JPH0477269A - サーマルヘッドおよびその製造方法 - Google Patents

サーマルヘッドおよびその製造方法

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JPH0477269A
JPH0477269A JP19109090A JP19109090A JPH0477269A JP H0477269 A JPH0477269 A JP H0477269A JP 19109090 A JP19109090 A JP 19109090A JP 19109090 A JP19109090 A JP 19109090A JP H0477269 A JPH0477269 A JP H0477269A
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JP
Japan
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thermal
substrate
dots
heat storage
heat
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JP19109090A
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English (en)
Inventor
Yuuji Nagahamaya
長浜谷 祐二
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Alps Alpine Co Ltd
Original Assignee
Alps Electric Co Ltd
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Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 〔産業上の利用分野) 本発明は、サーマルプリンタに搭載され、印字情報に従
って通電加熱することにより所望の印字を行なうサーマ
ルヘッドに係り、特に、通電により発熱した発熱抵抗体
の隣りの発熱抵抗体への影響を少なくすることができる
サーマルヘッドおよびその製造方法に関する。
〔従来の技術〕
一般に、感熱プリンタ、熱転写プリンタ等のサーマルプ
リンタに搭載されるサーマルヘッドは、例えば、複数の
発熱抵抗体を絶縁性基板上に直線的に整列配置し、印字
情報に従って前記各発熱抵抗体を選択的に通電加熱させ
て、感熱プリンタにおいては感熱記録紙に発色記録させ
、また、熱転写プリンタにおいてはインクリボンのイン
クを溶融して普通紙に転写7録させるようになっている
第3図および第4図はそれぞれこの種のサーマルヘッド
の従来例を示すものであり、アルミナ等の絶縁性基板1
の上面には、蓄熱層として機能するガラスからなるグレ
ーズ層2が、第3図においては上面が平面、第4図にお
いては上面が断面円弧状で、また、厚みと幅が約50μ
mxo、8履となるように部分的に積層されている。こ
のグレズ層2の上面から絶縁性基板1の上面にかけては
、丁a2N、Ta−8iO等からなる複数の発熱抵抗体
3が、蒸着、スパッタリング等により全体的に積層され
た後にフォトリソグラフィ技術のエツチングを行なうこ
とにより直線状に整列して形成されている。これらの各
発熱抵抗体3の両側の上面には、第3図には図示を省略
したが、各発熱抵抗体3に対して通電するための共通電
極4aおよび個別電ff14bがそれぞれ形成きれてい
る。
コレラノ各電極4a、4bは、例えばAN 、Cu、A
u等の等の軟質金属からなり、はぼ2μmの厚みに蒸着
、スパッタリング等により全体的に積層された後にフォ
トリソグラフィ技術のエツチングを行なうことにより所
望の形状のパターンに形成されている。そして、前記各
発熱抵抗体3は、前記共通電極4aおよび個別電極4b
間に、最小印字単位たる1ドツト相当分の発熱ドツト3
Aを露出するようにして各個独立に形成され、この発熱
抵抗体3の発熱ドツト3Aは、前記各電極4a。
4b間に電圧を印加することにより発熱されるようにな
っている。
前記絶縁性基板1、グレーズ層2、各発熱抵抗体3およ
び電極4a、4bの上面には、各発熱抵抗体3および電
極4a、4bを保護するほぼ7〜10μmの膜厚の保護
層5が積層されており、この保護15は、具体的には第
4図に示すように、発熱抵抗体3を酸化による劣化から
保護する8102等からなるほぼ2μmの膜厚の耐酸化
層6と、この酸化層上に積層され感熱記録紙、インクリ
ボン等の感熱記録部材との接触による摩耗から各発熱抵
抗体3および電極4a、4bを保M111′るTa20
5等からなるほぼ5〜8μmの膜厚の耐摩耗層7とから
構成されており、この保護層5は、前記各電極4a、4
bの端子部以外の表面のすべてを被覆するようになって
いる。この保護層5の耐酸化H6および耐摩耗層7は、
スパッタリング等の手段により順次形成されるようにな
っている。
〔発明が解決しようとする課題〕
しかしながら、前述した従来のサーマルヘッドにあって
は、発熱抵抗体3へ通電発熱することによりこの発熱抵
抗体3が発熱し、この熱がグレーズ!2に伝達されるこ
とによりグレーズ層2における蓄熱が生じる。そして、
このグレーズ層2における蓄熱は、グレーズ層2が連続
的に形成されているため、隣りあるいはそれ以上離れた
発熱抵抗体3へ伝達されることとなる。
このような従来のサーマルヘッドを使用して良好な品質
の印字を得るためには、個々の発熱抵抗体3だけでなく
両隣りあるいはそれ以上離れた各発熱抵抗体3の通電履
歴によるグレーズ層2の蓄熱を考慮して、各発熱抵抗体
3への通電時間を変える等の複雑な熱履歴補正が必要と
なる。このため、各発熱抵抗体3の通電履歴によって個
々の発熱抵抗体3の通電時間を補正する大規模なLSI
が必要となり、高価となるばかりでなく、印字速度が低
下することも避けられなかった。
本発明は、このような従来のものにおける問題点を克服
し、各発熱抵抗体の発熱に伴なう熱の他の発熱抵抗体へ
の影響をなくしたサーマルヘッドおよびその製造方法を
提供することを目的とする。
〔課題を解決するための手段〕
前述した目的を達成するため請求項第1項のサーマルヘ
ッドは、熱伝導率の高い材料からなる基板上に、熱伝導
率の低い材料からなる蓄熱層を直線状に複数個のドツト
として形成し、各蓄熱層上に発熱抵抗体の発熱ドツトを
形成したことを特徴としている。
また、請求項第1項において、前記蓄熱層間を前記熱伝
導率の高い材料により形成することもできる。
さらに、請求項第1項または第2項において、前記基板
をシリコンウェハにより形成し、前記蓄熱病を多孔質酸
化シリコンにより形成することができる。
さらにまた、本発明のサーマルヘッドの製造方法、請求
項第3項の多孔質酸化シリコンを、シリコンウェハ上に
陽極酸化および熱酸化処理により形成することを特徴と
している。
〔作 用〕
前述した構成からなる本発明のサーマルヘッドによれば
、熱伝導率の低い材料からなる蓄熱層を個別に形成し各
蓄熱層上に発熱抵抗体の発熱ドツトを形成したので、発
熱した発熱ドツトの熱が、蓄熱層を介して他の発熱抵抗
体の発熱ドツトに伝達されるおそれがない。また、通電
後の発熱抵抗体の発熱ドツト熱は、直下の蓄熱層に蓄熱
されるので、短時間の通電により発熱抵抗体の発熱ドツ
トはピーク温度に達することになり、したがって、良好
な印字速度を維持することができる。
一方、本発明のサーマルヘッドの製造方法によれば、熱
伝導率の低い多孔質酸化シリコンからなる蓄熱層を形成
することができる。
〔実施例〕
以下、本発明を図面に示す実施例により説明する。なお
、本実施例の説明においては、本発明の要部のみについ
て説明し、従来のものと同様の構成については簡略的に
説明する。
第1図は本発明に係るサーマルヘッドの実施例を示すも
のであり、電気的な絶縁性があり、しかも熱伝導率の^
い材料の一例としてのシリコンウェハにより形成されて
いる基板11には、追って形成される複数個の発熱抵抗
体13の実際に印字に寄与する各発熱ドツト13Aに少
なくとも対応するように、複数個の熱伝導率の低い材料
の一例としての多項質酸化シリコンならなる蓄熱層12
がドツトをなすように相互に間隔を隔てて直線状に形成
されている。
前記各蓄熱層12上には、整列配置されている複数個の
発熱抵抗体13の各発熱ドツト13Aが形成されており
、各発熱ドツト13Aの両側の発熱抵抗体13には、図
示しない共通電極および個別電極がそれぞれ接続されて
いる。そして、これらの基板11、各発熱抵抗体13、
共通電極および個別電極上は保護層15により被覆され
ている。
ところで、シリコンウェハからなる前記基板11上に多
孔質酸化シリコンからなる複数個のドツト状の蓄熱M1
2を直線状に形成するためには、まず、第2図Aに示す
基板11上に、第2図Bに示すようにタンタル膜16を
スパッタリングによって、0.1〜0.5μmの膜厚と
なるように形成する。そして、このタンタル116をフ
ォトリソグラフィ技術によって各蓄熱層12の形成予定
領域17のみをエツチングして、基板11の表面を露出
させる。
つぎに、大気中において500℃〜1000℃の温度で
熱酸化を行ない 第2図Cに示すように前記タンタル膜
16上に酸化タンタル膜(Ta205)18を形成する
。この酸化タンタル膜18の厚さは酸化させる温度に依
存している。
また、この際に、前記蓄熱層12の形成予定領域17の
基板1またるシリコンの表面も酸化されて、この部位に
5in2膜19が形成される。
ついで、白金板を陰極にした電解槽に20wt%のフッ
化水素酸水溶液を入れ、前記基板11を陽極として白金
板と対向させ、直流50 m A / ctiの電流密
度で20分間陽極化成を行なう。
このとき、酸化タンタル膜18は不働態膜であり、フッ
化水素酸によって腐蝕されないため、第2図りに示すよ
うに基板11上に形成された酸化タンタル膜18がマス
クの役割を果たし、基板11上の酸化タンタル膜18の
形成されていない部位、すなわち各蓄熱層12の形成予
定領域17のみに厚さ40μm、気孔率80%の多孔質
シリコン層20が形成される。この多孔質シリコン層2
0の厚さは陽極化成する時間によって自由に制御するこ
とが可能である。そこで、この多孔質シリコン層20の
厚さを、その上面が基板11の上面より下方となるよう
にi極化成する時間を設定する。
なお、前記の陽極化成時に酸化タンタル膜18が絶縁破
壊されることが考えられるが、蓄熱層12の形成予定領
域17の面積が小さいので、この領域の基板11の表面
の陽極化成を行なうのに必要な電流密度(50m A 
/ tyi程度)を得るのに必要な電圧は、0.4Vと
小さいため、絶縁破壊は起らない。
つぎに、十分洗浄を行なった後、第2図Eに示すように
、前記基板11上に形成されたタンタルII!16およ
び酸化タンタルl!18をm1塩酸によって除去する。
その後、十分洗浄を行なった後、大気中において850
℃〜1000℃で熱酸化を行ない、多孔質シリコン層2
0を酸化する。また、この酸化はプラズマを用いてもよ
い。
この多孔質シリコン層20の酸化に伴って多孔質シリコ
ン層20の体積が増大し、基板11の表面から隆起した
ポーラスオキサイドの1種としての多孔質酸化シリコン
21の凸部が形成される。
そこで、多孔質酸化シリコン21の凸部を化学的あるい
は機械的に削落することにより、基板11゜の上面と面
一な上面からなる多孔質酸化シリコン21による複数の
蓄熱層12を形成することができる(第2図F)。この
ようにして形成した多孔質酸化シリコン21からなる蓄
熱層12が熱絶縁部となる。また、このとき露出してい
た基板11の表面上には同時にS i 021)I 2
2が0.2〜0.5μm形成される。
このようにして基板11上に熱伝導率の低い多孔質酸化
シリコン21からなる複数個の蓄熱層12を直線状に形
成することができる。なお、各蓄熱層12は、その側面
の上端までもが基板11内に埋設した構成とされている
つぎに、前述した構成からなる本実施例の作用について
説明する。
各発熱抵抗体13の発熱ドツト13Aの下方には、多孔
質酸化シリコン21からなる蓄熱層12が個別に形成さ
れているので、発熱抵抗体13に通電され、発熱抵抗体
13の発熱ドツト13Aが発熱することにより、この熱
の一部は蓄熱層12に伝達されて蓄熱される。したがっ
て、−度通電された後の発熱抵抗体13の発熱ドツト1
3Aは、短かい通電時間により印字のためのピーク温度
に達するため良好な印字速度を維持することができる。
一方、横方向における熱の伝熱は、各蓄熱層12が各発
熱ドツト13Aに対向するように独立しているため熱伝
導率の高いシリコンウェハにより形成されている基板1
1に逃げることになり、したがって、隣りの発熱抵抗体
13に対する熱の影響はほとんど無視することができる
。この結果、各発熱抵抗体13に対する通電時間の制御
においては、その発熱抵抗体13だけの通電履歴を記憶
しておき、この履歴によって各発熱抵抗体13の通電時
間を補正すればよいため、他の発熱抵抗体13の熱履歴
を考膚する必要がなく、熱履歴補正が簡単になるし、ま
た、記憶容量が少なくてすむため低価格化ができるばか
りでなく、処理時間が短かくなるため印字速度の高速化
も可能となる。
なお、本発明は、前述した実施例に限定されるものでは
なく、必要に応じて種々の変更が可能である。例えば、
蓄熱層は、発熱抵抗体の発熱ドツトの直下のみでなく発
熱抵抗体の延在方向にある程度の長さ延在するようにし
てもよい。また、アルミナ基板上にドツト状にガラスグ
レーズからなる蓄熱層を形成して、この上に発熱抵抗体
を形成したり、シリコンウェハに対し部分的に反応性イ
オンエツチングを行ないシリコンウェハを部分的に除去
した上にドツト状にポリイミドからなる蓄熱層を形成し
てこの上に発熱抵抗体を形成してもよい。
ここで、本発明に用いる基板の熱伝導率は10W/7F
LK以上で、蓄熱層としては2W/mK以下の熱伝導率
をもつ材料が適している。
〔発明の効果〕
以上説明したように本発明のサーマルヘッドによれば、
各発熱抵抗体の発熱に伴なう熱の他の発熱抵抗体への影
響をなくすことができ、熱履歴補正を簡単に行なうこと
ができるし、また、記憶容量を少なくして低価格化を達
成できる。さらに、熱履歴補正のための処理時間を短か
くして、印字速度を高速化することができる。
一方、本発明のサーマルヘッドの製造方法によれば、多
孔質酸化シリコンからなる蓄熱層を簡単に形成すること
ができる。
【図面の簡単な説明】 第1図は本発明に係るサーマルヘッドの実施例を示す縦
断面図、第2図A−Fは本発明に係るサーマルヘッドの
製造方法の実施例を示す縦断面図、第3図および第4図
はそれぞれ従来のサーマルヘッドの縦断面図である。 11・・・基板、12・・・蓄熱層、13・・・発熱抵
抗体、13A・・・発熱ドツト、15・・・保護層、1
6・・・タンタル膜、18・・・酸化タンタル膜、20
・・・多孔質シリコン層、21・・・多孔質酸化シリコ
ン。

Claims (1)

  1. 【特許請求の範囲】 1)熱伝導率の高い材料からなる基板上に、熱伝導率の
    低い材料からなる蓄熱層を直線状に複数個のドットとし
    て形成し、各蓄熱層上に発熱抵抗体の発熱ドットを形成
    したことを特徴とするサーマルヘッド。 2)前記蓄熱層間を前記熱伝導率の高い材料により形成
    したことを特徴とする請求項第1項記載のサーマルヘッ
    ド。 3)前記基板をシリコンウェハにより形成し、前記蓄熱
    層を多孔質酸化シリコンにより形成したことを特徴とす
    る請求項第1項または第2項記載のサーマルヘッド。 4)前記多孔質酸化シリコンを、シリコンウェハ上に陽
    極酸化および熱酸化処理により形成することを特徴とす
    る請求項第3項記載のサーマルヘッドの製造方法。
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