ　によって上方に付勢され、且つシ
リンダー部１６ｃ　内に上下動自在に嵌挿支持されてお
り、該シリンダー部１６ｃ　は前記支持台９　に取付け
固定されている。該可動シャフト１６ｂ　の下部末端部
は、配線１６ｅ　によって検査用コネクター１７に通電
可能に接続している。

【００１８】本発明装置の動作を図１に従って詳細に説
明すれば、基盤Ｂ上に、導電性ゴムシート５　を介して
プリント配線板１　を載置する。該配線板１　は、ガイ
ドホール１ｃ（　位置決め孔）　にガイドピン１０を嵌
め込み所定位置に位置決めする。次に、上側より、押圧
治具Ａを基盤Ｂに垂直方向に下降動作させてプリント配
線板１　を下側の導電ゴムシート５　に平均に押圧し、
支持シャフト１３のバネ１３ａ　を介して上方向に付勢
されている基盤Ｂは、配線板１　の上面に接触して該配
線板１　を押圧しつつ下降動作する押圧治具Ａと一体に
、該支持シャフト１３にガイドされ且つ該バネ１３ａ　
の付勢力に抗して下側の支持台９　方向に下降する。

【００１９】その過程において、基盤Ｂに固定配置され
ているリジットピン１５の頂部１５ａ　は、プリント配
線板１　の各微細通電部１ｂに導電ゴムシート５　を介
して押圧接触して、該リジットピン１５の下部末端部１
５ｂ　に接続された布線部１５ｃ　を介して検査コネク
ター１７に電気的に接続され、他方、該微細通電部１ｂ
、及び該通電部１ｂを含み該通電部１ｂを経由して導通
するように布線し、若しくは絶縁されたパターンとして
施されているべき他の所定の通電部１ａ、若しくは微細
通電部１ｂに他のリジットピン１５の頂部１５ａ　は導
電ゴムシート５　を介して押圧接触し、該他のリジット
ピン１５の末端に接続された布線部１５ｃ　を介して布
線されて検査コネクター１７に接続され、各リジットピ
ン１５と各スプリングピン１６との間の配線板１　の配
線パターン内の各通電部１ａ、各微細通電部１ｂ、各ス
ルーホール外周通電部２ａにおける通電されるべき個所
が通電されるか否か、若しくは絶縁されているべき個所
が非通電状態にあるか否かなどを、電流計、電圧計によ
って計測して、断線、短絡の発生の有無を布線検査する
ものである。

【００２０】続く押圧治具Ａの下降動作により、スプリ
ングピン１６の頂部１６ａ　が、導電ゴムシート５　の
下面と接触し、該導電ゴムシート５　を介して下側より
スルーホール２　の外周通電部２ａを押圧動作して、該
スプリングピン１６の下部末端部１６ｂ　に布線部１６
ｅ　を介して布線されて検査コネクター１７によって、
該通電部２ａ、及び該通電部２ａを含み該通電部２ａを
経由して導通するように布線された所定の通電部パター
ンの端子部（　他方の電極を接触導通させ、検査コネク
ター１７の他方の電極に接続配線されている）　までの
間の配線板１　の通電配線パターンにおける断線、短絡
の発生の有無を布線検査するものである。

【００２１】続いて、前記押圧治具Ａがその下止点にて
下降動作を終了すると、バネ１３ａ　によって上方に付
勢された前記基盤Ｂは、該治具Ａと一体に上昇動作を開
始し、中間上昇点まで治具Ａと一体に上昇し、その後は
基盤Ｂは、治具Ａより分離して、バネ１３ａ　によって
上方に付勢された元の水平高さに復帰し、治具Ａはさら
に上方の上止点に復帰して停止する。なお、前記押圧治
具Ａの下止点は、該治具Ａが前記基盤Ｂを押し下げるこ
とによって、その基盤上面に前記スプリングピン１６の
頂部１６ａ　を導電ゴムシート５　を押圧するために僅
かに突出させる程度の位置に設定するものであり、その
位置の微調整は、治具Ａの上下動作のストローク量の設
定によって行うことができる。

【００２２】また、上記装置は、フリント配線板１　の
下側にプローブを配置したものであるが、本発明装置に
おいては、図２のように、フリント配線板１　を挟んで
表裏両側にプローブを配置してもよく、例えば、前記基
盤Ｂの上方にある押圧治具Ａの下側に一体に、前記支持
台９　と該支持台９　に支持シャフト１３を介して支持
した前記基盤Ｂのプローブ（リジットピン１５、スプリ
ングピン１６）　の配置とは線対称的な位置にプローブ
を配置し、且つ前記基盤Ｂのガイドピン１０の先端部と
嵌合する孔設部Ｃ１　を孔設した基盤Ｃを、その基盤Ｃ
のプローブ（リジットピン１８、スプリングピン１９）
　側が下向きになるように取付ける。そして押圧治具Ａ
を下降動作することによって、基盤Ｃを下降させ、該基
盤Ｃのプローブを基盤Ｂに載置したプリント配線板１　
の上側から押圧接触させ、基盤Ｂと基盤Ｃとによってプ
リント配線板１　を表裏より挟み付けて、表裏の通電部
の各検査ポイントにプローブを押圧接触させることによ
って、プリント配線板の表裏から通電パターンの布線検
査をすることができるようにしてもよい。

【００２３】

【作用】本発明装置は、押圧治具の押圧動作によって上
下動作する基盤に、微細なピッチ間隔で取付け固定した
リジットピンと、該ピンの間隔よりも粗い間隔で配置し
た上下動可能な弾性可動ピンとを併設したので、治具に
よって基盤を下降上昇復帰動作させることにより、プリ
ント配線板を押圧し、同時に且つその動作工程において
、微細なピッチ間隔（ファインピッチ間隔）で施された
通電端子部など微細通電部に、リジットピンを垂直導通
配向性の通電ゴムシートを介して押圧接触させることが
でき、同時に、前記微細通電部よりも粗い間隔に施され
たスルーホールの外周に施された外周通電部など粗いピ
ッチ間隔で施された通電部に、可動ピンを前記通電ゴム
シートを介して押圧接触させることができる。そのため
、プリント配線パターンの布線検査において、疎蜜多様
な間隔に設計製造されたプリント配線板の疎なパターン
と蜜なパターンとを一枚毎一度に実施することができる
。

【００２４】

【発明の効果】本発明装置は、プリント配線板の通電部
における疎なパターンと蜜なパターンのを一度に検査す
ることができるもので、プリント配線板の布線検査に顕
著な効果を発揮するものである。

【図面の簡単な説明】

図１は本発明検査装置の一実施例における側面図、図２
は本発明装置の他の実施例における概略側面図、図３は
一般的なプリント配線板の概略平面図、図４及び図５は
従来の検査装置の概略側面図、図６は従来のリジットピ
ンによるスルーホール通電部の検査を説明する側断面図
である。

【符号の説明】

Claims (1)

【特許請求の範囲】
1. 【請求項１】プリント配線板に施された配線様式に応じ
   て検査すべき所定位置にプローブを配置した検査用基盤
   によりプリント配線板の配線パターンの短絡、断線の有
   無を検査する装置において、検査用基盤に、配線板のス
   ルーホール通電部に相当する位置に設けたレシプロ弾性
   可動方式のプローブと、少なくとも該配線板の微細通電
   部に相当する位置に設けた固定リジットピン方式のプロ
   ーブとを備えたことを特徴とするプリント配線板布線検
   査装置。