JPH0474974A - 高電圧機器の絶縁診断方式 - Google Patents
高電圧機器の絶縁診断方式Info
- Publication number
- JPH0474974A JPH0474974A JP18763090A JP18763090A JPH0474974A JP H0474974 A JPH0474974 A JP H0474974A JP 18763090 A JP18763090 A JP 18763090A JP 18763090 A JP18763090 A JP 18763090A JP H0474974 A JPH0474974 A JP H0474974A
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- JP
- Japan
- Prior art keywords
- partial discharge
- insulation
- charge
- discharge pulses
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- Pending
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Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
Ａ、産業上の利用分野
本発明は、電気機器に発生する部分放電を計測・解析し
、機器の絶縁状態を評価する高電圧機器の絶縁診断方式
に関し、特に、絶縁劣化の状態を適確に表現する診断方
式に関する。
、機器の絶縁状態を評価する高電圧機器の絶縁診断方式
に関し、特に、絶縁劣化の状態を適確に表現する診断方
式に関する。
Ｂ１発明の概要
本発明は、電気機器に発生する部分放電を計測・解析し
、機器の絶縁状態を評価する高電圧機器の絶縁診断方式
において、試料に印加される電圧の波形を記憶する第１
の波形記憶装置と、検出された部分放電パルスの波形を
記憶する第２の波形記憶装置と、データを解析するコン
ピュータとを備え、試料に印加される電圧の１サイク分
毎に検出放電パルスの電荷量を合算し、その合算値で絶
縁特性の解析を行うことにより、絶縁劣化状態を適確に
表現する技術を提供するものである。
、機器の絶縁状態を評価する高電圧機器の絶縁診断方式
において、試料に印加される電圧の波形を記憶する第１
の波形記憶装置と、検出された部分放電パルスの波形を
記憶する第２の波形記憶装置と、データを解析するコン
ピュータとを備え、試料に印加される電圧の１サイク分
毎に検出放電パルスの電荷量を合算し、その合算値で絶
縁特性の解析を行うことにより、絶縁劣化状態を適確に
表現する技術を提供するものである。
Ｃ１従来の技術
高電圧機器の絶縁特性を試験する部分放電測定方法は、
電気学会編「高電圧試験ハンドブック」によれば、下表
に示す各方法が採用されている。
電気学会編「高電圧試験ハンドブック」によれば、下表
に示す各方法が採用されている。
第１表
但し、ｆｏは同調中心周波数、ｆｌは下限周波数、ｆ２
は上限周波数、△ｆは帯域幅である。
は上限周波数、△ｆは帯域幅である。
これらの測定によって把握される項目は、部分放電の電
荷、発生頻度、開始電圧等で、従来は、それらによって
絶縁物の耐部分放電性を評価していた。
荷、発生頻度、開始電圧等で、従来は、それらによって
絶縁物の耐部分放電性を評価していた。
Ｄ３発明が解決しようとする課題
しかしながら、上記従来の部分放電測定方法では、測定
される諸項目と絶縁物の状態、即ち欠陥であるボイドの
大きさや量、又は電界集中の度合や絶縁の劣化状態等と
の相関性が十分でなく、それら測定項目が絶縁物の状態
を明確に表現していると言えず、暖味に推定するだけで
あった。
される諸項目と絶縁物の状態、即ち欠陥であるボイドの
大きさや量、又は電界集中の度合や絶縁の劣化状態等と
の相関性が十分でなく、それら測定項目が絶縁物の状態
を明確に表現していると言えず、暖味に推定するだけで
あった。
本発明は、このような課題に鑑みて創案されたもので、
絶縁劣化の状態を適確に表現する高電圧機器の絶縁診断
方式を提供することを目的としている。
絶縁劣化の状態を適確に表現する高電圧機器の絶縁診断
方式を提供することを目的としている。
Ｅ３課題を解決するための手段
本発明における上記課題を解決するための手段は、試料
に配設された部分放電測定器で部分放電パルスの波形を
検出・計測・解析する高電圧機器の絶縁診断方式におい
て、試料に印加される電圧の波形を記憶する第１の波形
記憶装置と、検出された部分放電パルスの波形を記憶す
る第２の波形記憶装置と、データを解析するコンピュー
タとを備え、試料に印加される電圧の１サイクル分毎に
検出放電パルスの電荷量を合算して行き、その合算値に
基づいて絶縁特性の解析を行う高電圧機器の絶縁診断方
式によるものとする。
に配設された部分放電測定器で部分放電パルスの波形を
検出・計測・解析する高電圧機器の絶縁診断方式におい
て、試料に印加される電圧の波形を記憶する第１の波形
記憶装置と、検出された部分放電パルスの波形を記憶す
る第２の波形記憶装置と、データを解析するコンピュー
タとを備え、試料に印加される電圧の１サイクル分毎に
検出放電パルスの電荷量を合算して行き、その合算値に
基づいて絶縁特性の解析を行う高電圧機器の絶縁診断方
式によるものとする。
Ｆ９作用
本発明は、部分放電によって発生するパルスを部分放電
測定器で測定し、測定された放電パルスを記憶装置に格
納しておいて、その放電パルスの電荷量ｑをコンピュー
タでＡｃｔサイクル分当たり合算し、その合算値Σｑを
使用して絶縁物の状態を評価するものである。ＡＣＩサ
イクル分に放電パルスを対応させるには、試料に印加さ
れるＡＣ電圧の波形も別の記憶装置に格納しておく。
測定器で測定し、測定された放電パルスを記憶装置に格
納しておいて、その放電パルスの電荷量ｑをコンピュー
タでＡｃｔサイクル分当たり合算し、その合算値Σｑを
使用して絶縁物の状態を評価するものである。ＡＣＩサ
イクル分に放電パルスを対応させるには、試料に印加さ
れるＡＣ電圧の波形も別の記憶装置に格納しておく。
部分放電の瞬間データである最大放電電荷量等は時間経
過によってそれほど変化しないが、前記合算値Σｑは時
間経過によって徐々に変化する。
過によってそれほど変化しないが、前記合算値Σｑは時
間経過によって徐々に変化する。
従って、その変化を断続的に追跡して行けば絶縁劣化の
度合を適確に把握することができる。
度合を適確に把握することができる。
Ｇ、実施例
以下、図面を参照して、本発明の実施例を詳細に説明す
る。
る。
第１図は、本発明の一実施例の構成図である。
同図において、１は試料、２は試料１にＡＣ電圧を印加
する変圧器、３は試料１に配設された部分放電の検出部
、４は検出された部分放電パルスを計測する公知の同調
式部分放電測定器、５はＡＣ電圧の波形を記憶する位相
検出用の第１の記憶装置、６は部分放電パルスの波形を
記憶する電荷量検出用の第２の記憶装置、７は各データ
を保持・演算・解析するコンピュータである。コンピュ
ータ７には、キーボード７１．ＣＲＴデイスプレィ７２
、プリンタ７３．Ｘ−Ｙプロッタ７４．フロッピディス
ク７５等が接続されている。この装置は、部分放電によ
って発生するパルスを部分放電測定器４で測定し、測定
された放電パルスを第２の記憶装置６に格納しておいて
、その放電パルスの電荷量ｑをコンピュータ７でＡＣＩ
サイクル分当たり合算し、その合算値Σｑを使用して絶
縁物の状態を評価する。ＡＣＩサイクル分のＡＣ電圧の
波形は第１の記憶装置５に格納しておく。
する変圧器、３は試料１に配設された部分放電の検出部
、４は検出された部分放電パルスを計測する公知の同調
式部分放電測定器、５はＡＣ電圧の波形を記憶する位相
検出用の第１の記憶装置、６は部分放電パルスの波形を
記憶する電荷量検出用の第２の記憶装置、７は各データ
を保持・演算・解析するコンピュータである。コンピュ
ータ７には、キーボード７１．ＣＲＴデイスプレィ７２
、プリンタ７３．Ｘ−Ｙプロッタ７４．フロッピディス
ク７５等が接続されている。この装置は、部分放電によ
って発生するパルスを部分放電測定器４で測定し、測定
された放電パルスを第２の記憶装置６に格納しておいて
、その放電パルスの電荷量ｑをコンピュータ７でＡＣＩ
サイクル分当たり合算し、その合算値Σｑを使用して絶
縁物の状態を評価する。ＡＣＩサイクル分のＡＣ電圧の
波形は第１の記憶装置５に格納しておく。
ここで、部分放電パルスのサンプリング周期を５μｓと
し、前記第１及び第２の記憶装置の容量を４にワードと
して、下記の諸項目を測定する。
し、前記第１及び第２の記憶装置の容量を４にワードと
して、下記の諸項目を測定する。
■正極性放電パルスの最大放電電荷；Ｑｍａｘ（十）■
負極性放電パルスの最大放電電荷；Ｑｍａｘ（−）■Ａ
ＣＩサイクル当り放電電荷合算値；Σｑ（＋）■ＡＣＩ
サイクル当り放電電荷合算値；Σｑ（−）試料１として
は、高圧回転機用ステータコイルを対象とし、１６ｋＶ
課電試験を行い、課電中の部分放電特性の測定及び解析
を行った。第２図はその結果の一例を示す波形図である
、尚、測定の電圧は課電電圧と同じ１６ｋＶである。第
２図に示す如く、課電試験中に部分放電測定を断続的に
実施して、正及び負極性の最大放電電荷及びＡＣ１サイ
クル当たりの放電電荷合算値Ｑｍａｘ （＋） 。
負極性放電パルスの最大放電電荷；Ｑｍａｘ（−）■Ａ
ＣＩサイクル当り放電電荷合算値；Σｑ（＋）■ＡＣＩ
サイクル当り放電電荷合算値；Σｑ（−）試料１として
は、高圧回転機用ステータコイルを対象とし、１６ｋＶ
課電試験を行い、課電中の部分放電特性の測定及び解析
を行った。第２図はその結果の一例を示す波形図である
、尚、測定の電圧は課電電圧と同じ１６ｋＶである。第
２図に示す如く、課電試験中に部分放電測定を断続的に
実施して、正及び負極性の最大放電電荷及びＡＣ１サイ
クル当たりの放電電荷合算値Ｑｍａｘ （＋） 。
Ｑｍａｘ（−）、 Σｑ （＋） 、 Σｑ（−）
を求める。
を求める。
同図において、印加電圧Ｖｐ−ｐ２０ｖのピーク値を１
ｖ＝１４０ｐｃとすると、同図の縦軸のスケールは２倍
なので、Ｑｍａｘ （＋） ＝ ４０６． ２８ｐｃ、
Ｑｍａｘ（−）−２７４，５４ｐｃ、 Σ。
ｖ＝１４０ｐｃとすると、同図の縦軸のスケールは２倍
なので、Ｑｍａｘ （＋） ＝ ４０６． ２８ｐｃ、
Ｑｍａｘ（−）−２７４，５４ｐｃ、 Σ。
（＋）＝１１６２４０ｐｃ、 Σｑ（−）−８０２４
３ｐｃである。これらの特性の変化を課電時間に対して
グラフ表示すると、第３図及び第４図に示す如くになる
。
３ｐｃである。これらの特性の変化を課電時間に対して
グラフ表示すると、第３図及び第４図に示す如くになる
。
第３図は、正及び負極性の最大放電電荷Ｑ ｗａｘの変
化を示す図で、Ｑ ｍａｘは正極性及び負極性の双方と
も課電開始後２０時間〜３７５時間の間、大きな変化は
なく、明確な劣化進展の兆候か現れないまま突然に３８
４時間目で絶縁破壊に至ってしまう。
化を示す図で、Ｑ ｍａｘは正極性及び負極性の双方と
も課電開始後２０時間〜３７５時間の間、大きな変化は
なく、明確な劣化進展の兆候か現れないまま突然に３８
４時間目で絶縁破壊に至ってしまう。
第４図は、正及び負極性の放電電荷合算値Σｑの変化を
示す図で、ＡＣの１サイクル当たりに発生した放電パル
スの放電電荷量合算値Σｑは、課電開始後１００時間ま
で増加したのちは３５０時間まで徐々に増加し、その後
３７５時間まで急激な増加を示して絶縁破壊に至る。Σ
ｑの値そのものは試料数や試料の形状その他の各種要因
で異なるが、その変化を断続的に追跡して行くと絶縁劣
化の進展状況や絶縁破壊直前の兆候等が把握でき、絶縁
劣化の度合を評価できる。即ち、本実施例によれば、絶
縁劣化の状態を適確に表現できる。
示す図で、ＡＣの１サイクル当たりに発生した放電パル
スの放電電荷量合算値Σｑは、課電開始後１００時間ま
で増加したのちは３５０時間まで徐々に増加し、その後
３７５時間まで急激な増加を示して絶縁破壊に至る。Σ
ｑの値そのものは試料数や試料の形状その他の各種要因
で異なるが、その変化を断続的に追跡して行くと絶縁劣
化の進展状況や絶縁破壊直前の兆候等が把握でき、絶縁
劣化の度合を評価できる。即ち、本実施例によれば、絶
縁劣化の状態を適確に表現できる。
Ｈ１発明の効果
以上、説明したとおり、本発明によれば、絶縁劣化の状
態を適確に表現する高電圧機器の絶縁診断方式を提供す
ることができる。
態を適確に表現する高電圧機器の絶縁診断方式を提供す
ることができる。
第１図は本発明の一実施例の構成図、第２図は本発明の
一実施例の波形図、第３図及び第４図は部分放電の解析
結果の特性図である。 １・・・試料、２・・・変圧器、３・・・検出部、４・
・・部分放電測定器、５・・・第１の記憶装置、６・・
・第２の記憶装置、７・・・コンピュータ。 外１名 第１図 本発明の一実腋例の構成図
一実施例の波形図、第３図及び第４図は部分放電の解析
結果の特性図である。 １・・・試料、２・・・変圧器、３・・・検出部、４・
・・部分放電測定器、５・・・第１の記憶装置、６・・
・第２の記憶装置、７・・・コンピュータ。 外１名 第１図 本発明の一実腋例の構成図
Claims (1)
- （１）試料に配設された部分放電測定器で部分放電パル
スの波形を検出・計測・解析する高電圧機器の絶縁診断
方式において、 試料に印加される電圧の波形を記憶する第１の波形記憶
装置と、検出された部分放電パルスの波形を記憶する第
２の波形記憶装置と、データを解析するコンピュータと
を備え、試料に印加される電圧の１サイクル分毎に検出
放電パルスの電荷量を合算して行き、その合算値に基づ
いて絶縁特性の解析を行うことを特徴とする高電圧機器
の絶縁診断方式。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP18763090A JPH0474974A (ja) | 1990-07-16 | 1990-07-16 | 高電圧機器の絶縁診断方式 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP18763090A JPH0474974A (ja) | 1990-07-16 | 1990-07-16 | 高電圧機器の絶縁診断方式 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH0474974A true JPH0474974A (ja) | 1992-03-10 |
Family
ID=16209474
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP18763090A Pending JPH0474974A (ja) | 1990-07-16 | 1990-07-16 | 高電圧機器の絶縁診断方式 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH0474974A (ja) |
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US20140159755A1 (en) * | 2012-12-12 | 2014-06-12 | Hitachi Metals, Ltd. | Partial discharge charge amount measuring method and device |
| JP2023096773A (ja) * | 2021-12-27 | 2023-07-07 | 株式会社東芝 | 推定装置、推定方法及びプログラム |
-
1990
- 1990-07-16 JP JP18763090A patent/JPH0474974A/ja active Pending
Cited By (4)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US20140159755A1 (en) * | 2012-12-12 | 2014-06-12 | Hitachi Metals, Ltd. | Partial discharge charge amount measuring method and device |
| JP2014115237A (ja) * | 2012-12-12 | 2014-06-26 | Hitachi Metals Ltd | 放電電荷量測定方法及び放電電荷量測定装置 |
| US9645189B2 (en) * | 2012-12-12 | 2017-05-09 | Hitachi Metals, Ltd. | Partial discharge charge amount measuring method and device |
| JP2023096773A (ja) * | 2021-12-27 | 2023-07-07 | 株式会社東芝 | 推定装置、推定方法及びプログラム |
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