JPH046899B2 - - Google Patents
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- JPH046899B2 JPH046899B2 JP57096255A JP9625582A JPH046899B2 JP H046899 B2 JPH046899 B2 JP H046899B2 JP 57096255 A JP57096255 A JP 57096255A JP 9625582 A JP9625582 A JP 9625582A JP H046899 B2 JPH046899 B2 JP H046899B2
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- JP
- Japan
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- linear
- light
- laser beam
- amount
- linear body
- Prior art date
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-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N21/00—Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
- G01N21/84—Systems specially adapted for particular applications
- G01N21/88—Investigating the presence of flaws or contamination
- G01N21/95—Investigating the presence of flaws or contamination characterised by the material or shape of the object to be examined
- G01N21/952—Inspecting the exterior surface of cylindrical bodies or wires
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- Physics & Mathematics (AREA)
- Health & Medical Sciences (AREA)
- Life Sciences & Earth Sciences (AREA)
- Chemical & Material Sciences (AREA)
- Analytical Chemistry (AREA)
- Biochemistry (AREA)
- General Health & Medical Sciences (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Immunology (AREA)
- Pathology (AREA)
- Investigating Materials By The Use Of Optical Means Adapted For Particular Applications (AREA)
- Treatment Of Fiber Materials (AREA)
Description
【発明の詳細な説明】
本発明は人造繊維製造工程における人造繊維な
どの複数本の線状体を連続的に走行させる工程中
において、その線状体に存在する有色の汚れ、更
には線状体の太さむらなどの欠陥を検出するため
の複数本の線状体の欠陥検出方法に関するもので
ある。
どの複数本の線状体を連続的に走行させる工程中
において、その線状体に存在する有色の汚れ、更
には線状体の太さむらなどの欠陥を検出するため
の複数本の線状体の欠陥検出方法に関するもので
ある。
近年、人造繊維の製造技術は非常に向上し、そ
の品質が非常に向上して来た結果、ベンベルグ中
空糸の如く人工腎臓用などの医療用としても使用
されるようになつてきた。
の品質が非常に向上して来た結果、ベンベルグ中
空糸の如く人工腎臓用などの医療用としても使用
されるようになつてきた。
この人工腎臓用に使用されるベンベルグ糸は、
医療用に使用されるものであるから当然通常の衣
料用に使用されるものに比べて更に高品質のもの
であることが要求され、糸の太さむらのみなら
ず、ベンベルグ糸の製造工程において使用される
硫酸銅の残存による青汚れと呼ばれる有色の汚れ
も絶対に避けなければならない問題である。衣料
用に使用されるベンベルグ糸においても青汚れが
存在すると染色むらが発生して好ましくない。
医療用に使用されるものであるから当然通常の衣
料用に使用されるものに比べて更に高品質のもの
であることが要求され、糸の太さむらのみなら
ず、ベンベルグ糸の製造工程において使用される
硫酸銅の残存による青汚れと呼ばれる有色の汚れ
も絶対に避けなければならない問題である。衣料
用に使用されるベンベルグ糸においても青汚れが
存在すると染色むらが発生して好ましくない。
しかるに従来の糸の欠陥検出方法としては、オ
フラインの場合には作業者による目視による方法
が一般的であるが作業者によつて差異があり、ま
た定量的な把握が困難である欠点があつた。オン
ラインの場合には走行糸を挟む位置に電極を設置
しこの両電極間の静電容量の変化を電気信号に変
換して糸の太さむらを測定する方法が実用化され
ているが、この方法では前述の有色の汚れは検知
できず、更に糸が複数本並列状態で走行して来る
場合に実施しようとすると並列状態の糸が絡み合
う場合も存在するため、電極間の間隔を広くせね
ばならないので精度が劣ると共に、電極取付けの
ために糸間隔を広くせねばならないため糸道の変
更という好ましくない製造条件を設定しなければ
ならない欠点があつた。
フラインの場合には作業者による目視による方法
が一般的であるが作業者によつて差異があり、ま
た定量的な把握が困難である欠点があつた。オン
ラインの場合には走行糸を挟む位置に電極を設置
しこの両電極間の静電容量の変化を電気信号に変
換して糸の太さむらを測定する方法が実用化され
ているが、この方法では前述の有色の汚れは検知
できず、更に糸が複数本並列状態で走行して来る
場合に実施しようとすると並列状態の糸が絡み合
う場合も存在するため、電極間の間隔を広くせね
ばならないので精度が劣ると共に、電極取付けの
ために糸間隔を広くせねばならないため糸道の変
更という好ましくない製造条件を設定しなければ
ならない欠点があつた。
本発明者等はかかる従来の複数本の糸を並列状
態で走行させながら行なう糸の欠陥検出方法の欠
点を除去した新規な欠陥検出方法を開発すべく
種々研究の結果、照射光として光量が安定してい
ると共に波長を選定することによつて有色の汚れ
の存在する部分で光吸収され易い性質の光を得易
いレーザビームを使用し、レーザビームを透過す
る性質（以下、レーザビーム透過性と言う）を有
する糸などの線状体に並列状態で連続走行してい
る状態下でこのレーザビームを照射し、しかもそ
の照射するレーザビームの大きさを線状体の太さ
以上の所定範囲内の径とし、このレーザビームを
線状体の走行方向に対して直角な方向の移動成分
を有する方向に複数本に亘つて移動させることに
より、レーザビームが各線状体毎にそれを横切る
前から後までの光量変化を各線状体に区別して光
電子倍増管などの応答性の速い受光素子により連
続的に判定してその光量変化を電気信号にして変
換して演算すれば、応答性良く各線状体別に欠陥
を検出し得ることを究明して本発明を完成したの
である。
態で走行させながら行なう糸の欠陥検出方法の欠
点を除去した新規な欠陥検出方法を開発すべく
種々研究の結果、照射光として光量が安定してい
ると共に波長を選定することによつて有色の汚れ
の存在する部分で光吸収され易い性質の光を得易
いレーザビームを使用し、レーザビームを透過す
る性質（以下、レーザビーム透過性と言う）を有
する糸などの線状体に並列状態で連続走行してい
る状態下でこのレーザビームを照射し、しかもそ
の照射するレーザビームの大きさを線状体の太さ
以上の所定範囲内の径とし、このレーザビームを
線状体の走行方向に対して直角な方向の移動成分
を有する方向に複数本に亘つて移動させることに
より、レーザビームが各線状体毎にそれを横切る
前から後までの光量変化を各線状体に区別して光
電子倍増管などの応答性の速い受光素子により連
続的に判定してその光量変化を電気信号にして変
換して演算すれば、応答性良く各線状体別に欠陥
を検出し得ることを究明して本発明を完成したの
である。
すなわち本発明は、間隔を置いて並列状態で連
続走行するレーザービーム透過性の複数本の線状
体に、走行路面の片側から該線状体の太さ以上で
且つ該太さの５倍以下の径のレーザービームを振
動によつて高速で揺動するミラーに当てて反射さ
せることにより線状体の走行方向に対して直角な
方向の移動成分を有する方向に移動させながら照
射し、該レーザービームが各線状体毎に該線状体
を横切る前から後までの光量を、走行路面の他側
において線状体間の各間隔に対応してレーザービ
ームを反射しない区域を並列に設けた反射ミラー
に順次反射させて受光素子により連続的に測定
し、その光量変化によつて各線状体別に欠陥を検
出することを特徴とする複数本の線状体の欠陥検
出方法を提供するものである。
続走行するレーザービーム透過性の複数本の線状
体に、走行路面の片側から該線状体の太さ以上で
且つ該太さの５倍以下の径のレーザービームを振
動によつて高速で揺動するミラーに当てて反射さ
せることにより線状体の走行方向に対して直角な
方向の移動成分を有する方向に移動させながら照
射し、該レーザービームが各線状体毎に該線状体
を横切る前から後までの光量を、走行路面の他側
において線状体間の各間隔に対応してレーザービ
ームを反射しない区域を並列に設けた反射ミラー
に順次反射させて受光素子により連続的に測定
し、その光量変化によつて各線状体別に欠陥を検
出することを特徴とする複数本の線状体の欠陥検
出方法を提供するものである。
以下、図面より本発明に係る複数本の線状体の
欠陥検出方法について詳細に説明する。
欠陥検出方法について詳細に説明する。
第１図は本発明方法を実施するための装置の１
実施例を示す説明図、第２図は本発明方法によつ
て得られた電気信号と線状体の各種性状との関係
を示す図、第３図は線状体と移動するレーザビー
ムとの変化する位置関係を示す図、第４図はレー
ザビームが移動しながら照射されるときの第３図
における各位置関係における受光量の変化及び反
射ミラーのレーザビームを反射しない区域での受
光量の変化を示す図、第５図は反射ミラーの構造
を示す図である。
実施例を示す説明図、第２図は本発明方法によつ
て得られた電気信号と線状体の各種性状との関係
を示す図、第３図は線状体と移動するレーザビー
ムとの変化する位置関係を示す図、第４図はレー
ザビームが移動しながら照射されるときの第３図
における各位置関係における受光量の変化及び反
射ミラーのレーザビームを反射しない区域での受
光量の変化を示す図、第５図は反射ミラーの構造
を示す図である。
図面中、１はレーザ発信管であつて、欠陥を検
出すべき複数本の線状体Ｙを透過するが線状体Ｙ
に発生する有色の汚れに対しては吸収される波長
のレーザビームＢを投光する。このレーザ発信管
１としては、線状体Ｙが中空又は中実のベンベル
グ糸である場合には青汚れによつて透過光量が著
しく減少するHe−Neレーザの赤色レーザビーム
Ｂを投光するものが好ましい。２はレンズ系であ
つて、レーザ発信管１から投光されたレーザビー
ムＢを集光して線状体Ｙの太さの１〜５倍の径の
光線に変更するように作用する。このレンズ系２
を使用する目的は、線状体ＹにレーザビームＢを
照射すると、第３図イ→ニの状態に移行するとそ
の受光量は第４図に示す如く変化するのである
が、線状体Ｙの太さの１倍未満の径のレーザビー
ムＢを線状体Ｙに照射するとレーザビームＢが丁
度線状体Ｙの中心と合致している時には線状体Ｙ
を透過する光量が非常に少なくなると共にその近
傍での受光量が一定となつて線状体Ｙの欠陥判断
を行ない難くなり、また線状体Ｙの太さの５倍を
超えた径のレーザビームＢを線状体Ｙに照射する
とレーザビームＢの大部分が線状体Ｙを透過せず
に直接受光素子に到達する光となつて線状体Ｙの
欠陥判断を行ない難くなるためである。３は振動
するミラーであつて、レンズ系２を通過したレー
ザビームＢを連続走行している複数本の線状体Ｙ
の走行方向に対して直角な移動成分を有する方向
に移動させるためのものである。このミラー３は
振動により高速で揺動せしめられる構造になつて
おり、レーザビームＢを上記方向に移動させなが
ら照射することができる。このようなミラー３を
使用すると、１台のレーザ発信管１から投光され
る１本のレーザビームＢによつて上記した照射が
可能である。４は反射ミラーであつて、ミラー３
によりその照射方向を移動せしめられられながら
複数本の各線状体Ｙの側面及び線状体Ｙを順次透
過したレーザビームＢを受光素子の方向に反射す
る。この反射ミラー４は、複数本の並列状態で走
行する各線状体Ｙ別に欠陥を検出することができ
るように、第５図に示す構造となつている。即
ち、並列の何番目の線状体Ｙの検出を行なつてい
るのかを判断できるように、或る線状体Ｙに照射
されたレーザビームＢが反射されて受光素子６に
至つた後に次に隣接する線状体Ｙに照射されたレ
ーザビームＢが反射されて受光素子６に至るまで
の間では、レーザビームＢの反射光が受光素子６
に入らないようにして明確に区別する。そのよう
にするために、レーザビームＢを反射しない区域
４ａを複数本の線状体Ｙの各間隔に対応して並列
にミラー４に設けている。これにより、線状体Ｙ
の本数を計測すると共に各線状体Ｙ別に欠陥を検
出でき、また暗電流や外来光の光量も測定でき
る。５は集光レンズであつて、線状体Ｙに照射視
されて反射ミラー４によつて反射されたレーザビ
ームＢを受光素子６に集光する。この受光素子６
としては、光量変化を応答性速く受光し得る光電
子倍増管が多数の線状体Ｙの欠陥を効率良く検出
するので好ましい。７は受光素子６により受光さ
れた光量に対応した電気信号を時間で微分する微
分器、８は微分器７によつて時間で微分された微
分値を予め設定されている設定値と比べて設定値
より大きな場合に欠陥信号として欠陥信号処理器
９に送る比較器である。１０は受光素子６により
受光された光量に対応した電気信号を第４図に示
すような予め設定されている設定値と比べて設定
値より大きな場合に何番目の線状体Ｙであるかを
カウントするカウンタ１１に送る比較器であり、
このカウンタ１１よりの電気信号も欠陥信号処理
器９に送られる。欠陥信号処理器９はその欠陥が
検出された線状体Ｙの製造工程にフイードバツク
されて欠陥を発生せしめないように製造工程を調
整する設備（図示成し）にその信号を送るのであ
る。
出すべき複数本の線状体Ｙを透過するが線状体Ｙ
に発生する有色の汚れに対しては吸収される波長
のレーザビームＢを投光する。このレーザ発信管
１としては、線状体Ｙが中空又は中実のベンベル
グ糸である場合には青汚れによつて透過光量が著
しく減少するHe−Neレーザの赤色レーザビーム
Ｂを投光するものが好ましい。２はレンズ系であ
つて、レーザ発信管１から投光されたレーザビー
ムＢを集光して線状体Ｙの太さの１〜５倍の径の
光線に変更するように作用する。このレンズ系２
を使用する目的は、線状体ＹにレーザビームＢを
照射すると、第３図イ→ニの状態に移行するとそ
の受光量は第４図に示す如く変化するのである
が、線状体Ｙの太さの１倍未満の径のレーザビー
ムＢを線状体Ｙに照射するとレーザビームＢが丁
度線状体Ｙの中心と合致している時には線状体Ｙ
を透過する光量が非常に少なくなると共にその近
傍での受光量が一定となつて線状体Ｙの欠陥判断
を行ない難くなり、また線状体Ｙの太さの５倍を
超えた径のレーザビームＢを線状体Ｙに照射する
とレーザビームＢの大部分が線状体Ｙを透過せず
に直接受光素子に到達する光となつて線状体Ｙの
欠陥判断を行ない難くなるためである。３は振動
するミラーであつて、レンズ系２を通過したレー
ザビームＢを連続走行している複数本の線状体Ｙ
の走行方向に対して直角な移動成分を有する方向
に移動させるためのものである。このミラー３は
振動により高速で揺動せしめられる構造になつて
おり、レーザビームＢを上記方向に移動させなが
ら照射することができる。このようなミラー３を
使用すると、１台のレーザ発信管１から投光され
る１本のレーザビームＢによつて上記した照射が
可能である。４は反射ミラーであつて、ミラー３
によりその照射方向を移動せしめられられながら
複数本の各線状体Ｙの側面及び線状体Ｙを順次透
過したレーザビームＢを受光素子の方向に反射す
る。この反射ミラー４は、複数本の並列状態で走
行する各線状体Ｙ別に欠陥を検出することができ
るように、第５図に示す構造となつている。即
ち、並列の何番目の線状体Ｙの検出を行なつてい
るのかを判断できるように、或る線状体Ｙに照射
されたレーザビームＢが反射されて受光素子６に
至つた後に次に隣接する線状体Ｙに照射されたレ
ーザビームＢが反射されて受光素子６に至るまで
の間では、レーザビームＢの反射光が受光素子６
に入らないようにして明確に区別する。そのよう
にするために、レーザビームＢを反射しない区域
４ａを複数本の線状体Ｙの各間隔に対応して並列
にミラー４に設けている。これにより、線状体Ｙ
の本数を計測すると共に各線状体Ｙ別に欠陥を検
出でき、また暗電流や外来光の光量も測定でき
る。５は集光レンズであつて、線状体Ｙに照射視
されて反射ミラー４によつて反射されたレーザビ
ームＢを受光素子６に集光する。この受光素子６
としては、光量変化を応答性速く受光し得る光電
子倍増管が多数の線状体Ｙの欠陥を効率良く検出
するので好ましい。７は受光素子６により受光さ
れた光量に対応した電気信号を時間で微分する微
分器、８は微分器７によつて時間で微分された微
分値を予め設定されている設定値と比べて設定値
より大きな場合に欠陥信号として欠陥信号処理器
９に送る比較器である。１０は受光素子６により
受光された光量に対応した電気信号を第４図に示
すような予め設定されている設定値と比べて設定
値より大きな場合に何番目の線状体Ｙであるかを
カウントするカウンタ１１に送る比較器であり、
このカウンタ１１よりの電気信号も欠陥信号処理
器９に送られる。欠陥信号処理器９はその欠陥が
検出された線状体Ｙの製造工程にフイードバツク
されて欠陥を発生せしめないように製造工程を調
整する設備（図示成し）にその信号を送るのであ
る。
かかる構成より成る装置によつて、第１図に示
すように例えば毎分80mで走行する外径が約0.25
mmのベンベルグ中空糸より成る線状体Ｙの複数本
に対して、直径約0.8mmのHe−Neレーザ発信管
１よりその波長が0.63μmの赤色のレーザビーム
Ｂを照射し、その照射光を集光レンズ５で集光し
て光電子倍増管６で受光してその受光量に対応し
た電気信号に変換し、その電気信号を微分器７に
より時間で微分した結果、第２図に示す如く正常
糸に比べてその直径が約1.2倍程度の直径のコブ
状の部分が存在する通常スラブ糸と呼ばれる欠陥
糸や、糸が２〜３重以上に絡み合つた通常ループ
糸と呼ばれる欠陥糸や、ベンベルグ糸特有の欠点
である硫酸銅の残存による青色の着色部分が存在
する通常青汚れと呼ばれる欠陥糸の各微分信号の
波形は顕著に大きいので、予め設定しておいた設
定値と比較器８によつて比較することによつて欠
陥糸であることが各線状体別に検出できるのであ
る。また本発明者等は、上記装置と同じ構成の装
置で毎分120mで走行する外径が約0.08mmのベン
ベルグ糸より成る線状体Ｙの複数本に対して直径
約0.3mmのHe−Neレーザ発信管１よりその波長
が0.63μmの赤色のレーザビームを照射し、その
照射光を集光レンズ５で集光して光電子倍増管６
で受光してその受光量に対応した電気信号に変換
し、その電気信号を微分器７により時間で微分し
た結果、通常玉毛羽と呼ばれるコブ状の欠点のあ
る糸及び青汚れ糸の各微分信号の波形は正常糸よ
り顕著に大きく、簡単な比較器８により欠陥糸で
あることを各線状体Ｙ別に検出することができ
た。
すように例えば毎分80mで走行する外径が約0.25
mmのベンベルグ中空糸より成る線状体Ｙの複数本
に対して、直径約0.8mmのHe−Neレーザ発信管
１よりその波長が0.63μmの赤色のレーザビーム
Ｂを照射し、その照射光を集光レンズ５で集光し
て光電子倍増管６で受光してその受光量に対応し
た電気信号に変換し、その電気信号を微分器７に
より時間で微分した結果、第２図に示す如く正常
糸に比べてその直径が約1.2倍程度の直径のコブ
状の部分が存在する通常スラブ糸と呼ばれる欠陥
糸や、糸が２〜３重以上に絡み合つた通常ループ
糸と呼ばれる欠陥糸や、ベンベルグ糸特有の欠点
である硫酸銅の残存による青色の着色部分が存在
する通常青汚れと呼ばれる欠陥糸の各微分信号の
波形は顕著に大きいので、予め設定しておいた設
定値と比較器８によつて比較することによつて欠
陥糸であることが各線状体別に検出できるのであ
る。また本発明者等は、上記装置と同じ構成の装
置で毎分120mで走行する外径が約0.08mmのベン
ベルグ糸より成る線状体Ｙの複数本に対して直径
約0.3mmのHe−Neレーザ発信管１よりその波長
が0.63μmの赤色のレーザビームを照射し、その
照射光を集光レンズ５で集光して光電子倍増管６
で受光してその受光量に対応した電気信号に変換
し、その電気信号を微分器７により時間で微分し
た結果、通常玉毛羽と呼ばれるコブ状の欠点のあ
る糸及び青汚れ糸の各微分信号の波形は正常糸よ
り顕著に大きく、簡単な比較器８により欠陥糸で
あることを各線状体Ｙ別に検出することができ
た。
更に本発明者等はベンベルグ糸以外の線状体Ｙ
の例として毎分130mで走行する外径が約0.08mm
の50デニール・24フイラメントのポリエステル糸
より成る線状体Ｙの複数本に対して直径約0.3mm
のHe−Neレーザ発信管１よりその波長が0.63μm
の赤色レーザビームを照射し、その照射光を集光
レンズ５で集光して光電子倍増管６で受光してそ
の受光量に対応した電気信号に変換し、その電気
信号を微分器７により時間で微分した結果、毛羽
のある欠陥糸は正常糸よりその微分信号の波形が
大きく簡単な比較器８により欠陥糸であることを
各線状体Ｙ別に検出することができた。
の例として毎分130mで走行する外径が約0.08mm
の50デニール・24フイラメントのポリエステル糸
より成る線状体Ｙの複数本に対して直径約0.3mm
のHe−Neレーザ発信管１よりその波長が0.63μm
の赤色レーザビームを照射し、その照射光を集光
レンズ５で集光して光電子倍増管６で受光してそ
の受光量に対応した電気信号に変換し、その電気
信号を微分器７により時間で微分した結果、毛羽
のある欠陥糸は正常糸よりその微分信号の波形が
大きく簡単な比較器８により欠陥糸であることを
各線状体Ｙ別に検出することができた。
以上詳述した如く本発明に係る複数本の線状体
の欠陥検出方法は、間隔を置いて並列状態で連続
走行する糸などのレーザビーム透過性の複数本の
線状体に、該線状体の太さ以上で且つ該太さの５
倍以下の径のレーザビームを高速で揺動するミラ
ーによつて該線状体の走行方向に対して直角な方
向の移動成分を有する方向に移動させながら照射
し、該レーザビームが該線状体を横切る前から後
までの光量を特殊な反射ミラーに反射させて各線
状体別に光電子倍増管の如き受光素子により連続
的に測定してその光量変化によつて線状体の欠陥
を検出するように構成したことにより、複数本の
線状体を走行させながら同時に、しかも各線状体
別に欠陥を検出することができるのである。そし
て線状体に照射するレーザビームの波長域を選定
することによつて線状体の外形状のみならず有色
の汚れも効果的に検知でき、しかもこの線状体の
欠陥を検知するのに線状体は所定方向に連続して
走行させたままで良いので、複数本の線状体が走
行している各種の製造工程において直ちに実施で
きて能率良く線状体の欠陥を発見することがで
き、その工業的価値は非常に大きなものがある。
の欠陥検出方法は、間隔を置いて並列状態で連続
走行する糸などのレーザビーム透過性の複数本の
線状体に、該線状体の太さ以上で且つ該太さの５
倍以下の径のレーザビームを高速で揺動するミラ
ーによつて該線状体の走行方向に対して直角な方
向の移動成分を有する方向に移動させながら照射
し、該レーザビームが該線状体を横切る前から後
までの光量を特殊な反射ミラーに反射させて各線
状体別に光電子倍増管の如き受光素子により連続
的に測定してその光量変化によつて線状体の欠陥
を検出するように構成したことにより、複数本の
線状体を走行させながら同時に、しかも各線状体
別に欠陥を検出することができるのである。そし
て線状体に照射するレーザビームの波長域を選定
することによつて線状体の外形状のみならず有色
の汚れも効果的に検知でき、しかもこの線状体の
欠陥を検知するのに線状体は所定方向に連続して
走行させたままで良いので、複数本の線状体が走
行している各種の製造工程において直ちに実施で
きて能率良く線状体の欠陥を発見することがで
き、その工業的価値は非常に大きなものがある。
第１図は本発明方法を実施するための装置の１
実施例を示す説明図、第２図は本発明方法によつ
て得られた電気信号と線状体の各種性状との関係
を示す図、第３図は線状体と移動するレーザビー
ムとの変化する位置関係を示す図、第４図はレー
ザビームが移動しながら照射されるときの第３図
における各位置関係における受光量の変化及び反
射ミラーのレーザビームを反射しない区域での受
光量の変化を示す図、第５図は反射ミラーの構造
を示す図である。 図面中、１……レーザ発信管、２……レンズ
系、３……ミラー、４……反射ミラー、４ａ……
反射しない区域、５……集光レンズ。
実施例を示す説明図、第２図は本発明方法によつ
て得られた電気信号と線状体の各種性状との関係
を示す図、第３図は線状体と移動するレーザビー
ムとの変化する位置関係を示す図、第４図はレー
ザビームが移動しながら照射されるときの第３図
における各位置関係における受光量の変化及び反
射ミラーのレーザビームを反射しない区域での受
光量の変化を示す図、第５図は反射ミラーの構造
を示す図である。 図面中、１……レーザ発信管、２……レンズ
系、３……ミラー、４……反射ミラー、４ａ……
反射しない区域、５……集光レンズ。
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 １ 間隔を置いて並列状態で連続走行するレーザ
ービーム透過性の複数本の線状体に、走行路面の
片側から該線状体の太さ以上で且つ該太さの５倍
以下の径のレーザービームを振動によつて高速で
揺動するミラーに当てて反射させることにより線
状体の走行方向に対して直角な方向の移動成分を
有する方向に移動させながら照射し、該レーザー
ビームが各線状体毎に該線状体を横切る前から後
までの光量を、走行路面の他側において線状体間
の各間隔に対応してレーザービームを反射しない
区域を並列に設けた反射ミラーに順次反射させて
受光素子により連続的に測定し、その光量変化に
よつて各線状体別に欠陥を検出することを特徴と
する複数本の線状体の欠陥検出方法。 ２ 線状体がベンベルグ糸であり、レーザビーム
がベンベルグ糸に生じる青色汚れによつて透過光
量が著しく減少する0.63μmの波長のHe−Neレー
ザビームである特許請求の範囲第１項に記載の複
数本の線状体の欠陥検出方法。 ３ 受光素子により連続的に測定した光量を時間
で微分して微分値を光量変化として検知する特許
請求の範囲第１項又は第２項に記載の複数本の線
状体の欠陥検出方法。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP9625582A JPS58213239A (ja) | 1982-06-07 | 1982-06-07 | 複数本の線状体の欠陥検出方法 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP9625582A JPS58213239A (ja) | 1982-06-07 | 1982-06-07 | 複数本の線状体の欠陥検出方法 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS58213239A JPS58213239A (ja) | 1983-12-12 |
| JPH046899B2 true JPH046899B2 (ja) | 1992-02-07 |
Family
ID=14160088
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP9625582A Granted JPS58213239A (ja) | 1982-06-07 | 1982-06-07 | 複数本の線状体の欠陥検出方法 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS58213239A (ja) |
Families Citing this family (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| CN107764839B (zh) * | 2017-10-12 | 2020-05-05 | 中南大学 | 一种基于机器视觉的钢丝绳表面缺陷在线检测方法及装置 |
Family Cites Families (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS5161881A (en) * | 1974-11-26 | 1976-05-28 | Mitsubishi Electric Corp | Hyomenketsukankensasochi |
| JPS56102406U (ja) * | 1979-12-08 | 1981-08-11 |
-
1982
- 1982-06-07 JP JP9625582A patent/JPS58213239A/ja active Granted
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPS58213239A (ja) | 1983-12-12 |
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