JPH0474910A - 印刷機の版面上の水膜検出器 - Google Patents

印刷機の版面上の水膜検出器

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JPH0474910A
JPH0474910A JP2187214A JP18721490A JPH0474910A JP H0474910 A JPH0474910 A JP H0474910A JP 2187214 A JP2187214 A JP 2187214A JP 18721490 A JP18721490 A JP 18721490A JP H0474910 A JPH0474910 A JP H0474910A
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下山　誠
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Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 〔産業上の利用分野〕 本発明は、印刷機械製品におけろ水膜検出に関するもの
で、製鉄機械製品等におけろ水膜・油膜の検出にも適用
することができる。
〔従来の技術〕
印刷機械（インキ・水ローラ群及び版・各種胴で構成）
では、版面上の水膜状態で印刷品質が左右される。第６
図は、版面６上の水を検出する水膜センサの構成図であ
る。このような装置において、水膜検出は次のようにし
て行われる。
赤外発光体１５、赤外集光レンズ１６で赤外線を集光し
て、チョッパ１７上の干渉フィルタｎ、２３に透過させ
、参照・水の吸収波長光を交互に選択する。
この光を光導管１８で導き、版面６上の水で光を吸収さ
せた後、透過・反射した光をレシーバレンズ１９、検出
素子加で信号変換する。干渉フィルタｎ。
乙の位置検出２１で、素子加の信号を認識する。信号処
理器９は、信号及び位置検出を取り込み水膜厚に換算処
理する。
〔発明が解決しようとする課題〕
版面上の水膜状態に起因する印刷品質障害としては、 （１）水目：幅方向に１．５ｗ以下の筋目（濃度変化）
が幾つも流れ方向に生じる。
（２）地汚れ：絵柄が無い部分（非画線部）に、広い範
囲で汚れる。
等がある。上記（２）項の水膜計測は、計測面積が大き
く、且つチョッパ速度が低くても汚れの範囲を平均して
測定出来るので、従来の水膜量で計測可能であるうしか
し、上記（１）項の水瑛計測は、計測面積が狭く、且つ
高速チョッパを必要とする。
従って前述の従来技術には次のような問題点がある。
（１）赤外発光体は点光源でないので、光量を下げずに
φ１．５ｗ以下に絞る事が出来ない。
（２）計測面積が小さくなれば高速チョッパξでサンプ
リングする必要がある。しかし従来の機械的チョッパで
は対応できない。
〔課題を解決するための手段〕
（１）　　レーザで計測面積を小さくする。
（２）電気光学効果で高速チョッパξの役割を果たす。
（３）光変調器で側光状態を変えて、版面の粗さと（版
面＋水）の状態を測定して、水膜量にする。
〔作用〕
水目の現象は、版面上の水のノミターンが急変する部分
でインキの転移率が変化する為、印刷物では幅方向に１
５聰以下の筋目（濃度変化）が幾つも流れ方向に生じる
。（１）光源として絞り込みが効くレーザ光、ＬＥＤ光
等を用いることにより、水の、Ｒターン変化を計測でき
る。（２）電気光学効果により電気的に光を切り替える
高速チョッパの採用により、水のパターン変化に遅れな
いようにチョッパ速度を高めることができる。（３）レ
ーザの性質である偏光波（Ｐ波、Ｓ波）と特殊な現象が
生じる角度（ブリュースタ角）を利用する事により、水
膜測定を行うことができる。
〔実施例〕
第１図において、１は直線偏光レーザ、２は横型変調器
、３はコリーメーター　４はｈ波長板、５はブリュース
タ角θ、６は版面、７はレシーバレンズ、８はレーザ検
出素子、９は信号処理器、１０はインキローラＩ、１１
はインキローラ■、１２は水着ローラ、１３は版胴、１
４はゴム胴である。
印刷機械（インキ・水ローラ群１０　、１１　、１２等
及び版・各種胴で構成）では、版面６上の水膜状態で印
刷品質（水目）が左右される。第１図の検出器は版面６
上の水膜パターンを検出するものであり、水膜の検出部
材１〜８は、レーザ投光側と受光側とで構成している。
投光側部材１〜４と受光側部材７゜８とは、投光光線軸
と受光光線軸とが版面６の垂直平面上において、水のブ
リュースタ角５で対向且つ交わる様に設置する。レーザ
投光側の部材は、直線偏光レーザ１でレーザを投光して
、これを横型変調器２に投入し、印可電圧信号で偏光イ
クトル（ｐ−ｓ波）方向をチョツピグさせる。Ｐ−８波
光はコリーメータ３で適当な計測面積の平行光にして、
ｈ波長板４（版面に対するＰ−８波の波面調整）を通過
させて、版面６に当てる。版面上の正反射光（ｐ、ｓ波
）は、受光側の部材であるレシーバレンズ７とレーザ検
出素子８で電圧信号になり、信号処理器９でＰ波・Ｓ波
の電圧信号から計算して、版面上の水膜厚を計測する。
従来の赤外線吸収法は、水が或波長の赤外線を吸収する
性質を利用して、水膜を測定するが、本考案のレーザに
よる水膜検出器は、水のブリュースタ角で生じる現象（
水の界面においてＰ−８偏光波の進行方向が違う）、つ
まり、版面の粗さに付着する水の表面で反射する光（Ｓ
波）と版面の粗さに付着する水の表面でも透過する光（
Ｐ波）の性質を利用して水膜を測定する。
ブリュースタ角におけるＰ波とＳ波の性質を示したのが
第３図、Ｐ波の入射角とエネルギー比率を示したのが第
４図、Ｓ波の入射角とエネルギー比率を示したのが第５
図、検出信号と版面非画線部の水膜厚＝Ｆ（Ｓ波とＰ波
の受光量差）との関係を示したのが第２図である。
ここで、水の表面で透過する光（Ｐ波）は版面の粗さで
乱反射するので、検出光量としては小さい。
一方、水の表面で反射する光（Ｓ波）は氷表面で正反射
するので、検出光量としては大きい。Ｓ波とＰ波の受光
量を差引く理由は、水膜測定部の版面粗さをキャンセル
する為でアル。
（１１レーザ光径は数ミクロンオーダでも絞り込み可能
であり、水膜の計測面積を縮小できる（φ１０で計測を
行った）。
（２）チョッパ速度は、機械的チョッパでは、ＯＨ２〜
１００Ｈ！ｌの範囲であるが、電気光学効果チョツパで
は、ＯＨ２−５Ｑ　ＭＨｚの範囲で使用できる（３０Ｋ
Ｈｚで計測を行った。） 上針（ｌｉ　、　＋２１項より、網点しくル（数十μｍ
）の微細水膜パターンも計測の可能性がある、なお、本
実施例では、レーザ光について説明したが、使用する光
としてはレーザ光に限定するものではなく、ＬＥＤ光等
含まれる波長帯域の狭い光であれば、適用することがで
きる。
〔発明の効果〕
本発明による印刷機の版面上の水膜検出器は、レーザ光
、ＬＥＤ光等の狭帯域光発生装置と、同光発生装置から
発生した光をＰ波とＳ波にチョッピングする変調器と、
同変調器でチョッピングされた光を所定計測面積の平行
光にするコリメータと、前記平行光の波面を調整する波
長板と、版面からの正反射光を受光し、版面上の水膜厚
を演算する装置とを設けたことにより、次の効果がある
。
（１）水膜の計測面積を縮小でき、計測中を水目の中以
下とすることができる。
（２）チョッパを高速化し、水膜のパターン変化に追従
できる。
（３）上記ｍ　、　（２＋の結果、水膜の一ξターン変
化の計測が可能である。
【図面の簡単な説明】
第１図は本発明の実施例に係る印刷機の版面上の水膜検
出器の構成図、第２図は第１図の水膜検出器で版面の非
画線部を検量した特性図、第３図はＰ−８偏光波の性質
をモデル的に示した図、第４図はＰ偏光波の入射角と反
射エネルギーの関係図、第５図はＳ偏光波の入射角と反
射エネルギーの関係図、第６図は従来の版面水膜センサ
を示す構成図である。 １・・・直線偏光レーザ　　　２　横型変調器３・・コ
リーメーター　　　４・・隅波長板５・・ブリュースタ
角θ　　６・−版面７・・レシーバレンズ　　　８・・
シー４検出素子９・・信号処理器 代理人　弁理士　岡　本　重　文 外１名 第１図 第３回 第４圀 第２図 キ紺１ｄ言号と片凋市非龜祿部のホ講駆の厚さ第５圀 朋ｉ詐画ａ部の東膜履 ｍ 入評４馬θ

Claims (1)

    【特許請求の範囲】
  1. レーザ光、ＬＥＤ光等の狭帯域光発生装置と、同光発生
    装置から発生した光をＰ波とＳ波にチョッピングする変
    調器と、同変調器でチョッピングされた光を所定計測面
    積の平行光にするコリメータと、前記平行光の波面を調
    整する波長板と、版面からの正反射光を受光し、版面上
    の水膜厚を演算する装置とを設けたことを特徴とする印
    刷機の版面上の水膜検出器。
JP2187214A 1990-07-17 1990-07-17 印刷機の版面上の水膜検出器 Expired - Lifetime JP2691056B2 (ja)

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