JPH0480343B2 - - Google Patents
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- JPH0480343B2 JPH0480343B2 JP58031154A JP3115483A JPH0480343B2 JP H0480343 B2 JPH0480343 B2 JP H0480343B2 JP 58031154 A JP58031154 A JP 58031154A JP 3115483 A JP3115483 A JP 3115483A JP H0480343 B2 JPH0480343 B2 JP H0480343B2
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- 238000001514 detection method Methods 0.000 claims description 11
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- 230000003213 activating effect Effects 0.000 claims 2
- 230000010355 oscillation Effects 0.000 claims 2
- 238000000034 method Methods 0.000 description 8
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- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 5
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- 238000003825 pressing Methods 0.000 description 3
- UQONAEXHTGDOIH-AWEZNQCLSA-N O=C(N1CC[C@@H](C1)N1CCCC1=O)C1=CC2=C(NC3(CC3)CCO2)N=C1 Chemical compound O=C(N1CC[C@@H](C1)N1CCCC1=O)C1=CC2=C(NC3(CC3)CCO2)N=C1 UQONAEXHTGDOIH-AWEZNQCLSA-N 0.000 description 1
- 238000011946 reduction process Methods 0.000 description 1
Classifications
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01R—MEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
- G01R23/00—Arrangements for measuring frequencies; Arrangements for analysing frequency spectra
- G01R23/16—Spectrum analysis; Fourier analysis
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01R—MEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
- G01R23/00—Arrangements for measuring frequencies; Arrangements for analysing frequency spectra
- G01R23/16—Spectrum analysis; Fourier analysis
- G01R23/18—Spectrum analysis; Fourier analysis with provision for recording frequency spectrum
Landscapes
- Physics & Mathematics (AREA)
- Mathematical Physics (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Measurement Of Resistance Or Impedance (AREA)
- Measurement Of Current Or Voltage (AREA)
Description
【発明の詳細な説明】
本発明は、スペクトラムアナライザ、特に掃引
方式のスペクトラムアナライザにおいて、自動同
調設定キーを設け、該キーを押すことにより、ゼ
ロビートを除く初期設定された周波数帯全域を最
初に掃引し、その範囲内で最大レベルの信号を検
出し、掃引周波数スパンを順次狭くするとともに
基準レベルを修正しつつ予め設定された周波数ス
パンにおいて、その最大レベルのスペクトラムを
CRT管面の中央部に表示するようにしたスペク
トラムアナライザに関するものである。
方式のスペクトラムアナライザにおいて、自動同
調設定キーを設け、該キーを押すことにより、ゼ
ロビートを除く初期設定された周波数帯全域を最
初に掃引し、その範囲内で最大レベルの信号を検
出し、掃引周波数スパンを順次狭くするとともに
基準レベルを修正しつつ予め設定された周波数ス
パンにおいて、その最大レベルのスペクトラムを
CRT管面の中央部に表示するようにしたスペク
トラムアナライザに関するものである。
従来のスペクトラムアナライザにおいて、周波
数スパンを狭くし被測定入力信号のスペクトラム
を拡大して測定するには、まず、周波数スパンを
広くして被測定入力信号をとらえ、そのスペクト
ラムをCRT管面の中央部に表示するように周波
数同調ノブを回しながら、次に周波数スパンを順
次狭く設定してゆくことを繰返し行つていた。そ
のため所望の周波数スパンでスペクトラムを得る
には繰返し操作を行わなければならず手間がかか
る欠点があつた。これらの欠点を改善するため、
シグナルトラツクという機能、すなわち、CRT
管面の最大レベルの信号を中心部に自動的に表示
する機能が提案されている。しかしながこの機能
は被測定入力信号より大きなゼロビートがCRT
管面に含まれていると、これに同調してしまう欠
点があり、さらに、まずCRT管面に周波数スパ
ンを広くして被測定入力信号を予めとらえてお
き、当該CRT管面に表示しておかなければなら
ず、従がつて最初に被測定入力信号に対し手動に
よる同調操作を必要とする欠点があつた。
数スパンを狭くし被測定入力信号のスペクトラム
を拡大して測定するには、まず、周波数スパンを
広くして被測定入力信号をとらえ、そのスペクト
ラムをCRT管面の中央部に表示するように周波
数同調ノブを回しながら、次に周波数スパンを順
次狭く設定してゆくことを繰返し行つていた。そ
のため所望の周波数スパンでスペクトラムを得る
には繰返し操作を行わなければならず手間がかか
る欠点があつた。これらの欠点を改善するため、
シグナルトラツクという機能、すなわち、CRT
管面の最大レベルの信号を中心部に自動的に表示
する機能が提案されている。しかしながこの機能
は被測定入力信号より大きなゼロビートがCRT
管面に含まれていると、これに同調してしまう欠
点があり、さらに、まずCRT管面に周波数スパ
ンを広くして被測定入力信号を予めとらえてお
き、当該CRT管面に表示しておかなければなら
ず、従がつて最初に被測定入力信号に対し手動に
よる同調操作を必要とする欠点があつた。
本発明は、前記の欠点を解決することを目的と
しており、自動同調設定キーを押すことにより、
目的とする最大レベルの信号を迅速にかつ自動的
にCRT管面の中央部に表示するスペクトラムア
ナライザを提供することを目的としている。以下
図面を参照しながら説明する。
しており、自動同調設定キーを押すことにより、
目的とする最大レベルの信号を迅速にかつ自動的
にCRT管面の中央部に表示するスペクトラムア
ナライザを提供することを目的としている。以下
図面を参照しながら説明する。
第１図は本発明に係るスペクトラムアナライザ
の構成図、第２図は本発明に係るスペクトラムア
ナライザの具体的一実施例構成、第３図は自動同
調を説明しているCRT管面の波形図、第４図は
本発明に係るスペクトラムアナライザの自動同調
を得る処理の一実施例フローチヤートを示してい
る。
の構成図、第２図は本発明に係るスペクトラムア
ナライザの具体的一実施例構成、第３図は自動同
調を説明しているCRT管面の波形図、第４図は
本発明に係るスペクトラムアナライザの自動同調
を得る処理の一実施例フローチヤートを示してい
る。
第１図において、まず最初に、指令手段１７に
より第２の記憶手段１１に予め記憶されている所
定の中心周波数、所定の周波数スパンを掃引信号
発生回路４に設定し、所定の基準レベルをレベル
増減手段５に設定する。被測定入力信号は周波数
変換回路１で周波数変換されるが、この周波数変
換は指令手段１７によつて掃引信号発生回路４か
ら出力するランプ電圧に基づいて局部発振器３か
ら発生する掃引信号によつてなされる。ミキサ２
から出力された中間周波レベル増減手段５によつ
てそのレベルが増減され、検波器６に入力する。
検波器６で検波された検波出力はアナログーデイ
ジタル変換器７でデイジタル化される。このアナ
ログ−デイジタル変換器７はクロツク信号（図示
せず）により検波出力をデイジタル信号に順次変
換する装置であり、このデイジタル信号は周波数
に対応した検波出力としてメモリ９に記憶され
る。
より第２の記憶手段１１に予め記憶されている所
定の中心周波数、所定の周波数スパンを掃引信号
発生回路４に設定し、所定の基準レベルをレベル
増減手段５に設定する。被測定入力信号は周波数
変換回路１で周波数変換されるが、この周波数変
換は指令手段１７によつて掃引信号発生回路４か
ら出力するランプ電圧に基づいて局部発振器３か
ら発生する掃引信号によつてなされる。ミキサ２
から出力された中間周波レベル増減手段５によつ
てそのレベルが増減され、検波器６に入力する。
検波器６で検波された検波出力はアナログーデイ
ジタル変換器７でデイジタル化される。このアナ
ログ−デイジタル変換器７はクロツク信号（図示
せず）により検波出力をデイジタル信号に順次変
換する装置であり、このデイジタル信号は周波数
に対応した検波出力としてメモリ９に記憶され
る。
メモリ９に記憶された前記検波波形は、制御回
路８により順次読出され、表示装置１０に表示さ
れる。その際制御回路８内の検出手段１３は表示
装置１０に表示される検波波形の最大レベルとそ
の周波数とを検出する。制御回路８の検出手段１
３で検出した最大レベルを基準レベルとするよう
に、基準レベル設定手段１５はレベル増減手段５
を設定する。ここで基準レベルとは表示装置の基
準目盛位置に相当する信号レベルを言う。
路８により順次読出され、表示装置１０に表示さ
れる。その際制御回路８内の検出手段１３は表示
装置１０に表示される検波波形の最大レベルとそ
の周波数とを検出する。制御回路８の検出手段１
３で検出した最大レベルを基準レベルとするよう
に、基準レベル設定手段１５はレベル増減手段５
を設定する。ここで基準レベルとは表示装置の基
準目盛位置に相当する信号レベルを言う。
一方前記検出手段１３で検出した最大レベルの
周波数を次回の掃引信号の中心周波数とする値
が、中心周波数設定手段１４により設定される。
当該中心周波数設定手段１４により設定された値
と、縮小周波数スパン設定手段１６により前記所
定の周波数スパンより縮小された周波数スパンの
値とが掃引信号発生回路４に入力し、局部発振器
３から前記最大レベルの周波数を中心とする縮小
した掃引信号を発生させるランプ電圧を作動手段
１８の命令により、掃引信号発生回路４が作り出
す。このようにして、作動手段１８により掃引信
号発生回路４を作動させると、前記設定された基
準レベルのもとに、前記設定された中心周波数及
び縮小された周波数スパンの掃引が被測定入力信
号に対して行われる。このような掃引のスパンを
縮小するサイクルが、第１の記憶手段１２に記憶
されている所望の周波数スパンになるまで繰返さ
れる。そして所望の周波数スパンに至つたとき、
最大レベルのスペクトラムが表示装置１０の中央
部に表示されている。
周波数を次回の掃引信号の中心周波数とする値
が、中心周波数設定手段１４により設定される。
当該中心周波数設定手段１４により設定された値
と、縮小周波数スパン設定手段１６により前記所
定の周波数スパンより縮小された周波数スパンの
値とが掃引信号発生回路４に入力し、局部発振器
３から前記最大レベルの周波数を中心とする縮小
した掃引信号を発生させるランプ電圧を作動手段
１８の命令により、掃引信号発生回路４が作り出
す。このようにして、作動手段１８により掃引信
号発生回路４を作動させると、前記設定された基
準レベルのもとに、前記設定された中心周波数及
び縮小された周波数スパンの掃引が被測定入力信
号に対して行われる。このような掃引のスパンを
縮小するサイクルが、第１の記憶手段１２に記憶
されている所望の周波数スパンになるまで繰返さ
れる。そして所望の周波数スパンに至つたとき、
最大レベルのスペクトラムが表示装置１０の中央
部に表示されている。
以下具体的一実施例について第２図以降の図面
を参照しながら説明する。
を参照しながら説明する。
第２図において、１ないし４，６，７，９，１
０は第１図のものに対応している。
０は第１図のものに対応している。
周波数変換回路１内のミキサ２に入力した被測
定入力信号は、局部発振器３からの掃引周波数に
よつて中間周波数の信号に周波数変換される。局
部発振器３は例えば周波数シンセサイザで構成さ
れており、その掃引信号の中心周波数は後に説明
する制御回路８からの制御信号で定められ、掃引
信号発生回路４からの制御信号で掃引周波数スパ
ンが定められる掃引信号を発生させている。周波
数変換回路１で得られた中間周波数の信号は中間
周波数増幅器１０５で適宜された後、検波器６で
検波される。そして検波されたアナログ信号はア
ナログーデイジタル変換器７でデイジタル化され
る。デイジタル化された被測定入力信号のデータ
は制御回路８が指定するメモリ９のアドレスに格
納される。この制御回路８の構成、動作は後に詳
しく説明する。メモリ９に格納された被測定入力
信号のデータは制御回路８の指示により読出さ
れ、CRT表示装置１０に転送されてCRT管面に
そのスペクトラムが表示される。CRT管面の基
準レベルは、例えば中間周波増幅器１０５の利得
を制御回路８が指定することにより設定される。
定入力信号は、局部発振器３からの掃引周波数に
よつて中間周波数の信号に周波数変換される。局
部発振器３は例えば周波数シンセサイザで構成さ
れており、その掃引信号の中心周波数は後に説明
する制御回路８からの制御信号で定められ、掃引
信号発生回路４からの制御信号で掃引周波数スパ
ンが定められる掃引信号を発生させている。周波
数変換回路１で得られた中間周波数の信号は中間
周波数増幅器１０５で適宜された後、検波器６で
検波される。そして検波されたアナログ信号はア
ナログーデイジタル変換器７でデイジタル化され
る。デイジタル化された被測定入力信号のデータ
は制御回路８が指定するメモリ９のアドレスに格
納される。この制御回路８の構成、動作は後に詳
しく説明する。メモリ９に格納された被測定入力
信号のデータは制御回路８の指示により読出さ
れ、CRT表示装置１０に転送されてCRT管面に
そのスペクトラムが表示される。CRT管面の基
準レベルは、例えば中間周波増幅器１０５の利得
を制御回路８が指定することにより設定される。
ところで、１１１は周波数スパン設定キーであ
り、CRT管面に表示させるべき周波数スパンを
設定するキーである。１１２は自動同調設定キー
であり、該自動同調設定キー１１２を押すことに
より、局部発振器３から前もつて初期設定された
周波数帯の全域を掃引する掃引信号を発生させ、
全域の周波数を掃引し、その中から制御回路８は
最大レベルの被測定入力信号を検出するととも
に、最大レベルの周波数を中心とし、周波数スパ
ンを縮小する制御信号を掃引信号発生回路４を介
して局部発振器３へ送出し、CRT表示装置１０
のCRT管面に表示される周波数スパンが前記周
波数スパン設定キー１１１で予め設定された所望
周波数スパンに至るまで繰返し、周波数スパを縮
小して掃引する処理を行い、最大レベルのスペク
トラム（信号）をCRT管面の中央部に自動的に
表示させるキーである。
り、CRT管面に表示させるべき周波数スパンを
設定するキーである。１１２は自動同調設定キー
であり、該自動同調設定キー１１２を押すことに
より、局部発振器３から前もつて初期設定された
周波数帯の全域を掃引する掃引信号を発生させ、
全域の周波数を掃引し、その中から制御回路８は
最大レベルの被測定入力信号を検出するととも
に、最大レベルの周波数を中心とし、周波数スパ
ンを縮小する制御信号を掃引信号発生回路４を介
して局部発振器３へ送出し、CRT表示装置１０
のCRT管面に表示される周波数スパンが前記周
波数スパン設定キー１１１で予め設定された所望
周波数スパンに至るまで繰返し、周波数スパを縮
小して掃引する処理を行い、最大レベルのスペク
トラム（信号）をCRT管面の中央部に自動的に
表示させるキーである。
前記制御回路８は、自動同調設定キー１１２を
押したとき、前もつて初期設定された周波数帯の
全域を掃引し被測定入力信号の中から最大レベル
を検出するとともに、周波数スパンが順次縮小さ
れたときの縮小周端数スパン内で最大レベルを検
出する最大レベル検出手段と、最大レベルの周波
数を算出する最大レベル周波数算出手段と、該最
大レベルの周波数を中心周波数にして局部発振器
３から順次縮小した掃引信号を発振させるための
制御信号を掃引信号発生回路４を介して前記局部
発振器３へ送出する掃引周波数制御手段と、縮小
周波数スパンの中から検出された最大レベルを基
準レベルとする基準レベル設定手段と、前記掃引
周波数制御手段によりCRT管面に表示される周
波数スパンと周波数スパン設定キー１１１で設定
された周波数スパンとを比較する周波数スパン比
較手段とを備えており、通常のスペクトラムアナ
ライザ機能を行なう演算手段、メモリ制御手段等
を備えている。これらはマイクロプロセツサ、そ
の制御部、ROM及びRAM等によつて実現され
ている。
押したとき、前もつて初期設定された周波数帯の
全域を掃引し被測定入力信号の中から最大レベル
を検出するとともに、周波数スパンが順次縮小さ
れたときの縮小周端数スパン内で最大レベルを検
出する最大レベル検出手段と、最大レベルの周波
数を算出する最大レベル周波数算出手段と、該最
大レベルの周波数を中心周波数にして局部発振器
３から順次縮小した掃引信号を発振させるための
制御信号を掃引信号発生回路４を介して前記局部
発振器３へ送出する掃引周波数制御手段と、縮小
周波数スパンの中から検出された最大レベルを基
準レベルとする基準レベル設定手段と、前記掃引
周波数制御手段によりCRT管面に表示される周
波数スパンと周波数スパン設定キー１１１で設定
された周波数スパンとを比較する周波数スパン比
較手段とを備えており、通常のスペクトラムアナ
ライザ機能を行なう演算手段、メモリ制御手段等
を備えている。これらはマイクロプロセツサ、そ
の制御部、ROM及びRAM等によつて実現され
ている。
今周波数スパン設定キー１１１で任意の値に設
定した後、自動同調設定キー１１２を押す。これ
により制御回路８の掃引周波数制御手段から、設
定された周波数の全域を掃引させる制御信号が掃
引信号発生回路４を介して、局部発振器３へ送ら
れる。また、基準レベルは最大入力レベルに設定
しておく。そしてすでに説明した如く、メモリ９
には第１回目に行つた全域を掃引した被測定入力
信号のデータが格納されている。制御回路８はメ
モリ９に格納された被測定入力信号のデータを順
次読出し、最大レベル検出手段によつて最大レベ
ルを検出する。この最大レベルを検出するに当
り、当該最大レベルの信号が格納されていたメモ
リ９のアドレスを監視しており、該アドレスから
その周波数を最大レベル周波数算出手段によつて
算出する。この最大レベルの周波数を中心周波数
とする制御信号が直接局部発振器３へ、また掃引
周波数スパンを縮小させる制御信号が掃引信号発
生回路４を介して前記局部発振器３へ送られる。
これにより局部発振器３は掃引周波数スパンが縮
小された、そして最大レベルのスペクトラムが
CRT管面の中央部に表示されるように縮小周波
数スパンの掃引信号を発振させる。従つてメモリ
９は縮小された縮小周波数スパン内の被測定入力
信号のデータで書換えられる。制御回路８はメモ
リ９の内容を新たなデータで書換える際、前記検
出の最大レベルを基準レベルとして再び最大レベ
ルを検出し、最大レベル周波数算出手段によつて
メモリ９に格納されていたアドレスを基に当該最
大レベルの周波数を算出する。このようにして得
られた最大レベルを基準レベルとし、かつその周
波数を中心周波数として掃引周波数スパンを縮小
する処理を掃引周波数制御手段が実行する。この
ように最大レベルの周波数を中心として掃引周波
数スパンを縮小してゆく処理が繰返される。
定した後、自動同調設定キー１１２を押す。これ
により制御回路８の掃引周波数制御手段から、設
定された周波数の全域を掃引させる制御信号が掃
引信号発生回路４を介して、局部発振器３へ送ら
れる。また、基準レベルは最大入力レベルに設定
しておく。そしてすでに説明した如く、メモリ９
には第１回目に行つた全域を掃引した被測定入力
信号のデータが格納されている。制御回路８はメ
モリ９に格納された被測定入力信号のデータを順
次読出し、最大レベル検出手段によつて最大レベ
ルを検出する。この最大レベルを検出するに当
り、当該最大レベルの信号が格納されていたメモ
リ９のアドレスを監視しており、該アドレスから
その周波数を最大レベル周波数算出手段によつて
算出する。この最大レベルの周波数を中心周波数
とする制御信号が直接局部発振器３へ、また掃引
周波数スパンを縮小させる制御信号が掃引信号発
生回路４を介して前記局部発振器３へ送られる。
これにより局部発振器３は掃引周波数スパンが縮
小された、そして最大レベルのスペクトラムが
CRT管面の中央部に表示されるように縮小周波
数スパンの掃引信号を発振させる。従つてメモリ
９は縮小された縮小周波数スパン内の被測定入力
信号のデータで書換えられる。制御回路８はメモ
リ９の内容を新たなデータで書換える際、前記検
出の最大レベルを基準レベルとして再び最大レベ
ルを検出し、最大レベル周波数算出手段によつて
メモリ９に格納されていたアドレスを基に当該最
大レベルの周波数を算出する。このようにして得
られた最大レベルを基準レベルとし、かつその周
波数を中心周波数として掃引周波数スパンを縮小
する処理を掃引周波数制御手段が実行する。この
ように最大レベルの周波数を中心として掃引周波
数スパンを縮小してゆく処理が繰返される。
CRT管面に表示された被測定入力信号の掃引
周波数スパンが周波数スパン設定キー１１１で予
め設定された周波数スパンに到達すると、周波数
スパン比較手段から掃引周波数スパン縮小処理を
中止させる信号が送られ、前記掃引周波数制御手
段は周波数スパン設定キー１１１で設定された周
波数スパンに設定される。従つてメモリ９に格納
されるデータは局部発振器３から発振する掃引周
波数毎にほゞ同一のデータで書換えられる。この
メモリ９に格納されたデータを読出すことによつ
てCRT表示装置１０のCRT管面に表示される被
測定入力信号のスペクトラムは最大レベルの信号
を中央部に、設定された周波数スパンで表示され
ていることになる。
周波数スパンが周波数スパン設定キー１１１で予
め設定された周波数スパンに到達すると、周波数
スパン比較手段から掃引周波数スパン縮小処理を
中止させる信号が送られ、前記掃引周波数制御手
段は周波数スパン設定キー１１１で設定された周
波数スパンに設定される。従つてメモリ９に格納
されるデータは局部発振器３から発振する掃引周
波数毎にほゞ同一のデータで書換えられる。この
メモリ９に格納されたデータを読出すことによつ
てCRT表示装置１０のCRT管面に表示される被
測定入力信号のスペクトラムは最大レベルの信号
を中央部に、設定された周波数スパンで表示され
ていることになる。
ここで周波数スパンを順次狭くして最大レベル
をとらえるのは、周波数分解能との関係で広い周
波数スパンを掃引する場合、被測定入力信号を粗
くしかとらえることができず、これによつて検出
された最大レベルの信号を更に詳細にとらえんが
ためである。
をとらえるのは、周波数分解能との関係で広い周
波数スパンを掃引する場合、被測定入力信号を粗
くしかとらえることができず、これによつて検出
された最大レベルの信号を更に詳細にとらえんが
ためである。
次に第３図の自動同調を説明しているCRT管
面の波形図、及び第４図のフローチヤートを用い
て具体的な一例を説明する。
面の波形図、及び第４図のフローチヤートを用い
て具体的な一例を説明する。
周波数スパン設定キー１１１でCRT管面２１
に最終的に表示される周波数スパンを任意の値に
設定した後、自動同調設定キー１１２を押す（第
４図３１）。基準レベルを当該スペクトラムアナ
ライザの最大レベル＋25dBmで、ゼロビートを
除いて初期設定された周波数帯の全域、例えば
10MHz〜2GHz（この周波数帯の初期設定は前も
つて設定、または外部より設定）を最初に掃引し
（（第４図３２）、そのスペクトラムのデイジタル
化されたデータをメモリ９に格納する。制御回路
８はアドレス信号を出力し、メモリ９に格納され
たデータを読出し最大レベルを検出するが、最大
レベルが存在する場合は第３図（）の如く波形
２２のピーク点にマーカ点２３を移動させる。
に最終的に表示される周波数スパンを任意の値に
設定した後、自動同調設定キー１１２を押す（第
４図３１）。基準レベルを当該スペクトラムアナ
ライザの最大レベル＋25dBmで、ゼロビートを
除いて初期設定された周波数帯の全域、例えば
10MHz〜2GHz（この周波数帯の初期設定は前も
つて設定、または外部より設定）を最初に掃引し
（（第４図３２）、そのスペクトラムのデイジタル
化されたデータをメモリ９に格納する。制御回路
８はアドレス信号を出力し、メモリ９に格納され
たデータを読出し最大レベルを検出するが、最大
レベルが存在する場合は第３図（）の如く波形
２２のピーク点にマーカ点２３を移動させる。
雑音レベル以上、例えば−25dBm以上にピー
ク点が存在しないときは、前記基準レベルを下げ
て再度掃引し（第４図３３）、最大レベルの検出
を行うと同時に、当該最大レベルの信号が格納さ
れていたメモリ９のアドレスに基づいて最大レベ
ルの周波数ｆを算出する（第４図３４）。
ク点が存在しないときは、前記基準レベルを下げ
て再度掃引し（第４図３３）、最大レベルの検出
を行うと同時に、当該最大レベルの信号が格納さ
れていたメモリ９のアドレスに基づいて最大レベ
ルの周波数ｆを算出する（第４図３４）。
算出された最大レベルの周波数ｆを中心周波数
にし、また最大レベルを基準レベルとする（第４
図３５）。そして縮小周波数スパンを計算し（第
４図３６）、計算された縮小周波数スパン、例え
ば100MHzが周波数スパン設定キー１１１で設定
された設定周波数スパンより大きいか小さいかの
判断処理が行われる（第４図３７）。縮小周波数
スパン100MHzが設定周波数スパンより大きけれ
ば、第３図（）の如く周波数スパン100MHz
（この周波数スパン100MHzは前記説明の如く、制
御回路８によつて自動的に設定される）にして、
当該縮小周波数スパン100MHzで掃引が行われる
（第４図３８）。従がつて当該縮小周波数スパン
100MHzでのスペクトラムのデータがメモリ９に
格納される。メモリ９に格納された新たなデータ
を制御回路８は順次読出し、その内で最大レベル
とその周波数f0とを検出し（第４図３４）、第３
図（）の如く波形２２のピークにマーカ点２３
を移動させる。
にし、また最大レベルを基準レベルとする（第４
図３５）。そして縮小周波数スパンを計算し（第
４図３６）、計算された縮小周波数スパン、例え
ば100MHzが周波数スパン設定キー１１１で設定
された設定周波数スパンより大きいか小さいかの
判断処理が行われる（第４図３７）。縮小周波数
スパン100MHzが設定周波数スパンより大きけれ
ば、第３図（）の如く周波数スパン100MHz
（この周波数スパン100MHzは前記説明の如く、制
御回路８によつて自動的に設定される）にして、
当該縮小周波数スパン100MHzで掃引が行われる
（第４図３８）。従がつて当該縮小周波数スパン
100MHzでのスペクトラムのデータがメモリ９に
格納される。メモリ９に格納された新たなデータ
を制御回路８は順次読出し、その内で最大レベル
とその周波数f0とを検出し（第４図３４）、第３
図（）の如く波形２２のピークにマーカ点２３
を移動させる。
ここで縮小周波数スパンを100MHzにすると、
ゼロビートがCRT管面２１に出てくるような場
合は、掃引開始周波数が例えば9MHz以上となる
ように周波数スパンの制御を行い、ゼロビートが
CRT管面２１に出ないようにする。
ゼロビートがCRT管面２１に出てくるような場
合は、掃引開始周波数が例えば9MHz以上となる
ように周波数スパンの制御を行い、ゼロビートが
CRT管面２１に出ないようにする。
最小周波数スパン100MHzでの最大レベルの周
波数を中心周波数に、また最大レベルを基準レベ
ルに修正をする（第４図３５）。そして縮小周波
数スパンを計算し（第４図３６）、計算された縮
小周波数スパン10MHzが周波数スパン設定キー１
１１で設定された設定周波数スパンより大きいか
小さいかの判断処理が再び行われる（第４図３
７）。縮小周波数スパン10MHzが設定周波数スパ
ンより大きれば、第３図（）の如く周波数スパ
ン10MHz（この周波数スパン10MHzも自動的に設
定される）にして、当該縮小周波数スパン10MHz
で掃引が行われる（第４図３８）。従つて当該縮
小周波数スパン10MHzでのスペクトラムデータが
メモリ９に格納され、このデータが順次制御回路
８に読出される。当該縮小周波数スパン10MHz内
で最大レベルとその周波数f0′とを検出し（第４
図３４）第３図（）の如く波形２２のピークに
マーカ点２３を移動させる。以下前述と同様の過
程が繰返される。そして例えば縮小波数スパンが
１／１０ずつ減少された値に狭められてゆき、そのつ
ど波形のピークにマーカ点２３を移動させ、マー
カ点２３の周波数を中心周波数に、中心周波数マ
ーカ点２３のレベルを基準レベルにして掃引が行
われる。この繰返しの処理は周波数スパン設定キ
ー１１１で予め設定された周波数スパンになるま
で行われる。ただし、例えば周波数スパン設定キ
ー１１１で予め設定された周波数スパンが5KHz
の場合、縮小周波数スパンが10KHzの次はその1/
１０の1KHzであるが縮小周波数スパン1KHzが周波
数スパン設定キー１１１で予め設定された周波数
スパン5KHzより小さいので、予め設定された設
定周波数スパン5KHzで掃引し（第４図３９）、第
３図（）の如く、中心周波数f0″を最大レベル
とするスペクトラムがCRT管面２１の中央部に
表示される。
波数を中心周波数に、また最大レベルを基準レベ
ルに修正をする（第４図３５）。そして縮小周波
数スパンを計算し（第４図３６）、計算された縮
小周波数スパン10MHzが周波数スパン設定キー１
１１で設定された設定周波数スパンより大きいか
小さいかの判断処理が再び行われる（第４図３
７）。縮小周波数スパン10MHzが設定周波数スパ
ンより大きれば、第３図（）の如く周波数スパ
ン10MHz（この周波数スパン10MHzも自動的に設
定される）にして、当該縮小周波数スパン10MHz
で掃引が行われる（第４図３８）。従つて当該縮
小周波数スパン10MHzでのスペクトラムデータが
メモリ９に格納され、このデータが順次制御回路
８に読出される。当該縮小周波数スパン10MHz内
で最大レベルとその周波数f0′とを検出し（第４
図３４）第３図（）の如く波形２２のピークに
マーカ点２３を移動させる。以下前述と同様の過
程が繰返される。そして例えば縮小波数スパンが
１／１０ずつ減少された値に狭められてゆき、そのつ
ど波形のピークにマーカ点２３を移動させ、マー
カ点２３の周波数を中心周波数に、中心周波数マ
ーカ点２３のレベルを基準レベルにして掃引が行
われる。この繰返しの処理は周波数スパン設定キ
ー１１１で予め設定された周波数スパンになるま
で行われる。ただし、例えば周波数スパン設定キ
ー１１１で予め設定された周波数スパンが5KHz
の場合、縮小周波数スパンが10KHzの次はその1/
１０の1KHzであるが縮小周波数スパン1KHzが周波
数スパン設定キー１１１で予め設定された周波数
スパン5KHzより小さいので、予め設定された設
定周波数スパン5KHzで掃引し（第４図３９）、第
３図（）の如く、中心周波数f0″を最大レベル
とするスペクトラムがCRT管面２１の中央部に
表示される。
上記の説明ではデイジタル化されたデータをメ
モリ９に格納した後、メモリ９からデータを順に
読出し、最大レベルとその周波数を検出するよう
にしているが、デイジタル化されたデータをメモ
リ９に格納しながらその周波数スパン内での最大
レベルとその周波数を検出する処理を行うことも
できる。
モリ９に格納した後、メモリ９からデータを順に
読出し、最大レベルとその周波数を検出するよう
にしているが、デイジタル化されたデータをメモ
リ９に格納しながらその周波数スパン内での最大
レベルとその周波数を検出する処理を行うことも
できる。
また最初の掃引周波数を10MHz〜2GHzとした
が、この初期設定値は任意に前もつて、または外
部より任意に設定できるものであり、任意に設定
された周波数帯内での最大レベルの自動追跡が行
われることは言うまでもない。
が、この初期設定値は任意に前もつて、または外
部より任意に設定できるものであり、任意に設定
された周波数帯内での最大レベルの自動追跡が行
われることは言うまでもない。
以上説明した如く、本発明によれば、最初に予
め設定された周波数帯内の全域を周波数掃引を行
い、その中から最大レベルの信号を抽出し、その
周波数を中心周波数にして、かつ基準レベルを修
正しつつ掃引周波数スパンを順次縮小しているの
で、自動的に最大レベルの信号を追跡し、それを
CRT管面の中央部に表示することができ、表示
すべき周波数スパンを予め設定した値まで狭くす
ることができる。そして同調操作が人手を介さず
に自動的に行われ、測定時間が短縮化される。
め設定された周波数帯内の全域を周波数掃引を行
い、その中から最大レベルの信号を抽出し、その
周波数を中心周波数にして、かつ基準レベルを修
正しつつ掃引周波数スパンを順次縮小しているの
で、自動的に最大レベルの信号を追跡し、それを
CRT管面の中央部に表示することができ、表示
すべき周波数スパンを予め設定した値まで狭くす
ることができる。そして同調操作が人手を介さず
に自動的に行われ、測定時間が短縮化される。
第１図は本発明に係るスペクトラムアナライザ
の構成図、第２図は本発明に係るスペクトラムア
ナライザの具体的一実施例構成、第３図は自動同
調を説明しているCRT管面の波形図、第４図は
本発明に係るスペクトラムアナライザの自動同調
を得る処理の一実施例フローチヤートを示してい
る。 図中、１は周波数変換回路、２はミキサ、３は
局部発振器、４は掃引信号発生回路、５はレベル
増減手段、６は検波器、７はアナログ−デイジタ
ル変換器、８は制御回路、９はメモリ、１０は表
示装置、１１は第１の記憶手段、１２は第２の記
憶手段、１３は検出手段、１４は中心周波数設定
手段、１５は基準レベル設定手段、１６は縮小周
波数スパン設定手段、１７は指令手段、１８は作
動手段、１０５は中間周波増幅器、１１１は周波
数スパン設定キー、１１２は自動同調設定キーを
それぞれ表わしている。
の構成図、第２図は本発明に係るスペクトラムア
ナライザの具体的一実施例構成、第３図は自動同
調を説明しているCRT管面の波形図、第４図は
本発明に係るスペクトラムアナライザの自動同調
を得る処理の一実施例フローチヤートを示してい
る。 図中、１は周波数変換回路、２はミキサ、３は
局部発振器、４は掃引信号発生回路、５はレベル
増減手段、６は検波器、７はアナログ−デイジタ
ル変換器、８は制御回路、９はメモリ、１０は表
示装置、１１は第１の記憶手段、１２は第２の記
憶手段、１３は検出手段、１４は中心周波数設定
手段、１５は基準レベル設定手段、１６は縮小周
波数スパン設定手段、１７は指令手段、１８は作
動手段、１０５は中間周波増幅器、１１１は周波
数スパン設定キー、１１２は自動同調設定キーを
それぞれ表わしている。
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 １ 被測定入力信号を周波数変換する局部発振器
３及びミキサ２を備えた周波数変換回路１と、前
記局部発振部の発振周波数を掃引させる掃引信号
発生回路４と、該周波数変換回路の出力信号のレ
ベルを増減するレベル増減手段５と、該増減され
たレベルを検波する検波器６と、該検波器で検波
された信号をデイジタル信号に変換するアナログ
−デイジタル変換器７と、該アナログ−デイジタ
ル変換器の出力を被測定入力信号の周波数に対応
して記憶するメモリ９と、該メモリの出力を表示
する表示装置１０と、制御回路８とを備えたスペ
クトラムアナライザであつて：該制御回路が (a) 所望の周波数スパンを記憶する第１の記憶手
段１２と、 (b) 所定の中心周波数、所定の周波数スパン及び
所定の基準レベルを記憶する第２の記憶手段１
１と、 (c) 該第２の記憶手段に記憶された所定値に基づ
いて前記レベル増減手段５を設定し、かつ前記
掃引信号発生回路４を作動させる指令手段１７
と、 (d) 該作動により前記メモリ９に記憶された出力
信号のうち最大レベルの出力信号と該最大レベ
ルに対応する被測定信号の周波数とを検出する
検出手段１３と、 (e) 該検出された最大レベルの出力信号が基準レ
ベルになるように前記レベル増減手段を設定す
る基準レベル設定手段１５と (f) 該検出された周波数を中心周波数とする中心
周波数設定手段１４と、 (g) 前記所定の周波数スパンから前記所望の周波
数スパンに向けて順次縮小された周波数スパン
を設定する縮小周波数スパン設定手段１６と、 (h) 前記設定された基準レベルのもとに、前記設
定された中心周波数及び縮小された周波数スパ
ンによつて該周波数スパンが前記所望の周波数
スパンに一致するまで順次繰返して前記掃引信
号発生回路を作動せしめる作動手段１８とを備
え、被測定入力信号中の最大レベルの信号のレ
ベルを基準レベルとし、その信号を所望の周波
数スパンの中心に表示するようにしたことを特
徴とするスペクトラムアナライザ。
Priority Applications (2)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP58031154A JPS59157574A (ja) | 1983-02-27 | 1983-02-27 | スペクトラムアナライザ |
| US06/583,047 US4611164A (en) | 1983-02-27 | 1984-02-23 | Spectrum analyzer with automatic peak frequency tuning function |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP58031154A JPS59157574A (ja) | 1983-02-27 | 1983-02-27 | スペクトラムアナライザ |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS59157574A JPS59157574A (ja) | 1984-09-06 |
| JPH0480343B2 true JPH0480343B2 (ja) | 1992-12-18 |
Family
ID=12323521
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP58031154A Granted JPS59157574A (ja) | 1983-02-27 | 1983-02-27 | スペクトラムアナライザ |
Country Status (2)
| Country | Link |
|---|---|
| US (1) | US4611164A (ja) |
| JP (1) | JPS59157574A (ja) |
Families Citing this family (30)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS6189563A (ja) * | 1984-10-08 | 1986-05-07 | Advantest Corp | スペクトラムアナライザ |
| US4947338A (en) * | 1986-08-22 | 1990-08-07 | Tektronix, Inc. | Signal identification method |
| JP2627501B2 (ja) * | 1987-03-06 | 1997-07-09 | アンリツ株式会社 | スペクトラムアナライザ |
| JPH0769364B2 (ja) * | 1987-03-06 | 1995-07-31 | アンリツ株式会社 | スペクトラムアナライザ |
| US4845691A (en) * | 1987-06-02 | 1989-07-04 | Anritsu Corporation | Group delay time measurement apparatus with automatic aperture value setting function |
| JP2577566B2 (ja) * | 1987-07-01 | 1997-02-05 | アンリツ株式会社 | スペクトラムアナライザ |
| US4839582A (en) * | 1987-07-01 | 1989-06-13 | Anritsu Corporation | Signal analyzer apparatus with automatic frequency measuring function |
| US4858159A (en) * | 1987-10-19 | 1989-08-15 | Hewlett-Packard Company | Frequency-tuneable filter calibration |
| JPH01181216A (ja) * | 1988-01-12 | 1989-07-19 | Aikomu Kk | 受信信号のスペクトラム表示装置 |
| US4890236A (en) * | 1988-04-01 | 1989-12-26 | Hewlett-Packard Company | Method and apparatus for aiding manual instrument settings by displaying estimates of future measurement results |
| JP2766685B2 (ja) * | 1988-09-26 | 1998-06-18 | アンリツ株式会社 | スペクトラムアナライザ |
| JPH0769365B2 (ja) * | 1989-01-10 | 1995-07-31 | アンリツ株式会社 | スペクトラムアナライザ |
| US4998217A (en) * | 1989-05-01 | 1991-03-05 | Motorola, Inc. | Sweep generator linearization system and method |
| US5579463A (en) * | 1990-03-30 | 1996-11-26 | Anritsu Corporation | Waveform display apparatus of frequency sweep type for facilitating display of a high definition waveform |
| EP0664457A3 (en) * | 1990-03-30 | 1996-05-22 | Anritsu Corp | Waveform display device, to easily perform high definition observation. |
| US5119017A (en) * | 1990-10-12 | 1992-06-02 | Westinghouse Electric Corp. | Bandwidth analysis system and method |
| US5617523A (en) * | 1990-11-30 | 1997-04-01 | Anritsu Corporation | Waveform display apparatus for easily realizing high-definition waveform observation |
| US5122731A (en) * | 1991-02-25 | 1992-06-16 | The United States Of America As Represented By The Administrator, National Aeronautics And Space Adnministration | Method and apparatus for frequency spectrum analysis |
| WO1993005403A1 (fr) * | 1991-09-02 | 1993-03-18 | Advantest Corporation | Analyseur de spectre |
| US5550747A (en) * | 1994-03-07 | 1996-08-27 | Hewlett-Packard Company | Unbounded marker for spectrum analysis |
| JPH11118848A (ja) * | 1997-10-14 | 1999-04-30 | Advantest Corp | スペクトラムアナライザ |
| JPH11133072A (ja) * | 1997-10-27 | 1999-05-21 | Advantest Corp | スペクトラムアナライザ測定方法 |
| US6242899B1 (en) * | 1998-06-13 | 2001-06-05 | Lecroy Corporation | Waveform translator for DC to 75 GHz oscillography |
| US6225972B1 (en) | 1998-08-13 | 2001-05-01 | Snap-On Tools Company | Oscilloscope display with rail indicator |
| US6344735B1 (en) * | 1999-04-07 | 2002-02-05 | Advantest Corporation | Spectrum analyzer and spectrum measuring method using the same |
| DE10350224B4 (de) * | 2003-10-27 | 2007-07-26 | Sartorius Ag | Verfahren zur Bestimmung von Feuchte und Dichte eines dielelektrischen Materials |
| DE10350063A1 (de) * | 2003-10-27 | 2005-05-25 | Rohde & Schwarz Gmbh & Co. Kg | Verfahren und Vorrichtung zur Messung von Funkstörpegeln mit Frequenznachführung |
| US8942938B2 (en) * | 2011-10-06 | 2015-01-27 | Icf International, Inc. | Electromagnetic spectrum aerial surveying |
| US9858240B2 (en) | 2012-12-13 | 2018-01-02 | Tektronix, Inc. | Automatic center frequency and span setting in a test and measurement instrument |
| US20210325437A1 (en) * | 2020-04-19 | 2021-10-21 | Research Electronics International, Llc | Cached Peak Graphical Display for Spectrum Analyzers |
Family Cites Families (7)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US3382436A (en) * | 1965-07-22 | 1968-05-07 | Singer Co | Panoramic solid-lined and dotted graphic display systems |
| US3641515A (en) * | 1970-09-10 | 1972-02-08 | Us Air Force | Spectrum analyzer |
| US4264958A (en) * | 1978-08-10 | 1981-04-28 | Hewlett-Packard Company | Video processor for a spectrum analyzer |
| US4253152A (en) * | 1978-08-10 | 1981-02-24 | Hewlett-Packard Company | Spectrum analyzer with parameter updating from a display marker |
| US4244024A (en) * | 1978-08-10 | 1981-01-06 | Hewlett-Packard Company | Spectrum analyzer having enterable offsets and automatic display zoom |
| US4257104A (en) * | 1978-08-10 | 1981-03-17 | Hewlett-Packard Company | Apparatus for spectrum analysis of an electrical signal |
| GB2034900B (en) * | 1978-11-17 | 1982-10-20 | Marconi Instruments Ltd | Spectrum analyser |
-
1983
- 1983-02-27 JP JP58031154A patent/JPS59157574A/ja active Granted
-
1984
- 1984-02-23 US US06/583,047 patent/US4611164A/en not_active Expired - Lifetime
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPS59157574A (ja) | 1984-09-06 |
| US4611164A (en) | 1986-09-09 |
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