JPH0461046A - 光磁気ディスクの評価装置 - Google Patents

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 ［産業上の利用分野コ 本発明は高温での光磁気ディスクの特性を評価する評価
装置に関するものである。

［従来の技術］ 従来、光磁気ディスクの高温での特性を評価するには、
ディスク及びディスク駆動装置を恒温槽に入れ、恒温槽
を高温に保ち、その状態において光磁気ディスクの特性
を計測することが行われている。

また、ディスクおよび回転軸を回転した状態である温度
に保つ技術としては特公昭６２−５２７０４号公報の光
デイスク用プラスチック基板成形法に記載のものがある
。これはトラック溝つきプラスチック基板を基板材料の
二次転移温度より２０℃程度以下の温度環境下（６０℃
以上）において高速度で回転させることにより基板の平
面精度、耐熱性を向上させる技術である。

［発明が解決しようとする課題］ しかしながら、前者の光磁気ディスクの特性の計測では
、ディスク駆動装置全体を高温にしてしまうため、ディ
スク駆動装置の中のピックアップの特性をも変化してし
まい、ディスク自体の温度変化による特性の変化と、ピ
ックアップの温度変化による特性の変化とを区別するこ
とができないという欠点がある。

又、後者のディスクおよび回転軸を回転した状態で、あ
る温度に保つ技術は、ディスクとディスり回転軸を高温
にしたままで回転するものであるか、基板の成形法であ
るため、評価装置に不可欠なピックアップについては何
ら考慮が払われていない。

本発明は、上記欠点に着目してなされたもので、光磁気
ディスクの高温時における特性の測定において、ピック
アップの温度を上昇させることなく、光磁気ディスクの
みを温度上昇せしめるようにした光磁気ディスクの評価
装置を提供することを目的とする。

し課題を解決するための手段］ 本発明光磁気ディスクの評価装置は光磁気ディスクを覆
うも、光ピックアップは覆わないように構成したカバー
を設け、このカバーの側面に発熱用電熱線およびファン
を具備したヒーターを設け、高温での測定時に上記ヒー
ターから室温よりも高い温度の空気を前記カバーの中に
吹込んでカバーの中の光磁気ディスクの温度を高くする
ようにしたことを特徴とする。

本発明光磁気ディスクの評価装置の概念図を第１図に示
す。第１図において、１は光磁気ディスク、２はスピン
ドルモータ、３はピ・ツクア・ツブ、４はバイアス磁石
、５はカバー、６はファンヒータ、７は電熱線、８はフ
ァン、９はヒータ用電源であり、これらを図示のように
構成配置する。

［作用］ 本発明は上記目的を達成するため、光磁気ディスク１を
覆うも、かつ、ピ、ソクア・ツブ３を覆わないように構
成されたカバー５を設け、このカックー５の中にファン
８と電熱線７とで構成されたヒータ６から温風を吹込み
、カバー５の中の温度を室温より数１０℃高くするよう
にしている。カッ（−５内の温度は電熱線７の発熱量を
変化させることによって制御する。

［実施例］ （第１実施例） 本発明光磁気ディスクの評価装置の第１実施例を第２図
に示す。本例では、基台１３の上にスピンドルモータ２
およびＸ軸ステージ１２を設置し、このＸ軸ステージ１
２の上にＺ軸ステージ１１を設置し、Ｚ軸ステージ１１
の上にピックアップ３とバイアス磁石４を支持するため
の支持部１４とを配置する。

また、スピンドルモータ２の上には光磁気ディスク１を
取付けるようにする。バイアス磁石４は光磁気ディスク
１の上部に配置して支持部１４により支持する。光磁気
ディスク１はカバー５によって完全に覆うようにし、こ
のカバー５の形状は第３図（ａ）に示すような円柱形と
するか、または第３図（ｂ）に示すような方形とし、カ
バー５の材質はその中の光磁気ディスクが見えるように
透明な材質、例えばプラスチックやガラスで造るのが好
適である。ヒータ６はカバー５の側面に取付けるととも
に電熱線７およびファン８で構成する。

また、カバー５の中には温度センサー１５を配置し、こ
れをデジタルボルトメータ１０に電気的に接続する。電
源９は可変電流型のものとし、電熱線７に接続する。

第４図はピックアップ３およびカバー５の拡大図である
。図から明らかなように、カバー５には光磁気ディスク
１に光を結像するための孔１９を形成する。また、ピソ
クア・ツブ３は、アクチュエータ部の対物レンズ３１と
、反射ミラー３２と、ビームスプリッタ３３と、コリメ
ータレンズ３４と、光源用レーザダイオード３５と、λ
／４偏光板３６と、偏光ビームスプリッタ３７と、レン
ズ３８と、トラッキング用フォトダイオード３９と、レ
ンズ４０と、フォー力ッシング用フォトダイオード４１
とを備え、これら素子を図示のように配置して構成する
。このピ、クアップ３自体の作動は既知であるため、そ
の詳細な説明は省略する。

（作用） スピンドルモータ２により回転されて−する光磁気ディ
スク１は、バイアス磁石４とビ・ツクアップ３とによっ
てデータの消去、記録および再生を行うが、その作用は
公知であるため、その詳細な説明は省略する。ビ・ツク
ア・ツブ３と、ｌ（イアス磁石４と、光磁気ディスク１
との第２図１こお（する上下方向の位置関係をＺ軸ステ
ージ１１によって調整する。また、Ｘ軸ステージ１２は
第２図番こお（する左右方向への移動を行い得るように
する。

電源９からの電流によって電熱線７を発熱させる。ファ
ン８から送られる風は第２図の左から右へ吹き、従って
ヒータ６の左から吸込まれた室温の空気は、ヒータ６の
右側からカバー５の中に吹込まれたときには室温より数
１０℃高い温度となっている。これがため、カバー５の
中の空間は室温より数１０℃高くなり、光磁気ディスク
１の温度も室温より数１０℃高くなる。なお、カバー５
にはピックアップ３からの光を通過せしめる孔やスピン
ドルモータ２の軸を通す孔、バイアス磁石４の支持体１
４を通す孔をも開ける。本発明ではこれらの孔から空気
が漏洩することを前提として、空気がヒータ６からカバ
ー５の中に送り込まれるので不都合はない。

また、カバー５からの温風は、ピックアップ３のアクチ
ュエータ部に吹きつけられるが、第４図に示すように、
本実施例ではレンズ３１とミラー３２との間が充分長く
取っであるので、レンズ３１の付近のみが温度上昇する
にすぎず、ミラー３２から前の部分の温度は僅かに上昇
するだけである。

カバー５内に設けた温度センサー１５とデジタルボルト
メータ１０とによって、カバー５内の温度を測定するこ
とができる。即ち、カバー５内の温度が上昇させたい温
度よりも低い場合には、電源９から電熱線７へ流す電流
を太き（することによって、電熱線７の発熱量を大きし
、これによりカバー５内に吹込まれる空気の温度を上昇
させることができる。

（効果） 上述したように本発明によれば、光磁気ディスクのみを
温度上昇させることによって、高温時において光磁気デ
ィスクのみの特性の変化を測定することができる。

本実施例では温度を測るために温度センサーを用いたが
、温度センサーの代わりに、熱電対を使用することもで
きる。

また、第５図に示すように電源９とデジタルボルトメー
タ１０とをコンピュータ１６（例えばＧＰ−ＩＢケーブ
ル）に接続することによって、コンピュータ１６で使用
するソフトにより、温度制御の自動化を図ることかでき
る。

（第２実施例） 第６図は本発明光磁気ディスクの評価装置の第２実施例
を示す。

本例においては、ヒータ６の空気吹出し口の中心高さと
、光磁気ディスク１の上面および下面の中心高さとを同
一とした点が第１実施例につき説明した点と相違するだ
けであり、その他の魚箱１実施例と同一である。従って
その詳細な点は省略する。

（作用） かように、本実施例によれば、ヒータ６の空気吹出し口
の中心高さと、光磁気ディスク１の上面および下面の中
心高さとを同一とすることによって、ヒータ６からカバ
ー５の中に吹込まれる温風は光磁気ディスク１の上面と
下面とに均等に熱を伝え、従って、光磁気ディスク１上
の温度分布のばらつきは小さくなる。

（効果） これがため、本実施例によれば、ある温度での測定を行
う際に、より正確な測定結果を得ることができる。

（第３実施例） 第７図は本発明光磁気ディスクの評価装置の第３実施例
を示す。

本例において、第１実施例と異なる点は、第３図（ａ）
と比較する所から明らかなように、ヒータ６の吹出し方
向がスピンドルの中心に向かっておらず、変位している
点であり、その他の点は第１実施例と同様である。

（作用） 本例では、空気の吹出す方向が光磁気ディスク１の回転
方向と逆の方向とするため、空気がカバー５の中で撹拌
され、カバー５の中で温度が均一となる。

これがため、カバー５の中の温度が小さくなるので光磁
気ディスク１の温度差も小さくなる。

（効果） 本例によれば、第２実施例と同様に正確な測定結果を得
ることができる。本実施例ではカバー５は円柱状のもの
を用いたか、第３図（ｂ）ｉこ示すような方形のものを
用いることもできる。

（第４実施例） 第８図に本発明光磁気ディスクの評価装置の第４実施例
を示す。本例において、第１実施例と異なる点は温度セ
ンサー１５をヒータ６の空気吹出し口付近に配置した点
であり、その他の点は第１実施例につき説明した所と同
様である。

（作用） これがため、本例においては温度センサー１５が感知す
る温度はヒータ６からカッ＜−５の中に吹込まれる温風
の温度となる。従って、ディス矧こ吹きつける温風の温
度そのものを用いて温風の制御を行うことができる。

（効果） 本例によれば、温風の温風はディスクの温度とほぼ同一
であるため、ある温度における測定番こおいて、より正
確な結果を得ることができる。

（第５実施例） 第９図は本発明光磁気ディスクの評価装置の第５実施例
を示す。

本例において、第１実施例と異なる点ははピンクアップ
３付近にピックアップ３に風があたるよう冷却用ファン
１７を設けた点であり、その他の点は第１実施例につき
説明した所と同様である。従ってその詳細な説明は省略
する。

（作用） 本例では、冷却用ファン１７によってピツクア・ツブ３
に室温の空気を吹きつける。これがため、ピックアップ
３のアクチュエータ部１８にカッ＜−５の中から吹きつ
けられる温風によりビ・ツクアンプ３の温度が上昇する
ことを防ぐことができる。

（効果） かように、本例においては、冷却用ファン１７を設ける
ことにより、ピックアップ３の温度を上昇させることな
く光磁気ディスク１の温度を上昇せしめることがより一
層容易となる。

（第６実施例） 第１０図は本発明光磁気ディスクの評価装置の第６実施
例を示す。本例において第１実施例と異なる点はは、ピ
ックアップ３からの光を通過させるための窓を断熱用ガ
ラス１８によりふさいだ点である。この断熱用ガラスと
しては例えばノくイレンクスを用いる。この場合には、
レーザ光の光路内に断熱用ガラス１８が挿入されるよう
になり、従って光路長が変化してしまうようになる。こ
れがため、ピンクアップ３の対物レンズ３１を第１実施
例とは異なる設計のレンズに変更する必要がある。

（作用） 本例では、温風が窓から吹出し、ビソクア・ツブ３に吹
きつけることを断熱用ガラス１８によって防止すること
ができる。

（効果） かように、本例によればビツクア・ツブ３の温度を上昇
させることなく、光磁気ディスク１の温度を上昇させる
ことがより一層容易になる。

［発明の効果］ 上述したように、本発明によれば光磁気ディスクのみを
室温よりも数１０℃も高くできるので、光磁気ディスク
のみの温度上昇による特性の変化状態を測定することが
できる。

【図面の簡単な説明】

第１図は本発明光磁気ディスクの評価装置の概念を示す
構成説明図、 第２図は本発明光磁気ディスクの評価装置の第１実施例
の構成を示す側面図、 第３図（ａ）および（ｂ）はカバーの形状を示す断面図
、 第４図はピックアップおよびカバーを部分拡大断面で示
す本発明光磁気ディスクの評価装置の構成説明図、 第５図はヒータ電源と、デジタルボルトメータと、コン
ピュータと、温度センサーとの接続関係を示す説明図、 第６図は本発明光磁気ディスクの評価装置の第２実施例
の主要部の構成を示す断面図、第７図は本発明光磁気デ
ィスクの評価装置の第３実施例の主要部の構成を示す側
面図、第８図は本発明光磁気ディスクの評価装置の第４
実施例の主要部の構成を示す断面図、第９図は本発明光
磁気ディスクの評価装置の第５実施例の主要部の構成を
示す側面図、第１０図は本発明光磁気ディスクの評価装
置の第６実施例の主要部の構成を示す側面図である。 光磁気ディスク スピンドルモータ ピックアップ バイアス磁石 カバー ヒータ 電熱線 ファン ヒータ用電源 デジタルボルトメータ Ｚ軸ステージ Ｘ軸ステージ 基台 支持体 温度センサー ト・・光ディスク ９・・・ヒータ用電源 コンピュータ 冷却用ファン アクチュエータ部 孔 レンズ ミラー ビームスプリッタ レンズ レーザダイオード λ／４偏光板 偏光ビームスプリッタ レンズ フォトダイオード レンズ フォトダイオード 第 図 第 図 第 図 第 図 第 図

Claims (1)

【特許請求の範囲】
1. （１）光磁気ディスクの評価装置において、光磁気ディ
   スクを覆うも、光ピックアップは覆わないように構成し
   たカバーを設け、このカバーの側面に発熱用電熱線およ
   びファンを具備したヒーターを設け、高温での測定時に
   上記ヒーターから室温よりも高い温度の空気を前記カバ
   ーの中に吹込んでカバーの中の光磁気ディスクの温度を
   高くするようにしたことを特徴とする光磁気ディスクの
   評価装置。