JPH0475000A - X線走査装置 - Google Patents
X線走査装置Info
- Publication number
- JPH0475000A JPH0475000A JP2185230A JP18523090A JPH0475000A JP H0475000 A JPH0475000 A JP H0475000A JP 2185230 A JP2185230 A JP 2185230A JP 18523090 A JP18523090 A JP 18523090A JP H0475000 A JPH0475000 A JP H0475000A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- ray
- scanner
- scanning device
- outer periphery
- periphery
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Pending
Links
Landscapes
- X-Ray Techniques (AREA)
- Apparatus For Radiation Diagnosis (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
〔発明の目的〕
(産業上の利用分野)
本発明は、非破壊検査装置などに使われるX線走査装置
に関する。
に関する。
(従来の技術)
従来のX線走査装置の一例を示す第7図において、円筒
状のX線発生装置1の下面の放射口の下方には、図示し
ない駆動機構に連結され、中心寄りから外周方向にスリ
ット13が形成された鉛製の円板状の回転ディスク12
が横にして対置され。
状のX線発生装置1の下面の放射口の下方には、図示し
ない駆動機構に連結され、中心寄りから外周方向にスリ
ット13が形成された鉛製の円板状の回転ディスク12
が横にして対置され。
この回転ディスク12の更に下側には、中央にスリット
15が形成された方形板状の固定シールド14が平行に
対置されている。
15が形成された方形板状の固定シールド14が平行に
対置されている。
このように構成されたX線検査装置においては、図示し
ない駆動機構で回転ディスク12を同図及び同図の部分
平面図を示す第8図の矢印Aのように時計方向へ回転さ
せることで、同図で示すX線の通過口16を回転ディス
ク12の回転角に対応して。
ない駆動機構で回転ディスク12を同図及び同図の部分
平面図を示す第8図の矢印Aのように時計方向へ回転さ
せることで、同図で示すX線の通過口16を回転ディス
ク12の回転角に対応して。
同図矢印Bのように、固定シールド14のスリット15
の片側から他側に移動させる。
の片側から他側に移動させる。
この結果、このように構成されたX線検査装置において
は、X線ビームの走査速度は、回転ディスク12の外径
と回転速度に比例し、X線の通過口16を通過したX線
ビームの断面積は、スリット13とスリット15の幅で
決まる。
は、X線ビームの走査速度は、回転ディスク12の外径
と回転速度に比例し、X線の通過口16を通過したX線
ビームの断面積は、スリット13とスリット15の幅で
決まる。
(発明が解決しようとする課題)
ところが、このように構成されたX線走査装置において
は、第8図で示すように、通過したX線ビームの形状と
寸法は、スリット13の通過位置で異なり、その結果、
図示しない被検体に照射されるX線スポットの形状と寸
法も変化するので、被検体の照射場所で検出能力が違っ
てくる。
は、第8図で示すように、通過したX線ビームの形状と
寸法は、スリット13の通過位置で異なり、その結果、
図示しない被検体に照射されるX線スポットの形状と寸
法も変化するので、被検体の照射場所で検出能力が違っ
てくる。
また、スポット状のX線を使用するときには、X線の利
用効率が低下するので、短時間にセンサで検出するため
に必要なX線量を得るためには、X線の放射量を増やさ
なければならない。
用効率が低下するので、短時間にセンサで検出するため
に必要なX線量を得るためには、X線の放射量を増やさ
なければならない。
更に、被検体のX線吸収係数が大きい材料では、高エネ
ルギーのX線が必要となる。
ルギーのX線が必要となる。
一方、回転シールド12と固定シールド14は、スリッ
ト13.15を除いてはX線を完全に遮蔽しなければな
らないので、鉛のように比重の大きい材料で、しかも、
厚さを増やさなければならない。
ト13.15を除いてはX線を完全に遮蔽しなければな
らないので、鉛のように比重の大きい材料で、しかも、
厚さを増やさなければならない。
しかも、走査幅17を広く得るためには、回転ディスク
12の径を増やさなければならないので、回転ディスク
12が大形となり、重量も増える。
12の径を増やさなければならないので、回転ディスク
12が大形となり、重量も増える。
ところが、回転ディスク12は、高速かつ定速回転させ
なければならないので、上述の径が大きくて厚くて重い
回転ディスク12では、この要求と矛盾する。
なければならないので、上述の径が大きくて厚くて重い
回転ディスク12では、この要求と矛盾する。
そこで、本発明の目的は、小形・軽量でX線を遮蔽でき
、高速高精度にX線を走査することのできるX1s検査
装置を得ることである。
、高速高精度にX線を走査することのできるX1s検査
装置を得ることである。
(課題を解決するための手段と作用)
本発明は、X線ビームを被検体に照射して被検体を検査
するX線走査装置において、X線発生装置のX線焦点を
回転の軸心として回転し軸心から外周方向に貫通穴が形
成した環状のスキャナと、この環状のスキャナの貫通穴
の内周又は及び外周に挿着された中心穴のあるコリメー
タと、スキャナの内周又は及び外周に設けられスキャナ
の内周又は及び外周その対向部に開口部が形成された固
定シールドを設けることで、小形・軽量でX線を遮蔽で
き、高速・高精度にxgビームを走査することのできる
X線走査装置である。
するX線走査装置において、X線発生装置のX線焦点を
回転の軸心として回転し軸心から外周方向に貫通穴が形
成した環状のスキャナと、この環状のスキャナの貫通穴
の内周又は及び外周に挿着された中心穴のあるコリメー
タと、スキャナの内周又は及び外周に設けられスキャナ
の内周又は及び外周その対向部に開口部が形成された固
定シールドを設けることで、小形・軽量でX線を遮蔽で
き、高速・高精度にxgビームを走査することのできる
X線走査装置である。
(実施例)
以下、本発明のX線走査装置の一実施例を図面を参照し
て説明する。但し、第7〜8図と重複する部分は省く。
て説明する。但し、第7〜8図と重複する部分は省く。
第1図(a)は、本発明のX線走査装置の主要部分を示
す斜視図、同図(b)は同図(a)の要部を示す横断面
図、又、第2図は、第1図(a)の横断面図、第3図は
第1図(a)の縦断面図である。
す斜視図、同図(b)は同図(a)の要部を示す横断面
図、又、第2図は、第1図(a)の横断面図、第3図は
第1図(a)の縦断面図である。
第1〜3図において、X線発生装置1には、略環状で横
断面が第1図(b)のように略工形のスキャナ2が同軸
に緩挿されて、従来と同様に図示しない駆動機構に連結
されている。このスキャナ2には、第1図(b)と第2
図、第3図に示すように、内周面から外周面に貫通穴3
が形成され、この貫通穴3の内周側と外周側の端部には
、環状の第1コリメータ5Aと第2コリメータ5Bがそ
れぞれ挿着固定されている。
断面が第1図(b)のように略工形のスキャナ2が同軸
に緩挿されて、従来と同様に図示しない駆動機構に連結
されている。このスキャナ2には、第1図(b)と第2
図、第3図に示すように、内周面から外周面に貫通穴3
が形成され、この貫通穴3の内周側と外周側の端部には
、環状の第1コリメータ5Aと第2コリメータ5Bがそ
れぞれ挿着固定されている。
また、X線発生装置1の下方には、スキャナ2の下端を
挟むように、略樋状の一対の固定シールド4が設けられ
、スキャナ2の端部とはL形の段付部4aでわずかな間
隔を介して重なるように固定されている。
挟むように、略樋状の一対の固定シールド4が設けられ
、スキャナ2の端部とはL形の段付部4aでわずかな間
隔を介して重なるように固定されている。
さて、このように構成されたX線走査装置においては、
X線発生袋N1の焦点7から第1図(a)及び第3図の
ように放射角αで放射状に放射されたX線の一部は、ス
キャナ2に挿着された第2コリメータ5Bの中心穴から
貫通穴3に入り、第2コリメータ5Aの中心穴を通過し
て図示しない被検体に照射される。そして、スキャナ2
の外側を通過したX線は、スキャナ2の下端両側に設け
られた一対の固定シールド4で遮蔽される。
X線発生袋N1の焦点7から第1図(a)及び第3図の
ように放射角αで放射状に放射されたX線の一部は、ス
キャナ2に挿着された第2コリメータ5Bの中心穴から
貫通穴3に入り、第2コリメータ5Aの中心穴を通過し
て図示しない被検体に照射される。そして、スキャナ2
の外側を通過したX線は、スキャナ2の下端両側に設け
られた一対の固定シールド4で遮蔽される。
したがって、固定シールド4の弧状方向の幅は、第3図
で示すように、X線の放射角αに対してその2倍の2α
のβに相当する角度を遮蔽する幅があれば十分である。
で示すように、X線の放射角αに対してその2倍の2α
のβに相当する角度を遮蔽する幅があれば十分である。
この結果、このように構成されたX線走査装置において
は、貫通穴3を囲むX線放射方向のスキャナ2で、X線
透過方向に厚いX線遮蔽部を形成することができるので
、スキャナ2などの回転部分を軽量化することができる
。
は、貫通穴3を囲むX線放射方向のスキャナ2で、X線
透過方向に厚いX線遮蔽部を形成することができるので
、スキャナ2などの回転部分を軽量化することができる
。
したがって、高速・定速回転が容易となるので、高精度
のスキャナが可能となる。
のスキャナが可能となる。
また、第1図(a)と第2図の矢印B工で示すX線発生
装置の軸方向のX線のエネルギー変化に比べて、第3図
の矢印B2方向のX線のエネルギー変化量は少ないので
、スキャナ2の回転によるX線ビームの走査角度による
エネルギー変化量の少ないX線検査装置となる。
装置の軸方向のX線のエネルギー変化に比べて、第3図
の矢印B2方向のX線のエネルギー変化量は少ないので
、スキャナ2の回転によるX線ビームの走査角度による
エネルギー変化量の少ないX線検査装置となる。
更に、各コリメータSA、 5Bの中心穴は、各コリメ
ータ5A、 5Bの厚さが薄いので、任意の大きさ・形
状を容易に加工することができるので、仕様に応じた任
意の大きさのX線ビームを得ることができる。
ータ5A、 5Bの厚さが薄いので、任意の大きさ・形
状を容易に加工することができるので、仕様に応じた任
意の大きさのX線ビームを得ることができる。
なお、上記実施例において、スキャナ2の貫通穴3は、
1箇所だけに設けてもよく、任意の複数個設けてもよい
。複数個設けることで、スキャナ2の1回転で、複数本
のX線走査ができる。
1箇所だけに設けてもよく、任意の複数個設けてもよい
。複数個設けることで、スキャナ2の1回転で、複数本
のX線走査ができる。
一方、第1コリメータ5Aと第2コリメータ5Bの穴径
は、必ずしも同径としなくてもよく、第1−コリメータ
5Aの穴だけを所定のX線ビーム径を得るために必要な
径としてもよい。
は、必ずしも同径としなくてもよく、第1−コリメータ
5Aの穴だけを所定のX線ビーム径を得るために必要な
径としてもよい。
また、もし、X線の焦点7が非常に小さければ、コリメ
ータは第4図に示す外側のコリメータ5Aだけでもよく
、又、第8図のように、X線の焦点7が大きいときには
、上記実施例のように2個所に設けた方がよい。又、各
コリメータ5A、 5Bは、1枚だけでX線を遮蔽でき
ないときは複数板重ねて使用してもよい。
ータは第4図に示す外側のコリメータ5Aだけでもよく
、又、第8図のように、X線の焦点7が大きいときには
、上記実施例のように2個所に設けた方がよい。又、各
コリメータ5A、 5Bは、1枚だけでX線を遮蔽でき
ないときは複数板重ねて使用してもよい。
次に、第6図は、本発明のX線走査装置の他の実施例を
示す斜視図である。
示す斜視図である。
同図においては、スキャナ2の内周側は外周側に樋状の
固定シールド8A、 8Bがそれぞれ設けられていて、
内外周と対向する中央には溝8a、8bが形成されてい
る。
固定シールド8A、 8Bがそれぞれ設けられていて、
内外周と対向する中央には溝8a、8bが形成されてい
る。
この場合には、内側の固定シールド8Aは狭い幅でスキ
ャナ2の厚さ方向のX線を遮蔽でき、X線の遮蔽が二重
となるので遮蔽のための固定シールド8A、 8Bの厚
さを薄くできる利点がある。
ャナ2の厚さ方向のX線を遮蔽でき、X線の遮蔽が二重
となるので遮蔽のための固定シールド8A、 8Bの厚
さを薄くできる利点がある。
なお、この場合も、X線焦点の大きさによっては、固定
シールド8Aを省いて、固定シールド8Bの厚さを増や
してもよい。
シールド8Aを省いて、固定シールド8Bの厚さを増や
してもよい。
更に、同図の一点鎖線で示すように、固定シールドは平
板としてもよい。
板としてもよい。
〔発明の効果〕
以上、本発明によれば、xmビームを被検体に照射して
被検体を検査するX線走査装置において、X線発生装置
のX線焦点を回転の細心として回転し軸心から外周方向
に貫通穴が形成された環状のスキャナと、このスキャナ
の貫通穴の内周又は及び外周に挿着された中心穴のある
コリメータと、スキャナの内周又は及び外周に設けられ
たスキャナの内周又は及び外周との対向部に帯状の開口
部が形成された固定シールドを設けたので、小形・軽量
でX線を遮蔽でき、高速・高精度にX線ビームを走査す
ることのできるX線走査装置を得ることができる。
被検体を検査するX線走査装置において、X線発生装置
のX線焦点を回転の細心として回転し軸心から外周方向
に貫通穴が形成された環状のスキャナと、このスキャナ
の貫通穴の内周又は及び外周に挿着された中心穴のある
コリメータと、スキャナの内周又は及び外周に設けられ
たスキャナの内周又は及び外周との対向部に帯状の開口
部が形成された固定シールドを設けたので、小形・軽量
でX線を遮蔽でき、高速・高精度にX線ビームを走査す
ることのできるX線走査装置を得ることができる。
第1図(a)は本発明のX線走査装置の一実施例を示す
主要部斜視図、同図(b)は同図(a)の要部を示す横
断面図、第2図は第1図(a)の横断面図、第3図は第
1図(a)の縦断面図、第4図と第5図は本発明のX線
走査装置の作用を示す図、第6図は本発明のX線走査装
置の他の実施例を示す主要部斜視図、第7図は従来のX
線走査装置の一例を示す主要部斜視図、第8図は従来の
X線走査装置の作用を示す図である。 1・・・X線発生装置 2・・スキャナ3・・・
貫通穴 4・・固定シールド5A・・・第
1コリメータ 5B・・第2コリメータ(8733
)代理人 弁理士 猪 股 祥 晃(ほか]名) (b) 第 図 第 図 第 図 り 第 図 第 図
主要部斜視図、同図(b)は同図(a)の要部を示す横
断面図、第2図は第1図(a)の横断面図、第3図は第
1図(a)の縦断面図、第4図と第5図は本発明のX線
走査装置の作用を示す図、第6図は本発明のX線走査装
置の他の実施例を示す主要部斜視図、第7図は従来のX
線走査装置の一例を示す主要部斜視図、第8図は従来の
X線走査装置の作用を示す図である。 1・・・X線発生装置 2・・スキャナ3・・・
貫通穴 4・・固定シールド5A・・・第
1コリメータ 5B・・第2コリメータ(8733
)代理人 弁理士 猪 股 祥 晃(ほか]名) (b) 第 図 第 図 第 図 り 第 図 第 図
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 X線発生装置から放射されたX線を被検体に照射してこ
の被検体を検査するX線走査装置において、 前記X線発生装置のX線焦点を回転の軸心として回転し
前記軸心方向から外周に貫通穴が形成された環状のスキ
ャナと、このスキャナの貫通穴の外周又は及び内周に挿
着された中心穴のあるコリメータと、前記スキャナの外
周又は及び内周に設けられ前記スキャナの前記外周又は
及び内周との対向部に帯状の開口部が形成された固定シ
ールドを設けたことを特徴とするX線走査装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP2185230A JPH0475000A (ja) | 1990-07-16 | 1990-07-16 | X線走査装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP2185230A JPH0475000A (ja) | 1990-07-16 | 1990-07-16 | X線走査装置 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH0475000A true JPH0475000A (ja) | 1992-03-10 |
Family
ID=16167156
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP2185230A Pending JPH0475000A (ja) | 1990-07-16 | 1990-07-16 | X線走査装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH0475000A (ja) |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| CN103635002A (zh) * | 2012-08-21 | 2014-03-12 | 同方威视技术股份有限公司 | 一体式飞点x光机 |
-
1990
- 1990-07-16 JP JP2185230A patent/JPH0475000A/ja active Pending
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| CN103635002A (zh) * | 2012-08-21 | 2014-03-12 | 同方威视技术股份有限公司 | 一体式飞点x光机 |
| US9355810B2 (en) | 2012-08-21 | 2016-05-31 | Nuctech Company Limited | Integrated flying-spot X-ray apparatus |
Similar Documents
| Publication | Publication Date | Title |
|---|---|---|
| US6434219B1 (en) | Chopper wheel with two axes of rotation | |
| RU2532495C1 (ru) | Сканирующее устройство и способ визуализации с обратнорассеянным пучком излучения | |
| JP3782142B2 (ja) | 弾性散乱x線光子のパルス伝達スペクトル測定装置 | |
| JP3260459B2 (ja) | 弾性的散乱x線量のパルス伝送スペクトルを測定する装置 | |
| US4315146A (en) | Process and apparatus for scatter reduction in radiography | |
| CA2389871C (en) | Rotatable cylinder dual beam modulator | |
| US3940625A (en) | Apparatus for examining objects by means of penetrating radiation | |
| JPH05157709A (ja) | X線量子のパルス伝送スペクトルを測定する装置 | |
| JP4161513B2 (ja) | 二次ターゲット装置及び蛍光x線分析装置 | |
| JP4361759B2 (ja) | 二重スライス電子ビーム断層写真法スキャナ用のコリメーション・システム | |
| JPH10277022A (ja) | コリメータ、コリメータ用のコーミング用具及びx線を検出する装置 | |
| US20040066889A1 (en) | Collimator aperture scheduling for enhanced pencil-beam resolution | |
| CN104764759B (zh) | 一种用于x射线背散射成像系统的跳线飞点扫描装置 | |
| JPS63173941A (ja) | 放射線による非破壊検査方法及び装置 | |
| US7860217B2 (en) | X-ray diffraction measuring apparatus having debye-scherrer optical system therein, and an X-ray diffraction measuring method for the same | |
| JP2012122737A (ja) | X線回折装置 | |
| US12125605B2 (en) | Rotating hoop chopper wheel for x-ray imagers | |
| GB1589469A (en) | Radiography | |
| JPH0475000A (ja) | X線走査装置 | |
| JPH1144662A (ja) | 微小部x線分析装置 | |
| US4096390A (en) | Apparatus for examining objects by means of penetrating radiation | |
| GB1571510A (en) | Radiography | |
| US4277687A (en) | Tomographic apparatus for producing transverse layer images | |
| JPS6338438A (ja) | X線ct装置 | |
| CN112881446B (zh) | 一种具有碟式斩波轮的点扫描装置 |