JPH0465392A - Molecular beam epitaxial crystal growing device - Google Patents
Molecular beam epitaxial crystal growing deviceInfo
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- JPH0465392A JPH0465392A JP17859090A JP17859090A JPH0465392A JP H0465392 A JPH0465392 A JP H0465392A JP 17859090 A JP17859090 A JP 17859090A JP 17859090 A JP17859090 A JP 17859090A JP H0465392 A JPH0465392 A JP H0465392A
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Abstract
Description
【発明の詳細な説明】
〔産業上の利用分野〕
この発明は、分子線エピタキシー法により結晶を成長す
る装置に関し、特にGaAs等の半導体結晶成長に用い
られる分子線エピタキシー用セルの改良に関するもので
ある。[Detailed Description of the Invention] [Industrial Application Field] This invention relates to an apparatus for growing crystals by molecular beam epitaxy, and in particular to improvements in molecular beam epitaxy cells used for growing semiconductor crystals such as GaAs. be.
[従来の技術]
従来、分子線エピタキシー法による結晶成長においては
、原料の供給はP B N (Pyrolitic B
or。[Prior Art] Conventionally, in crystal growth by molecular beam epitaxy, raw materials are supplied using PBN (Pyrolitic B
or.
n N1triae)などで作られたるつぼ中に、例え
ばGaAsを結晶成長させる場合においてはGaやAS
、あるいはドーピング材となるSiなどをそれぞれるつ
ぼに入れ、それぞれの蒸発比率を一定に保ち、基板上に
所要の結晶をエピタキシャル成長させることが一般に行
なわれている。For example, when growing GaAs crystals in a crucible made of
Alternatively, it is common practice to place doping materials such as Si in a crucible and keep their evaporation ratios constant to epitaxially grow a desired crystal on a substrate.
以下、この従来の方法による分子線エピタキシー法にお
けるGaAsの結晶成長に用いられるGaセルを例にと
って説明する。Hereinafter, a Ga cell used for crystal growth of GaAs in the conventional molecular beam epitaxy method will be explained as an example.
第6図はこの従来のGa用セル構造の概略構成図を示す
。この図において、10はGa用セル、1は放熱防止用
筒、2はるつぼ、3は材料源(蒸発源)としてのGa、
4は加熱用ヒーター、5は熱電対、6はシャッターであ
る。FIG. 6 shows a schematic diagram of this conventional Ga cell structure. In this figure, 10 is a cell for Ga, 1 is a tube for preventing heat radiation, 2 is a crucible, 3 is Ga as a material source (evaporation source),
4 is a heating heater, 5 is a thermocouple, and 6 is a shutter.
Ga用セル10は放熱防止用筒lの中にPBNなどで作
られたるつぼ2を設置し、るつぼ2の中に材料源(蒸発
源)であるQaを入れておく。るつぽ2は加熱用ヒータ
ー4で例えば800〜900℃に加熱され、熱電対5に
よりその温度が検出され、所定の温度に調節される。In the Ga cell 10, a crucible 2 made of PBN or the like is installed in a heat radiation prevention cylinder l, and Qa as a material source (evaporation source) is placed in the crucible 2. The crucible 2 is heated to, for example, 800 to 900° C. by a heating heater 4, and the temperature is detected by a thermocouple 5 and adjusted to a predetermined temperature.
他の例えばAsやドーピング材など必要な材料源も同様
に所定の条件に設定し、成長すべき基板の温度、その他
の条件を設定した後、Ga用セル10のシャッター6を
開けるとGa3は蒸発する。After setting other necessary material sources such as As and doping materials to predetermined conditions, and setting the temperature of the substrate to be grown and other conditions, when the shutter 6 of the Ga cell 10 is opened, Ga3 evaporates. do.
かくして、例えば約50印上方に配置された基板上にG
aASの結晶が0.5〜1μm/時間の速度で成長する
。Thus, for example, a G
Crystals of aAS grow at a rate of 0.5-1 μm/hour.
1発明が解決しようとする課題〕
従来の分子線エピタキシャル結晶成長装置は、上記の様
な方法で結晶成長させるようにしており、結晶成長させ
る時、るつぼ2中のGa3は成長を重ねてゆくと減少し
てゆく。これは例えば1回結晶成長するごとに1gずつ
減少するような割合である。この時、るつぼを加熱する
ヒーター4は第7図に示すごとく、るつぼの先端部より
下部に向かって数十度温度が低くなる、すわちトップヒ
ート構造となっているので、材料源が減少する↓こ従っ
て材料源の最上部の温度は低くなり、蒸発量が減少する
。1. Problems to be Solved by the Invention] The conventional molecular beam epitaxial crystal growth apparatus grows crystals using the method described above, and when growing a crystal, Ga3 in the crucible 2 grows as it grows. It continues to decrease. This is a rate such that, for example, the weight decreases by 1 g for each crystal growth. At this time, as shown in Figure 7, the heater 4 that heats the crucible has a top heat structure in which the temperature decreases by several tens of degrees from the tip of the crucible toward the bottom, so the material source is reduced. ↓Thus, the temperature at the top of the material source becomes lower and the amount of evaporation decreases.
蒸発量の減少は成長速度の減少を招き、同一条件で所望
の厚みの成長層を得ることができなくなる。A decrease in the amount of evaporation leads to a decrease in the growth rate, making it impossible to obtain a growth layer of a desired thickness under the same conditions.
このため、同一厚みの成長層を得ようとするならば、元
の蒸発量を維持するためにるつぼの温度を上げるか、成
長時間を長くするかする必要があった。Therefore, in order to obtain a grown layer of the same thickness, it was necessary to either raise the temperature of the crucible or lengthen the growth time in order to maintain the original amount of evaporation.
しかしながら、成長速度を検出するために実際に成長し
た成長層の厚みを確認し、それらの結果より次の成長時
に蒸発量を修正すべきGa3の温度を決定する必要があ
り大変わずられしい。However, in order to detect the growth rate, it is necessary to check the thickness of the growth layer that has actually grown, and from those results determine the temperature of Ga3 at which the amount of evaporation should be corrected during the next growth, which is very troublesome.
この発明は、上記の様な問題点を解決するためになされ
たもので、材料源の減少に従って成長速度が減少するこ
とを防ぎ、同一条件で安定した結晶を再現性良く得られ
る分子線エピタキシャル結晶成長装置を得ることを目的
とする。This invention was made to solve the above-mentioned problems, and is a molecular beam epitaxial crystal that prevents the growth rate from decreasing due to a decrease in material sources and can obtain stable crystals with good reproducibility under the same conditions. The purpose is to obtain a growth device.
この発明に係る分子線エピタキシャル結晶成長装置は、
分子線エピタキシー用セルに組込まれたるつぼを2重式
にし、内側の第2のるつぼに材料源を入れるとともに外
側の第1のるつぼを一定温度に加熱可能なヒーターで加
熱するとともに、第2のるつぼに入れた材料源は成長を
重ねるに従って減少するために、材料源の最先端部の温
度が低くなり蒸発量が減少し、成長速度が減少するので
、材料源の減少量だけ第2のるつぼを上昇させ、材料源
の最先端部分は常に一定位W(一定温度)になるように
するか、あるいは、所望の成長速度で目的とする結晶を
再現性良く得られるように、成長中に適当な位置にるつ
ぼを移動させるようにしたものである。The molecular beam epitaxial crystal growth apparatus according to the present invention includes:
The crucible built into the cell for molecular beam epitaxy is double-layered, and a material source is put into the inner second crucible, and the outer first crucible is heated with a heater capable of heating to a constant temperature. As the material source placed in the crucible decreases as it grows, the temperature at the leading edge of the material source decreases, the amount of evaporation decreases, and the growth rate decreases. Either increase the temperature so that the leading edge of the material source is always at a constant W (constant temperature), or increase the The crucible is moved to a certain position.
また、分子線エピタキシー用セルに組み込まれたるつぼ
においては、るつぼ中に入れられた材料源は成長を重ね
るに従って減少するために、材料源の最先端部の温度が
低くなり蒸発量は減少する。Further, in a crucible incorporated in a cell for molecular beam epitaxy, the material source placed in the crucible decreases as the material grows, so the temperature at the leading edge of the material source decreases and the amount of evaporation decreases.
すなわち、成長速度が減少するので、一定の成長速度を
保つためには低下した温度分だけ材料源の温度を上げて
やれば良く、そのため、この発明に係る分子線エピタキ
シャル結晶成長装置は、材料源の液面の高さの変化(材
料源の減少量)と成長速度の変化の関係を温度制御部に
フィードバックし、成長速度を常に一定になるようにヒ
ーターへの電力供給量を制御するようにしたものである
。In other words, since the growth rate decreases, in order to maintain a constant growth rate, it is only necessary to increase the temperature of the material source by the amount of the decreased temperature. Therefore, the molecular beam epitaxial crystal growth apparatus according to the present invention The relationship between changes in the liquid level height (reduction in material source) and changes in growth rate is fed back to the temperature control unit, and the amount of power supplied to the heater is controlled to keep the growth rate constant. This is what I did.
C作用〕
この発明ムこおいては、材料源を入れたるつぼを移動式
にすることにより材料源の変化に従いるつぼの位置を変
えることができる様にしたため、材料源の最先端部分は
常に一定の位置に保持できる。Effect C] In this invention, the crucible containing the material source is made movable so that the position of the crucible can be changed according to changes in the material source, so the leading edge of the material source is always kept constant. It can be held in position.
従って一定成長速度で安定して一定特性の結晶が得られ
る。また、成長中においてもるつぼの位置を変え成長速
度を変えることができるので、簡単な操作で組成の異な
った結晶、例えばGaAlAs等の混晶の場合の組成比
を簡単に変えることができる。Therefore, a crystal with constant characteristics can be stably obtained at a constant growth rate. Furthermore, since the growth rate can be changed by changing the position of the crucible during growth, the composition ratio of crystals with different compositions, for example, mixed crystals such as GaAlAs, can be easily changed with a simple operation.
また、この発明においては、るつぼに入れた材料源の液
量の変化を材料源の液面の高さの変化により検出し、そ
の変化量をるつぼを加熱しているヒーターへの温度制御
部にフィードバックし成長速度を一定になる様に制御す
るようにしたので、一定の特性の結晶を安定して得られ
ることができる。In addition, in this invention, changes in the amount of liquid in the material source placed in the crucible are detected by changes in the height of the liquid level in the material source, and the amount of change is sent to the temperature control unit for the heater heating the crucible. Since the growth rate is controlled to be constant through feedback, crystals with constant characteristics can be stably obtained.
以下、この発明の実施例を図について説明する。 Embodiments of the present invention will be described below with reference to the drawings.
第1図はこの発明の第1の実施例による分子線エピタキ
シャル結晶成長装置での結晶成長に用いられる分子線エ
ピタキシー用セルの一例を示す概略構成図である。第2
図はこのセルのるつぼの温度分布の一例を示す温度分布
図である。FIG. 1 is a schematic diagram showing an example of a molecular beam epitaxy cell used for crystal growth in a molecular beam epitaxial crystal growth apparatus according to a first embodiment of the present invention. Second
The figure is a temperature distribution diagram showing an example of the temperature distribution in the crucible of this cell.
なお、ここでは例えば■−v族化合物半導体であるGa
As結晶を作る場合のGaセルについて説明する。Note that here, for example, Ga, which is a ■-v group compound semiconductor, is used.
A Ga cell for producing As crystal will be explained.
第1図において、1は放熱防止筒で、その中に一定温度
で加熱可能な加熱用ヒーター4が設けられている。2は
Ga3を入れるための第1のるつぼ、7は第1のるつぼ
2を保護するための第2のるつぼである。In FIG. 1, reference numeral 1 denotes a heat radiation prevention cylinder, in which a heating heater 4 capable of heating at a constant temperature is provided. 2 is a first crucible for containing Ga3, and 7 is a second crucible for protecting the first crucible 2.
第1のるつぼは上下移動用の支持棒8で支持され、目的
とする位置に移動できるように構成されている。なお2
0はGa用セル全体を示す。The first crucible is supported by a support rod 8 for vertical movement, and is configured to be movable to a desired position. Note 2
0 indicates the entire Ga cell.
次にその実施例とじて、GaAsを結晶成長する場合に
ついて説明する。Next, as an example, a case where GaAs crystal is grown will be described.
第1図のごとく構成されたセル20の第1のるつぼ2の
中に材料源であるCa3を入れる。るっぽ2の加熱は第
2のるつぼ7の外側より加熱用ヒーター4で行ない、熱
電対5で温度を検出し、所定の温度になるように調節さ
れる。他の材料源であるAsその他のセル(図示せず)
も同様に温度調節され、成長すべき基板(図示せず)も
所定の温度に設定し、その他の条件が整った後、各セル
のンヤソタ−6を開き成長を開始する。Ca3, which is a material source, is put into the first crucible 2 of the cell 20 configured as shown in FIG. Heating of the Luppo 2 is performed from the outside of the second crucible 7 with a heating heater 4, the temperature is detected with a thermocouple 5, and the temperature is adjusted to a predetermined temperature. Other material sources such as As and other cells (not shown)
After the substrate (not shown) to be grown is also set at a predetermined temperature and other conditions are set, the temperature soter 6 of each cell is opened to start growth.
エピタキシャル成長はセルに入れられたGaを消費しな
がら行なわれるために、材料lGa5は成長を重ねる毎
に減少する。この時るつぼの温度は第2図に示したごと
く、るつぼの先端部より底部に向いて温度が低くなる。Since epitaxial growth is performed while consuming Ga put in the cell, the material lGa5 decreases with each growth. At this time, as shown in FIG. 2, the temperature of the crucible decreases from the tip toward the bottom of the crucible.
すなわち、トップヒト構造になっているために、GaS
量の減少に従いGa3の最先端部は下方に下がりC,a
3の温度は低下する。すなわち、成長速度は遅くなる。In other words, because it has a top human structure, GaS
As the amount decreases, the leading edge of Ga3 moves downward C,a
3 temperature decreases. That is, the growth rate becomes slower.
そのために、本実施例においてはGa3の減少量だけ支
持棒8でるつぼを上方に上昇させ、Ga3の液面の最先
端部が常に一定位置に来るように調整する。かくしてG
a3の蒸発量は一定に保たれ、他の条件を変えることな
く所定の特性を持ったエピタキシャルを安定して得るこ
とができる。For this purpose, in this embodiment, the crucible is raised upward by the support rod 8 by the amount by which Ga3 is reduced, and the crucible is adjusted so that the most extreme part of the liquid level of Ga3 is always at a constant position. Thus G
The amount of evaporation of a3 is kept constant, making it possible to stably obtain epitaxial material with predetermined characteristics without changing other conditions.
また、るつぼ2を所定の温度に加熱しながら、るつぼ2
の位置を任意に変えることにより成長速度を変えること
ができるので、成長中においても組成の異なる成長層を
得ることも可能である。Also, while heating the crucible 2 to a predetermined temperature,
Since the growth rate can be changed by arbitrarily changing the position of , it is also possible to obtain growth layers with different compositions even during growth.
なお、材料源Ga3の液面の高さは光学的、マイクロ波
的、赤外線的方法等、必要に応じて最適な装置で測定す
ることができる。Note that the height of the liquid level of the material source Ga3 can be measured using an optimal device as required, such as an optical method, a microwave method, an infrared method, or the like.
また、第3図はこの発明の第2の実施例による分子線エ
ピタキシャル結晶成長装置による結晶成長に用いる分子
線エピタキシー用セルの一例を示す概略構成図、第4図
は当該セルに組み込まれたるつぼの部分の温度分布の概
略図、第5図は材料源Ga量に対する成長速度変化の概
略図である。Further, FIG. 3 is a schematic configuration diagram showing an example of a cell for molecular beam epitaxy used for crystal growth by a molecular beam epitaxial crystal growth apparatus according to a second embodiment of the present invention, and FIG. 4 is a crucible incorporated in the cell. FIG. 5 is a schematic diagram of the temperature distribution in the region shown in FIG.
なお、ここでは例えばm−v族化合物半導体であるGa
As結晶を作る場合のGaセルについて説明する。Note that here, for example, Ga, which is an m-v group compound semiconductor, is used.
A Ga cell for producing As crystal will be explained.
第3図のごとく構成されたセル1oのるっぽ2の中に材
料源Ga3を入れる。るっぽ2の加熱は加熱用ヒーター
4aで行ない、熱電対5で温度を検出し、所定の温度に
なるように調節する。他の材料源であるAsその他のセ
ル(図示せず)も同様に調節され、成長すべき基板(図
示せず)も所定の温度に設定する。A material source Ga3 is put into the cell 1o configured as shown in FIG. Lupo 2 is heated by a heating heater 4a, the temperature is detected by a thermocouple 5, and adjusted to a predetermined temperature. Other material sources such as As or other cells (not shown) are similarly adjusted, and the substrate to be grown (not shown) is also set at a predetermined temperature.
その他の条件が整った後、各セルおよび材料源Ga3の
シャッター6を開き成長を開始する。After other conditions are set, the shutters 6 of each cell and material source Ga3 are opened to start growth.
エピタキシャル成長はるっぽ2に入れられたGa3を消
費しながら行なわれるために、材料#1Ga3は成長を
重ねるに従って減少する。この時、るつぼ2の温度は第
4図のごとくるつば2の先端部より底部に向かって温度
が低くなる。すなわち、トップヒート構造になっている
ために、材料源Ga3の減少に従い、材料fiGa3の
最先端部は下方に下がり温度は低下する。すなわち、第
3図に示した如く、例えば材料@Ga3の先端部がA点
よりA′点に下がると成長速度は遅くなる。Since the epitaxial growth is performed while consuming the Ga3 put in the material #1, the amount of Ga3 in the material #1 decreases as it grows. At this time, the temperature of the crucible 2 becomes lower than the tip of the crucible 2 toward the bottom, as shown in FIG. That is, since it has a top heat structure, as the material source Ga3 decreases, the leading edge of the material fiGa3 falls downward and the temperature decreases. That is, as shown in FIG. 3, for example, when the tip of the material @Ga3 drops from point A to point A', the growth rate slows down.
そのため、本実施例においては、材料源の減少量を第3
図のGa量チエツク用窓17より観測し、材料源の液面
の高さの変化(材料源の減少量)と成長速度の変化の関
係を記憶している図示しない温度制御部により材料源G
a3の液面の低下分、すなわち温度低下による成長速度
の減少分だけ、セル10のヒーター4aによりるつぼ2
の温度を上げる。Therefore, in this example, the reduction amount of the material source is
The material source G is monitored through the Ga amount check window 17 shown in the figure, and is controlled by a temperature control section (not shown) that stores the relationship between the change in the liquid level of the material source (the amount of decrease in the material source) and the change in the growth rate.
The crucible 2 is heated by the heater 4a of the cell 10 by the amount of decrease in the liquid level of a3, that is, the decrease in the growth rate due to the decrease in temperature.
Increase the temperature.
かくして材料5ca3の蒸発量は一定に保たれ、他の条
件を変えることなく所定の特性を持ったエピタキシャル
層を安定して得ることができる。In this way, the amount of evaporation of the material 5ca3 is kept constant, and an epitaxial layer with predetermined characteristics can be stably obtained without changing other conditions.
なお、材料源Ga3の液面の高さは光学的、マイクロ波
的、赤外線的方法等、必要に応して最適な装置で測定す
ることができる。Note that the height of the liquid level of the material source Ga3 can be measured using an optimal device as required, such as an optical method, a microwave method, an infrared method, or the like.
以上、説明したように、この発明に係る分子線エピタキ
シャル結晶成長装置によれば、るつぼ中のGaO量の変
化に従ってるつぼの位置を変え、Gaの最先端部が常に
一定位置に来るように調節可能な支持棒を取り付けるこ
とにより一定量の原料を蒸発させることが可能となり、
従って一定成長速度に保つことができるので、安定して
再現性良く所望の特性を持った結晶を得ることができる
。As explained above, according to the molecular beam epitaxial crystal growth apparatus according to the present invention, the position of the crucible can be changed according to changes in the amount of GaO in the crucible, and the leading edge of Ga can be adjusted so that it is always at a constant position. By attaching a support rod, it is possible to evaporate a certain amount of raw material,
Therefore, since a constant growth rate can be maintained, crystals with desired characteristics can be obtained stably and with good reproducibility.
また、るつぼ中のQaの量の変化を光学的にあるいはそ
の他の方法でGa液面の高さの変化により検出し、変化
量に従ってヒーターへの電力供給量を制御するようにし
たので、結晶成長速度を一定に保つことができ、一定の
特性の結晶を安定して得ることができる。In addition, changes in the amount of Qa in the crucible are detected optically or by other methods based on changes in the height of the Ga liquid level, and the amount of power supplied to the heater is controlled according to the amount of change, which improves crystal growth. The speed can be kept constant and crystals with constant characteristics can be stably obtained.
第1図はこの発明の第1の実施例による分子線エピタキ
シャル結晶成長装置のGa用セルの概略構成図、第2図
は第1図におけるるつぼ部分の温度分布の概略構成を示
す図、第3図はこの発明の第2の実施例による分子線エ
ピタキシャル結晶成長装置のGa用セルの概略構造図、
第4図は当該セルのるつぼ付近の温度分布例を示す概略
図、第5図は材料源Gaの液面の高さと成長速度を示す
概略図、第6図は従来のセルの概略図、第7図は当該セ
ルのるつぼ付近の温度分布の概略図である。
図において、1は放熱防止筒、2はるつぼ、3は材料源
Qa、4,4aはヒーター 5は熱電対、6はシャッタ
ー 7は第2のるつぼ、17はQa量チエツク用窓、8
は支持棒、10.20はセル全体である。
なお、図において同一符号は同−又は相当部分を示す。FIG. 1 is a schematic configuration diagram of a Ga cell of a molecular beam epitaxial crystal growth apparatus according to a first embodiment of the present invention, FIG. 2 is a diagram showing a schematic configuration of the temperature distribution in the crucible portion in FIG. The figure is a schematic structural diagram of a Ga cell of a molecular beam epitaxial crystal growth apparatus according to a second embodiment of the present invention.
FIG. 4 is a schematic diagram showing an example of temperature distribution near the crucible of the cell; FIG. 5 is a schematic diagram showing the liquid level and growth rate of the material source Ga; FIG. 6 is a schematic diagram of a conventional cell; FIG. 7 is a schematic diagram of the temperature distribution near the crucible of the cell. In the figure, 1 is a heat radiation prevention cylinder, 2 is a crucible, 3 is a material source Qa, 4 and 4a are heaters, 5 is a thermocouple, 6 is a shutter, 7 is a second crucible, 17 is a window for checking the amount of Qa, 8
is the support rod, and 10.20 is the entire cell. In the figures, the same reference numerals indicate the same or equivalent parts.
Claims (2)
う装置において、 るつぼを一定温度で加熱するヒーターと、 るつぼ中の原料の量の変化に応じてるつぼの位置を変化
させ、一定量の原料を蒸発させ一定量の成長速度に保つ
手段、あるいはるつぼの位置を変化させることにより成
長中において所望の成長速度により所望の特性を持った
結晶を得る手段のいずれか一方とを備えたことを特徴と
する分子線エピタキシャル結晶成長装置。(1) In an apparatus that performs crystal growth using the molecular beam epitaxial method, there is a heater that heats the crucible at a constant temperature, and a heater that heats the crucible at a constant temperature, and a device that changes the position of the crucible in response to changes in the amount of raw material in the crucible, and grows a constant amount of raw material. It is characterized by comprising either means for maintaining a constant growth rate by evaporation, or means for obtaining a crystal with desired characteristics at a desired growth rate during growth by changing the position of the crucible. Molecular beam epitaxial crystal growth equipment.
う装置において、 材料源の液面の高さの変化を検出して材料源の液量の変
化を検出する手段と、 その変化量に応じてるつぼを加熱しているヒーターへの
電力供給量を制御することにより結晶の成長速度を制御
する手段とを備えたことを特徴とする分子線エピタキシ
ャル結晶成長装置。(2) In an apparatus that performs crystal growth using the molecular beam epitaxial method, a means for detecting changes in the liquid level of the material source by detecting changes in the height of the liquid level of the material source, and a means for detecting changes in the liquid level of the material source, and 1. A molecular beam epitaxial crystal growth apparatus comprising means for controlling a crystal growth rate by controlling the amount of power supplied to a heater heating a crucible.
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP17859090A JPH0465392A (en) | 1990-07-05 | 1990-07-05 | Molecular beam epitaxial crystal growing device |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP17859090A JPH0465392A (en) | 1990-07-05 | 1990-07-05 | Molecular beam epitaxial crystal growing device |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH0465392A true JPH0465392A (en) | 1992-03-02 |
Family
ID=16051127
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP17859090A Pending JPH0465392A (en) | 1990-07-05 | 1990-07-05 | Molecular beam epitaxial crystal growing device |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH0465392A (en) |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| KR20030041646A (en) * | 2001-11-21 | 2003-05-27 | (주)알파플러스 | The structure of effusion cell free from condensing of source materials on the entrance |
-
1990
- 1990-07-05 JP JP17859090A patent/JPH0465392A/en active Pending
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| KR20030041646A (en) * | 2001-11-21 | 2003-05-27 | (주)알파플러스 | The structure of effusion cell free from condensing of source materials on the entrance |
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