JPH045336B2 - - Google Patents
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- Publication number
- JPH045336B2 JPH045336B2 JP60217836A JP21783685A JPH045336B2 JP H045336 B2 JPH045336 B2 JP H045336B2 JP 60217836 A JP60217836 A JP 60217836A JP 21783685 A JP21783685 A JP 21783685A JP H045336 B2 JPH045336 B2 JP H045336B2
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- JP
- Japan
- Prior art keywords
- level
- liquid
- temperature
- voltage
- detector
- Prior art date
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- Expired - Lifetime
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- Measurement Of Levels Of Liquids Or Fluent Solid Materials (AREA)
Description
【発明の詳細な説明】
〔発明の利用分野〕
本発明は、槽内の液体と気体のように熱伝達率
に差異のある二相の界面を測定する方法および装
置に係わり、特に、高粘度、高温での液面レベル
測定に適するレベル測定方法および装置に関する
ものである。
に差異のある二相の界面を測定する方法および装
置に係わり、特に、高粘度、高温での液面レベル
測定に適するレベル測定方法および装置に関する
ものである。
従来の液面レベルを検知する方法は、エレクト
ロニクスインダストリー（ELECTRONICS
INDUSTRY）MARCH 1980VOL.6No.
3PAGE37、39に記載されているように、サーミ
スター（THERMISTOR）に定電圧を印加して、
サーミスターに接触する媒体（水とか、空気）の
熱伝達の差によつて生じるサーミスターの温度変
化（＝抵抗値変化）を電流値の変化で監視するこ
とによつて液面レベルの変化を検知するようにな
つていた。
ロニクスインダストリー（ELECTRONICS
INDUSTRY）MARCH 1980VOL.6No.
3PAGE37、39に記載されているように、サーミ
スター（THERMISTOR）に定電圧を印加して、
サーミスターに接触する媒体（水とか、空気）の
熱伝達の差によつて生じるサーミスターの温度変
化（＝抵抗値変化）を電流値の変化で監視するこ
とによつて液面レベルの変化を検知するようにな
つていた。
しかしながら、この方法では、レベルスイツチ
として作用するのみで、レベルの連続測定という
点については考慮されていなかつた。
として作用するのみで、レベルの連続測定という
点については考慮されていなかつた。
本発明の目的は、槽の運転条件（温度、圧力、
振動等）の変動に対して、常に正確な液面の連続
測定のできる信頼性および制度の高いレベル測定
方法および装置を提供することにある。
振動等）の変動に対して、常に正確な液面の連続
測定のできる信頼性および制度の高いレベル測定
方法および装置を提供することにある。
本発明は、槽内に挿入され吉の抵抗値を有する
低抗体を内包し、液相レベル面とエレメントの節
液面とが比例関係にあるレベル測定用エレメント
に供給される電気的エネルギーを電流と電圧とで
検出すると共に、槽内の液温を検出し、レベル測
定用エレメントが液温より一定温度だけ高い温度
になるように演算し、該演算結果に基づいてレベ
ル測定用エレメントに供給する電気エネルギーを
供給電圧の増減で調節することにより、該電気的
エネルギーと液相レベルとが比例関係となる減少
を利用して、該電気的エネルギーの大きさにより
液相レベルの連続測定を行なうようにしたもので
ある。
低抗体を内包し、液相レベル面とエレメントの節
液面とが比例関係にあるレベル測定用エレメント
に供給される電気的エネルギーを電流と電圧とで
検出すると共に、槽内の液温を検出し、レベル測
定用エレメントが液温より一定温度だけ高い温度
になるように演算し、該演算結果に基づいてレベ
ル測定用エレメントに供給する電気エネルギーを
供給電圧の増減で調節することにより、該電気的
エネルギーと液相レベルとが比例関係となる減少
を利用して、該電気的エネルギーの大きさにより
液相レベルの連続測定を行なうようにしたもので
ある。
以下、本発明の一実施例を第１図、第２図を用
いて説明する。第１図は実施例の構成を示すもの
で、１は槽を示し、２は液相部、３は気相部を示
す。４は槽１内に縦向き挿入されたレベル測定用
エレメント（以下、エレメントと略す）で、既知
の抵抗値を持つ低抗体を内包している。５は外部
接続用の端子箱、６および７はエレメント４の低
抗体に供給される電流および電圧を検出する電流
検出器および電圧検出器、８は電源装置で、調節
計１２からの出力信号によつて、エレメント４に
供給する電圧を増減する機能を有する。９は電源
装置８に供給される外部からの電源、１０は槽１
内の液温を検出する液温検出器、１１は電流検出
器６からの電流値、電圧検出器７からの電圧値お
よび液温検出器１０からの温度値を入力し、各種
演算を行ない、レベル表示およびエレメント４と
液温検出器１０からの温度偏差を調節計１２に出
力する機能を有する演算処理装置を示す。
いて説明する。第１図は実施例の構成を示すもの
で、１は槽を示し、２は液相部、３は気相部を示
す。４は槽１内に縦向き挿入されたレベル測定用
エレメント（以下、エレメントと略す）で、既知
の抵抗値を持つ低抗体を内包している。５は外部
接続用の端子箱、６および７はエレメント４の低
抗体に供給される電流および電圧を検出する電流
検出器および電圧検出器、８は電源装置で、調節
計１２からの出力信号によつて、エレメント４に
供給する電圧を増減する機能を有する。９は電源
装置８に供給される外部からの電源、１０は槽１
内の液温を検出する液温検出器、１１は電流検出
器６からの電流値、電圧検出器７からの電圧値お
よび液温検出器１０からの温度値を入力し、各種
演算を行ない、レベル表示およびエレメント４と
液温検出器１０からの温度偏差を調節計１２に出
力する機能を有する演算処理装置を示す。
上述の構成において、液相レベル測定方法につ
いて説明する。
いて説明する。
まず、エレメント４は、液温検出器１０より△
Ｔだけ高い温度になるように、電源装置８の出力
電圧が調節されている状態では、以下の関係が成
立する。
Ｔだけ高い温度になるように、電源装置８の出力
電圧が調節されている状態では、以下の関係が成
立する。
R1＝K1・（Ｉ・Ｖ−I2・RA） ……(1)
P2＝△Ｔ・AL・UL＋△Ｔ・AG・UG ……(2)
ここで、
P1：入力エネルギー
P2＝電熱量
Ｉ：電流値(A)
K1＝係数＝0.0011628（kcal／KWH）
Ｖ：電圧値（Ｖ）
RA：電流検出器６の内部抵抗値（Ω）
△Ｔ：温度偏差＝TE−TL＝TE＋TG（℃）
TE：エレメント４温度（℃）
TL：液相部２温度（℃）
TG：気相部３温度（℃）
AE：エレメント４表面積＝AL＋AG（m2）
AL：エレメント４と液相部２の接液面積（m2）
AG：エレメント４と気相部３の接触面積（m2）
UL：エレメント４と液相部２との総括伝熱係数
（kcal／m2・Ｈ・℃） UG：エレメント４と気相部３との総括伝熱係数
（kcal／m2・Ｈ・℃） また、エレメント４に入力された電気的エネル
ギーP1と、エレメント４から伝熱により液相部
２、気相部３に移動した熱量P2とは等しい。
（kcal／m2・Ｈ・℃） UG：エレメント４と気相部３との総括伝熱係数
（kcal／m2・Ｈ・℃） また、エレメント４に入力された電気的エネル
ギーP1と、エレメント４から伝熱により液相部
２、気相部３に移動した熱量P2とは等しい。
P1＝P2＝Ｐ ……(3)
上記(1)、(2)、(3)式から
(2)式は、
P2＝△Ｔ・AL・UL＋△Ｔ・（AE−AL）・UG
＝△Ｔ・AL・（UL−UG）＋△Ｔ・AE・UG
ここで、
△Ｔ・（UL−UG）＝C1（CONSTANT）
△Ｔ・AE・UG＝C2（CONSTANT）
Ｐ＝AL・C1＋C2……(4)となり、エネ
ルギーＰはALの１次関数となり、ＰからALを求
めることができる。
ルギーＰはALの１次関数となり、ＰからALを求
めることができる。
しかして、ALと液相レベルとが比例関係とな
るようなエレメント４の形状を選定する（例えば
円筒形等）ことにより、(1)式は、測定により既知
であり、(3)式によつて液相レベルを求めることが
できる。
るようなエレメント４の形状を選定する（例えば
円筒形等）ことにより、(1)式は、測定により既知
であり、(3)式によつて液相レベルを求めることが
できる。
つぎに、演算処理装置１１の機能について説明
すると () 入力処理機能 (1) 電流値 Ｉ (2) 電圧値 Ｖ (3) 液相部温度 TL () 演算処理機能 (1) 温度偏差 △Ｔ＝TE−TL ……(5) ここで、エレメント４の温度TEは下記演
算によつて算出する。
すると () 入力処理機能 (1) 電流値 Ｉ (2) 電圧値 Ｖ (3) 液相部温度 TL () 演算処理機能 (1) 温度偏差 △Ｔ＝TE−TL ……(5) ここで、エレメント４の温度TEは下記演
算によつて算出する。
Ｒ＝Ｖ／ＩαTE ……(6)
エレメント４に内包した低抗体は、あらかじ
め温度と抵抗値の関係を求めておけば、(6)式
によつて得られた抵抗値により、エレメント
４の温度TEを求めることができる。
め温度と抵抗値の関係を求めておけば、(6)式
によつて得られた抵抗値により、エレメント
４の温度TEを求めることができる。
(2) 液相レベル
(1)、(4)式から
AL＝K2Ｐ−C2／C1 ……(7)
ここで、K2は実験定数とする。
() 出力処理機能
(1) レベル表示
(7)式によつて得られた液相レベルをデイジ
タルあるいはアナログ量として表示する。
タルあるいはアナログ量として表示する。
(2) △Ｔ出力
(5)、(6)式によつて得られた△Ｔを調節計１
２に出力する。
２に出力する。
以上の一連の処理によつて槽１内の液相レベル
を知ることができる。
を知ることができる。
液相レベルと入力エネルギーの関係を第２図に
示す。
示す。
本発明によれば、槽の運転条件（温度、圧力、
振動等）の変動に対しても、常に正確な液面を連
続測定することができ、信頼性および制度の高い
液相レベルの測定方法および装置を得ることがで
きる。
振動等）の変動に対しても、常に正確な液面を連
続測定することができ、信頼性および制度の高い
液相レベルの測定方法および装置を得ることがで
きる。
第１図は本発明の一実施例を示す液相レベル測
定装置の略図、第２図は液相レベル測定装置での
液相レベルと入力エネルギーとの関係を示す線図
である。 １……槽、２……液相部、３……気相部、４…
…レベル測定用エレメント、５……端子箱、６…
…電流検出器、７……電圧検出器、８……電源装
置、９……外部電源、１０……液温検出器、１１
……演算処理装置、１２……調節計。
定装置の略図、第２図は液相レベル測定装置での
液相レベルと入力エネルギーとの関係を示す線図
である。 １……槽、２……液相部、３……気相部、４…
…レベル測定用エレメント、５……端子箱、６…
…電流検出器、７……電圧検出器、８……電源装
置、９……外部電源、１０……液温検出器、１１
……演算処理装置、１２……調節計。
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 １ 槽内に挿入され既知の抵抗値を有する低抗体
を内包し、液相レベル面とエレメントの接液面と
が比例関係にあるレベル測定用エレメントに供給
される電気的エネルギーを電流と電圧とで検出す
ると共に、槽内の液温を検出し、レベル測定用エ
レメントが液温より、一定温度だけ高い温度にな
るように演算し、該演算結果に基づいてレベル測
定用エレメントに供給する電気エネルギーを供給
電圧の増減で調節し、該電気的エネルギーの大き
さより液相レベルを検知することを特徴とするレ
ベル測定方法。 ２ 液相部と気相部とを備えた槽と、抵抗体を内
包し槽内に縦向きに挿入されたレベル測定用エレ
メントと、該レベル測定用エレメントに供給され
る電気的エネルギーを検出する電流検出器および
電圧検出器と、槽内の液温を検出する液温検出器
と、前記電流検出器からの電流値、電圧検出器か
らの電圧値および液温検出器からの温度値を入力
して演算し、レベル測定用エレメントと液温検出
器からの温度偏差を調節計に出力する演算処理装
置と、調節計からの出力信号によつてレベル測定
用エレメントに供給する電圧を増減する電源装置
とからなることを特徴とするレベル測定装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP21783685A JPS6279318A (ja) | 1985-10-02 | 1985-10-02 | レベル測定方法および装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP21783685A JPS6279318A (ja) | 1985-10-02 | 1985-10-02 | レベル測定方法および装置 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS6279318A JPS6279318A (ja) | 1987-04-11 |
| JPH045336B2 true JPH045336B2 (ja) | 1992-01-31 |
Family
ID=16710511
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP21783685A Granted JPS6279318A (ja) | 1985-10-02 | 1985-10-02 | レベル測定方法および装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS6279318A (ja) |
Family Cites Families (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| FR2514134A2 (fr) * | 1981-10-07 | 1983-04-08 | Jaeger | Perfectionnements aux dispositifs de controle de niveau du liquide contenu dans un reservoir |
| JPS61165518A (ja) * | 1985-01-16 | 1986-07-26 | Central Res Inst Of Electric Power Ind | スラグタツプ炉の運転法 |
-
1985
- 1985-10-02 JP JP21783685A patent/JPS6279318A/ja active Granted
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPS6279318A (ja) | 1987-04-11 |
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