JPH0456271B2 - - Google Patents

Info

Publication number
JPH0456271B2
JPH0456271B2 JP58014389A JP1438983A JPH0456271B2 JP H0456271 B2 JPH0456271 B2 JP H0456271B2 JP 58014389 A JP58014389 A JP 58014389A JP 1438983 A JP1438983 A JP 1438983A JP H0456271 B2 JPH0456271 B2 JP H0456271B2
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
signal
energy
wave height
window
energy window
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Expired - Lifetime
Application number
JP58014389A
Other languages
English (en)
Other versions
JPS59141083A (ja
Inventor
Yoshihiko Kumazawa
Tsunekazu Matsuyama
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Shimadzu Corp
Original Assignee
Shimadzu Corp
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Shimadzu Corp filed Critical Shimadzu Corp
Priority to JP58014389A priority Critical patent/JPS59141083A/ja
Priority to US06/553,784 priority patent/US4661909A/en
Priority to EP83112030A priority patent/EP0117299B1/en
Priority to DE8383112030T priority patent/DE3381443D1/de
Publication of JPS59141083A publication Critical patent/JPS59141083A/ja
Publication of JPH0456271B2 publication Critical patent/JPH0456271B2/ja
Granted legal-status Critical Current

Links

Classifications

    • G—PHYSICS
    • G01—MEASURING; TESTING
    • G01T—MEASUREMENT OF NUCLEAR OR X-RADIATION
    • G01T1/00—Measuring X-radiation, gamma radiation, corpuscular radiation, or cosmic radiation
    • G01T1/16—Measuring radiation intensity
    • G01T1/161—Applications in the field of nuclear medicine, e.g. in vivo counting
    • G01T1/164—Scintigraphy
    • G01T1/1641—Static instruments for imaging the distribution of radioactivity in one or two dimensions using one or several scintillating elements; Radio-isotope cameras
    • G01T1/1642—Static instruments for imaging the distribution of radioactivity in one or two dimensions using one or several scintillating elements; Radio-isotope cameras using a scintillation crystal and position sensing photodetector arrays, e.g. ANGER cameras
    • Y—GENERAL TAGGING OF NEW TECHNOLOGICAL DEVELOPMENTS; GENERAL TAGGING OF CROSS-SECTIONAL TECHNOLOGIES SPANNING OVER SEVERAL SECTIONS OF THE IPC; TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC CROSS-REFERENCE ART COLLECTIONS [XRACs] AND DIGESTS
    • Y10—TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC
    • Y10S—TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC CROSS-REFERENCE ART COLLECTIONS [XRACs] AND DIGESTS
    • Y10S128/00—Surgery
    • Y10S128/92—Computer assisted medical diagnostics
    • Y10S128/922—Computer assisted medical diagnostics including image analysis
    • Y—GENERAL TAGGING OF NEW TECHNOLOGICAL DEVELOPMENTS; GENERAL TAGGING OF CROSS-SECTIONAL TECHNOLOGIES SPANNING OVER SEVERAL SECTIONS OF THE IPC; TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC CROSS-REFERENCE ART COLLECTIONS [XRACs] AND DIGESTS
    • Y10—TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC
    • Y10S—TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC CROSS-REFERENCE ART COLLECTIONS [XRACs] AND DIGESTS
    • Y10S378/00—X-ray or gamma ray systems or devices
    • Y10S378/901—Computer tomography program or processor

Landscapes

  • Physics & Mathematics (AREA)
  • Health & Medical Sciences (AREA)
  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • Biomedical Technology (AREA)
  • General Health & Medical Sciences (AREA)
  • Medical Informatics (AREA)
  • Nuclear Medicine, Radiotherapy & Molecular Imaging (AREA)
  • Optics & Photonics (AREA)
  • Life Sciences & Earth Sciences (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • High Energy & Nuclear Physics (AREA)
  • Molecular Biology (AREA)
  • Spectroscopy & Molecular Physics (AREA)
  • Nuclear Medicine (AREA)

Description

【発明の詳細な説明】 (イ) 産業上の利用分野 この発明は、患者の診断のために放射線核医学
の分野において利用されるアンガー型シンチレー
シヨンカメラなどの放射線結像装置に関する。
(ロ) 従来技術 従来のシンチレーシヨンカメラでは、得られる
エネルギ信号の波高がシンチレーシヨンの位置に
よつて若干ずれるため、エネルギ信号の波高分析
器において、どの位置からのエネルギ信号にも同
じエネルギウインドを一律に適用して、エネルギ
信号の波高がこのエネルギウインドのなかに入つ
ているか否かを判別すると、感度の高い位置と低
い位置とがあらわれるという固有の欠点がある。
また、エネルギ信号波高の位置依存性に基づく感
度不均一性を補正する方法としてたとえば各事象
毎に上記位置依存性に対応して各位置信号毎にエ
ネルギウインドを修正するような波高分析器を位
置演算回路の後に設けた場合、いろいろなエネル
ギのシンチレーシヨンに関して位置演算が行なわ
れるようになつているため、エネルギウインドに
入らないような不要なものについての位置演算が
行なわれる結果、エネルギ信号に入る必要なもの
についての位置演算がその間行なわれないので計
数率が低いという問題がある。
(ハ) 目的 この発明は、エネルギ信号波高の不均一性に基
づく感度不均一性を実時間で補正するとともに計
数率を向上させることのできる放射線結像装置を
提供することを目的とする。
(ニ) 構成 この発明によれば、エネルギ信号波高の位置依
存性を予め測定しておき、これに応じてエネルギ
ウインドの方を各位置毎にずらすこととし、こう
して各位置毎に定められたエネルギウインドに基
づき、ある位置のエネルギ信号のある波高値がエ
ネルギウインド内となるか否かに関するデータを
位置およびエネルギ毎に求め、このデータを波高
分析メモリ位置信号およびエネルギ信号で指定さ
れる各アドレスに記憶させておく。エネルギウイ
ンドに入るとされるエネルギ信号波高値は各位置
で異なつているのであるが、この記憶内容からエ
ネルギウインドに入るとされるエネルギ信号の全
ての位置を通じての波高値の最大値と最小値とが
分る。そこで、この最大値を上限値とし、最小値
を下限値とするエネルギウインドを持つ粗波高分
析器で、エネルギ信号の波高値がこのエネルギウ
インド内に入るか否かを判定し入る場合のみ位置
演算を遂行させるようにし、こうして得られる位
置信号およびエネルギ信号により波高分析メモリ
のアドレスを指定してデータを読み出すことによ
りエネルギ信号の波高の位置依存性に基づく感度
不均一性を実時間で補正する。
(ホ) 実施例 第１図において、シンチレータ１の裏面にライ
トガイド２を介して多数のPMT（光電子増倍管）
３が配列されており、各PMT出力はプリアンプ
４を通して位置およびエネルギ演算回路５に導か
れ、位置信号Ｘ，Ｙ、エネルギ信号Ｚが得られ
る。位置信号Ｘ，Ｙ、エネルギ信号Ｚはサンプル
アンドホールド回路６１，６２，６３にそれぞれ
取り込まれて保持され、Ａ／Ｄ変換器７１，７
２，７３でそれぞれデイジタル位置信号Xd，
Yd、デイジタルエネルギ信号Zdに変換され、こ
れらデイジタル位置信号Xd，Yd、デイジタルエ
ネルギ信号Zdが波高分析メモリ８のアドレスを
指定する。波高分析メモリ８はたとえばダイナミ
ツクRAMで構成され、１ビツトのデータを出力
し、パルス信号発生器１１により輝度信号
（UNBLANK）を得て、これが位置信号Ｘ，Ｙ
とともに表示装置１２に入力される。
波高分析メモリ８は、たとえば64×64の各画素
および512KeVのエネルギを１チヤネル当り
0.5KeVで分けたときの1024チヤネル分の各波高
値に対応して64×64×1024のアドレスを有し、各
アドレスには「１」または「０」の内容が、波高
分析条件、たとえばエネルギウインドの中心レベ
ル信号Ｌとウインド幅信号Ｗとが設定される毎に
次の手続で計算した結果として、測定前に予め書
き込まれている。まず、各位置ｘ，ｙにおけるエ
ネルギ信号Ｚの波高のずれのデータを予め計測
し、たとえばＰ−ROMで構成される補正メモリ
１０に記憶しておく。このずれのデータをｆ（ｘ，
ｙ）とする。そしてたとえばマイクロコンピユー
タなどで構成される計算回路９を用いてたとえば
以下の計算をする。
（MLx，ｙ）＝Ｌ×｛１＋ｆ（ｘ，ｙ）｝ （ULx，ｙ） ＝（MLx，ｙ）×（１＋Ｗ／２） （LLx，ｙ） ＝（MLx，ｙ）×（１−Ｗ／２） こうして位置ｘ，ｙ毎にエネルギウインドの中
心レベルMLx，ｙ、上限値ULx，ｙ、下限値
LLx，ｙが求められる。波高分析メモリ８におい
て、第２図に示すように位置ｘ，ｙに対応する１
行のアドレスにつき、 LLx，ｙ≦Zd≦ULx，ｙ の範囲内のデイジタルエネルギ信号Zdで指定さ
れるアドレスについては「１」を、他の範囲のア
ドレスZdについては「０」を書き込む。この
「１」「０」の１ビツトのデータは波高分析結果を
表わし、「１」はその位置ｘ，ｙにおいて得られ
たエネルギ信号の波高値がその位置に関して定め
られたエネルギウインド内であることを示し、
「０」はこのエネルギウインド外であることを示
す。なお第２図では位置ｘ，ｙの１つの行におい
て１つのエネルギウインドが「１」のつながつた
１つの列となつてあらわれているが、これは単一
スペクトルの場合であり、多重スペクトルの場合
には位置ｘ，ｙの１行において飛び飛びに複数の
列があらわれることになつて複数のエネルギウイ
ンドに対応する。そのため従来のように多重スペ
クトルの場合に波高分析器を複数用意する必要が
なくなる。
ここで、各位置をとおしてのULx，ｙの最大
値をULmax，LLx，ｙの最小値をLLminとし、
これらを計算回路９で予め求め位置およびエネル
ギ演算回路５に与える。位置およびエネルギ演算
回路５は第３図のように、ｘ信号用加算回路５
１、ｙ信号用加算回路５２、ｚ信号用加算回路５
３、サンプルアンドホールド回路５４，５５，５
６、割算回路５７，５８、粗波高分析器５９およ
びタイミング信号発生回路６０により構成されて
いる。ｘ信号用加算回路５１、ｙ信号用加算回路
５２は、それぞれ、プリアンプ４を通つたPMT3
の各出力を、その各PMT3のＸ方向およびＹ方向
の位置に応じて重み付け加算するもので、一応の
位置信号ｘ，ｙが得られる。また、ｚ信号用加算
回路５３は、プリアンプ４を通つたPMT3の各出
力を同じ重みで加算するもので一応のエネルギ信
号ｚが得られ、これはサンプルアンドホールド回
路５６を経ることにより正規のエネルギ信号Ｚと
なる。上記の一応の位置信号ｘ，ｙは、サンプル
アンドホールド回路５４，５５をそれぞえ経て、
さらに割算回路５７，５８でエネルギ信号Ｚで割
算されることにより、正規の位置信号Ｘ，Ｙとな
る。この加算回路５１、サンプルアンドホールド
回路５４、割算回路５７により位置信号Ｘに関す
る位置演算回路が形成され、加算回路５２、サン
プルアンドホールド回路５５，割算回路５８によ
り位置信号Ｙに関する位置演算回路が形成される
ことになる。粗波高分析器５９のエネルギウイン
ドの上限値がULmax、下限値がLLminにそれぞ
れ比例して設定される。エネルギ信号ｚがこのエ
ネルギウインド内にあるときのみタイミング信号
Ｓが発生し、若干の時間遅れの後タイミング信号
発生回路６０からタイミング信号Ｔが発生する。
タイミング信号Ｓが生じたときサンプルアンドホ
ールド回路５４，５５，５６の信号取り込みが行
なわれる。このタイミング信号Ｓが生じないとき
はサンプルアンドホールド回路５４，５５，５６
の信号取り込みが行なわれず、そのため無駄な位
置演算を行なわないようにすることができる。し
たがつて無駄な位置演算が行なわれることにより
その間必要な位置演算ができないという不都合が
改善されるため、計数率が向上する。なお、サン
プルアンドホールド回路６１，６２，６３の信号
取り込みはタイミング信号Ｔにより制御され、
Ａ／Ｄ変換器７１，７２，７３の制御はこのタイ
ミング信号Ｔを遅延回路７４で遅延した信号によ
つて行なわれる。
上記のように位置信号Ｘ，Ｙ、エネルギ信号Ｚ
が得られてこれらのデイジタル位置信号Xd，
Yd，デイジタルエネルギ信号Zdがそれぞれアド
レス情報として波高分析メモリ８に与えられ、こ
れらによりアドレスが指定されるとこのアドレス
に記憶されていた「１」または「０」のデータが
読み出される。「１」が読み出されたときにはエ
ネルギウインド内であるからパルス信号発生器１
１から輝度信号が発生する。こうしてエネルギ信
号波高の位置依存性に基づく感度不均一性を実時
間で補正することができる。
ところで一般にシンチレーシヨンカメラではエ
ネルギ信号波高の位置依存性はPMT配列に基づ
く空間周波数を主成分とし、同じエネルギ信号波
高のずれを示す位置が繰り返してあらわれる。そ
こで第２の実施例では同じずれを示すいくつかの
位置について波高分析メモリのアドレスを共通化
し、波高分析メモリ容量の減少、アドレスの簡単
化、波高分析メモリ書込時間の短縮などを図るよ
うにしている。
この第２の実施例について第４図および第５図
を参照しながら説明する。Ａ／Ｄ変換器７１，７
２，７３までの構成および波高分析メモリ１０８
から読み出したデータをパルス信号発生器１１に
送つた以降の構成は第１図と同様である。Ａ／Ｄ
変換器７１，７２からのデイジタル位置信号
XdYdによりアドレスデータメモリ１０７アドレ
スを指定し、得られたアドレスデータAdはＡ／
Ｄ変換器７３からのデイジタルエネルギ信号Zd
とともに波高分析メモリ１０８のアドレスを指定
する。この実施例では同じエネルギ信号波高のず
れを示す多数の位置を共通にくくつて１つの位置
ａで代表させるようにしており、アドレスデータ
メモリ１０７はこの各位置ｚ，ｙのデイジタル位
置信号Xd，Ydを代表位置ａのデイジタル信号
Adに変換する。波高分析メモリ１０８は第５図
に示すように位置ｘ，ｙの代りに代表位置ａを表
わすデイジタル信号Adによつてアドレス指定さ
れる行毎に「１」「０」のデータが書き込まれて
いる。この書き込みは計算回路１０９と補正メモ
リ１１０により行なわれるが、第１の実施例の位
置ｘ，ｙを代表位置ａに置換しエネルギ信号波高
ずれデータｆ（ｘ，ｙ）をｆ（ａ）に置き変えるだ
けが異なり、計算過程などは上記第１の実施例と
同様である。この第２の実施例の場合も、粗波高
分析器５９に与えるエネルギウインドの上限値、
下限値は、第１の実施例と同様に、波高分析メモ
リ１０８に記憶されている多数のULx，ｙのう
ちの最大値ULmax、多数のLLx，ｙのうちの最
小値LLminを利用して定められる。
なお、波高分析メモリを複数のブロツクに分割
し、それぞれのブロツク毎にエネルギウインドを
設定して、輝度信号を発生させるデータがどのブ
ロツクから出力されたかを判別することにより多
核種測定が可能になる。この波高分析メモリを複
数のブロツクに分割する代りに波高分析メモリの
データ深さを２ビツト以上とすることにより、た
とえば「01」「10」「11」がそれぞれ第１、第２、
第３のエネルギウインド内であることを示し、
「00」がこれらの範囲外であることを示すように
するなどして多重スペクトルあるいは多核種測定
を行なうことも可能である。これらの場合粗波高
分析器のエネルギウインドの上限値と下限値は最
も高いエネルギにおける最高値と最も低いエネル
ギにおける最低値を利用して設定する。
また、位置およびエネルギ演算回路の構成は第
３図に示すものに限られる訳ではないことはもち
ろんである。
(ヘ) 効果 この発明によれば、波高分析メモリに、各位置
毎にエネルギ信号波高のずれに関するデータを記
憶させておいて、位置信号が得られる毎にこのデ
ータを読み出してエネルギウインド内であるか否
かの判定を行なうようにしているため、エネルギ
信号波高の位置依存性に基づく感度不均一性を実
時間で補正することができるともに、エネルギウ
インドを大きく外れるエネルギ信号の場合には位
置演算を行なわないようにして必要な位置演算が
行なわれる機会をより増加することによつて計数
率を改善することができる。
【図面の簡単な説明】
第１図はこの発明の第１の実施例のブロツク
図、第２図は波高分析メモリ８の内容を示す図、
第３図は位置およびエネルギ演算回路５の具体例
のブロツク図、第４図は第２の実施例の要部のブ
ロツク図、第５図は波高分析メモリ１０８の内容
を示す図である。 １……シンチレータ、２……ライトガイド、３
……PMT、４……プリアンプ、５……位置およ
びエネルギ演算回路、５１……ｘ信号用加算回
路、５２……ｙ信号用加算回路、５３……ｚ信号
用加算回路、５４〜５６，６１〜６３……サンプ
ルアンドホールド回路、５７，５８……割算回
路、５９……粗波高分析器、６０……タイミング
信号発生回路、７１〜７３……Ａ／Ｄ変換器、７
４……遅延回路、８，１０８……波高分析メモ
リ、９，１０９……計算回路、１０，１１０……
補正メモリ、１１……パルス信号発生器、１２…
…表示装置、１０７……アドレスデータメモリ。

Claims (1)

    【特許請求の範囲】
  1. １ 放射線入射事象信号からエネルギ信号を得る
    エネルギ演算手段と、該エネルギ信号の波高が所
    定の粗いエネルギウインド内であるか否かを弁別
    し出力信号を生じる粗波高分析手段と、該粗波高
    分析手段からの出力信号に応じて動作し、上記の
    放射線入射事象信号から位置信号を得る位置演算
    手段と、予め測定されたエネルギ信号波高の位置
    依存性に基づいて求められた各位置ごとのエネル
    ギウインドに対応して、上記の位置信号とエネル
    ギ信号とにより指定されるアドレスごとに、その
    エネルギ信号波高がその位置でのエネルギウイン
    ドに入つているか否かについてのデータが記憶さ
    せられている波高分析用記憶手段と、上記の位置
    ごとのエネルギウインドのうちの下限値の最小値
    と上限値の最大値とにより上記粗波高分析手段の
    粗いエネルギウインドを定める制御手段とを備え
    ることを特徴とする放射線結像装置。
JP58014389A 1983-01-31 1983-01-31 放射線結像装置 Granted JPS59141083A (ja)

Priority Applications (4)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP58014389A JPS59141083A (ja) 1983-01-31 1983-01-31 放射線結像装置
US06/553,784 US4661909A (en) 1983-01-31 1983-11-21 Scintillation camera with pulse height analyzer
EP83112030A EP0117299B1 (en) 1983-01-31 1983-11-30 Radiation imaging apparatus
DE8383112030T DE3381443D1 (de) 1983-01-31 1983-11-30 Strahlungs-darstellungseinrichtung.

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP58014389A JPS59141083A (ja) 1983-01-31 1983-01-31 放射線結像装置

Publications (2)

Publication Number Publication Date
JPS59141083A JPS59141083A (ja) 1984-08-13
JPH0456271B2 true JPH0456271B2 (ja) 1992-09-07

Family

ID=11859697

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP58014389A Granted JPS59141083A (ja) 1983-01-31 1983-01-31 放射線結像装置

Country Status (4)

Country Link
US (1) US4661909A (ja)
EP (1) EP0117299B1 (ja)
JP (1) JPS59141083A (ja)
DE (1) DE3381443D1 (ja)

Families Citing this family (16)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS61195382A (ja) * 1985-02-26 1986-08-29 Toshiba Corp シンチレ−シヨンカメラ
US4835690A (en) * 1985-11-19 1989-05-30 Picker International, Inc. Integrated expert system for medical imaging scan, set-up, and scheduling
US4812656A (en) * 1986-03-31 1989-03-14 Kabushiki Kaisha Toshiba Processing of radioisotope-distribution imaging signals in a scintillation camera apparatus
JPS6312985A (ja) * 1986-07-03 1988-01-20 Toshiba Corp 放射線エネルギ−弁別回路
EP0280731B1 (en) * 1986-08-28 1992-07-22 Shimadzu Corporation Amplification degree stabilizer for photomultiplier tubes
JPS6383687A (ja) * 1986-09-29 1988-04-14 Toshiba Corp 核医学デ−タ処理装置
FR2609336B1 (fr) * 1987-01-06 1990-02-23 Labo Electronique Physique Camera a scintillation
FR2615961B1 (fr) * 1987-05-27 1991-09-06 Commissariat Energie Atomique Procede de prise en compte des impulsions de localisation delivrees par une gamma camera
US4899054A (en) * 1988-01-19 1990-02-06 General Electric Company Gamma camera with image uniformity by energy correction offsets
US5289386A (en) * 1989-08-31 1994-02-22 Beckman Instruments, Inc. Method and apparatus for storing scintillation pulse height data
US5345082A (en) * 1993-03-22 1994-09-06 Sopha Medical Systems, Inc. Scintillation camera utilizing energy dependent linearity correction
JP3532942B2 (ja) * 1993-08-04 2004-05-31 浜松ホトニクス株式会社 放射線位置検出装置
JP3323323B2 (ja) * 1994-04-25 2002-09-09 浜松ホトニクス株式会社 シンチレーションカメラ
US6635878B2 (en) * 2001-06-13 2003-10-21 Koninklijke Philips Electronics N.V. Gamma camera with automatic adjustment of the energy spectrum
JP4724155B2 (ja) * 2007-06-07 2011-07-13 株式会社ホンダアクセス 梱包箱
JP2014241543A (ja) * 2013-06-12 2014-12-25 株式会社東芝 光検出装置およびｃｔ装置

Family Cites Families (14)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS535883A (en) * 1976-07-05 1978-01-19 Hitachi Medical Corp Device for setting interesting region by scintillation camera
JPS5329787A (en) * 1976-08-31 1978-03-20 Kagaku Gijutsucho Hoshasen Igaku Sogo Kenkyusho Measuring device for radiation
JPS5816478B2 (ja) * 1977-12-16 1983-03-31 株式会社日立メデイコ 走査形シンチレ−ションカメラ
US4212061A (en) * 1977-12-21 1980-07-08 Medtronic, Inc. Radiation signal processing system
US4281382A (en) * 1977-12-21 1981-07-28 Medtronic, Inc. Radiation signal processing system
US4179607A (en) * 1978-04-13 1979-12-18 General Electric Company Gamma camera system with improved means for correcting nonuniformity
US4228515A (en) * 1978-06-13 1980-10-14 Sebastian Genna Method and apparatus of digital calibration and position analysis of a radiant emission
US4223221A (en) * 1978-06-19 1980-09-16 Picker Corporation Scintillation camera uniformity correction
US4258428A (en) * 1979-06-25 1981-03-24 General Electric Company Compton effect deemphasizer for gamma cameras
US4323977A (en) * 1979-11-20 1982-04-06 Siemens Gammasonics, Inc. Non-uniformity energy correction method and apparatus
JPS56107182A (en) * 1980-01-31 1981-08-25 Toshiba Corp Scintillation
JPS58130030A (ja) * 1981-10-05 1983-08-03 工業技術院長 Ｘ線ディジタル画像処理装置
JPS5863877A (ja) * 1981-10-14 1983-04-15 Toshiba Corp マルチイメ−ジストア装置
JPS5997071A (ja) * 1982-11-27 1984-06-04 Hitachi Medical Corp シンチレ−シヨンカメラ

Also Published As

Publication number Publication date
EP0117299A1 (en) 1984-09-05
EP0117299B1 (en) 1990-04-11
JPS59141083A (ja) 1984-08-13
US4661909A (en) 1987-04-28
DE3381443D1 (de) 1990-05-17

Similar Documents

Publication Publication Date Title
JPH0456271B2 (ja)
US4212061A (en) Radiation signal processing system
US4223388A (en) Scintillation camera
JPH0749925B2 (ja) ２次元入射位置検出装置
US4281382A (en) Radiation signal processing system
EP3977936A1 (en) Radiographic imaging device and radiographic imaging method
US5371362A (en) Nuclear detection process with base potential correction and correspnding apparatus (particularly a gamma-camera)
US5345082A (en) Scintillation camera utilizing energy dependent linearity correction
JP2004108796A (ja) 放射線測定装置
CA1204884A (en) Energy window selection for a radiation signal processing system
EP0390203B1 (en) Method for eliminating scattered gamma-rays and reconstructing image, and gamma camera apparatus
US4812656A (en) Processing of radioisotope-distribution imaging signals in a scintillation camera apparatus
JP2003513250A (ja) 差分訂正法と差分訂正装置
EP0775922B1 (en) Scatter correction for use with a gamma camera
EP0589467A2 (en) Nuclear medicine imaging apparatus
EP0309165B1 (en) Method for correcting sensitivity of gamma camera
US5545898A (en) Scintillation camera position calculation with uniform resolution using variance injection
JPH052956B2 (ja)
JPS60122382A (ja) 放射線結像装置
JPS6042426B2 (ja) シンチレ−シヨンカメラ
JPH0418636B2 (ja)
JPS6335426Y2 (ja)
JP2508853B2 (ja) シンチレ―ションカメラ
JP2569463B2 (ja) 光電子増倍管の増幅度安定化装置
JPH0462493A (ja) シンチレーションカメラ