JPH0473709A - 携帯顕微鏡 - Google Patents

携帯顕微鏡

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JPH0473709A
JPH0473709A JP18688190A JP18688190A JPH0473709A JP H0473709 A JPH0473709 A JP H0473709A JP 18688190 A JP18688190 A JP 18688190A JP 18688190 A JP18688190 A JP 18688190A JP H0473709 A JPH0473709 A JP H0473709A
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Katsuaki Murayama
村山 勝明
Tetsurou Murataya
村田谷 鉄郎
Tomisada Koshimizu
小清水 富定
Nobuhiko Nishimura
宣彦 西村
Fujimitsu Masuyama
不二光 増山
Toshiyuki Imazato
敏幸 今里
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Tohoku Electric Power Co Inc
Mitsubishi Heavy Industries Ltd
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Tohoku Electric Power Co Inc
Mitsubishi Heavy Industries Ltd
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Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 [産業上の利用分野] 本発明は、大型機械部品の供用中検査に使用される携帯
顕微鏡に関する。
[従来の技術] 従来、大型機械部品の供用中検査に使用される携帯顕微
鏡としては、携帯用光学顕微鏡が用いられている。また
、詳細な組織調査のためには調査位置の組織をプラスチ
ック膜に写し取り(レプリカ法)、これを電子顕微鏡に
よって調査する方法が行なわれている。
[発明が解決しようとする課題] 上記携帯用光学顕微鏡は、光源として可視光を用いてい
るので、その分解能に制限があり、該機械部品の金属組
織や微視的に亀裂(長さ約100μm)の観察は可能で
あるが、例えば高温で使用される機械部品において微視
的な亀裂が生成される前に発生する微小な空洞(直径数
μm)や析出るで析出物の分布状況を観察することはで
きながった。
また、レプリカ法は、機械部品の調査位置から採取した
レプリカを実験室に持ち帰り、電子顕微鏡等によって調
査するものである。従って、上記携帯光学顕微鏡に比較
して分解能が高い電子顕微鏡を用いることから、上記し
た微小な亀裂等の観察が可能であるが、その場で検査す
ることができず、検査に時間がかかるという問題があっ
た。
本発明は上記実情に鑑みてなされたもので、機械部品の
数μm程度の分解能が必要とされる微小な組織変化をそ
の場で容易に観察でき、機械部品の損傷の初期過程を迅
速に検出して機械の品質管理、供用中の定期検査の精度
を向上し得る携帯顕微鏡を提供することを目的とする。
[課題を解決するための手段] 機械部品の顕微鏡組織を直接観察する携帯顕微鏡におい
て、レーザ光源及び該レーザ光源がらのレーザ光を音響
光学偏光素子及びその後方に配した光学レンズ系によっ
て観察面上に二次元的にかつ収束して走査させるレーザ
光走査機構と、上記走査機構により走査されて観察面か
ら反射したレーザ光のうちレンズ系の後焦点面に配置さ
れた絞りを通過したレーザ光強度のみを測定する反射レ
ーザ光強度11111定機構と、上記測定機構により測
定したレーザ光強度を記憶すると共に上記音響光学偏光
素子の走査速度に同期させて記憶したレーザ光強度に対
応した輝度で画像化する輝度処理手段と、上記観察面と
平行な平面内で上記レーザ光照射系及びレーザ光測定系
を移動させる視野移動機構と、上記各機構を機械部品に
固定する保持機構とを備えたことを特徴とするものであ
る。
[作用] 光源としてレーザ光を用いたことにより、観察面上への
照射光を可視光よりも収束させることが可能であり、従
って、分解能が向上し、従来の携帯顕微鏡では不可能で
あった微細な組織状態を観察することができる。また、
観察面から反射するレーザ光のうち、光学レンズ系の後
焦点面に配置した絞りを通過したレーザ光強度のみで結
像させることにより、観察面からの反射レーザ光のうち
、光学レンズ系の合焦点に位置する観察面からの反射レ
ーザ光の強度のみを測定することができる。
従って、レーザ光照射機構、レーザ光測定機構を上下に
移動させながら各点のレーザ光強度を連続測定し、各点
の積算強度を画像化することによって観察面の法線方向
が携帯顕微鏡の光軸方向と異なっていても鮮明な画像を
得ることができる。
[実施例] 以下、図面を参照して本発明の一実施例を説明する。
第1図は本発明の一実施例に係る携帯顕微鏡の構成図で
ある。同図において、1はレーザ光照射機能及びレーザ
光測定機能を格納したレーザヘッド部である。このレー
ザヘッド部1に格納されるレーザ光照射機能は、He−
Neレーザ源(半導体レーザ光源)2及び音響光学偏光
素子4からなり、レーザ光測定機能は、ハーフミラ−5
、ピンホールを有する絞り6、レーザ光強度検出器8か
らなっている。
上記レーザヘッド部1の側部には、レーザガイド9を介
して全反射ミラ一部10が連結され、この全反射ミラ一
部10に対物レンズ11が上下方向に移動可能に装着さ
れる。焦点調整は、電動モータを内蔵した焦点調整装置
12により上記対物レンズ11を上下動させることによ
って行なわれるが、この操作は図示しない焦点調整遠隔
操作盤を用いて行なわれる。
しかして、上記レーザヘッド部1のHe−Neレーザ源
2からの照射レーザ光3は、音響光学偏光素子4によっ
て2次元的に走査され、ハーフミラ−5及びレーザガイ
ド9を通過して全反射ミラ一部10に入射する。この場
合、上記音響光学偏光素子4による照射レーザ光3の走
査速度及び走査面積は、制御装置14内の電流発振器1
5によって制御される。また、上記制御装置14内には
、測定結果を記憶する記憶装置16が設けられている。
上記全反射ミラ一部10には、全反射ミラー]−〇aが
レーザガイド9に対して45°の角度で配置されており
、レーザガイド9を介して送られてくる照射レーザ光3
を90°下方に屈曲し、対物レンズ11を介して機械部
品の観察対象面13に照射される。この観察対象面13
は、組織観察のために予め研磨、エツチングしたもので
ある。
上記観察対象面13に照射されたレーザ光は、この観察
対象面13で反射されて対物レンズ11を通り、全反射
ミラー10aで90″屈曲され、レーザガイド9を経て
レーザヘッド部1に戻される。このレーザヘッド部1に
戻ってきたレーザ光は、ハーフミラ−5で屈曲され、レ
ンズ系の後焦点面に配置されたピンホールを有する絞り
6により反射レーザ光7が取り出され、レーザ光強度検
出器8によりその強度が検出される。このレーザ光強度
検出器8により検出された反射レーザ光強度は、上記制
御装置14に送られ、一定時間間隔毎に記憶装置16に
記憶される。この記憶装置16に記憶された観察対象面
13がらの反射レーザ光強度は、上記電流発振器15が
らの音響光学偏光素子4の走査信号に同期させてTVモ
ニタ17上に画像表示される。
これら上述したレーザ光照射系及びレーザ光測定系は、
視野移動機構、つまり、電動モータ駆動のXYステージ
18に固定され、このXYステージ18によって観察対
象面13内の観察位置の移動を行なう。また、上記XY
ステージ18は、観察対象面13の法線方向と顕微鏡本
体の光軸とのずれを補正するための傾斜装置19上に載
置固定される。更に、この傾斜装置19は、被検査機械
部品に固定するための固定用治具20に固定される構造
となっている。
次に上記構成の携帯顕微鏡による観察原理について第2
図を参照して説明する。He−Neレーザ源2からのレ
ーザ光は、音響光学偏光素子4によって任意の方向に偏
向されるが、ある方向に偏向されたレーザ光21は全反
射ミラ一部1oによって屈曲され、対物レンズ11によ
り集光されて観察対象面13上に照射される。このとき
観察対象面13が対物レンズ11の焦点距離上にあれば
反射するレーザ光は照射されたレーザ光とほぼ同等の経
路で反射し、ハーフミラ−5によって屈曲され、後焦点
面に配置されたピンホールを有する絞り6を通過してレ
ーザ光強度検出器8に入射し、反射レーザ光の強度が検
出される。ところが観察対象面13上の微小空穴22の
ような形状不連続部に照射されたレーザ光23は、微小
空穴22によって平行面とは異なる方向に反射され、照
射レーザ光23とは異なる経路に沿って反射され、絞り
6によりそのレーザ光は遮光される。このため微小空穴
22からの反射レーザ光は、レーザ光強度検出器8によ
って検出されることはない。従って、焦点面上の平滑な
観察面に照射されたレーザ光強度のみが得られ、観察面
の凸凹数を観察することができる。
次に本発明に係る携帯顕微鏡を用いて大型機械部品の組
織観察試験を行なった結果について説明する。
調査した大型機械は事業用火力発電ボイラであり、高温
耐圧部である高温管寄せ管台部の金属組織調査を上述し
た携帯顕微鏡を用いて行なったものである。
まず、調査対象個所を研磨砥石、研磨紙及びダイヤモン
ド微粒子を用いて研磨し、化学腐食液を用いて通常の顕
微鏡組織観察時と同様の金属組織を現出させた。その後
、携帯顕微鏡の固定用治具20を用いて調査対象部品に
、その調査対象個所の研磨・腐食面が対物レンズ11の
光軸位置になるように固定し、顕微鏡観察を行なった。
上記携帯顕微鏡を用いて観察した調査対象個所の顕微鏡
組織を第3図(微小空洞を示す金属組織の写真)及び第
4図(析出物を示す金属組織の写真)に示す。上記実施
例で示した携帯顕微鏡を使用した結果、第3図に示すよ
うに従来の携帯用光学顕微鏡では観察できなかった数μ
程度の大−きさの空洞が明確に観察された。また、第4
図に示すように従来の携帯用光学顕微鏡では観察できな
かった1μm程度の析出物も観察することができた。
[発明の効果] 以上詳記したように本発明によれば、従来の携借用顕微
鏡では観察できなかった機械部品の数μm程度の分解能
が必要とされる微小な組織変化をその場で容易に観察で
き、機械部品の損傷の初期過程を迅速に検出することが
できる。このため機械の品質管理、供用中の定期検査の
精度を向上でき、機械の安全運転、維持管理技術に寄与
することができる。
【図面の簡単な説明】
第1図は本発明の一実施例に係る携帯顕微鏡の側面図、
第2図は同実施例における観察原理を説明するための図
、第3図及び第4図は同実施例に係る携帯顕微鏡により
観察された微小空洞及び析出物を示す金属組織の写真で
ある。 1・・・レーザヘッド部、2・・・He−Neレーザ源
、3・・・照射レーザ光、4・・・音響光学偏光素子、
5・・・ハーフミラ−6・・・絞り、7・・・反射レー
ザ光、8・・・レーザ光強度検出器、9・・・レーザガ
イド、10・・・全反射ミラ一部、11・・・対物レン
ズ、12・・・焦点調整装置、13・・・観察対象面、
14・・・制御装置、15・・・電流発振器、16・・
・記憶装置、17・・・TVモニタ、18・・・XYス
テージ、19・・・傾斜装置、20・・・固定用治具。

Claims (1)

  1. 【特許請求の範囲】 機械部品の顕微鏡組織を直接観察する携帯顕微鏡におい
    て、 レーザ光源及び該レーザ光源からのレーザ光を音響光学
    偏光素子及びその後方に配した光学レンズ系によって観
    察面上に二次元的にかつ収束して走査させるレーザ光走
    査機構と、上記走査機構により走査されて観察面から反
    射したレーザ光のうちレンズ系の後焦点面に配置された
    絞りを通過したレーザ光強度のみを測定する反射レーザ
    光強度測定機構と、 上記測定機構により測定したレーザ光強度を記憶すると
    共に上記音響光学偏光素子の走査速度に同期させて記憶
    したレーザ光強度に対応した輝度で画像化する輝度処理
    手段と、 上記観察面と平行な平面内で上記レーザ光照射系及びレ
    ーザ光測定系を移動させる視野移動機構と、 上記各機構を機械部品に固定する保持機構とを具備した
    ことを特徴とする携帯顕微鏡。
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Citations (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS60168117A (ja) * 1983-11-14 1985-08-31 ボ−シユ アンド ロ−ム インコ−ポレイテイド 小型携帯用顕微鏡
JPS60156444U (ja) * 1984-03-28 1985-10-18 株式会社東芝 電気鉄板観測装置
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