JPH0465670A - 超音波探傷装置 - Google Patents
超音波探傷装置Info
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- JPH0465670A JPH0465670A JP2176332A JP17633290A JPH0465670A JP H0465670 A JPH0465670 A JP H0465670A JP 2176332 A JP2176332 A JP 2176332A JP 17633290 A JP17633290 A JP 17633290A JP H0465670 A JPH0465670 A JP H0465670A
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- ultrasonic
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- Investigating Or Analyzing Materials By The Use Of Ultrasonic Waves (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
[産業上の利用分野]
本発明は焦点位置が異なる複数の分割型探触子を用いた
超音波探傷装置に関する。
超音波探傷装置に関する。
[従来の技術]
例えば鋼板等の被測定体内に存在する欠陥を検出する欠
陥探傷装置の一つとして超音波探傷装置が実用化され′
ている。そして、その超音波探傷手法はJISにも規定
されている(例えばJIS G−0801)。
陥探傷装置の一つとして超音波探傷装置が実用化され′
ている。そして、その超音波探傷手法はJISにも規定
されている(例えばJIS G−0801)。
この垂直超音波探傷法に用られる超音波探触子は大きく
分けて垂直探触子と分割型探触子との2種類かあり、そ
れぞれ被測定体の厚みや使用目的に応じて使い分けられ
ている。
分けて垂直探触子と分割型探触子との2種類かあり、そ
れぞれ被測定体の厚みや使用目的に応じて使い分けられ
ている。
そして、垂直探触子においては、被測定体の表面に対し
て平行に振動子を配設して、この振動子にパルス信号を
印加して、パルス状の超音波を被測定体の表面に対して
垂直に印加させる。すると、この超音波は被測定体内を
垂直に伝播して底面で反射される。そして、同一の振動
子でその反射波を受信する。超音波の伝播経路に欠陥が
存在するとその欠陥にて超音波か反射されるので、前記
振動子カミら取出された受信信号に欠陥に起因する反射
波が含まれる。よって、欠陥の発生位置とその規模が把
握できる。
て平行に振動子を配設して、この振動子にパルス信号を
印加して、パルス状の超音波を被測定体の表面に対して
垂直に印加させる。すると、この超音波は被測定体内を
垂直に伝播して底面で反射される。そして、同一の振動
子でその反射波を受信する。超音波の伝播経路に欠陥が
存在するとその欠陥にて超音波か反射されるので、前記
振動子カミら取出された受信信号に欠陥に起因する反射
波が含まれる。よって、欠陥の発生位置とその規模が把
握できる。
しかし、二の垂直探触子を用いた4超音波探傷装置にお
いては、被測定体の表面近傍のごく浅い部分には送信パ
ルス波が重畳するので、たとえその部分に欠陥が存在し
たとしてもその欠陥に起因する反射波(エコー)は送信
パルス波に埋もれてしまうので、正確に検出できない問
題がある。例えば、5M)lzの振動子を用いた場合に
は、前記欠陥が測定できない範囲は垂直探触子の取付面
から1′Om−にも達する場合もある。前述したJIS
においても、この垂直探触子を用いて測定できる鋼板の
厚みtは13m1以上であると規定されている。
いては、被測定体の表面近傍のごく浅い部分には送信パ
ルス波が重畳するので、たとえその部分に欠陥が存在し
たとしてもその欠陥に起因する反射波(エコー)は送信
パルス波に埋もれてしまうので、正確に検出できない問
題がある。例えば、5M)lzの振動子を用いた場合に
は、前記欠陥が測定できない範囲は垂直探触子の取付面
から1′Om−にも達する場合もある。前述したJIS
においても、この垂直探触子を用いて測定できる鋼板の
厚みtは13m1以上であると規定されている。
このような不都合を解消するために分割型探触子か使用
されている。
されている。
第8図は分割型探触子の概略構成図である。この分割型
探触子1はくさび材及びダンパー材が充填された容器2
内に超音波の送信振動子3aと受信振動子3bとが鋼板
4の取付面4aに対して多少傾斜させて配設されている
。そして、垂線上に位置する焦点5の上下位置は、前記
傾斜角を変化させることで□調整可mlである。外部の
制御装置から信号線6aを介してパルス信号を送信振動
子3aに印加すると、送信振動子3aから超音波7が鋼
板4内の焦点5方向に送出される。また、受信振動子3
bは、前記焦点5方向から入力される超音波を受信し、
その、受、倍信号aを、信号線6bを介して制御装置へ
送出する。したがって、この受信信号aには第8図の右
側に示す、ように、受信振動子3bの取付位置での送信
パルス波Tと、取付面4aての表面反射波Sと、底面で
の反射波Bとが含まれる。
探触子1はくさび材及びダンパー材が充填された容器2
内に超音波の送信振動子3aと受信振動子3bとが鋼板
4の取付面4aに対して多少傾斜させて配設されている
。そして、垂線上に位置する焦点5の上下位置は、前記
傾斜角を変化させることで□調整可mlである。外部の
制御装置から信号線6aを介してパルス信号を送信振動
子3aに印加すると、送信振動子3aから超音波7が鋼
板4内の焦点5方向に送出される。また、受信振動子3
bは、前記焦点5方向から入力される超音波を受信し、
その、受、倍信号aを、信号線6bを介して制御装置へ
送出する。したがって、この受信信号aには第8図の右
側に示す、ように、受信振動子3bの取付位置での送信
パルス波Tと、取付面4aての表面反射波Sと、底面で
の反射波Bとが含まれる。
したがって、鋼板4内の焦点5の近傍に欠陥が存在する
と、この欠陥で超音波7が反射されるので、受信信号a
における表面反射波Sと底面反射波Bとの間に欠陥に起
因する欠陥波が生じる。よって、欠陥の発生位置と規模
とを特定できる。
と、この欠陥で超音波7が反射されるので、受信信号a
における表面反射波Sと底面反射波Bとの間に欠陥に起
因する欠陥波が生じる。よって、欠陥の発生位置と規模
とを特定できる。
このような分割、型探触子1を用いた超音波探傷装置に
よれば、受信信号aにおける鋼板4の取付面4.a(表
面)近傍には送信パルス波Tが現れないので、表面下1
〜21IIより深い位置にある欠陥を検出することが可
能である。すなわち、前述した垂直探触子に比較してよ
り表面近傍に存在する欠陥を確実に検出できる長所を有
する。
よれば、受信信号aにおける鋼板4の取付面4.a(表
面)近傍には送信パルス波Tが現れないので、表面下1
〜21IIより深い位置にある欠陥を検出することが可
能である。すなわち、前述した垂直探触子に比較してよ
り表面近傍に存在する欠陥を確実に検出できる長所を有
する。
[発明が解決しようとする課題]
しかしながら第8図に示す分割型探触子1を用いた超音
波探傷装置においてもまだ解決すべき次のような問題が
あった。
波探傷装置においてもまだ解決すべき次のような問題が
あった。
すなわち、受信振動子3bでもって精度良く欠陥を検出
できる領域は、第9図に示すように、焦点5を中心とす
る両方の振動子3a、3bが同時にカバーする斜線で示
した領域(焦点範囲)8のみとなる。したがって、受信
信号aにて得られる欠陥に起因する欠陥波の検出感度は
同図の右側に示すようにこの領域8で最大値を示す。第
10図は鋼板→の厚ろ方向、の各距離dにおける欠陥の
検出感度を示す検出感度特性図である。図示するように
、前記領域8を越える距離dの領域で欠陥検出感度は大
幅に低下する。
できる領域は、第9図に示すように、焦点5を中心とす
る両方の振動子3a、3bが同時にカバーする斜線で示
した領域(焦点範囲)8のみとなる。したがって、受信
信号aにて得られる欠陥に起因する欠陥波の検出感度は
同図の右側に示すようにこの領域8で最大値を示す。第
10図は鋼板→の厚ろ方向、の各距離dにおける欠陥の
検出感度を示す検出感度特性図である。図示するように
、前記領域8を越える距離dの領域で欠陥検出感度は大
幅に低下する。
したかって、この分割型探触子1を用いた超音波探傷装
置においては、厚い鋼板4を測定できない問題がある。
置においては、厚い鋼板4を測定できない問題がある。
前述したJISにおいても、この分割型探触子1を用い
て測定できる鋼板4の厚みtは20■未満であると規定
されている。
て測定できる鋼板4の厚みtは20■未満であると規定
されている。
しかも、欠陥検出感度は第10図に示すように距離dに
よって大きく変化するので、前述したJISにおいては
、DAC(距離感度補正)回路を用、いて、底面近傍の
遠距離位置に発生した欠陥に起因する欠陥波を該当欠陥
の規模に相当する大きさに補正するように規定されてい
る。
よって大きく変化するので、前述したJISにおいては
、DAC(距離感度補正)回路を用、いて、底面近傍の
遠距離位置に発生した欠陥に起因する欠陥波を該当欠陥
の規模に相当する大きさに補正するように規定されてい
る。
このようにDAC回路を用いて感度補正を行えば、操作
者は出力された欠陥波の高さ(レベル)のみを観測する
ことによって、発生位置に関係なく欠陥規模を正確に把
握できる。また、一定レベル以上の欠陥波を検8して警
報を出力すればよいので、欠陥の探傷速度を高めること
かきる。
者は出力された欠陥波の高さ(レベル)のみを観測する
ことによって、発生位置に関係なく欠陥規模を正確に把
握できる。また、一定レベル以上の欠陥波を検8して警
報を出力すればよいので、欠陥の探傷速度を高めること
かきる。
しかし、二の感度補正を行うためのDAC曲線を作成す
る作業は操作者がその都度行っている。
る作業は操作者がその都度行っている。
このDAC曲線を作成するには、DAC起点。
DAC範囲、DACマーク、DAC傾斜値等のDAC関
係の各調整つまみを鋼板4の各厚みt毎に探触子を移動
させながら、一定のレベルに調整する必要がある。この
調整作業は非常に繁雑であるので、この作業は熟練した
者が実施する必要があった。また、測定を実行する毎に
調整を実施する必要があった。
係の各調整つまみを鋼板4の各厚みt毎に探触子を移動
させながら、一定のレベルに調整する必要がある。この
調整作業は非常に繁雑であるので、この作業は熟練した
者が実施する必要があった。また、測定を実行する毎に
調整を実施する必要があった。
さらに、遠距離の検出感度を例えば増幅器等を用いて強
制的に上昇させているので、増幅に起因する雑音が混入
しやすく、S/Nが低下する問題があった。すなわち、
本質的に遠距離の欠陥検出におけるS/Nは近距離にお
けるS/Nに比較し格段に低下する。よって、厚み方向
の全測定範囲に亘って均一なS/N特性を得ることかで
きないので、この分割型探触子を用いた超音波探傷装置
の欠陥検出精度が低下する問題があった。
制的に上昇させているので、増幅に起因する雑音が混入
しやすく、S/Nが低下する問題があった。すなわち、
本質的に遠距離の欠陥検出におけるS/Nは近距離にお
けるS/Nに比較し格段に低下する。よって、厚み方向
の全測定範囲に亘って均一なS/N特性を得ることかで
きないので、この分割型探触子を用いた超音波探傷装置
の欠陥検出精度が低下する問題があった。
本発明はこのような事情に鑑みてなされたものであり、
焦点位置か異なる複数の分割型探触子を測定位置の取付
面からの距離に応じて切換使用することによって、被測
定体の厚み方向の近、距離から遠距離までの広い距離範
囲に亘って欠陥をほぼ均一な検出感度で検出でき、欠陥
の検出範囲の拡大と検出精度の向上とを図ることができ
る超音波探傷装置を提供することを目的とする。
焦点位置か異なる複数の分割型探触子を測定位置の取付
面からの距離に応じて切換使用することによって、被測
定体の厚み方向の近、距離から遠距離までの広い距離範
囲に亘って欠陥をほぼ均一な検出感度で検出でき、欠陥
の検出範囲の拡大と検出精度の向上とを図ることができ
る超音波探傷装置を提供することを目的とする。
[課題を解決するための手段]
上記課題を解決するために、本発明の超音波探傷装置に
おいては、超音波の送信振動子と受信振動子とを被測定
体の取付面に直交する垂線上における互いに異なる位置
に焦点を結ぶように配設した複数の分割型探触子と、こ
の各分割型探触子の送信振動子へパルス信号を印加して
それぞれパルス状の超音波を発生させる送信回路と、各
分割型探触子毎に設けられ、各受信振動子から出力され
た受信信号に含まれる欠陥等に起因する各種反射・波・
に対応、する1ピーク波を有するピーク波信号を出力す
る複数の受信回路と、各ピーク波信号に基づいて欠陥の
発生位置および欠陥規模を解析する欠陥解析手段とを備
えたものである。
おいては、超音波の送信振動子と受信振動子とを被測定
体の取付面に直交する垂線上における互いに異なる位置
に焦点を結ぶように配設した複数の分割型探触子と、こ
の各分割型探触子の送信振動子へパルス信号を印加して
それぞれパルス状の超音波を発生させる送信回路と、各
分割型探触子毎に設けられ、各受信振動子から出力され
た受信信号に含まれる欠陥等に起因する各種反射・波・
に対応、する1ピーク波を有するピーク波信号を出力す
る複数の受信回路と、各ピーク波信号に基づいて欠陥の
発生位置および欠陥規模を解析する欠陥解析手段とを備
えたものである。
・また、別の発明においては、上記各手段に加えてζ・
各受信回路から出力された各ピーク波信号における該当
ピーク波信号に対応する分割型探触子の焦点位置を含む
所定距離範囲の信号部分をそれぞれ抽出して欠陥解析手
段へ出力する信号切換回路を備えたものである。
各受信回路から出力された各ピーク波信号における該当
ピーク波信号に対応する分割型探触子の焦点位置を含む
所定距離範囲の信号部分をそれぞれ抽出して欠陥解析手
段へ出力する信号切換回路を備えたものである。
さらに別の発明においては、上述した各手段に加えて、
各分割型探触子を一つの複合超音波探触子として同一容
器内に組込んでいる。
各分割型探触子を一つの複合超音波探触子として同一容
器内に組込んでいる。
さらに別の発明においては、送信回路を介して各送信振
動子へ印加する各パルス信号を同時に出力するか交互に
出力するかを選択設定できるように構成している。
動子へ印加する各パルス信号を同時に出力するか交互に
出力するかを選択設定できるように構成している。
口作用]
このように構成された超音波探傷装置には焦点位置か取
付面に直交する垂線上において互いに異なる位置に設定
された複数の分割型探触子が備えられている。前述した
ように、分割型探触子の欠陥検出感度は焦点位置を中心
とする所定距離範囲が最良である。よって、各分割型探
触子の各焦点位置を互いに調整して、各焦点位置を前記
垂線方向の表面近傍の浅い位置から底面近傍に深い位置
まで分散させることによって、欠陥が存在すればその存
在位置を最良検出範囲とする分割型探触子で該当欠陥を
精度良く検出できる。よって、広い距離範囲に亘って欠
陥の発生位置およびその規模を精度良く測定できる。
付面に直交する垂線上において互いに異なる位置に設定
された複数の分割型探触子が備えられている。前述した
ように、分割型探触子の欠陥検出感度は焦点位置を中心
とする所定距離範囲が最良である。よって、各分割型探
触子の各焦点位置を互いに調整して、各焦点位置を前記
垂線方向の表面近傍の浅い位置から底面近傍に深い位置
まで分散させることによって、欠陥が存在すればその存
在位置を最良検出範囲とする分割型探触子で該当欠陥を
精度良く検出できる。よって、広い距離範囲に亘って欠
陥の発生位置およびその規模を精度良く測定できる。
また、送信回路からパルス信号を各分割型探触子の各送
信振動子に印加して、各受信振動子の各受信信号から各
分割型探触子に対応するそれぞれのピーク波信号を抽出
し、信号切換回路でもって、各ピーク波信号のそれぞれ
の該当焦点位置の所定距離範囲の信号部分を取出す。し
たがって、この信号切換回路から出力されるピーク波信
号は、それぞれの距離位置において最良の検出感度を有
する。このピーク波信号の波形を用いることによって、
欠陥の発生位置にかかわらず、欠陥波の高さ(レベル)
のみで欠陥規模を正確に把握できる。
信振動子に印加して、各受信振動子の各受信信号から各
分割型探触子に対応するそれぞれのピーク波信号を抽出
し、信号切換回路でもって、各ピーク波信号のそれぞれ
の該当焦点位置の所定距離範囲の信号部分を取出す。し
たがって、この信号切換回路から出力されるピーク波信
号は、それぞれの距離位置において最良の検出感度を有
する。このピーク波信号の波形を用いることによって、
欠陥の発生位置にかかわらず、欠陥波の高さ(レベル)
のみで欠陥規模を正確に把握できる。
また、別の発明においては、各分割型探触子を一つの複
合超音波探触子として同一容器内に組込んでいるので、
探触子の取扱いが簡単になり、超音波探傷装置全体の操
作性を向上できる。
合超音波探触子として同一容器内に組込んでいるので、
探触子の取扱いが簡単になり、超音波探傷装置全体の操
作性を向上できる。
また、必要に応じて、各分割型探触子の送信振動子へ印
加するパルス信号を同時に出力するか交互に出力するか
を選択できるので、例えば交互に出力することによって
、各送信振動子から出力される超音波相互間の干渉現象
を抑制できる。
加するパルス信号を同時に出力するか交互に出力するか
を選択できるので、例えば交互に出力することによって
、各送信振動子から出力される超音波相互間の干渉現象
を抑制できる。
[実施例]
以下本発明の一実施例を図面を用いて説明する。
第1図は実施例°の超音波探傷装置全体を示す断面模式
図であり、第2図はこの超音波探傷装置に備えられた複
合超音波探触子の概略構成を示す透視斜視図である。
図であり、第2図はこの超音波探傷装置に備えられた複
合超音波探触子の概略構成を示す透視斜視図である。
この超音波探傷装置は、大きく分けて、複数め分割型探
触子が組込まれた複合超音波探触子10と、この複合超
音波探触子10を作動する制御装置20とで構成されて
いる。
触子が組込まれた複合超音波探触子10と、この複合超
音波探触子10を作動する制御装置20とで構成されて
いる。
そして、複合超音波探触子10においては、箱型の容器
11内に、送信振動子12aおよび受信振動子12bで
構成される第1の分割型探触子と、送信振動子13aお
よび受信振動子13bで構成される第2の分割型探触子
とが組込まれている。
11内に、送信振動子12aおよび受信振動子12bで
構成される第1の分割型探触子と、送信振動子13aお
よび受信振動子13bで構成される第2の分割型探触子
とが組込まれている。
また、この容器11内にはくさび材及びダンパー材が充
填されている。そして、送信振動子12a。
填されている。そして、送信振動子12a。
受信振動子12bは音響分割板14を挾んだ対称位置に
略ハ字形に傾斜して配設されている。そして、この送信
振動子12aおよび受信振動子12bで構成される第1
の分割型探触子の焦点15の取付面4aからの厚み方向
の距離dFlは前記傾斜角度によって定まる。
略ハ字形に傾斜して配設されている。そして、この送信
振動子12aおよび受信振動子12bで構成される第1
の分割型探触子の焦点15の取付面4aからの厚み方向
の距離dFlは前記傾斜角度によって定まる。
同様に、送信振動子13a、受信振動子13bは前記音
響分割板514を挾んで第1の分割型探触子の外側位置
に同じく略ハ字形に傾斜して配設されている。この送信
振動子13aおよび受信振動子13bで構成される第2
の分割型探触子の焦点16の取付面4aからの厚み方向
の距離dF2は前記傾斜角度によって定まる。この実施
例においては、第1の分割型探触子の各振動子12a。
響分割板514を挾んで第1の分割型探触子の外側位置
に同じく略ハ字形に傾斜して配設されている。この送信
振動子13aおよび受信振動子13bで構成される第2
の分割型探触子の焦点16の取付面4aからの厚み方向
の距離dF2は前記傾斜角度によって定まる。この実施
例においては、第1の分割型探触子の各振動子12a。
12bの取付面4aに対する傾斜角を第2の分割型探触
子の傾斜角より大きく設定することによって、焦点位置
(距離dF+)を第2の分割型探触子の焦点位W(距離
d F2)より取付面4a側に位置させている。
子の傾斜角より大きく設定することによって、焦点位置
(距離dF+)を第2の分割型探触子の焦点位W(距離
d F2)より取付面4a側に位置させている。
また、容器11の上面11aには各振動子12a、12
b、13a、’ 13bに対応する4個の接続端子17
a、i7b、18a、18bが取付けられている。そし
て、各接続端子17a〜18bと各振動子12a〜13
bとは例えばコイルからなる整合器19を介して接続さ
れている。
b、13a、’ 13bに対応する4個の接続端子17
a、i7b、18a、18bが取付けられている。そし
て、各接続端子17a〜18bと各振動子12a〜13
bとは例えばコイルからなる整合器19を介して接続さ
れている。
各接続端子17a〜18bは制御装置20に接続されて
いる。
いる。
そして、送信振動子12aと受信振動子12bとで構成
される第1の分割型探触子における厚み方向の各距離d
における前述した欠陥に起因する欠陥波の検出感度は第
3図の右側に示す感度特性Aとなる。すなわち、焦点1
5の位置(距離d Fl)が最大感度となる。したがっ
て、検出感度の減衰量が最大感度から例えば−3dBま
での欠陥を精度良く検出できる探傷領域ARは焦点位置
(距離d p+)を中心に上下に広がる。同様に、送信
振動子13aと受信振動子13bとで構成される第2の
分割型探触子における検出感度は感度特性Bとなる。す
なわち、焦点16の位置(距離d F2)が最大感度と
なり、欠陥を精度良(検出できる探傷領域BRは、第1
の分割型探触子の探傷領域ARにその一部が重なる。逆
に、各探傷領域AR−BRにおいて相互に重なる部分が
生じるように、各焦点位置d Flu d F2が設
定されている。
される第1の分割型探触子における厚み方向の各距離d
における前述した欠陥に起因する欠陥波の検出感度は第
3図の右側に示す感度特性Aとなる。すなわち、焦点1
5の位置(距離d Fl)が最大感度となる。したがっ
て、検出感度の減衰量が最大感度から例えば−3dBま
での欠陥を精度良く検出できる探傷領域ARは焦点位置
(距離d p+)を中心に上下に広がる。同様に、送信
振動子13aと受信振動子13bとで構成される第2の
分割型探触子における検出感度は感度特性Bとなる。す
なわち、焦点16の位置(距離d F2)が最大感度と
なり、欠陥を精度良(検出できる探傷領域BRは、第1
の分割型探触子の探傷領域ARにその一部が重なる。逆
に、各探傷領域AR−BRにおいて相互に重なる部分が
生じるように、各焦点位置d Flu d F2が設
定されている。
なお、各分割型探触子の検出感度は完全に一致しないが
、前述した例えばコイルからなる各整合器19の物理特
性を変化させることによって、第3図に示すように、各
分割型探触子の感度特性A。
、前述した例えばコイルからなる各整合器19の物理特
性を変化させることによって、第3図に示すように、各
分割型探触子の感度特性A。
Bの最大値をほぼ一致させている。
また、複合超音波探触子10を作動する制御装置20は
第4図に示すように構成されている。
第4図に示すように構成されている。
送信回路21は規定周期P毎にパルス信号、bを接続端
子17aを介して第1の分割型探触子の送信振動子12
aに印加する。また、受信振動子12bから接続端子1
7bを介して出力された受信信号Cは第1の受信回路2
2へ入力される。
子17aを介して第1の分割型探触子の送信振動子12
aに印加する。また、受信振動子12bから接続端子1
7bを介して出力された受信信号Cは第1の受信回路2
2へ入力される。
第1の受信回路22は、入力した受信信号Cの雑音成分
を予め設定されているスレッショルド電圧VSHで除去
して、第1のピーク波信号C1として信号切換回路23
を介して欠陥解析手段としてのCR1表示器24の縦軸
へ印加する。なお、第1の受信回路22から出力された
第1のピーク波信号C,は欠陥ゲート回路25を介して
例えばレコーダに出力される。
を予め設定されているスレッショルド電圧VSHで除去
して、第1のピーク波信号C1として信号切換回路23
を介して欠陥解析手段としてのCR1表示器24の縦軸
へ印加する。なお、第1の受信回路22から出力された
第1のピーク波信号C,は欠陥ゲート回路25を介して
例えばレコーダに出力される。
また、送信回路26も同様に規定周期P毎にパルス信号
eを接続端子18aを介して第2の分割型探触子の送信
振動子13aに印加する。また、受信振動子13bから
出力された受信信号fは第2の受信回路27へ入力され
る。第2の受信回路27は、入力した受信信号fの雑音
成分を予め設定されているスレッショルド電圧VSHで
除去して、第2のピーク波信号f1として信号切換回路
23を介してCR7表示器24の縦軸へ印加する。なお
、第2の受信回路27から出力された第2のピーク波信
号f1は欠陥ゲート回路28を介して例えばレコーダに
出力される。
eを接続端子18aを介して第2の分割型探触子の送信
振動子13aに印加する。また、受信振動子13bから
出力された受信信号fは第2の受信回路27へ入力され
る。第2の受信回路27は、入力した受信信号fの雑音
成分を予め設定されているスレッショルド電圧VSHで
除去して、第2のピーク波信号f1として信号切換回路
23を介してCR7表示器24の縦軸へ印加する。なお
、第2の受信回路27から出力された第2のピーク波信
号f1は欠陥ゲート回路28を介して例えばレコーダに
出力される。
また、各送信回路21.26の各パルス信号す。
eの出力タイミングは同期回路29にて制御される。こ
の同期回路29には操作者が操作する励振選択手段とし
ての切換スイッチ29gが接続されており、この切換ス
イッチ29aを同時励振側に投入すると、各パルス信号
す、eは第5図(a)に示すように、各パスル信号す、
eが同時に出力される。一方、切換スイッチ29aを交
互励振側に投入すると、各パルス信号す、eは第5図(
b)に示すように、周期が1/2だけずれて交互に出力
される。
の同期回路29には操作者が操作する励振選択手段とし
ての切換スイッチ29gが接続されており、この切換ス
イッチ29aを同時励振側に投入すると、各パルス信号
す、eは第5図(a)に示すように、各パスル信号す、
eが同時に出力される。一方、切換スイッチ29aを交
互励振側に投入すると、各パルス信号す、eは第5図(
b)に示すように、周期が1/2だけずれて交互に出力
される。
また、同期回路29は時間軸回路30へ各パルス信号す
、eの出力タイミング信号を送出する。
、eの出力タイミング信号を送出する。
時間軸回路30は、入力した出力タイミング信号に基づ
いて、CR7表示器24の横軸(時間軸)に距離dに対
応する掃引信号を印加する。同時に、信号切換回路23
へ、横軸の距離dが第3図に示した切換距離dcに達し
たタイミングで切換信号gを出力して、CR7表示器2
4へ入力されるピーク波信号を、第1の分割型探触子に
対応する第1の受信回路22からの第1のピーク波信号
C1から、第2の分割型探触子に対応する第2の受信回
路27からの第2のピーク波信号f1へ切換える。
いて、CR7表示器24の横軸(時間軸)に距離dに対
応する掃引信号を印加する。同時に、信号切換回路23
へ、横軸の距離dが第3図に示した切換距離dcに達し
たタイミングで切換信号gを出力して、CR7表示器2
4へ入力されるピーク波信号を、第1の分割型探触子に
対応する第1の受信回路22からの第1のピーク波信号
C1から、第2の分割型探触子に対応する第2の受信回
路27からの第2のピーク波信号f1へ切換える。
また、各電子回路部品には電源回路31から駆動電圧V
、が供給される。
、が供給される。
二のような制御装置20において、同期回路29の切換
スイッチ29aを同時励振側に投入した状態で電源を投
入すると、各送信回路21゜26から同一位相(同一タ
イミング)で各パルス信号す、eが出力される。その結
果、第1.第2の分割型探触子の各送信振動子12a、
13aから同一タイミングでパルス状の超音波が出力さ
れる。各送信振動子12a、13aから出力された超音
波は取付面4aにてその一部が反射され、残りが鋼板4
内へ入射して各焦点15.16方向へ伝播される。そし
て、底面で反射された反射波が各受信振動子12b、1
3bへ入射される。また、伝播途中で欠陥に遭遇すると
その欠陥にて反射された欠陥反射波が各受信振動子12
b、13bへ入射する。
スイッチ29aを同時励振側に投入した状態で電源を投
入すると、各送信回路21゜26から同一位相(同一タ
イミング)で各パルス信号す、eが出力される。その結
果、第1.第2の分割型探触子の各送信振動子12a、
13aから同一タイミングでパルス状の超音波が出力さ
れる。各送信振動子12a、13aから出力された超音
波は取付面4aにてその一部が反射され、残りが鋼板4
内へ入射して各焦点15.16方向へ伝播される。そし
て、底面で反射された反射波が各受信振動子12b、1
3bへ入射される。また、伝播途中で欠陥に遭遇すると
その欠陥にて反射された欠陥反射波が各受信振動子12
b、13bへ入射する。
よって、第1の分割型探触子に対応する第1の受信回路
22から出力される第1のピーク波信号C1には、第6
図に示すように、送信パルス波T。
22から出力される第1のピーク波信号C1には、第6
図に示すように、送信パルス波T。
表面反射波S、底面反射波Bの他に、欠陥に起因する欠
陥波F、、F2が生じる。この場合、取付面4a(表面
)近傍に発生する欠陥の欠陥波F1の欠陥規模に対応す
る波高さ(レベル)は高いが、底面近傍に発生する欠陥
の欠陥波F2の欠陥規模に対応する波高さは低い。
陥波F、、F2が生じる。この場合、取付面4a(表面
)近傍に発生する欠陥の欠陥波F1の欠陥規模に対応す
る波高さ(レベル)は高いが、底面近傍に発生する欠陥
の欠陥波F2の欠陥規模に対応する波高さは低い。
一方、第2の分割型探触子に対応する第2の受倍回路2
7から8カされる第2のピーク波信号f1にも、第6図
に示すように、送信パルス波T。
7から8カされる第2のピーク波信号f1にも、第6図
に示すように、送信パルス波T。
表面反射波S、底面反射波Bの他に、欠陥に起因する欠
陥波F、、F2が生じる。この場合、底面近傍に発生す
る欠陥の欠陥波F2の欠陥規模に対応する波高(レベル
)は高いが、取付面4a(表面)近傍に発生する欠陥の
欠陥波F1の欠陥規模に対応する波高は低い。
陥波F、、F2が生じる。この場合、底面近傍に発生す
る欠陥の欠陥波F2の欠陥規模に対応する波高(レベル
)は高いが、取付面4a(表面)近傍に発生する欠陥の
欠陥波F1の欠陥規模に対応する波高は低い。
そして、第1.第2のピーク波信号c1+ flは信
号切換回路23を介してCR7表示器24へ入力される
が、距離dが取付面4a (d=o)から切換距離(d
−dc’)までの期間は、時間軸回路30からの切換信
号gにて信号切換回路23が第1の受信回路22側に切
換接続されているので、この期間には、CR7表示器2
4に第1の分割型探触子の受信信号Cに対応する第1の
ピーク波信号C1が表示される。この第1の分割型探触
子の探傷領域Aaは第3図に示すように、鋼板4の表面
(取付面4a)近傍の近距離区域をカバーするので、取
付表面4a近傍に存在する欠陥に起因する欠陥波F、を
確実に検出できる。
号切換回路23を介してCR7表示器24へ入力される
が、距離dが取付面4a (d=o)から切換距離(d
−dc’)までの期間は、時間軸回路30からの切換信
号gにて信号切換回路23が第1の受信回路22側に切
換接続されているので、この期間には、CR7表示器2
4に第1の分割型探触子の受信信号Cに対応する第1の
ピーク波信号C1が表示される。この第1の分割型探触
子の探傷領域Aaは第3図に示すように、鋼板4の表面
(取付面4a)近傍の近距離区域をカバーするので、取
付表面4a近傍に存在する欠陥に起因する欠陥波F、を
確実に検出できる。
また、距離dが切換距離(d−dc)から底面位置(d
−t)までの期間は、時間軸回路30からの切換信号g
にて信号切換回路23が第2の受信回路27側に切換接
続されているので、この期間、CR7表示器24には第
2の分割型探触子の受信信号fに対応する第2のピーク
波信号f1が表示される。この第2の分割型探触子の探
傷領域BRは第3図に示すように、鋼板4の底面近傍の
遠距離区域をカバーするので、底面近傍に存在する欠陥
に起因する欠陥波F2を確実に検出できる。
−t)までの期間は、時間軸回路30からの切換信号g
にて信号切換回路23が第2の受信回路27側に切換接
続されているので、この期間、CR7表示器24には第
2の分割型探触子の受信信号fに対応する第2のピーク
波信号f1が表示される。この第2の分割型探触子の探
傷領域BRは第3図に示すように、鋼板4の底面近傍の
遠距離区域をカバーするので、底面近傍に存在する欠陥
に起因する欠陥波F2を確実に検出できる。
このように、焦点位置が異なる複数の分割型探触子を組
込んだ複合超音波探触子10を使用することによって、
DAC回路を使用せずに、鋼板4の複合超音波探触子1
0の取付面4aから反対面(底面)までの広い距離範囲
に亘って、十分大きい均一な欠陥検出感度が得られる。
込んだ複合超音波探触子10を使用することによって、
DAC回路を使用せずに、鋼板4の複合超音波探触子1
0の取付面4aから反対面(底面)までの広い距離範囲
に亘って、十分大きい均一な欠陥検出感度が得られる。
よって、欠陥の検出精度を大幅に向上できる。
また、従来の1個の分割型探触子のみを用いた手法のよ
うにDAC回路を用いて感度補正を行う必要かない。そ
の結果、繁雑な調整作業を除去できるので、この複合超
音波探触子10を用いた超音波探傷装置の操作性を大幅
に向上できる。
うにDAC回路を用いて感度補正を行う必要かない。そ
の結果、繁雑な調整作業を除去できるので、この複合超
音波探触子10を用いた超音波探傷装置の操作性を大幅
に向上できる。
さらに、取付面4aから反対面までの広い距離範囲に亘
って均一な欠陥検出感度か維持される。
って均一な欠陥検出感度か維持される。
よって、欠陥の発生位置に関係なく、一定レベル以上の
欠陥波Fを無条件に検出して警報を出力すればよいので
、′操作者が欠陥波を観測して判断する必要がない。よ
って、欠陥の探傷速度を高めることができる。
欠陥波Fを無条件に検出して警報を出力すればよいので
、′操作者が欠陥波を観測して判断する必要がない。よ
って、欠陥の探傷速度を高めることができる。
また、操作者が波形を観察して判断する必要がないので
、欠陥の探傷処理を自動化できる。したかって、工場等
における製品の検査工程において、連続して移動する帯
状の鋼板に対してオンラインでもってこの鋼板内に存在
する欠陥を連続的に自動探傷できる。
、欠陥の探傷処理を自動化できる。したかって、工場等
における製品の検査工程において、連続して移動する帯
状の鋼板に対してオンラインでもってこの鋼板内に存在
する欠陥を連続的に自動探傷できる。
次に、同期回路29の切換スイッチ29aを交互励振側
に投入した場合を説明する。
に投入した場合を説明する。
切換スイッチ29aを交互励振側に投入すると、第5図
(b)に示すように、各送信回路21゜26から周期が
1/2だけずれたパルス信号す、 eか第1.第2の
各分割型探触子の各送信振動子12a、13aに印加さ
れる。その結果、各送信振動子12a、13aにおける
超音波の出力タイミングがずれる。よって、両方の超音
波が互いに干渉しあうことが未然に防止される。したが
って、各分割型探触子から出力される各受信信号c、−
fのS/Nを向上できるので、結果として欠陥の検出精
度をさらに向上できる。
(b)に示すように、各送信回路21゜26から周期が
1/2だけずれたパルス信号す、 eか第1.第2の
各分割型探触子の各送信振動子12a、13aに印加さ
れる。その結果、各送信振動子12a、13aにおける
超音波の出力タイミングがずれる。よって、両方の超音
波が互いに干渉しあうことが未然に防止される。したが
って、各分割型探触子から出力される各受信信号c、−
fのS/Nを向上できるので、結果として欠陥の検出精
度をさらに向上できる。
なお、この場合は、ピーク波信号CI+’fl相互間で
周期が172だけずれているので、CR7表示器24に
同時に表示することはなく、操作者が信号切換回路23
を手動で切換操作して、各ピーク波信号c++flを交
互にCR7表示器24に表示させて、欠陥波Fを観察す
ればよい。
周期が172だけずれているので、CR7表示器24に
同時に表示することはなく、操作者が信号切換回路23
を手動で切換操作して、各ピーク波信号c++flを交
互にCR7表示器24に表示させて、欠陥波Fを観察す
ればよい。
また、各送信振動子12.a、13aからaカされたパ
ルス状の各超音波が鋼板4内へ入射される場合は、その
一部分は表面(取付面4g)で表面反射される。そして
、その表面反射波の一部が各受信振動子12b、1−3
bに入射する。したがって、各受信信号c、fの各ピー
ク波信号C1rflには、第6図に示したように、表面
近傍に表面反射波Sか現れる。そして、この表面反射波
Sが大きいと表面近傍に発生する小さな欠陥の欠陥波F
がこの表面反射波Sに含まれてしまう。この表面反射波
Sの大きさ(高さ)は超音波の入射角度が小さいほど、
すなわち、焦点位置が遠いほど大きくなる。その結果、
近距離の欠陥を検出する第1の分割型探触子の受信振動
子12bに遠距離の欠陥を検出する第2の分割型探触子
の送信振動子13aから出力された超音波の表面反射波
が混入するの″で、たとえ第1、の分割型探触子を用い
たとしても表面にごく近い位置の欠陥を正確に検出でき
ない問題が生じる。
ルス状の各超音波が鋼板4内へ入射される場合は、その
一部分は表面(取付面4g)で表面反射される。そして
、その表面反射波の一部が各受信振動子12b、1−3
bに入射する。したがって、各受信信号c、fの各ピー
ク波信号C1rflには、第6図に示したように、表面
近傍に表面反射波Sか現れる。そして、この表面反射波
Sが大きいと表面近傍に発生する小さな欠陥の欠陥波F
がこの表面反射波Sに含まれてしまう。この表面反射波
Sの大きさ(高さ)は超音波の入射角度が小さいほど、
すなわち、焦点位置が遠いほど大きくなる。その結果、
近距離の欠陥を検出する第1の分割型探触子の受信振動
子12bに遠距離の欠陥を検出する第2の分割型探触子
の送信振動子13aから出力された超音波の表面反射波
が混入するの″で、たとえ第1、の分割型探触子を用い
たとしても表面にごく近い位置の欠陥を正確に検出でき
ない問題が生じる。
しかし、第1.第2の各分割型探触子の各送信振動子1
2a、13aから出力される超音波の出力タイミングが
異なるので、第1の分割型探触子の受信振動子12bに
第2の分割型探触子の表面反射波が入力するタイミング
と自己が出力した超音波による表面反射波の入力タイミ
ングとは周期がl/2だけずれる。その結果、第2の分
割型探触子の表面反射波Sが表面近傍における欠陥検出
精度に悪影響を与えることはない。よって、より精度良
く欠陥を検出できる。
2a、13aから出力される超音波の出力タイミングが
異なるので、第1の分割型探触子の受信振動子12bに
第2の分割型探触子の表面反射波が入力するタイミング
と自己が出力した超音波による表面反射波の入力タイミ
ングとは周期がl/2だけずれる。その結果、第2の分
割型探触子の表面反射波Sが表面近傍における欠陥検出
精度に悪影響を与えることはない。よって、より精度良
く欠陥を検出できる。
このように、通常は切換スイッチ29aを同時励振側に
投入してオンライン探傷を実行させ、異常が発生したり
、オフライン探傷を実行する場合には、切換スイッチ2
9gを交互励振側に投入して、操作者が詳細に欠陥波を
観測する等の選択が可能である。
投入してオンライン探傷を実行させ、異常が発生したり
、オフライン探傷を実行する場合には、切換スイッチ2
9gを交互励振側に投入して、操作者が詳細に欠陥波を
観測する等の選択が可能である。
また、切換スイッチ29aを交互励振側に投入すること
によって、超音波を交互に出力させて超音波相互間に干
渉現象が生じるのを未然に防止できると説明したが、逆
に故意に超音波相互間で干渉現象を発生させて、遠距−
における総合的な検出感度を上昇させることが可能であ
る。
によって、超音波を交互に出力させて超音波相互間に干
渉現象が生じるのを未然に防止できると説明したが、逆
に故意に超音波相互間で干渉現象を発生させて、遠距−
における総合的な検出感度を上昇させることが可能であ
る。
すなわち、切換スイッチ29mを交互側に投入した状態
で各分割型探触子をそれぞれ独立に稼働させると、第7
図(a)に示すように、感度特性Cを有する近距離用の
第1の分割型探触子と、感度特性りを有する遠距離用の
第2の分割型探触子とが存在するとする。この状態で、
切換スイッチ29aを同時励振側に投入すると、それぞ
れの受信信号c、fにおける感度特性が第7図(b)に
示す感度特性りとなる場合がある。すなわち、各振動子
12a〜13bの振動周波数や各振動子12a〜13b
相互間および各振動子12a〜13bと表面4aまでの
距離等を調整して、鋼板4の底面近傍の各反射波の振幅
が互い強調する方向に位相が合致すれば、結果として該
当位置の検出感度が上昇する。逆に、近距離においては
、互いの振幅を打ち消しあう方向に位相が合致すれば、
検出感度が低下する。
で各分割型探触子をそれぞれ独立に稼働させると、第7
図(a)に示すように、感度特性Cを有する近距離用の
第1の分割型探触子と、感度特性りを有する遠距離用の
第2の分割型探触子とが存在するとする。この状態で、
切換スイッチ29aを同時励振側に投入すると、それぞ
れの受信信号c、fにおける感度特性が第7図(b)に
示す感度特性りとなる場合がある。すなわち、各振動子
12a〜13bの振動周波数や各振動子12a〜13b
相互間および各振動子12a〜13bと表面4aまでの
距離等を調整して、鋼板4の底面近傍の各反射波の振幅
が互い強調する方向に位相が合致すれば、結果として該
当位置の検出感度が上昇する。逆に、近距離においては
、互いの振幅を打ち消しあう方向に位相が合致すれば、
検出感度が低下する。
すなわち、干渉現象を利用して合成された感度特性Gを
任意に設定可能である。
任意に設定可能である。
さらに、各分割型探触子を一つの複合超音波探触子10
として同一容器11内に組込んでいるので、探触子の取
扱いが簡単になり、超音波探傷装置全体の操作性を大幅
に向上できる。
として同一容器11内に組込んでいるので、探触子の取
扱いが簡単になり、超音波探傷装置全体の操作性を大幅
に向上できる。
なお、本発明は上述した実施例に限定されるものではな
い。実施例においては、2つの分割型探触子を用いて複
合超音波探触子を構成したが、互いに焦点位置が異なる
多数の分割型探触子を用いてもよい。この場合、全体と
しての探傷領域が広がるので、さらに広範囲に亘って欠
陥を精度良く探傷できる。
い。実施例においては、2つの分割型探触子を用いて複
合超音波探触子を構成したが、互いに焦点位置が異なる
多数の分割型探触子を用いてもよい。この場合、全体と
しての探傷領域が広がるので、さらに広範囲に亘って欠
陥を精度良く探傷できる。
なお、本発明は上述した実施例に限定されるものではな
い。すなわち、複合超音波探触子10を作動する制御装
置20をもっと簡略化することが可能である。例えば受
信回路22.27は入力した受信信号c、fを簡単なフ
ィルタで雑音成分のみを除去してCR7表示器24へ送
出してもよい。
い。すなわち、複合超音波探触子10を作動する制御装
置20をもっと簡略化することが可能である。例えば受
信回路22.27は入力した受信信号c、fを簡単なフ
ィルタで雑音成分のみを除去してCR7表示器24へ送
出してもよい。
また、時間軸回路30から切換信号gを送出しなくて、
信号切換回路23を操作者が必要に応じてマニアル操作
で切換えるようにしてもよい。さらに、同時励振のみを
行う場合には、送信回路21゜26は1個のみでよい。
信号切換回路23を操作者が必要に応じてマニアル操作
で切換えるようにしてもよい。さらに、同時励振のみを
行う場合には、送信回路21゜26は1個のみでよい。
このように、複雑な制御装置を用いなくても前述した複
合超音波探触子10としての機能を十分発揮することが
可能である。
合超音波探触子10としての機能を十分発揮することが
可能である。
[発明の効果]
以上説明したように本発明の超音波探傷装置によれば、
焦点位置が異なる複数の分割型探触子を測定位置の距離
に応じて切換使用している。したがって、各焦点位置を
被測定体の厚み方向に分散させることによって、被測定
体の厚み方向の近距離および遠距離を含む広い距離範囲
に亘って欠陥をほぼ均一な検出感度で検出でき、欠陥の
検出範囲の拡大と検出精度の向上とを図ることができる
。
焦点位置が異なる複数の分割型探触子を測定位置の距離
に応じて切換使用している。したがって、各焦点位置を
被測定体の厚み方向に分散させることによって、被測定
体の厚み方向の近距離および遠距離を含む広い距離範囲
に亘って欠陥をほぼ均一な検出感度で検出でき、欠陥の
検出範囲の拡大と検出精度の向上とを図ることができる
。
さらに、信号切換回路を用いることによって被測定体の
厚み方向の近距離から遠距離までの広い距離範囲を自動
的に探傷できる。
厚み方向の近距離から遠距離までの広い距離範囲を自動
的に探傷できる。
また、真なる距離領域の欠陥を検出する複数の分割型探
触子を一つの複合超音波探触子に組込んでいるので、操
作性を大幅に向上できる。
触子を一つの複合超音波探触子に組込んでいるので、操
作性を大幅に向上できる。
さらに、各分割型探触子に印加する各パルス信号相互間
の位相を同位相にするか異位相にするかを選択可能とし
ているので、測定目的に応じて最適条件で欠陥検出が可
能となる。
の位相を同位相にするか異位相にするかを選択可能とし
ているので、測定目的に応じて最適条件で欠陥検出が可
能となる。
第1図乃至第6図は本発明の一実施例に係わる超音波探
傷装置を示すものであり、第1図は装置全体の概略構成
を示す断面模式図、第2図は複合超音波探触子の概略構
成を示す透視斜視図、第3図は各分割型探触子の焦点位
置と各検出感度特性との関係を示す図、第4図は制御装
置を示すブロック構成図、M5図は各分割型探触子に印
加するパルス信号を示すタイムチャート、第6図はピー
ク波信号を示す波形図であり、第7図は本発明の他の実
施例に係わる超音波探傷装置の各分割型探触子の検出感
度特性図、第8図は一般的な分割型探触子を示す断面模
式図、第9図は同分割型探触子の動作を説明するための
図、第10図は同分割型探触子における欠陥検出感度特
性図である。 4・・・鋼板、4a・・・取付面、10・・・複合超音
波探触子、11・・・容器、12a、13a・・・送信
振動子、12b、13b・・・受信振動子、15゜16
・・・焦点、20・・・制御装置、21.26・・・送
信回路、22・・・第1の受信回路、23・・・信号切
換回路、24・・・CRT表示器、27・・・第2の受
信回路、29・・・同期回路、29ト・・切換スイッチ
。 出願人代理人 弁理士 鈴江武彦 第1図 (&面) 距離 d (揮)) (底面) Ca)
傷装置を示すものであり、第1図は装置全体の概略構成
を示す断面模式図、第2図は複合超音波探触子の概略構
成を示す透視斜視図、第3図は各分割型探触子の焦点位
置と各検出感度特性との関係を示す図、第4図は制御装
置を示すブロック構成図、M5図は各分割型探触子に印
加するパルス信号を示すタイムチャート、第6図はピー
ク波信号を示す波形図であり、第7図は本発明の他の実
施例に係わる超音波探傷装置の各分割型探触子の検出感
度特性図、第8図は一般的な分割型探触子を示す断面模
式図、第9図は同分割型探触子の動作を説明するための
図、第10図は同分割型探触子における欠陥検出感度特
性図である。 4・・・鋼板、4a・・・取付面、10・・・複合超音
波探触子、11・・・容器、12a、13a・・・送信
振動子、12b、13b・・・受信振動子、15゜16
・・・焦点、20・・・制御装置、21.26・・・送
信回路、22・・・第1の受信回路、23・・・信号切
換回路、24・・・CRT表示器、27・・・第2の受
信回路、29・・・同期回路、29ト・・切換スイッチ
。 出願人代理人 弁理士 鈴江武彦 第1図 (&面) 距離 d (揮)) (底面) Ca)
Claims (4)
- (1)超音波の送信振動子と受信振動子とを被測定体の
取付面に直交する垂線上における互いに異なる位置に焦
点を結ぶように配設した複数の分割型探触子と、この各
分割型探触子の送信振動子へパルス信号を印加してそれ
ぞれパルス状の超音波を発生させる送信回路と、前記各
分割型探触子毎に設けられ、各受信振動子から出力され
た受信信号に含まれる欠陥等に起因する各種反射波に対
応するピーク波を有するピーク波信号を出力する複数の
受信回路と、前記各ピーク波信号に基づいて前記欠陥の
発生位置および欠陥規模を解析する欠陥解析手段とを備
えた超音波探傷装置。 - (2)前記各受信回路から出力された各ピーク波信号に
おける該当ピーク波信号に対応する分割型探触子の焦点
位置を含む所定距離範囲の信号部分をそれぞれ抽出して
前記欠陥解析手段へ出力する信号切換回路を備えたこと
を特徴とする請求項1記載の超音波探傷装置。 - (3)前記各分割型探触子を一つの複合超音波探触子と
して同一容器内に組込んだことを特徴とする請求項1記
載の超音波探傷装置。 - (4)前記送信回路を介して各送信振動子へ印加する各
パルス信号を同時に出力する同時励振か交互に出力する
交互励振かを選択設定する励振選択手段を備えた請求項
1記載の超音波探傷装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP2176332A JPH0465670A (ja) | 1990-07-05 | 1990-07-05 | 超音波探傷装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP2176332A JPH0465670A (ja) | 1990-07-05 | 1990-07-05 | 超音波探傷装置 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH0465670A true JPH0465670A (ja) | 1992-03-02 |
Family
ID=16011742
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP2176332A Pending JPH0465670A (ja) | 1990-07-05 | 1990-07-05 | 超音波探傷装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH0465670A (ja) |
Cited By (5)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2001004607A (ja) * | 1999-06-24 | 2001-01-12 | Nkk Corp | 超音波探傷方法及び装置 |
| JP2002257794A (ja) * | 2001-03-02 | 2002-09-11 | Sumitomo Metal Ind Ltd | 超音波探傷方法 |
| US6599749B1 (en) | 1996-04-10 | 2003-07-29 | Hitachi, Ltd. | Method of conveying sample rack and automated analyzer in which sample rack is conveyed |
| JP2007132953A (ja) * | 2007-02-09 | 2007-05-31 | Jfe Steel Kk | 超音波探傷方法及び装置 |
| JP2014232067A (ja) * | 2013-05-30 | 2014-12-11 | 本田技研工業株式会社 | 物体検出装置 |
-
1990
- 1990-07-05 JP JP2176332A patent/JPH0465670A/ja active Pending
Cited By (5)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US6599749B1 (en) | 1996-04-10 | 2003-07-29 | Hitachi, Ltd. | Method of conveying sample rack and automated analyzer in which sample rack is conveyed |
| JP2001004607A (ja) * | 1999-06-24 | 2001-01-12 | Nkk Corp | 超音波探傷方法及び装置 |
| JP2002257794A (ja) * | 2001-03-02 | 2002-09-11 | Sumitomo Metal Ind Ltd | 超音波探傷方法 |
| JP2007132953A (ja) * | 2007-02-09 | 2007-05-31 | Jfe Steel Kk | 超音波探傷方法及び装置 |
| JP2014232067A (ja) * | 2013-05-30 | 2014-12-11 | 本田技研工業株式会社 | 物体検出装置 |
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