JPH0472164B2 - - Google Patents
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- Publication number
- JPH0472164B2 JPH0472164B2 JP11494382A JP11494382A JPH0472164B2 JP H0472164 B2 JPH0472164 B2 JP H0472164B2 JP 11494382 A JP11494382 A JP 11494382A JP 11494382 A JP11494382 A JP 11494382A JP H0472164 B2 JPH0472164 B2 JP H0472164B2
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- workpieces
- small
- groups
- master
- average
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Expired
Links
- 238000005259 measurement Methods 0.000 claims description 19
- 238000012937 correction Methods 0.000 claims description 6
- 238000000034 method Methods 0.000 claims description 6
- 238000003860 storage Methods 0.000 claims description 4
- 238000004364 calculation method Methods 0.000 claims description 3
- 238000013461 design Methods 0.000 description 7
- 230000000052 comparative effect Effects 0.000 description 2
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 2
- 238000004519 manufacturing process Methods 0.000 description 2
- 238000007726 management method Methods 0.000 description 1
- 238000002360 preparation method Methods 0.000 description 1
Classifications
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01B—MEASURING LENGTH, THICKNESS OR SIMILAR LINEAR DIMENSIONS; MEASURING ANGLES; MEASURING AREAS; MEASURING IRREGULARITIES OF SURFACES OR CONTOURS
- G01B21/00—Measuring arrangements or details thereof, where the measuring technique is not covered by the other groups of this subclass, unspecified or not relevant
- G01B21/10—Measuring arrangements or details thereof, where the measuring technique is not covered by the other groups of this subclass, unspecified or not relevant for measuring diameters
Landscapes
- Physics & Mathematics (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Length Measuring Devices With Unspecified Measuring Means (AREA)
Description
【発明の詳細な説明】
この発明は多数個の同一設計寸法の物体を連続
して測定する際の比較測定における高精度、自動
マスター合せ方法と装置に係るものである。例え
ば差動変圧器による電気マイクロメータ方式、も
しくは空気圧によるエアーマイクロメータ方式に
よる比較測定においては、基準寸法の大範小範を
用いて測定装置の零点と倍率を調整する、いわゆ
るマスター合せを行つて測定を開始する必要があ
り、測定の信頼性の向上をはかろうとすれば測定
装置側の状態の変化、すなわち、零点ドリフト及
び倍率変化等々によつて発生する測定値の誤差を
補正するために、前記マスター合せの操作を頻繁
に繰り返えし行う必要がある。そのために従来は
その設計寸法に合せて本範・小範のマスターピー
スを正確に多数製作し、その値をマスター値とし
て記憶し、これによつて手作業により、もしくは
自動的にマスター合せを行つていた。そのため一
つの設計寸法に対して高精度に作られた多数のマ
スターピースを準備し、かつこれを保管、管理す
る必要があり、費用がかかり、かつ取り扱いに手
数を要した。また稼動中の測定機を一旦停止させ
た状態でマスター合せを行うため、果して稼動中
の状態における必要な補正と一致して行われてい
るか否かの疑問があつた。すなわち、マスター形
状による寸法誤差及び機械固有の繰り返し誤差が
そのまま含まれるマスター合せであつた。
して測定する際の比較測定における高精度、自動
マスター合せ方法と装置に係るものである。例え
ば差動変圧器による電気マイクロメータ方式、も
しくは空気圧によるエアーマイクロメータ方式に
よる比較測定においては、基準寸法の大範小範を
用いて測定装置の零点と倍率を調整する、いわゆ
るマスター合せを行つて測定を開始する必要があ
り、測定の信頼性の向上をはかろうとすれば測定
装置側の状態の変化、すなわち、零点ドリフト及
び倍率変化等々によつて発生する測定値の誤差を
補正するために、前記マスター合せの操作を頻繁
に繰り返えし行う必要がある。そのために従来は
その設計寸法に合せて本範・小範のマスターピー
スを正確に多数製作し、その値をマスター値とし
て記憶し、これによつて手作業により、もしくは
自動的にマスター合せを行つていた。そのため一
つの設計寸法に対して高精度に作られた多数のマ
スターピースを準備し、かつこれを保管、管理す
る必要があり、費用がかかり、かつ取り扱いに手
数を要した。また稼動中の測定機を一旦停止させ
た状態でマスター合せを行うため、果して稼動中
の状態における必要な補正と一致して行われてい
るか否かの疑問があつた。すなわち、マスター形
状による寸法誤差及び機械固有の繰り返し誤差が
そのまま含まれるマスター合せであつた。
本発明はこの点を改善し、かつマスターピース
の設計製作を必要とせず、測定機の稼動状態と全
く同じ条件でマスター合せを行い補正するもので
ある。
の設計製作を必要とせず、測定機の稼動状態と全
く同じ条件でマスター合せを行い補正するもので
ある。
本発明においては、多数個の加工完成品（以下
ワークピースと称す）をマスターピースとして使
う。そしてまずその中から大範マスターの寸法に
近いものを大範グループとして、小範マスターの
寸法に近いものを小範グループとしてランダムに
複数個選び出し、その各々を信頼できる測定機で
測定し、大範グループとして複数個、小範グルー
プとして複数個準備し、連設収納する。例えば直
径を測定するとき設計上のほぼ中心寸法Ｐに対
し、上限寸法Ｐ＋α、下限寸法Ｐ−αとすると、
Ｐ＋αに近い値のもの複数個を大範グループと
し、Ｐ−αに近い値のもの複数を小範グループと
する。このようにして選び出された大範グループ
のもの、例えば10個、小範グループのもの10個の
各々の平均値をD1，D2とする。そして実際に稼
動している連続寸法測定装置にこの連設収納され
ている大・小範グループのワークピースを連続し
て送り込み、その各々10個を大・小範分離測定
し、大・小範それぞれの測定値の10個の平均を演
算させD1′，D2′を作る。つぎに上記のようにして
設定された基準の大・小範平均値D1，D2とD1′，
D2′との比較を行い、（D1′−D1）、（D2′−D2）の
演算結果によつて測定装置の測定回路系の補正を
行う。
ワークピースと称す）をマスターピースとして使
う。そしてまずその中から大範マスターの寸法に
近いものを大範グループとして、小範マスターの
寸法に近いものを小範グループとしてランダムに
複数個選び出し、その各々を信頼できる測定機で
測定し、大範グループとして複数個、小範グルー
プとして複数個準備し、連設収納する。例えば直
径を測定するとき設計上のほぼ中心寸法Ｐに対
し、上限寸法Ｐ＋α、下限寸法Ｐ−αとすると、
Ｐ＋αに近い値のもの複数個を大範グループと
し、Ｐ−αに近い値のもの複数を小範グループと
する。このようにして選び出された大範グループ
のもの、例えば10個、小範グループのもの10個の
各々の平均値をD1，D2とする。そして実際に稼
動している連続寸法測定装置にこの連設収納され
ている大・小範グループのワークピースを連続し
て送り込み、その各々10個を大・小範分離測定
し、大・小範それぞれの測定値の10個の平均を演
算させD1′，D2′を作る。つぎに上記のようにして
設定された基準の大・小範平均値D1，D2とD1′，
D2′との比較を行い、（D1′−D1）、（D2′−D2）の
演算結果によつて測定装置の測定回路系の補正を
行う。
第１，２図は上記の方法を実施する場合の具体
的装置の一例を選別装置によつて示すもので、図
のＡはワークピースの供給部であつて、ワークピ
ースは第１図のＡの円周内にある12本のくし棒に
縦に重ねられて供給され、順次、図示しない管制
部により回転し、くし棒に供給されているワーク
ピーを１本ずつ測定する。その中の任意のくし棒
に大・小範マスターピースを連設供給して置き管
制部の指令により随時マスター合せが行なえる。
図ではＥに前述により選ばれた大・小範のグルー
プのマスターピースが大・小範グループ毎に連設
収容されている。尚、大・小範の区別は図示しな
い管制部でカウント判断して区別している。Ｂは
ワークピースの取り出し、受け渡し装置で供給部
からのワークピースを１個ずつ取り出して測定部
Ｃに移し、測定完了のワークピースを分類選別部
Ｄに渡す。選別部は測定値によつて分類されるワ
ークピースを所定分類位置に収容する。このよう
な構成において、マスター合せの必要なときには
稼働中に随時連設収容されている大・小範グルー
プの収容部Ｅを取り出し部に位置させ、順次大・
小範グループ毎に測定部に送り出す。そして通常
の測定を行うとともに管制部（図示しない）に内
蔵された大・小範判定回路、平均値演算回路、比
較補正回路を作動させる。一方、選別部Ｄには
大・小範グループのみを受け取り収容する位置Ｆ
を定めて、これをその間受け取り位置に決め、
大・小範グループのワークピースのみを受け取
る。そして、大・小範が測定部を通過して
（D1′−D1）、（D2′−D2）により補正が完了すると
通常の測定選別の稼動が続行される。なおＦに収
容された大・小範グループのワークピースは稼動
中に供給部のＥに人手により、もしくは自動的
（図示せず）に移される。
的装置の一例を選別装置によつて示すもので、図
のＡはワークピースの供給部であつて、ワークピ
ースは第１図のＡの円周内にある12本のくし棒に
縦に重ねられて供給され、順次、図示しない管制
部により回転し、くし棒に供給されているワーク
ピーを１本ずつ測定する。その中の任意のくし棒
に大・小範マスターピースを連設供給して置き管
制部の指令により随時マスター合せが行なえる。
図ではＥに前述により選ばれた大・小範のグルー
プのマスターピースが大・小範グループ毎に連設
収容されている。尚、大・小範の区別は図示しな
い管制部でカウント判断して区別している。Ｂは
ワークピースの取り出し、受け渡し装置で供給部
からのワークピースを１個ずつ取り出して測定部
Ｃに移し、測定完了のワークピースを分類選別部
Ｄに渡す。選別部は測定値によつて分類されるワ
ークピースを所定分類位置に収容する。このよう
な構成において、マスター合せの必要なときには
稼働中に随時連設収容されている大・小範グルー
プの収容部Ｅを取り出し部に位置させ、順次大・
小範グループ毎に測定部に送り出す。そして通常
の測定を行うとともに管制部（図示しない）に内
蔵された大・小範判定回路、平均値演算回路、比
較補正回路を作動させる。一方、選別部Ｄには
大・小範グループのみを受け取り収容する位置Ｆ
を定めて、これをその間受け取り位置に決め、
大・小範グループのワークピースのみを受け取
る。そして、大・小範が測定部を通過して
（D1′−D1）、（D2′−D2）により補正が完了すると
通常の測定選別の稼動が続行される。なおＦに収
容された大・小範グループのワークピースは稼動
中に供給部のＥに人手により、もしくは自動的
（図示せず）に移される。
自動搬送測定選別機には色々な形のものがある
が、他の例として傾斜シユートに沿つて移動する
方式のものについて、第３図により説明する。こ
こでＡは供給部で、ワークピース１は傾斜シユー
ト２の中を搬送される。シユートには別に大・小
範用ケース３が連結され、シユート及びケースの
出口にはストツパー４，５が設けられる。また搬
送部にも選別部Ｄに向かうシユート６の途中にケ
ース７が分岐して設けられ、分岐部に方向切換板
８を設ける。なおケース７は大・小範グループの
収容ケースとする。そして常時はストツパー５を
閉じ、４を開いて、ワークピース１を測定部Ｃに
供給してワークピースを測定し、選別分類部へ通
路Ｃに送り出す。そしてマスター合せの必要なと
きにはストツパー４を閉じ、５を開いて大・小範
グループのワークピースを測定部に送り、測定を
終つたものは板８を上げることによつて大・小範
グループの収容ケース７に入れる。そしてマスタ
ー合せ完了後はケース７とケース３とを人手を用
い、もしくは自動的（図示せず）に交換して次の
マスター合わせに備える。
が、他の例として傾斜シユートに沿つて移動する
方式のものについて、第３図により説明する。こ
こでＡは供給部で、ワークピース１は傾斜シユー
ト２の中を搬送される。シユートには別に大・小
範用ケース３が連結され、シユート及びケースの
出口にはストツパー４，５が設けられる。また搬
送部にも選別部Ｄに向かうシユート６の途中にケ
ース７が分岐して設けられ、分岐部に方向切換板
８を設ける。なおケース７は大・小範グループの
収容ケースとする。そして常時はストツパー５を
閉じ、４を開いて、ワークピース１を測定部Ｃに
供給してワークピースを測定し、選別分類部へ通
路Ｃに送り出す。そしてマスター合せの必要なと
きにはストツパー４を閉じ、５を開いて大・小範
グループのワークピースを測定部に送り、測定を
終つたものは板８を上げることによつて大・小範
グループの収容ケース７に入れる。そしてマスタ
ー合せ完了後はケース７とケース３とを人手を用
い、もしくは自動的（図示せず）に交換して次の
マスター合わせに備える。
以上のように本発明によれば、信頼できる測定
機によつて複数個のワークピースを測定して得た
値をマスター値として記憶し、随時、装置の実際
の稼動と同じ状態・要領で前記マスターの測定を
行い、その測定値と前記マスター値の差を求め、
この差を器差として本装置の零点、倍率の補正を
行うので常に高精度の測定、選別を行うことがで
きるとともに、装置の稼動を停止することなく、
マスターピース供給後は人手を要しない。また、
複数個のグループの平均値をそれぞれ大範、およ
び小範のマスター値として用いるので信頼性が一
層高まる。さらにワークピースの中から抽出した
ものをマスターピースとして用いるのでマスター
ピースの設計、製作が不要となり、保管、管理が
簡略化できるので経済的である等、極めて大きな
効果が得られる。
機によつて複数個のワークピースを測定して得た
値をマスター値として記憶し、随時、装置の実際
の稼動と同じ状態・要領で前記マスターの測定を
行い、その測定値と前記マスター値の差を求め、
この差を器差として本装置の零点、倍率の補正を
行うので常に高精度の測定、選別を行うことがで
きるとともに、装置の稼動を停止することなく、
マスターピース供給後は人手を要しない。また、
複数個のグループの平均値をそれぞれ大範、およ
び小範のマスター値として用いるので信頼性が一
層高まる。さらにワークピースの中から抽出した
ものをマスターピースとして用いるのでマスター
ピースの設計、製作が不要となり、保管、管理が
簡略化できるので経済的である等、極めて大きな
効果が得られる。
第１図は本発明の実施の一例を示す平面説明
図、第２図はその側面設計図、第３図は他の実施
例を示す説明図。 １……ワークピース、２……傾斜ケース、３，
７……大・小範グループケース、４，５……スト
ツパー、８……切換板。
図、第２図はその側面設計図、第３図は他の実施
例を示す説明図。 １……ワークピース、２……傾斜ケース、３，
７……大・小範グループケース、４，５……スト
ツパー、８……切換板。
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 １ 予め基準となる測定装置をもつて測定され
た、大範寸法に近いワークグループ（平均寸法
D1）と小範寸法に近いワークグループ（平均寸
法D2）とに分類されたワークピースを各グルー
プ毎に複数個連設準備し、連続測定装置の稼動工
程中にこの大・小範グループのワークピースをグ
ループ毎に連続して測定部に送り込み、各々大・
小範グループのワークピースを順次測定し、これ
を一般のワークピース測定の経路から分離して収
容し、かつ大・小範グループのその装置における
測定値の平均値D1′，D2′を作り（D1′−D1）、
（D2′−D2）をもつてその装置の誤差補正を行う
高精度マスター合せ方法。 ２ 予め基準となる測定装置をもつて測定され
た、大範寸法に近いワークグループ（平均寸法
D1）と小範寸法に近いワークグループ（平均寸
法D2）とに分類されたワークピースを各グルー
プ毎に複数個連設準備したマスターワーク収容装
置と、稼動中の測定装置における一般にワークピ
ースのみを収容する収容装置とを有し、かつマス
ター合せの際は稼動中の一般ワークピースの搬送
を中止して連設収容されている大・小範マスター
ピースを稼動中の測定装置に順次送り込む切り換
え装置と、送り込まれたマスターピースの各々の
寸法を測定し、これを一般のワークピースの経路
から分離収容する装置とを有し、大・小範グルー
プの各々の測定値の平均D1′，D2′を算出する演算
回路と、基準となる測定装置をもつて測定された
大・小範のワークグループの基準平均値D1，D2
との比較により測定系回路の補正を行う比較補正
回路とを有する高精度マスター合せ装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP11494382A JPS595909A (ja) | 1982-07-01 | 1982-07-01 | 高精度マスタ−合せ方法と装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP11494382A JPS595909A (ja) | 1982-07-01 | 1982-07-01 | 高精度マスタ−合せ方法と装置 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS595909A JPS595909A (ja) | 1984-01-12 |
| JPH0472164B2 true JPH0472164B2 (ja) | 1992-11-17 |
Family
ID=14650487
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP11494382A Granted JPS595909A (ja) | 1982-07-01 | 1982-07-01 | 高精度マスタ−合せ方法と装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS595909A (ja) |
-
1982
- 1982-07-01 JP JP11494382A patent/JPS595909A/ja active Granted
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPS595909A (ja) | 1984-01-12 |
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