JPH0475820A - ワイヤカット放電加工機の水質制御装置 - Google Patents

ワイヤカット放電加工機の水質制御装置

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JPH0475820A
JPH0475820A JP18427590A JP18427590A JPH0475820A JP H0475820 A JPH0475820 A JP H0475820A JP 18427590 A JP18427590 A JP 18427590A JP 18427590 A JP18427590 A JP 18427590A JP H0475820 A JPH0475820 A JP H0475820A
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JP
Japan
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resistivity
tank
liquid
machining
value
Prior art date
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Pending
Application number
JP18427590A
Other languages
English (en)
Inventor
Toshio Tsutsumi
堤 都志郎
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Fanuc Corp
Original Assignee
Fanuc Corp
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Publication date
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  • Electrical Discharge Machining, Electrochemical Machining, And Combined Machining (AREA)

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 産業上の利用分野 本発明は、ワイヤカット放電加工機の加工液の比抵抗を
一定に保持する水質制御装置に関する。
従来の技術 ワイヤ放電加工機においては、加工液は通常水が使用さ
れ、該加工液の電導率を所定の電導率に維持するため、
加工液の比抵抗を検出し、該比抵抗値が一定になるよう
にイオン交換器を使って制御している。
放電加工が進行するにつれて、加工液の比抵抗は低下し
ていく。そのため、加工液の比抵抗を比抵抗検出器で検
出し、設定比抵抗値以下になったことを検出すると加工
液をイオン交換器に通し、加工液の比抵抗を高め、所定
の比抵抗値に維持されるよう制御している。
一方、被加工物の材質によっては、加工液の比抵抗を大
幅に上げて加工した方が良い。すなわち、金型製作に使
用されることが多いSKDやSKS鋼材の場合、加工液
の比抵抗は1〜2X10’Ω・cm程度がよいとされ、
鋼材や超鋼材等の被加工物を加工する場合には、加工液
の比抵抗は3〜10×1.04Ω・Cmと大幅に高い値
で加工する方かよいとされている。
j7たがって、例えば5KSE材を加工した後、続いて
銅材を加工しようとすると加工液の比抵抗を大幅に上昇
させる必要がある。
しかし5、これまで、加工液の比抵抗をあげる方法はイ
オン交換器に加工液を循環させるだけなので能率が悪く
、前記のように大幅に上昇させようとすると相当の時間
(1=2時間)を要することがあった なお、比抵抗を下げるには、水道水(比抵抗は通常0.
5×10’Ω・cm程度)を加工液に混入する方法が一
般的に採用されている。
発明が解決しようとする課題 本発明は、ワイヤカット放電加工機に供給する加工液の
比抵抗を、現在値より高い値に設定し7て制御する場合
に、加工液の比抵抗値を速やかに」1昇させることがで
きる水質制御装置の提供を課題とする。
課題を解決するための手段 ワイヤカット放電加工機の加工液供給タンクに高比抵抗
液タンクを併設する。
前記の両タンクを高比抵抗液タンク側からの供給経路で
接続(7、該経路に電磁弁を設ける。
加工液供給タンクに加]二液の比抵抗が設定値以下の場
合に検出出力を出ず比抵抗検出器を配置する。
比抵抗検出器からの検出出力が存在(−でいる間、前記
電磁弁を開駆動する駆動手段を設ける。
前記の比抵抗検出器は、設定値に対して設定した幅量上
に低い比抵抗値のときに検出出力を出すものとすること
がある。
作用 加工液の比抵抗が設定値以下になると、比抵抗検出器が
これを検出(−1検出出力を生じる。駆動手段はこれを
受番」て高比抵抗液タンクからの供給経路における電磁
弁を開き駆動する。これによって高比抵抗液タンクに貯
留された高比抵抗液が加工液供給タンクに導入され、加
工液の比抵抗を速やかに上昇させる。
実施例 第1図に示すように水質制御装置1はワイヤカット放電
加工機が備えた加工液供給ユニット2と高比抵抗液供給
ユニット3との組み合わせからなる。
〔加工液供給ユニット2〕 加工液供給タンク4、第1のイオン交換経路5、フィル
ター経路6および第1の水道水供給経路7を備える。符
号8はワイヤカット放電加工機への加工液供給経路であ
る。
加工液供給タンク4は清タンク9と濁タンク10からな
り、両タンク9,10はフィルター経路6で接続されて
いる。
フィルター経路6は濁タンク1−0側に濾過用ポンプ1
1を、清タンク9側にフィルター12を備える。
清タンク9には第1のイオン交換経路5が接続され、こ
の経路5は清タンク9を出てからイオン交換器用ポンプ
13、メータリレー14の検出電極15、電磁弁16(
2方向切り替え弁)およびイオン交換器17を介して再
び清タンク9に接続され、前記電磁弁1,6からは清タ
ンク9へ直接に還流経路18が接続されている。
第1の水道水供給経路7は水道蛇口から電磁弁19(開
閉弁)を介して清タンク9に接続されている。
なお、加工液供給経路8は清タンク9から吐出用ポンプ
20を介してワイヤカット放電加工機の上・下ノズル2
1に接続され、また、液受はパン22を介して濁タンク
10に接続されるものである。
符号23はオーバフロー防止孔を示す。
〔高比抵抗液供給ユニット〕
高比抵抗液タンク24、第2のイオン交換経路25、第
2の水道水供給経路26および高比抵抗液供給経路27
を備える。
高比抵抗液供給タンク24は比抵抗が高い加工液(高比
抵抗液)を貯留しておくタンクで、フロー)スイッチ2
8を備えると共に第2のイオン交換経路25が接続され
ている。
第2のイオン交換経路25は、高比抵抗液タンク24か
ら出されて、第1のイオン交換経路5と同様にイオン交
換器用ポンプ29、メーターリレー30の検出電極31
、電磁弁32(2方向切り替え弁)およびイオン交換器
33を備えて再び高比抵抗液タンク24に接続され、前
記の電磁弁32からは還流経路34が直接高比抵抗液タ
ンク24に接続されている。
第2の水道水供給経路26は水道蛇口から電磁弁35(
開閉弁)を介して高比抵抗液供給タンク24に接続され
ている。
高比抵抗液供給経路27は、高比抵抗液タンク24から
加工液供給タンク4に高比抵抗液を供給する経路で、高
比抵抗液供給ポンプ36とその加工液供給タンク4側に
電磁弁37(2方向切り替え弁)を備えると共に該電磁
弁37から還流経路38が前記のタンク24に接続され
ている。
以上において、検出電極15を備えたメータリレ=14
(第1のイオン交換経路)、検出電極31を備えたメー
タリレー30(第2のイオン交換経路)は加工液の比抵
抗を検出する比抵抗検出器A、  Bを構成している。
第2図は、比抵抗検出器A関し検出電極15゜メータリ
レー14.電磁弁16と37および19のコイル16’
、37− 19’ との結合関係を示す回路図で、M+
はメータリレー14のメータ、H,Lはリレーで、かつ
その接点を示し、メータM1の両端子には検出電極15
が接続され、該検出電極15で検出した比抵抗値に応じ
て前記メータM1の針が振れ、その針の位置に応じて前
記リレーが動作または非動作となり、その接点をオン。
オフさせ、電磁弁16,37.19を駆動、非駆動させ
るようになっている。リレーLの非作動側接点は符号■
で示すようにリレーF(第4図)と直列に接続されてい
る。
第3図は、このメータM1の針39とリレーの接点H,
Lのオン、オフの関係を説明する説明図で、加工液の比
抵抗の値を上限値40.下限値41の間に設定したとき
、清タンク9内における加工液の比抵抗値が高くメータ
M】の針39が上限値40を超える場合には、接点Hの
リレーが作動し該接点Hをオンにし、上限値40より低
い抵抗の場合は該接点をオフにする。また、設定下限値
41より比抵抗の値が低くなり、針39が下限値41を
超え設定領域を外れると、接点りのリレーが作動し、該
接点りをオンにするようになっている。
なお、リレーHの接点オンでは電磁弁19が開き、リレ
ーLの接点オンでは電磁弁16がイオン交換経路5側に
開となるように切り替わると共に、電磁弁37が供給経
路27側に開となるように切り替わる。リレート1コイ
ル37′は電磁弁37の駆動手段を構成する。
第4図は、比抵抗検出器Bに関し検出電極31およびメ
ータリレー30と電磁弁32のコイル32′ との結合
関係およびフロートスイッチ28と電磁弁35のコイル
35′との結合関係を示す回路図であり、M2はメータ
リレー30のメータ、Dは検出電極31に関する接点を
備えたリレーNはフロートスイッチ28の切り替え部、
F、はフロートスイッチ28に関する接点を備えたリレ
ーを示し、メータM2の両端子には検出電極31が接続
され、該検出電極31で検出した比抵抗値に応じて前記
メータM2の針44が振れ、その針44の位置に応じて
前記リレーDが動作または非動作となり、その接点をオ
ン、オフさせ、電磁弁32を駆動、非駆動させるように
なっている。また、切り替え部Nにはフロートスイッチ
28の上限接点42と下限接点43が接続され、フロー
トの上下に応じて前記リレーFが動作または非動作とな
り、その接点をオン、オフさせ、電磁弁35を駆動、非
駆動させるようになっている。なお、リレーFは前記の
ようにリレーLの非作動側と直列に接続されているので
、リレーLが非作動の場合のみ作動する。
第5図は、このメータM2の針44とリレーDのオン、
オフおよびフロートスイッチ28の上下とリレーFのオ
ン、オフの関係を説明する図で、高比抵抗液供給ユニッ
ト3における高比抵抗液の比抵抗値が設定された下限値
45より比抵抗の値が低くなり、()44が下限値45
を低い側に外れると、リレーDの接点をオンに(7、再
び下限値45を高い側に超過するとオフとなるようにな
っている。また、高比抵抗液タンク24の水位が下限水
位46まで低下すると、フロートスイッチ28、切り替
え部Nを介してリレーFがオンとされ、電磁弁35を開
いて水道水を高比抵抗液タンク24に導入I5、上限水
位47に達すると同様にフロートスイッチ28、切り替
え部Nを介17.てリレーFをオフにし、水道水の供給
を停止するようになっている。
ワイヤカットの加工I程では、加工液供給経路8を介し
て清タンク9から、所定の比抵抗値に制御された加工液
が吐出用ポンプ20によってワイヤカッI・放電加工機
の上・下ノズル21に供給される。そして、放電加丁部
を通った汚濁液は液受はパン22を介して濁タンク10
に回収される。
濁タンク10の汚濁液はフィルター経路6を介15て濾
過用ポンプ11によって清タンク9に送り込まれるが、
途中フィルタ12でスラッジ等固形の不純物が除去され
る。
清タンク9の加工液は第1のイオン交換経路5を介17
てイオン交換器用ポンプ13により検出電極1−5(比
抵抗検出器A)を経由し、加工液の比抵抗の高低によっ
て電磁弁1−6でイオン交換器17側、または還流経路
18側に振り分けられて送り出され、再び清タンク9に
戻される。
高比抵抗液タンク24の高比抵抗液は第2のイオン交換
経路25を介してイオン交換器用ポンプ29により検出
電極31 (比抵抗検出器B)を経由し2、高比抵抗液
に関する抵抗値の高低によって電磁弁32でイオン交換
器33側、または還流経路34側に振り分けられて送り
出され、再び高比抵抗液供給タンク24に戻される。
この場合、高比抵抗液供給ユニッl−3の高比抵抗液は
、後述のようにl〜で比抵抗値が加工液供給ユニット2
における加工液の比抵抗値よりかなり高く(約10倍程
度)維持されている。
加工中、清タンク9内における加工液の比抵抗値が低下
]2、メータMの針39が比抵抗小の方へ移動し7、設
定値のr限値4Iを超えると、接点りのリレーが作動し
、該接点りをオンと(7、電磁弁16.37を駆動し、
これにより、清タンク9からイオン交換器用ポンプi 
3で汲み上げられた加工液は電磁弁I6を通りイオン交
換器17を経由して清タンク9へ戻されると共に、同時
に供給経路27を介して電磁弁37をきおり、高比抵抗
液タンク24の高比抵抗液が清タンク9に注入される。
その結果、ワイヤカット放電加工機に供給される加工液
の比抵抗は急速に増大する。そして、加工液の比抵抗値
が設定領域内に入り、メータMの針39が下限値41−
を超え、設定領域内に入ると接点りのリレーは作動を停
止し、その接点りがオフとなるので電磁弁16.37は
切り替わり、イオン交換器用ポンプi 3で汲み上げら
れた加工液は還流経路18を通ってそのまま清タンク9
に戻り、また、高比抵抗液は還流経路38を通って、そ
のまま高比抵抗液タンク24に戻ることきなる。
電磁弁37が開いて、高比抵抗液が清タンク9に注入さ
れている間、高比抵抗液タンク24の水位が下限水位以
下に下がっても、リレーFは遮断されているから、水道
水が高比抵抗液に混入して比抵抗値が低下1.て1.ま
うこさはない。
そ1.て、加工液の比抵抗値を高い状態とした加工が終
了j7、次に比抵抗値を下げて加工を行うために、メー
タM1の設定領域を比抵抗が低い方に設定1.たとき、
このときのメータM+の針39は比抵抗値の高い位置に
あり、新L <設定された設定領域の上限値40よりも
比抵抗値が高い側にある。そのため、接点Hのり1ノー
が作動シフ、その接点I4をオン表1−5電磁弁19の
コイル19′に電流を流すから電磁弁]9が開き第1−
の水道水供給経路7から水道水が清タンク9に供給され
る。その結果、清タンク9の加工液は水道水が供給され
ることによってその比抵抗が低下し、それにつれ、メー
タMの針39が比抵抗が低い側に移動12、上限値40
より比抵抗値が小さい側になると、リレーHの接点はオ
フとなり、電磁弁19の動作を停止させ水道水の清タン
ク9への供給を停止させる。
この場合、清タンク9に水道水が供給されることから清
タンク9の加工液は清・濁タンク9,10間の隔壁を請
えて濁タンク10に溢流するが、増加した濁タンク10
の加工液はオーバーフロー防止穴23から外部に排出さ
れる。
一方、高比抵抗液供給ユニット3では、前記した第1の
イオン交換経路5に関する作動と同様な第2のイオン交
換経路25の作動によって高比抵抗液タンク24内にお
ける高比抵抗液の比抵抗値が常時下限値45(設定値・
・・必要とする高比抵抗値)に維持される。また、前記
タンク24の水位が下限水位46を低い側に超過すると
フロートスイッチ28、切り替え部NによってリレーF
を介して電磁弁35が開かれ、第2の水道水供給経路2
6から水道水が導入され、そして、水位が上限水位47
に到達すると前記の電磁弁35が閉じられ水道水の供給
が停止される。ただし、この作動は前記のように、清タ
ンク9に高比抵抗液の供給が必要とされない、電磁弁3
7が閉じている時にのみ行われる。
水道水が供給されると高比抵抗液の比抵抗値は大きく低
下し、これを第2のイオン交換経路25で設定値まで回
復するには時間を要するが、次回に高比抵抗液の供給が
必要となるのは、通常かなりの時間をおいてからなので
、充分に余裕を持って回復させることができる。
前記の実施例では、清タンク9の比抵抗が設定幅より低
下した場合、電磁弁16がイオン交換経路5側に切り替
わると同時に電磁弁37も供給経路27側に切り替えら
れて、ただちに高比抵抗液が清タンク9に供給されるよ
うになっているが、比抵抗の低下が軽い場合はイオン交
換経路を開くだけで充分に回復させることができる場合
もあるので、前記の比抵抗検出器Aを設定した設定値に
対し、前記の回復可能な範囲を見越して設定した幅量上
に低い比抵抗値になった時に初めて検出出力を出すもの
とし、電磁弁37の頻繁な作動を抑制することもできる
前記実施例においては、加工液の比抵抗値を検出する検
出電極15とメータリレー14で比抵抗検出器Aを構成
したが、メータリレー14に代え、検出電極15からの
比抵抗検出信号が比抵抗設定領域の上限値より大きくな
った場合又は下限値より小さくなった場合、それぞれ出
力信号を出す回路等によって比抵抗検出器を構成しても
よく、さらに比抵抗検出機構Bに付いても同様であるこ
とはもちろんである。
発明の効果 加工液の比抵抗値をイオン交換器と高比抵抗液の混入に
よってすばやく高めることができ、加工液に関し低い比
抵抗の加工状態から高い比抵抗の加工状態への変更を能
率よく行える。
加工途中において、加工液の比抵抗が低い側に変位して
も高比抵抗液の供給で速やかに回復させることができる
から面粗さなどワイヤカット製品の品質を低下させるこ
とがない。
【図面の簡単な説明】
第1図は本発明の一実施例の概要図、第2図は検出電極
、メータリレーMl、電磁弁のコイルとの結合関係を示
す回路図、第3図はメータリレーの動作説明図、第4図
は検出電極、メータリレーフロートスイッチ、電磁弁の
コイルとの結合関係を示す回路図、第5図はメータリレ
ーM2、フロートスイッチの動作説明図である。 4・・・加工液供給タンク、5,25・・・イオン交換
経路、7.26・・・水道水供給経路、9・・・清タン
ク、10・・・濁タンク、14.30・・・メータリレ
ー15.31・・・検出電極、16.19.32,35
゜37・・・電磁弁、24・・・高比抵抗液タンク、2
7・・・高比抵抗液供給経路。

Claims (2)

    【特許請求の範囲】
  1. (1)ワイヤカット放電加工機が備えた加工液供給タン
    クに高比抵抗液タンクを電磁弁を介した供給経路で接続
    し、加工液供給タンクに加工液の比抵抗が設定値以下の
    場合に検出出力を出す比抵抗検出器を配置すると共に、
    該比抵抗検出器からの検出出力が存在している間、前記
    電磁弁を開駆動する駆動手段を設けたことを特徴とする
    ワイヤカット放電加工機の水質制御装置。
  2. (2)比抵抗検出器が、設定値に対して設定した幅以上
    に低い比抵抗値のときに検出出力を出すものであること
    を特徴とする請求項1に記載したワイヤカット放電加工
    機の水質制御装置。
JP18427590A 1990-07-13 1990-07-13 ワイヤカット放電加工機の水質制御装置 Pending JPH0475820A (ja)

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Cited By (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US7795558B2 (en) * 2006-04-05 2010-09-14 Mitsubishi Electric Corporation Electric discharge machine and electric discharge machining method
JP2011020185A (ja) * 2009-07-13 2011-02-03 Mitsubishi Electric Corp 放電加工機および放電加工方法
JP2011131361A (ja) * 2009-12-25 2011-07-07 Ihi Corp 電解加工装置及び方法

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