JPH0462034B2 - - Google Patents
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- Publication number
- JPH0462034B2 JPH0462034B2 JP58183286A JP18328683A JPH0462034B2 JP H0462034 B2 JPH0462034 B2 JP H0462034B2 JP 58183286 A JP58183286 A JP 58183286A JP 18328683 A JP18328683 A JP 18328683A JP H0462034 B2 JPH0462034 B2 JP H0462034B2
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- signal
- circuit
- output
- correction
- uniformity
- Prior art date
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- Expired - Lifetime
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-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01T—MEASUREMENT OF NUCLEAR OR X-RADIATION
- G01T1/00—Measuring X-radiation, gamma radiation, corpuscular radiation, or cosmic radiation
- G01T1/16—Measuring radiation intensity
- G01T1/161—Applications in the field of nuclear medicine, e.g. in vivo counting
- G01T1/164—Scintigraphy
- G01T1/1641—Static instruments for imaging the distribution of radioactivity in one or two dimensions using one or several scintillating elements; Radio-isotope cameras
- G01T1/1642—Static instruments for imaging the distribution of radioactivity in one or two dimensions using one or several scintillating elements; Radio-isotope cameras using a scintillation crystal and position sensing photodetector arrays, e.g. ANGER cameras
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- Physics & Mathematics (AREA)
- Health & Medical Sciences (AREA)
- Engineering & Computer Science (AREA)
- Biomedical Technology (AREA)
- General Health & Medical Sciences (AREA)
- Medical Informatics (AREA)
- Nuclear Medicine, Radiotherapy & Molecular Imaging (AREA)
- Optics & Photonics (AREA)
- Life Sciences & Earth Sciences (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- High Energy & Nuclear Physics (AREA)
- Molecular Biology (AREA)
- Spectroscopy & Molecular Physics (AREA)
- Nuclear Medicine (AREA)
Description
【発明の詳細な説明】
(イ) 産業上の利用分野
この発明は、被写体から放射される放射線を２
次元放射線位置検出器で検出して被写体中に分布
する放射性物質の分布画像を撮像するためのシン
チレーシヨンカメラの改良に関する。
次元放射線位置検出器で検出して被写体中に分布
する放射性物質の分布画像を撮像するためのシン
チレーシヨンカメラの改良に関する。
(ロ) 従来技術
シンチレーシヨンカメラでは不均一性がひとつ
の問題であるが、この不均一性の原因は主に位置
による固有のエネルギレベルの変動および空間的
非直線性等である。従来より、これらの原因を除
き、不均一性を改善することが種々提案されてい
る（特公昭56−86377号公報および特公昭56−
86378号公報参照）。しかしながら、これらの従来
のものではいずれも、均一性を最良のものとする
ためには、直線性をある程度犠牲にし、直線性の
最も良い状態より少し悪い状態に保持する必要が
あつた。また、特に多核種、多重エネルギでは、
エネルギ補正、直線性補正してもなお単一エネル
ギ、１核種のときと比べて良好な均一性を得るこ
とが困難である。これらとは別に特公昭52−
137180号公報が均一性の改善について述べている
が、この場合には、均一性補正する前の段階で得
られた計数率に比べて必ず少ない計数率しか得ら
れないという欠点がある。
の問題であるが、この不均一性の原因は主に位置
による固有のエネルギレベルの変動および空間的
非直線性等である。従来より、これらの原因を除
き、不均一性を改善することが種々提案されてい
る（特公昭56−86377号公報および特公昭56−
86378号公報参照）。しかしながら、これらの従来
のものではいずれも、均一性を最良のものとする
ためには、直線性をある程度犠牲にし、直線性の
最も良い状態より少し悪い状態に保持する必要が
あつた。また、特に多核種、多重エネルギでは、
エネルギ補正、直線性補正してもなお単一エネル
ギ、１核種のときと比べて良好な均一性を得るこ
とが困難である。これらとは別に特公昭52−
137180号公報が均一性の改善について述べている
が、この場合には、均一性補正する前の段階で得
られた計数率に比べて必ず少ない計数率しか得ら
れないという欠点がある。
(ハ) 目的
この発明は、直線性の最も良い状態を保持しな
がら均一性を最良のものとし、しかも計数率特性
の劣化を招くこともないシンチレーシヨンカメラ
を提供することを目的とする。
がら均一性を最良のものとし、しかも計数率特性
の劣化を招くこともないシンチレーシヨンカメラ
を提供することを目的とする。
(ニ) 構成
この発明によるシンチレーシヨンカメラでは、
補正回路において直線性補正及びエネルギ補正を
受けた後の位置信号及びアンブランク信号を用い
て、あらかじめ、各位置での不均一性を実測し、
それに基づいて求めた、各位置での不均一性が平
均値より高い側に生じているか低い側に生じてい
るかを表わす不均一性高低情報とその不均一性の
程度が平均値に対してどれだけの比率であるかを
表わす不均一性比率情報とを、不均一性補正メモ
リの、各位置に対応するアドレスごとに記憶させ
ておく。そして、被写体の撮影時に補正回路から
位置信号及びアンブランク信号が得られたとき、
その位置信号で不均一性補正メモリのアドレスを
指定して、その位置に関する不均一性高低情報と
不均一性比率情報とを読み出す。この不均一性比
率情報は乱数発生回路からの乱数信号と比較され
て、その比較結果と、不均一性高低情報が高を表
わしていることに応じて、補正回路からの位置信
号及びアンブランク信号の出力が禁止される。そ
のため、不均一性が平均値よりも高の位置では、
その不均一性の程度の平均値に対する比率に応じ
た確率で出力が間引かれることとなる。他方、不
均一性高低情報が低を表わしているときは、不均
一性比率情報と乱数信号との比較結果に応じて、
一時的に保持していた補正回路からの位置信号及
びアンブランク信号を一定時間遅れたタイミング
で出力するので、不均一性が平均値よりも低の位
置では、その不均一性の程度の平均値に対する比
率に応じた確率で同一出力が新たに付け加えられ
る。
補正回路において直線性補正及びエネルギ補正を
受けた後の位置信号及びアンブランク信号を用い
て、あらかじめ、各位置での不均一性を実測し、
それに基づいて求めた、各位置での不均一性が平
均値より高い側に生じているか低い側に生じてい
るかを表わす不均一性高低情報とその不均一性の
程度が平均値に対してどれだけの比率であるかを
表わす不均一性比率情報とを、不均一性補正メモ
リの、各位置に対応するアドレスごとに記憶させ
ておく。そして、被写体の撮影時に補正回路から
位置信号及びアンブランク信号が得られたとき、
その位置信号で不均一性補正メモリのアドレスを
指定して、その位置に関する不均一性高低情報と
不均一性比率情報とを読み出す。この不均一性比
率情報は乱数発生回路からの乱数信号と比較され
て、その比較結果と、不均一性高低情報が高を表
わしていることに応じて、補正回路からの位置信
号及びアンブランク信号の出力が禁止される。そ
のため、不均一性が平均値よりも高の位置では、
その不均一性の程度の平均値に対する比率に応じ
た確率で出力が間引かれることとなる。他方、不
均一性高低情報が低を表わしているときは、不均
一性比率情報と乱数信号との比較結果に応じて、
一時的に保持していた補正回路からの位置信号及
びアンブランク信号を一定時間遅れたタイミング
で出力するので、不均一性が平均値よりも低の位
置では、その不均一性の程度の平均値に対する比
率に応じた確率で同一出力が新たに付け加えられ
る。
(ホ) 実施例
第１図において、２次元放射位置検出器１に放
射線が入射すると、これから位置信号Ｘ，Ｙ，エ
ネルギ信号およびアンブランク信号が生じ、これ
らが補正回路２に送られる。補正回路２は、Ａ／
Ｄ変換器、直線性補正回路、エネルギ補正回路等
を含み、これらの回路を経てアナログ信号からデ
ジタル信号に変換されかつ補正された位置信号
X′，Y′およびアンブランク信号が出力される。
この位置信号X′，Y′およびアンブランク信号は
出力回路３およびホールドおよび出力回路４に送
られる。位置信号X′，Y′はこの実施例ではとも
に12ビツトとし、その上位６ビツトが不均一性補
正メモリ５に送られてそのアドレスを指定する。
つまりここでは、不均一性補正は各画素の１つず
つについて異なる補正を施すのでなく、64×64の
画素が含まれる画素については同一の補正を加え
ようというのである。こうしてアドレス指定を受
けた不均一性補正メモリ５からそのアドレスに格
納されていた補正情報が読出される。この実施例
では、この補正情報は８ビツトであり、最上位桁
の１ビツトが出力回路３およびタイミング信号発
生回路８に送られ、下位の７ビツトが比較回路７
に送られる。乱数発生回路６はアンブランク信号
によつてトリガされて７ビツトの乱数を発生し、
これを比較回路７に送る。比較回路７は、これら
２つの入力を比較し、乱数の方が大きい場合に
“１”を出力し、逆の場合に“０”を出力して、
これらを出力回路３とタイミング信号発生回路８
に送る。出力回路３は不均一性補正メモリ５から
読出された情報の最上位桁が“１”でかつ比較回
路７から“１”信号が送られたときのみ出力を禁
止し、他の場合は補正回路２からの位置信号X′，
Y′およびアンブランク信号をそのまま出力する。
タイミング信号発生回路８は不均一性補正メモリ
５から読出された情報の最上位桁が“０”でかつ
比較回路７から“１”信号が送られたときのみ出
力をホールドおよび出力回路４に送り、補正回路
２からの位置信号X′，Y′およびアンブランク信
号を一定時間ホールドした後出力させる。
射線が入射すると、これから位置信号Ｘ，Ｙ，エ
ネルギ信号およびアンブランク信号が生じ、これ
らが補正回路２に送られる。補正回路２は、Ａ／
Ｄ変換器、直線性補正回路、エネルギ補正回路等
を含み、これらの回路を経てアナログ信号からデ
ジタル信号に変換されかつ補正された位置信号
X′，Y′およびアンブランク信号が出力される。
この位置信号X′，Y′およびアンブランク信号は
出力回路３およびホールドおよび出力回路４に送
られる。位置信号X′，Y′はこの実施例ではとも
に12ビツトとし、その上位６ビツトが不均一性補
正メモリ５に送られてそのアドレスを指定する。
つまりここでは、不均一性補正は各画素の１つず
つについて異なる補正を施すのでなく、64×64の
画素が含まれる画素については同一の補正を加え
ようというのである。こうしてアドレス指定を受
けた不均一性補正メモリ５からそのアドレスに格
納されていた補正情報が読出される。この実施例
では、この補正情報は８ビツトであり、最上位桁
の１ビツトが出力回路３およびタイミング信号発
生回路８に送られ、下位の７ビツトが比較回路７
に送られる。乱数発生回路６はアンブランク信号
によつてトリガされて７ビツトの乱数を発生し、
これを比較回路７に送る。比較回路７は、これら
２つの入力を比較し、乱数の方が大きい場合に
“１”を出力し、逆の場合に“０”を出力して、
これらを出力回路３とタイミング信号発生回路８
に送る。出力回路３は不均一性補正メモリ５から
読出された情報の最上位桁が“１”でかつ比較回
路７から“１”信号が送られたときのみ出力を禁
止し、他の場合は補正回路２からの位置信号X′，
Y′およびアンブランク信号をそのまま出力する。
タイミング信号発生回路８は不均一性補正メモリ
５から読出された情報の最上位桁が“０”でかつ
比較回路７から“１”信号が送られたときのみ出
力をホールドおよび出力回路４に送り、補正回路
２からの位置信号X′，Y′およびアンブランク信
号を一定時間ホールドした後出力させる。
不均一性補正メモリ５はこの実施例では
PROM（プログラマブル・リード・オンリ・メモ
リ）でなり、この各アドレスに記憶させるべき情
報はつぎのようにしてきめる。まず、全面にわた
つて均一な放射線源を用い、これを２次元放射線
位置検出器１で検出する。補正回路２から得られ
る補正後の位置信号X′，Y′およびアンブランク
信号によれば、被写体が一様なのであるから全面
にわたつて均一な画像が得られなければならな
い。ところが実際はどのように良好に補正したと
しても不均一性が残り、各位置でのカウント数Ｃ
は第２図のように平均値Ｍに対して上下する。こ
れを補正するには、Ｐ点でのカウント数Cpが平
均値Ｍをオーバしているのであれば、オーバして
いる分の比率で、出力された位置信号X′，Y′お
よびアンブランク信号を間引けばよい。また逆に
Ｑ点でのカウント数Cqが平均値Ｍより低いので
あればその低い分の比率で、出力された位置信号
X′，Y′およびアンブランク信号に加えて、新た
な位置信号X′，Y′およびアンブランク信号をつ
け加えていけばよい。そこでこの実施例では、平
均値Ｍからの偏差の比率に対応した確率で位置信
号X′，Y′およびアンブランク信号を間引いたり
つけ加えたりしている。
PROM（プログラマブル・リード・オンリ・メモ
リ）でなり、この各アドレスに記憶させるべき情
報はつぎのようにしてきめる。まず、全面にわた
つて均一な放射線源を用い、これを２次元放射線
位置検出器１で検出する。補正回路２から得られ
る補正後の位置信号X′，Y′およびアンブランク
信号によれば、被写体が一様なのであるから全面
にわたつて均一な画像が得られなければならな
い。ところが実際はどのように良好に補正したと
しても不均一性が残り、各位置でのカウント数Ｃ
は第２図のように平均値Ｍに対して上下する。こ
れを補正するには、Ｐ点でのカウント数Cpが平
均値Ｍをオーバしているのであれば、オーバして
いる分の比率で、出力された位置信号X′，Y′お
よびアンブランク信号を間引けばよい。また逆に
Ｑ点でのカウント数Cqが平均値Ｍより低いので
あればその低い分の比率で、出力された位置信号
X′，Y′およびアンブランク信号に加えて、新た
な位置信号X′，Y′およびアンブランク信号をつ
け加えていけばよい。そこでこの実施例では、平
均値Ｍからの偏差の比率に対応した確率で位置信
号X′，Y′およびアンブランク信号を間引いたり
つけ加えたりしている。
すなわち、位置（ｉ，ｊ）でのカウント数Ｃを
Cijとすれば、Cij−Ｍが正のときは８ビツトの情
報の最上位桁を“１”とし、残りの下位７桁は、 （Ｍ／Cij）×127 を整数化した０〜127の整数値とする。また、Cij
−Ｍが０または負のときは、最上位桁を“０”と
し、残りの下位７桁は、 ｛（2Cij−Ｍ）／Cij｝×127を整数化した０〜
127の整数値とする。こうして得た補正報を位置
（ｉ，ｊ）に対応するアドレスに書込む。
Cijとすれば、Cij−Ｍが正のときは８ビツトの情
報の最上位桁を“１”とし、残りの下位７桁は、 （Ｍ／Cij）×127 を整数化した０〜127の整数値とする。また、Cij
−Ｍが０または負のときは、最上位桁を“０”と
し、残りの下位７桁は、 ｛（2Cij−Ｍ）／Cij｝×127を整数化した０〜
127の整数値とする。こうして得た補正報を位置
（ｉ，ｊ）に対応するアドレスに書込む。
このような書込みの終了した後、通常の被写体
の撮影時に、得られた位置信号X′，Y′によりこ
の不均一性補正メモリ５の（ｉ，ｊ）のアドレス
が指定されたとする。すると、このアドレスに格
納されていた情報が読出され、このアドレスに対
応する位置（ｉ，ｊ）でオーバ側に不均一性が生
じているものであれば最上位桁は“１”となる。
乱数発生回路６は７ビツトの乱数つまり０〜127
の整数のどれかをランダムに出力している。した
がつて、上記の読出された情報の下位７桁とこの
乱数とを比較し前者が後者より小になる確率はオ
ーバした分の比率に対応していることになる。そ
こで比較回路７から“１”が生じこれによつて出
力回路１が禁止される確率はオーバした分の比率
に対応する。
の撮影時に、得られた位置信号X′，Y′によりこ
の不均一性補正メモリ５の（ｉ，ｊ）のアドレス
が指定されたとする。すると、このアドレスに格
納されていた情報が読出され、このアドレスに対
応する位置（ｉ，ｊ）でオーバ側に不均一性が生
じているものであれば最上位桁は“１”となる。
乱数発生回路６は７ビツトの乱数つまり０〜127
の整数のどれかをランダムに出力している。した
がつて、上記の読出された情報の下位７桁とこの
乱数とを比較し前者が後者より小になる確率はオ
ーバした分の比率に対応していることになる。そ
こで比較回路７から“１”が生じこれによつて出
力回路１が禁止される確率はオーバした分の比率
に対応する。
また、指定されたアドレスから読出された情報
の最上位桁が“０”であれば、このアドレスに対
応する位置（ｉ，ｊ）は低い側に不均一性が生じ
ている場所であることになる。このとき読出され
た情報の下位７桁が乱数より小となれば、比較回
路７よりタイミング信号発生回路８に“１”が与
えられ、また不均一性補正メモリ５からは最上位
桁の“０”が与えられているので、このタイミン
グ信号発生回路８から信号が生じ、これによりホ
ールドおよび出力回路４が動作させられる。した
がつてまず出力回路３から位置信号X′，Ｙ，お
よびアンブランク信号が生じた後、一定時間経過
してからホールドおよび出力回路４より同じ位置
信号X′，Y′およびアンブランク信号が生じる。
そして読出された情報の下位７桁が乱数より小と
なる確率は低い側にあらわれた不均一性の程度の
比率に対応し、この確率で位置信号X′，Y′およ
びアンブランク信号が新たにつけ加えられること
になる。
の最上位桁が“０”であれば、このアドレスに対
応する位置（ｉ，ｊ）は低い側に不均一性が生じ
ている場所であることになる。このとき読出され
た情報の下位７桁が乱数より小となれば、比較回
路７よりタイミング信号発生回路８に“１”が与
えられ、また不均一性補正メモリ５からは最上位
桁の“０”が与えられているので、このタイミン
グ信号発生回路８から信号が生じ、これによりホ
ールドおよび出力回路４が動作させられる。した
がつてまず出力回路３から位置信号X′，Ｙ，お
よびアンブランク信号が生じた後、一定時間経過
してからホールドおよび出力回路４より同じ位置
信号X′，Y′およびアンブランク信号が生じる。
そして読出された情報の下位７桁が乱数より小と
なる確率は低い側にあらわれた不均一性の程度の
比率に対応し、この確率で位置信号X′，Y′およ
びアンブランク信号が新たにつけ加えられること
になる。
こうして不均一性補正を受けた後の位置信号
X″，Y″およびアンブランク信号のカウント数Ｃ
は、すべての位置で第２図の平均値Ｍに等しいも
のとなる。このように直線性補正およびエネルギ
補正をした後で不均一性補正を行なつているた
め、不均一性補正とは別個に直線性補正およびエ
ネルギ補正を最適なものとすることができ、不均
一性補正するため直線性等を犠牲にすることがな
い。また、計数率が不均一性補正によつて増減す
ることもなくなる。さらに直線性補正およびエネ
ルギ補正を従来に比して簡略化することも可能で
ある。
X″，Y″およびアンブランク信号のカウント数Ｃ
は、すべての位置で第２図の平均値Ｍに等しいも
のとなる。このように直線性補正およびエネルギ
補正をした後で不均一性補正を行なつているた
め、不均一性補正とは別個に直線性補正およびエ
ネルギ補正を最適なものとすることができ、不均
一性補正するため直線性等を犠牲にすることがな
い。また、計数率が不均一性補正によつて増減す
ることもなくなる。さらに直線性補正およびエネ
ルギ補正を従来に比して簡略化することも可能で
ある。
なお、上記の実施例で不均一性補正メモリ５は
PROMで構成したが、RAM（ランダム・アクセ
ス・メモリ）で構成し、マイクロコンピユータ等
で制御するようにしてもよい。また新たにつけ加
える場合の位置信号はもとの位置信号と同じもの
でなく、これに重み付き変量を加えたものとして
もよい。
PROMで構成したが、RAM（ランダム・アクセ
ス・メモリ）で構成し、マイクロコンピユータ等
で制御するようにしてもよい。また新たにつけ加
える場合の位置信号はもとの位置信号と同じもの
でなく、これに重み付き変量を加えたものとして
もよい。
(ヘ) 効果
この発明によるシンチレーシヨンカメラでは、
不均一性が平均値よりも高い側に現現われている
か低い側に現われているかに応じて、その不均一
性の程度の平均値に対する比率に対応した確率
で、信号を間引くか、付け加えるかしているた
め、計数率が平均値程度に揃うことになつて計数
率の増減なしに、きめ細かで精度の高い不均一補
正を実現でき、優れた画像を得ることができる。
不均一性が平均値よりも高い側に現現われている
か低い側に現われているかに応じて、その不均一
性の程度の平均値に対する比率に対応した確率
で、信号を間引くか、付け加えるかしているた
め、計数率が平均値程度に揃うことになつて計数
率の増減なしに、きめ細かで精度の高い不均一補
正を実現でき、優れた画像を得ることができる。
第１図はこの発明の一実施例のブロツク図、第
２図は動作説明のため各位置でのカウント数Ｃを
あらわすグラフである。 １…２次元放射線位置検出器、２…補正回路、
３…出力回路、４…ホールドおよび出力回路、５
…不均一性補正メモリ、６…乱数発生回路、７…
比較回路、８…タイミング信号発生回路。
２図は動作説明のため各位置でのカウント数Ｃを
あらわすグラフである。 １…２次元放射線位置検出器、２…補正回路、
３…出力回路、４…ホールドおよび出力回路、５
…不均一性補正メモリ、６…乱数発生回路、７…
比較回路、８…タイミング信号発生回路。
Claims (1)
- １ ２次元放射線位置検出器と、該検出器から出
力される位置信号及びアンブランク信号が入力さ
れて直線性補正及びエネルギ補正後の位置信号及
びアンブランク信号を出力する補正回路と、上記
補正回路の出力を用いてあらかじめ実測された不
均一性に基づき、各位置での不均一性が平均値よ
り高い側に生じているか低い側に生じているかを
表わす不均一性高低情報とその不均一性の程度が
平均値に対してどれだけの比率であるかを表わす
不均一性比率情報とが各位置に対応するアドレス
ごとに記憶させられている不均一性補正メモリ
と、被写体の撮影時に上記補正回路からのアンブ
ランク信号に応じて乱数信号を発生する乱数発生
回路と、被写体の撮影時に上記補正回路から得ら
れる位置信号によりアドレス指定することによつ
て上記不均−性補正メモリから読み出した不均−
性比率情報と上記乱数信号とを比較する比較回路
と、該比較回路出力及び被写体撮影時の補正回路
出力位置信号によりアドレス指定されて読み出さ
れた不均一性高低情報が高を表わしていることに
応じて、上記補正回路からの位置信号及びアンブ
ランク信号が出力されることを禁止する出力回路
と、上記補正回路からの位置信号及びアンブラン
ク信号を一時的に保持し、制御信号に応じて出力
するホールド及び出力回路と、上記比較回路出力
及び被写体撮影時の補正回路出力位置信号により
アドレス指定されて読み出された不均一性高低情
報が低を表わしていることに応じて動作し所定時
間経過後に上記ホールド及び出力回路に制御信号
を送つて保持された各信号を出力させるタイミン
グ発生回路とを備えることを特徴とするシンチレ
ーシヨンカメラ。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP18328683A JPS6073482A (ja) | 1983-09-30 | 1983-09-30 | シンチレ−シヨンカメラ |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP18328683A JPS6073482A (ja) | 1983-09-30 | 1983-09-30 | シンチレ−シヨンカメラ |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS6073482A JPS6073482A (ja) | 1985-04-25 |
| JPH0462034B2 true JPH0462034B2 (ja) | 1992-10-02 |
Family
ID=16132990
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP18328683A Granted JPS6073482A (ja) | 1983-09-30 | 1983-09-30 | シンチレ−シヨンカメラ |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS6073482A (ja) |
Family Cites Families (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| AU505730B2 (en) * | 1976-05-07 | 1979-11-29 | Ohio-Nuclear, Inc | Correction circuit for scintillation camera |
| JPS6042425B2 (ja) * | 1978-02-22 | 1985-09-21 | 株式会社東芝 | シンチレ−シヨンカメラ |
-
1983
- 1983-09-30 JP JP18328683A patent/JPS6073482A/ja active Granted
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPS6073482A (ja) | 1985-04-25 |
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