JPH0471232A - 洗浄装置 - Google Patents
洗浄装置Info
- Publication number
- JPH0471232A JPH0471232A JP18321390A JP18321390A JPH0471232A JP H0471232 A JPH0471232 A JP H0471232A JP 18321390 A JP18321390 A JP 18321390A JP 18321390 A JP18321390 A JP 18321390A JP H0471232 A JPH0471232 A JP H0471232A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- semiconductor substrate
- deposit
- cleaning device
- rotary brush
- vacuum
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Pending
Links
- 238000005406 washing Methods 0.000 title abstract description 3
- 239000004065 semiconductor Substances 0.000 claims abstract description 38
- 239000000758 substrate Substances 0.000 claims abstract description 38
- XLYOFNOQVPJJNP-UHFFFAOYSA-N water Substances O XLYOFNOQVPJJNP-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims abstract description 7
- 238000004140 cleaning Methods 0.000 claims description 19
- 239000000428 dust Substances 0.000 abstract description 3
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 4
- 239000002245 particle Substances 0.000 description 1
- 238000001179 sorption measurement Methods 0.000 description 1
- 239000007921 spray Substances 0.000 description 1
Landscapes
- Cleaning Or Drying Semiconductors (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
〔産業上の利用分野〕
本発明は、半導体基板上の付着物除去を行う洗浄装置に
関する。
関する。
従来、この種の洗浄装置は、種々、開発されているが一
般的な安価である水洗式洗浄装置が広く使用されている
。
般的な安価である水洗式洗浄装置が広く使用されている
。
第2図は従来の洗浄装置の一例の概略を示す図である。
この洗浄装置は、同図に示すように、半導体基板1を吸
着保持し、回転させる真空吸着回転軸2と、この回転軸
2を回転するモータ3と、半導体基板1上に純水を噴出
させる噴出ノズル4と、半導体基板1上を拭き取る回転
ブラシ5とを有している。
着保持し、回転させる真空吸着回転軸2と、この回転軸
2を回転するモータ3と、半導体基板1上に純水を噴出
させる噴出ノズル4と、半導体基板1上を拭き取る回転
ブラシ5とを有している。
この洗浄装置で、半導体基板1のごみを除去する場合は
、まず、半導体基板1を真空吸着回転軸2に搭載し、図
示していない真空ポンプを作動させ、半導体基板1をこ
の真空吸着回転軸2に保持させる。次に、モータ3を起
動させ、真空吸着回転軸2を回転させ、回転している半
導体基板1の上から、噴出ノズル4で純水を滴下する。
、まず、半導体基板1を真空吸着回転軸2に搭載し、図
示していない真空ポンプを作動させ、半導体基板1をこ
の真空吸着回転軸2に保持させる。次に、モータ3を起
動させ、真空吸着回転軸2を回転させ、回転している半
導体基板1の上から、噴出ノズル4で純水を滴下する。
これと同時に、回転ブラシ5を回転させ、半導体基板1
に接触しながら、付着したごみを除去していた。
に接触しながら、付着したごみを除去していた。
しかしながら、上述した従来の洗浄装置では、半導体基
板上から除去し−た付着物が、回転ブラシに付着したま
ま、再び回転し、半導体基板に接触するので、半導体基
板に再付着するという問題点がある。
板上から除去し−た付着物が、回転ブラシに付着したま
ま、再び回転し、半導体基板に接触するので、半導体基
板に再付着するという問題点がある。
本発明の目的は、かかる問題を解消する洗浄装置を提供
することにある。
することにある。
本発明の洗浄装置は、半導体基板を真空吸着し、これを
回転運動させる真空吸着回転軸と、前」己半導体基板表
面上に純水を滴下する噴出ノズルと、前記半導体基板の
表面を拭き取る回転ブラシとを有する洗浄装置において
、前記回転ブラシの前記半導体基板側と反対側に配置さ
れる吸引ダクトを備え構成される。
回転運動させる真空吸着回転軸と、前」己半導体基板表
面上に純水を滴下する噴出ノズルと、前記半導体基板の
表面を拭き取る回転ブラシとを有する洗浄装置において
、前記回転ブラシの前記半導体基板側と反対側に配置さ
れる吸引ダクトを備え構成される。
次に本発明の一実施例について図面を用いて説明する。
第1図は本発明の一実施例の概略を示す洗浄装置の図で
ある。この洗浄装置は、同図に示すように、回転ブラシ
5の半導体基板1と反対側に吸引ダクト6と、この吸引
ダクトより空気を排気するポンプ7とを設けたことであ
る。それ以外は従来と同じである。
ある。この洗浄装置は、同図に示すように、回転ブラシ
5の半導体基板1と反対側に吸引ダクト6と、この吸引
ダクトより空気を排気するポンプ7とを設けたことであ
る。それ以外は従来と同じである。
この洗浄装置の動作は、まず、半導体基板1を、真空吸
着する。次に、真空吸着回転軸2をモータ3により回転
する。次に、噴出ノズル4より純水を噴出させ、半導体
基板1上の付着物を洗い流す。これと同時に回転ブラシ
5を回転し、付着物を除去する。次に、吸引ダクト6に
より半導体基板1から回転ブラシ5に付着した付着物を
吸引する。
着する。次に、真空吸着回転軸2をモータ3により回転
する。次に、噴出ノズル4より純水を噴出させ、半導体
基板1上の付着物を洗い流す。これと同時に回転ブラシ
5を回転し、付着物を除去する。次に、吸引ダクト6に
より半導体基板1から回転ブラシ5に付着した付着物を
吸引する。
このように、半導体基板1より除去した付着物が、−度
、回転ブラシ5に付着するが、半導体基板側と反対側で
付着物を吸引するので、再び、半導体基板に付着するこ
とが無くなった。また、第1図に示していないが、半導
体基板と反対側で、回転ブラシ5より付着が取り易いよ
うに、例えば、吸引ダクト6の吸引方向と直角方向に回
転ブラシ5のはけ部に熱風を吹付けるブロアを設けて、
純水の表面張力でごみの付着力を弱め、ごみの離脱を促
進させた。
、回転ブラシ5に付着するが、半導体基板側と反対側で
付着物を吸引するので、再び、半導体基板に付着するこ
とが無くなった。また、第1図に示していないが、半導
体基板と反対側で、回転ブラシ5より付着が取り易いよ
うに、例えば、吸引ダクト6の吸引方向と直角方向に回
転ブラシ5のはけ部に熱風を吹付けるブロアを設けて、
純水の表面張力でごみの付着力を弱め、ごみの離脱を促
進させた。
以上説明したように本発明は、回転ブラシの半導体基板
側と反対側に吸引ダクトを設けることによって、半導体
基板より除去され、回転ブラシ5に付着したごみが、剥
離し、吸引されるので、ごみの再付着することなく、よ
り洗浄度の高い洗浄装置が得られるという効果がある。
側と反対側に吸引ダクトを設けることによって、半導体
基板より除去され、回転ブラシ5に付着したごみが、剥
離し、吸引されるので、ごみの再付着することなく、よ
り洗浄度の高い洗浄装置が得られるという効果がある。
第1図は本発明の一実施例の概略を示す洗浄装置の図、
第2図は従来の洗浄装置の一例の概略を示す図である。 1・・・半導体基板、2・・・真空吸着回転軸、3・・
・モータ、4・・・噴出ノズル、5・・・回転ブラシ、
6・・・吸引ダクト、7・・・ポンプ。 晃 1 口
第2図は従来の洗浄装置の一例の概略を示す図である。 1・・・半導体基板、2・・・真空吸着回転軸、3・・
・モータ、4・・・噴出ノズル、5・・・回転ブラシ、
6・・・吸引ダクト、7・・・ポンプ。 晃 1 口
Claims (1)
- 半導体基板を真空吸着し、これを回転運動させる真空
吸着回転軸と、前記半導体基板表面上に純水を滴下する
噴出ノズルと、前記半導体基板の表面を拭き取る回転ブ
ラシとを有する洗浄装置において、前記回転ブラシの前
記半導体基板側と反対側に配置される吸引ダクトを備え
ることを特徴とする洗浄装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP18321390A JPH0471232A (ja) | 1990-07-11 | 1990-07-11 | 洗浄装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP18321390A JPH0471232A (ja) | 1990-07-11 | 1990-07-11 | 洗浄装置 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH0471232A true JPH0471232A (ja) | 1992-03-05 |
Family
ID=16131763
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP18321390A Pending JPH0471232A (ja) | 1990-07-11 | 1990-07-11 | 洗浄装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH0471232A (ja) |
Cited By (4)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US5904164A (en) * | 1997-05-23 | 1999-05-18 | Sez Semiconductor-Equipment Zubehor Fur Die Halbleiterfertigung Ag | Arrangement for treatment of wafer-shaped articles, particularly silicon wafers |
| US6405399B1 (en) * | 1999-06-25 | 2002-06-18 | Lam Research Corporation | Method and system of cleaning a wafer after chemical mechanical polishing or plasma processing |
| US6497240B1 (en) * | 1999-04-21 | 2002-12-24 | Sharp Kabushiki Kaisha | Ultrasound cleaning device and resist-stripping device |
| WO2010047119A1 (ja) * | 2008-10-23 | 2010-04-29 | 昭和電工株式会社 | 磁気記録媒体用基板の洗浄装置及び磁気記録媒体用基板の洗浄方法 |
-
1990
- 1990-07-11 JP JP18321390A patent/JPH0471232A/ja active Pending
Cited By (4)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US5904164A (en) * | 1997-05-23 | 1999-05-18 | Sez Semiconductor-Equipment Zubehor Fur Die Halbleiterfertigung Ag | Arrangement for treatment of wafer-shaped articles, particularly silicon wafers |
| US6497240B1 (en) * | 1999-04-21 | 2002-12-24 | Sharp Kabushiki Kaisha | Ultrasound cleaning device and resist-stripping device |
| US6405399B1 (en) * | 1999-06-25 | 2002-06-18 | Lam Research Corporation | Method and system of cleaning a wafer after chemical mechanical polishing or plasma processing |
| WO2010047119A1 (ja) * | 2008-10-23 | 2010-04-29 | 昭和電工株式会社 | 磁気記録媒体用基板の洗浄装置及び磁気記録媒体用基板の洗浄方法 |
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