JPH0477825A - 制御装置 - Google Patents
制御装置Info
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- JPH0477825A JPH0477825A JP2185829A JP18582990A JPH0477825A JP H0477825 A JPH0477825 A JP H0477825A JP 2185829 A JP2185829 A JP 2185829A JP 18582990 A JP18582990 A JP 18582990A JP H0477825 A JPH0477825 A JP H0477825A
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- 230000004044 response Effects 0.000 claims description 7
- 238000012360 testing method Methods 0.000 description 15
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 8
- 238000012545 processing Methods 0.000 description 6
- 238000000034 method Methods 0.000 description 4
- 230000008569 process Effects 0.000 description 4
- 230000008901 benefit Effects 0.000 description 2
- 230000003247 decreasing effect Effects 0.000 description 2
- 238000004904 shortening Methods 0.000 description 2
- 238000007796 conventional method Methods 0.000 description 1
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- 230000006870 function Effects 0.000 description 1
- 238000012986 modification Methods 0.000 description 1
- 230000004048 modification Effects 0.000 description 1
Landscapes
- Tests Of Electronic Circuits (AREA)
- Advance Control (AREA)
- Test And Diagnosis Of Digital Computers (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
[産業上の利用分野]
本発明は、例えばレジスタ等の複数の制御対象を同時に
且つ高速に制御する制御装置に関し、特にメモリLSI
試験装置のアルゴリズミック・パターン発生器等に好適
な制御装置に関する。
且つ高速に制御する制御装置に関し、特にメモリLSI
試験装置のアルゴリズミック・パターン発生器等に好適
な制御装置に関する。
[従来の技術]
第5図は、メモリLSI試験装置の一例を示すブロック
図である。メモリLSI試験装置は、メモリL S I
であるDUT20に対して、所定の試験パターン、即ち
、アドレスパターン及びデータパターンを与えて書込み
及び読出しを行い、書込みデータと読出しデータとの比
較照合を行うことにより試験を実行する。試験パターン
を発生するための試験プログラムは、記憶手段10から
ホスト・コンピュータ12を介してRAM14に格納さ
れる。RA、M14からアルゴリズミック・パターン発
生器(以下APGという)16に試験プログラムが与え
られることにより、APG16からI10装置18を介
してDUT20に試験パターン、が与えられる。これら
の制御は、ホスト・コンピュータ12により行われる。
図である。メモリLSI試験装置は、メモリL S I
であるDUT20に対して、所定の試験パターン、即ち
、アドレスパターン及びデータパターンを与えて書込み
及び読出しを行い、書込みデータと読出しデータとの比
較照合を行うことにより試験を実行する。試験パターン
を発生するための試験プログラムは、記憶手段10から
ホスト・コンピュータ12を介してRAM14に格納さ
れる。RA、M14からアルゴリズミック・パターン発
生器(以下APGという)16に試験プログラムが与え
られることにより、APG16からI10装置18を介
してDUT20に試験パターン、が与えられる。これら
の制御は、ホスト・コンピュータ12により行われる。
[発明が解決しようとする課題]
近年、メモリLSIの書込み及び読出し動作速度の向上
に伴って、試験速度の高速化、即ち、試験パターンの発
生速度を向上させることが要求されている。このために
は、A、 P Gの動作を制御する制御装置の動作速度
を高速化することが必要である。また、一般に、APG
では、クロックに同期して制御がなされるため、複数の
出力信号(アドレスやデータ)を同時に制御することと
、個々の制御に要する時間を同一にすることが要求され
る。従って、同時に行うべき複数の制御のうち、いくつ
かの制御だけを高速にすることや、ある時点での制御に
要する時間のみを短縮することは、A、 P Gの動作
速度の高速化には寄与しない。つまり、個々の制御を同
時に制御すると共に、全ての制御に要する時間を短縮す
ることが必要条件となる。
に伴って、試験速度の高速化、即ち、試験パターンの発
生速度を向上させることが要求されている。このために
は、A、 P Gの動作を制御する制御装置の動作速度
を高速化することが必要である。また、一般に、APG
では、クロックに同期して制御がなされるため、複数の
出力信号(アドレスやデータ)を同時に制御することと
、個々の制御に要する時間を同一にすることが要求され
る。従って、同時に行うべき複数の制御のうち、いくつ
かの制御だけを高速にすることや、ある時点での制御に
要する時間のみを短縮することは、A、 P Gの動作
速度の高速化には寄与しない。つまり、個々の制御を同
時に制御すると共に、全ての制御に要する時間を短縮す
ることが必要条件となる。
従って、本発明の目的は、上記条件を満たしてAPGの
動作速度を高速化する制御装置を提供することにある。
動作速度を高速化する制御装置を提供することにある。
[課題を解決するだめの手段]
本発明の制御装置は、1個の制御対象と、命令に応じて
上記1個の制御対象のみを制御する制御手段とを含んで
なる制御単位を複数具えている。また、上記命令は、上
記制御対象の状態に関連する条件を示す条件部分と、上
記条件の判断結果の真及び偽に対応して行う制御の内容
を示す制御部分とを含んでいる。
上記1個の制御対象のみを制御する制御手段とを含んで
なる制御単位を複数具えている。また、上記命令は、上
記制御対象の状態に関連する条件を示す条件部分と、上
記条件の判断結果の真及び偽に対応して行う制御の内容
を示す制御部分とを含んでいる。
[作用コ
本発明の制御装置によれば、制御手段の全てに同時に上
記命令を与え、制御対象の全てに対する制御を同時に行
う。また、制御手段は、条件判断部分の条件の真偽を判
断し、判断結果に応じて、制御部分に示された真偽どち
らか一方に対応する制御を実行する。
記命令を与え、制御対象の全てに対する制御を同時に行
う。また、制御手段は、条件判断部分の条件の真偽を判
断し、判断結果に応じて、制御部分に示された真偽どち
らか一方に対応する制御を実行する。
[実施例]
第2図は、本発明の制御装置を適用したメモリL S
I試験装置の構成図である。第5図に対応する部分には
同一符号を何している。試験プログラムを格納したRA
M1.4Aから命令がAPG16Aに与えられる。A、
PG16Aには以下の各部が含まれている。即ち、DU
T (メモリLSI)20のX、 Y、 及びZア
ドレスを発生するXアドレス発生部22.Yアドレス発
生部24.及びZアドレス発生部26、DUT20に書
き込むデータを発生するデータ発生部28、DUT20
に与える制御信号(書込み信号や読出し信号)を発生す
る制御信号発生部30である。APG16で発生したア
ドレス、データ、及び制御信号は、I10装置18によ
り、DUT20に与えられる。また、I10装置18は
、DUT20からの読み出しデータと、書込みデータと
を比較する等の機能も有する。ホストコンピュータ12
は、RA、M]、4A、APG16A、及びI10装置
18に制御信号を与えてDUT20に対する試験が適切
に実行されるように制御を行う。RAM1.4AからA
PGI6Aには、各発生部22〜3oに応じた命令が独
立して同時に与えられる。
I試験装置の構成図である。第5図に対応する部分には
同一符号を何している。試験プログラムを格納したRA
M1.4Aから命令がAPG16Aに与えられる。A、
PG16Aには以下の各部が含まれている。即ち、DU
T (メモリLSI)20のX、 Y、 及びZア
ドレスを発生するXアドレス発生部22.Yアドレス発
生部24.及びZアドレス発生部26、DUT20に書
き込むデータを発生するデータ発生部28、DUT20
に与える制御信号(書込み信号や読出し信号)を発生す
る制御信号発生部30である。APG16で発生したア
ドレス、データ、及び制御信号は、I10装置18によ
り、DUT20に与えられる。また、I10装置18は
、DUT20からの読み出しデータと、書込みデータと
を比較する等の機能も有する。ホストコンピュータ12
は、RA、M]、4A、APG16A、及びI10装置
18に制御信号を与えてDUT20に対する試験が適切
に実行されるように制御を行う。RAM1.4AからA
PGI6Aには、各発生部22〜3oに応じた命令が独
立して同時に与えられる。
第1図は、Xアドレス発生部22の詳細な構成を示すブ
ロック図である。なお、Y、 Zアドレス発生部24
.26やデータ発生部28についても、Xアドレス発生
部22と同様な構成である。先ず、第1図に従って構成
を説明する。Xアドレス発生部22には、3個のレジス
タ、即ち、Aレジスタ46、Cレジスタ56.及びプロ
グラム・カウンタ(以下PCという)66がある。これ
らのレジスタに対して所定の制御2例えば、データのロ
ード、増分、シフト等を行うことにより、Aレジスタ4
6に所望のデータを得る。このようにしてX。
ロック図である。なお、Y、 Zアドレス発生部24
.26やデータ発生部28についても、Xアドレス発生
部22と同様な構成である。先ず、第1図に従って構成
を説明する。Xアドレス発生部22には、3個のレジス
タ、即ち、Aレジスタ46、Cレジスタ56.及びプロ
グラム・カウンタ(以下PCという)66がある。これ
らのレジスタに対して所定の制御2例えば、データのロ
ード、増分、シフト等を行うことにより、Aレジスタ4
6に所望のデータを得る。このようにしてX。
Y、 Zアドレス発生部22〜26で得られたアドレ
ス・データを組み合わせて試験パターンを発生する。第
1図において、Aレジスタ46.Cレジスタ56.及び
PC66を制御するために、命令32.34. 及び
36は、夫々、同時にXアドレス発生部22に与えられ
る。これらの命令は、以下に説明する3つの要素を含ん
でいる。その第1要素は、制御対象の状態、即ち、レジ
スタ状態に関連する条件を示す条件部分である。この条
件とは、例えば、 [レジスタの保持する値が所定の定
数と等しいか」とか、 「所定の2個のレジスタの保持
する値が互いに等しいか」といった予め設定した条件で
ある。第2要素は、制御部分である。
ス・データを組み合わせて試験パターンを発生する。第
1図において、Aレジスタ46.Cレジスタ56.及び
PC66を制御するために、命令32.34. 及び
36は、夫々、同時にXアドレス発生部22に与えられ
る。これらの命令は、以下に説明する3つの要素を含ん
でいる。その第1要素は、制御対象の状態、即ち、レジ
スタ状態に関連する条件を示す条件部分である。この条
件とは、例えば、 [レジスタの保持する値が所定の定
数と等しいか」とか、 「所定の2個のレジスタの保持
する値が互いに等しいか」といった予め設定した条件で
ある。第2要素は、制御部分である。
即ち、第1要素で示した条件が成り立つ場合(真)に当
該レジスタに対して行うべき制御(操作a)を示す制御
部分と、上記条件が成り立たない場合(偽)に当該レジ
スタに対して行うべき制御(操作b)を示す制御部分と
の2つの部分から構成される。第3要素は、当該レジス
タに与えるべきデータを示すデータ部分である。レジス
タ状態の条件の種類に相当する出力信号線を有した比較
器68は、各レジスタ46,56.66に保持される値
及び図示しない定数供給手段からの所定定数を受けて、
あるレジスタ状態が真であれば「1」を、偽であれば「
O」を上記条件に対応する出力信号線に出力する。従っ
て、条件に対応する出力信号線の出力を検出すれば、当
該条件の真偽が判断できる。第2図に示した、X、、
Y、 Zアドレス発生部22,24.26及びデー
タ発生部28間相互に必要なだけの出力信号線を接続す
ることにより、」二記発生部の夫々は、互いに、必要な
条件の真偽を判断できるようになっている。従って、選
択手段40,50.60では、X、 Y、 Z7F
l/スI生部及びデータ発生部における条件のうち必要
なものを選択できるようになっている。デコーダ38は
、命令の第1要素(条件部分)を解読して、それが示す
条件に対応する出力信号線を選択手段40で選択して信
号を得る。そして、それを選択手段42に与える。選択
手段42は、与えられた信号が「1」ならば操作aを選
択し、 「0」ならば操作すを選択し、それをデコーダ
44に与える。
該レジスタに対して行うべき制御(操作a)を示す制御
部分と、上記条件が成り立たない場合(偽)に当該レジ
スタに対して行うべき制御(操作b)を示す制御部分と
の2つの部分から構成される。第3要素は、当該レジス
タに与えるべきデータを示すデータ部分である。レジス
タ状態の条件の種類に相当する出力信号線を有した比較
器68は、各レジスタ46,56.66に保持される値
及び図示しない定数供給手段からの所定定数を受けて、
あるレジスタ状態が真であれば「1」を、偽であれば「
O」を上記条件に対応する出力信号線に出力する。従っ
て、条件に対応する出力信号線の出力を検出すれば、当
該条件の真偽が判断できる。第2図に示した、X、、
Y、 Zアドレス発生部22,24.26及びデー
タ発生部28間相互に必要なだけの出力信号線を接続す
ることにより、」二記発生部の夫々は、互いに、必要な
条件の真偽を判断できるようになっている。従って、選
択手段40,50.60では、X、 Y、 Z7F
l/スI生部及びデータ発生部における条件のうち必要
なものを選択できるようになっている。デコーダ38は
、命令の第1要素(条件部分)を解読して、それが示す
条件に対応する出力信号線を選択手段40で選択して信
号を得る。そして、それを選択手段42に与える。選択
手段42は、与えられた信号が「1」ならば操作aを選
択し、 「0」ならば操作すを選択し、それをデコーダ
44に与える。
デコーダ44は、与えられた操作a又はbに応じた制御
操作をAレジスタ46に対して行う。このとき、命令3
2のデータ部分はAレジスタ46に与えられている。そ
して、上記制御操作の結果、Aレジスタ46が保持する
値が比較器68に与えられる。この値に応じて、比較器
68は、レジスタ状態に応じた信号線の出ツノを「0」
又は「1」に設定する。Aレジスタ46及びそれを制御
する部分についてのみ説明したが、Cレジスタ56及び
PO66についても同様の動作が行われる。上記レジス
タ46,56.66は、制御の対象となるので、これら
を制御対象と呼ぶ。また、この制御対象に対して制御を
行うものを制御手段と呼ぶ。
操作をAレジスタ46に対して行う。このとき、命令3
2のデータ部分はAレジスタ46に与えられている。そ
して、上記制御操作の結果、Aレジスタ46が保持する
値が比較器68に与えられる。この値に応じて、比較器
68は、レジスタ状態に応じた信号線の出ツノを「0」
又は「1」に設定する。Aレジスタ46及びそれを制御
する部分についてのみ説明したが、Cレジスタ56及び
PO66についても同様の動作が行われる。上記レジス
タ46,56.66は、制御の対象となるので、これら
を制御対象と呼ぶ。また、この制御対象に対して制御を
行うものを制御手段と呼ぶ。
例えば、Aレジスタ46に対する制御手段45は、デコ
ーダ38,44、選択手段4.0.42からなる。同様
に、制御対象であるCレジスタ56及びPO26に対し
て、夫々、制御手段55及び65がある。
ーダ38,44、選択手段4.0.42からなる。同様
に、制御対象であるCレジスタ56及びPO26に対し
て、夫々、制御手段55及び65がある。
本発明の制御装置において第1に重要なことは、制御手
段が制御対象(レジスタ)1個のみを制御し、このよう
な制御対象及び制御手段とを含んでなる制御単位が複数
あることと共に、制御手段の全てに同時に命令を与え、
制御対象の夫々に対する制御を同時に行うことである。
段が制御対象(レジスタ)1個のみを制御し、このよう
な制御対象及び制御手段とを含んでなる制御単位が複数
あることと共に、制御手段の全てに同時に命令を与え、
制御対象の夫々に対する制御を同時に行うことである。
これに対し、従来の制御装置では、1個の操作手段は、
それに与えられた命令のオペランド部分で指定された操
作対象を選択すると共に、上記命令のオペコード部分で
指定された操作を上記操作対象に行っていた。
それに与えられた命令のオペランド部分で指定された操
作対象を選択すると共に、上記命令のオペコード部分で
指定された操作を上記操作対象に行っていた。
このため、従来は、操作対象を選択するための選択手段
が必要であり、且つ、その選択のための動=8− 作詩間を要していた。従って、本発明では、従来と違っ
て、制御対象を選択する選択手段及び動作時間が不要と
なることにより制御動作を高速化できる利点が生じる。
が必要であり、且つ、その選択のための動=8− 作詩間を要していた。従って、本発明では、従来と違っ
て、制御対象を選択する選択手段及び動作時間が不要と
なることにより制御動作を高速化できる利点が生じる。
また、本発明で第2に重要なことは、制御手段に与える
命令が、制御対象の状態に関連する条件を示す条件部分
と、この条件判断の結果の真及び偽に対応して行う制御
の内容を示す制御部分とを含んでいることである。従っ
て、制御手段は、条件部分及び制御部分を同時にフェッ
チできるので、条件判断を行うと共に、その判断結果に
応じた制御を直ちに実行できる。これに対して、従来、
制御手段に与えられる条件分岐命令では、条件判断の結
果に応じてジャンプして、新たな命令をフェッチしなけ
ればならない。従って、フェッチのための動作時間を要
する欠点があった。また、条件分岐命令の結果、一方の
分岐では更に無条件分岐命令の実行が必要となり、他方
の分岐ではそれが必要なかった場合には、分岐以後に実
行される命令ステップ数に差が生ずる。換言すれば、条
件分岐の結果によって、制御動作の時間が変動するとい
う欠点がある。なお、従来の制御装置において、命令先
取り(ブリフェッチ)を行ったとしても、フェッチその
ものは必要であり、本発明と違って条件分岐命令に伴な
うフェッチ動作を取り除くことはできない。また、命令
先取りのためには、複雑なハードウェアが必要になると
いう欠点もある。
命令が、制御対象の状態に関連する条件を示す条件部分
と、この条件判断の結果の真及び偽に対応して行う制御
の内容を示す制御部分とを含んでいることである。従っ
て、制御手段は、条件部分及び制御部分を同時にフェッ
チできるので、条件判断を行うと共に、その判断結果に
応じた制御を直ちに実行できる。これに対して、従来、
制御手段に与えられる条件分岐命令では、条件判断の結
果に応じてジャンプして、新たな命令をフェッチしなけ
ればならない。従って、フェッチのための動作時間を要
する欠点があった。また、条件分岐命令の結果、一方の
分岐では更に無条件分岐命令の実行が必要となり、他方
の分岐ではそれが必要なかった場合には、分岐以後に実
行される命令ステップ数に差が生ずる。換言すれば、条
件分岐の結果によって、制御動作の時間が変動するとい
う欠点がある。なお、従来の制御装置において、命令先
取り(ブリフェッチ)を行ったとしても、フェッチその
ものは必要であり、本発明と違って条件分岐命令に伴な
うフェッチ動作を取り除くことはできない。また、命令
先取りのためには、複雑なハードウェアが必要になると
いう欠点もある。
これに対して、本発明は、上述したように従来と違って
、条件分岐命令に伴うフェッチ動作が不要となることに
より動作時間を短縮することが可能となる。
、条件分岐命令に伴うフェッチ動作が不要となることに
より動作時間を短縮することが可能となる。
第3図は、Xアドレス発生部22に与えるプログラムの
一実施例を示す説明図である。図示するように、命令は
、条件部分、制御部分(操作a。
一実施例を示す説明図である。図示するように、命令は
、条件部分、制御部分(操作a。
b)、及びデータ部分からなっている。同一ステップに
おいては、全てのレジスタに対して、同時に制御が実行
されることに注意されたい。
おいては、全てのレジスタに対して、同時に制御が実行
されることに注意されたい。
なお、操作a及びbの欄における命令を予め説明してお
く。
く。
TNC: インクリメント(レジスタの内容を1増す)
LOAD+ ロード(レジスタにデータを格納する)
DEC: デクリメント(レジスタの内容を1減する)
NOP:ノーオペレーション(何も処理しない)第3図
に示したプログラムは、次の動作を行う。
に示したプログラムは、次の動作を行う。
即ち、Xアドレスについて、書込みアドレスとしてO,
I、 2. 3を順次出方した後、読出しアドレスと
して3. 2. 1. Oを順次出力する。以下に各
ステップ毎に詳細に説明する。
I、 2. 3を順次出方した後、読出しアドレスと
して3. 2. 1. Oを順次出力する。以下に各
ステップ毎に詳細に説明する。
(ステップ1)
ステップ1の命令の条件は、 「常に」であるため、操
作aが無条件に行われる。PO26をインクリメントす
る。Aレジスタ46に0をロードする。Cレジスタ56
に3をロードする。
作aが無条件に行われる。PO26をインクリメントす
る。Aレジスタ46に0をロードする。Cレジスタ56
に3をロードする。
(ステップ2)
PO66に対する条件は、 「Aレジスタ46の内容が
Cレジスタ56の内容に等しいが」である。
Cレジスタ56の内容に等しいが」である。
この条件が真ならばPO26をインクリメントし、=1
1 偽であれば何もしない。PO66がインクリメントされ
ない限り、ステップ2が反復されることになる。Aレジ
スタ46に対する条件も、 「Aレジスタ46の内容が
Cレジスタ56に等しいか」である。この条件が真なら
ば何もせず、偽ならばAレジスタ46をインクリメント
する。Cレジスタ56に対する条件は、 「常に」であ
るため、操作aが行われ、処理は何もされない。この結
果、ステップ2では、Aレジスタの内容がOから3まで
1づつ増加する。Aレジスタの内容が3になった次の時
点で、PO66がインクリメントされることによりステ
ップ3に処理が移る。
1 偽であれば何もしない。PO66がインクリメントされ
ない限り、ステップ2が反復されることになる。Aレジ
スタ46に対する条件も、 「Aレジスタ46の内容が
Cレジスタ56に等しいか」である。この条件が真なら
ば何もせず、偽ならばAレジスタ46をインクリメント
する。Cレジスタ56に対する条件は、 「常に」であ
るため、操作aが行われ、処理は何もされない。この結
果、ステップ2では、Aレジスタの内容がOから3まで
1づつ増加する。Aレジスタの内容が3になった次の時
点で、PO66がインクリメントされることによりステ
ップ3に処理が移る。
(ステップ3)
PO66に対する条件は、 「Aレジスタ46の内容が
Oか」である。この条件が真ならばPO66をインクリ
メントし、偽ならば何もしない。Aレジスタ46に対す
る条件も、 [Aレジスタ46の内容がOか]である。
Oか」である。この条件が真ならばPO66をインクリ
メントし、偽ならば何もしない。Aレジスタ46に対す
る条件も、 [Aレジスタ46の内容がOか]である。
この条件が真ならば何も処理せず、偽ならばAレジスタ
46をデクリメントする。Cレジスタ56に対する条件
は、 「常に」であるため、操作aが行われ、処理は何
もなされない。この結果、ステップ3では、Aレジスタ
の内容が3からOまで1づつ減少する。Aレジスタの内
容が0になった次の時点で、PO26がインクリメント
されることによりステップ3の処理が終了し、次のステ
ップ(図示せず)に処理が移る。
46をデクリメントする。Cレジスタ56に対する条件
は、 「常に」であるため、操作aが行われ、処理は何
もなされない。この結果、ステップ3では、Aレジスタ
の内容が3からOまで1づつ減少する。Aレジスタの内
容が0になった次の時点で、PO26がインクリメント
されることによりステップ3の処理が終了し、次のステ
ップ(図示せず)に処理が移る。
第4図は、第3図のプログラムに対応するフローチャー
トである。このフローチャートでは、各ステップでの処
理が順次行われるように表示されているため、第3図の
処理を正確に表すものとはいえないが、処理内容を理解
するために参考までに示した。実際には、第3図で説明
したように、各ステップ内での処理は、夫々同時に実行
されていることに注意されたい。
トである。このフローチャートでは、各ステップでの処
理が順次行われるように表示されているため、第3図の
処理を正確に表すものとはいえないが、処理内容を理解
するために参考までに示した。実際には、第3図で説明
したように、各ステップ内での処理は、夫々同時に実行
されていることに注意されたい。
上記実施例では、Xアドレスのみについて述べたが、Y
、 Zアドレスについても、全く同様に動作する。例
えば、Zアドレスを固定とし、X及びYアドレスの両方
について第3図の処理を行えば、書込みアドレスとして
X及びYアドレスを0〜3に1づつ増加させ、その後、
読出しアドレスとしてX及びYアドレスを3〜0に1づ
つ減少させることができる。説明を簡単にするために、
上述の実施例は極めて単純なプログラムを示したが、実
際は、もっと複雑なパターンを生成するプログラムを実
行する。
、 Zアドレスについても、全く同様に動作する。例
えば、Zアドレスを固定とし、X及びYアドレスの両方
について第3図の処理を行えば、書込みアドレスとして
X及びYアドレスを0〜3に1づつ増加させ、その後、
読出しアドレスとしてX及びYアドレスを3〜0に1づ
つ減少させることができる。説明を簡単にするために、
上述の実施例は極めて単純なプログラムを示したが、実
際は、もっと複雑なパターンを生成するプログラムを実
行する。
なお、第1図に示した実施例の説明では、アドレス発生
部の夫々と、データ発生部とにPCを夫々具える構成と
なっている。従って、全てのアドレス発生部及びデータ
発生部を同時に制御するためには、全てのPCに対して
同じ命令を与える必要がある。しかし、実際には、 1
個のPCを全てのアドレス発生部及びデータ発生部で共
通に使用すればよく、この場合には、PCを1側設けれ
ばよい。従って、アドレス発生部及びデータ発生部の構
成をより簡単にでき、且つ、制御手段に与える命令をよ
り短くできる。
部の夫々と、データ発生部とにPCを夫々具える構成と
なっている。従って、全てのアドレス発生部及びデータ
発生部を同時に制御するためには、全てのPCに対して
同じ命令を与える必要がある。しかし、実際には、 1
個のPCを全てのアドレス発生部及びデータ発生部で共
通に使用すればよく、この場合には、PCを1側設けれ
ばよい。従って、アドレス発生部及びデータ発生部の構
成をより簡単にでき、且つ、制御手段に与える命令をよ
り短くできる。
以上本発明の好適実施例について説明したが、本発明は
ここに説明した実施例のみに限定されるものではなく、
本発明の要旨を逸脱することなく必要に応じて種々の変
形及び変更を実施し得ることは当業者には明らかである
。
ここに説明した実施例のみに限定されるものではなく、
本発明の要旨を逸脱することなく必要に応じて種々の変
形及び変更を実施し得ることは当業者には明らかである
。
[発明の効果]
以上説明したように、本発明の制御装置によれば、制御
手段が1個の制御対象のみを制御すると共に、制御手段
の全てに同時に上記命令を与えることにより、制御対象
の全てに対する制御を同時に行う。従って、従来と違っ
て制御手段が制御対象を選択する動作が不要となるため
、動作を高速化できる。また、制御手段に与える命令が
、制御対象の状態に関連する条件を示す条件部分と、こ
の条件判断の結果の真偽に対応して行う制御部分とを含
んでいる。従って、制御手段は、条件判断及びそれに応
じた制御を直ちに実行できる。このため、従来と違って
、制御手段は、条件判断に伴って新たに命令をフェッチ
する必要がないため、動作時間を短縮できる利点がある
。
手段が1個の制御対象のみを制御すると共に、制御手段
の全てに同時に上記命令を与えることにより、制御対象
の全てに対する制御を同時に行う。従って、従来と違っ
て制御手段が制御対象を選択する動作が不要となるため
、動作を高速化できる。また、制御手段に与える命令が
、制御対象の状態に関連する条件を示す条件部分と、こ
の条件判断の結果の真偽に対応して行う制御部分とを含
んでいる。従って、制御手段は、条件判断及びそれに応
じた制御を直ちに実行できる。このため、従来と違って
、制御手段は、条件判断に伴って新たに命令をフェッチ
する必要がないため、動作時間を短縮できる利点がある
。
第1図は、本発明に関わる制御装置の一実施例における
Xアドレス発生部の詳細を示すブロック図、第2図は、
本発明の制御装置を適用したメモ1.5− リLSI試験装置の一実施例を示すブロック図、第3図
は、Xアドレス発生部に与えるプログラム例の説明図、
第4図は、第3図のプログラム例に対応するフローチャ
ート、第5図は、−船釣なメモリL S I試験装置の
構成を示すブロック図である。 32.34,36:命令 46.56,66: 制御対象(レジスタ)45.55
,65:制御手段
Xアドレス発生部の詳細を示すブロック図、第2図は、
本発明の制御装置を適用したメモ1.5− リLSI試験装置の一実施例を示すブロック図、第3図
は、Xアドレス発生部に与えるプログラム例の説明図、
第4図は、第3図のプログラム例に対応するフローチャ
ート、第5図は、−船釣なメモリL S I試験装置の
構成を示すブロック図である。 32.34,36:命令 46.56,66: 制御対象(レジスタ)45.55
,65:制御手段
Claims (2)
- (1)1個の制御対象と、命令に応じて上記1個の制御
対象のみを制御する制御手段とを含んでなる制御単位を
複数具えた制御装置であって、上記制御手段の全てに同
時に上記命令を与え、上記制御対象の全てに対する制御
を同時に行うことを特徴とする制御装置。 - (2)上記命令は、上記制御対象の状態に関連する条件
を示す条件部分と、上記条件の判断結果の真及び偽に対
応して行う制御の内容を示す制御部分とを含み、上記制
御手段は、上記条件部分の条件の真偽を判断し、判断結
果に応じて、上記制御部分に示された真偽どちらか一方
に対応する制御を実行することを特徴とする請求項1記
載の制御装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP2185829A JP2673602B2 (ja) | 1990-07-13 | 1990-07-13 | 制御装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP2185829A JP2673602B2 (ja) | 1990-07-13 | 1990-07-13 | 制御装置 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH0477825A true JPH0477825A (ja) | 1992-03-11 |
| JP2673602B2 JP2673602B2 (ja) | 1997-11-05 |
Family
ID=16177604
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP2185829A Expired - Lifetime JP2673602B2 (ja) | 1990-07-13 | 1990-07-13 | 制御装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JP2673602B2 (ja) |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| EP1510731A2 (en) | 2003-08-28 | 2005-03-02 | Isuzu Motors Limited | Control system for transmission |
Families Citing this family (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| EP1825479A4 (en) * | 2004-11-18 | 2008-04-16 | Mentor Graphics Corp | METHOD AND DEVICE FOR AN INTEGRATED PROGRAMMABLE MEMORY SELF TEST (MBIST) |
Citations (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS57116269A (en) * | 1981-01-12 | 1982-07-20 | Toshiba Corp | Lsi test pattern generating part |
| JPS57147703A (en) * | 1981-03-10 | 1982-09-11 | Toshiba Corp | Input and output controller |
| JPH0290078A (ja) * | 1988-09-28 | 1990-03-29 | Hitachi Ltd | Ic試験装置 |
-
1990
- 1990-07-13 JP JP2185829A patent/JP2673602B2/ja not_active Expired - Lifetime
Patent Citations (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS57116269A (en) * | 1981-01-12 | 1982-07-20 | Toshiba Corp | Lsi test pattern generating part |
| JPS57147703A (en) * | 1981-03-10 | 1982-09-11 | Toshiba Corp | Input and output controller |
| JPH0290078A (ja) * | 1988-09-28 | 1990-03-29 | Hitachi Ltd | Ic試験装置 |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| EP1510731A2 (en) | 2003-08-28 | 2005-03-02 | Isuzu Motors Limited | Control system for transmission |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JP2673602B2 (ja) | 1997-11-05 |
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