JPH0462034B2 - - Google Patents

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JPH0462034B2
JPH0462034B2 JP58183286A JP18328683A JPH0462034B2 JP H0462034 B2 JPH0462034 B2 JP H0462034B2 JP 58183286 A JP58183286 A JP 58183286A JP 18328683 A JP18328683 A JP 18328683A JP H0462034 B2 JPH0462034 B2 JP H0462034B2
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JP
Japan
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signal
circuit
output
correction
uniformity
Prior art date
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Application number
JP58183286A
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Japanese (ja)
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JPS6073482A (en
Inventor
Tsunekazu Matsuyama
Masaaki Tochi
Mitsuhiro Tanaka
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Shimadzu Corp
Original Assignee
Shimadzu Corp
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Filing date
Publication date
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Publication of JPS6073482A publication Critical patent/JPS6073482A/en
Publication of JPH0462034B2 publication Critical patent/JPH0462034B2/ja
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    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01TMEASUREMENT OF NUCLEAR OR X-RADIATION
    • G01T1/00Measuring X-radiation, gamma radiation, corpuscular radiation, or cosmic radiation
    • G01T1/16Measuring radiation intensity
    • G01T1/161Applications in the field of nuclear medicine, e.g. in vivo counting
    • G01T1/164Scintigraphy
    • G01T1/1641Static instruments for imaging the distribution of radioactivity in one or two dimensions using one or several scintillating elements; Radio-isotope cameras
    • G01T1/1642Static instruments for imaging the distribution of radioactivity in one or two dimensions using one or several scintillating elements; Radio-isotope cameras using a scintillation crystal and position sensing photodetector arrays, e.g. ANGER cameras

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  • Physics & Mathematics (AREA)
  • Health & Medical Sciences (AREA)
  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • Biomedical Technology (AREA)
  • General Health & Medical Sciences (AREA)
  • Medical Informatics (AREA)
  • Nuclear Medicine, Radiotherapy & Molecular Imaging (AREA)
  • Optics & Photonics (AREA)
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  • Nuclear Medicine (AREA)

Description

【発明の詳細な説明】 (イ) 産業上の利用分野 この発明は、被写体から放射される放射線を2
次元放射線位置検出器で検出して被写体中に分布
する放射性物質の分布画像を撮像するためのシン
チレーシヨンカメラの改良に関する。
[Detailed description of the invention] (a) Industrial application field
This invention relates to an improvement of a scintillation camera for capturing distribution images of radioactive substances distributed in a subject by detection with a dimensional radiation position detector.

(ロ) 従来技術 シンチレーシヨンカメラでは不均一性がひとつ
の問題であるが、この不均一性の原因は主に位置
による固有のエネルギレベルの変動および空間的
非直線性等である。従来より、これらの原因を除
き、不均一性を改善することが種々提案されてい
る(特公昭56−86377号公報および特公昭56−
86378号公報参照)。しかしながら、これらの従来
のものではいずれも、均一性を最良のものとする
ためには、直線性をある程度犠牲にし、直線性の
最も良い状態より少し悪い状態に保持する必要が
あつた。また、特に多核種、多重エネルギでは、
エネルギ補正、直線性補正してもなお単一エネル
ギ、1核種のときと比べて良好な均一性を得るこ
とが困難である。これらとは別に特公昭52−
137180号公報が均一性の改善について述べている
が、この場合には、均一性補正する前の段階で得
られた計数率に比べて必ず少ない計数率しか得ら
れないという欠点がある。
(b) Prior Art One problem with scintillation cameras is non-uniformity, and the causes of this non-uniformity are mainly variations in the inherent energy level depending on position and spatial non-linearity. In the past, various proposals have been made to eliminate these causes and improve non-uniformity (Japanese Patent Publication No. 86377/1983 and Japanese Patent Publication No. 1986-86377).
(See Publication No. 86378). However, in all of these conventional methods, in order to obtain the best uniformity, it was necessary to sacrifice linearity to some extent and maintain the linearity in a state slightly worse than the best state. In addition, especially with multiple nuclides and multiple energies,
Even with energy correction and linearity correction, it is still difficult to obtain good uniformity compared to the case of single energy and one nuclide. In addition to these, the special public
Although Japanese Patent No. 137180 talks about improving uniformity, in this case there is a drawback that only a small counting rate is always obtained compared to the counting rate obtained at the stage before uniformity correction.

(ハ) 目的 この発明は、直線性の最も良い状態を保持しな
がら均一性を最良のものとし、しかも計数率特性
の劣化を招くこともないシンチレーシヨンカメラ
を提供することを目的とする。
(c) Purpose It is an object of the present invention to provide a scintillation camera which has the best uniformity while maintaining the best linearity, and which does not cause deterioration of count rate characteristics.

(ニ) 構成 この発明によるシンチレーシヨンカメラでは、
補正回路において直線性補正及びエネルギ補正を
受けた後の位置信号及びアンブランク信号を用い
て、あらかじめ、各位置での不均一性を実測し、
それに基づいて求めた、各位置での不均一性が平
均値より高い側に生じているか低い側に生じてい
るかを表わす不均一性高低情報とその不均一性の
程度が平均値に対してどれだけの比率であるかを
表わす不均一性比率情報とを、不均一性補正メモ
リの、各位置に対応するアドレスごとに記憶させ
ておく。そして、被写体の撮影時に補正回路から
位置信号及びアンブランク信号が得られたとき、
その位置信号で不均一性補正メモリのアドレスを
指定して、その位置に関する不均一性高低情報と
不均一性比率情報とを読み出す。この不均一性比
率情報は乱数発生回路からの乱数信号と比較され
て、その比較結果と、不均一性高低情報が高を表
わしていることに応じて、補正回路からの位置信
号及びアンブランク信号の出力が禁止される。そ
のため、不均一性が平均値よりも高の位置では、
その不均一性の程度の平均値に対する比率に応じ
た確率で出力が間引かれることとなる。他方、不
均一性高低情報が低を表わしているときは、不均
一性比率情報と乱数信号との比較結果に応じて、
一時的に保持していた補正回路からの位置信号及
びアンブランク信号を一定時間遅れたタイミング
で出力するので、不均一性が平均値よりも低の位
置では、その不均一性の程度の平均値に対する比
率に応じた確率で同一出力が新たに付け加えられ
る。
(d) Configuration The scintillation camera according to the present invention has the following features:
Using the position signal and unblank signal after linearity correction and energy correction in the correction circuit, we actually measure the non-uniformity at each position in advance,
Based on this, the level of non-uniformity information indicating whether the non-uniformity at each position is higher or lower than the average value and the extent of the non-uniformity relative to the average value. Non-uniformity ratio information indicating whether the ratio is equal to or less is stored for each address corresponding to each position in the non-uniformity correction memory. Then, when the position signal and unblank signal are obtained from the correction circuit when photographing the subject,
The position signal specifies an address in the non-uniformity correction memory, and non-uniformity level information and non-uniformity ratio information regarding that position are read out. This non-uniformity ratio information is compared with a random number signal from a random number generation circuit, and depending on the comparison result and the fact that the non-uniformity level information indicates high, a position signal and an unblank signal are sent from the correction circuit. output is prohibited. Therefore, at locations where the heterogeneity is higher than the average value,
The output is thinned out with a probability according to the ratio of the degree of non-uniformity to the average value. On the other hand, when the heterogeneity level information indicates low, depending on the comparison result between the heterogeneity ratio information and the random number signal,
Since the temporarily held position signal and unblank signal from the correction circuit are output with a certain time delay, at a position where the non-uniformity is lower than the average value, the average value of the degree of non-uniformity is output. The same output is newly added with a probability according to the ratio.

(ホ) 実施例 第1図において、2次元放射位置検出器1に放
射線が入射すると、これから位置信号X,Y,エ
ネルギ信号およびアンブランク信号が生じ、これ
らが補正回路2に送られる。補正回路2は、A/
D変換器、直線性補正回路、エネルギ補正回路等
を含み、これらの回路を経てアナログ信号からデ
ジタル信号に変換されかつ補正された位置信号
X′,Y′およびアンブランク信号が出力される。
この位置信号X′,Y′およびアンブランク信号は
出力回路3およびホールドおよび出力回路4に送
られる。位置信号X′,Y′はこの実施例ではとも
に12ビツトとし、その上位6ビツトが不均一性補
正メモリ5に送られてそのアドレスを指定する。
つまりここでは、不均一性補正は各画素の1つず
つについて異なる補正を施すのでなく、64×64の
画素が含まれる画素については同一の補正を加え
ようというのである。こうしてアドレス指定を受
けた不均一性補正メモリ5からそのアドレスに格
納されていた補正情報が読出される。この実施例
では、この補正情報は8ビツトであり、最上位桁
の1ビツトが出力回路3およびタイミング信号発
生回路8に送られ、下位の7ビツトが比較回路7
に送られる。乱数発生回路6はアンブランク信号
によつてトリガされて7ビツトの乱数を発生し、
これを比較回路7に送る。比較回路7は、これら
2つの入力を比較し、乱数の方が大きい場合に
“1”を出力し、逆の場合に“0”を出力して、
これらを出力回路3とタイミング信号発生回路8
に送る。出力回路3は不均一性補正メモリ5から
読出された情報の最上位桁が“1”でかつ比較回
路7から“1”信号が送られたときのみ出力を禁
止し、他の場合は補正回路2からの位置信号X′,
Y′およびアンブランク信号をそのまま出力する。
タイミング信号発生回路8は不均一性補正メモリ
5から読出された情報の最上位桁が“0”でかつ
比較回路7から“1”信号が送られたときのみ出
力をホールドおよび出力回路4に送り、補正回路
2からの位置信号X′,Y′およびアンブランク信
号を一定時間ホールドした後出力させる。
(E) Embodiment In FIG. 1, when radiation is incident on the two-dimensional radiation position detector 1, position signals X, Y, an energy signal and an unblank signal are generated, and these are sent to the correction circuit 2. The correction circuit 2 has an A/
A position signal that includes a D converter, a linearity correction circuit, an energy correction circuit, etc., and is converted from an analog signal to a digital signal and corrected through these circuits.
X', Y' and an unblank signal are output.
The position signals X', Y' and the unblank signal are sent to an output circuit 3 and a hold and output circuit 4. In this embodiment, the position signals X' and Y' are both 12 bits, and the upper 6 bits are sent to the non-uniformity correction memory 5 to designate its address.
In other words, here, the non-uniformity correction is not to apply different corrections to each pixel, but to apply the same correction to pixels including 64×64 pixels. In this way, the correction information stored at the address is read out from the non-uniformity correction memory 5 that received the address designation. In this embodiment, this correction information is 8 bits, the most significant 1 bit is sent to the output circuit 3 and the timing signal generation circuit 8, and the lower 7 bits are sent to the comparison circuit 7.
sent to. The random number generation circuit 6 is triggered by the unblank signal and generates a 7-bit random number,
This is sent to the comparison circuit 7. Comparison circuit 7 compares these two inputs, outputs "1" if the random number is larger, and outputs "0" if the random number is larger.
Output circuit 3 and timing signal generation circuit 8
send to The output circuit 3 prohibits output only when the most significant digit of the information read from the nonuniformity correction memory 5 is "1" and a "1" signal is sent from the comparison circuit 7, and in other cases, the correction circuit position signal X′ from 2,
Outputs Y′ and unblank signal as is.
The timing signal generation circuit 8 holds the output and sends it to the output circuit 4 only when the most significant digit of the information read from the non-uniformity correction memory 5 is "0" and a "1" signal is sent from the comparison circuit 7. , the position signals X', Y' and the unblank signal from the correction circuit 2 are output after being held for a certain period of time.

不均一性補正メモリ5はこの実施例では
PROM(プログラマブル・リード・オンリ・メモ
リ)でなり、この各アドレスに記憶させるべき情
報はつぎのようにしてきめる。まず、全面にわた
つて均一な放射線源を用い、これを2次元放射線
位置検出器1で検出する。補正回路2から得られ
る補正後の位置信号X′,Y′およびアンブランク
信号によれば、被写体が一様なのであるから全面
にわたつて均一な画像が得られなければならな
い。ところが実際はどのように良好に補正したと
しても不均一性が残り、各位置でのカウント数C
は第2図のように平均値Mに対して上下する。こ
れを補正するには、P点でのカウント数Cpが平
均値Mをオーバしているのであれば、オーバして
いる分の比率で、出力された位置信号X′,Y′お
よびアンブランク信号を間引けばよい。また逆に
Q点でのカウント数Cqが平均値Mより低いので
あればその低い分の比率で、出力された位置信号
X′,Y′およびアンブランク信号に加えて、新た
な位置信号X′,Y′およびアンブランク信号をつ
け加えていけばよい。そこでこの実施例では、平
均値Mからの偏差の比率に対応した確率で位置信
号X′,Y′およびアンブランク信号を間引いたり
つけ加えたりしている。
In this embodiment, the non-uniformity correction memory 5 is
It is a PROM (programmable read-only memory), and the information to be stored at each address is determined as follows. First, a radiation source that is uniform over the entire surface is used and detected by the two-dimensional radiation position detector 1. According to the corrected position signals X', Y' and the unblank signal obtained from the correction circuit 2, since the subject is uniform, a uniform image must be obtained over the entire surface. However, in reality, no matter how well the correction is performed, non-uniformity remains, and the number of counts at each position C
increases and decreases with respect to the average value M as shown in FIG. To correct this, if the count number C p at point P exceeds the average value M, the output position signals X', Y' and unblank are Just thin out the signals. Conversely, if the count number C q at point Q is lower than the average value M, the output position signal is
In addition to X', Y' and unblank signals, new position signals X', Y' and unblank signals may be added. Therefore, in this embodiment, the position signals X', Y' and the unblank signal are thinned out or added at a probability corresponding to the ratio of deviation from the average value M.

すなわち、位置(i,j)でのカウント数Cを
Cijとすれば、Cij−Mが正のときは8ビツトの情
報の最上位桁を“1”とし、残りの下位7桁は、 (M/Cij)×127 を整数化した0〜127の整数値とする。また、Cij
−Mが0または負のときは、最上位桁を“0”と
し、残りの下位7桁は、 {(2Cij−M)/Cij}×127を整数化した0〜
127の整数値とする。こうして得た補正報を位置
(i,j)に対応するアドレスに書込む。
In other words, the count number C at position (i, j) is
If Cij is positive, the most significant digit of the 8-bit information is set to "1", and the remaining 7 lower digits are integers from 0 to 127 obtained by converting (M/Cij) x 127 into an integer. It is a numerical value. Also, Cij
When −M is 0 or negative, the most significant digit is set to “0” and the remaining 7 lower digits are 0 to
Take an integer value of 127. The correction information thus obtained is written to the address corresponding to position (i, j).

このような書込みの終了した後、通常の被写体
の撮影時に、得られた位置信号X′,Y′によりこ
の不均一性補正メモリ5の(i,j)のアドレス
が指定されたとする。すると、このアドレスに格
納されていた情報が読出され、このアドレスに対
応する位置(i,j)でオーバ側に不均一性が生
じているものであれば最上位桁は“1”となる。
乱数発生回路6は7ビツトの乱数つまり0〜127
の整数のどれかをランダムに出力している。した
がつて、上記の読出された情報の下位7桁とこの
乱数とを比較し前者が後者より小になる確率はオ
ーバした分の比率に対応していることになる。そ
こで比較回路7から“1”が生じこれによつて出
力回路1が禁止される確率はオーバした分の比率
に対応する。
Assume that after such writing is completed, the address (i, j) of the non-uniformity correction memory 5 is designated by the obtained position signals X', Y' during normal photographing of a subject. Then, the information stored at this address is read out, and if non-uniformity occurs on the over side at the position (i, j) corresponding to this address, the most significant digit becomes "1".
The random number generation circuit 6 generates a 7-bit random number, that is, 0 to 127.
Outputs one of the integers at random. Therefore, when comparing the lower seven digits of the above-mentioned read information and this random number, the probability that the former is smaller than the latter corresponds to the ratio of the excess. Therefore, the probability that "1" is generated from the comparator circuit 7 and that the output circuit 1 is inhibited corresponds to the ratio of the exceeded amount.

また、指定されたアドレスから読出された情報
の最上位桁が“0”であれば、このアドレスに対
応する位置(i,j)は低い側に不均一性が生じ
ている場所であることになる。このとき読出され
た情報の下位7桁が乱数より小となれば、比較回
路7よりタイミング信号発生回路8に“1”が与
えられ、また不均一性補正メモリ5からは最上位
桁の“0”が与えられているので、このタイミン
グ信号発生回路8から信号が生じ、これによりホ
ールドおよび出力回路4が動作させられる。した
がつてまず出力回路3から位置信号X′,Y,お
よびアンブランク信号が生じた後、一定時間経過
してからホールドおよび出力回路4より同じ位置
信号X′,Y′およびアンブランク信号が生じる。
そして読出された情報の下位7桁が乱数より小と
なる確率は低い側にあらわれた不均一性の程度の
比率に対応し、この確率で位置信号X′,Y′およ
びアンブランク信号が新たにつけ加えられること
になる。
Additionally, if the most significant digit of the information read from the specified address is "0", the position (i, j) corresponding to this address is a location where non-uniformity occurs on the lower side. Become. If the lower 7 digits of the information read at this time are smaller than the random number, the comparison circuit 7 gives "1" to the timing signal generation circuit 8, and the non-uniformity correction memory 5 gives the most significant digit "0". ” is given, a signal is generated from this timing signal generation circuit 8, which causes the hold and output circuit 4 to operate. Therefore, first, position signals X', Y, and an unblank signal are generated from the output circuit 3, and after a certain period of time, the same position signals X', Y' and an unblank signal are generated from the hold and output circuit 4. .
The probability that the lower seven digits of the read information will be smaller than the random number corresponds to the ratio of the degree of non-uniformity that appears on the lower side, and with this probability, the position signals X', Y' and the unblank signal will be newly generated. It will be added.

こうして不均一性補正を受けた後の位置信号
X″,Y″およびアンブランク信号のカウント数C
は、すべての位置で第2図の平均値Mに等しいも
のとなる。このように直線性補正およびエネルギ
補正をした後で不均一性補正を行なつているた
め、不均一性補正とは別個に直線性補正およびエ
ネルギ補正を最適なものとすることができ、不均
一性補正するため直線性等を犠牲にすることがな
い。また、計数率が不均一性補正によつて増減す
ることもなくなる。さらに直線性補正およびエネ
ルギ補正を従来に比して簡略化することも可能で
ある。
The position signal after undergoing non-uniformity correction in this way
X″, Y″ and unblank signal count number C
is equal to the average value M in FIG. 2 at all positions. Since non-uniformity correction is performed after linearity correction and energy correction in this way, linearity correction and energy correction can be optimized separately from non-uniformity correction. There is no need to sacrifice linearity etc. to correct the linearity. Furthermore, the counting rate will not increase or decrease due to non-uniformity correction. Furthermore, it is also possible to simplify linearity correction and energy correction compared to the conventional method.

なお、上記の実施例で不均一性補正メモリ5は
PROMで構成したが、RAM(ランダム・アクセ
ス・メモリ)で構成し、マイクロコンピユータ等
で制御するようにしてもよい。また新たにつけ加
える場合の位置信号はもとの位置信号と同じもの
でなく、これに重み付き変量を加えたものとして
もよい。
In addition, in the above embodiment, the non-uniformity correction memory 5 is
Although it is configured with PROM, it may also be configured with RAM (random access memory) and controlled by a microcomputer or the like. Furthermore, the position signal to be newly added is not the same as the original position signal, but may be one in which a weighted variable is added to the original position signal.

(ヘ) 効果 この発明によるシンチレーシヨンカメラでは、
不均一性が平均値よりも高い側に現現われている
か低い側に現われているかに応じて、その不均一
性の程度の平均値に対する比率に対応した確率
で、信号を間引くか、付け加えるかしているた
め、計数率が平均値程度に揃うことになつて計数
率の増減なしに、きめ細かで精度の高い不均一補
正を実現でき、優れた画像を得ることができる。
(F) Effect The scintillation camera according to this invention has the following effects:
Depending on whether the heterogeneity appears higher or lower than the average value, the signal can be thinned out or added with a probability corresponding to the ratio of the degree of heterogeneity to the average value. Therefore, the counting rate becomes approximately equal to the average value, and fine and highly accurate non-uniformity correction can be realized without increasing or decreasing the counting rate, making it possible to obtain an excellent image.

【図面の簡単な説明】[Brief explanation of the drawing]

第1図はこの発明の一実施例のブロツク図、第
2図は動作説明のため各位置でのカウント数Cを
あらわすグラフである。 1…2次元放射線位置検出器、2…補正回路、
3…出力回路、4…ホールドおよび出力回路、5
…不均一性補正メモリ、6…乱数発生回路、7…
比較回路、8…タイミング信号発生回路。
FIG. 1 is a block diagram of an embodiment of the present invention, and FIG. 2 is a graph showing the count C at each position to explain the operation. 1... Two-dimensional radiation position detector, 2... Correction circuit,
3...Output circuit, 4...Hold and output circuit, 5
... Non-uniformity correction memory, 6... Random number generation circuit, 7...
Comparison circuit, 8...timing signal generation circuit.

Claims (1)

【特許請求の範囲】[Claims] 1 2次元放射線位置検出器と、該検出器から出
力される位置信号及びアンブランク信号が入力さ
れて直線性補正及びエネルギ補正後の位置信号及
びアンブランク信号を出力する補正回路と、上記
補正回路の出力を用いてあらかじめ実測された不
均一性に基づき、各位置での不均一性が平均値よ
り高い側に生じているか低い側に生じているかを
表わす不均一性高低情報とその不均一性の程度が
平均値に対してどれだけの比率であるかを表わす
不均一性比率情報とが各位置に対応するアドレス
ごとに記憶させられている不均一性補正メモリ
と、被写体の撮影時に上記補正回路からのアンブ
ランク信号に応じて乱数信号を発生する乱数発生
回路と、被写体の撮影時に上記補正回路から得ら
れる位置信号によりアドレス指定することによつ
て上記不均−性補正メモリから読み出した不均−
性比率情報と上記乱数信号とを比較する比較回路
と、該比較回路出力及び被写体撮影時の補正回路
出力位置信号によりアドレス指定されて読み出さ
れた不均一性高低情報が高を表わしていることに
応じて、上記補正回路からの位置信号及びアンブ
ランク信号が出力されることを禁止する出力回路
と、上記補正回路からの位置信号及びアンブラン
ク信号を一時的に保持し、制御信号に応じて出力
するホールド及び出力回路と、上記比較回路出力
及び被写体撮影時の補正回路出力位置信号により
アドレス指定されて読み出された不均一性高低情
報が低を表わしていることに応じて動作し所定時
間経過後に上記ホールド及び出力回路に制御信号
を送つて保持された各信号を出力させるタイミン
グ発生回路とを備えることを特徴とするシンチレ
ーシヨンカメラ。
1. A two-dimensional radiation position detector, a correction circuit into which a position signal and an unblank signal outputted from the detector are input and outputs a position signal and an unblank signal after linearity correction and energy correction, and the above correction circuit. Based on the heterogeneity measured in advance using the output of The non-uniformity correction memory stores the non-uniformity ratio information representing the ratio of the degree to the average value for each address corresponding to each position, and the non-uniformity correction memory stores the non-uniformity ratio information representing the ratio of the degree of A random number generation circuit generates a random number signal in response to an unblank signal from the circuit, and a random number signal is read out from the non-uniformity correction memory by addressing using a position signal obtained from the correction circuit when photographing an object. Average
A comparison circuit that compares the sex ratio information and the random number signal, and the nonuniformity level information that is addressed and read out by the comparison circuit output and the correction circuit output position signal when photographing the subject indicates high. an output circuit that prohibits the position signal and unblank signal from the correction circuit from being output according to the control signal; and an output circuit that temporarily holds the position signal and the unblank signal from the correction circuit, and It operates for a predetermined period of time in response to the fact that the nonuniformity level information read out by the address designation of the output hold and output circuit, the output of the comparison circuit, and the output position signal of the correction circuit at the time of photographing the subject indicates low. A scintillation camera characterized by comprising a timing generation circuit that sends a control signal to the hold and output circuit to output each held signal after the elapse of time.
JP18328683A 1983-09-30 1983-09-30 scintillation camera Granted JPS6073482A (en)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP18328683A JPS6073482A (en) 1983-09-30 1983-09-30 scintillation camera

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP18328683A JPS6073482A (en) 1983-09-30 1983-09-30 scintillation camera

Publications (2)

Publication Number Publication Date
JPS6073482A JPS6073482A (en) 1985-04-25
JPH0462034B2 true JPH0462034B2 (en) 1992-10-02

Family

ID=16132990

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP18328683A Granted JPS6073482A (en) 1983-09-30 1983-09-30 scintillation camera

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Family Cites Families (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
AU505730B2 (en) * 1976-05-07 1979-11-29 Ohio-Nuclear, Inc Correction circuit for scintillation camera
JPS6042425B2 (en) * 1978-02-22 1985-09-21 株式会社東芝 scintillation camera

Also Published As

Publication number Publication date
JPS6073482A (en) 1985-04-25

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