JPH0472542B2 - - Google Patents
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- JPH0472542B2 JPH0472542B2 JP61146677A JP14667786A JPH0472542B2 JP H0472542 B2 JPH0472542 B2 JP H0472542B2 JP 61146677 A JP61146677 A JP 61146677A JP 14667786 A JP14667786 A JP 14667786A JP H0472542 B2 JPH0472542 B2 JP H0472542B2
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Description
【発明の詳細な説明】
(産業上の利用分野)
本発明は、フアン状の連続X線を用いたX線断
層撮影装置におけるデータ収集装置に関し、更に
詳しくは、所望のビユー番号のデータを収集する
とき、X線管の回転軌跡上に想定した所望のビユ
ー番号に対応するビユーポイントとフアンの円弧
上を移動するX線管を結ぶ線上を通過するチヤネ
ルのデータを、該チヤネルが前記線に一致するタ
イミングで取込むことによつて、所望のビユー番
号のデータを求めるようにしたX線断層撮影装置
におけるデータ収集装置に関する。
層撮影装置におけるデータ収集装置に関し、更に
詳しくは、所望のビユー番号のデータを収集する
とき、X線管の回転軌跡上に想定した所望のビユ
ー番号に対応するビユーポイントとフアンの円弧
上を移動するX線管を結ぶ線上を通過するチヤネ
ルのデータを、該チヤネルが前記線に一致するタ
イミングで取込むことによつて、所望のビユー番
号のデータを求めるようにしたX線断層撮影装置
におけるデータ収集装置に関する。
(従来の技術)
従来から、フアンビーム状のX線を多数の角度
方向(以下、ビユー方向と言う)から被検体に照
射してその投影データを収集し、これらの投影デ
ータからコンピユータによる演算処理によつて被
検体の各部のX線吸収分布を求め、被検体の断層
像を再構成するX線断層撮影装置(以下、CT装
置と言う)はよく知られている。
方向(以下、ビユー方向と言う)から被検体に照
射してその投影データを収集し、これらの投影デ
ータからコンピユータによる演算処理によつて被
検体の各部のX線吸収分布を求め、被検体の断層
像を再構成するX線断層撮影装置(以下、CT装
置と言う)はよく知られている。
第9図は、このようなCT装置の要部を示す構
成図である。第9図において、X線管1と検出器
2は、撮影領域3を挟んで対向設置される(X線
管、検出器等を支持しスキヤナ本体を構成する機
構部を一般にガントリーと言う)。又、X線管1
と検出器2は、ガントリーコントローラ(図示せ
ず)の制御下で、撮影領域3の略中央に設置され
る被検体4を中心として、被検体4の周囲を回転
する構成となつている。検出器2は、X線管1に
対向する側に円弧状を形成して配列する数百チヤ
ネルの検出器群を備え、X線管1から撮影領域3
を包含して照射されるフアンビーム5(投影デー
タ)を検出する。データ収集ユニツト6は、検出
器2の検出信号(アナログ信号)を所定の期間積
分しそれを所定のタイミングで取込む手段、取込
んだ信号を増幅する手段、該手段の出力信号をデ
イジタル信号に変換して定められた速度で次段に
転送する手段等を備えている。コンピユータ7
は、データ収集ユニツト6から転送されてくる信
号を格納する手段、格納されたデータを用いて高
速で画像再構成演算をする手段、演算結果に基づ
いてCRT8に画像表示する手段、キーボード9
からの信号に基づいて各部に所定の信号を送出す
る手段等を備えている。
成図である。第9図において、X線管1と検出器
2は、撮影領域3を挟んで対向設置される(X線
管、検出器等を支持しスキヤナ本体を構成する機
構部を一般にガントリーと言う)。又、X線管1
と検出器2は、ガントリーコントローラ(図示せ
ず)の制御下で、撮影領域3の略中央に設置され
る被検体4を中心として、被検体4の周囲を回転
する構成となつている。検出器2は、X線管1に
対向する側に円弧状を形成して配列する数百チヤ
ネルの検出器群を備え、X線管1から撮影領域3
を包含して照射されるフアンビーム5(投影デー
タ)を検出する。データ収集ユニツト6は、検出
器2の検出信号(アナログ信号)を所定の期間積
分しそれを所定のタイミングで取込む手段、取込
んだ信号を増幅する手段、該手段の出力信号をデ
イジタル信号に変換して定められた速度で次段に
転送する手段等を備えている。コンピユータ7
は、データ収集ユニツト6から転送されてくる信
号を格納する手段、格納されたデータを用いて高
速で画像再構成演算をする手段、演算結果に基づ
いてCRT8に画像表示する手段、キーボード9
からの信号に基づいて各部に所定の信号を送出す
る手段等を備えている。
以上の構成において、パルスX線方式の場合の
動作は、第10図に示すタイミングでX線照射、
積分及びアナログ・デイジタル変換(以下、A/
D変換と言う)が行われる。第10図から明らか
なように、パルスX線方式において、積分信号の
A/D変換は、X線が照射されていない時間
Tp1,Tp2,…に各チヤネル毎に順次行われるが、
各ビユーにおける全チヤネルのデータ収集は、例
えば、時間Tp0に同時に行われる。即ち、コンピ
ユータ7における画像再構成演算は時間遅れのな
いデータに基づき行われることになる。
動作は、第10図に示すタイミングでX線照射、
積分及びアナログ・デイジタル変換(以下、A/
D変換と言う)が行われる。第10図から明らか
なように、パルスX線方式において、積分信号の
A/D変換は、X線が照射されていない時間
Tp1,Tp2,…に各チヤネル毎に順次行われるが、
各ビユーにおける全チヤネルのデータ収集は、例
えば、時間Tp0に同時に行われる。即ち、コンピ
ユータ7における画像再構成演算は時間遅れのな
いデータに基づき行われることになる。
一方、連続X線方式の場合には、第11図に示
すタイミングでA/D変換、データリセツト(検
出器内で電離され、データ収集ユニツトの積分器
にチヤージされた電荷を放電する動作)及び積分
が行われる。積分は、対象のチヤネル、例えば、
チヤネル#1において、自己のA/D変換が行わ
れ(時間Tc1)、かつ、データリセツトが終了し
た時点(データリセツト時間Tc2)からチヤネル
#2のA/D変換が開始される直前まで続けられ
る。又、チヤネル#2の積分は、自己のA/D変
換が行われ、かつ、データリセツトが終了した時
点からチヤネル#3のA/D変換直前まで行われ
る。更に、チヤネル#3以下の各チヤネルにおい
ても同様のタイミングで積分、データリセツト及
びA/D変換が行われる。そして、各チヤネルの
A/D変換されたデータ、順次コンピユータ7に
転送され画像再構成演算に供される。
すタイミングでA/D変換、データリセツト(検
出器内で電離され、データ収集ユニツトの積分器
にチヤージされた電荷を放電する動作)及び積分
が行われる。積分は、対象のチヤネル、例えば、
チヤネル#1において、自己のA/D変換が行わ
れ(時間Tc1)、かつ、データリセツトが終了し
た時点(データリセツト時間Tc2)からチヤネル
#2のA/D変換が開始される直前まで続けられ
る。又、チヤネル#2の積分は、自己のA/D変
換が行われ、かつ、データリセツトが終了した時
点からチヤネル#3のA/D変換直前まで行われ
る。更に、チヤネル#3以下の各チヤネルにおい
ても同様のタイミングで積分、データリセツト及
びA/D変換が行われる。そして、各チヤネルの
A/D変換されたデータ、順次コンピユータ7に
転送され画像再構成演算に供される。
(発明が解決しようとする問題点)
しかし、従来の連続X線方式のCT装置におけ
るデータ収集装置にあつては、各チヤネルによつ
てデータ収集時刻が変る、即ち、各チヤネル間の
A/D変換において時間遅れがあるため、逆投影
矛循によつて生じるストリーク、モアレ等のアー
テイフアクトが生じるという問題がある。
るデータ収集装置にあつては、各チヤネルによつ
てデータ収集時刻が変る、即ち、各チヤネル間の
A/D変換において時間遅れがあるため、逆投影
矛循によつて生じるストリーク、モアレ等のアー
テイフアクトが生じるという問題がある。
この問題を解決する方法として、検出器の全チ
ヤネルにサンプルホールド回路を備え、これらの
サンプルホールド及びリセツトを同時に行うこと
が考えられるが、コスト高となるうえに、装置が
大きくなるという新たな問題が生じる。しかも、
サンプルホールド、リセツトを行う手段を構成す
る素子にばらつきがあると、所期の目的が達成さ
れない。
ヤネルにサンプルホールド回路を備え、これらの
サンプルホールド及びリセツトを同時に行うこと
が考えられるが、コスト高となるうえに、装置が
大きくなるという新たな問題が生じる。しかも、
サンプルホールド、リセツトを行う手段を構成す
る素子にばらつきがあると、所期の目的が達成さ
れない。
本発明は、かかる点に鑑みてなされたものであ
り、その目的は、連続X線方式CT装置において、
データ収集時間の遅れによるアーテイフアクトが
発生しないデータ収集装置を提供するにある。
り、その目的は、連続X線方式CT装置において、
データ収集時間の遅れによるアーテイフアクトが
発生しないデータ収集装置を提供するにある。
(問題点を解決するための手段)
上記目的を達成する本発明のCT装置における
データ収集装置は、所望のビユー番号のデータを
収集するとき、X線管の回転軌跡上に想定した所
望のビユー番号に対応するビユーポイントとフア
ンの円弧上を移動するX線管を結ぶ線上を通過す
るチヤネルのデータを、該チヤネルが前記線に一
致するタイミングで取込むことによつて、所望の
ビユー番号のデータを求めるようになつている。
データ収集装置は、所望のビユー番号のデータを
収集するとき、X線管の回転軌跡上に想定した所
望のビユー番号に対応するビユーポイントとフア
ンの円弧上を移動するX線管を結ぶ線上を通過す
るチヤネルのデータを、該チヤネルが前記線に一
致するタイミングで取込むことによつて、所望の
ビユー番号のデータを求めるようになつている。
(実施例)
以下、本発明について詳細に説明する。
先ず、本発明の原理的説明に入る。第1図は、
ガントリーを回転させたときのX線管と検出器の
幾何学的関係を示したものである。第1図におい
て、X線管1Aは、ビユー番号Aに対応するビユ
ーポイントAから撮影領域3に向けフアンビーム
5を投射する。投射されたフアンビーム5は、検
出器2Aに入射する。ここで、説明の都合上、フ
アンビーム5は、隣合うビーム同士が等角度を形
成するビーム5a1,5a2,5a3(回転中心Oを通
るビーム)、5a4及び5a5で構成され、各ビーム
は、撮影領域3内に設置される被検体(図では被
検体が撮影領域3と同一形状で示されている)の
部位4a1,4a2,4a3,4a4及び4a5を透過して、
検出器2Aの各チヤネル−φ2,−φ1,φ0,φ1及び
φ2に入射するものとする。即ち、ビユー番号A
において、部位4a1,4a2,4a3,4a4及び4a5の
投影データは、チヤネル−φ2,−φ1,φ0,φ1及び
φ2によつて検出される。尚、検出器2Aのチヤ
ネルは等間隔に配列されており、ビーム5a3に対
し、左右夫々が対称となつている(チヤネルφ2
と−φ2及びチヤネルφ1と−φ1は対称である)。点
B,C,D,E及びFは、ビユーポイントAとチ
ヤネル−φ2,−φ1,φ0,φ1及びφ2夫々を結ぶ線と
の交点である(交点を形成する各線は、ビーム5
a1,5a2,5a3,5a4及び5a5と実質的に同一であ
るので、以下各線をこれらビームの符号を用いて
表す)。X線管1B,1C,1D,1E及び1F
は、点B,C,D,E及びF夫々に位置する。
又、X線管1B,1C,1D,1E及び1Fに対
して、検出器2B,2C,2D,2E及び2F
夫々が構成され、線5a1,5a2,5a3,5a4及び
5a5上に検出器2B,2C,2D,2E及び2F
のチヤネルφ2(●印)、φ1(×印),φ0(□印),
−φ1
(△印)及び−φ2(〇印)夫々が位置する。即ち、
X線管1Bによるビーム5b5(X線管1Aのビー
ム5a5に相当するビーム)は、部位4a1を透過し
て検出器2Bのチヤネルφ2に検出される。同様
に、X線管1C,1D,1E及び1Fによるビー
ム5c4,5d3,5e2及び5f1は(各ビームはX線管
1Aのビーム5a4,5a3,5a2及び5a1夫々に相
当する)、部位4a2,4a3,4a4及び4a5夫々を透
過して検出器2C,2D,2E及び2Fのチヤネ
ルφ1,φ0,−φ1及び−φ2夫々に検出される。従つ
て、X線管が、例えば点BからF方向に移動する
とき、X線管が点B,C,D,E及びFに一致す
るタイミングに合せて、チヤネルφ2,φ1,φ0,−
φ1及び−φ2のデータを取込むことにより、部位
4a1,4a2,4a3,4a4及び4a5のデータを得るこ
とができる(上記タイミングは、チヤネルφ2,
φ1,φ0,−φ1及び−φ2が線5a1,5a2,5a3,5a4
及び5a5夫々と一致するタイミングでもある)。
ガントリーを回転させたときのX線管と検出器の
幾何学的関係を示したものである。第1図におい
て、X線管1Aは、ビユー番号Aに対応するビユ
ーポイントAから撮影領域3に向けフアンビーム
5を投射する。投射されたフアンビーム5は、検
出器2Aに入射する。ここで、説明の都合上、フ
アンビーム5は、隣合うビーム同士が等角度を形
成するビーム5a1,5a2,5a3(回転中心Oを通
るビーム)、5a4及び5a5で構成され、各ビーム
は、撮影領域3内に設置される被検体(図では被
検体が撮影領域3と同一形状で示されている)の
部位4a1,4a2,4a3,4a4及び4a5を透過して、
検出器2Aの各チヤネル−φ2,−φ1,φ0,φ1及び
φ2に入射するものとする。即ち、ビユー番号A
において、部位4a1,4a2,4a3,4a4及び4a5の
投影データは、チヤネル−φ2,−φ1,φ0,φ1及び
φ2によつて検出される。尚、検出器2Aのチヤ
ネルは等間隔に配列されており、ビーム5a3に対
し、左右夫々が対称となつている(チヤネルφ2
と−φ2及びチヤネルφ1と−φ1は対称である)。点
B,C,D,E及びFは、ビユーポイントAとチ
ヤネル−φ2,−φ1,φ0,φ1及びφ2夫々を結ぶ線と
の交点である(交点を形成する各線は、ビーム5
a1,5a2,5a3,5a4及び5a5と実質的に同一であ
るので、以下各線をこれらビームの符号を用いて
表す)。X線管1B,1C,1D,1E及び1F
は、点B,C,D,E及びF夫々に位置する。
又、X線管1B,1C,1D,1E及び1Fに対
して、検出器2B,2C,2D,2E及び2F
夫々が構成され、線5a1,5a2,5a3,5a4及び
5a5上に検出器2B,2C,2D,2E及び2F
のチヤネルφ2(●印)、φ1(×印),φ0(□印),
−φ1
(△印)及び−φ2(〇印)夫々が位置する。即ち、
X線管1Bによるビーム5b5(X線管1Aのビー
ム5a5に相当するビーム)は、部位4a1を透過し
て検出器2Bのチヤネルφ2に検出される。同様
に、X線管1C,1D,1E及び1Fによるビー
ム5c4,5d3,5e2及び5f1は(各ビームはX線管
1Aのビーム5a4,5a3,5a2及び5a1夫々に相
当する)、部位4a2,4a3,4a4及び4a5夫々を透
過して検出器2C,2D,2E及び2Fのチヤネ
ルφ1,φ0,−φ1及び−φ2夫々に検出される。従つ
て、X線管が、例えば点BからF方向に移動する
とき、X線管が点B,C,D,E及びFに一致す
るタイミングに合せて、チヤネルφ2,φ1,φ0,−
φ1及び−φ2のデータを取込むことにより、部位
4a1,4a2,4a3,4a4及び4a5のデータを得るこ
とができる(上記タイミングは、チヤネルφ2,
φ1,φ0,−φ1及び−φ2が線5a1,5a2,5a3,5a4
及び5a5夫々と一致するタイミングでもある)。
ところで、第1図において、ビーム5a1と5b
5,5a2と5c4,5a3と5d3,5a4と5e2と5a5と5f
1は、夫々投射方向が可逆的な関係にある。従つ
て、上記のチヤネルφ2(●印)、φ1(×印)、φ0(
□
印),−φ1(△印)及び−φ2(〇印)で検出される
データは、ビユー番号Aのときのビーム5a1,
5a2,5a3,5a4及び5a5によつて求められる部位
4a1,4a2,4a3,4a4及び4a5の対向ビユーデー
タである。即ち、ビユー番号Aのデータは、所定
のタイミングで所定のチヤネルから得られる対向
ビユーデータによつて求めることができる。連続
X線方式において、各チヤネルのデータ取込み時
間が、X線管の移動速度に比べて無視し得る程度
に短時間で行われることにより(これは技術的に
容易であるが)、各部位のデータは時間遅れなく
求められる。
5,5a2と5c4,5a3と5d3,5a4と5e2と5a5と5f
1は、夫々投射方向が可逆的な関係にある。従つ
て、上記のチヤネルφ2(●印)、φ1(×印)、φ0(
□
印),−φ1(△印)及び−φ2(〇印)で検出される
データは、ビユー番号Aのときのビーム5a1,
5a2,5a3,5a4及び5a5によつて求められる部位
4a1,4a2,4a3,4a4及び4a5の対向ビユーデー
タである。即ち、ビユー番号Aのデータは、所定
のタイミングで所定のチヤネルから得られる対向
ビユーデータによつて求めることができる。連続
X線方式において、各チヤネルのデータ取込み時
間が、X線管の移動速度に比べて無視し得る程度
に短時間で行われることにより(これは技術的に
容易であるが)、各部位のデータは時間遅れなく
求められる。
尚、上記説明において、フアンビームの数を5
本としたが、この数を検出器のチヤネル数と同数
に想定した場合であつても、同じことが言える。
この場合、回転軌跡10の円弧BF上に、チヤネ
ル数と同数の点が想定される。従つて、X線管が
各点を通るタイミングに合せて各点とビユーポイ
ントAとを結ぶ線上に位置するチヤネルのデータ
を取込むことにより、ビユー番号Aにおける全て
のチヤネルで収集されるべきデータを収集するこ
とができる。
本としたが、この数を検出器のチヤネル数と同数
に想定した場合であつても、同じことが言える。
この場合、回転軌跡10の円弧BF上に、チヤネ
ル数と同数の点が想定される。従つて、X線管が
各点を通るタイミングに合せて各点とビユーポイ
ントAとを結ぶ線上に位置するチヤネルのデータ
を取込むことにより、ビユー番号Aにおける全て
のチヤネルで収集されるべきデータを収集するこ
とができる。
上記のことは、ビユー番号A以外のビユー番号
においても同様に考えることができるので、以下
の結論を導くことができる。所望のビユー番号の
データを収集するとき、X線管の回転軌跡上に想
定した所望のビユー番号に対応するビユーポイン
トとフアンの円弧上を移動するX線管を結ぶ線上
を通過するチヤネルのデータを、該チヤネルが前
記線に一致するタイミングで取込むことによつ
て、所望のビユー番号のデータを時間遅れなく求
めることができる。
においても同様に考えることができるので、以下
の結論を導くことができる。所望のビユー番号の
データを収集するとき、X線管の回転軌跡上に想
定した所望のビユー番号に対応するビユーポイン
トとフアンの円弧上を移動するX線管を結ぶ線上
を通過するチヤネルのデータを、該チヤネルが前
記線に一致するタイミングで取込むことによつ
て、所望のビユー番号のデータを時間遅れなく求
めることができる。
次に、データ収集のチヤネルの順序について第
2図乃至第6図を参照して説明する。
2図乃至第6図を参照して説明する。
第2図イ及びロにおいて、角度φは検出器2の
個々のチヤネルに入るフアンビームとフアンビー
ム5の中心線5a(X線管1と検出器2の中心を
結ぶ線上で、かつ、ガントリーの回転中心Oを通
る線)とで形成される角度を表し(以下、チヤネ
ル角と言う)、反時計の回転方向を正の値とする。
角度θはある事象におけるガントリー位置を基準
にして、新たな事象のガントリー位置を表す角度
(以下、ビユー角差と言う)である。
個々のチヤネルに入るフアンビームとフアンビー
ム5の中心線5a(X線管1と検出器2の中心を
結ぶ線上で、かつ、ガントリーの回転中心Oを通
る線)とで形成される角度を表し(以下、チヤネ
ル角と言う)、反時計の回転方向を正の値とする。
角度θはある事象におけるガントリー位置を基準
にして、新たな事象のガントリー位置を表す角度
(以下、ビユー角差と言う)である。
今、CT装置において、各ビユー毎に全チヤネ
ルで同時にデータ収集が可能であるとした場合
(パルスX線方式の場合)、ガントリーが第2図イ
の実線の位置から矢印A方向で回転していると
き、ビユー番号A1,A2,A3,A4,A5のデータは
第3図に示す分布で得られる。第3図において、
縦軸はビユー(時刻)[θ]、横軸はチヤネル位置
[φ],●印はデータを夫々示す。
ルで同時にデータ収集が可能であるとした場合
(パルスX線方式の場合)、ガントリーが第2図イ
の実線の位置から矢印A方向で回転していると
き、ビユー番号A1,A2,A3,A4,A5のデータは
第3図に示す分布で得られる。第3図において、
縦軸はビユー(時刻)[θ]、横軸はチヤネル位置
[φ],●印はデータを夫々示す。
一方、ガントリーが、元の位置から回転が進
み、X線管1と検出器2の関係がイと逆の状態、
例えば第2図ロの実線の位置(対向位置)が構成
されたとき、このときのビユー角差θとチヤネル
角φの関係、即ち、対向位置におけるビユーは(1)
式で表される。
み、X線管1と検出器2の関係がイと逆の状態、
例えば第2図ロの実線の位置(対向位置)が構成
されたとき、このときのビユー角差θとチヤネル
角φの関係、即ち、対向位置におけるビユーは(1)
式で表される。
θ=π+2φ (1)
従つて、元の位置のビユーにおけるデータに対
向位置のビユーのデータを重ねると、第4図に示
す×印の分布となる。第4図は、全チヤネルで同
時にデータが収集される場合のデータ分布特性を
示しているが、今、仮に連続X線方式において
も、各チヤネルに対して第4図と同様なデータ分
布が考えられる場合、前記の結論から以下のこと
が言える。即ち、第4図に示す×印データ(対向
位置におけるデータ)を所定のタイミング(デー
タ収集の対象となるチヤネルが、所望のビユーポ
イントとX線管とを結ぶ線と一致するタイミン
グ)で収集すると、×印データが各矢印で示す●
印データの対向ビユーデータとして得ることがで
きる。
向位置のビユーのデータを重ねると、第4図に示
す×印の分布となる。第4図は、全チヤネルで同
時にデータが収集される場合のデータ分布特性を
示しているが、今、仮に連続X線方式において
も、各チヤネルに対して第4図と同様なデータ分
布が考えられる場合、前記の結論から以下のこと
が言える。即ち、第4図に示す×印データ(対向
位置におけるデータ)を所定のタイミング(デー
タ収集の対象となるチヤネルが、所望のビユーポ
イントとX線管とを結ぶ線と一致するタイミン
グ)で収集すると、×印データが各矢印で示す●
印データの対向ビユーデータとして得ることがで
きる。
第5図は、このときの各チヤネルのデータ収集
の順序の説明図である(第5図は、第4図と同じ
定義の下で描かれている)。第5図において、ビ
ユー番号A1,A2,A3,…は、データ収集の対象
となつているビユー(所望のビユー)のデータ配
列方向を示し、ビユー番号X1,X2,X3,…は、
上記の所望のビユーに対向する位置にあるビユー
のデータ配列方向を示す。又、データ収集の対象
となるチヤネルは、−φ7,−φ6,…,φ0(チヤネル
アレイの中央に位置するチヤネル)、…,φ7,φ8
の16個である。尚、連続X線方式の場合、データ
収集があるビユーから隣のビユーに移行すると
き、第5図における各特性は、図の縦軸方向で連
続的に移動すると考えればよい。
の順序の説明図である(第5図は、第4図と同じ
定義の下で描かれている)。第5図において、ビ
ユー番号A1,A2,A3,…は、データ収集の対象
となつているビユー(所望のビユー)のデータ配
列方向を示し、ビユー番号X1,X2,X3,…は、
上記の所望のビユーに対向する位置にあるビユー
のデータ配列方向を示す。又、データ収集の対象
となるチヤネルは、−φ7,−φ6,…,φ0(チヤネル
アレイの中央に位置するチヤネル)、…,φ7,φ8
の16個である。尚、連続X線方式の場合、データ
収集があるビユーから隣のビユーに移行すると
き、第5図における各特性は、図の縦軸方向で連
続的に移動すると考えればよい。
今、X線管が、ビユーポイント…、X5,X4,
X3,X2,X1,…を順次通るものとし、X線管
が、あるビユーから隣のビユーに移動する間に、
データ収集は、先の結論から導かれるタイミング
t1,t2,t3及びt4で(データ収集の対象となるチ
ヤネルが、所望のビユー番号に対応するビユーポ
イントとX線管とを結ぶ線と一致するタイミン
グ)、下記のグループに分けられるチヤネルグル
ープ毎に行われるものとする。
X3,X2,X1,…を順次通るものとし、X線管
が、あるビユーから隣のビユーに移動する間に、
データ収集は、先の結論から導かれるタイミング
t1,t2,t3及びt4で(データ収集の対象となるチ
ヤネルが、所望のビユー番号に対応するビユーポ
イントとX線管とを結ぶ線と一致するタイミン
グ)、下記のグループに分けられるチヤネルグル
ープ毎に行われるものとする。
時刻t1…−φ7,−φ3,φ1,φ5
時刻t2…−φ6,−φ2,φ2,φ6
時刻t3…−φ5,−φ1,φ3,φ7
時刻t4…−φ4, φ0,φ4,φ8
従つて、例えばX線管が、ビユーポイントX4
からX3へ移動中、上記タイミングによつて各チ
ヤネル−φ7乃至φ8に取込まれるデータは、以下
に示すように、ビユー番号A2,A3等のデータの
一部となる。
からX3へ移動中、上記タイミングによつて各チ
ヤネル−φ7乃至φ8に取込まれるデータは、以下
に示すように、ビユー番号A2,A3等のデータの
一部となる。
● 時刻t1で取込まれる各チヤネルのデータ
−φ7→ビユー番号A2のデータn27
−φ3→ビユー番号A3のデータn33
φ1→ビユー番号A4のデータp41
φ5→ビユー番号A5のデータp55
● 時刻t2で取込まれる各チヤネルのデータ
−φ6→ビユー番号A2のデータn26
−φ2→ビユー番号A3のデータn32
φ2→ビユー番号A4のデータp42
φ6→ビユー番号A5のデータp56
● 時刻t3で取込まれる各チヤネルのデータ
−φ5→ビユー番号A2のデータn25
−φ1→ビユー番号A3のデータn31
φ3→ビユー番号A4のデータp43
φ7→ビユー番号A5のデータp57
● 時刻t4で取込まれる各チヤネルのデータ
−φ4→ビユー番号A1のデータn14
−φ0→ビユー番号A2のデータc20
φ4→ビユー番号A3のデータp34
φ8→ビユー番号A4のデータp48
タイミングt1,t2,t3及びt4によるデータの取
込み動作は、X線管が上記以外(X4→X3以外)
のビユーポイント間を移動しているときにおいて
も、上記と同様に行われる。
込み動作は、X線管が上記以外(X4→X3以外)
のビユーポイント間を移動しているときにおいて
も、上記と同様に行われる。
従つて、X線管がビユーポイントX5→X1移動
中、例えばビユー番号A3のデータが収集される
チヤネルについて注目してみると、対象となるチ
ヤネルは、各ビユーポイント間毎に以下のように
変る。
中、例えばビユー番号A3のデータが収集される
チヤネルについて注目してみると、対象となるチ
ヤネルは、各ビユーポイント間毎に以下のように
変る。
X5→X4のとき、チヤネル−φ7乃至−φ4
X4→X3のとき、チヤネル−φ3乃至φ0
X3→X2のとき、チヤネル φ1乃至φ4
X2→X1のとき、チヤネル φ5乃至φ8
第6図は、上記のデータ収集対象チヤネルの切
換え(チヤネルのデータ取込み順序)を図示した
ものである。図から明らかなように、ビユー番号
A3のデータ収集は、チヤネル−φ7,−φ3,φ1,
…,φ0,φ4,φ8の順序で行われる。
換え(チヤネルのデータ取込み順序)を図示した
ものである。図から明らかなように、ビユー番号
A3のデータ収集は、チヤネル−φ7,−φ3,φ1,
…,φ0,φ4,φ8の順序で行われる。
ビユー番号A3以外のビユー番号においても、
X線管の移動区間と対象チヤネルの対応が上記の
例と異なずだけで、データ取込みチヤネルの順序
は、第6図のようになる。例えばビユー番号A2
のデータ収集の場合、対象となるチヤネルは、各
ビユーポイント間毎に、 X4→X3のとき、チヤネル−φ7乃至−φ4 X3→X2のとき、チヤネル−φ3乃至 φ0 X2→X1のとき、チヤネル φ1乃至 φ4 X1→X0のとき、チヤネル φ5乃至 φ8 となるが、前記タイミングt1,t2,t3及びt4に従
つてデータが取込まれるチヤネルの順序は、やは
り第6図のようになる。
X線管の移動区間と対象チヤネルの対応が上記の
例と異なずだけで、データ取込みチヤネルの順序
は、第6図のようになる。例えばビユー番号A2
のデータ収集の場合、対象となるチヤネルは、各
ビユーポイント間毎に、 X4→X3のとき、チヤネル−φ7乃至−φ4 X3→X2のとき、チヤネル−φ3乃至 φ0 X2→X1のとき、チヤネル φ1乃至 φ4 X1→X0のとき、チヤネル φ5乃至 φ8 となるが、前記タイミングt1,t2,t3及びt4に従
つてデータが取込まれるチヤネルの順序は、やは
り第6図のようになる。
第7図は、本発明が実施されるデータ収集ユニ
ツトの構成図である。図において、検出器2の各
チヤネルには、信号積分用コンデンサC1,C2,
…,Coが接続されている。チヤネル群は、検出
器の一方の端から他方の端に向けて所定の個数づ
つのグループに分けられている。各コンデンサ
は、リセツトスイツチrst及び入力選択スイツチ
mpxからなるマルチプレクサM1,M2,…,Mo
に個々に接続される。マルチプレクサで選択され
るコンデンサの積分信号は、グループ毎に設けら
れるプリアンプA1,A2,…,Ak及びA/D変換
器X1,X2,…,Xkからなる回路を介してデータ
コントローラDCに与えられた所定の処理の後、
コンピユータ(図示せず)への入力となる。マル
チプレクサM1,M2,…,Mo、A/D変換器X1,
X2,…,Xk及びデータコントローラDCはタイミ
ングコントローラTCからのタイミング信号によ
つて制御される。
ツトの構成図である。図において、検出器2の各
チヤネルには、信号積分用コンデンサC1,C2,
…,Coが接続されている。チヤネル群は、検出
器の一方の端から他方の端に向けて所定の個数づ
つのグループに分けられている。各コンデンサ
は、リセツトスイツチrst及び入力選択スイツチ
mpxからなるマルチプレクサM1,M2,…,Mo
に個々に接続される。マルチプレクサで選択され
るコンデンサの積分信号は、グループ毎に設けら
れるプリアンプA1,A2,…,Ak及びA/D変換
器X1,X2,…,Xkからなる回路を介してデータ
コントローラDCに与えられた所定の処理の後、
コンピユータ(図示せず)への入力となる。マル
チプレクサM1,M2,…,Mo、A/D変換器X1,
X2,…,Xk及びデータコントローラDCはタイミ
ングコントローラTCからのタイミング信号によ
つて制御される。
以上の構成において、マルチプレクサM1,
M2,…,Moは、タイミングコントローラTCが
出力するタイミング信号、即ち、第5図及び第6
図を参照して説明したタイミング信号で選択駆動
される。選択されたマルチプレクサの入力選択ス
イツチmpx及びリセツトスイツチrstは、第8図
に示すタイムチヤートによつて切換えられ、これ
に基づくコンデンサの積分動作も、同図に示すよ
うになる。第8図において、タイムチヤート1及
び2は、切換えが時系列的に隣合うマルチプレク
サの動作を表す。一方、タイミングコントローラ
TCのタイミング信号によつて、選択されたマル
チプレクサに接続されているA/D変換器が駆動
され、マルチプレクサを介して得られる信号積分
用コンデンサの積分電圧がデイジタル信号に変換
されコンピユータに取込まれる。これにより、先
の原理のところで詳しく説明したように、時間遅
れない所望のビユー番号のデータを収集すること
ができる。
M2,…,Moは、タイミングコントローラTCが
出力するタイミング信号、即ち、第5図及び第6
図を参照して説明したタイミング信号で選択駆動
される。選択されたマルチプレクサの入力選択ス
イツチmpx及びリセツトスイツチrstは、第8図
に示すタイムチヤートによつて切換えられ、これ
に基づくコンデンサの積分動作も、同図に示すよ
うになる。第8図において、タイムチヤート1及
び2は、切換えが時系列的に隣合うマルチプレク
サの動作を表す。一方、タイミングコントローラ
TCのタイミング信号によつて、選択されたマル
チプレクサに接続されているA/D変換器が駆動
され、マルチプレクサを介して得られる信号積分
用コンデンサの積分電圧がデイジタル信号に変換
されコンピユータに取込まれる。これにより、先
の原理のところで詳しく説明したように、時間遅
れない所望のビユー番号のデータを収集すること
ができる。
(発明の効果)
以上のとおり、本発明のデータ収集装置によれ
ば、所望のビユー番号のデータを収集するとき、
X線管の回転軌跡上に想定した所望のビユー番号
に対応するビユーポイントとフアンの円弧上を移
動するX線管を結ぶ線上を通過するチヤネルのデ
ータを、該チヤネルが前記線に一致するタイミン
グで取込む取込むことにより、所望のビユー番号
のデータを求めるようにしているため、連続X線
方式CT装置において、データ収集時間の遅れに
よるアーテイフアクトが発生しない。
ば、所望のビユー番号のデータを収集するとき、
X線管の回転軌跡上に想定した所望のビユー番号
に対応するビユーポイントとフアンの円弧上を移
動するX線管を結ぶ線上を通過するチヤネルのデ
ータを、該チヤネルが前記線に一致するタイミン
グで取込む取込むことにより、所望のビユー番号
のデータを求めるようにしているため、連続X線
方式CT装置において、データ収集時間の遅れに
よるアーテイフアクトが発生しない。
第1図は、本発明の原理説明図、第2図イ及び
ロは、X線源と検出器との幾何学的関係図であつ
て、元の位置のビユーとこれに対向する位置の対
向ビユーとの関係説明図、第3図及び第4図は、
第2図イ及びロにおいて収集されるデータの分布
図、第5図及び第6図は、本発明の一実施例にお
けるチヤネルのデータ収集順序の説明図、第7図
は、本発明が実施されるデータ収集ユニツトの構
成図、第8図は、データ収集ユニツトの動作図、
第9図は、X線断層撮影装置の要部を示す構成
図、第10図は、パルスX線方式における動作の
説明図、第11図は、連続X線方式における動作
の説明図である。 1及び1A乃至1F…X線管、2及び2A乃至
2F…検出器、3…撮影領域、4…被検体、5…
フアンビーム、5a1乃至5a5,5b5,5c4,5d3,
5e2及び5f1…ビーム、6…データ収集ユニツト、
M1〜Mo…マルチプレクサ、rpx…入力選択スイ
ツチ、rst…リセツトスイツチ、A1〜Ak…増幅
器、X1〜Xo…A●D変換器、DC…データコント
ローラ、TC…タイミングコントローラ。
ロは、X線源と検出器との幾何学的関係図であつ
て、元の位置のビユーとこれに対向する位置の対
向ビユーとの関係説明図、第3図及び第4図は、
第2図イ及びロにおいて収集されるデータの分布
図、第5図及び第6図は、本発明の一実施例にお
けるチヤネルのデータ収集順序の説明図、第7図
は、本発明が実施されるデータ収集ユニツトの構
成図、第8図は、データ収集ユニツトの動作図、
第9図は、X線断層撮影装置の要部を示す構成
図、第10図は、パルスX線方式における動作の
説明図、第11図は、連続X線方式における動作
の説明図である。 1及び1A乃至1F…X線管、2及び2A乃至
2F…検出器、3…撮影領域、4…被検体、5…
フアンビーム、5a1乃至5a5,5b5,5c4,5d3,
5e2及び5f1…ビーム、6…データ収集ユニツト、
M1〜Mo…マルチプレクサ、rpx…入力選択スイ
ツチ、rst…リセツトスイツチ、A1〜Ak…増幅
器、X1〜Xo…A●D変換器、DC…データコント
ローラ、TC…タイミングコントローラ。
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 1 被検体を挟んで設置されるフアン状の連続X
線を投射するX線管と多チヤネルX線検出器を一
体的に回転させながら、タイミングコントローラ
からのタイミング信号によつて投影データを収集
するX線断層撮影装置におけるデータ収集装置に
おいて、 前記タイミングコントローラは、前記X線管の
回転軌跡上に等間隔のビユーポイントを想定し、
各ビユーポイント毎にデータの収集タイミングを
制御する信号であつて、収集の対象となるビユー
ポイントと該収集対象のビユーポイントに対向す
る位置にあるX線管を結ぶ線上に通過するチヤネ
ルのデータを、該チヤネルが前記線に一致するタ
イミングで取り込み、前記収集対象のビユーポイ
ントのデータとして次段に送出するタイミング信
号を発生する構成をなしていることを特徴とする
X線断層撮影装置におけるデータ収集装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP61146677A JPS633841A (ja) | 1986-06-23 | 1986-06-23 | X線断層撮影装置におけるデータ収集装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP61146677A JPS633841A (ja) | 1986-06-23 | 1986-06-23 | X線断層撮影装置におけるデータ収集装置 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS633841A JPS633841A (ja) | 1988-01-08 |
| JPH0472542B2 true JPH0472542B2 (ja) | 1992-11-18 |
Family
ID=15413100
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP61146677A Granted JPS633841A (ja) | 1986-06-23 | 1986-06-23 | X線断層撮影装置におけるデータ収集装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS633841A (ja) |
-
1986
- 1986-06-23 JP JP61146677A patent/JPS633841A/ja active Granted
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPS633841A (ja) | 1988-01-08 |
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