JPH0459616B2

JPH0459616B2 -

Info

Publication number: JPH0459616B2
Application number: JP59240986A
Authority: JP
Inventors: Takashi Ide; Katsuji Sakamoto
Original assignee: Sumitomo Electric Industries Ltd
Current assignee: Sumitomo Electric Industries Ltd
Priority date: 1984-11-15
Filing date: 1984-11-15
Publication date: 1992-09-22
Also published as: JPS61118705A

Description

【発明の詳細な説明】産業上の利用分野本発明は、光フアイバの調心方法に関するもの
である。更に詳細に述べるならば、本発明は、光
フアイバの融着接続装置や特性測定装置などの、
光フアイバの軸心を高精度に合わせる必要のある
方法において、簡略かつ確実かつ高速に調心を行
なう方法に関するものである。

従来の技術従来、光フアイバの融着接続や光学的結合など
の接続には、種々の方法が考案されている。その
中でも精密に加工されたＶ形溝の底に光フアイバ
を載せて位置決めを行うＶ溝接続法などは広く用
いられいる。特に、光フアイバ同士を融着接続す
る際には、一対のＶ溝上に光フアイバ接続部分を
それぞれ載せて位置決めした後、一方のＶ溝を他
方のＶ溝に対して微動させて、精密に光フアイバ
位置を合わせる方法等が知られている。

このようなＶ溝の微動が行なわれるのは、Ｖ溝
に載せただけでは、光フアイバの位置決め精度が
不十分なためである。従つて、簡易な測定には、
光フアイバをＶ溝に載せただけの位置決めで接続
が行われる。一方、低損失で特性の優れた融着接
続や、高精度の特性測定のためには、上記のよう
にＶ溝を動かして光フアイバの位置を調節して光
フアイバを接続することは不可欠である。

第７図は、そのような微動装置を備えた光フア
イバの調心装置の１例を示す概略図である。

第７図において、参照番号１及び２は、融着接
続されるかまたは光学的に結合される光フアイバ
を示している。それら光フアイバ１及び２の接続
側端部は、光フアイバ心線の被覆が剥がされ、そ
れぞれ光フアイバ裸線部１Ａ及び２Ａとされ、第
８図に示すようなＶ溝ブロツク３及び４のＶ溝３
Ａ及び４Ａの底に載せられている。そして、その
光フアイバ裸線部１Ａ及び２Ａの上には押さえ３
Ａ及び４Ｂが載せられている。

一方の光フアイバ１の他端には光源５が接続さ
れ、他方の光フアイバ２の他端には光検出器６が
接続し、その光検出器６は、線７を介して、Ｖ溝
ブロツク近傍に設置されたパワーメータ８に接続
され、そのパワーメータ８に受光量が表示される
ようになされている。かくして、パワーメータ８
を見ながらＶ溝ブロツク３及び４の一方または両
方を、光フアイバ１及び２の光軸に対して直角で
且つ互いに異なる２方向に、例えば互い直交する
水平及び鉛直の２方向に微動させることにより、
光フアイバ裸線部１Ａ及び２Ａの一方または両方
を微動させ、受光量が最大となる光フアイバ裸線
部１Ａ及び２Ａとの相対位置を決める。受光量が
最大となつたところで、融着接続する場合は光フ
アイバ裸線部１Ａ及び２Ａの端部を融着接続し、
また、特性測定の場合は光源５から特定の波長ま
たは出力の光を光フアイバ１を介して光フアイバ
２に結合するなどの測定処理を実施する。

発明が解決しようとする問題点ところが、以上のような調心方法には、次のよ
うな問題がある。１つの問題は、調心をする際に
は、被接続光フアイバの通過光に頼つているた
め、もし初期のＶ溝上の光フアイバの位置が適当
でなく、光フアイバ１から光フアイバ２に光が結
合されなければ、全く調心が不可能となることで
ある。

もう１つの問題は、被接続光フアイバの通過光
は非常に微弱であるため、光検出器、パワーメー
ター、光源に高い性能が要求されることである。

更に別の問題は、たとえ高性能の部品を使用し
ても、この方法では、特に調心初期は、光検出器
の受光量が非常に小さいことが多いために、調心
初期における調心が不安定となり、結果として調
心に相当の時間を要することがである（この時間
の問題については、例えば、加藤康之他「単一モ
ード光ケーブルの接続」1983、研究実用化報告第
32巻第３号P80〜P81に一端につき平均１分との
報告がある）。

特に、シングルモード光フアイバ同士の接続を
考えるならば、シングルモード光フアイバは、コ
ア径が10μｍ以下の小さい場合がほとんどであ
る。そのため、調心時に、光源に接続された光フ
アイバから出射される光ビームは細く、しかもそ
の細い光ビームを受光できる部分すなわちコア部
も非常に小さいため、上記した従来の調心方法で
は、多大の時間を要し、且つ上記調心方法をコン
ピユータにより制御して自動化し更に自動で融着
する場合、失敗が非常に多かつた。そのため、こ
の失敗を防ぐためＶ溝上のセツトに際して高倍率
の顕微鏡で接続部を監視する必要があつた（宮内
充他「光ケーブルの心線接続」1981、研究実用化
報告第30巻第９号88ページには、作業性の困難及
び失敗減少のための監視機構の必要性が示されて
いる）。

本発明は、以上のような状況を鑑がみ、被接続
光フアイバの軸合せを確実かつ容易かつ高速に行
なうことができる光フアイバの調心方法を提供せ
んとするものである。

問題点を解決するための手段本発明の提供する２本の光フアイバの互いに対
向する端面を軸合わせする方法は、第１の光フア
イバの端部近傍を第１の支持ブロツクに形成した
Ｖ溝の底部に載置することによつて第１の光フア
イバを水平に支持し且つ移動しないように固定
し、一方、第２の光フアイバの端部近傍を第１の
支持ブロツクに対して相対移動可能な第２の支持
ブロツクに形成され且つ上記Ｖ溝とほぼ同じ高さ
を有するＶ溝の底部に載置することによつて第２
の光フアイバを水平に支持し且つ移動しないよう
に固定し、この際、第２の光フアイバの先端部
が、第１の支持ブロツクから突出し且つ第１の光
フアイバの軸線の延長線と直交する平面内におい
て該延長線を挟んで互いに対向して配置された２
本のアームに固定された少なくとも一対の光セン
サの光出射端と光入射端とを結ぶ直線よりも第１
の支持ブロツク側に来る状態で、第１のフアイバ
と略平行に配置し、次いで、２本の光フアイバの
軸線方向に対して直角な第１の方向へ第１の支持
ブロツクまたは第２の支持ブロツクを互いに相対
移動させ、第２の光フアイバの先端が上記一対の
光センサの光出射端から光入射端へ向かう光を遮
断することによつて光センサの光入射端で受ける
光量が所定値以下に減衰した時に第１の支持ブロ
ツクと第２の支持ブロツクとの相対移動を停止
し、その後、２本の光フアイバの一方から他方へ
送られる光量が最大となる位置まで２本の光フア
イバの軸線方向に対して直角で且つ上記第１の方
向に対して直角な第２の方向へ第１の支持ブロツ
クまたは第２の支持ブロツクを互いに相対移動さ
せて、２本の光フアイバの位置を微調整すること
を特徴としている。

上記の「２本の光フアイバの軸線方向に対して
直角な第１の方向」は水平方向でも垂直方向でも
よく、あるいは斜め方向でもよい。本発明の特殊
実施例では水平方向である。

作用以上のような本発明による光フアイバの調心方
法にあつては、光センサの光出射用光フアイバか
ら受光用光フアイバへの光束は、第１の支持部が
支持している第１の被接続光の入射又は出射口の
光軸の延長線と直交する関係にあるので、第１の
支持部をその移動可能方向に移動させて、その光
束が遮光されたときに、該第１の支持部を停止さ
せることにより、第１の支持部の移動方向におい
て第２の被接続光フアイバに第１の被接続光の入
射又は出射口を軸合わせすることができる。

そして、上記光フアイバの軸合わせは非接触式
であるので、被接続光フアイバの位置を狂わせた
り破壊させたりすることなく正確に光フアイバの
位置決めができる。

実施例以下、添付図面を参照して本発明による光フア
イバの調心方法の実施例を説明をする。

第１図は本発明の光フアイバの調心方法を実施
するための光フアイバの調心装置の概念的斜視図
であり、第２図はその部分側面図であり、第３図
はその部分平面図である。

図示の光フアイバの調心装置は、光フアイバ融
着接続装置のヘツドのような基台１０上に取り付
けられた移動台１２を有し、その移動台１２は、
矢印Ａの方向に往復移動可能になされている。移
動台１２の上には、支持ブロツク１４が取り付け
られている。その支持ブロツク１４は、一方の被
接続光フアイバ１６をその底に載せるＶ溝１８が
形成されており、そのＶ溝１８の底に載せられた
被接続光フアイバ１６上に押さえブロツク２０が
載せられて、被接続光フアイバ１６を押さえてい
る。

支持ブロツク１４の前面において、Ｖ溝１８の
底を挟む上部と下部からアーム２２と２４が前方
に突出している。そのアーム２２及び２４には、
光センサを構成する光フアイバ２６及び２８がそ
れぞれ固定されている。光フアイバ２６及び２８
は、支持ブロツク１４のＶ溝１８に保持されてい
る被接続光フアイバ１６の軸の延長線と直交する
平面内において、該延長線を挟むように垂直に対
向して位置している。

支持ブロツク１４と対向するようにもう１つの
支持ブロツク３０が、基台１０に取り付けられて
いる。その支持ブロツク３０には、支持ブロツク
１４のＶ溝１８と同じ高さにＶ溝３２が形成され
ている。その底にもう１つの被接続光フアイバ３
４が載せられ、押さえブロツク３６により上から
軸方向に移動可能に押さえられている。

支持ブロツク１４の下の移動台１２は、例え
ば、第４図に示すように、真直ぐな矩形チヤンネ
ル４０が形成されたベース４２と、その矩形チヤ
ンネル４０に摺動自在に置かれたキヤリア４４と
から構成されている。キヤリア４４の移動方向が
第１図の矢印Ａの方向となるように、ベース４２
が例えば基台１０に固定され、キヤリア４４に支
持ブロツク１４が取り付けられる。キヤリア４４
は、その摺動方向と直交する方向に延びるアーム
４６を有している。そのアーム４６には、送りネ
ジ４８の先端が回転自在に保持され、その送りネ
ジ４８の中央部は、ベース４２に固定された雌ネ
ジ５０に螺合して支持されている。そして、送り
ネジ４８の他端は、軸方向には滑動自在にしかし
回転不能にケースがベース４２に取付けられたモ
ータ５２の出力軸に結合されている。従つて、モ
ータ５２を駆動することにより、送りネジ４８は
回転し、その回転方向によりアーム４６すなわち
キヤリア４４を前進させ又は後退させる。そのよ
うにして、移動台１２は、第１図において矢印Ａ
の方向に往復変位し、その上に支持している支持
ブロツク１４を矢印Ａの方向に往復変位させるこ
とができる。

第５図は、光センサの検出回路とモータ５２の
駆動制御回路の一例を示す回路図である。発光ダ
イオード５４又は半導体レーザのような光源に、
光フアイバ２６の他端は結合され、その光フアイ
バ２６から出射した光は、光フアイバ２６及び２
８の間の間隙を介して光フアイバ２８に入射し、
光フアイバ２８の他端に結合されたホトトランジ
スタ５６のような光検出器に結合される。そのホ
トトランジスタ５６のコレクタ電圧は、増幅器５
８を介して、スレツシヨルド回路６０に入力さ
れ、そのスレツシヨルド回路６０の出力は出力ト
ランジスタ６２のベースに接続され、その出力ト
ランジスタ６２のコレクタと電源との間には、リ
レーＲが接続されている。そのリレーＲの常開接
点R_a1と別のリレーＸの常開接点X_a1とモータ５
２とが、直列に電源に接続されている。その別の
リレーＸは、押ボタンスイツチPBと、リレーＲ
の別の常開接点R_a2と直列に電源に接続されてい
る。更に、リレーＸの別の常開接点X_a2が、押ボ
タンスイツチPBに並列に接続されて、自己保持
回路を構成している。

今、発光ダイオード５４からの光がホトトラン
ジスタ５６に入射していると、そのホトトランジ
スタ５６は導通状態になり、そのコレクタは低電
圧となり、その低い電圧信号が増幅器５８を介し
てスレツシヨルド回路６０に入力される。そのス
レツシヨルド回路６０は、入力電圧が所定スレツ
シヨルド電圧より低いときハイレベルの電圧信号
をトランジスタ６２のベースに出力してそのトラ
ンジスタ６２を導通状態に置く。その結果、リレ
ーＲに電流が流れ、その常開接点R_a1とR_a2は、
閉状態となつている。この状態で、押ボタンスイ
ツチPBを押すと、リレーＸに電流が流れ、その
常開接点X_a1とX_a2とは閉状態となり、モータ５
２が動作し、支持ブロツク１４は矢印Ａの内の予
め定めた一方の方向に変位すると共に、リレーＸ
は自己保持状態となる。

支持ブロツク１４の移動によつて光フアイバ２
６と２８との間に被接続光フアイバ３４が入つて
きて、その間の光ビームが徐々に遮られると、ホ
トトランジスタ５６への入光量が減少し、その導
通抵抗が高くなり、そのコレクタ電圧が上昇す
る。しかし、スレツシヨルド回路６０は、入力電
圧が上記した所定スレツシヨルド電圧より低い間
は、ハイレベルの電圧信号をトランジスタ６２の
ベースに出力してそのトランジスタ６２の導通状
態を維持して、支持ブロツク１４の変位を持続さ
せる。

しかし、光フアイバ２６と２８との間の光ビー
ムが被接続光フアイバ３４によつて完全に遮られ
ると、ホトトランジスタ５６への入光量は零とな
り、不導通状態になる。かくして、コレクタ電圧
が電源電圧となり、スレツシヨルド回路６０の入
力電圧は上記した所定スレツシヨルド電圧より高
くなる。その結果、スレツシヨルド回路６０はロ
ーレベルの電圧信号をトランジスタ６２のベース
に出力してそのトランジスタ６２の不導通状態と
し、リレーＲの電流を遮断する。従つて、その常
開接点R_a1が開き、モータ５２は停止し、支持ブ
ロツク１４の変位が停止する。それと同時に、常
開接点R_a2も開くので、リレーＸの電流も遮断
し、自己保持が解除される。

従つて、第５図のスレツシヨルド回路６０まで
が光センサの検出回路を構成し、出力トランジス
タより右の部分が、モータ５２の駆動制御回路を
構成している。

次に、以上構成を説明した光フアイバの調心装
置の動作を説明する。

まず、接続すべき一対の被接続光フアイバの一
方の被接続光フアイバ１６を、支持ブロツク１４
のＶ溝１８の底に、載せ、その上から押さえブロ
ツク２０で押さえる。そのとき、被接続光フアイ
バ１６の先端が、光フアイバ２６と２８とを結ぶ
直線より支持ブロツク１４側に位置するように調
整する。その結果、被接続光フアイバ１６の延長
線が、光フアイバ２６と２８とを結ぶ直線と交差
する。そして、他方の被接続光フアイバ３４を支
持ブロツク３０のＶ溝３２の底に載せ、その上か
ら押さえ３６ブロツクで押さえる。そして、その
被接続光フアイバ３４の先端が、光フアイバ２６
と２８とを結ぶ直線より支持ブロツク１４側に位
置するように調整する。

このとき被接続光フアイバ３４が、第３図に示
すように、光フアイバ２６及び２８に対して矢印
Ｂの方向において先の方に位置し、且つ、支持ブ
ロツク３０の最初の移動方向が矢印Ｂの方向にあ
るとする。そのとき、押しボタンスイツチPBを
押すると、光フアイバ２６から２８へ光ビームが
入射している間、モータ５２が動作して、支持ブ
ロツク１４すなわち被接続光フアイバ１６を矢印
Ｂの方向に移動する。やがて、被接続光フアイバ
３４が、光フアイバ２６と２８の間に達すると、
被接続光フアイバ３４が光フアイバ２８に入射す
る光を徐々に遮り、ついには光フアイバ２８へ光
を完全に遮断する。それが第５図の検出回路によ
つて感知され、第５図のモータ駆動制御回路が働
き、モータ５２は停止させられる。その結果、被
接続光フアイバ３４に対し被接続光フアイバ１６
の位置を接続に適当な一定位置に位置づけること
ができる。

このように光センサを構成する一対の光フアイ
バ２６及び２８を、光フアイバ２６及び２８を支
持している支持ブロツク１４に保持されている被
接続光フアイバ１６の軸心の延長上にその延長軸
を挟むように設置すれば、被測定光フアイバ３４
に対して被接続光フアイバ１６の位置が大きくズ
レていても、矢印Ｂの方向に支持ブロツク１４全
体を移動し、検出したところで移動を停止するこ
とにより、被接続光フアイバ３４と被接続光フア
イバ１６を、それらの軸に直角な１つの方向、図
示の例では水平方向において一致させることがで
きる。

そして、水平方向の位置が決まつたならば、被
接続光フアイバ１６及び３４の一方から他方に結
合される光が最大になるように、従来と同様に垂
直方向に調心を行なえばよい。また、更に精密な
軸合せが必要な場合には、被接続光フアイバ１６
及び３４の一方から他方に結合される光が最大に
なるように、水平方向にも調心を行なえばよい。
そのあと、図示していないが、例えば、光フアイ
バ２６及び２８に対しても被接続光フアイバ１６
及び３４に対してもほぼ直交する関係に配置した
アーク電極間に電流を印加し、被接続光フアイバ
１６及び３４を当接させて融着接続を行う。

なお、支持ブロツク１４を矢印Ａの方向に往復
移動させるためには、例えば、支持ブロツクの移
動範囲を限定し、その移動範囲の限界に例えばリ
ミツトスイツチを設け、そのリミツトスイツチが
支持ブロツクを検出したらモータ５２の回転を反
転させるように構成すればよい。

また、上記した実施例において、光フアイバ２
６及び２８による光センサは、高い精度の位置検
出が可能である。例えば、光フアイバ２６，２８
に、外径125μｍ、コア径80μｍのステツプ形光フ
アイバを用い、両者の端面間隔を４mmとし、光源
に出力波長0.90μｍのLEDを使用して、光フアイ
バの調心装置を試作した結果、位置検出精度は、
被接続光フアイバが外径125μｍのとき、±1μｍで
あつた。この精度は、光フアイバの接続に適用す
るに充分高いものであつた。

このような位置検出精度は、次のような理由に
より実現することができる。たとえコア径80μｍ
を使用しても、光出射側の光フアイバから出射し
た光は、放散し、その中央部の光のみ受光側光フ
アイバに入射するため、光検出に活用される光束
の径は実質的に小さくすることができる。また、
受光側光フアイバに接続された光検出器の出力を
受けるスレツシヨルド回路の精度を高くすること
により、僅かな受光量の違いも検出することがで
きる。かくして、±1μｍの精度を実現することが
できた。それ故、コア径80μｍ以下の光フアイバ
を使用し、十分な精度のスレツシヨルド回路を使
用することにより、±1μｍ以下の精度を実現でき
る。またここで、このようなセンサには、反射光
を検出する方法も考えられるが、光フアイバ等の
微小でかつ平面的でないものに関しては、本発明
によるような空間を透過してきた光を検出する方
が検出精度も高く、しかもセンサ間の距離が長く
とれ、被検出体の初期の位置決め精度の許容範囲
を広くとれる。

以上の実施例においては、水平方向における調
心のために一対の光フアイバを使用した光センサ
を１つ用いているが、２つの光センサを使用して
もよい。２つの光センサを用いれば、例えば水平
方向と垂直方向のように互いに直角な方向にそれ
ぞれ一対の光フアイバを用いれば、さらに位置合
せが容易となる場合もある。

すなわち、第１図に点線で描いたように、光フ
アイバ２６Ａ及び２８Ａを、光フアイバ２６及び
２８と直交し且つ光フアイバ２６及び２８と共面
関係に位置するように支持ブロツク１４に取り付
け、更に、その支持ブロツク１４を垂直方向にも
変位可能にする。または、同様に第１図に点線で
描いたように、光フアイバ２６Ｂ及び２８Ｂを、
支持ブロツク３２に保持されている被接続光フア
イバ３４の軸心の延長上でその延長軸を水平方向
から挟むように、すなわち、支持ブロツク１４に
保持されている被接続光フアイバ１６を水平方向
から挟むように支持ブロツク３２に取り付け、そ
の支持ブロツク３２を垂直方向に変位可能にす
る。

更に、上記実施例においては、モータでねじを
回転させ、そのねじの送りによつて支持ブロツク
を移動させる方式を採用した。しかし、支持ブロ
ツクを弾性支持し、その支持ブロツクにバネを取
り付け、そのバネを送り、そのバネ圧により支持
ブロツクの弾性支持体に変形を与えて支持ブロツ
クを変位させて微調を行なう方式（いわゆる応力
ひずみ方式）等、微調が行なえる方式であれば、
どのような支持ブロツク調整方式を採用してもよ
い。

また、上記実施例においては、第１の被接続光
の入射又は出射口として光フアイバを用いた例を
示したが、レンズやアパーチヤー等を用いた光学
系であつてもよい。ここで、本発明の有効性が大
きく発揮されるのはシングルモードフアイバ同士
のような入出射口共非常に小さい場合であること
をつけ加える。

第６図は、本発明による光フアイバの調心方法
を組み込むことができる光フアイバの特性測定装
置の１例を示す概略構成図である。

第６図において、参照符号Ａは、セツトステー
ジを示し、参照符号Ｂ及びＣは、測定ステージを
示している。セツトステージＡにおいて、移動テ
ーブル７０Ａに被測定光フアイバ７２Ａの両端が
セツトされる。次いで、その移動テーブル７０Ａ
と共に被測定光フアイバ７２Ａは矢印イの方向へ
移動されて測定ステージＢに位置付けられ、そこ
で、必要な特性測定がなされる。一方、次の移動
テーブル７０ＢがセツトステージＡに置かれ、次
の被測定光フアイバ７２Ｂの両端がセツトされ
る。そして、それら被測定光フアイバ７２Ａ及び
７２Ｂが移動テーブル７０Ａ及び７２Ａと共に矢
印イの方向に移動され、被測定光フアイバ７２Ａ
が測定ステージＣに位置付けられ、被測定光フア
イバ７２Ｂが測定ステージＢに位置付けられる。
その状態で、次の移動テーブル７０Ｃがセツトス
テージＡに置かれ、次の被測定光フアイバ７２Ｃ
の両端がセツトされる。第６図は、このときの状
態を示している。

このようにセツトステージＡで被測定光フアイ
バのセツトを実施し、測定ステージＢ及びＣで測
定を実施すれば、特性の測定を同時且つ多項目に
わたつて実施できる。

測定ステージＢには、光源７４Ｂと光検出器７
６Ｂがそれぞれ設けられ、それら光源７４Ｂと光
検出器７６Ｂにそれぞれ一端が接続された測定器
側光フアイバ７８Ｂ及び８０Ｂの他端が測定器側
ホルダ８２Ｂ及び８４Ｂに保持されている。測定
器側ホルダ８２Ｂ及び８４Ｂに保持されている測
定器側光フアイバ７８Ｂ及び８０Ｂの間隔は、移
動テーブル７０Ａ〜７０Ｃにそれぞれセツトされ
ている被測定光フアイバの両端の間隔と同一にさ
れている。

同様に、測定ステージＣには、光源７４Ｃと光
検出器７６Ｃがそれぞれ設けられ、それら光源７
４Ｃと光検出器７６Ｃにそれぞれ一端が接続され
た測定器側光フアイバ７８Ｃ及び８０Ｃの他端が
測定器側ホルダ８２Ｃ及び８４Ｃに保持されてい
る。

以上のような光フアイバ特性測定装置にあつて
は、各測定ステージにおいて、被測定光フアイバ
の両端と測定器側光フアイバとが損失少なく接続
されることが重要である。例えば、グレーデツド
インデツクス光フアイバの伝送損失を測定する場
合などは、測定器側光フアイバと被測定光フアイ
バとの軸ズレは、1μｍ以下におさえることが望
ましい。

しかしながら、移動テーブルの移動や、移動テ
ーブル上の被測定光フアイバセツトの位置精度を
1μｍ以下におさえることは極めて困難である。
特に、上記した形式の光フアイバ特性測定装置に
おいては、単なる被測定光フアイバの移動テーブ
ルへのセツト位置精度だけでなく、移動テーブル
の位置精度が、移動テーブルを測定ステージに位
置決めした後の被測定光フアイバ端の位置の変動
要因として加わる。そのために、移動テーブルの
移動位置決め後に、軸合わせのための位置合わせ
を行うことが必要となる。

しかし、従来の技術のように、光源から測定器
側光フアイバを通り被測定光フアイバの一端に入
射しそしてその他端からもう１つの測定器側光フ
アイバを通過して光検出器に入射する光量を測定
して、それが最大になるように調心する方法をこ
の軸合わせのための位置合わせに用いた場合で
は、被測定光フアイバ端の位置ズレによつて光検
出器において光が検出できなかつたり、光が微弱
すぎて調心が不安定であつたりして調心を失敗す
ることがあつたり、あるいは、調心に時間がかか
つたりしていた。

本発明による光フアイバの調心装置を、そのよ
うな光フアイバ特性測定装置に適用すれば、被測
定光フアイバの両端を測定器側光フアイバに同時
に接続する場合でも接続を自動的に且つ確実に行
なうことができる。

すなわち、移動テーブル７０Ａ，７０Ｂ，７０
Ｃの各々に、第１図に示すような支持ブロツク１
４を移動台１２と一緒に一対設けるか、または、
測定器側ホルダ８２Ｂ，８４Ｂ，８２Ｃ，８４Ｃ
を第１図に示すような支持ブロツク１４で構成す
る。測定器側ホルダは、一般に、測定器側光フア
イバの軸に対して直角な水平方向および鉛直方向
に変位可能に構成されているので、測定器側ホル
ダを支持ブロツク１４で構成する場合は、格別、
移動台１２を設ける必要はない。また、被測定光
フアイバの保持及び測定器側光フアイバの保持に
Ｖ溝ブロツクを使用する場合、被測定光フアイバ
と測定器側光フアイバの垂直方向のズレは、さほ
ど大きくはない。従つて、一般には、水平方向の
調心で十分である。

次に、その後者の場合の動作を説明する。セツ
トステージＡにおいて被測定光フアイバの両端は
移動テーブルにセツトされ、次いで、その移動テ
ーブルが移動して測定ステージＢに位置付けられ
る。その時点で、本発明による調心装置が動作さ
れる。すなわち、測定ステージＢにおいて、測定
器側光フアイバ７８Ｂ及び８０Ｂをそれぞれ保持
している一対の支持ブロツク１４がそれぞれ水平
方向に移動し、各支持ブロツク１４に設けた光セ
ンサの光フアイバ２６及び２８間の光束が被測定
光フアイバにより遮られたとき、それぞれの支持
ブロツクの水平方向の移動は停止される。その
後、光検出器７６Ｂの検出光量をモニタして、検
出光量が最大になるように、測定器側光フアイバ
７８Ｂ及び８０Ｂを保持している支持ブロツクを
鉛直方向及び水平方向微小変位させる。そして、
検出光パワーが最大となるところまで変位を停止
し、かくして、精密な軸合せ（精密調心）を完了
する。測定ステージＣにおいても同様な動作を行
なう。

以上のように、本発明による光フアイバの調心
方法を光フアイバ特性測定装置に適用すれば、確
実に光フアイバの位置を検出し、しかもその位置
で光フアイバ同士の軸に直角な一方向の位置があ
つているので、その後調心すべきズレ量が少なく
且つズレ方向がわかつて、調心の確実性が向上
し、調心時間を短くすることができる。従つて、
本発明による光フアイバの調心方法を適用するこ
とにより、多項目の特性を能率よく同時に測定で
きる。

なお、上記した例では、測定ステージＢとＣの
２つであるが、３つ以上の測定ステージが設けら
れていても、本発明による光フアイバの調心方法
は適用することはできる。また、測定ステージの
数たけでなく、各測定ステージごとに伝送損失や
周波数特性あるいは後方散乱など光フアイバ内を
通過する光を測定して異なる測定項目を測定する
光フアイバ特性測定装置にも適用できる。

また、以上の光フアイバ特性測定装置におい
て、被測定光フアイバと測定器側光フアイバとを
接続しているが、測定の場合は、接続は融着と異
なり光源と直接行なつたり、あるいは、受光面積
の広い光検出器と直接行なつたりする場合があ
る。そのような場合は、対になす光フアイバ２６
及び２８から構成され光センサのみで、位置決め
のみを行なえば充分である場合も多い。

また、上記した例においては、調心により軸心
を合わせることとしたが、光センサの対をなす光
フアイバの設置位置を変えることにより、軸心よ
りズレた位置に故意に位置決めすることもでき
る。

発明の効果以上により明らかなように、本発明による光フ
アイバの調心装置は、接続すべき光フアイバを高
精度、確実且つ高速で調心することができる。

【図面の簡単な説明】

第１図は本発明の光フアイバの調心方法を実施
するための光フアイバの調心装置の概念的斜視図
であり、第２図は第１図の光フアイバの調心装置
の部分側面図であり、第３図は第１図の光フアイ
バの調心装置の部分平面図であり、第４図は、第
１図の光フアイバの調心装置に使用される移動台
の概略斜視図であり、第５図は、光センサの検出
回路と移動台のモータの駆動制御回路の回路図で
あり、第６図は、本発明による光フアイバの調心
方法が適用できる光フアイバ特性測定装置の１例
を示す概略構成図であり、第７図は、従来の光フ
アイバの調心装置の１例を示す概略図であり、第
８図は、Ｖ溝ブロツクの１例を示す斜視図であ
る。〔主な参照番号〕、１，２……被接続光フアイ
バ、３，４……Ｖ溝ブロツク、５……光源、６…
…光検出器、８……パワーメータ、１０……基
台、１２……移動台、１４……支持ブロツク、１
６……被接続光フアイバ、１８……Ｖ溝、２０…
…押さえブロツク、２２，２４……アーム、２
６，２８……光フアイバ、３０……支持ブロツ
ク、３２……Ｖ溝、３４……被接続光フアイバ、
４２……ベース、４４……移動テーブル、４８…
…送りネジ、５０……雌ネジ、５２……モータ、
５４……発光ダイオード、５６……ホトトランジ
スタ、６０……スレツシヨルド回路、６２……出
力トランジスタ、Ｒ，Ｘ……リレー、７０Ａ，７
０Ｂ，７０Ｃ……移動テーブル、７２Ａ，７２
Ｂ，７２Ｃ……被測定光フアイバ、７４Ａ，７４
Ｂ，７４Ｃ……光源、７６Ａ，７６Ｂ，７６Ｃ…
…光検出器、７８Ｂ，７８Ｃ，８０Ｂ，８０Ｃ…
…測定器側光フアイバ、８２Ｂ，８２Ｃ，８４
Ｂ，８４Ｃ……測定器側ホルダ。

Claims

【特許請求の範囲】１第１の光フアイバ１６の端部近傍を第１の支
持ブロツク１４に形成されたＶ溝１８の底部に載
置することによつて第１の光フアイバ１６を水平
に支持し且つ移動しないように固定し、一方、第２の光フアイバ３４の端部近傍を第１
の支持ブロツク１４に対して相対移動可能な第２
の支持ブロツク３０に形成され且つ上記Ｖ溝１８
とほぼ同じ高さを有するＶ溝３２の底部に載置す
ることによつて第２の光フアイバ３４を水平に支
持し且つ移動しないように固定し、この際、第２
の光フアイバ３４の先端部が、第１の支持ブロツ
ク１４から突出し且つ第１の光フアイバ１６の軸
線の延長線と直交する平面内において該延長線を
挟んで互いに対向して配置された２本のアーム２
２，２４に固定された少なくとも一対の光センサ
２６，２８の光出射端と光入射端とを結ぶ直線よ
りも第１の支持ブロツク１４側に来る状態で、第
２の光フアイバ３４を第１の光フアイバ１６と略
平行に配置し、次いで、２本の光フアイバ１６，３４の軸線方
向に対して直角な第１の方向へ第１の支持ブロツ
ク１４または第２の支持ブロツク３０を互いに相
対移動させ、第２の光フアイバ３４の先端が上記
一対の光センサ２６，２８の光出射端から光入射
端へ向かう光を遮断することによつて光センサ２
６，２８の光入射端で受ける光量が所定値以下に
減衰した時に第１の支持ブロツク１４と第２の支
持ブロツク３０との相対移動を停止し、その後、２本の光フアイバ１６，３４の一方か
ら他方へ送られる光量が最大となる位置まで２本
の光フアイバ１６，３４の軸線方向に対して直角
で且つ上記第１の方向に対して直角な第２の方向
へ第１の支持ブロツク１４または第２の支持ブロ
ツク３０を互いに相対移動させて、２本の光フア
イバ１６，３４の位置を微調整することを特徴と
する２本の光フアイバの互いに対向する端面を軸
合わせする方法。２上記一対の光センサ２６，２８が一対の光フ
アイバによつて構成されており、これら一対の光
フアイバの各コア径が80μｍ以下である特許請求
の範囲第１項に記載の方法。