JPH04362906A - 多心コネクタの軸ずれ検査方法 - Google Patents
多心コネクタの軸ずれ検査方法Info
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- JPH04362906A JPH04362906A JP3231682A JP23168291A JPH04362906A JP H04362906 A JPH04362906 A JP H04362906A JP 3231682 A JP3231682 A JP 3231682A JP 23168291 A JP23168291 A JP 23168291A JP H04362906 A JPH04362906 A JP H04362906A
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- fiber
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- fiber insertion
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- G02B6/00—Light guides; Structural details of arrangements comprising light guides and other optical elements, e.g. couplings
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- G02B6/3807—Dismountable connectors, i.e. comprising plugs
- G02B6/3833—Details of mounting fibres in ferrules; Assembly methods; Manufacture
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- G02B6/3843—Means for centering or aligning the light guide within the ferrule with auxiliary facilities for movably aligning or adjusting the fibre within its ferrule, e.g. measuring position or eccentricity
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- G—PHYSICS
- G02—OPTICS
- G02B—OPTICAL ELEMENTS, SYSTEMS OR APPARATUS
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- G02B6/24—Coupling light guides
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- G02B6/38—Mechanical coupling means having fibre to fibre mating means
- G02B6/3807—Dismountable connectors, i.e. comprising plugs
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- General Physics & Mathematics (AREA)
- Optics & Photonics (AREA)
- Mechanical Coupling Of Light Guides (AREA)
- Photometry And Measurement Of Optical Pulse Characteristics (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【0001】
【産業上の利用分野】本発明は、多心コネクタの軸ずれ
検査方法に関する。
検査方法に関する。
【0002】
【従来の技術】多心コネクタは、ガイドピンを相手側の
多心コネクタのピン孔に嵌合させて突合せ接続するもの
で、プラスチック製のフェルール内に、例えば、テープ
ファイバ等、複数の光ファイバを挿入し、これらを接着
剤で固定したものである。ここにおいて、前記フェルー
ルには、複数の光ファイバを挿入するファイバ孔あるい
はV溝が精密に形成されている。しかしながら、これら
の孔の形成精度が悪いと、他の多心コネクタと突合せ接
続したときに、突合わされる光ファイバ相互間の軸ずれ
によって接続ロスが発生し、安定した光通信の妨げとな
る。
多心コネクタのピン孔に嵌合させて突合せ接続するもの
で、プラスチック製のフェルール内に、例えば、テープ
ファイバ等、複数の光ファイバを挿入し、これらを接着
剤で固定したものである。ここにおいて、前記フェルー
ルには、複数の光ファイバを挿入するファイバ孔あるい
はV溝が精密に形成されている。しかしながら、これら
の孔の形成精度が悪いと、他の多心コネクタと突合せ接
続したときに、突合わされる光ファイバ相互間の軸ずれ
によって接続ロスが発生し、安定した光通信の妨げとな
る。
【0003】このため、多心コネクタにおいては、フェ
ルールの製造後、品質管理のために、光ファイバを仮止
めしたり、接着固定したりすることによって、各光ファ
イバの軸ずれを検査する必要があった。かかる方法とし
て、従来は、多心コネクタを互いに突合せ接続し、画像
処理技術を用いたり、接続ロスを測定することによって
、多心コネクタにおける光ファイバの軸ずれを検査して
いた。
ルールの製造後、品質管理のために、光ファイバを仮止
めしたり、接着固定したりすることによって、各光ファ
イバの軸ずれを検査する必要があった。かかる方法とし
て、従来は、多心コネクタを互いに突合せ接続し、画像
処理技術を用いたり、接続ロスを測定することによって
、多心コネクタにおける光ファイバの軸ずれを検査して
いた。
【0004】
【発明が解決しようとする課題】ところが、画像処理技
術を用いる場合には、突合せ接続される多心コネクタ相
互を、平面内で精密に位置決めできる高価な光学ステー
ジを必要とするうえ、測定に時間がかかるという問題が
あった。また、接続ロスを測定する場合には、各光ファ
イバの位置を測定しないことから、軸ズレを定量的に把
握することができなかった。更に、各光ファイバをフェ
ルールに接着固定しておかないと正確な測定ができず、
大きな軸ずれを生じた場合には、当該多心コネクタは使
用できず製造上の無駄があった。
術を用いる場合には、突合せ接続される多心コネクタ相
互を、平面内で精密に位置決めできる高価な光学ステー
ジを必要とするうえ、測定に時間がかかるという問題が
あった。また、接続ロスを測定する場合には、各光ファ
イバの位置を測定しないことから、軸ズレを定量的に把
握することができなかった。更に、各光ファイバをフェ
ルールに接着固定しておかないと正確な測定ができず、
大きな軸ずれを生じた場合には、当該多心コネクタは使
用できず製造上の無駄があった。
【0005】本発明は、上記の点に鑑みてなされたもの
で、多心コネクタにおける光ファイバの軸ずれを、安価
、且つ、迅速で、しかも製造上の無駄なく高精度に検査
できる方法を提供することを目的とする。
で、多心コネクタにおける光ファイバの軸ずれを、安価
、且つ、迅速で、しかも製造上の無駄なく高精度に検査
できる方法を提供することを目的とする。
【0006】
【課題を解決するための手段】上記目的を達成するため
本発明の多心コネクタの軸ずれ検査方法によれば、光フ
ァイバを挿通する複数のファイバ挿入孔を備えた基準コ
ネクタとサンプルコネクタとを所定位置に順次位置決め
し、前記各ファイバ挿入孔或いは当該ファイバ挿入孔の
夫々に挿通した各光ファイバから出射される検査光の位
置を位置検出センサで順次検出し、前記位置検出センサ
で検出される前記各検査光の位置に基づいて、前記基準
コネクタの各ファイバ挿入孔或いは当該ファイバ挿入孔
の夫々に挿通した各光ファイバに対する、前記サンプル
コネクタの対応する各ファイバ挿入孔或いは当該ファイ
バ挿入孔の夫々に挿通した各光ファイバの軸ずれ量を検
査する構成としたものである。
本発明の多心コネクタの軸ずれ検査方法によれば、光フ
ァイバを挿通する複数のファイバ挿入孔を備えた基準コ
ネクタとサンプルコネクタとを所定位置に順次位置決め
し、前記各ファイバ挿入孔或いは当該ファイバ挿入孔の
夫々に挿通した各光ファイバから出射される検査光の位
置を位置検出センサで順次検出し、前記位置検出センサ
で検出される前記各検査光の位置に基づいて、前記基準
コネクタの各ファイバ挿入孔或いは当該ファイバ挿入孔
の夫々に挿通した各光ファイバに対する、前記サンプル
コネクタの対応する各ファイバ挿入孔或いは当該ファイ
バ挿入孔の夫々に挿通した各光ファイバの軸ずれ量を検
査する構成としたものである。
【0007】位置検出センサは、当該検出センサの受光
面において、各コネクタに保持された光ファイバから出
射された検査光の位置を定量的に検出できれば特に限定
はなく、例えば、センサの受光面において、検査光のス
ポット位置を定量的に検出できるPSD(Positi
on Sensing Device)や多分割フォト
ダイオード等が用いられる。
面において、各コネクタに保持された光ファイバから出
射された検査光の位置を定量的に検出できれば特に限定
はなく、例えば、センサの受光面において、検査光のス
ポット位置を定量的に検出できるPSD(Positi
on Sensing Device)や多分割フォト
ダイオード等が用いられる。
【0008】
【作用】所定位置に順次位置決めされた各コネクタから
出射した各検査光は、位置検出センサへ導かれる。位置
検出センサは、このようにして到達する各コネクタの光
ファイバ或いはファイバ挿入孔から出射された検査光の
受光面における位置を検出する。
出射した各検査光は、位置検出センサへ導かれる。位置
検出センサは、このようにして到達する各コネクタの光
ファイバ或いはファイバ挿入孔から出射された検査光の
受光面における位置を検出する。
【0009】これら検査光の位置に基づいて、基準コネ
クタの各ファイバ挿入孔或いは当該ファイバ挿入孔の夫
々に挿通した各光ファイバに対する、サンプルコネクタ
の対応する各ファイバ挿入孔或いは当該ファイバ挿入孔
の夫々に挿通した各光ファイバの軸ずれ量が求まる。
クタの各ファイバ挿入孔或いは当該ファイバ挿入孔の夫
々に挿通した各光ファイバに対する、サンプルコネクタ
の対応する各ファイバ挿入孔或いは当該ファイバ挿入孔
の夫々に挿通した各光ファイバの軸ずれ量が求まる。
【0010】
【実施例】以下、本発明の第1の実施例を図1乃至図7
に基づいて詳細に説明する。図1は、本発明方法を実施
するための軸ずれ検査系の概略構成図で、軸ずれ検査系
1は、光源2、コネクタ取付部材3、光学系4、位置検
出センサ(以下、単に「PDS」という)5、PDS5
を光軸に対して直交する水平方向に移動させる移動ステ
ージ6及びPDS5が検出した各出射光の位置を記憶す
ると共に、軸ずれ量を演算する演算装置(ECU)7を
備えている。
に基づいて詳細に説明する。図1は、本発明方法を実施
するための軸ずれ検査系の概略構成図で、軸ずれ検査系
1は、光源2、コネクタ取付部材3、光学系4、位置検
出センサ(以下、単に「PDS」という)5、PDS5
を光軸に対して直交する水平方向に移動させる移動ステ
ージ6及びPDS5が検出した各出射光の位置を記憶す
ると共に、軸ずれ量を演算する演算装置(ECU)7を
備えている。
【0011】ここで、光源2は、後述する基準コネクタ
8及びサンプルコネクタ9から出射される検査光の強度
分布が均一となるように、一様で安定したものを使用す
る。コネクタ取付部材3は、基準コネクタ8及びサンプ
ルコネクタ9を取付ける取付部3a,3bが所定間隔を
置いて設けられ、各取付部3a,3bには、各コネクタ
8,9を位置決めする2条のV溝3c,3c(図3参照
)が夫々形成されている。
8及びサンプルコネクタ9から出射される検査光の強度
分布が均一となるように、一様で安定したものを使用す
る。コネクタ取付部材3は、基準コネクタ8及びサンプ
ルコネクタ9を取付ける取付部3a,3bが所定間隔を
置いて設けられ、各取付部3a,3bには、各コネクタ
8,9を位置決めする2条のV溝3c,3c(図3参照
)が夫々形成されている。
【0012】基準コネクタ8及びサンプルコネクタ9は
、共に構成が同一であるので、基準コネクタ8について
説明し、他のサンプルコネクタ9については、図中対応
する部分に対応する符号を付してその詳細な説明を省略
する。基準コネクタ8は、図2に示すように、フェルー
ル10に多心ファイバ11を取付けたものである。
、共に構成が同一であるので、基準コネクタ8について
説明し、他のサンプルコネクタ9については、図中対応
する部分に対応する符号を付してその詳細な説明を省略
する。基準コネクタ8は、図2に示すように、フェルー
ル10に多心ファイバ11を取付けたものである。
【0013】フェルール10は、本体10aに複数のフ
ァイバ挿入孔10bが形成されると共に、これらのファ
イバ挿入孔10bを挟む両側に2本のガイドピン10c
が植設されている。また、多心ファイバ11は、複数の
光ファイバ心線を合成樹脂で被覆したテープファイバで
、一端の被覆を除去して光ファイバ心線11a(図3参
照)毎に分離し、各心線11aをファイバ挿入孔10b
に挿通して接着剤で固定することにより、フェルール1
0に取付けられ、他端は光源2に光接続されている。 そして、基準コネクタ8は、フェルール10の突合せ端
面10dが、複数の光ファイバ心線11aと共に端面研
磨されている。
ァイバ挿入孔10bが形成されると共に、これらのファ
イバ挿入孔10bを挟む両側に2本のガイドピン10c
が植設されている。また、多心ファイバ11は、複数の
光ファイバ心線を合成樹脂で被覆したテープファイバで
、一端の被覆を除去して光ファイバ心線11a(図3参
照)毎に分離し、各心線11aをファイバ挿入孔10b
に挿通して接着剤で固定することにより、フェルール1
0に取付けられ、他端は光源2に光接続されている。 そして、基準コネクタ8は、フェルール10の突合せ端
面10dが、複数の光ファイバ心線11aと共に端面研
磨されている。
【0014】そして、基準コネクタ8は、図3に示すよ
うに、取付部3aに形成した2条のV溝3cでガイドピ
ン10c,10cを位置決めし、コネクタ取付部材3に
取付けられる。光学系4は、図1に示したように、複数
のプリズム4aと結像レンズ4bとを有しており、各コ
ネクタ8,9から出射される光源2からの検査光を、図
中に一点鎖線で示すように、光路を一致させてPDS5
上に結像させる。
うに、取付部3aに形成した2条のV溝3cでガイドピ
ン10c,10cを位置決めし、コネクタ取付部材3に
取付けられる。光学系4は、図1に示したように、複数
のプリズム4aと結像レンズ4bとを有しており、各コ
ネクタ8,9から出射される光源2からの検査光を、図
中に一点鎖線で示すように、光路を一致させてPDS5
上に結像させる。
【0015】本発明は、軸ずれ検査系1を用いて各コネ
クタ8,9に4心の多心ファイバ11を取付けたときの
各光ファイバ心線11aの軸ずれを、以下のようにして
検査する。先ず、ガイドピン10c,10cをV溝3c
,3cに固定して、基準コネクタ8をコネクタ取付部材
3の取付部3aに取付ける。
クタ8,9に4心の多心ファイバ11を取付けたときの
各光ファイバ心線11aの軸ずれを、以下のようにして
検査する。先ず、ガイドピン10c,10cをV溝3c
,3cに固定して、基準コネクタ8をコネクタ取付部材
3の取付部3aに取付ける。
【0016】次に、多心ファイバ11の第1の光ファイ
バ心線11aに検査光を入射する。すると、この検査光
は、光学系4を通ってPDS5に結像され、そのスポッ
ト位置が検出される。次いで、PDS5で検出された検
査光のスポット位置を、予め設定したX,Y軸に基づく
座標値として演算装置7に記憶させる。このときの値を
、例えば、(PXM1, PYM1)とする。
バ心線11aに検査光を入射する。すると、この検査光
は、光学系4を通ってPDS5に結像され、そのスポッ
ト位置が検出される。次いで、PDS5で検出された検
査光のスポット位置を、予め設定したX,Y軸に基づく
座標値として演算装置7に記憶させる。このときの値を
、例えば、(PXM1, PYM1)とする。
【0017】以下、同様にして、第2,第3,第4…と
全ての光ファイバ心線11aに検査光を順次入射してゆ
き、PDS5で検出される検査光のスポット位置(PX
M2,PYM2),( PXM3,PYM3),( P
XM4,PYM4)を演算装置7に記憶させてゆく。し
かる後、基準コネクタ8をコネクタ取付部材3の取付部
3bに切替え、多心ファイバ11の各光ファイバ心線1
1aについて、同様の操作を繰り返す。かくして、PD
S5で検出される検査光のスポット位置(PXN1,P
YN1),(PXN2,PYN2),(PXN3,PY
N3),(PXN4,PYN4)を、順次演算装置7に
記憶させてゆく。
全ての光ファイバ心線11aに検査光を順次入射してゆ
き、PDS5で検出される検査光のスポット位置(PX
M2,PYM2),( PXM3,PYM3),( P
XM4,PYM4)を演算装置7に記憶させてゆく。し
かる後、基準コネクタ8をコネクタ取付部材3の取付部
3bに切替え、多心ファイバ11の各光ファイバ心線1
1aについて、同様の操作を繰り返す。かくして、PD
S5で検出される検査光のスポット位置(PXN1,P
YN1),(PXN2,PYN2),(PXN3,PY
N3),(PXN4,PYN4)を、順次演算装置7に
記憶させてゆく。
【0018】このとき、PDS5は受光面積が小さいの
で、検査対象となる光ファイバ心線11aが変わる毎に
、移動ステージ6を所定量移動させ、検査光のスポット
位置が受光面の略中央に位置するように調節する。この
ようにして得られる各スポット位置から、次式で示され
るΔPX,ΔPYに関する値を演算装置7で求め、記憶
させておく。
で、検査対象となる光ファイバ心線11aが変わる毎に
、移動ステージ6を所定量移動させ、検査光のスポット
位置が受光面の略中央に位置するように調節する。この
ようにして得られる各スポット位置から、次式で示され
るΔPX,ΔPYに関する値を演算装置7で求め、記憶
させておく。
【0019】ΔPX1 =PXN1−PXM1, Δ
PX2 =PXN2−PXM2 ΔPX3 =PXN3−PXM3, ΔPX4 =P
XN4−PXM4 ΔPY1 =PYN1−PYM1, ΔPY2 =P
YN2−PYM2 ΔPY3 =PYN3−PYM3, ΔPY4 =P
YN4−PYM4 ここで、光学系4においては、本来、複数のプリズム4
a及び結像レンズ4bによって、各取付部3a,3bに
取付けられた多心コネクタからの検査光が同一の光路を
通過するように調節されている。しかし、かかる場合で
も僅かな光軸のずれがある。
PX2 =PXN2−PXM2 ΔPX3 =PXN3−PXM3, ΔPX4 =P
XN4−PXM4 ΔPY1 =PYN1−PYM1, ΔPY2 =P
YN2−PYM2 ΔPY3 =PYN3−PYM3, ΔPY4 =P
YN4−PYM4 ここで、光学系4においては、本来、複数のプリズム4
a及び結像レンズ4bによって、各取付部3a,3bに
取付けられた多心コネクタからの検査光が同一の光路を
通過するように調節されている。しかし、かかる場合で
も僅かな光軸のずれがある。
【0020】したがって、上記の式で表されるΔPX1
〜ΔPX4 及びΔPY1 〜ΔPY4 は、取付部
3a,3bに取付けた各コネクタ8,9の光学系4によ
る軸ずれ量を表している。また、多心ファイバ11の心
数が異なり、例えば、心数がnの場合には、最後のスポ
ット位置は取付部3aと取付部3bの各場合で、夫々(
PXMn,PYMn),(PXNn,PYNn)となり
、上記ΔPX及びΔPYに関する式は、夫々以下のよう
になる。
〜ΔPX4 及びΔPY1 〜ΔPY4 は、取付部
3a,3bに取付けた各コネクタ8,9の光学系4によ
る軸ずれ量を表している。また、多心ファイバ11の心
数が異なり、例えば、心数がnの場合には、最後のスポ
ット位置は取付部3aと取付部3bの各場合で、夫々(
PXMn,PYMn),(PXNn,PYNn)となり
、上記ΔPX及びΔPYに関する式は、夫々以下のよう
になる。
【0021】
ΔPXn =PXNn−PXMn, ΔPY
n =PYNn−PYMn次に、フェルール12に多心
ファイバ13が取付けられたサンプルコネクタ9の測定
を開始する。このとき、基準コネクタ8は取付部3aに
、サンプルコネクタ9は取付部3bに、夫々取付ける。 そして、上記と同様にして、各光ファイバ心線11a,
13aを伝送されてくる検査光を順次PSD5で検出し
、各検査光のスポット位置を求め、演算装置7に記憶し
て行く。
n =PYNn−PYMn次に、フェルール12に多心
ファイバ13が取付けられたサンプルコネクタ9の測定
を開始する。このとき、基準コネクタ8は取付部3aに
、サンプルコネクタ9は取付部3bに、夫々取付ける。 そして、上記と同様にして、各光ファイバ心線11a,
13aを伝送されてくる検査光を順次PSD5で検出し
、各検査光のスポット位置を求め、演算装置7に記憶し
て行く。
【0022】ここで、例えば、基準コネクタ8における
第1の光ファイバ心線11aのスポット位置と、サンプ
ルコネクタ9の第1の光ファイバ心線13aのスポット
位置は、上記と同様にして、夫々(XM1, YMI)
,(XN1,YN1) と表す。そして、第1の光ファ
イバ心線11aに対する第1の光ファイバ心線13aの
、X軸及びY軸に関する相対的な軸ずれ量ΔX1,ΔY
1 を、演算装置7によって次式により算出する。
第1の光ファイバ心線11aのスポット位置と、サンプ
ルコネクタ9の第1の光ファイバ心線13aのスポット
位置は、上記と同様にして、夫々(XM1, YMI)
,(XN1,YN1) と表す。そして、第1の光ファ
イバ心線11aに対する第1の光ファイバ心線13aの
、X軸及びY軸に関する相対的な軸ずれ量ΔX1,ΔY
1 を、演算装置7によって次式により算出する。
【0023】
ΔX1 =(XN1−XM1)−ΔPX1 ΔY1 =
(YN1−YMI)−ΔPY1 以下、他の光ファイバ
心線についても、同様にして、相対的な軸ずれ量ΔX2
,ΔX3,ΔX4 及びΔY2,ΔY3,ΔY4 を、
演算装置7によって算出する。このようにして、各光フ
ァイバ心線13aの対応する光ファイバ心線11aに対
する相対的な軸ずれ量を、光学ステージ等の高価な装置
を用いることなく簡単に検査・測定することができる。
(YN1−YMI)−ΔPY1 以下、他の光ファイバ
心線についても、同様にして、相対的な軸ずれ量ΔX2
,ΔX3,ΔX4 及びΔY2,ΔY3,ΔY4 を、
演算装置7によって算出する。このようにして、各光フ
ァイバ心線13aの対応する光ファイバ心線11aに対
する相対的な軸ずれ量を、光学ステージ等の高価な装置
を用いることなく簡単に検査・測定することができる。
【0024】上記検査方法において、各光ファイバ心線
の軸ずれ検査における測定精度は、位置検出センサに多
分割ダイオードを使用したときには、0.2μm程度の
サブミクロンオーダーで得られた。また、本発明方法に
おいては、サンプルコネクタ9は多心ファイバ13をフ
ェルール12に接着固定していない、仮付けの状態であ
っても実施可能である。
の軸ずれ検査における測定精度は、位置検出センサに多
分割ダイオードを使用したときには、0.2μm程度の
サブミクロンオーダーで得られた。また、本発明方法に
おいては、サンプルコネクタ9は多心ファイバ13をフ
ェルール12に接着固定していない、仮付けの状態であ
っても実施可能である。
【0025】かかる場合には、図4及び図5に示すよう
に、前記した軸ずれ検査系1に、サンプルコネクタ9の
フェルール12に多心ファイバ13を挿着する挿着ステ
ージ20を付加する。尚、図4及び図5においては、光
学系4、PDS5、移動ステージ6及び演算装置7は図
示していない。挿着ステージ20は、図5に示したよう
に、多心ファイバ13を保持する保持ブロック20aを
駆動シリンダ20bで前進させることにより、例えば、
V溝(図示せず)によって案内しながら、各光ファイバ
心線13aをフェルール12のファイバ挿入孔12bに
挿入するもので、コネクタ取付部材3の取付部3b近傍
に設置する。
に、前記した軸ずれ検査系1に、サンプルコネクタ9の
フェルール12に多心ファイバ13を挿着する挿着ステ
ージ20を付加する。尚、図4及び図5においては、光
学系4、PDS5、移動ステージ6及び演算装置7は図
示していない。挿着ステージ20は、図5に示したよう
に、多心ファイバ13を保持する保持ブロック20aを
駆動シリンダ20bで前進させることにより、例えば、
V溝(図示せず)によって案内しながら、各光ファイバ
心線13aをフェルール12のファイバ挿入孔12bに
挿入するもので、コネクタ取付部材3の取付部3b近傍
に設置する。
【0026】そして、先ず、フェルール10を取付部3
aに取付けて、光源2と光学系4との間を光学的に接続
する。次いで、ガイドピン12c,12cによって位置
決めし、フェルール12のみを取付部3bに取付ける。 しかる後、鏡面切断され、ファイバ心線13a毎に分離
された多心ファイバ13の一端側を、挿着ステージ20
の保持ブロック20aに取付ける。ここにおいて、多心
ファイバ13の他端は、予め、光源2に接続されている
。
aに取付けて、光源2と光学系4との間を光学的に接続
する。次いで、ガイドピン12c,12cによって位置
決めし、フェルール12のみを取付部3bに取付ける。 しかる後、鏡面切断され、ファイバ心線13a毎に分離
された多心ファイバ13の一端側を、挿着ステージ20
の保持ブロック20aに取付ける。ここにおいて、多心
ファイバ13の他端は、予め、光源2に接続されている
。
【0027】次に、挿着ステージ20を操作し、複数の
ファイバ心線13aをフェルール12の対応する各ファ
イバ挿入孔12bに一括して挿入し、突合せ端面12d
で各ファイバ心線13aの端面を位置決めする。このよ
うにして多心ファイバ13をフェルール12に仮付けし
た状態で、上記したように、各コネクタ10,12に保
持された各光ファイバ心線11a,13a毎に軸ずれを
検査する。
ファイバ心線13aをフェルール12の対応する各ファ
イバ挿入孔12bに一括して挿入し、突合せ端面12d
で各ファイバ心線13aの端面を位置決めする。このよ
うにして多心ファイバ13をフェルール12に仮付けし
た状態で、上記したように、各コネクタ10,12に保
持された各光ファイバ心線11a,13a毎に軸ずれを
検査する。
【0028】このように、多心ファイバ13を仮付けし
た状態で検査すると、基準コネクタ8と多心ファイバ1
3はそのままで、サンプルコネクタ9のみを交換して軸
ずれを検査できるので、検査を自動化することが可能と
なる。しかも、検査したサンプルコネクタ9のフェルー
ル12において、ファイバ挿入孔12bの軸ずれ量が大
きく製品として使用不能の場合には、フェルール12の
みを破棄すればよい。このため、フェルール12に多心
ファイバ13を接着固定した場合に比べ、製造上の無駄
がない。
た状態で検査すると、基準コネクタ8と多心ファイバ1
3はそのままで、サンプルコネクタ9のみを交換して軸
ずれを検査できるので、検査を自動化することが可能と
なる。しかも、検査したサンプルコネクタ9のフェルー
ル12において、ファイバ挿入孔12bの軸ずれ量が大
きく製品として使用不能の場合には、フェルール12の
みを破棄すればよい。このため、フェルール12に多心
ファイバ13を接着固定した場合に比べ、製造上の無駄
がない。
【0029】このように軸ずれ検査を自動化した場合、
サンプルコネクタ9への挿入に際して、ファイバ心線1
3aの折損等、挿入事故が発生することがある。このよ
うな場合、挿入事故が発生したファイバ心線13aを伝
送されてくる検査光は、殆ど、PDS5に到達しない。 このため、PDS5における受光量がゼロとなるので、
演算装置7において、受光量から挿入事故の発生の有無
を判断し、事故発生なしと判断した場合のみ、上記測定
を実行するようにすればよい。
サンプルコネクタ9への挿入に際して、ファイバ心線1
3aの折損等、挿入事故が発生することがある。このよ
うな場合、挿入事故が発生したファイバ心線13aを伝
送されてくる検査光は、殆ど、PDS5に到達しない。 このため、PDS5における受光量がゼロとなるので、
演算装置7において、受光量から挿入事故の発生の有無
を判断し、事故発生なしと判断した場合のみ、上記測定
を実行するようにすればよい。
【0030】更に、本発明方法においては、基準コネク
タ8及びサンプルコネクタ9に多心ファイバ11を仮付
けせず、ファイバ挿入孔の位置を測定することによって
も、軸ずれ検査を実行することができる。かかる場合に
は、例えば、図6及び図7に示すように、光源からの検
査光は複数のプリズム21によって、一点鎖線で示した
ように、2系統に分離して各検査光を夫々基準コネクタ
8及びサンプルコネクタ9のファイバ挿入孔に入射させ
る光学系を使用する。
タ8及びサンプルコネクタ9に多心ファイバ11を仮付
けせず、ファイバ挿入孔の位置を測定することによって
も、軸ずれ検査を実行することができる。かかる場合に
は、例えば、図6及び図7に示すように、光源からの検
査光は複数のプリズム21によって、一点鎖線で示した
ように、2系統に分離して各検査光を夫々基準コネクタ
8及びサンプルコネクタ9のファイバ挿入孔に入射させ
る光学系を使用する。
【0031】また、光源からの検査光は、コネクタ取付
部材3と光学系4との間に配置した遮光板22によって
切替えることにより、夫々基準コネクタ8或いはサンプ
ルコネクタ9からPSD5に順次入射するように設定す
る。このようにすると、前記のごとく、検査したフェル
ールの軸ずれが大きかったときには、不良品のフェルー
ルのみを破棄すれば良いという利点があることに加え、
検査光を2系統に分離して同一の光源を用いることによ
って、光源の不安定要素を除去することができるという
利点がある。
部材3と光学系4との間に配置した遮光板22によって
切替えることにより、夫々基準コネクタ8或いはサンプ
ルコネクタ9からPSD5に順次入射するように設定す
る。このようにすると、前記のごとく、検査したフェル
ールの軸ずれが大きかったときには、不良品のフェルー
ルのみを破棄すれば良いという利点があることに加え、
検査光を2系統に分離して同一の光源を用いることによ
って、光源の不安定要素を除去することができるという
利点がある。
【0032】次に、本発明の第2の実施例を、図8及び
第1の実施例に係る図2及び図3を参照しつつ詳細に説
明する。尚、以下の説明において、前記した第1の実施
例の構成要素と対応するものには図中同一の符合を付し
て詳細な説明を省略する。図8は、軸ずれ検査系の概略
構成図で、軸ずれ検査系30は、光源2、コネクタ取付
部材3、結像レンズ(光学系)4、位置検出センサ(以
下、単に「PDS」という)5、PDS5を光軸に対し
て直交する水平方向に移動させる移動ステージ6及びP
DS5が検出した各出射光の位置を記憶すると共に、軸
ずれ量を演算する演算装置(ECU)7を備えている。
第1の実施例に係る図2及び図3を参照しつつ詳細に説
明する。尚、以下の説明において、前記した第1の実施
例の構成要素と対応するものには図中同一の符合を付し
て詳細な説明を省略する。図8は、軸ずれ検査系の概略
構成図で、軸ずれ検査系30は、光源2、コネクタ取付
部材3、結像レンズ(光学系)4、位置検出センサ(以
下、単に「PDS」という)5、PDS5を光軸に対し
て直交する水平方向に移動させる移動ステージ6及びP
DS5が検出した各出射光の位置を記憶すると共に、軸
ずれ量を演算する演算装置(ECU)7を備えている。
【0033】コネクタ取付部材3は、図8に示すように
、基準コネクタ8及びサンプルコネクタ9を取付ける取
付部3aが設けられ、取付部3aには、各コネクタ8,
9を位置決めするV溝3c(図3参照)が形成されてい
る。ここで、結像レンズ4は、図8に示したように、基
準コネクタ8あるいはサンプルコネクタ9から出射され
る光源2からの検査光を、PDS5上に結像させる。
、基準コネクタ8及びサンプルコネクタ9を取付ける取
付部3aが設けられ、取付部3aには、各コネクタ8,
9を位置決めするV溝3c(図3参照)が形成されてい
る。ここで、結像レンズ4は、図8に示したように、基
準コネクタ8あるいはサンプルコネクタ9から出射され
る光源2からの検査光を、PDS5上に結像させる。
【0034】本発明は、上記軸ずれ検査系30を用いて
各コネクタ8,9に4心の多心ファイバ11を取付けた
ときの、基準コネクタ8に対するサンプルコネクタ9の
軸ずれを、以下のようにして検査する。先ず、ガイドピ
ン10c,10cをV溝3c,3cに固定して、基準コ
ネクタ8をコネクタ取付部材3の取付部3aに取付ける
。
各コネクタ8,9に4心の多心ファイバ11を取付けた
ときの、基準コネクタ8に対するサンプルコネクタ9の
軸ずれを、以下のようにして検査する。先ず、ガイドピ
ン10c,10cをV溝3c,3cに固定して、基準コ
ネクタ8をコネクタ取付部材3の取付部3aに取付ける
。
【0035】次に、多心ファイバ11の第1の光ファイ
バ心線11aに検査光を入射する。すると、この検査光
は、結像レンズ4を通ってPDS5に結像され、そのス
ポット位置が検出される。次いで、PDS5で検出され
た検査光のスポット位置を、予め設定したX,Y軸に基
づく座標値として演算装置7に記憶させる。このときの
値を、例えば、(XM1,YM1) とする。
バ心線11aに検査光を入射する。すると、この検査光
は、結像レンズ4を通ってPDS5に結像され、そのス
ポット位置が検出される。次いで、PDS5で検出され
た検査光のスポット位置を、予め設定したX,Y軸に基
づく座標値として演算装置7に記憶させる。このときの
値を、例えば、(XM1,YM1) とする。
【0036】次に、基準コネクタ8をコネクタ取付部材
3の取付部3aから取り外し、サンプルコネクタ9を取
付部3aに取付ける。しかる後、多心ファイバ13の第
2の光ファイバ心線13aに検査光を入射して、PDS
5で検出される検査光のスポット位置(XN1,YN1
)を演算装置7に記憶させる。この間、移動ステージ6
は固定しておき水平方向には動かさない。
3の取付部3aから取り外し、サンプルコネクタ9を取
付部3aに取付ける。しかる後、多心ファイバ13の第
2の光ファイバ心線13aに検査光を入射して、PDS
5で検出される検査光のスポット位置(XN1,YN1
)を演算装置7に記憶させる。この間、移動ステージ6
は固定しておき水平方向には動かさない。
【0037】そして、第1の光ファイバ心線11aに対
する第2の光ファイバ心線13aのX軸及びY軸に関す
る相対的な軸ずれ量ΔX1 ,ΔY1 を、演算装置7
によって次式により算出する。 ΔX1 =XN1−XM1, ΔY1 =YN1
−YM1以下、他の光ファイバ心線についても、同様に
して、相対的な軸ずれ量ΔX2,ΔX3,ΔX4 及び
ΔY2,ΔY3,ΔY4 を演算装置7によって算出す
る。
する第2の光ファイバ心線13aのX軸及びY軸に関す
る相対的な軸ずれ量ΔX1 ,ΔY1 を、演算装置7
によって次式により算出する。 ΔX1 =XN1−XM1, ΔY1 =YN1
−YM1以下、他の光ファイバ心線についても、同様に
して、相対的な軸ずれ量ΔX2,ΔX3,ΔX4 及び
ΔY2,ΔY3,ΔY4 を演算装置7によって算出す
る。
【0038】このとき、PDS5は、一般に受光面積が
小さく、第1の光ファイバ心線から第4の光ファイバ心
線に及ぶ検査光を同時に受光することができないので、
検査対象となる各光ファイバ心線が変わる毎に、移動ス
テージ6を所定量移動させ、各光ファイバ心線からの検
査光のスポット位置が受光面の略中央に位置するように
調節する。
小さく、第1の光ファイバ心線から第4の光ファイバ心
線に及ぶ検査光を同時に受光することができないので、
検査対象となる各光ファイバ心線が変わる毎に、移動ス
テージ6を所定量移動させ、各光ファイバ心線からの検
査光のスポット位置が受光面の略中央に位置するように
調節する。
【0039】このようにして、各光ファイバ心線13a
の対応する光ファイバ心線11aに対する相対的な軸ず
れ量を、光学ステージ等の高価な装置を用いることなく
簡単に検査・測定することができる。上記検査方法にお
いて、位置検出センサにPSDを使用したところ、各光
ファイバ心線の軸ずれ検査における測定精度は、0.2
μm以下のサブミクロンオーダーで得られた。
の対応する光ファイバ心線11aに対する相対的な軸ず
れ量を、光学ステージ等の高価な装置を用いることなく
簡単に検査・測定することができる。上記検査方法にお
いて、位置検出センサにPSDを使用したところ、各光
ファイバ心線の軸ずれ検査における測定精度は、0.2
μm以下のサブミクロンオーダーで得られた。
【0040】また、本実施例においても、第1の実施例
と同様に、サンプルコネクタ9は多心ファイバ13をフ
ェルール12に接着固定していない、仮付けの状態であ
っても実施可能である。この場合、検査したサンプルコ
ネクタ9のフェルール12において、ファイバ挿入孔1
2bの軸ずれ量が大きく、製品として使用不能の場合に
は、フェルール12のみを破棄すればよく、多心ファイ
バ13を接着固定した場合に比べ、製造上の無駄がない
。
と同様に、サンプルコネクタ9は多心ファイバ13をフ
ェルール12に接着固定していない、仮付けの状態であ
っても実施可能である。この場合、検査したサンプルコ
ネクタ9のフェルール12において、ファイバ挿入孔1
2bの軸ずれ量が大きく、製品として使用不能の場合に
は、フェルール12のみを破棄すればよく、多心ファイ
バ13を接着固定した場合に比べ、製造上の無駄がない
。
【0041】更に、本実施例では、基準コネクタ8及び
サンプルコネクタ9に多心ファイバ11を仮付けせず、
ファイバ挿入孔の位置を測定することによっても、軸ず
れ検査を実行することができる。この場合、前記と同様
に、検査したフェルールの軸ずれが大きかったときには
、不良品のフェルールのみを破棄すれば良いという利点
がある。
サンプルコネクタ9に多心ファイバ11を仮付けせず、
ファイバ挿入孔の位置を測定することによっても、軸ず
れ検査を実行することができる。この場合、前記と同様
に、検査したフェルールの軸ずれが大きかったときには
、不良品のフェルールのみを破棄すれば良いという利点
がある。
【0042】
【発明の効果】以上の説明で明らかなように、本発明の
多心コネクタの軸ずれ検査方法によれば、簡単な検査系
により、多心コネクタにおける光ファイバの軸ずれを安
価、且つ、迅速で、しかも製造上の無駄を生ずることな
く高精度に検査することができる。
多心コネクタの軸ずれ検査方法によれば、簡単な検査系
により、多心コネクタにおける光ファイバの軸ずれを安
価、且つ、迅速で、しかも製造上の無駄を生ずることな
く高精度に検査することができる。
【図1】本発明の多心コネクタの軸ずれ検査方法にかか
る第1の実施例を説明するもので、本発明方法に用いる
軸ずれ検査系の概略構成図である。
る第1の実施例を説明するもので、本発明方法に用いる
軸ずれ検査系の概略構成図である。
【図2】多心コネクタの斜視図である。
【図3】多心コネクタの位置決めを示す要部断面図であ
る。
る。
【図4】第1の実施例の変更例を説明するもので、軸ず
れ検査系の要部を示す概略構成図である。
れ検査系の要部を示す概略構成図である。
【図5】第1の実施例の変更例において、多心ファイバ
をフェルールに挿通する挿着ステージを示すもので、コ
ネクタ取付部材を断面にして示した側面図である。
をフェルールに挿通する挿着ステージを示すもので、コ
ネクタ取付部材を断面にして示した側面図である。
【図6】第1の実施例の更に他の変更例を説明するもの
で、軸ずれ検査系の概略構成図である。
で、軸ずれ検査系の概略構成図である。
【図7】図6において、コネクタ取付部材を断面にして
示す要部正面図である。
示す要部正面図である。
【図8】本発明の本発明の多心コネクタの軸ずれ検査方
法にかかる第2の実施例を説明するもので、本発明方法
に用いる軸ずれ検査系の概略構成図である。
法にかかる第2の実施例を説明するもので、本発明方法
に用いる軸ずれ検査系の概略構成図である。
1 軸ずれ検査系2
光源 3 コネクタ取付部材4
光学系4a
プリズム4b 結像
レンズ5 PDS(位置検
出センサ)8 基準コネク
タ9 サンプルコネクタ1
0,12 フェルール 10b,11b ファイバ挿入孔 11,13 多心ファイバ 11a,13a 光ファイバ心線 20 挿着ステージ21
プリズム22
遮光板
光源 3 コネクタ取付部材4
光学系4a
プリズム4b 結像
レンズ5 PDS(位置検
出センサ)8 基準コネク
タ9 サンプルコネクタ1
0,12 フェルール 10b,11b ファイバ挿入孔 11,13 多心ファイバ 11a,13a 光ファイバ心線 20 挿着ステージ21
プリズム22
遮光板
Claims (1)
- 【請求項1】 光ファイバを挿通する複数のファイバ
挿入孔を備えた基準コネクタとサンプルコネクタとを所
定位置に順次位置決めし、前記各ファイバ挿入孔或いは
当該ファイバ挿入孔の夫々に挿通した各光ファイバから
出射される検査光の位置を位置検出センサで順次検出し
、前記位置検出センサで検出される前記各検査光の位置
に基づいて、前記基準コネクタの各ファイバ挿入孔或い
は当該ファイバ挿入孔の夫々に挿通した各光ファイバに
対する、前記サンプルコネクタの対応する各ファイバ挿
入孔或いは当該ファイバ挿入孔の夫々に挿通した各光フ
ァイバの軸ずれ量を検査することを特徴とする多心コネ
クタの軸ずれ検査方法。
Priority Applications (6)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP3231682A JPH04362906A (ja) | 1990-11-13 | 1991-09-11 | 多心コネクタの軸ずれ検査方法 |
| US07/790,638 US5177557A (en) | 1990-11-13 | 1991-11-08 | Method for inspecting axis dislocation of multifiber connector |
| KR1019910020017A KR950006461B1 (ko) | 1990-11-13 | 1991-11-12 | 다심광커넥터의 축어긋남검사방법 |
| CA002055311A CA2055311A1 (en) | 1990-11-13 | 1991-11-12 | Method for inspecting axis dislocation of multifiber connector |
| DE69119197T DE69119197D1 (de) | 1990-11-13 | 1991-11-13 | Methode zur Inspektion von Achsenversetzungen von optischen Multifasersteckern |
| EP91310460A EP0486272B1 (en) | 1990-11-13 | 1991-11-13 | Method for inspecting axis dislocation of multifiber connector |
Applications Claiming Priority (3)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP2-306624 | 1990-11-13 | ||
| JP30662490 | 1990-11-13 | ||
| JP3231682A JPH04362906A (ja) | 1990-11-13 | 1991-09-11 | 多心コネクタの軸ずれ検査方法 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH04362906A true JPH04362906A (ja) | 1992-12-15 |
Family
ID=26530023
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP3231682A Pending JPH04362906A (ja) | 1990-11-13 | 1991-09-11 | 多心コネクタの軸ずれ検査方法 |
Country Status (6)
| Country | Link |
|---|---|
| US (1) | US5177557A (ja) |
| EP (1) | EP0486272B1 (ja) |
| JP (1) | JPH04362906A (ja) |
| KR (1) | KR950006461B1 (ja) |
| CA (1) | CA2055311A1 (ja) |
| DE (1) | DE69119197D1 (ja) |
Families Citing this family (13)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US5258613A (en) * | 1992-10-29 | 1993-11-02 | Hirose Electric Co., Ltd. | Apparatus for mounting optical fiber in ferrule |
| GB9616191D0 (en) * | 1996-08-01 | 1996-09-11 | Phillips Michael J | Inspection apparatus |
| KR100437080B1 (ko) * | 2002-01-17 | 2004-06-23 | 박희재 | 광커넥터용 페룰 검사기 및 그 방법 |
| US7042562B2 (en) * | 2002-12-26 | 2006-05-09 | Amphenol Corp. | Systems and methods for inspecting an optical interface |
| RU2263470C1 (ru) * | 2004-03-15 | 2005-11-10 | Сидор Марьян Владимирович | Способ диагностики дислокации зубовидного отростка аксиса |
| CN100392459C (zh) * | 2006-07-05 | 2008-06-04 | 仪和仪美(北京)科技有限公司 | 光纤插座及光纤插头 |
| US9195011B2 (en) * | 2008-12-11 | 2015-11-24 | Afl Telecommunications Llc | “Secured” fiber optic connecting system and method using offset fiber position in a single-fiber connector |
| US8419292B2 (en) * | 2008-12-11 | 2013-04-16 | Afl Telecommunications Llc | “Secured” fiber optic connecting system and method using different fiber positions of a multi-fiber connector |
| US8699012B2 (en) * | 2010-03-17 | 2014-04-15 | Tyco Electronics Nederland B.V. | Optical fiber alignment measurement method and apparatus |
| CN103064156B (zh) * | 2012-12-28 | 2015-08-26 | 西安炬光科技有限公司 | 用于半导体激光器光纤耦合模块的连接装置 |
| US9442005B2 (en) | 2014-07-30 | 2016-09-13 | Corning Optical Communications LLC | Non-contact methods of measuring insertion loss in optical fiber connectors |
| US20170074751A1 (en) * | 2015-09-11 | 2017-03-16 | Fluke Corporation | System and method for non-intrusive detection of optical energy leakage from optical fibers |
| US10591681B2 (en) | 2017-07-13 | 2020-03-17 | Nest Technical Services, Inc. | Multichannel fiber optic connector, adapter, and contact retention method |
Family Cites Families (8)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US3938895A (en) * | 1974-08-19 | 1976-02-17 | Gte Laboratories Incorporated | Method for positioning an optical fiber |
| FR2593928B1 (fr) * | 1986-01-24 | 1990-08-17 | Souriau & Cie | Procede et appareillage pour positionner et immobiliser une terminaison de fibre optique dans un embout de connexion, embout de connexion et connecteur optique ainsi realises |
| CA1318533C (en) * | 1988-01-07 | 1993-06-01 | Hisaharu Yanagawa | Optical switch system |
| DE3811029A1 (de) * | 1988-03-31 | 1989-10-19 | Siemens Ag | Vorrichtung zur kernlagemessung an stirnflaechen von lichtwellenleitern |
| DE3824255A1 (de) * | 1988-07-14 | 1990-01-18 | Siemens Ag | Verfahren und vorrichtung zur exzentrizitaetsmessung |
| DE3833275A1 (de) * | 1988-09-30 | 1990-04-05 | Siemens Ag | Justier- und messeinrichtung fuer loesbare steckverbindungen von lichtwellenleitern |
| DE3836954A1 (de) * | 1988-10-29 | 1990-05-03 | Philips Patentverwaltung | Verfahren und anordnung zur ermittlung der lage der optischen achse eines lwl |
| GB8917737D0 (en) * | 1989-08-03 | 1989-09-20 | Bicc Plc | Optical measurement system |
-
1991
- 1991-09-11 JP JP3231682A patent/JPH04362906A/ja active Pending
- 1991-11-08 US US07/790,638 patent/US5177557A/en not_active Expired - Fee Related
- 1991-11-12 KR KR1019910020017A patent/KR950006461B1/ko not_active Expired - Fee Related
- 1991-11-12 CA CA002055311A patent/CA2055311A1/en not_active Abandoned
- 1991-11-13 DE DE69119197T patent/DE69119197D1/de not_active Expired - Lifetime
- 1991-11-13 EP EP91310460A patent/EP0486272B1/en not_active Expired - Lifetime
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| EP0486272B1 (en) | 1996-05-01 |
| DE69119197D1 (de) | 1996-06-05 |
| KR950006461B1 (ko) | 1995-06-15 |
| US5177557A (en) | 1993-01-05 |
| CA2055311A1 (en) | 1992-05-14 |
| EP0486272A3 (en) | 1992-09-30 |
| KR920010263A (ko) | 1992-06-26 |
| EP0486272A2 (en) | 1992-05-20 |
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