JPH0454600Y2 - - Google Patents

Description

【考案の詳細な説明】 本考案はデイスク装着装置に係り、特にトレイ
方式のデイスク装着装置に関する。

デイスク再生装置には、デイスク再生装置本体
に出入り可能にトレイを設け、デイスクをトレイ
に載置し、このデイスクがトレイとともに装置本
体内に引き込まれて装着されるトレイ方式のデイ
スク装着装置が多く採用されている。

このデイスク装着装置においては、デイスクが
トレイの所定部位よりずれている場合には、デイ
スク装着がうまくいかず、デイスクを傷めてしま
うことがある。

従つて、デイスクがトレイ上の所定部位に正し
く載置されることが必要である。

従来の技術 従来は、トレイのうちデイスクが載置される部
位を凹状として、デイスクが所定部位に正しく載
置され易いようにしてある。

考案が解決しようとする問題点 しかし、デイスクが載置されるべき部位より多
少ずれて載置されることもあり得る。この場合に
もデイスク装着動作が進行し、場合によつてはデ
イスクの装着がうまくいかず、デイスクを傷めて
しまうことがあるとい問題点があつた。

本考案は上記問題点を解決したデイスク装着装
置を提供することを目的とする。

問題点を解決するための手段 本考案は、デイスク再生装置本体より外方に突
出した位置にあつてデイスクが載置されたトレイ
をモータにより上記デイスク再生装置本体内に引
き込み上記デイスクを装着するデイスク装着装置
において、 上記引き込む過程で上記デイスクの引き込み方
向上先頭の外周縁部及び該デイスクの中心孔を光
学的に検出する第１の検出装置と、上記デイスク
が正しく載置されたときの該デイスクの上記外周
縁部及び上記中心孔に対応する位置関係で上記ト
レイに設けられた被検出部を光学的に検出する第
２の検出装置とを、上記デイスクが正しく載置さ
れているときには両検出装置が実質上同時に夫々
を検出するような位置関係で設け、 且つ上記各検出装置の検出動作時点に関する情
報に基づいて、デイスクの載置ミスを、上記デイ
スクの外周縁部と中心孔との両方について検出す
るデイスク載置ミス検出回路と、 該検出回路よりの載置ミス検出信号により前記
モータを逆転させるモータ制御回路とを有してな
る構成としたものである。

作 用 デイスクの外周縁部に限らず、デイスクの中心
孔についても検出してデイスクの載置ミスを検出
する構成であるため、デイスクの通常の載置ミス
は勿論、デイスクの外周縁部は正しく載置された
ときのデイスクの外周縁部と一致しているものゝ
中心孔がずれているような特殊な態様の載置ミス
についても検出が可能であり、高い信頼性を有す
る。

実施例 第１図は本考案の一実施例になるデイスク装着
装置を示す。

第２図、第３図はデイスク装着装置の斜視図及
び平面図である。

各図中、１はコンパクトデイスク再生装置であ
り、径が12cmの標準コンパクトデイスク２と径が
８cmの小型コンパクトデイスク３との両方を再生
可能なものである。中心孔の径は各デイスク２，
３共に等しい。

４はコンパクトデイスク再生装置本体、５はト
レイである。

トレイ５は矢印X₁，X₂方向に移動可能であり、
デイスク再生装置本体４に対して出入り可能であ
る。

トレイ５には、標準デイスク２が載置されるべ
き標準デイスク載置部６と、小型デイスク３が載
置されるべき小型デイスク載置部７とが深さを異
ならしめて浅い皿状に且つ同心状に形成してあ
る。Ｏはその中心である。

再生装置本体４のフロントパネル１３より前方
に突出しているトレイ５に標準デイスク２又は小
型デイスク３を載置し、所定操作をすると、トレ
イ駆動モータ８が始動し、プーリ９が回転され、
プーリ９，１０に掛け渡されて両端をトレイ５に
固定されているワイヤ１１が走行し、トレイ４が
ガイド棒１２に案内されて矢印X₁方向に移動し
て、再生装置本体４内に引き込まれ、デイスクが
ターンテーブル（図示せず）上に装着される。

２０は第１の光学的検出装置であり、間にトレ
イ５を挟んで上下に相対向して配された赤外発光
ダイオード２１とフオトトランジスタ２２とより
なる。これは、再生装置本体４のうちトレイ用開
口２３の直ぐ内側の部分であつて且つトレイ５の
移動方向中心線２４に対向する位置P₁に設けて
ある。

この第１の光学的検出装置２０は、後述するよ
うに、第１には、トレイ５に載置されたデイスク
２，３の外周縁部のうち再生装置本体４側の部
分、即ち引き込み方向上先頭の部分２ａ，３ａ
を、検出し、第２にはデイスク２，３の中心孔を
検出する。

なお、この検出装置２０が誤検出をしないよう
に、トレイ５のうち中心線２４の部分は細長開口
２５としてある。

３０は第２の光学的検出装置であり、発光ダイ
オード３１とフオトトランジスタ３２（共に第５
図参照）とを対向させて組み込んだフオトトラン
ジスタ３３よりなり、再生装置本体４の内部の所
定位置P₂に設けてある。

この検出装置２０は、トレイ５の側面の奥部に
固定してあり、トレイ５を一体に移動する被検出
部としてのスリツト部材３４を検出する。

スリツト部材３４は、第４図に示すように、壁
部３５，３６，３７，３８と、その間の開口部３
９，４０，４１，４２とよりなる形状である。

こゝで第４図中二点鎖線で示すように、デイス
ク２，３をトレイ５に正常に載置したときの中心
線２４に沿う断面であつて中心より再生装置本体
４側の部分を対応させて考えてみる。壁部３５は
標準デイスク２の外周縁部２ａに対向する部位、
壁部３６は小型デイスク３の外周縁部３ａに対向
する部位、壁部３７は各デイスク２，３の内周縁
部２ｂ，３ｂに対向する部位、壁部３８は各デイ
スク２，３の中心孔２ｃ，３ｃに対向する部位に
配されている。即ち、スリツト部材３４の形状寸
法は、トレイ５に正しく載置されたときのデイス
ク２，３の外周縁部、内周縁部、中心孔の位置関
係と同じ位置関係となるように定めてある。

第２の光学的検出装置３０は、トレイ５に正確
に載置されたデイスク２の再生装置本体４側の外
周縁部３ａが第１の光学的検出手段２０により検
出される位置に到つたときに、上記スリツト部材
３４の先頭の壁部３５を検出する位置に設けてあ
る。

即ち、第１、第２の光学的検出装置２０，３０
は、標準デイスク２が正しく載置されているとき
には、夫々せ外周縁部２ａと壁部３５とを略同時
に検出するように、また小型デイスク３が正しく
載置されているときには、夫々外周縁部３ａと壁
部３６とを略同時に検出するような位置関係で配
されている。

５０はデイスク載置ミス検出回路であり、具体
的には第５図に示す構成である。この検出回路５
０は、第１、第２の検出装置２０，３０の検出動
作に基づいてトレイ引き込み動作の途中で、デイ
スク載置（セツテイング）のミスを検出する。こ
の検出回路５０の構成、動作については後述す
る。

５１はモータ制御回路であり、トレイ５の引き
込み動作途中で上記回路５０よりデイスク載置エ
ラー検出信号が加えられると、モータ逆転信号を
出力する。

この信号は第５図中モータ駆動回路５２に加え
られ、モータ８が逆転される。

これにより、トレイ５は途中より矢印X₂方向
に押し戻され、デイスク２，３の傷付きは未然に
防止される。

上記デイスク２，３が正しく載置されている場
合には、上記検出信号は出力されず、トレイ５は
最終位置まで引き込まれ、デイスク２，３は正常
に装着される。

次に、上記検出回路５０について説明する。

６０はＤ−フリツプフロツプであり、標準デイ
スク２の外縁の位置情報を処理する。

６１はＤ−フリツプフロツプであり、載置エラ
ー検出信号を出力する。

６２は２進カウンタであり、各デイスク２，３
の中心孔の位置情報を出力する。

アンドゲート６３，６４，７０は、FF６０等
と協働して、デイスク外周縁部の位置情報に基づ
いてデイスク載置ミスを検出する。

アンドゲート６５，７０は、２進カウンタ６２
等と協働してデイスク中心孔の位置情報に基づい
てデイスク載置ミスを検出する。

スイツチSW₁は第５図の状態にあり、各発光ダ
イオード２１，３１は発光している。

まず、基準となる第２の光学的検出装置３０よ
りの検出信号について説明する。

モータ８が正転してトレイ５が矢印X₁方向に
引き込まれるとき、スリツト部材３４がフオトイ
ンタラプタ３３を通過し、各壁部３５，３６等が
遮光する。

これにより、第５図中、部分の電圧は、遮光
時はＬレベル、非遮光時にはＨレベルとなり第６
図中に示すように変化する。図中、第４図の区
間〜を対応させて示す。

この電圧は、ヒステリシスインバータ６６を介
して２進カウンタ６２のクロツク端子に加えら
れ、端子Q₁，Q₂，Q₃の出力は第６図中，，
に示す如くになる。

区間，でカウンタ値が０、区間でカウ
ンタ値が１、区間，でカウンタ値が２、句案
，でカウンタ値が３、区間でカウンタ値が
４となる。

これにより、端子Q₁，Q₂と接続してあるアン
ドゲート７０の出力は第６図中で示す如くに、
区間，でＨ、他の区間でＬとなる。

また上記の電圧はインバータ６７を介してFF
６０のクリア端子に加えられると共に、アンドゲ
ート６３の一の入力ゲートに加えられている。

なお、第５図中円で囲んだ数字は回路中の部分
を示し、第６図中円で囲んだ数字は第５図中、対
応する数字で示す部分の電圧波形を示す。

次に、第８図Ａに示すように、標準デイスク２
が正しく載置されており、外周縁部２ａがトレイ
５上の位置Ｓと一致しているときの動作について
説明する。

第１の検出装置２０は標準デイスク２の各位置
を検出し、第５図中、部分の電圧は、第６図中
で示すように変化する。

まず外周縁部２ａが発光ダイオード２１とフオ
トトランジスタ２２との間に入り込むと、標準デ
イスク２自体により遮光され、部分の電圧はＨ
レベルとなり、中心孔２ｃが対向すると遮光が解
除され電圧はＬレベルとなる。

この電圧は、ヒステリシスインバータ６８，イ
ンバータ６９を介してFF６０のクロツク端子に
加えられ、時刻t₁において、Ｑ端子の出力はＨレ
ベルになろうとする。

しかし、時点t₁が上記区間内であるため、Ｑ
端子の出力はＨとはならずＬのまゝとされる。

このため、アンドゲート６３の出力はＬ、アン
ドゲート６４の出力もＬとなり、FF６１のＱ端
子の出力はＬを維持する。

モータ８は正転を継続し、トレイ５は矢印X₁
方向に移動し、デイスク２は再生装置本体４内に
引き込まれる。

デイスク２の中心孔２ｃが第１の検査装置２０
に対向すると、部分の電圧はＬとなり、中心孔
２ｃが通過するとＨとなる。

電圧Ｌの区間が上記区間，を含む関係に
あるため、アンドゲート７０の出力、即ちアンド
ゲート６４の一方の入力はＨレベルであるも、ア
ンドゲート６４の他方の入力はＬレベルであり、
アンドゲート６４の出力はＬレベルとされる。こ
のため、FF６１のＱ端子の出力Ｌのまゝとされ
る。

これによりモータ８が正転を継続し、トレイ５
は矢印X₁方向に最終位置まで移動し、標準デイ
スク２は装着される。

このように、デイスクの外周縁部と中心孔との
両方について載置位置を確認して、デイスクは装
着される。

次に、第７図Ｂに示すような載置ミスがあつた
場合の動作について説明する。

この場合には、外周縁部２ａは通常よりも遅れ
て検出され、第５図中部分の電圧は、第６図中
6a で示すように変化する。電圧がＨレベルと
なる時点t₂（S₁）は区間より外れて区間内で
ある。このため、FF６０はクリアされず、この
Ｑ端子の出力はＨとなる。

これにより、アンドゲート６３の出力が第６図
中で示すようにＨとなる。

このとき、アンドゲート７０の出力はＬであ
る。アンドゲート７０の出力側はインバータ７１
を介してアンドゲート６４の一の入力端子と接続
してあり、アンドゲート６４の当該入力端子６４
ａの電圧はＨである。

アンドゲート６３の出力がＨとなると、アンド
ゲート６４の入力は共にＨとなり、その出力は第
６図中で示すようにＨとなる。

これが、FF６１のクロツク端子に加えられ、
このＱ端子の出力は、第６図中で示すようにＨ
となる。以上によりデイスク２の載置ミスが検出
される。

これがエラー信号として回路５０より出力され
て回路５１に加えられ、モータが逆転される。

これにより、途中まで引きこまれたトレイ５は
矢印X₂方向に元の位置まで押し戻される。トレ
イ５が元の位置まで押し戻されると、第３図に示
すように、フロントパネル１３の裏側に設けられ
たリセツトスイツチSW₂がトレイ５に設けた操作
子８０により押されてオンとなり、FF６１がク
リアされる。操作者はデイスク２の載置ミスを正
して再度装着操作をすればよい。

標準デイスク２の載置位置が上記の場合とは逆
方向にずれていた場合も、上記の場合と同様に、
回路５０は、第１の検出装置２０が外周縁部２ａ
を検出した時点で、載置ミスを検出する。

次に、第８図Ｃに示すように、小型デイスク３
が正常に載置されており、外周縁部３ａがトレイ
５上の位置Ｔと一致しているときの動作について
説明する。

第１の検出装置２０は小型デイスク３の各位置
を検出し、第５図中、部分の電圧は、第６図中
6b で示すように変化する。

まず外周縁部３ａが発光ダイオード２１とフオ
トトランジスタ２２との間に入り込むと、小型デ
イスク３自体により遮光され、部分の電圧はＨ
レベルとなり、中心孔３ｃが対向すると遮光が解
除され電圧はＬレベルとなる。

この電圧は、ヒステリシスインバータ６８、イ
ンバータ６９を介してFF６０のクロツク端子に
加えられ、時点t₃において、Ｑ端子の出力はＨレ
ベルになろうとする。

しかし、時点t₃が上記区間内であるため、Ｑ
端子の出力はＨとならずＬのまゝされる。

このため、アンドゲート６３の出力はＬ、アン
ドゲート６４の出力もＬとなり、FF６１のＱ端
子の出力はＬを維持する。

モータ８は正転を継続し、トレイ５は矢印X₁
方向に移動し、デイスク２は再生装置本体４内に
引き込まれる。

デイスク３の中心孔３ｃが第１の検査装置２０
に対向すると、部分の電圧はＬとなり、中心孔
３ｃが通過するとＨとなる。

電圧Ｌの区間が上記区間，を含む関係に
あるため、FF６１のＱ端子の出力Ｌのまゝとさ
れる。

これによりモータ８が正転を継続し、トレイ５
は矢印X₁方向に最終位置まで移動し、小型デイ
スク３は装着される。

このように、小型デイスク３についても、外周
縁部と中心孔との両方について載置位置を確認し
て、デイスクは装着される。

次に、第８図Ｄに示すような載置ミスがあつた
場合の動作について説明する。

この場合には、外周縁部３ａは通常よりも早く
て検出され、第５図中部分の電圧は、第６図中
6c で示すように変化する。電圧がＨレベルと
なる時点t₄T₁は区間ｄより外れて区間内であ
る。このため、FF６０はクリアされず、このＱ
端子の出力はＨとなる。

これにより、アンドゲート６３の出力が第６図
中 7a で示すようにＨとなる。

このとき、前記と同様に、アンドゲート７０の
出力はＬであり、アンドゲート６４の入力端子６
４ａの電圧はＨである。

アンドゲート６３の出力がＨとなると、アンド
ゲート６４の入力は共にＨとなり、その出力は第
６図中 8a で示すようにＨとなる。

これが、FF６１のクロツク端子に加えられ、
このＱ端子の出力は、第６図中 9a で示すよう
にＨとなる。以上によりデイスク３の載置ミスが
検出される。

これがエラー信号として回路５０より出力され
回路５１に加えられ、モータ８が逆転される。

これにより、途中まで引き込まれたトレイ５は
矢印X₂方向に元の位置まで押し戻され、リセツ
トスイツチSW₂がオンとなり、FF６１がクリア
される。

操作者は、デイスク３の載置ミスを正して再度
装着操作をすればよい。

標準デイスク２の載置位置が上記の場合とは逆
方向にずれていた場合も、上記の場合と同様に、
回路５０は、第１の検出装置２０が外周縁部３ａ
を検出した時点で、載置ミスを検出する。

上記のように、検出回路５０は、載置されるデ
イスクの種類に関係無く、デイスクの外周縁部が
区間，，において検出された場合には、載
置ミスを検出する。

次に、特殊な場合として、第８図Ｅに示すよう
に、標準デイスク２の外周縁部２ａが正しく載置
されたときの小型デイスク３の外周縁部３ａの位
置Ｔと合つている場合について説明する。

標準デイスク２がトレイ５と共に引き込まれる
とき、第５図中部分の電圧は第７図中 6d に
示すように変化する。

時点t₁は本来は区間ｂ内にあるべきところであ
るが、FF６０にクリア信号が供給されている区
間内にあるため、Ｑ端子の出力はＨとはならず
Ｌのまゝであり、FF６１のＱ端４の出力もＬを
維持し、本来載置ミスであるにも拘らず、外縁部
検出の時点では、検出回路５０は載置ミスを検出
しない。

トレイ５は更に引き込まれる。

中心孔２ｃの位置は本来中心孔があるべき位置
よりずれているため、区間ととの境界の時点
において、部分の電圧は依然としてＨレベルで
ある。

区間，でアンドゲート７０の出力、即ちア
ンドゲート６５の一方の入力はＨとなる。このた
め区間からに移つた時点で、アンドゲート６
５の出力は、第７図中で示すようにＨとなる。

これが、FF６１のクロツク端子に加えられ、
このＱ端子の出力が第７図中 9ab で示すよう
にＨとなる。

従つて中心孔２ｃを検出した時点でデイスク２
の載置ミスが検出され、トレイ５は押し戻され
る。

上記とは逆に、第８図Ｆに示すように、小型デ
イスク３の外周縁部３ａが正常に載置されたとき
の標準デイスク２の外周縁部２ａの位置Ｓと合つ
ている場合について説明する。

デイスク３がトレイ５と共に引き込まれると
き、第５図中部分の電圧は第７図中 6e に示す
ように変化する。

時点t₁は本来は区間内にあるべきところであ
るが、FF６０にクリア信号が供給されている区
間内にあるため、Ｑ端子の出力はＨとはならな
ずＬのまゝであり、FF６１のＱ端子の出力もＬ
を維持し、本来載置ミスであるにも拘らず、外周
縁部検出の時点では、検出回路５０は載置ミスを
検出しない。

トレイ５は更に引き込まれる。

中心孔３ｃの位置は本来中心孔があるべき位置
よりずれているため、区間ととの境界の時点
において、部分の電圧は依然としてＨレベルで
ある。

区間，でアンドゲート７０の出力、即ちア
ンドゲート６５の一方の入力はＨとなる。このた
め区間がからに移つた時点で、アンドゲート
６５の出力は、第７図中 10a で示すようにＨと
なる。

これが、FF６１のクロツク端子に加えられ、
このＱ端子の出力が第７図中 9c で示すようにＨ
となる。

従つて中心孔３ｃを検出した時点でデイスク３
の載置ミスが検出され、トレイ５は押し戻され
る。

また、載置ミスとして、第８図Ｇ，Ｈに示すよ
うに、外周縁部の位置は正しい位置であるものゝ
横方向にずれていることもある。

この場合には、第５図中部分の電圧は第７図
中 6f ， 6g に示すように変化する。中心孔２
ｃ，３ｃが点０よりずれているため、遮光は解除
されずに電圧はＨのまゝである。

このため、区間がからに移つた時点で、ア
ンドゲート６５の出力は、第７図中 10b で示す
ようにＨとなる。

これが、FF６１のクロツク端子に加えられ、
このＱ端子の出力が第７図中 9d で示すように
Ｈとなる。

従つて中心孔２ｃ，３ｃを検出すべき時点でデ
イスク２の載置ミスが検出され、トレイ５は押し
戻される。

考案の効果 以上説明した様に、本考案によれば、デイスク
の載置ミスを、デイスクの外周縁部に限らず、デ
イスクの中心孔についても検出するため、デイス
クの通常の載置ミスは勿論、デイスクの外周縁部
は正しく載置されたときのデイスクの外周縁部と
一致しているものゝ中心孔がずれているような特
殊な態様の載置ミスについても検出が可能であ
り、高い信頼性を有し、載置ミス状態でのトレイ
の引き込み等に起因してデイスクを傷付ける事故
を確実に未然に防止することが出来る。また、径
を異にする二種類のデイスクを再生する装置に適
用して有効であるという特長を有する。

【図面の簡単な説明】

第１図は本考案のデイスク装着装置の一実施例
の構成図、第２図は第１図のデイスク装着装置の
斜視図、第３図は第１図のデイスク装着装置の平
面図、第４図はスリツト部材をデイスクと対応さ
せて示す図、第５図はデイスク載置ミス検出回路
の回路図、第６図、第７図は夫々第５図中各部の
電圧波形を示す図、第８図Ａ，Ｂはデイスクの正
常な載置状態、第８図Ｃ乃至Ｈはデイスク載置ミ
スの種々の態様を示す図である。 １……コンパクトデイスク再生装置、２……標
準コンパクトデイスク、３……小型コンパクトデ
イスク、２ａ，３ａ……外周縁部、２ｂ，３ｂ…
…内周縁部、２ｃ，３ｃ……中心孔、４……コン
パクトデイスク再生装置本体、５……トレイ、６
……標準デイスク載置部、７……小型デイスク載
置部、８……トレイ駆動モータ、２０……第１の
光学的検出装置、２１……赤外発光ダイオード、
２３……フオトトランジスタ、２４……中心線、
３０……第２の光学的検出装置、３１……発光ダ
イオード、３２……フオトトランジスタ、３３…
…フオトインタラプタ、３４……スリツト部材
（被検出部）、３５〜３８……壁部、３９〜４２…
…開口部、５０……デイスク載置ミス検出回路、
５１……モータ制御回路、５２……モータ駆動回
路、６０，６１……Ｄ−フリツプフロツプ、６２
……２進カウンタ、６３〜６５，７０……アンド
ゲート、６６，６８……ヒステリシスインバー
タ、６７，６９，７１……インバータ。

Claims (1)

1. 【実用新案登録請求の範囲】 デイスク再生装置本体より外方に突出した位置
   にあつてデイスクが載置されたトレイをモータに
   より上記デイスク再生装置本体内に引き込み上記
   デイスクを装着するデイスク装着装置において、 上記引き込む過程で上記デイスクの引き込み方
   向上先頭の外周縁部及び該デイスクの中心孔を光
   学的に検出する第１の検出装置と、上記デイスク
   が正しく載置されたときの該デイスクの上記外周
   縁部及び上記中心孔に対応する位置関係で上記ト
   レイに設けられた被検出部を光学的に検出する第
   ２の検出装置とを、上記デイスクが正しく載置さ
   れているときには両検出装置が実質上同時に夫々
   を検出するような位置関係で設け、 且つ上記各検出装置の検出動作時点に関する情
   報に基づいて、デイスクの載置ミスを、上記デイ
   スクの外周縁部と中心孔との両方について検出す
   るデイスク載置ミス検出回路と、 該検出回路よりの載置ミス検出信号により前記
   モータを逆転させるモータ制御回路とを有してな
   る構成のデイスク装着装置。