JPH0453836B2 - - Google Patents
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- JPH0453836B2 JPH0453836B2 JP13978886A JP13978886A JPH0453836B2 JP H0453836 B2 JPH0453836 B2 JP H0453836B2 JP 13978886 A JP13978886 A JP 13978886A JP 13978886 A JP13978886 A JP 13978886A JP H0453836 B2 JPH0453836 B2 JP H0453836B2
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- aluminum nitride
- nitride ceramics
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Description
【発明の詳細な説明】
〔発明の属する技術分野〕
この発明は、窒化アルミニウムを主成分とする
セラミツクス焼結体のメタライズ方法に関する。DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION [Technical field to which the invention pertains] The present invention relates to a method for metallizing a ceramic sintered body containing aluminum nitride as a main component.
半導体を支持する役目をもつ基板やパツケージ
用のセラミツクスとしては、これまで専らアルミ
ナが多用されてきたが、その熱伝導率が低いため
半導体素子の発熱と放熱が問題となる高集積・高
密度実装用の基板としては適当ではない。これに
対して、酸化イツトリウムあるいは酸化カルシウ
ムなどを0.5〜5.0重量%含有する窒化アルミニウ
ム(AlN)は、アルミナと同様の高い体積抵抗
率、高い絶縁耐圧、低い誘電率をもち、かつ高い
熱伝導率(アルミナの5〜8倍)、低い熱膨張率
(シリコンに近い)および高い強度(アルミナの
約2倍)を有しているので、素子発熱とその放熱
が問題となるパワーIC、LSIおよびVLSIなどの
基板あるいはパツケージ材料として有望視され
る。
Up until now, alumina has been exclusively used as ceramics for substrates and packages that support semiconductors, but due to its low thermal conductivity, heat generation and heat dissipation from semiconductor elements becomes a problem in highly integrated and high-density packaging. It is not suitable as a substrate for On the other hand, aluminum nitride (AlN), which contains 0.5 to 5.0% by weight of yttrium oxide or calcium oxide, has high volume resistivity, high dielectric strength voltage, low dielectric constant, and high thermal conductivity similar to alumina. (5 to 8 times that of alumina), low coefficient of thermal expansion (close to silicon), and high strength (about twice that of alumina), so power ICs, LSIs, and VLSIs where element heat generation and heat dissipation are problems. It is seen as a promising substrate or package material.
一方、セラミツクスうを半導体用基板として用
いる際には、導体回路形成のためにメタライズす
ることが必要となる。このメタライズ層は、基板
であるセラミツクスと強固に結合し、緻密であつ
て、素子を実装するときの接合性と機密性などに
優れているとが要求される。アルミナにおいて
は、高融点金属のモリブデンあるいはタングステ
ン粉体と、活性化金属であるマンガンまたはチタ
ン粉体の混合粉体をその表面に塗布し、弱酸化性
雰囲気中において1300℃乃至1550℃の温度で焼成
するメタライズ方法がいわゆる高融点金属法また
はテレフンケン法として知られている。 On the other hand, when ceramics are used as a semiconductor substrate, it is necessary to metalize them to form conductor circuits. This metallized layer is required to be strongly bonded to the ceramic substrate, to be dense, and to have excellent bonding properties and airtightness when mounting elements. For alumina, a mixed powder of molybdenum or tungsten powder, which is a high-melting point metal, and manganese or titanium powder, which is an activated metal, is applied to the surface of the alumina and heated at a temperature of 1300℃ to 1550℃ in a slightly oxidizing atmosphere. The metallization method of firing is known as the so-called high melting point metal method or Telefunken method.
AlN基板のメタライズ方法としては、従来次
の3方法が知られている。即ち、
(1) AlNを1000℃乃至1400℃に加熱し、酸化し
てアルミナ(Al2O3)層を形成してからAlN基
板上に銅板を配置し、酸素分圧および温度を
Cu−O系の共晶温度に精密に制御した電気炉
中に接合処理を行つてメタライズする方法。 The following three methods are conventionally known as methods for metalizing AlN substrates. That is, (1) AlN is heated to 1000°C to 1400°C, oxidized to form an alumina (Al 2 O 3 ) layer, then a copper plate is placed on the AlN substrate, and the oxygen partial pressure and temperature are adjusted.
A method of metallizing by performing bonding processing in an electric furnace that precisely controls the eutectic temperature of the Cu-O system.
(2) AlN基板表面に金、銀−パラジウム、銅な
どとガラス成分を含むペーストを塗布したの
ち、これを焼成してメタライズする方法。(2) A method in which a paste containing glass components such as gold, silver-palladium, or copper is applied to the surface of an AlN substrate, and then the paste is fired to metallize it.
上記(1)の方法による基板はDBC(Direct Bond
Copper)基板として知られているが、接合処理
にあたつて酸素分圧と温度の厳密な制御が要求さ
れ、条件設定のわずかな相違によりAlN基板と
銅層との接合強度、気密性にバラツキ生じやす
い。またAlNと銅の熱膨張係数が大きく異なる
ため、周囲温度の影響により両者に歪みを生じ信
頼性に問題がでてくる。(2)の方法はいわゆる厚膜
法であるが、基板とメタライズ層の接合強度は
1.2〜2.0Kg/mm2のレベルであり、さらにハンダ付
けおよびろう付け性が劣り気密性も不充分であつ
た。 The substrate produced by method (1) above is DBC (Direct Bond
However, strict control of oxygen partial pressure and temperature is required during the bonding process, and slight differences in condition settings can cause variations in bonding strength and airtightness between the AlN substrate and the copper layer. Easy to occur. Furthermore, since the thermal expansion coefficients of AlN and copper are significantly different, both may become distorted due to the influence of ambient temperature, causing reliability problems. Method (2) is the so-called thick film method, but the bonding strength between the substrate and the metallized layer is
It was at a level of 1.2 to 2.0 Kg/mm 2 , and the soldering and brazing properties were poor, and the airtightness was also insufficient.
従つてAlNを高熱伝導性半導体基板として実
用化するには、信頼性および経済性に優れたメタ
ライズ方法を確立することが必要である。 Therefore, in order to put AlN into practical use as a highly thermally conductive semiconductor substrate, it is necessary to establish a highly reliable and economical metallization method.
この発明は上記の欠点に鑑みてなされたもので
あり、その目的とするところは接合強度および気
密性に優れかつ経済性にも優れた窒化アルミニウ
ムセラミツクスのメタライズ方法を提供するにあ
る。
The present invention has been made in view of the above-mentioned drawbacks, and its object is to provide a method for metallizing aluminum nitride ceramics that is excellent in bonding strength and airtightness and is also economical.
の発明は窒化アルミニウムセラミツクスの表面
にあらかじめ酸化シリコンの被膜を形成した後、
高融点金属と活性化金属の混合粉体で被覆し、弱
酸化性雰囲気中で焼成して窒化アルミニウムセラ
ミツクスをメタライズしたのでその目的を達成す
る。
In the invention, after forming a silicon oxide film on the surface of aluminum nitride ceramics,
This goal was achieved by metallizing aluminum nitride ceramics by coating them with a mixed powder of a high melting point metal and an activated metal and firing them in a weakly oxidizing atmosphere.
すなわち、窒化アルミニウムセラミツクスをモ
リブデンあるいはタングステンからなる高融点金
属とマンガンあるいはマンガン−チタンからなる
活性化金属の混合粉体で被覆し、水素ガスを水中
にバブルさせた水素−水蒸気系混合ガスよりなる
弱酸化性雰囲気中で焼成しても良好なメタライズ
層は得られないが、AlN表面上に酸化シリコン
の被膜を形成してから高融点金属と活性化金属の
混合粉体で被覆し弱酸化性雰囲気中で焼成すれば
良好なメタライズ層が得られることを見出したも
のである。換言すると、AlNにアルミナのメタ
ライズ方法であるテレフンケン法を直接的に適用
することできないが、AlN表面を酸化シリコン
に変換しておけばテレフンケン法をそのまま適用
できるというのである。 In other words, aluminum nitride ceramics are coated with a mixed powder of a high-melting point metal such as molybdenum or tungsten and an activated metal such as manganese or manganese-titanium, and hydrogen gas is bubbled into water to form a weak acid consisting of a hydrogen-steam gas mixture. Although a good metallized layer cannot be obtained even if fired in a oxidizing atmosphere, a film of silicon oxide is formed on the AlN surface and then coated with a mixed powder of a high melting point metal and an activated metal. It has been discovered that a good metallized layer can be obtained by firing inside the molten metal. In other words, the Telefunken method, which is an alumina metallization method, cannot be directly applied to AlN, but if the AlN surface is converted to silicon oxide, the Telefunken method can be applied as is.
次にこの発明の実施例を図面にもとづいて説明
する。窒化アルミニウムセラミツクス11
(AlN)は1重量%の酸化イツトリウムを焼結助
剤として含有しホツトプレス法で作製したものを
用いた。このAlNの表面にシリコンアルコラー
ト(Si(OC5H11)4)の水−イソプロピルアルコー
ル溶液あるいは水−エチルアルコール溶液をデイ
ツプ法で塗布し、150℃乃至500℃の温度で加熱処
理して0.8μm厚でAlNに強固に結合した緻密な酸
化シリコン被膜12を形成させた。塗布方法はデ
ツプ法の他、スプレー法も適用できるし、酸化シ
リコンの被膜厚さは塗布方法あるいは塗布回数な
どにより任意に制御できる。酸化シリコンは次の
化学反応を経て形成される。
Next, embodiments of the present invention will be described based on the drawings. Aluminum nitride ceramics 11
The (AlN) used contained 1% by weight of yttrium oxide as a sintering aid and was produced by a hot pressing method. A water-isopropyl alcohol solution or a water-ethyl alcohol solution of silicon alcoholate (Si(OC 5 H 11 ) 4 ) is applied to the surface of this AlN using the dip method, and heat-treated at a temperature of 150°C to 500°C to form a 0.8 μm thick layer. A thick and dense silicon oxide film 12 strongly bonded to AlN was formed. In addition to the dip method, a spray method can be used as the coating method, and the thickness of the silicon oxide film can be arbitrarily controlled by the coating method or the number of coatings. Silicon oxide is formed through the following chemical reaction.
Si(OC5H11)4)+4H2O→Si(OH)4+4C
5H11OH……(1)
Si(OH)4→SiO2+H2O↑ ……(2)
(1)式はアルコラート溶液中での加水分解反応で
あり、(2)式は加熱処理時の反応である。本発明の
場合酸化シリコンは1μm前後の厚さで充分その
目的を達成する。 Si(OC 5 H 11 ) 4 ) +4H 2 O→Si(OH) 4 +4C
5 H 11 OH……(1) Si(OH) 4 →SiO 2 +H 2 O↑ ……(2) Equation (1) is the hydrolysis reaction in the alcoholate solution, and Equation (2) is the reaction during heat treatment. This is the reaction. In the case of the present invention, silicon oxide having a thickness of around 1 μm is sufficient to achieve the purpose.
AlN表面に対する酸化シリコンの被膜形成は
スパツタなどの物理的方法でも可能である。一方
市販のモリブデンとマンガンの粉体を重量で80対
20の割合で秤量し、これに有機溶剤と粘結剤を加
えてらいかい機で混合粉砕して粒径が5μm以下
のスラリーとなし、スクリーン印刷法で酸化シリ
コン被膜上に18μmの厚さに塗布してモリブデン
とマンガンの混合粉体13を被覆した。これを電
気炉中で温度50℃の水中をバブリングした水素を
流しながら焼成した。昇温は300℃/時間の速度
で行い、最高温度1400℃で1時間保持した。得ら
れたモリブデンのメタライズ層15の厚さは11μ
mであつた。このあとメタライズ層15に無電解
メツキ法で4μmの厚さにニツケルメツキを施し
た。これを水素と窒素の混合雰囲気中において
820℃×15分の熱処理を行つてメツキの剥離、フ
クレなどの有無を検査し欠陥のないことを確かめ
た。次にニツケルメツキしたAlN基板と厚さ3
mmのFe−Ni合金(ニツケル42重量%)を銀ろう
(BAG−8)によつて接合し、その気密性をヘリ
ウムリーク試験によつて調べた。接合部のヘリウ
ムリーク量は1×10-8(atm・ml/sec)以下であ
り、気密性は良好であつた。さらにメツキ処理し
たAlN基板上に直径が0.5mmの銅線を共晶ハンダ
(40%Pb−60%Sn)でハンダ付けしてその引張試
験を行つた。この試験では全て銅線が破断し、メ
タライズ層15とAlN基板の界面およびメタラ
イズ層とメツキ界面などでの破損はなかつた。銅
線が破断したときの単位面積あたりの強度は25
Kg/mm2であり、本発明の方法によるAlN基板と
メタライズ層の界面は25Kg/mm2以上の強度がある
ことがわかつた。 A silicon oxide film can be formed on the AlN surface by physical methods such as sputtering. On the other hand, 80 parts by weight of commercially available molybdenum and manganese powder
The slurry was weighed at a ratio of 20%, an organic solvent and a binder were added to it, mixed and ground using a mill to form a slurry with a particle size of 5μm or less, and then printed onto a silicon oxide film with a thickness of 18μm using a screen printing method. The mixed powder 13 of molybdenum and manganese was coated by coating. This was fired in an electric furnace while flowing hydrogen bubbled through water at a temperature of 50°C. The temperature was raised at a rate of 300°C/hour, and the maximum temperature was maintained at 1400°C for 1 hour. The thickness of the obtained molybdenum metallized layer 15 is 11μ
It was m. Thereafter, nickel plating was applied to the metallized layer 15 to a thickness of 4 μm using an electroless plating method. This is done in a mixed atmosphere of hydrogen and nitrogen.
Heat treatment was performed at 820°C for 15 minutes, and inspection was conducted to check for peeling of the plating, blistering, etc., and it was confirmed that there were no defects. Next, nickel-plated AlN substrate and thickness 3
Fe--Ni alloy (42% by weight of nickel) of 2 mm thick was joined using silver solder (BAG-8), and its airtightness was examined by a helium leak test. The amount of helium leaked from the joint was less than 1×10 -8 (atm·ml/sec), and the airtightness was good. Furthermore, a copper wire with a diameter of 0.5 mm was soldered onto the plated AlN substrate using eutectic solder (40%Pb-60%Sn), and a tensile test was performed on the wire. In this test, all the copper wires were broken, and there was no breakage at the interface between the metallized layer 15 and the AlN substrate, or at the interface between the metallized layer and the plating. The strength per unit area when the copper wire breaks is 25
Kg/mm 2 , and it was found that the interface between the AlN substrate and the metallized layer according to the method of the present invention has a strength of 25 Kg/mm 2 or more.
次にこの発明の他の実施例を説明する。市販の
モリブデン、マンガンおよびチタンの粉体を重量
で80対15対5の割合で秤量し、有機溶剤、粘結剤
を加え、らいかい機で混合粉砕し5μm以下の粒
径の粉体を含むスラリーを調整した。これを第1
実施例と同様の条件で処理した窒化アルミニウム
セラミツクス11の酸化シリコン被膜12上に
20μm厚さに印刷してモリブデンとマンガンとチ
タンの混合粉体の被膜を形成し、20℃の水中を通
した水素ガス雰囲気中で温度1450℃において1時
間焼成し、モリブデンメタライズ層を形成した。
このメタライズ層について第1実施例と同様の特
性評価を行つた。その結果は第1実施例と同じく
良好であつた。 Next, another embodiment of the invention will be described. Commercially available molybdenum, manganese and titanium powders are weighed in a weight ratio of 80:15:5, an organic solvent and a binder are added, and the mixture is ground using a milling machine to contain powders with a particle size of 5 μm or less. Adjusted slurry. This is the first
On the silicon oxide film 12 of the aluminum nitride ceramic 11 treated under the same conditions as in the example,
A film of mixed powder of molybdenum, manganese, and titanium was formed by printing to a thickness of 20 μm, and fired at a temperature of 1450° C. for 1 hour in a hydrogen gas atmosphere through which water at 20° C. was passed to form a molybdenum metallized layer.
The characteristics of this metallized layer were evaluated in the same manner as in the first example. The results were as good as in the first example.
以上の実施例では高融点金属としてモリブデン
を用いるがタングステンを用いてもモリブデンの
場合と同様の結果が得られることを実験的に確認
した。 Although molybdenum is used as the high melting point metal in the above examples, it has been experimentally confirmed that the same results as in the case of molybdenum can be obtained even when tungsten is used.
上述の実施例に述べたような弱酸化性雰囲気に
おいては、モリブデンあるいはタングステン等の
高融点金属は酸化されることがないが、マンガ
ン、チタン等の活性化金属は酸化されてそれぞれ
酸化マンガン、酸化チタン等となる。一方酸化シ
リコンの被膜12は、弱酸化性雰囲気中で窒化ア
ルミニウムセラミツクスAlNを酸化してアルミ
ナ(Al2O3)に変化させる反応を容易にすると推
定され、このためにあとに述べるガラス化反応が
可能となる。生成した中間層14(アルミナ層と
思われる)は、上述の酸化マンガン、酸化チタン
あるいは酸化シリコン反応してガラス層16を形
成しモリブデン粉体17の間隙を埋めてメタライ
ズ層15が形成される。このガラス層16は中間
層14と化学的に結合しているためにメタライズ
層15と窒化アルミニウムセラミツクス11との
接合強度は大きい。さらにこのガラス層は緻密に
モリブデン粉体17の間隙を埋めるためにメタラ
イズ層15は気密に窒化アルミニウムセラミツク
ス11と接合する。 In the weakly oxidizing atmosphere described in the above example, high melting point metals such as molybdenum or tungsten are not oxidized, but activated metals such as manganese and titanium are oxidized to manganese oxide and manganese oxide, respectively. Titanium etc. On the other hand, it is presumed that the silicon oxide film 12 facilitates the reaction of oxidizing aluminum nitride ceramics AlN into alumina (Al 2 O 3 ) in a weakly oxidizing atmosphere, and for this reason, the vitrification reaction described later is difficult. It becomes possible. The generated intermediate layer 14 (possibly an alumina layer) undergoes the above-mentioned manganese oxide, titanium oxide, or silicon oxide reaction to form a glass layer 16, which fills the gap between the molybdenum powder 17 and forms a metallized layer 15. Since this glass layer 16 is chemically bonded to the intermediate layer 14, the bonding strength between the metallized layer 15 and the aluminum nitride ceramic 11 is high. Furthermore, the metallized layer 15 is hermetically bonded to the aluminum nitride ceramic 11 so that the glass layer densely fills the gaps between the molybdenum powders 17.
この発明では窒化アルミニウムセラミツクスの
表面にあらかじめ酸化シリコンの被膜を形成して
から、高融点金属と活性化金属の混合粉体の被膜
を形成し、弱酸化性雰囲気中で焼成することとし
たので、酸化シリコンにより窒化アルミニウムセ
ラミツクスの中間層への変化が容易となる結果活
性化金属の酸化物と窒化アルミニウムセラミツク
ス表面に形成された中間層とのガラス化反応が可
能となり、気密正に優れかつ接合強度の大きなメ
タライズ層を形成することになる。またこの方法
によればアルミナのメタライズに使用される工業
的に確立された高融点金属法(あるいはテレフン
ケン法)をそのまま利用できるので既存の設備を
使用することができ経済性に優れたメタライ方法
であるということができる。
In this invention, a silicon oxide film is first formed on the surface of aluminum nitride ceramics, and then a mixed powder film of a high melting point metal and an activated metal is formed, and then fired in a weakly oxidizing atmosphere. Silicon oxide facilitates the transformation of aluminum nitride ceramics into an intermediate layer, which enables a vitrification reaction between the activated metal oxide and the intermediate layer formed on the surface of aluminum nitride ceramics, resulting in excellent airtightness and bonding strength. This results in the formation of a large metallized layer. In addition, this method allows the industrially established high melting point metal method (or Telefunken method) used for metallizing alumina to be used as is, making it possible to use existing equipment and making it an economical metallization method. It can be said that there is.
第1図はこの発明の実施例のメタライズ層形成
前の窒化アルミニウムセラミツクスを示す模式断
面図、第2図はこの発明の実施例のメタライズ層
を形成した窒化アルミニウムセラミツクスを示す
模式断面図である。
11……窒化アルミニウムセラミツクス、12
……酸化シリコンの被膜、13……モリブデンと
マンガンの混合粉体の被膜。
FIG. 1 is a schematic cross-sectional view showing an aluminum nitride ceramic before forming a metallized layer according to an example of the present invention, and FIG. 2 is a schematic cross-sectional view showing an aluminum nitride ceramic on which a metallized layer is formed according to an example of the present invention. 11... Aluminum nitride ceramics, 12
... Silicon oxide coating, 13... Molybdenum and manganese mixed powder coating.
Claims (1)
かじめ酸化シリコンの被膜を形成した後、高融点
金属と活性化金属の混合粉体の被膜を形成し、弱
酸化性雰囲気中で焼成するとを特徴とする窒化ア
ルミニウムセラミツクスのメタライズ方法。 2 特許請求の範囲第1項記載のメタライズ方法
において、窒化アルミニウムセラミツクスは酸化
イツトリウムを含有することを特徴とする窒化ア
ルミニウムセラミツクスのメタライズ方法。 3 特許請求の範囲第1項記載のメタライズ方法
において、シリコンのアルコラート溶液を塗布し
加熱焼成して酸化シリコンの被膜を形成すること
を特徴とする窒化アルミニウムセラミツクスのメ
タライズ方法。[Claims] 1. A film of silicon oxide is formed in advance on the surface of aluminum nitride ceramics, and then a film of mixed powder of a high melting point metal and an activated metal is formed, and the film is fired in a weakly oxidizing atmosphere. A method for metallizing aluminum nitride ceramics. 2. A method for metallizing aluminum nitride ceramics according to claim 1, wherein the aluminum nitride ceramics contains yttrium oxide. 3. A method for metallizing aluminum nitride ceramics according to claim 1, characterized in that a silicon alcoholate solution is applied and heated and fired to form a silicon oxide film.
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP13978886A JPS62297286A (en) | 1986-06-16 | 1986-06-16 | Metallization of aluminum nitride ceramics |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP13978886A JPS62297286A (en) | 1986-06-16 | 1986-06-16 | Metallization of aluminum nitride ceramics |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS62297286A JPS62297286A (en) | 1987-12-24 |
| JPH0453836B2 true JPH0453836B2 (en) | 1992-08-27 |
Family
ID=15253440
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP13978886A Granted JPS62297286A (en) | 1986-06-16 | 1986-06-16 | Metallization of aluminum nitride ceramics |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS62297286A (en) |
Families Citing this family (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2537653B2 (en) * | 1988-02-12 | 1996-09-25 | 株式会社日立製作所 | Aluminum nitride substrate, manufacturing method, and semiconductor device |
-
1986
- 1986-06-16 JP JP13978886A patent/JPS62297286A/en active Granted
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPS62297286A (en) | 1987-12-24 |
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