JPH0455735A - 光透過型表示パネルの検査装置 - Google Patents
光透過型表示パネルの検査装置Info
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- JPH0455735A JPH0455735A JP16808590A JP16808590A JPH0455735A JP H0455735 A JPH0455735 A JP H0455735A JP 16808590 A JP16808590 A JP 16808590A JP 16808590 A JP16808590 A JP 16808590A JP H0455735 A JPH0455735 A JP H0455735A
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Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
(産業上の利用分野)
本発明は、例えば液晶表示パネルのような光透過型の表
示パネルの検査を効率的に行える光透過型表示パネルの
検査装置に関する。
示パネルの検査を効率的に行える光透過型表示パネルの
検査装置に関する。
(従来の技術)
液晶表示装置、EL(エレクトロルミネッセンス)表示
装置、プラズマ表示装置等の表示装置を製造する工程に
おいて、光学的検査装置や電気的検査装置等の検査装置
を用いて、製造途中の表示装置の出来上がり品質状態が
検査される。各工程において、製造途中の表示装置が所
定基準の品質状態を満たしていない場合は、その工程に
おいて不合格となる。この場合には、不合格となった表
示装置は、その不合格の工程の前工程における品質状態
にまで修復が可能ならば、その修復を行った上で、再度
、不合格になった工程から該表示装置を製造し直すとい
うことが行われている。
装置、プラズマ表示装置等の表示装置を製造する工程に
おいて、光学的検査装置や電気的検査装置等の検査装置
を用いて、製造途中の表示装置の出来上がり品質状態が
検査される。各工程において、製造途中の表示装置が所
定基準の品質状態を満たしていない場合は、その工程に
おいて不合格となる。この場合には、不合格となった表
示装置は、その不合格の工程の前工程における品質状態
にまで修復が可能ならば、その修復を行った上で、再度
、不合格になった工程から該表示装置を製造し直すとい
うことが行われている。
例えば、液晶表示装置に使用される液晶表示パネルの検
査装置では、液晶表示パネルを透過する光源からの透過
光を、直接に目視して液晶表示パネルの各絵素の不良、
走査線および信号線の断線やショートという欠陥の存否
を検出し、いずれかの欠陥が存在する場合には、その位
置を特定している。
査装置では、液晶表示パネルを透過する光源からの透過
光を、直接に目視して液晶表示パネルの各絵素の不良、
走査線および信号線の断線やショートという欠陥の存否
を検出し、いずれかの欠陥が存在する場合には、その位
置を特定している。
(発明が解決しようとする課題)
近時、液晶表示装置の高画質化にともなって液晶表示パ
ネルの絵素、走査線および信号線が精細化され、人間の
通常の視力による目視では、液晶表示パネルの検査が困
難になっている。
ネルの絵素、走査線および信号線が精細化され、人間の
通常の視力による目視では、液晶表示パネルの検査が困
難になっている。
人間の視力によって視覚認識できる限界は、通常、視力
が1.0の場合には、角度で約1分(1/60度)程度
とされている。従って、目から30cm離れた位置にお
いて視覚認識できる物体の大きさは、87μ量程度にな
り、これより小さな物体は通常の人間の視力では認識す
ることができない。液晶表示パネルの絵素は、最近では
、87μ■ピツチ以下で配設されており、人間の通常の
視力による目視では、各種欠陥の発生を検出すること、
および欠陥の位置を特定することが困難になっている。
が1.0の場合には、角度で約1分(1/60度)程度
とされている。従って、目から30cm離れた位置にお
いて視覚認識できる物体の大きさは、87μ量程度にな
り、これより小さな物体は通常の人間の視力では認識す
ることができない。液晶表示パネルの絵素は、最近では
、87μ■ピツチ以下で配設されており、人間の通常の
視力による目視では、各種欠陥の発生を検出すること、
および欠陥の位置を特定することが困難になっている。
本発明は上記従来の問題を解決するものであり、その目
的は、表示装置に使用される微細な絵素を有する光透過
型表示パネルを、正確にかつ迅速に検査できる装置を提
供することにある。
的は、表示装置に使用される微細な絵素を有する光透過
型表示パネルを、正確にかつ迅速に検査できる装置を提
供することにある。
(課題を解決するための手段)
本発明の光透過型表示パネルの検査装置は、検査すべき
光透過型の表示パネルを、その表示部を光が透過するよ
うに保持した状態で所定方向へ移動し得る保持手段と、
該保持手段に保持された表示パネルへの接近時に該表示
パネルの外部信号接続端子部に接続されるように、該表
示パネルに対して接離可能に配設されており、該表示パ
ネルの駆動回路を有するテスタヘッドと、前記保持手段
に保持された表示パネルに光を照射して、該表示パネル
の像が拡大されるように該表示パネルの透過光を処理す
る光学系と、該光学系により拡大された表示パネルの像
が投射されるスクリーンと、を具備してなり、そのこと
により上記従来の目的が達成される。
光透過型の表示パネルを、その表示部を光が透過するよ
うに保持した状態で所定方向へ移動し得る保持手段と、
該保持手段に保持された表示パネルへの接近時に該表示
パネルの外部信号接続端子部に接続されるように、該表
示パネルに対して接離可能に配設されており、該表示パ
ネルの駆動回路を有するテスタヘッドと、前記保持手段
に保持された表示パネルに光を照射して、該表示パネル
の像が拡大されるように該表示パネルの透過光を処理す
る光学系と、該光学系により拡大された表示パネルの像
が投射されるスクリーンと、を具備してなり、そのこと
により上記従来の目的が達成される。
(作用)
本発明の光透過型表示パネルの検査装置では、保持手段
にて保持された光透過型表示パネルは、テスタヘッドに
電気的に接続されて、駆動し得る状態とされる。所定の
表示状態とされた表示パネルの表示部に光が透過されて
、その表示部の像がスクリーン上に拡大して投影される
。そして、そのスクリーン上の画像に基づいて表示パネ
ルの検査が行われる。
にて保持された光透過型表示パネルは、テスタヘッドに
電気的に接続されて、駆動し得る状態とされる。所定の
表示状態とされた表示パネルの表示部に光が透過されて
、その表示部の像がスクリーン上に拡大して投影される
。そして、そのスクリーン上の画像に基づいて表示パネ
ルの検査が行われる。
(実施例)
以下に、本発明を実施例について説明する。
本発明の検査装置は、例えば、液晶表示装置の製造工程
において、駆動用LSIが実装されているフィルムキャ
リアが接続される前の液晶表示パネルの絵素の不良、走
査線および信号線の断線あるいはショート等を欠陥を検
出してその欠陥位置を特定するために使用される。
において、駆動用LSIが実装されているフィルムキャ
リアが接続される前の液晶表示パネルの絵素の不良、走
査線および信号線の断線あるいはショート等を欠陥を検
出してその欠陥位置を特定するために使用される。
本発明の検査装置は、第1図に示すように、振動を吸収
する防振台10と、該防振台10上に設けられたXYθ
ステージ21とを有する。該XYθステージ21はほぼ
水平状態になっており、水平面において相互に直交する
X方向およびY方向への移動可能、および水平方向への
回動可能(θ方向への移動)になっている。該XYθス
テージ21には、光学系30の一部が収容された角筒状
の遮光カバー22が載置されている。
する防振台10と、該防振台10上に設けられたXYθ
ステージ21とを有する。該XYθステージ21はほぼ
水平状態になっており、水平面において相互に直交する
X方向およびY方向への移動可能、および水平方向への
回動可能(θ方向への移動)になっている。該XYθス
テージ21には、光学系30の一部が収容された角筒状
の遮光カバー22が載置されている。
該遮光カバー22は、第2図に示すように、水平状にな
った支持部22aと、該支持部22aの端部に斜め上方
に向くように連設された末端部22bと、を有している
。該支持部22aの一方の端部は、XYθステージ21
上に取り付けられており、末端部22bが該XYθステ
ージ21の側方に位置するように、支持部22aが該X
Yθステージ21から延出している。末端部22bは、
上側になるにつれて断面が順次大きくなっている。
った支持部22aと、該支持部22aの端部に斜め上方
に向くように連設された末端部22bと、を有している
。該支持部22aの一方の端部は、XYθステージ21
上に取り付けられており、末端部22bが該XYθステ
ージ21の側方に位置するように、支持部22aが該X
Yθステージ21から延出している。末端部22bは、
上側になるにつれて断面が順次大きくなっている。
XYθステージ21に取り付けられた該遮光カバー22
の端部における上面には、開口部22cが開設されてお
り、該開口部22cを覆うように、パネル保持台23が
取り付けられている。該パネル保持台23には、遮光カ
バー22における開口部22cに整合した開口部23a
が設けられており、該パネル保持台23上に、検査すべ
き液晶パネルが、該開口部23aを覆うように載置され
る。該パネル保持台23上に載置された液晶表示パネル
80は、図示しない真空吸引機により固定状態で保持さ
れる。パネル保持台23の下方には、該パネル保持台2
3上に載置された液晶表示パネル800所定位置を撮像
するCCDカメラ24が設けられている。
の端部における上面には、開口部22cが開設されてお
り、該開口部22cを覆うように、パネル保持台23が
取り付けられている。該パネル保持台23には、遮光カ
バー22における開口部22cに整合した開口部23a
が設けられており、該パネル保持台23上に、検査すべ
き液晶パネルが、該開口部23aを覆うように載置され
る。該パネル保持台23上に載置された液晶表示パネル
80は、図示しない真空吸引機により固定状態で保持さ
れる。パネル保持台23の下方には、該パネル保持台2
3上に載置された液晶表示パネル800所定位置を撮像
するCCDカメラ24が設けられている。
防振台10の各隅部には、鉛直状のロッド支持体4Iが
それぞれ立設されている。各ロッド支持体41には、上
下方向へのスライド可能に昇降口・7ド42がそれぞれ
押通している。各昇降ロッド42は、防振台10の上面
を押通しており、該防振台10に取り付けられたエアー
シリンダー43により一体となって昇降するように連結
されている。各昇降ロッド42の上端部には、マスター
テーブル44が水平状態で支持されている。従って、該
マスターテーブル44は、エアーシリンダー43が駆動
されることにより水平状態で昇降される。
それぞれ立設されている。各ロッド支持体41には、上
下方向へのスライド可能に昇降口・7ド42がそれぞれ
押通している。各昇降ロッド42は、防振台10の上面
を押通しており、該防振台10に取り付けられたエアー
シリンダー43により一体となって昇降するように連結
されている。各昇降ロッド42の上端部には、マスター
テーブル44が水平状態で支持されている。従って、該
マスターテーブル44は、エアーシリンダー43が駆動
されることにより水平状態で昇降される。
該マスターテーブル44は、第2図に示すように、その
中央部に平面視正方形状の開口部44aが設けられてい
る。該開口部44aは、パネル保持台23上に保持され
る液晶表示パネル80の表示部とほぼ同様の大きさにな
っている。該マスターテーブル44の下面には、開口部
44 aの各側辺に沿ってフィルムキャリアにより構成
されたテスタヘッド45がそれぞれ貼り付けられている
。各テスタヘッド45は、パネル保持台23上に保持さ
れた液晶表示パネル80に接続されて該液晶表示パネル
80の各絵素を駆動する駆動回路を有しており、通常、
液晶表示装置とされる際に該液晶表示パネル80に取り
付けられるフィルムキャリアが使用される。このフィル
ムキャリアは、液晶表示装置とされる際に、液晶表示パ
ネル80の表示部の周囲の外部信号接続端子部に接続さ
れて、該液晶表示パネル80の各絵素を駆動する。テス
タヘッド45は、マスターテーブル44が第1図に二点
鎖線で示された位置まで下降されることにより、パネル
保持台23上に保持された液晶表示パネル80の外部信
号接続端子部に圧接される。
中央部に平面視正方形状の開口部44aが設けられてい
る。該開口部44aは、パネル保持台23上に保持され
る液晶表示パネル80の表示部とほぼ同様の大きさにな
っている。該マスターテーブル44の下面には、開口部
44 aの各側辺に沿ってフィルムキャリアにより構成
されたテスタヘッド45がそれぞれ貼り付けられている
。各テスタヘッド45は、パネル保持台23上に保持さ
れた液晶表示パネル80に接続されて該液晶表示パネル
80の各絵素を駆動する駆動回路を有しており、通常、
液晶表示装置とされる際に該液晶表示パネル80に取り
付けられるフィルムキャリアが使用される。このフィル
ムキャリアは、液晶表示装置とされる際に、液晶表示パ
ネル80の表示部の周囲の外部信号接続端子部に接続さ
れて、該液晶表示パネル80の各絵素を駆動する。テス
タヘッド45は、マスターテーブル44が第1図に二点
鎖線で示された位置まで下降されることにより、パネル
保持台23上に保持された液晶表示パネル80の外部信
号接続端子部に圧接される。
テスタヘッド45は、液晶表示パネル80の所定位置に
圧接されるように、位置合わせマークが設けられており
、また、液晶表示パネル80にも、その位置合わせマー
クに対応した位置に、位置合わせマークが設けられてい
る。
圧接されるように、位置合わせマークが設けられており
、また、液晶表示パネル80にも、その位置合わせマー
クに対応した位置に、位置合わせマークが設けられてい
る。
該マスターテーブル44の上方には、光学系30の一部
を構成する、コンデンサレンズ32が配設すれており、
さらに該コンデンサレンズ32の上方ニ高輝度光源33
が配設されている。該コンデンサレンズ32および高輝
度光源33は、第2遮光カバー34内に収容されて該第
2遮光カバー34に保持されている。該第2遮光カバー
34はマスターテーブル44と一体となって昇降し得る
。従って、高輝度光源33およびコンデンサレンズ32
は、マスターテーブル44と一体的に昇降する。
を構成する、コンデンサレンズ32が配設すれており、
さらに該コンデンサレンズ32の上方ニ高輝度光源33
が配設されている。該コンデンサレンズ32および高輝
度光源33は、第2遮光カバー34内に収容されて該第
2遮光カバー34に保持されている。該第2遮光カバー
34はマスターテーブル44と一体となって昇降し得る
。従って、高輝度光源33およびコンデンサレンズ32
は、マスターテーブル44と一体的に昇降する。
高輝度光源33から照射される光は、コンデンサレンズ
32により平行光とされ、マスターテーブル44の開口
部44aを通って、パネル保持台23に保持された液晶
表示パネル80に照射される。そして、液晶表示パネル
80を透過した光は、パネル保持台23の開口部23a
および遮光カバー22の開口部22cを通って、該遮光
カバー22内に進入する。
32により平行光とされ、マスターテーブル44の開口
部44aを通って、パネル保持台23に保持された液晶
表示パネル80に照射される。そして、液晶表示パネル
80を透過した光は、パネル保持台23の開口部23a
および遮光カバー22の開口部22cを通って、該遮光
カバー22内に進入する。
第2遮光カバー34内に配設された光源33は、テスタ
ヘッド45と検査される液晶表示パネル80との位置合
わせを容易にするために、側方へ回動される構成、ある
いは取り外される構成とされる。
ヘッド45と検査される液晶表示パネル80との位置合
わせを容易にするために、側方へ回動される構成、ある
いは取り外される構成とされる。
遮光カバー22の支持部22a内には、該支持部22a
内に進入した光をほぼ直角に屈曲させる反射ミラー35
が配設されている。該反射ミラー35は、遮光カバー2
2の支持部22a内に進入した光を末端部22bに向け
て反射し、該支持部22a内をその軸心に沿って直進す
る。該支持部22a内のほぼ中央部には、拡大レンズ3
6が配設されており、反射ミラー35にて反射された光
は、該拡大レンズ36により拡大される。該拡大レンズ
36は、遮光カバー22の外部からフォーカス調整が可
能になっている。
内に進入した光をほぼ直角に屈曲させる反射ミラー35
が配設されている。該反射ミラー35は、遮光カバー2
2の支持部22a内に進入した光を末端部22bに向け
て反射し、該支持部22a内をその軸心に沿って直進す
る。該支持部22a内のほぼ中央部には、拡大レンズ3
6が配設されており、反射ミラー35にて反射された光
は、該拡大レンズ36により拡大される。該拡大レンズ
36は、遮光カバー22の外部からフォーカス調整が可
能になっている。
遮光カバー22における支持部22aと末端部22bと
の連設部には、反射ミラー37が配設されている。
の連設部には、反射ミラー37が配設されている。
該反射ミラー37は、拡大レンズ36を透過した光を、
遮光カバー22の該末端部22bの端面開口に向かって
反射させる。該末端部22bの端面開口にはスクリーン
51が配設されている。該スクリーン51には、液晶表
示パネル80を透過した光が拡大された状態で投影され
、その画像が該スクリーン51の背面に映し出される。
遮光カバー22の該末端部22bの端面開口に向かって
反射させる。該末端部22bの端面開口にはスクリーン
51が配設されている。該スクリーン51には、液晶表
示パネル80を透過した光が拡大された状態で投影され
、その画像が該スクリーン51の背面に映し出される。
このような構成の検査装置の動作を以下に説明する。ま
ず、マスターテーブル44を上昇させた状態で、液晶表
示パネル80が、外部信号接続端子部を上側にしてパネ
ル保持台23にほぼ水平状態に載置される。このとき、
液晶表示パネル80の位置を、CCDカメラ24により
確認しつつ、XYθステージ21がX方向、Y方向、お
よびθ方向に移動されて、該液晶表示パネル80がパネ
ル保持台23の所定位置に載置される。そして、該液晶
表示パネル80は、図示しない真空吸引機によりパネル
保持台23上に吸着されて保持される。
ず、マスターテーブル44を上昇させた状態で、液晶表
示パネル80が、外部信号接続端子部を上側にしてパネ
ル保持台23にほぼ水平状態に載置される。このとき、
液晶表示パネル80の位置を、CCDカメラ24により
確認しつつ、XYθステージ21がX方向、Y方向、お
よびθ方向に移動されて、該液晶表示パネル80がパネ
ル保持台23の所定位置に載置される。そして、該液晶
表示パネル80は、図示しない真空吸引機によりパネル
保持台23上に吸着されて保持される。
次いで、防振台10に取り付けられたエアーシリンダー
43が駆動されてマスターテーブル44が下降される。
43が駆動されてマスターテーブル44が下降される。
マスターテーブル44がパネル保持台23上に保持され
た液晶表示パネル80上方に近接した状態になると、−
旦、マスターテーブル44の下降が停止されて、該マス
ターテーブル44に取り付けられたテスタヘッド45が
ノfネル保持台23上に保持された液晶表示パネル80
の所定位置に圧接されるように、XYθステージ21が
微調整される。このとき、XYθステージ21は、テス
タへ・/ド45の位置合わせマークと液晶表示パネルの
位置合わせマークとが整合状態となるように、調整され
る。その後に、エアーシリンダー43が、再度、駆動さ
れてマスターテーブル44がさらに下降され、テスタヘ
ッド45が液晶表示パネル80の外部信号接続端子に圧
接される。このような状態になると、該テスタヘッド4
5と液晶表示パネル80が電気的に接続されており、該
液晶表示パネル80がテスタヘッド4Sにより駆動され
得る。
た液晶表示パネル80上方に近接した状態になると、−
旦、マスターテーブル44の下降が停止されて、該マス
ターテーブル44に取り付けられたテスタヘッド45が
ノfネル保持台23上に保持された液晶表示パネル80
の所定位置に圧接されるように、XYθステージ21が
微調整される。このとき、XYθステージ21は、テス
タへ・/ド45の位置合わせマークと液晶表示パネルの
位置合わせマークとが整合状態となるように、調整され
る。その後に、エアーシリンダー43が、再度、駆動さ
れてマスターテーブル44がさらに下降され、テスタヘ
ッド45が液晶表示パネル80の外部信号接続端子に圧
接される。このような状態になると、該テスタヘッド4
5と液晶表示パネル80が電気的に接続されており、該
液晶表示パネル80がテスタヘッド4Sにより駆動され
得る。
その後に、高輝度光源33から液晶表示パネル80に向
けて光が照射される。該光源33から発せられた光は、
コンデンサレンズ32により平行光とされて液晶表示パ
ネル80に照射される。そして、液晶表示パネル80を
透過した光は、反射ミラー35により反射されて拡大レ
ンズ36を透過する。拡大レンズ36により拡大された
液晶表示パネル80の像が、反射ミラー37により反射
されてスクリーン51に投射される。
けて光が照射される。該光源33から発せられた光は、
コンデンサレンズ32により平行光とされて液晶表示パ
ネル80に照射される。そして、液晶表示パネル80を
透過した光は、反射ミラー35により反射されて拡大レ
ンズ36を透過する。拡大レンズ36により拡大された
液晶表示パネル80の像が、反射ミラー37により反射
されてスクリーン51に投射される。
拡大レンズ36は、液晶表示パネル80の投影画像を、
該液晶表示パネル80の各絵素の配設ピッチが0.5m
程度になるように、拡大する。従って、スクリーン51
上に投影された液晶表示パネル8oの画像を目視観察す
ることにより、該液晶表示パネル8゜の不良絵素、走査
線および信号線の断線あるいはショート等の欠陥がきわ
めて容易に発見することができる。
該液晶表示パネル80の各絵素の配設ピッチが0.5m
程度になるように、拡大する。従って、スクリーン51
上に投影された液晶表示パネル8oの画像を目視観察す
ることにより、該液晶表示パネル8゜の不良絵素、走査
線および信号線の断線あるいはショート等の欠陥がきわ
めて容易に発見することができる。
このような検査装置において、スクリーン51に投影さ
れる映像を、目視検査ではなく、コンピユータにより解
析することにより、液晶表示パネルの欠陥を発見して、
特定することも可能である。
れる映像を、目視検査ではなく、コンピユータにより解
析することにより、液晶表示パネルの欠陥を発見して、
特定することも可能である。
例えば、第3図に示すように、液晶表示パネル8゜の画
像が投影されるスクリーン51の背面に、ガラス板52
を取り付けて、該ガラス板52に画像センサー61が対
向して配置されている。該画像センサ61は、ガラス板
52の全面に沿って、走査可能に設けられている。該画
像センサー61はガラス板52を介してスクリーン51
の画像を捉えて、画像データを出力する。該画像センサ
ー61から出力される画像データは、例えば、コンピユ
ータを用いた演算記憶部70に入力されている。該演算
記憶部70は、この画像データに基づいて液晶表示パネ
ル80の各絵素の不良、走査線および信号線の断線、そ
れらのショート等の欠陥の有無を検出し、欠陥が存在す
る場合にはその欠陥位置を特定するように、該画像デー
タを信号処理する。
像が投影されるスクリーン51の背面に、ガラス板52
を取り付けて、該ガラス板52に画像センサー61が対
向して配置されている。該画像センサ61は、ガラス板
52の全面に沿って、走査可能に設けられている。該画
像センサー61はガラス板52を介してスクリーン51
の画像を捉えて、画像データを出力する。該画像センサ
ー61から出力される画像データは、例えば、コンピユ
ータを用いた演算記憶部70に入力されている。該演算
記憶部70は、この画像データに基づいて液晶表示パネ
ル80の各絵素の不良、走査線および信号線の断線、そ
れらのショート等の欠陥の有無を検出し、欠陥が存在す
る場合にはその欠陥位置を特定するように、該画像デー
タを信号処理する。
画像センサー61は、第4図に示すように、検出方向が
ガラス板52の幅方向に延びているccDリニアセンサ
ー61aと、ガラス板S2の幅方向に沿って透過した光
を該CCDリニアセンサー61aに集光する集光レンズ
61bとを有する。該CCDリニアセンサー61aは、
例えば、第3図に示すように、その各端部が該CCDリ
ニアセンサー61aの長手方向とは直交する方向(第5
図に矢印Aで示す方向)に延びる一対のガイドレール6
2および62に、それぞれスライド可能に支持されてい
る。該CCDリニアセンサー61aは、スクリーン5工
の幅方向全体の画像を捉えることができる長さになって
いる。集光レンズ61bも、該CCDリニアセンサー6
1aとともに移動するようになっている。従って、画像
センサ−61全体が、スクリーン51に沿って矢ERA
で示す方向へ移動することにより、該スクリーン51全
体が走査され、該スクリーン51上の液晶表示パネル8
0の投影画像がCCDリニアセンサー61aにより確実
に捉えられる。該CCDリニアセンサー5Jaの解像度
は、液晶表示パネル80の解像度に対応しており、例え
ば、600DPIに設定されている。
ガラス板52の幅方向に延びているccDリニアセンサ
ー61aと、ガラス板S2の幅方向に沿って透過した光
を該CCDリニアセンサー61aに集光する集光レンズ
61bとを有する。該CCDリニアセンサー61aは、
例えば、第3図に示すように、その各端部が該CCDリ
ニアセンサー61aの長手方向とは直交する方向(第5
図に矢印Aで示す方向)に延びる一対のガイドレール6
2および62に、それぞれスライド可能に支持されてい
る。該CCDリニアセンサー61aは、スクリーン5工
の幅方向全体の画像を捉えることができる長さになって
いる。集光レンズ61bも、該CCDリニアセンサー6
1aとともに移動するようになっている。従って、画像
センサ−61全体が、スクリーン51に沿って矢ERA
で示す方向へ移動することにより、該スクリーン51全
体が走査され、該スクリーン51上の液晶表示パネル8
0の投影画像がCCDリニアセンサー61aにより確実
に捉えられる。該CCDリニアセンサー5Jaの解像度
は、液晶表示パネル80の解像度に対応しており、例え
ば、600DPIに設定されている。
画像センサー61におけるCCDリニアセンサー61a
の画像データ信号は、演算記憶部70に入力され、該演
算記憶部70は、入力された画像データ信号を解析して
、液晶表示パネル80の絵素の不良、走査線および信号
線の断線あるいはショート等の欠陥の有無を判定し、欠
陥が存在する場合にはその欠陥位置を、例えばx−y座
標で特定して記憶する。
の画像データ信号は、演算記憶部70に入力され、該演
算記憶部70は、入力された画像データ信号を解析して
、液晶表示パネル80の絵素の不良、走査線および信号
線の断線あるいはショート等の欠陥の有無を判定し、欠
陥が存在する場合にはその欠陥位置を、例えばx−y座
標で特定して記憶する。
演算記憶部70は、多数の液晶表示パネル80の検査デ
ータに基づいて、欠陥の種類、位置を特定することによ
り、欠陥の発生が液晶表示パネル80のいずれかの製造
工程において発生するかを判断することも可能である。
ータに基づいて、欠陥の種類、位置を特定することによ
り、欠陥の発生が液晶表示パネル80のいずれかの製造
工程において発生するかを判断することも可能である。
ガラス板52は、均一な厚さであって、その表面は平滑
な鏡面とされる。従って、スクリーン51に像を投影し
ない状態で、ガラス板52の表面の状態を画像センサー
61により捉え、その検出結果のバラツキに基づいて、
液晶表示パネル8oの検査時に画像センサー61の出力
を補正するようにすれば、−層高精度で検査を行うこと
が可能になる。
な鏡面とされる。従って、スクリーン51に像を投影し
ない状態で、ガラス板52の表面の状態を画像センサー
61により捉え、その検出結果のバラツキに基づいて、
液晶表示パネル8oの検査時に画像センサー61の出力
を補正するようにすれば、−層高精度で検査を行うこと
が可能になる。
画像センサー61としては、このようなCCDリニアセ
ンサ61aを使用するものに限らず、例えば、第5図に
示すように、ビデオカメラ65を画像センサとして利用
することもできる。このビデオカメラ65は、ガラス板
52の一対の各辺に沿った各ガイドレール66間に架設
された横ガイドレール67にスライド可能に取り付けら
れている。ビデオカメラ65は、第7図に示すように、
横ガイドレール67がスクリーン51の一方の端部に位
置された状態で該横ガイドレール67の端から端までス
クリーン51の画像を撮像しつつ移動され、−旦、撮像
を停止された状態で、横ガイドレール67に沿って反対
方向へ移動されるとともに、該横ガイドレール67が一
対のガイドレール66に沿って所定量だけ移動される。
ンサ61aを使用するものに限らず、例えば、第5図に
示すように、ビデオカメラ65を画像センサとして利用
することもできる。このビデオカメラ65は、ガラス板
52の一対の各辺に沿った各ガイドレール66間に架設
された横ガイドレール67にスライド可能に取り付けら
れている。ビデオカメラ65は、第7図に示すように、
横ガイドレール67がスクリーン51の一方の端部に位
置された状態で該横ガイドレール67の端から端までス
クリーン51の画像を撮像しつつ移動され、−旦、撮像
を停止された状態で、横ガイドレール67に沿って反対
方向へ移動されるとともに、該横ガイドレール67が一
対のガイドレール66に沿って所定量だけ移動される。
このようにして、スクリーン51の全体に沿ってビデオ
カメラ65が走査され、該ビデオカメラ65によりスク
リーン51に投影される液晶表示パネルの全体画像が撮
像される。該ビデオカメラ65画像信号は、演算記憶部
7oに入力されて、該演算記憶部70が液晶表示パネル
8oの欠陥の検出が行われる。
カメラ65が走査され、該ビデオカメラ65によりスク
リーン51に投影される液晶表示パネルの全体画像が撮
像される。該ビデオカメラ65画像信号は、演算記憶部
7oに入力されて、該演算記憶部70が液晶表示パネル
8oの欠陥の検出が行われる。
演算記憶部70による検査結果は、表示モニターに表示
するようにしてもよい。
するようにしてもよい。
本発明の検査装置は、拡大レンズ36にて拡大されてス
クリーン51に投射された液晶表示パネル8゜の画像を
、該スクリーン51の背面から観察するようにしている
。従って、液晶表示パネル8oを透過した光を、遮光カ
バー22により覆って、外部光による影響を抑制できる
。
クリーン51に投射された液晶表示パネル8゜の画像を
、該スクリーン51の背面から観察するようにしている
。従って、液晶表示パネル8oを透過した光を、遮光カ
バー22により覆って、外部光による影響を抑制できる
。
しかし、このように画像が投影されるスクリーンの背面
から画像を観察するものに限らず、例えば、第8図に示
すように、拡大レンズ36を透過した光を直接スクリー
ン51に投射して、該スクリーン51の前面に画像を形
成するようにし、その画像を観察するようにしてもよい
。この場合は、拡大レンズ51を透過した光は、遮光カ
バーにより覆われることなく、直接スクリーン51に投
射される。
から画像を観察するものに限らず、例えば、第8図に示
すように、拡大レンズ36を透過した光を直接スクリー
ン51に投射して、該スクリーン51の前面に画像を形
成するようにし、その画像を観察するようにしてもよい
。この場合は、拡大レンズ51を透過した光は、遮光カ
バーにより覆われることなく、直接スクリーン51に投
射される。
このため外部光の影響を抑制するために、外部光自体の
強度を抑制する必要がある。
強度を抑制する必要がある。
さらに、第9図に示すように、液晶表示パネル80を透
過した光を、反射ミラーにより反射させることなく、直
接、スクリーン51に投射して、該スクリーン51の前
面に像を形成するようにしてもよい。この場合は、光路
長を短縮させることができ、また、装置の構成が著しく
簡略化される。・第9図に示すように、液晶表示パネル
8oは、鉛直状態に保持するようにしてもよい。
過した光を、反射ミラーにより反射させることなく、直
接、スクリーン51に投射して、該スクリーン51の前
面に像を形成するようにしてもよい。この場合は、光路
長を短縮させることができ、また、装置の構成が著しく
簡略化される。・第9図に示すように、液晶表示パネル
8oは、鉛直状態に保持するようにしてもよい。
なお、本発明の検査装置は、液晶表示装置に使用される
液晶表示パネルの検査に使用する場合に限らず、EL表
示装置、プラズマ表示装置等に使用される光透過型の表
示パネルの検査にも使用できる。
液晶表示パネルの検査に使用する場合に限らず、EL表
示装置、プラズマ表示装置等に使用される光透過型の表
示パネルの検査にも使用できる。
(発明の効果)
本発明の光透過型表示パネルの検査装置は、このように
、表示パネルを透過した光が、該液晶表示パネルの像を
拡大するようにスクリーンに投射されるために、該スク
リーンに投射された像に基づいて、該表示パネルの欠陥
を、目視により直接検出できる。その結果、表示パネル
の検査が正確にかつ迅速に行える。表示パネルは、所定
の状態に駆動されるために、該表示パネルの絵素の検査
がより正確に行える。
、表示パネルを透過した光が、該液晶表示パネルの像を
拡大するようにスクリーンに投射されるために、該スク
リーンに投射された像に基づいて、該表示パネルの欠陥
を、目視により直接検出できる。その結果、表示パネル
の検査が正確にかつ迅速に行える。表示パネルは、所定
の状態に駆動されるために、該表示パネルの絵素の検査
がより正確に行える。
4 の な會 肛
第1図は本発明の光透過型表示パネルの検査装置の一例
を示す概略構成図、第2図はその要部の拡大斜視図、第
3図は本発明の他の実施例の要部を示す概略構成図、第
4図はその具体的構成図、第5図は第4図の背面図、第
6図は本発明のさらに他の実施例の要部の背面図、第7
図はその走査方向の説明図、第8図および第9図はそれ
ぞれ本発明の検査装置の他の実施例の構成図である。
を示す概略構成図、第2図はその要部の拡大斜視図、第
3図は本発明の他の実施例の要部を示す概略構成図、第
4図はその具体的構成図、第5図は第4図の背面図、第
6図は本発明のさらに他の実施例の要部の背面図、第7
図はその走査方向の説明図、第8図および第9図はそれ
ぞれ本発明の検査装置の他の実施例の構成図である。
lO・・・光源、21・・・XYθステージ、22・・
・遮光カバ、23・・・パネル保持台、30・・・光学
系、32・・・コンデンサレンズ、33・・・高輝度光
源、36・・・拡大レンズ、41・・・ロッド支持体、
42・・・昇降ロッド、43・・・エアーシリンター、
44・・・マスターテーブル、45・・・テスタヘッド
、51・・・スクリーン、52・・・ガラス板、61・
・・画像センサー、61a・・・CCDリニアセンサー
61b・・・集光レンズ、70・・・演算記憶部、8
0・・・液晶表示パネル。
・遮光カバ、23・・・パネル保持台、30・・・光学
系、32・・・コンデンサレンズ、33・・・高輝度光
源、36・・・拡大レンズ、41・・・ロッド支持体、
42・・・昇降ロッド、43・・・エアーシリンター、
44・・・マスターテーブル、45・・・テスタヘッド
、51・・・スクリーン、52・・・ガラス板、61・
・・画像センサー、61a・・・CCDリニアセンサー
61b・・・集光レンズ、70・・・演算記憶部、8
0・・・液晶表示パネル。
以上
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 1、検査すべき光透過型の表示パネルを、その表示部を
光が透過するように保持した状態で所定方向へ移動し得
る保持手段と、 該保持手段に保持された表示パネルへの接近時に該表示
パネルの外部信号接続端子部に接続されるように、該表
示パネルに対して接離可能に配設されており、該表示パ
ネルの駆動回路を有するテスタヘッドと、 前記保持手段に保持された表示パネルに光を照射して、
該表示パネルの像が拡大されるように該表示パネルの透
過光を処理する光学系と、 該光学系により拡大された表示パネルの像が投射される
スクリーンと、 を具備する光透過型表示パネルの検査装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP16808590A JPH0455735A (ja) | 1990-06-25 | 1990-06-25 | 光透過型表示パネルの検査装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP16808590A JPH0455735A (ja) | 1990-06-25 | 1990-06-25 | 光透過型表示パネルの検査装置 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH0455735A true JPH0455735A (ja) | 1992-02-24 |
Family
ID=15861569
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP16808590A Pending JPH0455735A (ja) | 1990-06-25 | 1990-06-25 | 光透過型表示パネルの検査装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH0455735A (ja) |
Citations (4)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS5850414A (ja) * | 1981-09-21 | 1983-03-24 | Japax Inc | ジヤパツクス株式会社 |
| JPS5850414B2 (ja) * | 1975-10-29 | 1983-11-10 | 株式会社日立製作所 | パタ−ンの検査方法 |
| JPS63265129A (ja) * | 1987-04-23 | 1988-11-01 | Sharp Corp | 表示装置の画素検査システム |
| JPH0278969A (ja) * | 1988-09-16 | 1990-03-19 | Hitachi Ltd | 特性検査装置 |
-
1990
- 1990-06-25 JP JP16808590A patent/JPH0455735A/ja active Pending
Patent Citations (4)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS5850414B2 (ja) * | 1975-10-29 | 1983-11-10 | 株式会社日立製作所 | パタ−ンの検査方法 |
| JPS5850414A (ja) * | 1981-09-21 | 1983-03-24 | Japax Inc | ジヤパツクス株式会社 |
| JPS63265129A (ja) * | 1987-04-23 | 1988-11-01 | Sharp Corp | 表示装置の画素検査システム |
| JPH0278969A (ja) * | 1988-09-16 | 1990-03-19 | Hitachi Ltd | 特性検査装置 |
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