JPH0453043A - Optical disk tester - Google Patents
Optical disk testerInfo
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- JPH0453043A JPH0453043A JP16237890A JP16237890A JPH0453043A JP H0453043 A JPH0453043 A JP H0453043A JP 16237890 A JP16237890 A JP 16237890A JP 16237890 A JP16237890 A JP 16237890A JP H0453043 A JPH0453043 A JP H0453043A
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Abstract
Description
【発明の詳細な説明】
〈産業上の利用分野〉
本発明は、光ディスクの欠陥を検出する光ディスフテス
タの改良に関するものである。DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION <Industrial Application Field> The present invention relates to an improvement of an optical defect tester for detecting defects in optical discs.
〈従来の技術〉
第4図は従来の光ディスクテスタの構成を示す機能ブロ
ック図である。1は光ディスク、2は光ディスク1を一
定速度で回転させるスピンドル、3は光ディスク1の表
面にレーザー光を照射して、その反射光を分割されたフ
ォトダイオードで受光する光学ヘッドである。4は光学
ヘッドからの受光信号を入力してトラッキングエラー及
びフォーカスエラーを発生させるエラー信号発生部であ
る。<Prior Art> FIG. 4 is a functional block diagram showing the configuration of a conventional optical disc tester. 1 is an optical disk, 2 is a spindle that rotates the optical disk 1 at a constant speed, and 3 is an optical head that irradiates the surface of the optical disk 1 with a laser beam and receives the reflected light with a divided photodiode. Reference numeral 4 denotes an error signal generation section which receives a light reception signal from the optical head and generates a tracking error and a focus error.
トラッキングエラー信号は、光ディスク1の表面に形成
されたスパイラル状のトラックから光学ヘッドが光ディ
スクの半径方向にずれていることを表す信号で、フォー
カスエラー信号とは光ディスク1の表面と光学ヘッド3
との距離が決められた値からずれていること表す信号で
ある。5はこのトラッキングエラー信号及びフォーカス
エラー信号を導入し、その信号に基づいて光学ヘッド3
の位置修正を行うサーボ部、6は光学ヘッド3の出力を
入力として光ディスク1の欠陥を検出する測定部である
。この光ディスクテスタは、スビ〉ドル2によって光デ
ィスク1を回転させ、光字ヘヅド3でレーザー光を光デ
ィスク1に照射し12、その反射光を受光したのちエラ
ー信号を発生させて、サーボ部5によって光学ヘッド3
の位置修M−をするとともに、測定部6で欠陥を評価づ
る。The tracking error signal is a signal indicating that the optical head is deviated from the spiral track formed on the surface of the optical disc 1 in the radial direction of the optical disc.
This is a signal that indicates that the distance between the 5 introduces the tracking error signal and the focus error signal, and based on the signals, the optical head 3
A servo unit 6 is a measuring unit that receives the output of the optical head 3 and detects defects in the optical disc 1. This optical disc tester rotates an optical disc 1 using a sub-driver 2, irradiates the optical disc 1 with a laser beam using an optical head 3, generates an error signal after receiving the reflected light, and outputs an optical signal using a servo unit 5. head 3
At the same time, the measuring section 6 evaluates the defect.
〈発明が解決しようとするR IJI >しかしながら
、このような光ディスクテスタは欠陥があるかないかを
検出するのみであり、欠陥が光ディスクのどの位置にあ
るかまでは検出できなかった。その為に、定量的な検査
ができず、また欠陥の原因追及が十分に行えないという
問題があった。<R IJI to be solved by the invention> However, such an optical disc tester only detects whether there is a defect or not, but cannot detect where the defect is located on the optical disc. Therefore, there were problems in that quantitative inspection was not possible and the causes of defects could not be adequately investigated.
本発明は、このような問題を解決するために為されたも
ので、ディスク上の欠陥位1を特定できるような光ディ
スクテスタを提供することを目的とする。The present invention has been made to solve such problems, and an object of the present invention is to provide an optical disc tester that can identify the defect location 1 on the disc.
く課題を解決するための手段〉
本発明は、
光学ヘッドからレーザー光を光ディスクに照射し、この
光ディスクからの反射光を受光して前記光学ヘッドを位
置制御するとともに、この反射光からエラー信号を求め
て前記光ディスクのテストを行う光ディスクテスタにお
いて、
前記エラー信号をレーザー光の強度及び光ディスクの反
射率に依存しないような信号に変換するAGC部と、
このAGC部の出力が入力され、所定のレベルと比較す
るコンパレータと、
スピンドルエンコーダの出力から光ディスクのトラック
の位置を示すZ相をカウントする第1のカウンタと、
このカウンタの出力をラッチする第1のラッチと、
前記光学ヘッドから出力される信号から光ディスクのセ
クタとセクタを区分するプリフォーマットを検出するプ
リフォーマット検出部と、このプリフォーマット検出部
の検出信号をカウントする第2のカウンタと、
このカウンタの出力をラッチする第2のラッチとを具備
し、
測定開始コマンドにより前記光学ヘッドを非ステイル状
態にし、かつ前記第1のカウンタにより2相信号をカウ
ントし、前記第2のカウンタによりプリフォーマット信
号をカウントし、前記コンパレータの出力によって第1
及び第2のラッチで第1及び第2のカウンタのカウント
値をラッチするようにして、非ステイル状態に入る直前
の光学ヘッドの位置、トラックピッチ、セクタの基準位
置及び前記第1及び第2のラッチの値からエラー信号が
発生した位置を特定するようにしたことを特徴とする光
ディスクテスタである。Means for Solving the Problems> The present invention irradiates an optical disk with laser light from an optical head, receives reflected light from the optical disk to control the position of the optical head, and generates an error signal from this reflected light. An optical disc tester that tests the optical disc by determining the error signal includes an AGC unit that converts the error signal into a signal that does not depend on the intensity of the laser beam and the reflectance of the optical disc; a first counter that counts the Z phase indicating the track position of the optical disk from the output of the spindle encoder; a first latch that latches the output of this counter; and a signal output from the optical head. a preformat detection section that detects a preformat that divides the optical disk into sectors; a second counter that counts the detection signal of this preformat detection section; and a second latch that latches the output of this counter. The optical head is brought into a non-stall state by a measurement start command, the first counter counts two-phase signals, the second counter counts a preformat signal, and the output of the comparator is used to turn the optical head into a non-stall state.
The count values of the first and second counters are latched by the second latch, and the position of the optical head immediately before entering the non-stall state, the track pitch, the reference position of the sector, and the first and second counter values are determined. This optical disc tester is characterized in that the position where an error signal is generated is specified from the value of the latch.
く作用〉
このような本発明においては、光学ヘッドで光ディスク
にレーザー光を照射し、その反射光を受光して、AGC
部によりエラー信号をレーザー光の強度及び光ディスク
の反射率に依存しないような信号に変換する。ここで、
第1のカウンタは光ディスクのZ相をカウントし、第2
のカウンタはプリフォーマット検出部で検出されたプリ
フオーマット信号をカウントする。前記AGC部の出力
をコンパレータで所定のレベルと比較し、エラーが検出
されれば、第1及び第2のカウンタのカウント値を第1
及び第2のラッチにラッチし、欠陥が検出されたトラッ
クの位置及びセクタの位置を特定する。In the present invention, the optical head irradiates the optical disk with laser light, receives the reflected light, and performs AGC.
The error signal is converted into a signal that does not depend on the intensity of the laser beam and the reflectance of the optical disk. here,
The first counter counts the Z phase of the optical disc, and the second counter counts the Z phase of the optical disc.
The counter counts the preformat signals detected by the preformat detection section. The output of the AGC section is compared with a predetermined level by a comparator, and if an error is detected, the count values of the first and second counters are set to the first level.
and a second latch to identify the position of the track and the position of the sector in which the defect is detected.
〈実施例〉 以下図面を用いて、本発明の詳細な説明する。<Example> The present invention will be described in detail below using the drawings.
第1図は本発明に係る光ディスクテスタの−・実施例を
示す機能ブロック図である0図において、10は光ディ
スク、11は光ディスク10を回転させるスピンドル、
12はスピンドル11に直結されたエンコーダで、トラ
ックが一回転するごとにZ相を出力するものである。1
3は光ディスク10にレーザー光を照射して、その反射
光を2分割フォトダイオードで検出する光学ヘッド、1
4は光学ヘッド13を光ディスク10の半径方向に移動
させるスライド送りテーブル、15はスライド送りテー
ブル14を移動させる壬−夕及び移動距離を測定するた
めのエンコーダである。16は光字ヘッド13内の2分
割フォトダイオードの出力信号を導入し、これらの出力
信号を増幅175.かつその差をとってトラッキングエ
ラー信号aを求め、また和をとってフォトダイオードに
入る総光蓋に比例する信号すを求める前置増幅器である
。17は前置増幅器16の2つの出力a、bを導入し5
、トラッキングエラー信号を総光量に比例する信号で除
3E L、、レーザー光の強度及び光ディスク10の反
射率によらない信号Cを出力するAGC部、18はAG
C部17の出力信号Cとサーボ制御部20の出力信号e
が入力されるサーボ回路で、位相補償回路、増幅器を内
蔵j2ている。】9は−V−−ボ回路18の出力が入力
され、光学ヘッド13のアクチュエータを駆動するサー
ボパワーアンプである。ここで、サーボ回路18、サー
ボパワーアンプ19及びサーボ制御部20でトラッキン
グサーボを構成し、光学ヘッド13を光ディスク10の
トラックの1つに追従させるようになっている。FIG. 1 is a functional block diagram showing an embodiment of an optical disk tester according to the present invention. In FIG. 1, 10 is an optical disk, 11 is a spindle for rotating the optical disk 10,
Reference numeral 12 denotes an encoder directly connected to the spindle 11, which outputs a Z-phase signal every time the track rotates once. 1
3 is an optical head that irradiates a laser beam onto the optical disk 10 and detects the reflected light with a two-split photodiode;
Reference numeral 4 denotes a slide table for moving the optical head 13 in the radial direction of the optical disk 10, and reference numeral 15 denotes an encoder for moving the slide table 14 and measuring the distance traveled. 16 introduces the output signals of the two-split photodiode in the optical head 13, and amplifies these output signals 175. The preamplifier calculates the difference between them to obtain a tracking error signal a, and the sum thereof to obtain a signal proportional to the total optical cover entering the photodiode. 17 introduces the two outputs a and b of the preamplifier 16, and 5
, the tracking error signal is divided by a signal proportional to the total amount of light 3E L, , the AGC section outputs a signal C that is independent of the intensity of the laser beam and the reflectance of the optical disk 10, 18 is an AG
Output signal C of C section 17 and output signal e of servo control section 20
This is a servo circuit that receives input, and has a built-in phase compensation circuit and amplifier. ] 9 is a servo power amplifier to which the output of the -V--V circuit 18 is inputted and drives the actuator of the optical head 13. Here, the servo circuit 18, the servo power amplifier 19, and the servo control section 20 constitute a tracking servo, and the optical head 13 is made to follow one of the tracks of the optical disk 10.
サーボ制御部20は、トラッキングサーボ全体を制御す
るとともにカウンタ27、ラッチ28及びラッチ32に
クリア信号fを送る。また、サーボ制御部20はサーボ
回路18に信号eを出力し、このサーボ回路18の制御
をアナログ信号dによって行うことにより、トラックを
ジャンプする機能を有する。このジャンプをエンコーダ
12のZ相出力に同期して1回転中に1回行うことによ
り、光学ヘッド13を光ディスク10に形成されたスパ
イラル状のトラックの同一トラックに止めることができ
る。この状態をステイル制御状態というが、尚、非ステ
イル状態とは、スパイラル状のトラックに沿って光学ヘ
ッドを追従させることをいう、21はAGC部17の出
力信号Cが入力され、この出力信号を増幅する増幅器、
22は増幅器21の出力をトラッキングサーボの帯域に
特性を合わせるフィルタ部、23はバス24を介して全
体の回路の制御を行うCPtJである。25はCPtJ
23で設定されたデジタル値をアナログ信号、つまりこ
の場合スレッショルドレベルに変換するD/A変換器、
26はD/A変換器25から出力されるスレッショルド
レベルを基準電圧として、フィルタ部22から出力され
るサーボエラー信号gと比較するコンパレータである。The servo control section 20 controls the entire tracking servo and sends a clear signal f to the counter 27, latch 28, and latch 32. Furthermore, the servo control section 20 has a function of jumping tracks by outputting a signal e to the servo circuit 18 and controlling the servo circuit 18 using an analog signal d. By performing this jump once per rotation in synchronization with the Z-phase output of the encoder 12, the optical head 13 can be stopped on the same spiral track formed on the optical disk 10. This state is called a stale control state, but the non-stale state means that the optical head follows a spiral track. amplifier to amplify,
22 is a filter unit that matches the characteristics of the output of the amplifier 21 to the tracking servo band; 23 is a CPtJ that controls the entire circuit via a bus 24; 25 is CPtJ
a D/A converter that converts the digital value set in 23 into an analog signal, that is, in this case, a threshold level;
A comparator 26 compares the threshold level output from the D/A converter 25 with the servo error signal g output from the filter unit 22 as a reference voltage.
このコンパレータ26は比較によって欠陥を検出したと
きに、つまり、サーボエラー信号gがスレッショルドレ
ベルを越えたときに、gII信号りをラッチ28及びラ
ッチ32に送る。27はエンコーダ12から出力される
Z相をカウントし、つまり、測定開始時点からのトラッ
クの位置をカウントし、サーボ制御部20からのクリア
信号fによってリセットされるカウンタである。28は
コンパレータ26からの傷信号りの入力のタイミングで
そのときのカウンタ27のカウント値1をラッチするラ
ッチで、寸−ボ制W部20からのクリア信号fによって
リセットされるものである。このラッチ28からの出力
信号jが、欠陥が存在するトラックの位置ということに
なる。29は光学ヘッドから出力されるRF信信号音入
力し、所定のレベルに増幅するRF@号増号器幅器0は
RFF号増幅器29の出力信号からプリフォーマットを
検出するプリフォーマット検出部で、プリフォーマット
を検出するごとにプリフォーマット信号nを出力するも
のである。ここでいうプリフォーマットとは、ディスク
上のセクタとセクタを区分する部分である。31はプリ
フォーマット検出部30からのプリフォーマット信号n
を取り込んでカウントしていくカウンタで、つまり、基
準のセクタ位置からのセクタのずれの位置をカウントす
るもので、エンコーダ12からの2相信号kが入力され
リセットされる。32はコンパレータ26からの傷信号
りの入力のタイミングでそのときのカウンタ31のカウ
ント値pをラッチするラッチで、サーボ制御部20から
のクリア信号fによってリセットされるものである。こ
のラッチ32からの出力信号qが、傷が存在するセクタ
の位置ということになる。33はバス24を通ってサー
ボ制御部20に信号が授受される際に両者の間に介在す
るインターフェイスである。Comparator 26 sends a gII signal to latch 28 and latch 32 when a defect is detected by comparison, that is, when servo error signal g exceeds a threshold level. A counter 27 counts the Z phase output from the encoder 12, that is, counts the position of the track from the start of measurement, and is reset by a clear signal f from the servo control section 20. A latch 28 latches the current count value 1 of the counter 27 at the timing of input of the flaw signal from the comparator 26, and is reset by the clear signal f from the size control W section 20. The output signal j from the latch 28 indicates the position of the track where the defect exists. 29 is a preformat detection unit that detects a preformat from the output signal of the RFF signal amplifier 29; A preformat signal n is output every time a preformat is detected. The preformat here is a part that separates sectors on the disk. 31 is a preformat signal n from the preformat detection section 30
This is a counter that takes in and counts the position of the sector from the reference sector position, and is reset by inputting the two-phase signal k from the encoder 12. A latch 32 latches the current count value p of the counter 31 at the timing of input of the flaw signal from the comparator 26, and is reset by a clear signal f from the servo control section 20. The output signal q from this latch 32 indicates the position of the sector where the scratch exists. Reference numeral 33 denotes an interface that is interposed between the servo control section 20 and the servo control section 20 when signals are sent and received through the bus 24.
次に、第1図、第2図及び第3図を用いて本発明の詳細
な説明する。尚、第1図と同じ構成要素には同一番号を
付し、説明を省略する。第2図は光学ヘッドと光ディス
クの細部を示す構成図、第3図は本発明の動作を示すタ
イムチャートである。Next, the present invention will be explained in detail using FIGS. 1, 2, and 3. Components that are the same as those in FIG. 1 are given the same numbers and their explanations will be omitted. FIG. 2 is a block diagram showing details of an optical head and an optical disk, and FIG. 3 is a time chart showing the operation of the present invention.
第2図において、34は原点インデックスで、光デイス
ク10上の基準位置となるスピンドルインデックス38
と一致したときに図示されていないエンコーダ12より
2相パルスを発生させるものである。35はプリフォー
マットで、光デイスク10上のセクタとセクタを区分す
るものである。In FIG. 2, reference numeral 34 indicates an origin index, and a spindle index 38 serves as a reference position on the optical disk 10.
When they match, a two-phase pulse is generated from an encoder 12 (not shown). A preformat 35 is used to distinguish sectors on the optical disk 10 from one another.
36はトラック、37は1セクタの単位である。36 is a track, and 37 is a unit of one sector.
この図では、17セクタに分割しであるが、セクタ数は
ISO規格によって17セクタと31セクタに決められ
ている1図のスライド送りテーブル14はディスクへの
アクセス■たは位2調節の際に図の矢印A−A一方向に
移動する。また、光ディスク10は図の矢印B方向(反
時計方向)に回転する。第3図において、■はフィルタ
部22から出力されるサーボエラー信号gのタイムチャ
ート、■はコンパレータ26から出力されるI信号りの
タイムチャート、■はエンコーダ12から出力される2
相k、■はカウンタ27のカウント値のタイムチャート
、■はプリフォーマット検出部30から出力されるプリ
フォーマット信号nのタイムチャート、■はカウンタ3
1のカウント値のタイムチャート、■はラッチ28の出
力を表すタイムチャート、■はラッチ32の出力を表す
タイムチャート、■はサーボ制御部から出力されるクリ
ア信号fである。In this figure, it is divided into 17 sectors, but the number of sectors is determined by the ISO standard to be 17 sectors and 31 sectors. Move in one direction of arrow A-A in the figure. Further, the optical disc 10 rotates in the direction of arrow B (counterclockwise) in the figure. In FIG. 3, ■ is a time chart of the servo error signal g output from the filter unit 22, ■ is a time chart of the I signal output from the comparator 26, and ■ is a time chart of the servo error signal g output from the encoder 12.
Phase k, ■ is a time chart of the count value of the counter 27, ■ is a time chart of the preformat signal n output from the preformat detection section 30, and ■ is the time chart of the counter 3
A time chart of a count value of 1, ■ is a time chart representing the output of the latch 28, ■ is a time chart representing the output of the latch 32, and ■ is a clear signal f output from the servo control section.
まず、CPU23からの測定開始コマンドは、バス24
、インターフェイス33を介してサーボ制御部に送られ
、サーボ1vI11部20は光学ヘッド13を非ステイ
ル状態に移し、所定の設定のもとに光ディスク10のテ
ストを開始する。スピンドル11で光ディスク10を回
転させるとともに、光学ヘッド13からレーザー光を光
ディスクlOに照射し、その反射光をヘッドで受光する
。それと同時に、トラックが進むごとにエンコーダ12
から2相信号(第3図■)を出力する。この2相の出力
は、前に述べたように第2図の原点インデックス34と
スピンドルインデックス38の一致よって実現している
。光学ヘッド13での受光は2分割フォトダイオードで
検出され、サーボ差信号とサーボ和信号が前置増幅器1
6に入力される。First, a measurement start command from the CPU 23 is sent to the bus 24.
, is sent to the servo control section via the interface 33, and the servo 1vI 11 section 20 moves the optical head 13 to a non-stall state and starts testing the optical disk 10 under predetermined settings. The optical disk 10 is rotated by the spindle 11, and the optical disk 10 is irradiated with laser light from the optical head 13, and the reflected light is received by the head. At the same time, each time the track advances, the encoder 12
outputs a two-phase signal (■ in Figure 3). This two-phase output is realized by matching the origin index 34 and the spindle index 38 in FIG. 2, as described above. The light received by the optical head 13 is detected by a two-split photodiode, and the servo difference signal and servo sum signal are sent to the preamplifier 1.
6 is input.
前置増幅器16はトラッキングエラー信号aとフォーカ
スエラー信号すを求め、それらはAGC部17に入力さ
れる。ここで、AGC部17はレーザー光の強度及び光
ディスク10の反射率によらない信号Cを出力する。サ
ーボ回路18にこの信号Cとサーボ制御部20からの出
力信号e及び光学ヘッド13の位置制御するためのZ相
入力に基づくM御信号dが入力され、そのサーボ回路1
8の出力がサーボパワーアンプ19に入力される。The preamplifier 16 obtains a tracking error signal a and a focus error signal S, which are input to the AGC section 17. Here, the AGC section 17 outputs a signal C that is independent of the intensity of the laser beam and the reflectance of the optical disk 10. This signal C, the output signal e from the servo control unit 20, and the M control signal d based on the Z-phase input for position control of the optical head 13 are input to the servo circuit 18, and the servo circuit 1
The output of 8 is input to a servo power amplifier 19.
その後、サーボパワーアンプ19の出力によって光学ヘ
ッド13のアクチュエータを駆動する。前置増幅器16
、AGC部17、サーボ回路18、サーボパワーアンプ
19及びサーボ制W部20で構成されるトラッキングサ
ーボで光学ヘッド13の位置制御を行う一方、AGC部
17で出力されるエラー信号Cは増幅器21で所定のレ
ベルに増幅され、フィルタ部22に入力される。フィル
タ部22ではトラッキングサーボの帯域に特性を合わせ
られ、例えば第3図■のような波形のサーボエラー信号
gを出力する。このサーボエラー信号gはコンパレータ
26に入力され、CPU23で予め設定された値のD/
A変換値(スレッショルドレベル)と比較され、スレッ
ショルドレベルを越えるときは欠陥とみなし、傷信号り
をハイレベルとして出力する(第3図■)、ところで、
カウンタ27はエンコーダ12より発生するZ相をカウ
ントしているが(第3図■)、コンパレータ26で傷信
号りを出力するとく第3図■参照)、直ちにラッチ28
はその時のカウント値の信号I(第3図■)をラッチし
、例えばこの場合Xをラッチし、CPUの制御信号に基
づきラッチ出力信号j(第3図の)、この場合Xをバス
24に出力する。このラッチした値によって欠陥の存在
するトラックがわかるわけであるが、これと同時に、光
学ヘッド13より出力されるRF傷信号によって欠陥の
存在するセクタがわかるようになっている。この動作を
以下で説明する。光学ヘッド13で出力されたRF傷信
号は、RF信号増幅器29で所定のレベルに増幅され、
プリフォーマット検出部30でプリフォーマットが検出
される。ここで、プリフォーマット検出部30はプリフ
ォーマットを検出するごとにプリフォーマット信号n(
第3図■)を出力する。ここではつまり、ヘッドがセク
タとセクタの間のプリフォーマットをまたぐごとにハイ
レベルを出力するようになっている。カウンタ31はこ
の信号nをカウントしく第3図■)、コンパレータ26
からの傷信号りがラッチ32に入力されると同時にラッ
チ32はカウンタ31のその時のカウント値の信号p(
第3図■)をラッチする。この場合、カウンタ31のカ
ウント値yがラッチされるが、CPU23の制御信号に
基づきラッチ出力信号q(第3図■)、この場合yがバ
ス24に出力される。この出力信号qによって欠陥の存
在するセクタの位置を検出することができる。従って、
ラッチ28の出力j、ラッチ32の出力qによって欠陥
の存在するトラック及びセクタが分かり、ディスク上の
傷の位置を確実に知ることができる。ただし、カウンタ
31のカウントは基準となるセクタからの回転セクタ数
であるので、1周りしたときに、つまり次のトラックに
移るときにエンコーダ12から2相を入力し、その信号
をカウンタ31のクリア信号としてリセットする。この
場合カウント値は常に0から16を表すようにし、傷の
存在するセクタ位置を検出できるようになっている。ま
た、1つの傷の検出が終わると、サーボ制御部20から
出力されるクリア信号で(第3図■)がラッチ28及び
ラッチ32に入力され、ラッチの中味はリセットされる
(第3図■〜■参照)、また、光ディスク10のテスト
をあるトラックからあるトラックまで連続的に行うとき
は、カウンタ27のカウント値をそのままにしてよいが
、テストするトラックの範囲の設定を変えるときは、サ
ーボ制御20からクリア信号fをカウンタ27に入力し
、カウンタを0に戻す。Thereafter, the actuator of the optical head 13 is driven by the output of the servo power amplifier 19. Preamplifier 16
The position of the optical head 13 is controlled by a tracking servo composed of an AGC section 17, a servo circuit 18, a servo power amplifier 19, and a servo control W section 20. The signal is amplified to a predetermined level and input to the filter section 22. The filter unit 22 outputs a servo error signal g whose characteristics are matched to the tracking servo band and has a waveform as shown in FIG. 3, for example. This servo error signal g is input to the comparator 26, and the D/
It is compared with the A conversion value (threshold level), and when it exceeds the threshold level, it is regarded as a defect and the flaw signal is output as a high level (Fig. 3 ■).
The counter 27 counts the Z phase generated by the encoder 12 (Fig. 3 ■), but when the comparator 26 outputs a flaw signal (see Fig. 3 ■), the latch 28
latches the count value signal I (■ in Figure 3) at that time, latches X in this case, and sends the latch output signal j (in Figure 3), X in this case, to the bus 24 based on the control signal of the CPU. Output. This latched value allows the track in which the defect exists to be known, and at the same time, the RF flaw signal output from the optical head 13 allows the sector in which the defect exists to be known. This operation will be explained below. The RF flaw signal output by the optical head 13 is amplified to a predetermined level by an RF signal amplifier 29.
A preformat detection section 30 detects the preformat. Here, the preformat detection unit 30 detects the preformat signal n(
Figure 3 ■) is output. In other words, the head outputs a high level every time the head crosses a preformat between sectors. The counter 31 counts this signal n (Fig. 3), and the comparator 26
At the same time, the latch 32 inputs the flaw signal from the counter 31 to the signal p(
Latch (■) in Figure 3. In this case, the count value y of the counter 31 is latched, and the latch output signal q (FIG. 3 ■), in this case y, is output to the bus 24 based on the control signal of the CPU 23. The position of the defective sector can be detected by this output signal q. Therefore,
The track and sector in which the defect exists can be determined by the output j of the latch 28 and the output q of the latch 32, and the position of the scratch on the disk can be determined with certainty. However, since the count of the counter 31 is the number of rotating sectors from the reference sector, when one rotation is made, that is, when moving to the next track, two phases are input from the encoder 12, and the signal is cleared by the counter 31. Reset as a signal. In this case, the count value is always set to represent 0 to 16, so that the sector position where the scratch exists can be detected. When one flaw is detected, a clear signal (■ in Figure 3) output from the servo control unit 20 is input to the latch 28 and the latch 32, and the contents of the latch are reset (■ in Figure 3). ), when testing the optical disk 10 continuously from one track to another, the count value of the counter 27 may be left as is, but when changing the setting of the range of tracks to be tested, the servo A clear signal f is input from the control 20 to the counter 27, and the counter is returned to zero.
このように、光デイスク上のエラーの位置をディスクの
半径方向と周回方向の両方で特定することができる。In this way, the location of the error on the optical disc can be identified both in the radial direction and in the circumferential direction of the disc.
〈発明の効果〉
以上詳細に説明したように、本発明においては、光ディ
スクの欠陥位置をディスクの半径方向と周方向の両方で
特定できるようにしたために、微少な傷でも確実に位置
検出が行えるようになった。<Effects of the Invention> As explained in detail above, in the present invention, since the defect position of an optical disc can be identified in both the radial direction and the circumferential direction of the disc, the position can be reliably detected even with minute scratches. It became so.
第1図は本発明に係る光ディスクテスタの一実施例を示
す機能ブロック図、第2図は光学ヘッドと光ディスクの
細部を示す構成図、第3図は本発明の動作を示すタイム
チャート、第4図は従来の光ディスクテスタの構成を示
す機能ブロック図である。
lO・・・光ディスク 11・・・スピンドル1
2・・・エンコーダ 13・・・光学ヘッド14
・・・スライド送りテーブル
15・・・エンコーダ
16・・・前置増幅器 17・・・AGC部18
・・・サーボ回路
19・・・サーボパワーアンプ20・・・サーボ制御部
21・・・増幅器 22・・・フィルタ部2
3・・・CPU 24・・・バス25・・
・D/A変換器 26・・・コンパレータ27・・
・カウンタ 28・・・ラッチ29・・・RF
信号増幅器
30・・・プリフォーマット検出部
31・・・カウンタ 32・・・ラッチ33・
・・インターフェイス
34・・・原点インデックス
35・・・プリフォーマット
36・・・トラ・yり 37・・・セクタ38
・・・スピンドルインデックス
第
J
図
第
図FIG. 1 is a functional block diagram showing an embodiment of an optical disk tester according to the present invention, FIG. 2 is a configuration diagram showing details of an optical head and an optical disk, FIG. 3 is a time chart showing the operation of the present invention, and FIG. The figure is a functional block diagram showing the configuration of a conventional optical disc tester. lO...Optical disk 11...Spindle 1
2... Encoder 13... Optical head 14
... Slide feed table 15 ... Encoder 16 ... Preamplifier 17 ... AGC section 18
... Servo circuit 19 ... Servo power amplifier 20 ... Servo control section 21 ... Amplifier 22 ... Filter section 2
3...CPU 24...Bus 25...
・D/A converter 26... Comparator 27...
・Counter 28...Latch 29...RF
Signal amplifier 30... Preformat detection section 31... Counter 32... Latch 33...
・・Interface 34 ・・Origin index 35 ・・Preformat 36 ・・Tara・Yuri 37 ・・・Sector 38
...Spindle index Figure J Figure
Claims (1)
光ディスクからの反射光を受光して前記光学ヘッドを位
置制御するとともに、この反射光からエラー信号を求め
て前記光ディスクのテストを行う光ディスクテスタにお
いて、 前記エラー信号をレーザー光の強度及び光ディスクの反
射率に依存しないような信号に変換するAGC部と、 このAGC部の出力が入力され、所定のレベルと比較す
るコンパレータと、 スピンドルエンコーダの出力から光ディスクのトラック
の位置を示すZ相をカウントする第1のカウンタと、 このカウンタの出力をラッチする第1のラッチと、 前記光学ヘッドから出力される信号から光ディスクのセ
クタとセクタを区分するプリフオーマットを検出するプ
リフォーマット検出部と、 このプリフォーマット検出部の検出信号をカウントする
第2のカウンタと、 このカウンタの出力をラッチする第2のラッチとを具備
し、 測定開始コマンドにより前記光学ヘッドを非スティル状
態にし、かつ前記第1のカウンタによりZ相信号をカウ
ントし、前記第2のカウンタによりプリフォーマット信
号をカウントし、前記コンパレータの出力によって第1
及び第2のラッチで第1及び第2のカウンタのカウント
値をラッチするようにして、非スティル状態に入る直前
の光学ヘッドの位置、トラックピッチ、セクタの基準位
置及び前記第1及び第2のラッチの値からエラー信号が
発生した位置を特定するようにしたことを特徴とする光
ディスクテスタ。[Scope of Claims] Laser light is irradiated from an optical head to an optical disk, and reflected light from the optical disk is received to control the position of the optical head, and an error signal is obtained from the reflected light to test the optical disk. The optical disc tester includes: an AGC unit that converts the error signal into a signal that does not depend on the intensity of the laser beam and the reflectance of the optical disc; a comparator that receives the output of the AGC unit and compares it with a predetermined level; and a spindle. a first counter that counts the Z phase indicating the track position of the optical disc from the output of the encoder; a first latch that latches the output of this counter; and sectors of the optical disc from the signal output from the optical head. It is equipped with a preformat detection section that detects the preformat to be classified, a second counter that counts the detection signal of this preformat detection section, and a second latch that latches the output of this counter. The optical head is placed in a non-still state, the first counter counts the Z-phase signal, the second counter counts the preformat signal, and the output of the comparator counts the first signal.
The count values of the first and second counters are latched by the second latch, and the position of the optical head immediately before entering the non-still state, the track pitch, the reference position of the sector, and the first and second counters are latched. An optical disc tester characterized in that a position where an error signal is generated is specified from a latch value.
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP16237890A JPH0453043A (en) | 1990-06-20 | 1990-06-20 | Optical disk tester |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP16237890A JPH0453043A (en) | 1990-06-20 | 1990-06-20 | Optical disk tester |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH0453043A true JPH0453043A (en) | 1992-02-20 |
Family
ID=15753441
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP16237890A Pending JPH0453043A (en) | 1990-06-20 | 1990-06-20 | Optical disk tester |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH0453043A (en) |
-
1990
- 1990-06-20 JP JP16237890A patent/JPH0453043A/en active Pending
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