JPH0473220B2 - - Google Patents

Description

【発明の詳細な説明】 産業上の利用分野 本発明は、ユーザーが信号を光学的に記録する
ことができるようにされた光学デイスクに、信号
により変調された光ビームを照射することによつ
て信号を記録する光学デイスク記録装置に関す
る。

従来の技術 いわゆるDRAWデイスクと称されるデイスク
のように、ユーザーが信号を光学的に記録するこ
とができる光学デイスクが提案されているが、こ
のようなデイスクでは、一般に、その記録面に予
め螺旋状のトラツクを画定する案内溝が設けら
れ、このデイスクに信号を記録する光学デイスク
記録装置では、デイスクが回転させられるととも
に、デイスクの半径方向に動かされる光学ヘツド
によつて記録すべき信号により変調された光ビー
ムがデイスクに照射されることにより、デイスク
に信号が記録され、その際、デイスクの予め形成
されたトラツクに信号が記録されるように、デイ
スクに照射される光ビームのデイスク上のスポツ
トのトラツクに対する位置のずれが検出され、そ
の検出信号であるトラツキングエラー信号にもと
ずいて、光学ヘツドを構成する対物レンズなどの
光学的手段または光学ヘツド全体が駆動されてデ
イスクに入射する光ビームのデイスクへの入射位
置がトラツクを横切る方向に動かされ、デイスク
に入射する光ビームがトラツク上を走査するよう
に制御するトラツキングサーボコントロールが行
われる。

ところで、デイスクに傷などの欠陥部があつて
デイスクに入射する光ビームがその欠陥部を走査
するときや、記録装置ないしデイスクに外部から
衝撃が加えられたときは、トラツキングが乱れて
光ビームのデイスクへの入射位置がトラツクを横
切る方向に大きく動かされ、光ビームのデイスク
への入射位置がすでに信号が記録された部分に戻
されて、その部分に対する信号記録動作により、
すでに記録された信号の内容が損壊されてしまう
おそれがある。

そこで、デイスクに信号を記録するときのトラ
ツキングエラー信号が一定の正の検出レベルより
高くなるか否か及び一定の負の検出レベルより低
くなるか否かを検出することにより、トラツキン
グが乱れて光ビームのデイスクへの入射位置がト
ラツクを横切る方向に大きく動かされるのを事前
に検知し、トラツキングエラー信号が一定の正の
検出レベルより高くなるとき及び一定の負の検出
レベルより低くなるとき、デイスクへの信号の記
録を阻止することが考えられている。

発明が解決しようとする問題点 しかし、トラツキングエラー信号の大きさは信
号を記録しようとするデイスクによつて例えば
6dBの範囲でばらつき、その正及び負のピーク値
はデイスクによつて例えば±1.0Vから±0.5Vの
範囲で変化する。そのため、上記のようにトラツ
キングの乱れの検出レベルがデイスクのいかんに
かかわらず一定であると、デイスクのいかんにか
かわらずトラツキングの乱れを正確に検知するこ
とができず、場合に応じて以下のような不都合を
生じる。即ち、トラツキングエラー信号が最小に
なるデイスクを基準にして、その正及び負のピー
ク値±0.5Vの80％の±0.4Vをトラツキングエラ
ーの乱れの検出レベルに設定するときは、トラツ
キングエラー信号が最大になるデイスクに信号を
記録する場合には、トラツキングの乱れの検出レ
ベルがトラツキングエラー信号の正及び負のピー
ク値±1.0Vの40％にしかならず、実用上問題に
ならない程度のトラツキングの乱れまで検出され
てしまつて、デイスクの記録容量の低下をもたら
す。逆に、トラツキングエラー信号が最大になる
デイスクを基準にして、その正及び負のピーク値
±1.0Vの80％の±0.8Vをトラツキングの乱れの
検出レベルに設定するときは、トラツキングエラ
ー信号が最小になるデイスクに信号を記録する場
合には、トラツキングの乱れの検出レベルがトラ
ツキングエラー信号の正及び負のピーク値±
0.5Vの160％にもなり、問題になるトラツキング
の乱れが検出されなくなつて、前述のようにすで
に記録された信号の内容が損壊されてしまうおそ
れがある。

本発明は、かかる点に鑑み、信号を記録しよう
とするデイスクのいかんにかかわらずトラツキン
グの乱れが正確に検出されて、デイスクの記録容
量の低下をもたらすことなく、すでに記録された
信号の内容が損壊されてしまうのを回避するよう
にしたものである。

問題点を解決するための手段 本発明では、信号を記録しようとするデイスク
に入射する光ビームのデイスクへの入射位置をト
ラツクを横切る方向に１トラツク分以上にわたつ
て動かしたときのトラツキングエラー信号から、
その正及び負のピーク値に応じて段階的に変えら
れる第１及び第２のスレツシヨールド電圧を得る
第１及び第２の電圧発生部を設け、この第１及び
第２の電圧発生部を、夫々、トラツキングエラー
信号を順次段階的に異なる基準電圧と比較する複
数の電圧比較回路と、各々の電圧比較回路の出力
を保持する複数の保持回路と、各々の保持回路の
出力を加算して出力のスレツシヨールド電圧を得
る加算回路とから構成し、この第１及び第２の電
圧発生部から得られる第１及び第２のスレツシヨ
ールド電圧を前述のトラツキングの乱れの検出レ
ベルとする。

作 用 これによれば、トラツキングエラー信号の大き
さがその正及び負のピーク値が±1.0Vから±
0.5Vの範囲で変化するように信号を記録しよう
とするデイスクによつて6dBの範囲でばらつくと
すると、トラツキングエラー信号が最大になるデ
イスクに信号を記録する場合にはトラツキングの
乱れの検出レベルがトラツキングエラー信号の正
及び負のピーク値±1.0Vの例えば65％の±0.65V
になり、トラツキングエラー信号が最小になるデ
イスクに信号を記録する場合にはトラツキングの
乱れの検出レベルがトラツキングエラー信号の正
及び負のピーク値±0.5Vの例えば78％の±0.39V
になる、というように、トラツキングの乱れの検
出レベルが信号を記録しようとするデイスクのト
ラツキングエラー信号の大きさに応じた、その正
及び負のピーク値の60〜80％程度のものになり、
信号を記録しようとするデイスクのいかんにかか
わらずトラツキングの乱れが正確に検出されるよ
うになる。

実施例 第１図は本発明の光学デイスク記録装置の一例
で、デイスク１０は前述のように予め形成された
螺旋状のトラツクに信号により変調された光ビー
ムを照射することによつて、信号を記録すること
ができる光学デイスクで、このデイスク１０に対
向して光学ヘツド２０がデイスク１０の半径方向
に動きうるように配されている。光学ヘツド２０
は、内蔵するレーザ光源２１からの光ビームをデ
イスク１０に入射させ、デイスク１０で反射され
た光ビームを内蔵する感光部で受けて、その光量
に応じた電気信号を発生する。この光学ヘツド２
０の感光部の出力信号は信号形成回路３１に供給
され、信号形成回路３１からトラツキングエラー
信号TEとデイスク１０のトラツクに記録された
信号の再生出力RFが得られる。

この信号形成回路３１から得られるトラツキン
グエラー信号TEは位相補償回路３２を通じてス
イツチ３３の端子Ｓに供給され、スイツチ３３が
端子Ｓ側に切換えられるときは、スイツチ３３を
通じて駆動増幅回路３４に供給され、駆動増幅回
路３４からトラツキングエラー信号TEにもとず
く駆動信号がトラツキング駆動コイル３５に供給
されて、光学ヘツド２０に内蔵された対物レンズ
などの光学的手段または光学ヘツド２０全体をデ
イスク１０に入射する光ビームのデイスク１０へ
の入射位置がトラツクを横切る方向に動かされる
ように駆動して、デイスク１０に入射する光ビー
ムがトラツク上を走査するように制御する、トラ
ツキングサーボコントロールが行われる。

デイスク１０への信号の記録に先立つてシステ
ムコントロール回路４０からスイツチ３３の切換
制御端子に供給される切換制御信号TRが第２図
の最上段に示すように一定期間にわたつて高レベ
ルにされ、この期間において、スイツチ３３が端
子Ｔ側に切換えられて、上述のトラツキングサー
ボコントロールが行われず、デイスク１０に入射
する光ビームのデイスク１０への入射位置がトラ
ツクを横切る方向に一定範囲を超えて動きうる状
態にされる。この期間において、システムコント
ロール回路４０から光学ヘツド２０のレーザ光源
２１の動作モードを制御する動作モード制御回路
３６に供給される動作モード設定信号CSが第１
の状態にされて、動作モード制御回路３６がレー
ザ光源２１から一定量の光ビームを発射させる状
態にされ、デイスク１０に一定量の光ビームが入
射する。この期間において、システムコントロー
ル回路４０からスイツチ３３の端子Ｔにトラツク
ジヤンプ信号TJが供給され、スイツチ３３が端
子Ｔ側に切換えられることにより、このトラツク
ジヤンプ信号TJがスイツチ３３を通じて駆動増
幅回路３４に供給され、駆動増幅回路３４からト
ラツキング駆動コイル３５にトラツクジヤンプ信
号TJにもとずく駆動信号が供給されて、デイス
ク１０に入射する一定量の光ビームのデイスク１
０への入射位置がトラツクを横切る方向に１トラ
ツク分動かされる。従つて、この切換制御信号
TRが高レベルになる期間において信号形成回路
３１から得られるトラツキングエラー信号TEは、
第２図においてトラツキングエラー信号TEJとし
て示すように正弦波状に変化するものとなる。

ここで、トラツキングエラー信号TEJの大きさ
は信号を記録しようとするデイスク１０によつて
例えば6dBの範囲でばらつき、その正及び負のピ
ーク値はデイスク１０によつて例えばトラツキン
グエラー信号TEJが第２図の実線で示す最大のと
きの±1.0Vからトラツキングエラー信号TEJが
第２図の破線で示す最小のときの±0.5Vの範囲
で変化する。

このトラツキングエラー信号TEJが第１及び第
２の電圧発生部６０及び７０に供給されて、第１
及び第２の電圧発生部６０及び７０から、トラツ
キングエラー信号TEJにもとずいて、その正及び
負のピーク値に応じて段階的に変えられる第１及
び第２のスレツシヨールド電圧V1及びV2が得ら
れる。この例は、トラツキングエラー信号TEJの
正及び負のピーク値に応じて第１及び第２のスレ
ツシヨールド電圧V1及びV2が５段階に変えられ
るようにされた場合である。

即ち、トラツキングエラー信号TEJの正のピー
ク値に応じた第１のスレツシヨールド電圧V1を
得る第１の電圧発生部６０について説明すると、
トラツキングエラー信号TEJの供給される入力端
子と−1.0Vの電圧が得られる端子との間に容量
C1と抵抗R1が直列に接続されて、容量C1と抵抗
R1の接続点に第２図に示すように中心電位が−
1.0Vにシフトされて正のピーク値が1.0Vから0V
の範囲で変化するトラツキングエラー信号TEX
が得られ、このトラツキングエラー信号TEXが
４個の電圧比較回路８８，８６，８４，８２に
夫々の比較入力として供給される。また、＋1.0V
の電圧が得られる端子と接地点との間に互いに等
しい値の５個の抵抗R10，R08，R06，R04，R02
が直列に接続されて、抵抗R10及びR08，R08及
びR06，R06及びR04，R04及びR02の接続点に
0.8V，0.6V，0.4V，0.2Vの電圧が得られ、この
0.8V，0.6V，0.4V，0.2Vの電圧が電圧比較回路
８８，８６，８４，８２に夫々の基準電圧として
供給される。電圧比較回路８８，８６，８４，８
２は、夫々、比較入力としてのトラツキングエラ
ー信号TEXが基準電圧より高いときは出力が高
レベルになり、トラツキングエラー信号TEXが
基準電圧以下のときは出力が低レベルになる。

この電圧比較回路８８，８６，８４，８２の出
力C8，C6，C4，C2は保持回路を構成するRSフ
リツプフロツプ９８，９６，９４，９２のセツト
端子Ｓに夫々供給されて、出力C8，C6，C4，C2
が低レベルから高レベルに立ち上がることによ
り、RSフリツプフロツプ９８，９６，９４，９
２がセツトされて、その出力Q8，Q6，Q4，Q2
が高レベルにされる。なお、システムコントロー
ル回路４０からRSフリツプフロツプ９８，９６，
９４，９２のリセツト端子Ｒに前述の切換制御信
号TRが夫々供給されて、予め切換制御信号TR
の立ち上がりの時点で、RSフリツプフロツプ９
８，９６，９４，９２が夫々リセツトされて、そ
の出力Q8，Q6，Q4，Q2が夫々低レベルにされ
る。

このRSフリツプフロツプ９８，９６，９４，
９２の出力Q8，Q6，Q4，Q2が加算されること
により、出力のスレツシヨールド電圧V1が得ら
れる。加算回路は、例えば、RSフリツプフロツ
プ９８，９６，９４，９２の出力端子が抵抗R8，
R6，R4，R2を夫々介して演算増幅回路８３の反
転入力端子に接続され、演算増幅回路８３の出力
端子と反転入力端子との間に抵抗R3が接続され、
演算算増幅回路８３の出力端子が抵抗R5を介し
て演算増幅回路８７の反転入力端子に接続され、
演算増幅回路８７の出力端子と反転入力端子との
間に抵抗R7が接続され、演算増幅回路８７の非
反転入力端子にバイアス電圧VBが供給されて、
構成される。一例として、RSフリツプフロツプ
９８，９６，９４，９２の出力Q8，Q6，Q4，
Q2の高レベルの電圧が12V、抵抗R8，R6，R4，
R2が470kΩ、抵抗R3が5.1kΩ、抵抗R5，R7が
1kΩ、バイアス電圧VBが0.39Vに選定される。

以上によると、トラツキングエラー信号TEJの
正のピーク値が0.9Vより高く1.0V以下で、トラ
ツキングエラー信号TEXの正のピーク値が0.8V
より高く1.0V以下のときは、電圧比較回路８８，
８６，８４，８２の出力C8，C6，C4，C2がすべ
て第２図に示すように切換制御信号TRの高レベ
ルの期間の一部の期間で高レベルになり、RSフ
リツプフロツプ９８，９６，９４，９２の出力
Q8，Q6，Q4，Q2がすべて第２図に示すように
切換制御信号TRの高レベルの期間内の時点以降
において高レベルになり、演算増幅回路８３の出
力電圧VAが第２図に示すようになつて、演算増
幅回路８７の出力電圧である第１のスレツシヨー
ルド電圧V1は第２図及び第３図に示すように
0.65Vになる。トラツキングエラー信号TEJの正
のピーク値が0.8Vより高く0.9V以下で、トラツ
キングエラー信号TEXの正のピーク値が0.6Vよ
り高く0.8V以下のときは、電圧比較回路８６，
８４，８２の出力C6，C4，C2が切換制御信号
TRの高レベルの期間の一部の期間で高レベルに
なり、RSフリツプフロツプ９６，９４，９２の
出力Q6，Q4，Q2が切換制御信号TRの高レベル
の期間内の時点以降において高レベルになり、第
１のスレツシヨールド電圧V1は第３図に示すよ
うに0.585Vになる。トラツキングエラー信号
TEJの正のピーク値が0.7Vより高く0.8V以下で、
トラツキングエラー信号TEXの正のピーク値
0.4Vより高く0.6V以下のときは、電圧比較回路
８４，８２の出力C4，C2が切換制御信号TRの高
レベルの期間の一部の期間で高レベルになり、
RSフリツプフロツプ９４，９２の出力Q4，Q2が
切換制御信号TRの高レベルの期間内の時点以降
において高レベルになり、第１のスレツシヨール
ド電圧V1は第３図に示すように0.52Vになる。ト
ラツキングエラー信号TEJの正のピーク値が
0.6Vより高く0.7V以下で、トラツキングエラー
信号TEXの正のピーク値が0.2Vより高く0.4V以
下のときは、電圧比較回路８２の出力C2のみが
切換制御信号TRの高レベルの期間の一部の期間
で高レベルになり、RSフリツプフロツプ９２の
出力C2のみが切換制御信号TRの高レベルの期間
内の時点以降において高レベルになり、第１のス
レツシヨールド電圧V1は第３図に示すように
0.455Vになる。トラツキングエラー信号TEJの
正のピーク値が0.5V以上0.6V以下で、トラツキ
ングエラー信号TEXの正のピーク値が0V以上
0.2V以下のときは、電圧比較回路８８，８６，
８４，８２の出力C8，C6，C4，C2がすべて低レ
ベルのままになり、RSフリツプフロツプ９８，
９６，９４，９２の出力Q8，Q6，Q4，Q2がす
べて低レベルのままになり、第１のスレツシヨー
ルド電圧V1は第３図に示すよう0.39Vになる。

トラツキングエラー信号TEJの負のピーク値に
応じた第２のスレツシヨールド電圧V2を得る第
２の電圧発生部７０も同様の構成で、第３図に示
すように、トラツキングエラー信号TEJの負のピ
ーク値が−0.9Vより低く−1.0V以上のときは第
２のスレツシヨールド電圧V2は−0.65Vになり、
トラツキングエラー信号TEJの負のピーク値が−
0.8Vより低く−0.9V以上のときは第２のスレツ
シヨールド電圧V2は−0.585Vになり、トラツキ
ングエラー信号TEJの負のピーク値が−0.7Vよ
り低く−0.8V以上のときは第２のスレツシヨー
ルド電圧V2は−0.52Vになり、トラツキングエラ
ー信号TEJの負のピーク値が−0.6Vより低く−
0.7V以上のときは第２のスレツシヨールド電圧
V2は−0.455Vになり、トラツキングエラー信号
TEJの負のピーク値が−0.5V以下−0.6V以上の
ときは第２のスレツシヨールド電圧V2は−0.39V
になる。

第１の電圧発生部６０から得られる第１のスレ
ツシヨールド電圧V1は電圧比較回路５１の負入
力端子に供給される。また、第２の電圧発生部７
０から得られる第２のスレツシヨールド電圧V2
は電圧比較回路５２の正入力端子に供給される。

切換制御信号TRが高レベルから低レベルに反
転すると、システムコントロール回路４０から動
作モード制御回路３６に供給される動作モード設
定信号CSが第２の状態にされて、動作モード制
御回路３６が入力端子３７から供給される記録信
号RSにより変調された光ビームをレーザ光源２
１から発射させる状態にされ、デイスク１０に記
録信号RSにより変調された光ビームが入射する
とともに、スイツチ３３が端子Ｓ側に切換えられ
て、前述のトラツキングサーボコントロールが行
われ、デイスク１０上のトラツクに記録信号RS
が記録される。

この状態において信号形成回路３１から得られ
るトラツキングエラー信号TEを特にトラツキン
グエラー信号TERとすると、システムコントロ
ール回路４０からスイツチ３９の切換制御端子に
切換制御信号TRが供給され、切換制御信号TR
が高レベルから低レベルに反転すると、スイツチ
３９がオフからオンに切換えられて、トラツキン
グエラー信号TERがスイツチ３９を通じて電圧
比較回路５１の正入力端子及び電圧比較回路５２
の負入力端子に夫々供給され、電圧比較回路５１
にいてトラツキングエラー信号TERが第１のス
レツシヨールド電圧V1より高くなるか否かが検
出され、電圧比較回路５２においてトラツキング
エラー信号TERが第２のスレツシヨールド電圧
V2より低くなるか否かが検出される。そして、
電圧比較回路５１及び５２の出力S1及びS2がオ
アゲート５３に供給され、オアゲート５３の出力
S3がRSフリツプフロツプ５４のセツト端子Ｓに
供給され、システムコントロール回路４０から
RSフリツプフロツプ５４のリセツト端子Ｒに停
止制御信号SQが供給され、RSフリツプフロツプ
５４の出力SOが動作モード制御回路３６に供給
される。

トラツキングエラー信号TERが第１のスレツ
シヨールド電圧V1以下で第２のスレツシヨール
ド電圧V2以上のときは、電圧比較回路５１及び
５２の出力S1及びS2はともに低レベルで、オア
ゲート５３の出力S3は低レベルであるが、トラ
ツキングエラー信号TERが第１のスレツシヨー
ルド電圧V1より高くなると電圧比較回路５１の
出力S1が高レベルになり、トラツキングエラー
信号TERが第２のスレツシヨールド電圧V2より
低くなると電圧比較回路５２の出力S2が高レベ
ルになる。従つて、トラツキングエラー信号
TERが第１のスレツシヨールド電圧V1より高く
なるとき及び第２のスレツシヨールド電圧V2よ
り低くなるとき、オアゲート５３の出力S3が高
レベルになり、その立ち上がりによつてRSフリ
ツプフロツプ５４がセツトされてその出力S0が
高レベルになり、これにより動作モード制御回路
３６が例えばレーザ光源２１から光ビームを発射
しない状態にされて、記録信号RSのデイスク１
０への記録が阻止される。このように記録が阻止
された後、停止制御信号SQが低レベルから高レ
ベルに反転すると、その立ち上がりによつてRS
フリツプフロツプ５４がリセツトされてRSフリ
ツプフロツプ５４の出力SOが低レベルに戻り、
これにより動作モード制御回路３６は初期状態に
戻る。

トラツキングエラー信号TERの大きさはデイ
スク１０によつて変化するが、トラツキングの乱
れの検出レベルである第１及び第２のスレツシヨ
ールド電圧V1及びV2も前述のようにデイスク１
０によつて変えられるので、デイスク１０のいか
んにかかわらずトラツキングの乱れが正確に検知
され、即ちデイスク１０のいかんにかかわらずト
ラツキングがサーボがはずれるほど大きく乱れる
ときのみ確実にオアゲート５３の出力S3が高レ
ベルになつて記録信号RSのデイスク１０への記
録が阻止される。第２図の下段のトラツキングエ
ラー信号TERの実線で示すものは、デイスク１
０がトラツキングエラー信号TEJの正のピーク値
が0.9Vより高く負のピーク値が−0.9Vより低く
なるものである場合で、この場合には、電圧比較
回路５１及び５２の出力S1及びS2、オアゲート
５３の出力S3、RSフリツプフロツプ５４の出力
SOを夫々実線で示すように、トラツキングエラ
ー信号TERが0.65Vより高くなるとき及び−
0.65Vより低くなるときに、記録信号RSのデイス
ク１０への記録が阻止される。トラツキングエラ
ー信号TERの破線で示すものは、デイスク１０
がトラツキングエラー信号TEJの正のピーク値が
0.6V以下で負のピーク値が−0.6V以上になるも
のである場合で、この場合には、電圧比較回路５
１及び５２の出力S1及びS2、オアゲート５３の
出力S3、RSフリツプフロツプ５４の出力SOを
夫々破線で示すように、トラツキングエラー信号
TERが0.39Vより高くなるとき及び−0.39Vより
低くなるときに、記録信号RSのデイスク１０へ
の記録が阻止される。

発明の効果 本発明によれば、信号を記録しようとするデイ
スクに入射する光ビームのデイスクへの入射位置
をトラツクを横切る方向に１トラツク分以上にわ
たつて動かしたときのトラツキングエラー信号か
ら、その正及び負のピーク値に応じて段階的に変
えられる第１及び第２のスレツシヨールド電圧を
得、この第１及び第２のスレツシヨールド電圧を
トラツキングの乱れの検出レベルとするので、信
号を記録しようとするデイスクのいかんにかかわ
らず、デイスクに傷などの欠陥部があつてデイス
クに入射する光ビームがその欠陥部を走査すると
きや、記録装置ないしデイスクに外部から衝撃が
加えられたときなど、トラツキングがサーボがは
ずれるほど大きく乱れるときにのみ、確実にデイ
スクへの信号の記録が阻止され、デイスクの記録
容量の低下をもたらすことなく、すでに記録され
た信号の内容が損壊されてしまうのを回避するこ
とができる。

【図面の簡単な説明】

第１図は本発明の光学デイスク記録装置の一例
の構成を示す図、第２図及び第３図はその動作と
第１及び第２のスレツシヨールド電圧の説明のた
めの図である。 図中、１０はデイスク、２０は光学ヘツド、２
１はレーザ光源、３１は信号形成回路、３５はト
ラツキング駆動コイル、３６は動作モード制御回
路、３７は記録信号の入力端子、４０はシステム
コントロール回路、５１及び５２は電圧比較回
路、６０及び７０は第１及び第２の電圧発生部、
８８，８６，８４，８２は電圧比較回路、９８，
９６，９４，９２は保持回路としてのRSフリツ
プフロツプ、８３及び８７は加算回路を構成する
演算増幅回路である。

Claims (1)

【特許請求の範囲】
1. １ 予め形成されたトラツクに信号により変調さ
   れた光ビームを照射することによつて信号を記録
   することができるデイスクに入射する光ビームの
   デイスクへの入射位置をトラツクを横切る方向に
   １トラツク分以上にわたつて動かしたときのトラ
   ツキングエラー信号から、その正及び負のピーク
   値に応じて段階的に変えられる第１及び第２のス
   レツシヨールド電圧を得る第１及び第２の電圧発
   生部と、上記デイスクに信号を記録するときのト
   ラツキングエラー信号が上記第１のスレツシヨー
   ルド電圧より高くなるか否か及び上記第２のスレ
   ツシヨールド電圧より低くなるか否かを検出し
   て、上記第１のスレツシヨールド電圧より高くな
   るとき及び上記第２のスレツシヨールド電圧より
   低くなるとき、上記デイスクへの信号の記録を阻
   止する動作制御部とを備え、上記第１及び第２の
   電圧発生部が、夫々、トラツキングエラー信号を
   順次段階的に異なる基準電圧と比較する複数の電
   圧比較回路と、各々の電圧比較回路の出力を保持
   する複数の保持回路と、各々の保持回路の出力を
   加算して出力のスレツシヨールド電圧を得る加算
   回路とからなる、光学デイスク記録装置。