JPH0460773A - Layout verifying device - Google Patents

Layout verifying device

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Publication number
JPH0460773A
JPH0460773A JP2171717A JP17171790A JPH0460773A JP H0460773 A JPH0460773 A JP H0460773A JP 2171717 A JP2171717 A JP 2171717A JP 17171790 A JP17171790 A JP 17171790A JP H0460773 A JPH0460773 A JP H0460773A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
connection information
information
layout
extracted
iii
Prior art date
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Pending
Application number
JP2171717A
Other languages
Japanese (ja)
Inventor
Hideya Horikawa
堀川 英弥
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
NEC Corp
Original Assignee
NEC Corp
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Filing date
Publication date
Application filed by NEC Corp filed Critical NEC Corp
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Publication of JPH0460773A publication Critical patent/JPH0460773A/en
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Abstract

PURPOSE:To reduce pseudo errors in the verification of a layout by shorting and removing information on a non-extracted element form connection information before collation is executed. CONSTITUTION:A layout verifying device 10 inputs first connection information 13 being the reference of layout generation in a circuit element and second connection information 14 extracted from layout information so as to collate them. A processing part 11 removes information on the non-extracted element which cannot be extracted by a method obtaining second connection information 14 from layout information from first connection information 13 and generates third connection information. A collation part 12 collates generated third connection information with second connection information 14 and outputs a collation result 17. The processing part 11 generates third connection information 16 based on control information 15 including non-extracted element information which is separately inputted and connection information on a circuit after the non-extracted element is removed.

Description

【発明の詳細な説明】 〔産業上の利用分野〕 本発明はLSI等の設計においてレイアウト検証を行う
レイアウト検証装置に利用する。
DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION [Industrial Application Field] The present invention is applied to a layout verification device that performs layout verification in the design of LSI and the like.

〔概要〕〔overview〕

本発明は、回路素子のレイアウト作成の基準となった接
続情報(1)と、レイアウト情報から抽出した接続情報
(II)との照合を行うレイアウト検証装置において、 レイアウトから接続情報を得る方法では抽出できない非
抽出素子に関する情報を接続情報(III)から除去し
た後、接続情報(II)と照合することにより、 疑似エラーの発生を削減したものである。
The present invention provides a layout verification device that collates connection information (1) that is a reference for creating a layout of circuit elements with connection information (II) extracted from the layout information. The occurrence of pseudo errors is reduced by removing information about non-extracted elements that cannot be extracted from the connection information (III) and then comparing it with the connection information (II).

〔従来の技術〕[Conventional technology]

従来、この種のレイアウト検証装置では、LS■等のレ
イアウト情報から接続情報を抽出する際、図形演算処理
の制限から、多結晶シリコン配線で作成された抵抗素子
やデプレッション形MO3FETで構成された抵抗素子
を、一般配線として認識してしまい、抵抗素子としての
抽出が困難といった問題点があった。そのため、抵抗素
子を認識させるた給の特別なデータをレイアウト上に作
成していた。
Conventionally, in this type of layout verification device, when extracting connection information from layout information such as LS■, due to limitations in graphical calculation processing, a resistor element made of polycrystalline silicon wiring or a resistor composed of a depletion type MO3FET was used. There is a problem in that the element is recognized as a general wiring, making it difficult to extract it as a resistive element. Therefore, special data has been created on the layout to help recognize the resistive elements.

〔発明が解決しようとする課題〕[Problem to be solved by the invention]

前述した従来のレイアウト検証装置では、LSI等のレ
イアウト情報から接続情報を抽出する際、図形演算処理
の制限から、多結晶シリコン配線で作成された抵抗素子
やデプレッション形MO3FETで構成された抵抗素子
を、一般配線として認識してしまい、抵抗素子としての
抽出が困難であった。その結果、レイアウト情報から抽
出された接続情報には抵抗素子の情報が欠落しているた
約、レイアウト作成の基準となった接続情報と照合する
と、疑似エラーが出力されることになる。
In the conventional layout verification device described above, when extracting connection information from the layout information of LSI etc., due to the limitations of graphical calculation processing, it is difficult to use a resistance element made of polycrystalline silicon wiring or a resistance element composed of a depletion type MO3FET. , it was recognized as a general wiring, and it was difficult to extract it as a resistance element. As a result, since the connection information extracted from the layout information lacks information on the resistive elements, a pseudo error will be output when compared with the connection information that was the basis for creating the layout.

一般に、レイアウト検証装置は照合結果に対して大量の
エラーメツセージを出力するが、その中から真のエラー
と疑似エラーとを分類する作業は人手で行うた約、分類
作業に大量の工数を費やしたり、真のエラーを見逃す危
険性もある。そのた約、レイアウト検証装置には疑似エ
ラー出力を極力削減することが要求される。
Generally, layout verification equipment outputs a large number of error messages in response to verification results, but the task of classifying true errors and pseudo errors from among them is done manually, and a large amount of man-hours are spent on the classification work. , there is also the risk of missing a true error. To this end, the layout verification device is required to reduce pseudo error output as much as possible.

これを避ける手段として、図形演算で抵抗素子を認識さ
せるた約の特別なデータをレイアウト上に作成すること
があるが、工数面および信頼性の面で問題があった。
One way to avoid this is to create special data on the layout that allows the resistor elements to be recognized using graphical calculations, but this poses problems in terms of man-hours and reliability.

本発明の目的は、前述の問題点を解消することにより、
疑似エラーの発生を削減したレイアウト検証装置を提供
することにある。
The purpose of the present invention is to solve the above-mentioned problems.
An object of the present invention is to provide a layout verification device that reduces the occurrence of pseudo errors.

〔課題を解決するた必の手段〕[Indispensable means to solve problems]

本発明は、回路素子のレイアウト作成の基準となった第
一の接続情報(III)と、レイアウト情報から抽出し
た第二の接続情報(II)とを入力し照合を行う手段を
備えたレイアウト検証装置において、レイアウト情報か
ら第二の接続情報(II)を得る方法では抽出できない
非抽出素子に関する情報を前記第一の接続情報(1)か
ら除去した第三の接続情報(III)を生成する処理手
段と、この生成された第三の接続情報(DI)と前記第
二の接続情報(I[)とを照合し照合結果を出力する照
合手段とを備えたことを特徴とする。
The present invention provides layout verification that includes a means for inputting and comparing first connection information (III) that is a reference for creating a layout of circuit elements and second connection information (II) extracted from the layout information. In the apparatus, a process of generating third connection information (III) in which information regarding non-extracted elements that cannot be extracted by the method of obtaining second connection information (II) from layout information is removed from the first connection information (1). and a collation means for collating the generated third connection information (DI) with the second connection information (I[) and outputting a collation result.

また、本発明は、前記処理手段は、別途入力される非抽
出素子情報およびその非抽出素子を除去した後の回路の
接続情報を含む制御情報に基づき前記第三の接続情報(
III)を生成する手段を含むことができる。
Further, in the present invention, the processing means generates the third connection information (
III).

〔作用〕[Effect]

処理手段は、レイアウト検証における照合処理に先立ち
、レイアウト作成の基準となった接続情報(III)か
ら、別途入力される図形演算では認識できない素子に関
する情報を削除して、接続情報(III)として出力す
る。そして、照合手段は、この接続情報(III)と接
続情報(II)とを照合し照合結果を出力する。
Prior to the collation process in layout verification, the processing means deletes information about elements that cannot be recognized by graphical operations input separately from the connection information (III) that is the basis for layout creation, and outputs the information as connection information (III). do. Then, the collation means collates this connection information (III) with the connection information (II) and outputs the collation result.

従って、非抽出素子に関する疑似エラーの発生はなくな
り、疑似エラーの発生を削減することができる。
Therefore, the occurrence of pseudo errors related to non-extracted elements is eliminated, and the occurrence of pseudo errors can be reduced.

〔実施例〕〔Example〕

以下、本発明の実施例について図面を参照して説胡する
Hereinafter, embodiments of the present invention will be explained with reference to the drawings.

第1図は本発明の第一実施例を示すブロック構成図であ
る。
FIG. 1 is a block diagram showing a first embodiment of the present invention.

本実施例のレイアウト検証装置10は、回路素子のレイ
アウト作成の基準となった第一の接続情報(IO2と、
レイアウト情報から抽出した第二の接続情報([)14
とを入力し照合を行う手段を備えたレイアウト検証装置
において、 本発明の特徴とするところの、 レイアウト情報から接続情報(I[)14を得る方法で
は抽出できない非抽出素子に関する情報としての、当該
非抽出素子情報および当該非抽出素子を除去した後の回
路の接続情報を含む外部から入力される制御情報15に
基づき、入力された接続情報(IO2から非抽出素子に
関する情報を除去した第三の接続情報(III)16を
生成する処理手段としての処理部11と、この生成され
た接続情報(III)16と接続情報(IrO2とを照
合し照合結果17を出力する照合部12とを備えている
The layout verification device 10 of this embodiment uses first connection information (IO2,
Second connection information ([)14 extracted from layout information
In a layout verification device equipped with a means for inputting and verifying, the present invention is characterized in that the relevant Based on control information 15 input from the outside including non-extracted element information and connection information of the circuit after removing the non-extracted element, the input connection information (the third one from which information regarding the non-extracted elements has been removed from IO2) is inputted from the outside. Comprising a processing unit 11 as a processing means for generating connection information (III) 16, and a collation unit 12 for collating the generated connection information (III) 16 and connection information (IrO2) and outputting a collation result 17. There is.

次に、本第二実施例の動作について説明する。Next, the operation of the second embodiment will be explained.

処理部11は、制御情報15に従って接続情報(III
)13上から指定された素子(非抽出素子)を短絡除去
し接続情報(III)16を出力する。照合B12は、
処理部11から出力された接続情報(III)16 と
接続情報([04とを照合し、照合結果17を出力する
The processing unit 11 processes the connection information (III) according to the control information 15.
) 13 (non-extracted elements) is short-circuited and connection information (III) 16 is output. Verification B12 is
The connection information (III) 16 output from the processing unit 11 is compared with the connection information ([04), and a comparison result 17 is output.

次に、処理部11の動作について具体例をあげて説明す
る。
Next, the operation of the processing section 11 will be explained using a specific example.

第2図に示す回路図イメージが、接続情報(III)1
3として第3図に示す書式で与えられたとする。第3図
において、NETl、NET2、NET4およびN E
 T 5はネット、NVIおよびNV2はインバータ、
Rは抵抗、21.23および25はピンA、ならびに2
2.24および26はピンYである。いま、接続情報(
IO2を基準として作成したレイアウトから接続情報(
II)14を抽8する場合、図形演算等の制限により抵
抗Rが認識できず、配線とみなされてしまったとする。
The circuit diagram image shown in Figure 2 is the connection information (III) 1
3 in the format shown in FIG. In Figure 3, NET1, NET2, NET4 and N E
T5 is the net, NVI and NV2 are the inverters,
R is the resistor, 21.23 and 25 are pins A, and 2
2.24 and 26 are pins Y. Now, the connection information (
Connection information (
II) Suppose that when drawing 14, the resistance R cannot be recognized due to limitations such as graphical calculations and is regarded as a wiring.

その結果、接続情報(I[)14は第4図に示す回路図
イメージとなり、第5図に示す書式で与えられることに
なる。このまま第3図の接続情報(1)13と第5図の
接続情報(II)14とを照合すると、抵抗Rが接続情
報(II)14に存在しないため疑似エラーが出力され
ることになる。
As a result, the connection information (I[) 14 becomes the circuit diagram image shown in FIG. 4, and is given in the format shown in FIG. 5. If the connection information (1) 13 in FIG. 3 is compared with the connection information (II) 14 in FIG. 5 in this state, a pseudo error will be output because the resistance R does not exist in the connection information (II) 14.

いま、処理部11に第6図に示す書式で抵抗Rの短絡除
去指定が入力されたとする。ここで、指定順31は短絡
除去の指定を表す識別子である。また、指定順32は短
絡除去の短縮となる素子を指定しており、この例では抵
抗Rである。指定順33は抵抗Rを除去した後にインバ
ータNVIのピンY22と、インバータNV2のピンA
25を接続するネット名の指定で、この例ではNET3
である。
Now, assume that a short circuit removal designation for the resistor R is input to the processing unit 11 in the format shown in FIG. Here, the designation order 31 is an identifier representing the designation of short circuit removal. Further, the designation order 32 designates an element that shortens short-circuit removal, which is the resistor R in this example. Specified order 33 is to connect pin Y22 of inverter NVI and pin A of inverter NV2 after removing resistor R.
Specify the net name to connect 25, in this example NET3
It is.

処理部11は、第3図の接続情報(IO2から抵抗Rに
関する記述を削除するとともに、抵抗Rに接続するネッ
ト名をNET3に置き換えることで、第7図に示す接続
情報(III)16を出力する。
The processing unit 11 outputs the connection information (III) 16 shown in FIG. 7 by deleting the description regarding the resistor R from the connection information (IO2 in FIG. 3) and replacing the name of the net connected to the resistor R with NET3. do.

これは明らかに、第5図の接続情報(II)14と等価
な接続情報を有していることがわかる。従って、照合時
において抵抗Rに関する疑似エラーは発生しない。第8
図に接続情報(III)16の回路図イメージを示す。
It is clearly seen that this has connection information equivalent to the connection information (II) 14 in FIG. 5. Therefore, a pseudo error regarding the resistance R does not occur during verification. 8th
The figure shows a circuit diagram image of the connection information (III) 16.

次に、本発明の第二実施例について説明する。Next, a second embodiment of the present invention will be described.

本第二実施例の基本的な構成は、第1図の第一実施例と
同様で、入力される制御情報16の形式が異なり、それ
に対応して処理部11の処理が異なる。
The basic configuration of the second embodiment is the same as that of the first embodiment shown in FIG. 1, but the format of the input control information 16 is different, and the processing of the processing unit 11 is correspondingly different.

第9図は本第二実施例において、処理部11に与える制
御情報15を示す説明図である。第6図に示した第一実
施例との相違点は、抵抗Rを除去した後に、インバータ
NVIのピンY22と、インバータNV2のピンA25
とを接続するネットの名前として、抵抗RのピンAに接
続していたネットの名前を採用する指定の例である。指
定順42がその指定に相当する。なお、指定順41は短
絡除去の指定を表す識別子である。
FIG. 9 is an explanatory diagram showing the control information 15 given to the processing section 11 in the second embodiment. The difference from the first embodiment shown in FIG. 6 is that after removing the resistor R, the pin Y22 of the inverter NVI and the pin A25 of the inverter NV2 are
This is an example of designation in which the name of the net connected to pin A of resistor R is used as the name of the net connecting . The designation order 42 corresponds to that designation. Note that the designation order 41 is an identifier indicating the designation of short circuit removal.

第10図に処理後の接続情報(III)16を、第11
図にその回路図イメージを示す。
The connection information (III) 16 after processing is shown in FIG.
The figure shows the circuit diagram image.

〔発明の効果〕〔Effect of the invention〕

以上説明したように、本発明は、照合を行う前に、接続
情報(III)から非抽出素子に関する情報を短絡除去
することにより、レイアウト検証における疑似エラーを
削減する効果がある。
As described above, the present invention has the effect of reducing pseudo errors in layout verification by short-circuiting and removing information regarding non-extracted elements from connection information (III) before performing verification.

【図面の簡単な説明】[Brief explanation of the drawing]

第1図は本発明の一実施例を示すブロック構成図。 第2図はその接続情報(III)の回路図イメージを示
す図。 第3図はその接続情報(III)の書式例を示す図。 第4図はその接続情報(II)の回路図イメージを示す
図。 第5図はその接続情報(II)の書式例を示す図。 第6図はその制御情報の書式例を示す図。 第7図はその接続情報(I[I)の書式例を示す図。 第8図はその接続情報(DI)の回路図イメージを示す
図。 第9図は本発明の第二実施例における制御情報の書式例
を示す図。 第10図はその接続情報(III)の書式例を示す図。 第11図はその接続情報(1)の回路図イメージを示す
図。 lO・・・レイアウト検証装置、11・・・処理部、1
2・・・照合部、13・・・接続情報(r)、14・・
・接続情報(II)、15・・・制御情報、16・・・
接続情報(Itl)、17・・・照合結果、21.23
.25・・・ピンA、22.24.26・・・ピン¥1
31.32.33.41.42−・・指定項、NETI
〜NET5・・・ネット、NVI、NV2・・・インバ
ータ、R・・・抵抗。
FIG. 1 is a block diagram showing an embodiment of the present invention. FIG. 2 is a diagram showing a circuit diagram image of the connection information (III). FIG. 3 is a diagram showing an example of the format of the connection information (III). FIG. 4 is a diagram showing a circuit diagram image of the connection information (II). FIG. 5 is a diagram showing an example of the format of the connection information (II). FIG. 6 is a diagram showing an example of the format of the control information. FIG. 7 is a diagram showing an example of the format of the connection information (I[I). FIG. 8 is a diagram showing a circuit diagram image of the connection information (DI). FIG. 9 is a diagram showing an example of the format of control information in the second embodiment of the present invention. FIG. 10 is a diagram showing an example of the format of the connection information (III). FIG. 11 is a diagram showing a circuit diagram image of the connection information (1). lO...Layout verification device, 11...Processing unit, 1
2... Verification unit, 13... Connection information (r), 14...
- Connection information (II), 15... Control information, 16...
Connection information (Itl), 17... Verification result, 21.23
.. 25...Pin A, 22.24.26...Pin ¥1
31.32.33.41.42--Specified item, NETI
~NET5...net, NVI, NV2...inverter, R...resistance.

Claims (1)

【特許請求の範囲】 1、回路素子のレイアウト作成の基準となった第一の接
続情報( I )と、レイアウト情報から抽出した第二の
接続情報(II)とを入力し照合を行う手段を備えたレイ
アウト検証装置において、レイアウト情報から第二の接
続情報(II)を得る方法では抽出できない非抽出素子に
関する情報を前記第一の接続情報( I )から除去した
第三の接続情報(III)を生成する処理手段と、 この生成された第三の接続情報(III)と前記第二の接
続情報(II)とを照合し照合結果を出力する照合手段と を備えたことを特徴とするレイアウト検証装置。 2、前記処理手段は、別途入力される非抽出素子情報お
よびその非抽出素子を除去した後の回路の接続情報を含
む制御情報に基づき前記第三の接続情報(III)を生成
する手段を含む請求項1記載のレイアウト検証装置。
[Claims] 1. Means for inputting and comparing the first connection information (I) that is the basis for creating the layout of circuit elements and the second connection information (II) extracted from the layout information. third connection information (III) in which information about non-extracted elements that cannot be extracted by the method of obtaining the second connection information (II) from the layout information is removed from the first connection information (I); A layout characterized by comprising a processing means for generating the generated third connection information (III) and the second connection information (II) and a collation means for outputting a collation result. Verification device. 2. The processing means includes means for generating the third connection information (III) based on control information including separately input non-extracted element information and circuit connection information after removing the non-extracted elements. A layout verification device according to claim 1.
JP2171717A 1990-06-28 1990-06-28 Layout verifying device Pending JPH0460773A (en)

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Citations (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH0367372A (en) * 1989-08-04 1991-03-22 Dainippon Printing Co Ltd Verification method for integrated circuit mask pattern

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