JPH0477685A - Ｌｓｉテストモニタ回路 - Google Patents

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 〔概要〕 ＬＳＩチップの内部の複数の機能回路の動作のテストと
モニタを行うＬＳＩテストモニタ回路に関し、 ＬＳＩチップ内に設けるテスト端子の数を最小限に抑え
て回路の実装効率を高くし且つＬＳＩ内部の回路の動作
を外部で的確にモニタ出来るＬＳＩテストモニタ回路の
提供を目的とし、ＬＳＩチップ内の複数の機能回路の相
互間を接続して各回路のモニタ出力とデータ入力を授受
する内部ハスと、該内部バスとの間のデータ入力とモニ
タ出力を接続端子を介し外部から与えられる制御信号Ｃ
により制御する入出力制御部と、該内部バスで接続され
ている複数の機能回路の任意の回路を接続端子を介し外
部から与えされる選択信号Ｓにより選択する選択回路と
を具えるように構成する。

（産業上の利用分野〕 本発明はＬＳＩ内部の動作を細かく観察し正常動作を確
認したり、その動作を初期状態にする所謂リリース時の
故障を検出するための、ＬＳＩテストモニタ回路に関す
る。

〔従来の技術〕

従来のＬＳＩのテストモニタの方法は、第３図の如く、
ＬＳＩチップ１０の内部の複数の機能回路へ１機能回路
Ｂ　−機能回路りの動作の確認の為のテストと、所謂リ
リース時の故障の検出とを、各回路毎に設けたテスト端
子ｔａ、ｔｉ、−・−ｔＤを介して。

外部とテスト信号やシュミレーション信号を授受してモ
ニタし、各回路毎の正常／故障を判断していた。

〔発明が解決しようとする課題〕

然し、上述の従来のＬＳＩのテストモニタの方法は、モ
ニタしたい個々の機能回路毎にテスト端子を設けるので
、ＬＳＩチップの内部の機能回路Ａ、Ｂ……Ｄの数が多
く、その動作が複雑な場合は、少数のテスト端子を介し
た信号の授受では、動作の確認が困難であったり、リリ
ース時の故障検出のシュミレーションで所定の検出率を
得ることが出来なかったりするので９本来はＬＳＩの動
作に無関係の多数のテスト端子Ｌ　Ａ＋　ｔ１１＋’−
”　Ｄを必要とし、ＬＳＩチップ１０の回路実装の効率
が低下すると云う問題があった。

本発明の課題は、ＬＳＩチップ内のテスト端子の数を最
小限に抑えて回路の実装効率を高＜シ。

且つＬＳＩ内部の回路の動作を外部で的確にモニタ出来
るＬＳＩテストモニタ回路の提供にある。

〔課題を解決するための手段〕

この課題は、第１図の原理図の如く、ＬＳＩチップＩＯ
内の複数の機能回路Ａ、Ｂ……Ｄの相互間を接続して各
回路のモニタ出力とデータ入力を授受する内部バス１と
、該内部バスとの間のデータ入力とモニタ出力を接続端
子４１を介し外部から与えられる制御信号Ｃにより制御
する入出力制御部２と、該内部バスで接続されている複
数の機能回路Ａ、Ｂ〜Ｄの任意の回路を１接続端子４２
を介し外部から与えられる選択信号Ｓにより選択する選
択回路３とを具えるように構成した本発明によって解決
される。

〔作用］ 本発明は内部バス１で相互に接続されている複数の機能
回路Ａ、Ｂ……Ｄの任意の回路を、外部から接続端子４
２を介して入力する選択信号Ｓで動作する選択回路３に
より選択し、同様に外部から接続端子４１を介して入力
する制御信号Ｃで動作する入出力制御部２により該選択
した回路へのデータ入力と該回路からのモニタ出力を制
御する。こうすることにより、ＬＳＩチップ１０内の任
意の機能回路へ、必要最小限の数の接続端子４１．４２
により、外部からテストやシュミレーションに必要なデ
ータを入力したり出力して、該回路の動作をモニタする
事が出来る。

〔実施例〕

第２図は本発明の実施例のＬＳＩテストモニタ回路の構
成を示すブロック図である。

第２図の実施例のＬＳＩチップ１０内の機能回路Δ、Ｂ
……Ｄは、例えば、入力データＤｉを処理する速度・系
列変換部１４．補助信号挿入部１５．スクランブル部１
６．信号点配置変換部１７とタイミング生成部１８であ
って出力データＤＯを送出する回路である。

そして本発明の選択回路１２を動作させる選択信号Ｓと
入出力制御部１３を動作させる制御信号Ｃの供給に必要
な最小限の数の外部との接続の為の接続端子４２．４１
を介して、これらの機能回路の中の任意の回路を１選択
回路３で選択し、入出力制御部２により、外部からこれ
らの各回路へのデータ入力と外部へのデータの出力とを
制御する。こうすることにより、ＬＳＩチップ１０内の
任意の機能回路へ、テストやシュミレーションに必要な
データを入力したり、出力して各回路の動作をモニタす
る。

したがって、第２図の本発明の実施例のＬＳＩテストモ
ニタ回路は、ＬＳＩチップ１０内の外部との接続の為の
テスト端子４１．４２の数を最小限に抑え且つＬＳＩ内
部の各回路の状態を該ＬＳＩの外部において的確に把握
できるので問題は無い。

図において、１は内部バス、２は入出力制御部、３は選
択回路、工０はＬＳＩチップ、４１．４２は外部との接
続端子である。

〔発明の効果〕

以上説明した如く、本発明によれば、ＬＳＩに多数のテ
スト端子を設けず必要最小限の数に抑えることが出来る
ので、ＬＳＩ内に実装した多くの回路の各動作状態を把
握できるし、又リリース時の故障の検出率も所定の値を
得る事ができる効果が得られる。

【図面の簡単な説明】

第１図は本発明のＬＳＩテストモニタ回路の基本構成を
示す原理図、 第２図は本発明の実施例のＬＳＩテストモニタ回路の構
成を示すブロック図、 第３図は従来のＬＳＩテストモニタ回路のブロック図で
ある。 第　２　図

Claims (1)

1. 【特許請求の範囲】 ＬＳＩチップの内部の複数の機能回路（Ａ、Ｂ……Ｄ）
   の動作テストとモニタを行うＬＳＩテストモニタ回路に
   おいて、 該ＬＳＩチップ（１０）内の複数の機能回路（Ａ、Ｂ…
   …　Ｄ）の相互間を接続して各回路のモニタ出力とデー
   タ入力を授受する内部バス（１）と、該内部バスとの間
   のデータ入力とモニタ出力を接続端子（４１）を介し外
   部から与えられる制御信号ｃにより制御する入出力制御
   部（２）と、該内部バスで接続されている複数の機能回
   路（Ａ、Ｂ……Ｄ）の任意の回路を接続端子（４２）を
   介し外部から与えられる選択信号ｓにより選択する選択
   回路（３）とを具えることを特徴としたＬＳＩテストモ
   ニタ回路。