JPH0473740B2 - - Google Patents
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- JPH0473740B2 JPH0473740B2 JP12630286A JP12630286A JPH0473740B2 JP H0473740 B2 JPH0473740 B2 JP H0473740B2 JP 12630286 A JP12630286 A JP 12630286A JP 12630286 A JP12630286 A JP 12630286A JP H0473740 B2 JPH0473740 B2 JP H0473740B2
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- present
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- Expired
Links
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- 239000007788 liquid Substances 0.000 claims description 7
- 238000005375 photometry Methods 0.000 claims description 2
- 230000003287 optical effect Effects 0.000 description 6
- 238000005259 measurement Methods 0.000 description 5
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Classifications
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N21/00—Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
- G01N21/17—Systems in which incident light is modified in accordance with the properties of the material investigated
- G01N21/47—Scattering, i.e. diffuse reflection
- G01N21/49—Scattering, i.e. diffuse reflection within a body or fluid
- G01N21/51—Scattering, i.e. diffuse reflection within a body or fluid inside a container, e.g. in an ampoule
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N21/00—Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
- G01N21/17—Systems in which incident light is modified in accordance with the properties of the material investigated
- G01N21/47—Scattering, i.e. diffuse reflection
- G01N21/49—Scattering, i.e. diffuse reflection within a body or fluid
- G01N21/51—Scattering, i.e. diffuse reflection within a body or fluid inside a container, e.g. in an ampoule
- G01N2021/513—Cuvettes for scattering measurements
Landscapes
- Physics & Mathematics (AREA)
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- Investigating Or Analysing Materials By Optical Means (AREA)
Description
【発明の詳細な説明】
（産業上の利用分野）
本発明は各種の液内に存在する微粒子の光によ
る散乱光度測定法に関するものである。
る散乱光度測定法に関するものである。
（従来技術と問題点）
従来、散乱光度測定には第４図に示すような横
断面正方形状の角型光学セルを用い、このセル
の中に被測定液を入れて、角型光学セルの軸
線に対し直角方向の側部よりフイルター、スリ
ツトを介して一定光束の平行光を光源より
照射し、被測定液による散乱光を、角型光学セル
の正面から受光部により受光し、増巾部に
て増巾観測するものがある。この角型光学セル
は第５図に示すように入射光の乱反射が生じない
ため正確な測定が可能であるが、４面が光学ガラ
スで各面は蒸着接合されているため、１本当り
5000円と高価なものであり、従来使用されている
測定装置にはこの角型セルが最低10本必要であつ
て、これだけでも相当な価格を占めることになつ
ている。
断面正方形状の角型光学セルを用い、このセル
の中に被測定液を入れて、角型光学セルの軸
線に対し直角方向の側部よりフイルター、スリ
ツトを介して一定光束の平行光を光源より
照射し、被測定液による散乱光を、角型光学セル
の正面から受光部により受光し、増巾部に
て増巾観測するものがある。この角型光学セル
は第５図に示すように入射光の乱反射が生じない
ため正確な測定が可能であるが、４面が光学ガラ
スで各面は蒸着接合されているため、１本当り
5000円と高価なものであり、従来使用されている
測定装置にはこの角型セルが最低10本必要であつ
て、これだけでも相当な価格を占めることになつ
ている。
そこで、本発明者は上記角型光学セルに代え
て、通常の円筒状の試験管（丸型セル）を用いて
散乱光度の測定ができないものかと種々試してみ
たが、試験管を用いて従来の方式と同様に、試験
管の側面から一定光束の平行光を照射し、これ
を正面から観測すると第６図のように試験管の内
面において平行光が乱反射′し、被測定液
のみの散乱光は測定できないものであつた。な
お、この試験管においては透明液の場合でも、試
験管の内面における平行光の乱反射′があるの
で、この乱反射光が受光部に影響を与えると云
う問題があつた。
て、通常の円筒状の試験管（丸型セル）を用いて
散乱光度の測定ができないものかと種々試してみ
たが、試験管を用いて従来の方式と同様に、試験
管の側面から一定光束の平行光を照射し、これ
を正面から観測すると第６図のように試験管の内
面において平行光が乱反射′し、被測定液
のみの散乱光は測定できないものであつた。な
お、この試験管においては透明液の場合でも、試
験管の内面における平行光の乱反射′があるの
で、この乱反射光が受光部に影響を与えると云
う問題があつた。
（問題点を解決するための手段）
本発明は市販の安価な試験管（丸型セル）を用
いて、従来の角型光学セルと同様の受光測定がで
きるようにしたもので、第１〜第３図に示すよう
に一定光束の平行光の入射角を、試験管の軸
線に対し直角より一定角度α偏位させた側面位置
から照射することにより、該平行光の試験管内に
おける反射光′を軸線に対し直角より入射角と
等しく角度分だけ反対側に反らせ、これら入射光
′と反射光′の通過しない部分を正面から測
定するようにしたことを特徴とするものである。
いて、従来の角型光学セルと同様の受光測定がで
きるようにしたもので、第１〜第３図に示すよう
に一定光束の平行光の入射角を、試験管の軸
線に対し直角より一定角度α偏位させた側面位置
から照射することにより、該平行光の試験管内に
おける反射光′を軸線に対し直角より入射角と
等しく角度分だけ反対側に反らせ、これら入射光
′と反射光′の通過しない部分を正面から測
定するようにしたことを特徴とするものである。
〔実施例）
本発明は第１図に示すように丸型セルである試
験管の側部上方の光源から絞りを介して試
験管の軸線に対し直角より一定角度α偏位させて
一定光束の平行光を照射し、この平行光の試験
管内における入射光′と反射光′を横切らない
部分を正面から受光部にて受光し、さらにこ
れを増巾部にて増巾して観測するものである。
すなわち、本発明方法の原理は第３図に示すよう
に試験管の軸線に対し直角より一定角度α偏位
させた側面上方位置から一定光束の平行光を照
射すると、この平行光の試験管内における反射光
′は入射光′の入射角αの２倍角下方へ向けて
反射し、正面からみた場合入射光と反射光のいず
れも通過しない部分（点模様部分）ができる。
本発明はこの部分の正面中心部分′を正面か
ら受光部にて受光し被測定液内の微粒子による
乱反射光を測定するものである。
験管の側部上方の光源から絞りを介して試
験管の軸線に対し直角より一定角度α偏位させて
一定光束の平行光を照射し、この平行光の試験
管内における入射光′と反射光′を横切らない
部分を正面から受光部にて受光し、さらにこ
れを増巾部にて増巾して観測するものである。
すなわち、本発明方法の原理は第３図に示すよう
に試験管の軸線に対し直角より一定角度α偏位
させた側面上方位置から一定光束の平行光を照
射すると、この平行光の試験管内における反射光
′は入射光′の入射角αの２倍角下方へ向けて
反射し、正面からみた場合入射光と反射光のいず
れも通過しない部分（点模様部分）ができる。
本発明はこの部分の正面中心部分′を正面か
ら受光部にて受光し被測定液内の微粒子による
乱反射光を測定するものである。
上記の入射光の角度αはあまり大きければ試験
管内へ入る光が少なくなるし、また、あまり小さ
くても試験管内で乱反射が生じ、これが受光部に
影響を与えるので、約45°程度が望ましいが、特
に限定するものではない。
管内へ入る光が少なくなるし、また、あまり小さ
くても試験管内で乱反射が生じ、これが受光部に
影響を与えるので、約45°程度が望ましいが、特
に限定するものではない。
本発明方法は一例として第２図に示すような形
態において実施される。すなわち、試験管は平
面Ｌ型のセルホルダーの内側隅部に圧接する
ように添わせて立て、セルホルダーの直角状の外
面（側面）の一方に、斜め下方に向けて試験管の
中心に向かう光源を設け、他の外面（正面）の
所定位置（入射光と反射光が横切らない部分′）
に受光部を設けて測定すれば、試験管のセツト
が確実かつ容易で便利である。
態において実施される。すなわち、試験管は平
面Ｌ型のセルホルダーの内側隅部に圧接する
ように添わせて立て、セルホルダーの直角状の外
面（側面）の一方に、斜め下方に向けて試験管の
中心に向かう光源を設け、他の外面（正面）の
所定位置（入射光と反射光が横切らない部分′）
に受光部を設けて測定すれば、試験管のセツト
が確実かつ容易で便利である。
なお、上記セルホルダーの光源と受光部
とは、試験管の直径に応じて適宜な手段にて
各々上下左右にスライドできるようにしておけ
ば、試験管の直径が変つても適応できるものとな
る。
とは、試験管の直径に応じて適宜な手段にて
各々上下左右にスライドできるようにしておけ
ば、試験管の直径が変つても適応できるものとな
る。
（発明の効果）
本発明は上記のように、平行光の入射角を試験
管の軸線と直角とせず、一定角度α上下に傾ける
ことにより試験管内面における反射光を一定の方
向に反らして、平行光内において入射光と反射光
が通過しない部分を確保し、この部分を受光部と
することにより、市販の安価な試験管を用いても
従来の角型セルと同様の測光性能が得られる効果
がある。従つて本発明方法を採用する測定装置は
安価となり産業利用性の高いものである。
管の軸線と直角とせず、一定角度α上下に傾ける
ことにより試験管内面における反射光を一定の方
向に反らして、平行光内において入射光と反射光
が通過しない部分を確保し、この部分を受光部と
することにより、市販の安価な試験管を用いても
従来の角型セルと同様の測光性能が得られる効果
がある。従つて本発明方法を採用する測定装置は
安価となり産業利用性の高いものである。
第１図は本発明による測定形態を概略的に示し
た説明図、第２図は測定装置の一例を概略的に示
す斜視図、第３図は本発明方法の原理を示すもの
でイは平面図、ロは正面図、第４図は従来装置の
概略斜視図、第５図は従来の角型セルによる測定
原理を示すものでイは平面図、ロは正面図、第６
図は従来法において試験管を利用した場合の原理
を示すものでイは平面図、ロは正面図である。 １……試験管、２……平行光、３……反射光、
５……光源、７……受光部。
た説明図、第２図は測定装置の一例を概略的に示
す斜視図、第３図は本発明方法の原理を示すもの
でイは平面図、ロは正面図、第４図は従来装置の
概略斜視図、第５図は従来の角型セルによる測定
原理を示すものでイは平面図、ロは正面図、第６
図は従来法において試験管を利用した場合の原理
を示すものでイは平面図、ロは正面図である。 １……試験管、２……平行光、３……反射光、
５……光源、７……受光部。
Claims (1)
- １ 円筒状試験管に被測定液を入れ、光の入射角
を該試験管の軸線に対し直角より一定角度偏位さ
せた側面位置から一定光束の平行光を、照射し、
該平行光の試験管内における反射光を横切らない
部分を正面から観測するようにした散乱光度測定
法。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP12630286A JPS62282246A (ja) | 1986-05-30 | 1986-05-30 | 散乱光度測定法 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP12630286A JPS62282246A (ja) | 1986-05-30 | 1986-05-30 | 散乱光度測定法 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS62282246A JPS62282246A (ja) | 1987-12-08 |
| JPH0473740B2 true JPH0473740B2 (ja) | 1992-11-24 |
Family
ID=14931835
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP12630286A Granted JPS62282246A (ja) | 1986-05-30 | 1986-05-30 | 散乱光度測定法 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS62282246A (ja) |
Families Citing this family (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| EP2667180A4 (en) * | 2011-01-21 | 2014-06-25 | Hitachi High Tech Corp | Automatic analysis device |
| JP7187874B2 (ja) * | 2018-08-02 | 2022-12-13 | 株式会社島津製作所 | 光散乱検出装置 |
| JP2024171553A (ja) * | 2023-05-30 | 2024-12-12 | 株式会社島津製作所 | 液体注入装置 |
-
1986
- 1986-05-30 JP JP12630286A patent/JPS62282246A/ja active Granted
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPS62282246A (ja) | 1987-12-08 |
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