JPH0460996A - 半導体記憶装置 - Google Patents

半導体記憶装置

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JPH0460996A
JPH0460996A JP2166120A JP16612090A JPH0460996A JP H0460996 A JPH0460996 A JP H0460996A JP 2166120 A JP2166120 A JP 2166120A JP 16612090 A JP16612090 A JP 16612090A JP H0460996 A JPH0460996 A JP H0460996A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
signal
word
word driver
driver circuits
word line
Prior art date
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Pending
Application number
JP2166120A
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English (en)
Inventor
Takehisa Shimokawa
下川 健寿
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
NEC Corp
Original Assignee
NEC Corp
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Publication date
Application filed by NEC Corp filed Critical NEC Corp
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Publication of JPH0460996A publication Critical patent/JPH0460996A/ja
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Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 [産業上の利用分野] 本発明は半導体記憶装置に関し、特に、そのワードドラ
イバー回路に関する。
[従来の技術] 第4図は、従来の半導体記憶装置の回路図である。同図
において、WDl、WD2、・・・、WDiは、チップ
セレクト信号C否によって制御されアドレス信号AI、
A2、・・・、Aiに応じてワード線W]、、W2、・
・・、Wiを選択する、ノアゲートで構成されたワード
ドライバー回路、Dl、■]−はデイジット線、QFl
、1丁丁はデイジット線と電源との間に接続されたゲー
トが接地された負荷用のpMO8)ランジスタである。
各ワード線とデイジット線との交点にはそれぞれ1対の
ドライバートランジスタ、1対の負荷抵抗および1対の
トランスファゲートにより構成されるメモリセルが接続
されている。
アドレス信号Al、A2、・・・は外部からのアドレス
入力をうけて、ワードドライバー回路の前段にあるデコ
ーダ回路で発生される信号であり、アドレス選択された
場合のみ“L”レベルとなり、非選択状態では“H“レ
ベルとなる信号である。
またチップセレクト信号C茗は動作時に°′L′″L′
′イ時にH゛′となる信号である。
いま、アドレス信号A1が選択状態にあって′L”とな
り、他のアドレス信号が“′H“であるものとすると、
ワードドライバー回路WDIの出力端子が接続されたワ
ード線W1のみがH°′になる。このときデイジット線
D1.11n−が選択されなものとすると、メモリセル
MCIIが選択される。このセルMCIIがデータ゛0
゛のとき、ノードN1は’L”、ノード■]−はH″で
あり、ドライバートランジスタであるnMOSトランジ
スタQDIIはオン、nMO3)−ランジス24丁TT
はオフしている。従って、n M OS トランジスタ
QD11は、トランスファゲートであるnMOSトラン
ジスタQTIIを介してpMO8l〜ランジスタQFI
がらセル電流■cをひくのでデイジット線り、′rfに
電位差が生じる。その電位差をセンスし、データを読み
出す。例えば、負荷用のpMOSトランジスタQF1.
1丁丁を1にΩトランスファゲートであるnMOSトラ
ンジスタQT11、口11丁ゴーのオン抵抗を24にΩ
とすれば、電源が5Vのときデイジット線りのレベルは
0.2v下がり、デイジット線■との間に0.2■の差
が生じる。このとき他の非選択ワード線のレベルは” 
L ’″レベルあり、同一デイジット線上の他のメモリ
セルのトランスファゲートはすべてオフしている。
[発明が解決しようとする課題〕 この従来のワードドライバー回路では、外部からのアド
レス入力が中間レベルであったり、非常に緩やかな立上
り、立下りをした場合、入力バッファ回路やデコーダ回
路のゲートしきい値にばらつきがあると、複数のアドレ
ス信号がL′′になり、そのため、ワードのマルチ選択
がおきる。複数のワード線が選択され、それぞれが″H
”レベルになると、そのワード線上のセルトランスファ
ゲートはすべてオン状態となる。いま、Wl、W2、・
・・、Wl3の13本のワード線が同時に選択され、デ
イジット線はD 1 + TrTが選択されたものとす
る。更に、メモリセルMCIIのデータのみが” o 
”で、他のセルのMC21、MC31、・・・のデータ
が” 1 ”であったものとする。このとき、選択され
た各セルは各々負荷用pMO3?−ランジスタからセル
電流■cをひく。したがって、メモリセルMC1,1は
負荷用pMO8T−ランジスタQFIから、その他の1
2個のメモリセルはすべてΩ]1]−から電流をひくこ
とになる。このときのデイジット線のレベルは次のよう
になる。
デイジット線■のレベル: 5V−5VxlkΩ/((24にΩ/12>+1にΩ)
=3.3V デイジット線りのレベル: 5V−5VX1 kQ/ (24kQ+1 kΩ)4.
8V したがって、メモリセルMCIIでは、ハイ側のノード
NTのレベルがひき下げられる(はぼ、デイジット練り
のレベルがらトランスファゲートのしきい値電圧VT分
高い程度のレベル)。したがって、このセルのノードN
 1 、fflは電位差が少なくなりデータが反転しや
すい状態になる。さらに、マルチ選択のワード線本数が
増えた場合、デイジット線のレベルはますます下がり、
ノードの電位差もさらに少なくなってセルのデータはよ
り一層反転しやすくなる。
また、データ書き込み時においてマルチ選択が起きると
、目的とするセル以外のセルにもデータの書き込みがな
されるのてメモリセルが誤ったデ−タを記憶することに
なる。
[課題を解決するための手段] 本発明のワードドライバー回路は、アドレス信号とチッ
プセレクト信号■を入力とする正規のワードドライバー
回路と、同じ入力のダミーワードドライバー回路とを有
し、正規のワードドライバー回路は、複数のダミーワー
ドドライバー回路が゛選択′”状態にあるときには、い
ずれもが“非選択″状態となるように制御されるもので
ある。
[実施例] 次に、本発明の実施例について図面を参照して説明する
。
第1図は、本発明の一実施例を示す回路図である。同図
において、Wl、W2、・・・、Wiは、ノアゲートで
あるワードドライバー回路WD]、WD2、・・・、W
Diにより選択されるワード線、DWl、DW2、・・
・、D W iはノアゲートであるダミーワードドライ
バー回路DWD 1、DWD2、・・・、DWDiによ
り選択されるダミーワード線、Qnl、Qn2、・・・
、Qniはゲートがそれぞれダミーワード線に接続され
たnMO8)ランジスタ、Qpは、ゲートが接地された
pMO8)ランジスタ、Invはインバータ、D 1 
、■]−,D 2、丁フ;・・・はデイジット線、MC
は、ワード線とデイジット線との各交点に配置されたメ
モリセルである。
各ワードドライバー回路とダミーワードドライバー回路
とにはともにアドレス信号A1、A2、・・、Aiとデ
ツプセレクト信号σSが入力されるが、ワードドライバ
ー回路には、インバータInvの出力信号SN2も入力
される。インバータInvの入力信号SNIは、pMO
8)−ランジスタQpとn M OS )ランジスタQ
nl、Qn2、・・・、Qniの並列回路との分圧電圧
である。
次に、本実施例回路の動作について説明する。
いま、1個のワードドライバー回路、例えばWDlの出
力のみが“′H″レベルとなって、ワード線W1を選択
したものとすると、WDIと同じ入力信号が入力され同
じ回路構成を有するダミーワードドライバー回路DWD
1の出力も“H”レベルとなる。このときダミーワード
線DWIにゲートが接続されたn M OS )ランジ
スタQnlはオンする。このnMO3)ランジスタとド
レイン同士が接続された、pMO3)ランジスタQpは
常時オンしているので、信号SNIのレベルはQnlと
Qpとのオン抵抗の比で決まる。例えば、pMOSトラ
ンジスタQpのオン抵抗を1にΩ、nM○Sトランジス
タQnlのオン抵抗を3.6にΩとすると、電源が5V
であるものとして、SNIは3.9Vとなる。ここで、
インバータInvのしきい値■□□が3,5vであり、
その入出力特性が第2図に示したものであるとすると、
インバータInvの出力信号SN2は゛′L°ルベルと
なる。この信号SN2は各正規のワードドライバー回路
に入力される。信号SN2がパL“であるとき、各ワー
ドドライバー回路は正常に動作し、その出力は、チップ
セレクト信号σにと各アドレス信号で決定される。
次に、ワード線のマルチ選択がおきようとする場合を考
える。仮に、ワード線W1、W2がマルチ選択されよう
としている場合、ダミーワードドライバー回路DWD]
、DWD2の出力はH″となり、n M OS トラン
ジスタQnlとQn2がオンする。このとき、信号SN
IのレベルはQpとQnl、Qn2のオン抵抗比できま
り、そのときの信号SN]のレベルは3.2vとなる。
したがって、インバータInvの出力信号SN2は第2
図に示すように“′Hルベルとなる。この信号SN2は
各正規のワードドライバー回路に入力されているので、
各正規のワードドライバー回路は″H”レベル出力の禁
止された状態になり、その出力はL”ルベルとなる。そ
れゆえワード線のマルチ選択はおさえられる。また、ワ
ード線のマルチ選択が3本以上のときも、同様に各正規
のワードドライバー回路はH“ルベル出力を禁止された
状態となりすべてのワード線は非選択になる。
マルチ選択の状態が終了して、1個のダミーワードドラ
イバー回路の出力のみが′″H′′となれば、各正規の
ワードドライバー回路は、′″ト■″レベル出力禁止状
態から開放され、正常のワード線選択動作に復帰する。
第3図は本発明の他の実施例を示す回路図である。この
実施例では、インバータInvの出力信号SN2とチッ
プセレクト信号「■とが入力されるオアゲートORが設
けられており、その出力信号SN3が各ワードドライバ
ー回路に入力されている。動作は先の実施例と同様であ
るが、本実施例では、ワードドライバー回路が2人力構
成となっているので、先の実施例に対し、素子および配
線を削減することができる。
[発明の効果] 以上説明したように、本発明は、ワード線が2本星上選
択されようとするとき、新たに設けたダミーワードドラ
イバー回路の出力信号をフィードバックしてすべてのワ
ードドライバー回路に゛L″レベルの信号を出力させ、
すべてのワード線を非選択にするものであるので、本発
明によれば、ワード線のマルチ選択を防ぎ、メモリセル
のデータ破壊およびデータの誤書き込みを防止すること
ができる。
【図面の簡単な説明】
第1図は本発明の一実施例を示す回路図、第2図は、本
発明の実施例に用いられるインバータの入出力特性図、
第3図は本発明の他の実施例を示す回路図、第4図は従
来例の回路図である。 DWDl、DWD2、・・・、DWDi:ダミーワード
ドライバー回路、  DWI、DW2、・・DWi:ダ
ミーワード線、  Inv:インバータ、OR=オアゲ
ート、  Qnl、Qn2、・・・、Qni:nMO8
l□ランジスタ、  Qp : pM。 Sトランジスタ、  Wl、W2、・・・、Wi:ワー
ド線、  WDl、WD2、・・・、WDi:ワードド
ライバー回路。

Claims (2)

    【特許請求の範囲】
  1. (1)複数のワード線と、いずれかのワード線にそれぞ
    れ接続されアドレス信号およびチップセレクト信号によ
    って該ワード線を選択する信号を出力する複数のワード
    ドライバー回路と、複数のダミーワード線と、いずれか
    のダミーワード線にそれぞれ接続されアドレス信号およ
    びチップセレクト信号によって該ダミーワード線を選択
    する信号を出力する複数のダミーワードドライバー回路
    と、を具備し、 2以上のダミーワードドライバー回路がダミーワード線
    を選択する信号を出力しているときにはいずれのワード
    ドライバー回路もワード線を選択する信号を出力しない
    ように制御されている半導体記憶装置。
  2. (2)各ダミーワード線にゲートが接続され、ソースが
    それぞれ第1の電源に接続され各ドレインが共通に接続
    された複数のMOSトランジスタと、一端が第2の電源
    に接続され他端が前記複数のMOSトランジスタの共通
    ドレイン接続点に接続されたインピーダンス素子と、を
    有するマルチ選択検出回路の出力信号によって前記ワー
    ドドライバー回路が制御を受けている請求項1記載の半
    導体記憶装置。
JP2166120A 1990-06-25 1990-06-25 半導体記憶装置 Pending JPH0460996A (ja)

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