JPH047513A - Erection type microscope - Google Patents

Erection type microscope

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Publication number
JPH047513A
JPH047513A JP2109288A JP10928890A JPH047513A JP H047513 A JPH047513 A JP H047513A JP 2109288 A JP2109288 A JP 2109288A JP 10928890 A JP10928890 A JP 10928890A JP H047513 A JPH047513 A JP H047513A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
arm
lens barrel
support member
main body
body base
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Pending
Application number
JP2109288A
Other languages
Japanese (ja)
Inventor
Kazuyuki Tanaka
和之 田中
Jiro Mizuno
水野 次郎
Toshinobu Ito
伊藤 敏伸
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Nikon Corp
Original Assignee
Nikon Corp
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Nikon Corp filed Critical Nikon Corp
Priority to JP2109288A priority Critical patent/JPH047513A/en
Publication of JPH047513A publication Critical patent/JPH047513A/en
Pending legal-status Critical Current

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  • Microscoopes, Condenser (AREA)

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
(57) [Summary] This bulletin contains application data before electronic filing, so abstract data is not recorded.

Description

【発明の詳細な説明】 〔産業上の利用分野〕 本発明は、微小物質を対物レンズと接眼レンズによって
拡大し微小物質の詳細部を観察するもので、特に半導体
の検査等に使用される正立型顕微鏡に関する。
Detailed Description of the Invention [Industrial Application Field] The present invention is a method of magnifying a minute substance using an objective lens and an eyepiece lens to observe the details of the minute substance. Regarding vertical microscopes.

〔従来の技術〕[Conventional technology]

従来の正立型顕微鏡は、第3図、第4図に示す如く、対
物レンズを含む光軸上において、前記対物レンズの後方
で落射照明の光学系を内蔵したアーム部の上部、落射照
明装置が取付可能なアーム部の上部、又はアーム部に落
射装置を取付けたその上に鏡筒が取付けられる構造のも
のであった。
As shown in FIGS. 3 and 4, in a conventional upright microscope, on the optical axis including the objective lens, there is an epi-illumination device located at the upper part of an arm section with a built-in epi-illumination optical system behind the objective lens. The structure was such that the lens barrel was attached to the upper part of the arm part to which the mirror could be attached, or on top of the epi-illumination device attached to the arm part.

−古手導体のDRAMは、今日でも3年に4倍というペ
ースで集積度が増大している。そのため顕微鏡で観察さ
れるパターンも当然微細化が進んでおり、今後もますま
すその方向に進むものと思われる。半導体を生産するた
めの現在のネックは発塵によりウェハにごみが付着し歩
留まりが下がる事であり、その発塵の第1の原因は人か
ら発生するものである。半導体の製造工程においてはほ
ぼ自動化されているが検査工程においてはまだ人手によ
る方法も残っており今後もその方法が続くものと思われ
る。
- Even today, the density of Furute Conductor's DRAM is increasing at a rate of four times every three years. Therefore, the patterns observed with a microscope are naturally becoming increasingly finer, and it is thought that this will continue to progress in this direction. The current bottleneck in the production of semiconductors is that dirt adheres to wafers due to dust generation, reducing yields, and the primary cause of dust generation is from humans. Although most of the semiconductor manufacturing process has been automated, there are still some manual methods left in the inspection process, and it is expected that these methods will continue into the future.

〔発明が解決しようとする課題〕[Problem to be solved by the invention]

しかしながら従来の正立型顕微鏡においては、上述の様
な構造になっているため、人からの発塵、特に検査をす
る人の息が直接ウェハにかがってしまったり、操作時に
腕をウェハ面より上にあげた時にごみをウェハ上に落と
してしまうという問題点があった。
However, because conventional upright microscopes have the above-mentioned structure, there is a risk of dust generation from people, especially the breath of the person performing the inspection, which may come directly onto the wafer, or the arm placed above the wafer surface during operation. There was a problem in that when the wafer was raised, dirt fell onto the wafer.

また、従来の正立型顕微鏡用付属品の写真装置やテレビ
カメラ・測光装置等は、第5図に示す如く鏡筒の上部に
取付ける構造となっているので、取付は位置が高い所と
なりウェハの真上に来てしまい写真装置や測光装置の操
作時においてもウェハ上にゴミを落してしまうという問
題があった。
Furthermore, conventional accessories for upright microscopes, such as photographic devices, television cameras, and photometric devices, are attached to the top of the lens barrel, as shown in Figure 5, so they are installed in a high position, and the wafer There was a problem in that the wafer was directly above the wafer, causing dust to fall onto the wafer even when operating a photographic device or a photometric device.

また操作する態勢も位置が高い所のため操作性が悪いと
いう問題もあった。
There was also the problem of poor operability due to the high position of the device.

さらに、それらの付属品にはシャッタ等が入っており、
その操作時に振動源になってしまうと共に構造的にも鏡
筒の上に積み重ねる形のため振動には強い構造とはいえ
ず、また前述した如くパターンはどんどん微細化してお
り検査する時の顕微鏡の総合倍率も高くなって来ている
現状においては振動は極力避けなければならないが、こ
の点に於ても耐振性に問題点がある。
Furthermore, these accessories include shutters, etc.
It becomes a source of vibration during operation, and since it is stacked on top of the lens barrel, it is not a structure that is strong against vibrations.Also, as mentioned above, patterns are getting smaller and finer, making it difficult to use a microscope for inspection. In the current situation where overall magnification is increasing, vibration must be avoided as much as possible, but there is also a problem in vibration resistance in this respect.

また、従来の王立型顕微鏡は前述以外の付属品でオート
フォーカス装置や中間変倍装置、偏光装置等の中間鏡筒
を取付ける場合は、第6図に示す如く鏡筒とアームの間
にそれらの付属品を揮入する構造となっているので、そ
のためにそれらの付属品を使用すると鏡筒の位置がます
ます高くなってしまう問題があった。
In addition, when installing an intermediate lens barrel such as an autofocus device, intermediate variable magnification device, or polarizer with accessories other than those mentioned above, the conventional Royal Microscope should be attached between the lens barrel and the arm as shown in Figure 6. Since the structure is such that accessories can be volatilized, there is a problem in that when those accessories are used, the position of the lens barrel becomes higher and higher.

本発明の目的は操作性が良く、ウェハ上に人からの発塵
及び付属品からのごみの落下がなく、耐振性に優れた安
定性のある正立型顕微鏡を捉供することにある。
An object of the present invention is to provide an upright microscope that is easy to operate, does not generate dust from people or fall from accessories onto wafers, has excellent vibration resistance, and is stable.

〔課題を解決する為の手段〕[Means to solve problems]

上記目的の為に本発明では、本体ベース部(5)と、該
本体ベース部(5)上面近傍に配置されたステージ(8
)と、該ステージ(8)に対する対物レンズ(21)を
保持する対物レンズレボルバ−(7)をその端部に固設
したアーム部(1)と、該アーム部(1)を支持すると
共に前記本体ベース部(5)の一端に固設されたアーム
支持部材(2)と、該アーム支持部材(2)に対峙し、
鏡筒部(4)を支持すると共に前記本体ベース部(5)
の他端部に固設された鏡筒支持部材(10)と、を有す
ることを課題解決の手段とするものである。
For the above purpose, the present invention includes a main body base (5) and a stage (8) disposed near the top surface of the main body base (5).
), an arm part (1) having an objective lens revolver (7) fixed at its end that holds an objective lens (21) for the stage (8), and an arm part (1) that supports the arm part (1) and An arm support member (2) fixed to one end of the main body base portion (5), facing the arm support member (2),
The body base portion (5) supports the lens barrel portion (4) and the body base portion (5).
A means for solving the problem is to have a lens barrel support member (10) fixedly installed at the other end.

〔作用〕[Effect]

本発明においては、試料を観察する鏡筒部を従来の垂直
方向の配置から水平方向に離れるように配置したので観
察時又は検査時において、人の息が直接試料にかかる如
き不都合はない。
In the present invention, since the lens barrel portion for observing the sample is arranged horizontally away from the conventional vertical arrangement, there is no inconvenience such as human breath being directly exposed to the sample during observation or inspection.

また、顕微鏡の操作で通常使用される上下動部のノブや
、写真装置等、本体ベース部の所望の位置に配置するこ
とが出来るので、従来の操作性の悪さが解消すると共に
、撮影時の操作によって発塵する如き不都合は解消する
In addition, the knob of the vertical movement part normally used for operating the microscope, the photographic device, etc. can be placed in the desired position on the base of the main body, which eliminates the conventional poor operability and This eliminates inconveniences such as dust generation during operation.

更には付属装置の積重ねをする従来の構成とは変えて、
装置それぞれを少なくとも単独に配置するようにしたの
で構造的に安定すると共に観察する位置(高さ)も一定
に保つ事ができる。又傾角鏡筒を取付けることにより、
個人差による高さの微調節や俯視角の調節が出来る。
Furthermore, instead of the traditional configuration of stacking attached devices,
Since each device is arranged at least independently, it is structurally stable and the observation position (height) can be kept constant. Also, by installing a tilted lens barrel,
The height can be finely adjusted and the viewing angle can be adjusted depending on individual differences.

〔実施例〕〔Example〕

第1図は本発明の一実施例の側面図であり、第2図はそ
の光学系の配置図と外枠の位置関係図である。
FIG. 1 is a side view of one embodiment of the present invention, and FIG. 2 is a diagram showing the arrangement of the optical system and the positional relationship of the outer frame.

第1図、第2図において対物レンズレボルバ−(7)は
ベース部(5)中央にある光軸(6)上で、アーム部(
1)先端に取付けられている。アーム部(1)の内部に
は落射照明用の光学系(11)が配置されており、アー
ム後部に取付けられた不図示のランプあるいは別光源ら
導かれたファイバ等によって落射照明が可能になる。ア
ーム後部にはアーム部を支えているアーム支持部材(2
)があり、そのアーム支持部材(2)がベー ス部後部
に取付けられている。
In Figures 1 and 2, the objective lens revolver (7) is positioned on the optical axis (6) at the center of the base (5), and the arm part (
1) Attached to the tip. An optical system (11) for epi-illumination is arranged inside the arm (1), and epi-illumination is possible using a lamp (not shown) attached to the rear of the arm or a fiber led from another light source. . At the rear of the arm is an arm support member (2) that supports the arm.
), and its arm support member (2) is attached to the rear of the base.

ベース部(5)中央には前述の光軸(6)があり、その
光軸に対してステージがステージ取付部へ (3)に取付けられており、該ステージ取付部(3)は
不図示の上下動機構によって光軸(6)方向に駆動する
。その上下動機構を駆動する手段はベース部の前側側面
に設けられているノブ(9)による。さらにそのノブは
同軸上に2、ないし3ケのノブを持ち粗動及び微動ある
いは中動にてステージ(8)を上下させそれによって標
本のピント合わせを可能としている。またステージ光軸
(6)に対して垂直方向に移動可能で、ステージに設け
られている不図示のつまみによってX1Y方向に動く。
There is the aforementioned optical axis (6) in the center of the base part (5), and the stage is attached to the stage attachment part (3) with respect to the optical axis. It is driven in the direction of the optical axis (6) by a vertical movement mechanism. The means for driving the vertical movement mechanism is a knob (9) provided on the front side of the base. Furthermore, the knob has two or three knobs coaxially arranged on the same axis, and allows the stage (8) to be moved up and down by coarse, fine, or medium movement, thereby making it possible to focus on the specimen. It is also movable in the direction perpendicular to the stage optical axis (6), and moved in the X1Y directions by a knob (not shown) provided on the stage.

そのことにより標本をステージの移動範囲内で観察する
事ができ、観察位置の移動も前述のつまみにより任意の
位置へ容易に行うことができる。
This allows the specimen to be observed within the movement range of the stage, and the observation position can be easily moved to any desired position using the aforementioned knob.

ステージ(8)の下部のベース部(5)の光軸(6)上
には、透過照明用の光学系(12)が配置され、ステー
ジ取付は部(3)には透過照明用のコンデンサ(13)
が取付けられている。ベース後部あるいは側面部に不図
示のランプあるいは別光源から導かれたファイバ等によ
って、前述の透過照明用光学系とコンデンサによって透
過照明が可能になる。
An optical system (12) for transmitted illumination is arranged on the optical axis (6) of the base part (5) at the bottom of the stage (8), and a condenser (12) for transmitted illumination is installed in the stage mounting part (3). 13)
is installed. Transmissive illumination is made possible by the above-mentioned transmissive illumination optical system and condenser using a lamp (not shown) or a fiber led from another light source on the rear or side surface of the base.

ベース部(5)前側には鏡筒支持部材(10)がありそ
の先端部に鏡筒(4)が取付いている。
A lens barrel support member (10) is provided on the front side of the base portion (5), and a lens barrel (4) is attached to the tip thereof.

結像光学系は、対物レンズ(21)及び落射照明用の反
射ミラー(22)を通過後反射ミラー(23)またはプ
リズムによって、アーム内を後方に光軸を変えアーム内
を通過する。さらにアーム後方で反射ミラー(24)ま
たはプリズムによって光軸を下に向けてアーム支持部材
(2)内を通過させる。アーム支持部材(2)内を通過
した光束はベース部後方で反射ミラー(25)またはプ
リズムによって光軸を手前側に変更させベース内を通過
させる。前述の対物レンズを含む光軸(6)より手前側
に設けた鏡筒側へ反射ミラー(26,27,28)また
はプリズムによって光軸を変更し鏡筒内に光束を導き、
そこで像を作りその像を接眼レンズ(29)で拡大して
標本を観察する。
After passing through an objective lens (21) and a reflecting mirror (22) for epi-illumination, the imaging optical system changes its optical axis backward within the arm using a reflecting mirror (23) or a prism, and passes through the arm. Further, at the rear of the arm, a reflecting mirror (24) or a prism is used to direct the optical axis downward and pass through the arm support member (2). The light beam that has passed through the arm support member (2) changes its optical axis to the front side by a reflecting mirror (25) or a prism at the rear of the base portion, and is allowed to pass through the inside of the base. The optical axis is changed by a reflecting mirror (26, 27, 28) or a prism to the lens barrel provided on the front side of the optical axis (6) containing the aforementioned objective lens, and the light beam is guided into the lens barrel.
There, an image is created and the image is magnified with an eyepiece (29) to observe the specimen.

結像光学系では、光路中にリレーレンズ等を入れ2〜3
ケ所像を作ることによってその部分にスケールやマスク
等を入れる事ができ、それによって観察像と同一視野に
てスケールやマスク等が観察できる。
In the imaging optical system, a relay lens or the like is inserted in the optical path.
By creating a spot image, it is possible to insert a scale, mask, etc. in that part, and thereby the scale, mask, etc. can be observed in the same field of view as the observation image.

反射ミラー(26)の部分をハーフミラ−またはプリズ
ム等で光路を2つに分は一方を鏡筒側へ、もう一方をさ
らに手前側にもってくる事により鏡筒の下部に写真装置
(31)等を設置することができる。
By using a half mirror or prism to divide the reflecting mirror (26) into two optical paths, one side is moved towards the lens barrel and the other is brought closer to the front, allowing the photographic equipment (31) etc. to be placed at the bottom of the lens barrel. can be installed.

〔発明の効果〕〔Effect of the invention〕

以上のように本発明によれば鏡筒部を試料位置から水平
方向に離したので試料上に人の息が直接かかったり、操
作時に塵が落ちたりすることが起きない効果がある。
As described above, according to the present invention, since the lens barrel is horizontally separated from the sample position, there is an effect that human breath is not directly applied to the sample and dust does not fall during operation.

また、本体ベース部の所望の位置に付属品を配設出来る
ので、付属品を積重ねて使用する必要がなく、そのため
鏡筒を所定位置(高さ)に保つことが可能となると共に
その操作性、耐振性が向上する効果もある。
In addition, since accessories can be placed at desired positions on the base of the main body, there is no need to stack accessories, which makes it possible to maintain the lens barrel at a predetermined position (height) and improves operability. , it also has the effect of improving vibration resistance.

更には結像光学系では光路中にリレーレンズを使用し複
数ケ所像を作ることが出来るのでその部分にスケールや
マスク等を入れることが出来るので、観察像と同一視野
にてスケールやマスク等が観察できる効果もある。
Furthermore, since the imaging optical system uses a relay lens in the optical path and can create images at multiple locations, it is possible to insert scales, masks, etc. in those locations, so scales, masks, etc. can be placed in the same field of view as the observed image. There are also observable effects.

また、写真装置で写真撮影をした場合は、写真の中に顕
微鏡像と一緒にスケールやマスクを写すこともできる。
Furthermore, if a photograph is taken using a photographic device, the scale or mask can be included in the photograph together with the microscope image.

【図面の簡単な説明】[Brief explanation of the drawing]

第1図は、本発明による王立型顕微鏡の側面図、第2図
は本発明による正立型顕微鏡の光学系の配置図と外枠の
位置関係図、 第3図は従来の正立型顕微鏡のアーム部に落射照明装置
が内蔵されているタイプを示す側面図、第4図は従来の
正立型顕微鏡に落射照明装置を取付けたタイプを示す側
面図、 第5図は従来の正立型顕微鏡に写真装置を取付けた状態
を示す側面図、 第6図は従来の正立型顕微鏡に変倍装置等の中間鏡筒を
取付けた状態を示す側面図である。 [主要部分の符号の説明] 1・・・・・・アーム部、2・・・・・・スタンド部、
3・・・・・・上下動部、4・・・・・・鏡筒部、5・
・・・・・ベース部、6・・・・・・光軸、7・・・・
・・対物レンズレボルバ、8・・・・・・ステージ、9
・・・・・・ステージ上下動用ノブ、10・・・・・・
鏡筒支持部材、 11・・・・・・落射照明用光学系、 12・・・・・・透過照明用光学系、 13・・・・・・透過照明用コンデンサ、21・・・・
・・対物レンズ、 22・・・・・・落射照明用ハーフミラ−23,24,
25,26,27,28・・・・・・反射ミラー 29・・・・・・接眼レンズ、31・・・・・・写真装
置。
Fig. 1 is a side view of the royal microscope according to the present invention, Fig. 2 is a diagram showing the arrangement of the optical system and the positional relationship of the outer frame of the upright microscope according to the present invention, and Fig. 3 is a conventional upright microscope. Figure 4 is a side view showing a type with an epi-illumination device built into the arm of the microscope, Figure 4 is a side view showing a type with an epi-illumination device attached to a conventional upright microscope, and Figure 5 is a conventional upright type microscope. FIG. 6 is a side view showing a state in which a photographic device is attached to a microscope. FIG. 6 is a side view showing a state in which an intermediate lens barrel such as a variable magnification device is attached to a conventional upright microscope. [Explanation of symbols of main parts] 1...Arm part, 2...Stand part,
3...Vertical moving part, 4... Lens barrel part, 5.
...Base part, 6...Optical axis, 7...
...Objective lens revolver, 8... Stage, 9
...Knob for moving the stage up and down, 10...
Lens barrel support member, 11... Optical system for epi-illumination, 12... Optical system for transmitted illumination, 13... Condenser for transmitted illumination, 21...
...Objective lens, 22...Half mirror for epi-illumination 23, 24,
25, 26, 27, 28... Reflection mirror 29... Eyepiece, 31... Photographic device.

Claims (1)

【特許請求の範囲】 1 本体ベース部と、該本体ベース部上面近傍に配置さ
れたステージと、該ステージに対する対物レンズを保持
する対物レンズレボルバーをその端部に固設したアーム
部と、該アーム部を支持すると共に前記本体ベース部の
一端に固設されたアーム支持部材と、該アーム支持部材
に対峙し、鏡筒部を支持すると共に前記本体ベース部の
他端部に固設された鏡筒支持部材と、を有することを特
徴とする正立型顕微鏡。 2 前記アーム部、前記アーム支持部材、前記本体ベー
ス部、及前記鏡筒支持部材はそれぞれの内部に観察光学
系の光路を有することを特徴とする特許請求の範囲第1
項記載の正立型顕微鏡。
[Scope of Claims] 1. A main body base, a stage disposed near the upper surface of the main body base, an arm having an objective lens revolver fixed to its end that holds an objective lens for the stage, and the arm. an arm support member that supports the lens barrel portion and is fixed to one end of the main body base portion, and a mirror that faces the arm support member and supports the lens barrel portion and is fixed to the other end of the main body base portion. An upright microscope characterized by having a cylinder support member. 2. Claim 1, wherein the arm portion, the arm support member, the main body base portion, and the lens barrel support member each have an optical path for an observation optical system inside.
Upright microscope as described in section.
JP2109288A 1990-04-25 1990-04-25 Erection type microscope Pending JPH047513A (en)

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