JPH0468740B2 - - Google Patents
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- JPH0468740B2 JPH0468740B2 JP58227393A JP22739383A JPH0468740B2 JP H0468740 B2 JPH0468740 B2 JP H0468740B2 JP 58227393 A JP58227393 A JP 58227393A JP 22739383 A JP22739383 A JP 22739383A JP H0468740 B2 JPH0468740 B2 JP H0468740B2
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- ion
- analysis tube
- electric field
- ions
- voltage
- Prior art date
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Classifications
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01J—ELECTRIC DISCHARGE TUBES OR DISCHARGE LAMPS
- H01J49/00—Particle spectrometers or separator tubes
- H01J49/26—Mass spectrometers or separator tubes
- H01J49/34—Dynamic spectrometers
- H01J49/40—Time-of-flight spectrometers
- H01J49/405—Time-of-flight spectrometers characterised by the reflectron, e.g. curved field, electrode shapes
Landscapes
- Chemical & Material Sciences (AREA)
- Analytical Chemistry (AREA)
- Other Investigation Or Analysis Of Materials By Electrical Means (AREA)
Description
(イ) 産業上の利用分野
この発明は飛行時間型質量分析装置に関し、特
にその分解能の向上に関する。 (ロ) 従来技術 イオンに同じエネルギーを与えても、イオンの
質量が異なれば速度が違うから、一定距離を飛行
するのに要する飛行時間が異つてくる。そこでそ
の飛行時間によつてイオンの質量の分析を行うの
が飛行時間型質量分析装置の基本原理である。 ところが、実際上はイオンに厳密に同じエネル
ギーを与えることは不可能なので、同じ質量のイ
オンでも各々のもつエネルギーに幅が生じ、その
結果として飛行時間が幅をもつてくる。そしてそ
の幅が大きいほど質量分析の分解能は低くなつて
しまう。 従来の飛行時間型質量分析装置として例えば特
開昭57−44953号に開示のものなどがあるが、そ
れらの装置はいずれも前記エネルギー幅による分
解能の低下を充分解消できるものではなかつた。 このような事情に鑑みて、この発明の発明者
は、特願昭57−230158号において、イオン飛来側
端からの軸方向の距離に強さが比例しかつ飛来す
るイオンを押しもどす方向の電界を内部に形成し
た分析管を用いて分解能を向上した飛行時間型質
量分析装置を提案した。 しかし、上記提案の装置では、イオンが分析管
内だけ飛行する場合には問題がないが、イオン引
出手段やレンズ手段などを設けるためにイオン発
生位置と分析管の間に空間があくと、この空間を
飛行する時間がイオンのエネルギーのばらつきに
より幅をもつてくるため、トータルとして分解能
が低下する問題がある。 (ハ) 目的 この発明の目的は、イオン発生位置と分析管の
間に空間が存在している場合においても、トータ
ルの分解能を低下させないことにある。 (ニ) 構成 この発明の飛行時間型質量分折装置は、加速し
たイオンを放出するイオン放出手段、そのイオン
放出手段側端からの軸方向の距離に強さが比例す
る傾斜電界と一定の強さの均一電界とを加算した
強さを有しかつ前記イオン放出手段から飛来する
イオンを押しもどす方向の電界を内部に形成され
た分析管およびその分析管内の電界により押しも
どされて分析管から出てくるイオンを検知するイ
オン検知手段を具備して構成される。 (ホ) 実施例 以下、図に示す実施例に基いて、この発明を詳
説する。ただし、これによりこの発明が限定され
るものではない。 第1図に示す1は、この発明の飛行時間型質量
分析装置の一実施例であり、イオン放出手段2、
分析管6およびイオン検知手段10を具備してな
つている。 イオン放出手段2は、パルスレーザ光やパルス
状電子線を照射手段3によりターゲツト物質4に
当ててイオンを生成し、レンズ5を通して放出す
る従来公知の手段である。レーザ光照射の場合
は、固体のターゲツト物質を用いることができか
つ微少部分にのみ照射することができる利点があ
るが、エネルギーのばらつきが数100〔eV〕で大
きい欠点がある。一方、電子線照射の場合は、エ
ネルギーのばらつきが数10〔eV〕で小さい利点が
あるが、ターゲツト物質をガス化しなければなら
ない欠点がある。 分析管6は、軸aに沿つて等間隔で並べられた
多数のリング状電極7からなるものである。各リ
ング状電極7には、抵抗分圧回路8によつて、イ
オン放出手段2側の端からの距離Zの2乗に比例
した電圧Vqと距離Zに比例した電圧Vpとの和の
電圧Vrが印加されている。いまVqとVpとを、 Vq=1/2αZ2 ……(1−1) Vp=βZ ……(1−2) とすれば、Vrは、 Vr=Vq+Vp =1/2α(Z+β/α)2−β2/2α……(1−3
) となるから、第2図に示すように、各電極7の電
圧Vrは、分析管6よりもイオン放出手段2側の
基準点Qからみた距離の2乗に比例して増大する
電圧である。 分析管6内の電界Eは、上記電圧Vrを距離Z
で微分して得られるから、 E=αZ+β ……(1−4) となり、距離Zに比例する傾斜電界E1(=αZ)と
一定の強さの電界E2(=β)との和の強さの電界
となる。電界Eの向きは、イオン放出手段2から
放出されるイオンをイオン放出手段2側へ押しも
どす向きとなるように直流電源9の極性により定
められている。そこでイオン放出手段2から分析
管6内に放出されたイオンは、後述するごとく分
析管6のサイズが充分大きければ第4図に示すよ
うに、電界EによりUターンされ、再びイオン放
出手段2側へ飛び出してくる。 イオン検知手段10は、分析管6から飛び出し
てくるイオンを検知するもので、従来公知の手段
である。 さて、作動を説明するために、質量m、電荷量
q、初期エネルギーV0のイオンが分析管6内に
放出されたものとする。また分析管6において、
軸aの方向をZ方向とし、軸aに垂直な方向をr
方向とする。 イオンはエネルギーV0を運動エネルギーとし
てもつているので、イオンの初速度S0は、次の
(2−1)式で規定される。 つまり、初期エネルギーV0に幅があるときは、
イオンの初速度S0の幅となつて表われることが分
る。 イオンの発生位置から分析管6までの距離を
L0とすれば、この間はイオンの速度に対して影
響を与える電界は無いから、速度はS0で一定であ
り、したがつて飛行時間T0は、 である。 ところで分析管6内における運動方程式は、軸
aの方向すなわちZ方向に対しては、電界Eによ
りZ方向と逆向きの力をうけるから、 md2Z/dt2=−qE=−qαZ−qβ ……(3−1) 初期条件として、イオンが分析管6に進入した
時点をt=O、進入位置をZ=O、速度は上記S0
で、(3−1)式を解けば、 これを変形すると、 ただし、
にその分解能の向上に関する。 (ロ) 従来技術 イオンに同じエネルギーを与えても、イオンの
質量が異なれば速度が違うから、一定距離を飛行
するのに要する飛行時間が異つてくる。そこでそ
の飛行時間によつてイオンの質量の分析を行うの
が飛行時間型質量分析装置の基本原理である。 ところが、実際上はイオンに厳密に同じエネル
ギーを与えることは不可能なので、同じ質量のイ
オンでも各々のもつエネルギーに幅が生じ、その
結果として飛行時間が幅をもつてくる。そしてそ
の幅が大きいほど質量分析の分解能は低くなつて
しまう。 従来の飛行時間型質量分析装置として例えば特
開昭57−44953号に開示のものなどがあるが、そ
れらの装置はいずれも前記エネルギー幅による分
解能の低下を充分解消できるものではなかつた。 このような事情に鑑みて、この発明の発明者
は、特願昭57−230158号において、イオン飛来側
端からの軸方向の距離に強さが比例しかつ飛来す
るイオンを押しもどす方向の電界を内部に形成し
た分析管を用いて分解能を向上した飛行時間型質
量分析装置を提案した。 しかし、上記提案の装置では、イオンが分析管
内だけ飛行する場合には問題がないが、イオン引
出手段やレンズ手段などを設けるためにイオン発
生位置と分析管の間に空間があくと、この空間を
飛行する時間がイオンのエネルギーのばらつきに
より幅をもつてくるため、トータルとして分解能
が低下する問題がある。 (ハ) 目的 この発明の目的は、イオン発生位置と分析管の
間に空間が存在している場合においても、トータ
ルの分解能を低下させないことにある。 (ニ) 構成 この発明の飛行時間型質量分折装置は、加速し
たイオンを放出するイオン放出手段、そのイオン
放出手段側端からの軸方向の距離に強さが比例す
る傾斜電界と一定の強さの均一電界とを加算した
強さを有しかつ前記イオン放出手段から飛来する
イオンを押しもどす方向の電界を内部に形成され
た分析管およびその分析管内の電界により押しも
どされて分析管から出てくるイオンを検知するイ
オン検知手段を具備して構成される。 (ホ) 実施例 以下、図に示す実施例に基いて、この発明を詳
説する。ただし、これによりこの発明が限定され
るものではない。 第1図に示す1は、この発明の飛行時間型質量
分析装置の一実施例であり、イオン放出手段2、
分析管6およびイオン検知手段10を具備してな
つている。 イオン放出手段2は、パルスレーザ光やパルス
状電子線を照射手段3によりターゲツト物質4に
当ててイオンを生成し、レンズ5を通して放出す
る従来公知の手段である。レーザ光照射の場合
は、固体のターゲツト物質を用いることができか
つ微少部分にのみ照射することができる利点があ
るが、エネルギーのばらつきが数100〔eV〕で大
きい欠点がある。一方、電子線照射の場合は、エ
ネルギーのばらつきが数10〔eV〕で小さい利点が
あるが、ターゲツト物質をガス化しなければなら
ない欠点がある。 分析管6は、軸aに沿つて等間隔で並べられた
多数のリング状電極7からなるものである。各リ
ング状電極7には、抵抗分圧回路8によつて、イ
オン放出手段2側の端からの距離Zの2乗に比例
した電圧Vqと距離Zに比例した電圧Vpとの和の
電圧Vrが印加されている。いまVqとVpとを、 Vq=1/2αZ2 ……(1−1) Vp=βZ ……(1−2) とすれば、Vrは、 Vr=Vq+Vp =1/2α(Z+β/α)2−β2/2α……(1−3
) となるから、第2図に示すように、各電極7の電
圧Vrは、分析管6よりもイオン放出手段2側の
基準点Qからみた距離の2乗に比例して増大する
電圧である。 分析管6内の電界Eは、上記電圧Vrを距離Z
で微分して得られるから、 E=αZ+β ……(1−4) となり、距離Zに比例する傾斜電界E1(=αZ)と
一定の強さの電界E2(=β)との和の強さの電界
となる。電界Eの向きは、イオン放出手段2から
放出されるイオンをイオン放出手段2側へ押しも
どす向きとなるように直流電源9の極性により定
められている。そこでイオン放出手段2から分析
管6内に放出されたイオンは、後述するごとく分
析管6のサイズが充分大きければ第4図に示すよ
うに、電界EによりUターンされ、再びイオン放
出手段2側へ飛び出してくる。 イオン検知手段10は、分析管6から飛び出し
てくるイオンを検知するもので、従来公知の手段
である。 さて、作動を説明するために、質量m、電荷量
q、初期エネルギーV0のイオンが分析管6内に
放出されたものとする。また分析管6において、
軸aの方向をZ方向とし、軸aに垂直な方向をr
方向とする。 イオンはエネルギーV0を運動エネルギーとし
てもつているので、イオンの初速度S0は、次の
(2−1)式で規定される。 つまり、初期エネルギーV0に幅があるときは、
イオンの初速度S0の幅となつて表われることが分
る。 イオンの発生位置から分析管6までの距離を
L0とすれば、この間はイオンの速度に対して影
響を与える電界は無いから、速度はS0で一定であ
り、したがつて飛行時間T0は、 である。 ところで分析管6内における運動方程式は、軸
aの方向すなわちZ方向に対しては、電界Eによ
りZ方向と逆向きの力をうけるから、 md2Z/dt2=−qE=−qαZ−qβ ……(3−1) 初期条件として、イオンが分析管6に進入した
時点をt=O、進入位置をZ=O、速度は上記S0
で、(3−1)式を解けば、 これを変形すると、 ただし、
【式】
ここで分析管6の後端の電極7′の電圧すなわ
ち供給電圧VLを(1−1)式および(1−2)
式で表現すると、 V1=1/2αL2 ……(3−4) V2=βL ……(3−5) となるが、これを(3−3)式に適用して整理す
ると、 ただし、
ち供給電圧VLを(1−1)式および(1−2)
式で表現すると、 V1=1/2αL2 ……(3−4) V2=βL ……(3−5) となるが、これを(3−3)式に適用して整理す
ると、 ただし、
【式】
となる。
イオンが分析管6に進入してから再び飛び出し
てくるまでの飛行時間T1は、(3−6)式におい
てZ=0を与えるt(ただし、0を除く)だから、 これを整理すれば、 である。 さて、トータルの飛行時間TはT0とT1の和で
あるから、 となる。 いま、イオンの初期エネルギーV0に幅がある
場合を考えて初期エネルギーV0をV0+△V0と
し、かつ表記の都合上
てくるまでの飛行時間T1は、(3−6)式におい
てZ=0を与えるt(ただし、0を除く)だから、 これを整理すれば、 である。 さて、トータルの飛行時間TはT0とT1の和で
あるから、 となる。 いま、イオンの初期エネルギーV0に幅がある
場合を考えて初期エネルギーV0をV0+△V0と
し、かつ表記の都合上
【式】
△V0/V0=δとおき、3次以上の項は無視できると
して、δに関して展開すれば、
δの1次の項の係数が0となる条件をもとめる
と、 これをδの2次の項の係数に適用すれば、 となる。これを0とするためには、V2=L0/L・V1 であればよいが、これと(4−2)式が同時に成
立するためにはL0=0でなければならない。し
かし、この装置1ではL0≠0であるから、この
条件は満足されず、従つてδの2次の項を0とす
ることはできない。結局、(4−2)式を満足す
るとしたときのトータルの飛行時間は、 となる。つまり、(△V0/V0)2の項が分解能を決定 することになる。 さて、(3−9)式もしくは(4−4)式から、
T∝√であり、これより
と、 これをδの2次の項の係数に適用すれば、 となる。これを0とするためには、V2=L0/L・V1 であればよいが、これと(4−2)式が同時に成
立するためにはL0=0でなければならない。し
かし、この装置1ではL0≠0であるから、この
条件は満足されず、従つてδの2次の項を0とす
ることはできない。結局、(4−2)式を満足す
るとしたときのトータルの飛行時間は、 となる。つまり、(△V0/V0)2の項が分解能を決定 することになる。 さて、(3−9)式もしくは(4−4)式から、
T∝√であり、これより
【式】
である。そこで分解能をもとめると、
m/△m=1/2・T/△T ……(4−5)
となるが、この(4−5)式に(4−4)式を適
用すれば、 となる。 たとえば装置1において、L0=0.085〔m〕、L
=0.25〔m〕、V0=2000〔V〕、V1=2000〔V〕とす
ると、(4−2)式の条件から、V2=700.88〔V〕
とすればよいが、このとき(4−6)式は、 m/△m≒2.476×109×1/△V0 2 ……(4−7) となる。そこでたとえば△V0が200〔V〕とする
と、 m/△m=61900 となり、これは従来の飛行時間型質量分析装置よ
りも格段に優れた分解能である。 第5図は、(3−9)式によつて初期エネルギ
ーV0と飛行時間Tの関係をもとめたグラフであ
る。装置条件は、L0=0.085〔m〕、L=0.25〔m〕、
V1=2000〔V〕、で、V0=2000〔V〕のときに(4
−2)式を満たすようにV2=700.877〔V〕とし、
かつイオンは銅イオンを想定してm=63としてい
る。第5図から分るように、初期エネルギーV0
が2000〔V〕から500〔V〕前後のばらつきをもつ
ていたとしても、飛行時間Tはわずかに1〔nsec〕
の幅をもつにすぎず、極めて優れた性能である。 他の実施例としては、比抵抗が距離Zに対して
aZ2+bZなる非電導性材料によつて分析管を形成
し、内部に所望の電界を発生させてもよい。 また隣接する電極の電位差が一定である多数の
リング状電極を軸に沿つて並べ、各電極間隔を徐
徐に狭くしていくことによつて所望の電界を発生
させてもよい。 さらにイオン検知手段として、中央に孔の開い
たマイクロチヤネルプレートを用い、その孔を通
してイオンを分析管に入射させ、反射してきたイ
オンをマイクロチヤネルプレートで検出するよう
にしてもよい。 (ヘ) 効果 この発明の飛行時間型質量分析装置によれば、
イオン発生位置と分析管の間が離れている場合で
あつてもイオンの初期エネルギー幅による分解能
の低下が防止され、高い分解能を得ることができ
る。そこで、パルスレーザ光により生成されたイ
オンのような大きな初期エネルギー幅をもつイオ
ンの質量分析が高分解能で可能となり、また高速
化学反応の時間分解質量スペクトルが高分解能で
得られるようになる。
用すれば、 となる。 たとえば装置1において、L0=0.085〔m〕、L
=0.25〔m〕、V0=2000〔V〕、V1=2000〔V〕とす
ると、(4−2)式の条件から、V2=700.88〔V〕
とすればよいが、このとき(4−6)式は、 m/△m≒2.476×109×1/△V0 2 ……(4−7) となる。そこでたとえば△V0が200〔V〕とする
と、 m/△m=61900 となり、これは従来の飛行時間型質量分析装置よ
りも格段に優れた分解能である。 第5図は、(3−9)式によつて初期エネルギ
ーV0と飛行時間Tの関係をもとめたグラフであ
る。装置条件は、L0=0.085〔m〕、L=0.25〔m〕、
V1=2000〔V〕、で、V0=2000〔V〕のときに(4
−2)式を満たすようにV2=700.877〔V〕とし、
かつイオンは銅イオンを想定してm=63としてい
る。第5図から分るように、初期エネルギーV0
が2000〔V〕から500〔V〕前後のばらつきをもつ
ていたとしても、飛行時間Tはわずかに1〔nsec〕
の幅をもつにすぎず、極めて優れた性能である。 他の実施例としては、比抵抗が距離Zに対して
aZ2+bZなる非電導性材料によつて分析管を形成
し、内部に所望の電界を発生させてもよい。 また隣接する電極の電位差が一定である多数の
リング状電極を軸に沿つて並べ、各電極間隔を徐
徐に狭くしていくことによつて所望の電界を発生
させてもよい。 さらにイオン検知手段として、中央に孔の開い
たマイクロチヤネルプレートを用い、その孔を通
してイオンを分析管に入射させ、反射してきたイ
オンをマイクロチヤネルプレートで検出するよう
にしてもよい。 (ヘ) 効果 この発明の飛行時間型質量分析装置によれば、
イオン発生位置と分析管の間が離れている場合で
あつてもイオンの初期エネルギー幅による分解能
の低下が防止され、高い分解能を得ることができ
る。そこで、パルスレーザ光により生成されたイ
オンのような大きな初期エネルギー幅をもつイオ
ンの質量分析が高分解能で可能となり、また高速
化学反応の時間分解質量スペクトルが高分解能で
得られるようになる。
第1図はこの発明の飛行時間型質量分析装置の
一実施例の構成説明図、第2図および第3図は第
1図に示す装置における分析管内のポテンシヤル
と電界の強さを各々示す特性図、第4図は第1図
に示す装置におけるイオンの飛行軌跡を示す模式
図、第5図はこの発明の飛行時間型質量分析装置
の一具体例の分解能を説明するための特性図であ
る。 1……飛行時間型質量分析装置、2……イオン
放出手段、6……分析管、7……リング状電極、
8……抵抗分圧回路、9……直流電源、10……
イオン検知手段。
一実施例の構成説明図、第2図および第3図は第
1図に示す装置における分析管内のポテンシヤル
と電界の強さを各々示す特性図、第4図は第1図
に示す装置におけるイオンの飛行軌跡を示す模式
図、第5図はこの発明の飛行時間型質量分析装置
の一具体例の分解能を説明するための特性図であ
る。 1……飛行時間型質量分析装置、2……イオン
放出手段、6……分析管、7……リング状電極、
8……抵抗分圧回路、9……直流電源、10……
イオン検知手段。
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 1 加速したイオンを放出するイオン放出手段、
そのイオン放出手段側端からの軸方向の距離に強
さが比例する傾斜電界と一定の強さの均一電界と
を加算した強さを有しかつ前記イオン放出手段か
ら飛来するイオンを押しもどす方向の電界を内部
に形成された分析管およびその分析管内の電界に
より押しもどされて分析管から出てくるイオンを
検知するイオン検知手段を具備してなることを特
徴とする飛行時間型質量分析装置。 2 分析管の軸方向に等間隔で多数のリング状電
極が配置され、イオン放出手段側端から各電極ま
での距離の2乗に比例した電圧と距離に比例した
電圧を加算した電圧がそれぞれの電極に印加され
てなる特許請求の範囲第1項記載の装置。
Priority Applications (4)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP58227393A JPS60119067A (ja) | 1983-11-30 | 1983-11-30 | 飛行時間型質量分析装置 |
| GB08415521A GB2153139B (en) | 1983-11-30 | 1984-06-18 | Time of flight mass spectrometer |
| US06/622,845 US4625112A (en) | 1983-11-30 | 1984-06-21 | Time of flight mass spectrometer |
| DE3423394A DE3423394C2 (de) | 1983-11-30 | 1984-06-25 | Laufzeit-Massenspektrometer |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP58227393A JPS60119067A (ja) | 1983-11-30 | 1983-11-30 | 飛行時間型質量分析装置 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS60119067A JPS60119067A (ja) | 1985-06-26 |
| JPH0468740B2 true JPH0468740B2 (ja) | 1992-11-04 |
Family
ID=16860115
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP58227393A Granted JPS60119067A (ja) | 1983-11-30 | 1983-11-30 | 飛行時間型質量分析装置 |
Country Status (4)
| Country | Link |
|---|---|
| US (1) | US4625112A (ja) |
| JP (1) | JPS60119067A (ja) |
| DE (1) | DE3423394C2 (ja) |
| GB (1) | GB2153139B (ja) |
Families Citing this family (41)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| DE3524536A1 (de) * | 1985-07-10 | 1987-01-22 | Bruker Analytische Messtechnik | Flugzeit-massenspektrometer mit einem ionenreflektor |
| JP2523781B2 (ja) * | 1988-04-28 | 1996-08-14 | 日本電子株式会社 | 飛行時間型/偏向二重収束型切換質量分析装置 |
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