JPH0466290B2 - - Google Patents

Description

【発明の詳細な説明】 (a) 発明の技術分野 この発明は、複数のジヤーナルをもつカムシヤ
フトなどにおいて、ジヤーナルの外径と振れを測
定する装置に関するものである。

(b) 従来技術と問題点 最初に、従来装置の構成図を第２図に示す。

第２図の１と２はセンタ、３は演算器、４は表
示器、Ａ１〜Ａ６はジヤーナル、Ｇ１１〜Ｇ１６
とＧ２１〜Ｇ２６はそれぞれ検出器である。

ジヤーナルＡ１〜Ａ６は外径測定用の被測定物
であり、センタ１とセンタ２で支持され、図示を
省略した駆動機構により回転させられる。

検出器Ｇ１１と検出器Ｇ２１はジヤーナルＡ１
を挟むようにしてジヤーナルＡ１に接しており、
検出器Ｇ１１と検出器Ｇ２１でジヤーナルＡ１の
外径を測定する。

以下、同じようにして検出器Ｇ１２と検出器Ｇ
２２、検出器Ｇ１３と検出器Ｇ２３などがそれぞ
れ組になつてジヤーナルＡ２，Ａ３などに接す
る。

すなわち、第２図の例は、２個の検出器を各ジ
ヤーナルに配置し、６個のジヤーナルの外径を測
定している状態図である。

検出器Ｇ１１〜Ｇ１６と検出器Ｇ２１〜Ｇ２６
はそれぞれ差動トランス型電子マイクロメータで
構成されており、各検出器の測定値は演算器３に
導かれ、演算器３で演算される。

次に、第２図の演算器３でジヤーナルＡ１の外
径を算出する方法を説明する。ジヤーナルＡ２〜
Ａ６についても同じようにして測定することがで
きる。

第２図のジヤーナルＡ１を測定する場合は、ジ
ヤーナルＡ１に対する基準（図示を省略）との比
較測定をするようにする。

いま、測定用ジヤーナルＡ１に対する検出器Ｇ
１１の読みをＧ１、検出器Ｇ２１の読みをＧ２と
し、ジヤーナルＡ１の基準に対する検出器Ｇ１１
の読みをG₀₁、検出器Ｇ２１の読みをG₀₂とすれ
ば、ジヤーナルＡ１の外径JAは次の式(1)で表す
ことができる。

JA＝（G1＋G2）−（G₀₁＋G₀₂）＋Ｊ ……(1) ここに、ＪはジヤーナルＡ１に対する電子マイ
クロメータの補正値であり、例えば、測定値がＧ
１＝11μm、Ｇ２＝12μm、G₀₁＝10μm、G₀₂＝
10μm、Ｊ＝5000mmであつたとすれば、JA＝
5000.003mmとなる。

次に、第２図の演算器３でジヤーナルＡ１の外
径振れを算出する方法を説明する。

第２図では、ジヤーナルＡ２とジヤーナルＡ５
を外径振れの基準にする。すなわち、ジヤーナル
Ａ２とジヤーナルＡ５を結ぶ軸に対して、他のジ
ヤーナルがどれだけ振れているかを検出する。

第２図のジヤーナルＡ１の外径振れをRAとし
た場合、外径振れRAは式(2)から導くことができ
る。ジヤーナルＡ３，Ａ４およびＡ６についても
同じようにして算出することができる。

RA＝G1−｛G2＋Ｋ（G2−G5）｝ ……(2) 実際の外径振れRAは、ジヤーナルＡ１を回転
しながら式(2)の値を求めていき、式(2)の最大値と
最小値の差を算出することによつて得られる。

式(2)のＧ２はジヤーナルＡ２に対する検出器Ｇ
１２の読み、Ｇ５はジヤーナルＡ５に対する検出
器Ｇ１５の読み、Ｋは外径振れの補正係数であ
る。

式(2)は、第３図から導くことができる。

ジヤーナルＡ１の振れRAは、基準にしたジヤ
ーナルＡ２とジヤーナルＡ５に対して、どれだけ
振れているかであるが、ジヤーナルＡ１がジヤー
ナルＡ２とジヤーナルＡ５に対する関係は次のよ
うになる。

第３図のジヤーナルＡ１とジヤーナルＡ２の間
の距離をＬ１、ジヤーナルＡ２とジヤーナルＡ５
の間の距離をＬ２とすれば、ジヤーナルＡ５に対
するジヤーナルＡ１の振れの関係は、 G1／G5＝L1／L2 ……(3) したがつて、ジヤーナルＡ１はジヤーナルＡ２
を基準にすれば、Ｇ１−Ｇ５×Ｌ１／Ｌ２だけ振
れていることになる。

また、ジヤーナルＡ２に対するジヤーナルＡ１
の振れの関係は、 G1／G2＝−（L1＋L2）／L2 ……(4) になる。

したがつて、ジヤーナルＡ１はジヤーナルＡ５
を基準にすれば、Ｇ１＋Ｇ２×（Ｌ１＋Ｌ２）／
Ｌ２だけ振れていることになる。

結局、ジヤーナルＡ１はジヤーナルＡ２とジヤ
ーナルＡ５に対しては、次の式(5)だけ振れている
ことになる。

RA＝G1−G2×（L1＋L2）／L2 ＋G5×L1／L2 ……(5) 式(5)を変形すると、 RA＝G1−G2＋Ｋ（G5−G2） ……(6) ここに、Ｋ＝Ｌ１／Ｌ２である。式(6)は式(2)と
同じものであり、式(2)からジヤーナルＡ１の外径
振れが測定できることがわかる。

第２図のジヤーナルＡ２とジヤーナルＡ５は基
準のジヤーナルなので、式(2)で振れを測定される
のはジヤーナルＡ１，Ａ３，Ａ４およびＡ６であ
る。

このように第２図、第３図の従来技術によれ
ば、ジヤーナルＡ１〜Ａ６の形状や配置が同じも
のに限り、同じ測定装置の同じプログラムでジヤ
ーナルの外径と外径の振れを測定することができ
る。

しかし、第２図のジヤーナルＡ１〜Ａ６の数が
変わつたりすると、式(2)の演算式を変えたり、検
出器を選択したりしなければならず、また別のプ
ログラムを用意しなければならないという問題が
ある。別のプログラムを作成する場合には、前も
つて測定する被測定物のジヤーナル数やジヤーナ
ル径などを知つておかなければならず、その種類
にも限度がある。

(c) 発明の目的 この発明は、ジヤーナル径が変わつたりジヤー
ナル数が増減したりしても、補正係数を設定し直
すだけで、多種類のジヤーナルＡを測定すること
ができるようにすることを目的とする。

(d) 発明の実施例 まず、この発明による実施例の構成図を第１図
に示す。

第１図の５は補正係数を設定する設定手段、６
は演算式選択手段、７は検出器選択手段であり、
その他の部分は第２図と同じである。

設定手段５は、式(2)の補正係数Ｋを設定するた
めのもので、補正係数ＫはＬ１／Ｌ２なので第３
図から各ジヤーナル間の距離が分かれば、設定す
ることができる。

演算式選択手段６は、設定手段５で設定した補
正係数Ｋの振れを測定するジヤーナルＡに該当す
るように式(2)に代入するためのものである。

検出器選択手段７は、測定するジヤーナルに対
応する数の検出器を選択するためのものであり、
検出器の数を測定するジヤーナルの最大数だけ用
意しておき、実際に測定するジヤーナル数に合つ
た検出器だけセツトするようにする。

第１図では、ジヤーナルＡの振れを測定するた
めの補正係数Ｋを設定する際に、対象とするジヤ
ーナルがない場合は、その補正係数Ｋをゼロに設
定することにより、その補正係数が関係するジヤ
ーナルの外径と振れの演算処理をしないように設
定手段５から演算器３に指令を出すようになつて
いる。

すなわち、第１図の実施例では外径や相互の位
置が違うジヤーナルに対しても、同じプログラム
で測定することができる。この場合、該当するジ
ヤーナルがないときは、その部分の補正係数Ｋを
ゼロに設定することで、ジヤーナルの形状に合わ
せて、使用する検出器の選択とジヤーナルごとの
外径と振れの演算処理の有無を設定することがで
きるようにしている。

次に、第１図のフローチヤートを第４図に示
す。

ステツプ３１は第１図の設定手段５に対応し、
ステツプ３２は第１図の演算式選択手段に対応す
る。

また、ステツプ３３は第１図の検出器選択手段
７に対応する。

ステツプ３５〜４３は第１図の演算器３で処理
する部分である。

(d) 発明の効果 この発明によれば、補正係数Ｋの設定のしかた
によつて同じプログラムで形状の違うジヤーナル
の外径と振れを測定することができる。

したがつて、測定しようとするジヤーナルの形
が未知であつたり、現在測定中のジヤーナルの形
を途中で変更した場合でも、すぐに対応すること
ができる測定装置を提供することができる。

【図面の簡単な説明】

第１図はこの発明による実施例の構成図、第２
図は従来装置の構成図、第３図は式(3)の説明図、
第４図は第１図のフローチヤート。 １……センタ、２……センタ、３……演算器、
４……表示器、５……設定手段、６……演算式選
択手段、７……検出器選択手段。

Claims (1)

1. 【特許請求の範囲】 １ 複数のジヤーナルを同軸上にもつ被測定物の
   各ジヤーナルにそれぞれ検出器を接触させて各ジ
   ヤーナルの外径と振れを測定する場合に、前記ジ
   ヤーナルのうち２個のジヤーナルを基準のジヤー
   ナルとし、前記基準のジヤーナルに対する他のジ
   ヤーナルの振れを測定する装置において、 補正係数を設定する設定手段と、演算式を選択
   する演算式選択手段と、検出器を選択する検出器
   選択手段とを備えることを特徴とする複数のジヤ
   ーナルの外径と振れの測定装置。