JPH0480644A - 碍子汚損量測定方法 - Google Patents

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 〔産業上の利用分野〕 この発明は懸垂碍子や長幹碍子などに付着した塩分、硫
化物、硫酸塩、石膏、あるいはセメントなどを含んだ汚
損物の量を測定することができる碍子汚損量測定方法に
関するものである。

〔従来の技術〕

一般に、送電線の支持碍子の塩害などによる絶縁低下に
起因する地絡事故を未然に防止するため、碍子に付着し
た汚損物を等価塩分付着密度として正確に把握すること
か重要である。このような汚損量測定方法として、水を
貯留した洗浄槽内で被測定碍子を超音波振動作用を利用
して洗浄し、洗浄後の汚損水の電導度を測定して、この
電導度から汚損量を演算する測定方法や、前もって複数
の電極が焼き付けである被測定碍子を使用して、表面を
均等に湿潤させた状態で電極間の抵抗を測定して汚損量
を求める測定方法があった。

〔発明が解決しようとする課題〕

ところが、前者の超音波洗浄方法は、碍子の被洗浄表面
が必ず洗浄水に浸されていなければならないので、長幹
碍子のように形状が複雑でない碍子の汚損量測定には適
用できるが、懸垂碍子のように複雑な表面形状の碍子の
汚損量測定には適用できないという問題があった。

一方、後者の測定方法は碍子表面を均等に湿潤させるの
に時間かかかり、又、表面抵抗から汚損量に換算するた
め測定精度が低くなるという問題かあった。

なお、懸垂碍子の汚損量を測定する従来の方法として、
碍子表面に付着したｌ汚損物を水分を含浸した綿等によ
り拭き取り、汚損物を所定量の水に溶解させた後、その
汚損水の電導度を測定して汚損量を演算する方法もあっ
たか、これは汚損量測定作業か面倒で長時間を要し、台
風等による急速汚損時での測定作業が危険であるという
問題があった。

この発明の目的は上記従来の問題点を解消して、汚損量
の測定作業能率を向上することかできるとともに、測定
精度を向上し、懸垂碍子のような複雑な形状の碍子の汚
損量測定にも適用できる碍子汚損量測定方法を提供する
ことにある。

〔課題を解決するための手段〕

請求項１記載の発明は、上記目的を達成するため、洗浄
水供給源から碍子洗浄槽内へ洗浄水を供給して洗浄槽内
を清掃した後、被測定碍子を暴露位置から洗浄槽内に移
動し、清掃後の洗浄水を洗浄槽から排出し、前記洗浄水
供給源から洗浄水を洗浄槽内の被測定碍子に噴射して碍
子表面を洗浄し、さらに、電導度肝により洗浄後の汚損
水の電導度を測定し、演算制御装置により前記電導度か
ら予め測定又は設定しておいた洗浄水用タンクの洗浄水
の固有電導度を減算し、被測定碍子の塩分付着密度を演
算するという方法をとっている。

又、請求項２記載の発明は洗浄水供給源から碍子洗浄槽
内へ洗浄水を供給して洗浄槽内を清掃するとともに、清
掃後の洗浄水を洗浄槽から排出し、次に、所定量の洗浄
水を洗浄槽内に供給して電導度肝により洗浄水固有の電
導度を測定し、その後、被測定碍子を暴露位置から洗浄
槽内に移動し、測定後の洗浄水を洗浄槽から排出し、次
に前記洗浄水供給源から所定量の洗浄水を洗浄槽内の被
測定碍子に噴射して碍子表面を洗浄し、さらに、電導度
肝により洗浄後の汚損水の電導度を測定し、この被測定
碍子の洗浄後に得られた電導度から前記洗浄水固有の電
導度を演算制御装置により減算し、この減算された電導
度から被測定碍子の塩分付着密度を演算するという方法
をとっている。

さらに、請求項３記載の発明は、請求項１又は２記載の
碍子汚損量測定方法において、被測定碍子の洗浄後の汚
損水の電導度を測定した後、碍子洗浄槽から汚損水を排
出し、洗浄水供給源から碍子洗浄槽内へ洗浄水を供給し
て洗浄槽内を清掃するという方法をとっている。

〔作　用〕

請求項１記載の発明は、洗浄水供給源から碍子洗浄槽内
へ洗浄水を供給して洗浄槽内の清掃を行なうので、洗浄
槽内に付着している残留汚損物が除去されるため、被測
定碍子の汚損量の測定精度が向上する。又、被測定碍子
の碍子表面を洗浄した汚損水の電導度から予め測定又は
設定しておいた洗浄水固有の電導度を減算し、この減算
結果に基づいて汚損量を演算するので、被測定碍子の汚
損量の測定精度が向上する。

又、請求項２記載の発明は、所定量の洗浄水を洗浄槽内
に供給して電導度肝により洗浄水固有の電導度を測定す
るので、請求項１記載の発明よりも測定精度か向上する
。

さらに、請求項３記載の発明は、被測定碍子の洗浄後の
汚損水の電導度の測定後、碍子洗浄槽から汚損水を排出
し、洗浄水供給源から碍子洗浄槽内へ洗浄水を供給して
洗浄槽内を洗浄清掃するので、洗浄槽内に付着して残留
する汚損物の量を減少して、次回の汚損量の測定精度を
向上することができる。

〔実施例〕

以下、請求項１記載の発明の碍子汚損量測定方法に使用
される汚損量測定装置を第２図に基づいて説明する。

第２図に示すように、洗浄水用タンク１には給水管路２
を介して碍子洗浄槽３か接続され、前記給水管路２の途
中には給水用ポンプ４と常閉型の電磁弁ＳＶＩか接続さ
れている。又、前記ポンプ４には第１及び第２のバイパ
ス管路５，６が接続され、第１バイパス管路５には手動
弁Ｖが接続され、第２バイパス管路６には常開型の電磁
弁ＳＶ２か接続されている。そして、電磁弁Ｓ　Ｖ　］
を閉鎖した状態でポンプ４を起動すると、洗浄水用タン
ク１内の洗浄水がポンプ４により給水管路２から第２バ
イパス管路６及び電磁弁Ｓ　Ｖ　２を通り前記タンク１
へ還元される。このとき手動弁Ｖの開口量を調節するこ
とによりポンプ４か定速回転している状態で、洗浄水の
水圧が調整され、電磁弁ＳＶＩを開放した状態でポンプ
４を所定時間（所定回転数）回転した時の洗浄水の供給
量が調節される。

前記洗浄槽３には所定圧力の洗浄水をダミー碍子２８や
被測定碍子２７の表面に噴射して碍子表面の汚損物を洗
浄するための噴射ノズル７が適数箇所に配置されている
。

前記洗浄槽３内には電導度計１０が設けられ、該洗浄槽
３内に貯留した洗浄水の電導度を測定できるようになっ
ている。又、前記洗浄槽３の下面には排水管路１４が接
続され、該管路１４の途中に排水用電磁弁ＳＶ３が接続
されている。

前記電導度計１０はり一ト線１５により演算制御装置１
６に接続されている。この演算制御装置１６は制御部１
７と演算部１８とにより構成され、前記制御部１７は、
ポンプ４、電磁弁ＳＶＩ〜ＳＶ３、及び次に述べる被測
定碍子２６．２７の昇降機構２４などに動作信号を出力
するようになっている。又、演算部１８は電導度計１０
から出力された電導度に基づいて碍子の塩分付着密度な
どを演算することが可能である。

碍子昇降機構２４の支持棒２５の下端部には二連の被測
定碍子２６．２７及び−個のダミー碍子２８が昇降動作
可能に支持されている。そして、常時はダミー碍子２８
の外周が洗浄槽３の上部内周面に接触した状態で装設さ
れている。又、被測定碍子２６．２７のうち例えば被測
定碍子２７の汚損量を測定する際には、洗浄槽３か二つ
に分割された状態で支持棒２５が下降して被測定碍子２
７が洗浄槽３の所定位置に降下された後、再び洗浄槽３
を合体させて被測定碍子２７の外周縁を密閉した状態で
、噴射ノズル７から所定量の洗浄水を被測定碍子２７の
裏面に吹き付けて汚損物の洗浄を行なう。

又、洗浄槽３内の清掃を行なう場合には、ダミー碍子２
８の外周縁を洗浄槽３の内周縁に接触した状態で噴射ノ
ズル７から洗浄水を噴射させてダミー碍子２８の裏面及
び洗浄槽３の内周面などを洗浄水により洗浄する。

次に、前述した碍子汚損量測定装置により、請求項１記
載の発明を具体化した第１実施例の測定方法を説明する
。

この第１実施例の測定方法では前記制御装置１６に予め
洗浄水の固有の電導度Ｒ１が記憶されているものとする
。

第２図に示すように、ダミー碍子２８か洗浄槽３を閉鎖
した状態で、制御部１７に図示しないスイッチから測定
開始信号か入力されると、第１図のステップＳ１におい
て、洗浄水用タンク１がら碍子洗浄槽３内へ洗浄水が供
給され洗浄槽３内が清掃される。次に、ステップＳ２に
おいて、被測定碍子２７が暴露位置から洗浄槽３内に移
動された状態で、ステップＳ３において、清掃後の洗浄
水か洗浄槽３から排出され、次に、ステップＳ４におい
て、前記洗浄水用タンク１から洗浄水が洗浄槽３内の被
測定碍子２７に噴射されて碍子２７裏面が洗浄され、さ
らに、ステップＳ５において、電導度肝ｌＯにより洗浄
後の汚損水の電導度Ｒ２が測定され、ステップＳ６にお
いて、演算制御装置１６により前記電導度Ｒ２から予め
測定又は設定しておいた洗浄水用タンク１の洗浄水の固
有電導度Ｒ１が減算され、ステップＳ７において、前記
減算型導度に基づいて被測定碍子２７の塩分付着密度が
演算される。

又、前記ステップＳ５の終了後、ステップＳ８において
被測定碍子２７が測定位置から暴露位置へ移動され、ダ
ミー碍子２８が第２図に示すように洗浄槽３と対応し、
初期状態に復帰する。

このように前記実施例では、洗浄水用タンク１から碍子
洗浄槽３内へ洗浄水を供給して洗浄槽３内を清掃するよ
うにしたので、前回の測定時に碍子洗浄槽３内に付着し
ていた汚損物を除去して、測定精度を向上することがで
きる。

又、前記実施例では、汚損水の電導度Ｒ２から予め測定
又は設定しておいた洗浄水の固有電導度Ｒ１を減算し、
この減算型導度に基ついて被測定碍子２７の塩分付着密
度を演算するので、汚損量の測定精度を向上することか
できる。

さらに、碍子裏面を洗浄水により洗浄して汚損物を除去
するようにしたので、測定作業を迅速に行うことができ
るとともに、懸垂碍子等の複雑な形状の碍子の汚損量の
測定作業に適用することもできる。

次に、第２図とほぼ同様の測定装置を使用して請求項２
記載の発明を具体化した第２実施例の碍子の汚損量測定
方法を第３図により説明する。

この第２実施例の測定方法は前記第１実施例の測定方法
と比較して、第３図のステップＳｌ。

８２、Ｓ３．Ｓ４．Ｓ５．Ｓ７．Ｓ８は第１図と同様で
あり、次の点が異なる。すなわち、第３図のステップ８
２ａ、Ｓ２ｂに示すように、洗浄水の固有電導度Ｒ１ａ
を、所定量の洗浄水を碍子洗浄槽３内に供給して電導度
肝ｌＯにより実測し、ステップＳ２ｂにおいて、その洗
浄水を洗浄槽３から排出してステップＳ４に移行すると
ともに、ステップＳ６において、汚損水の測定型導度Ｒ
２から洗浄水の実測固有電導度Ｒ１ａを減算し、この減
算型導度に基づいて、碍子の汚損量を演算するようにし
ている。従って、第２実施例の測定方法は、第１実施例
の測定方法と比較して、測定精度をさらに向上すること
ができる。

次に、請求項２記載の発明を具体化した第３実施例の測
定方法を実施する測定装置を第４図及び第５図により説
明する。

前記洗浄槽３には管路８を介して測定用タンク９が接続
されている。この測定用タンク９には電導度肝ｌＯが設
けられ、該タンク９内に貯留した洗浄水の電導度を測定
できるようになっている。

又、前記測定用タンク９の内部には洗浄水を攪拌するた
めの攪拌羽根１１が収容され、該羽根１１はモータ１２
の回転軸１３に取付られている。さらに、測定用タンク
９の下面には排水管路１４が接続され該管路１４の途中
に排水用電磁弁ＳＶ３が接続されている。

前記電導度肝１０はリード線１５より演算制御装置１６
に接続されている。この演算制御装置１６の制御部１７
は、ポンプ４、電磁弁ＳＶＩ〜ＳＶ３、攪拌羽根１１の
モータ１２、被測定碍子２６゜２７の昇降機構２４等に
動作信号を出力するようになっている。

又、この実施例では例えば洗浄槽３を単独で鉄塔上へ装
着するため長尺の管路２，８を使用している。

そこで、次に第３実施例の測定方法を第６図を中心に詳
細に説明する。

第４図に示すようにダミー碍子２８が洗浄槽３を閉鎖し
た状態で、第５図において制御部１７に図示しないスイ
ッチから測定開始信号が入力されると、第６図のステッ
プＳ１において給水用ポンプ４が起動され、ステップＳ
２において電磁弁ＳＶ３が開放され、次に、ステップＳ
３において測定用タンク９内の残水が排出され、ステッ
プ４で電磁弁ＳＶ３が閉じられる。

次に、ステップＳ５において電磁弁ＳＶＩか開放される
とともに電磁弁ＳＶ２が閉じられ、洗浄水用タンク１内
の洗浄水かポンプ４により給水管路２を通って洗浄槽３
内に供給され、ダミー碍子２８の裏面及び洗浄槽３の内
周面が洗浄されるとともに管路８を通って洗浄水が測定
用タンク９内に供給され、洗浄槽３、管路８及び測定用
タンク９の内部が清掃される。（ステップＳ６）そして
、ステップＳ７で電磁弁ＳＶＩが閉じられるとともに電
磁弁ＳＶ２が開放され、ステップＳ８でモータ１２に通
電され攪拌羽根１１が回転される。これにより測定用タ
ンク９内の洗浄水は該タンク内で攪拌されるため、タン
ク９内が効率良く清掃される。

次に、ステップＳ９で電磁弁ＳＶ３が開放されて、ステ
ップＳ１０において測定用タンク９内の洗浄水が排出さ
れる。ステップＳ１１において電磁弁ＳＶ２、ＳＶ３が
閉じられるとともに電磁弁ＳＶＩが開放されてポンプ４
により洗浄水が所定量洗浄槽３内に供給される。この洗
浄水は洗浄槽３から管路８を通って測定用タンク９内に
貯留される。（ステップ５１２） 次に、ステップＳ１３において電磁弁Ｓｖｌか閉じられ
るとともにＳ　Ｖ　２が開放され、その後ステップＳ１
４で攪拌羽根１１が回転され、貯留された洗浄水が測定
用タンク内で攪拌される。そして、ステップＳ１５で電
導度計１０により洗浄水の固有電導度Ｒ１ａが測定され
る。

次に、ステップＳ１６において洗浄槽３か二つに分離さ
れるとともに、碍子昇降機構２４が動作されて被測定碍
子２７が洗浄槽３内に移動された後、洗浄槽３を合体さ
せ、洗浄槽３を被測定碍子２７の外周縁に密着させる。

ステップＳ１７で電磁弁ＳＶ３が開放され、ステップＳ
１８で測定用タンク９内の洗浄水が排出される。そして
、ステップＳ１９で電磁弁ＳＶ２、ＳＶ３が閉じられる
とともに電磁弁ＳＶ１が開放され、ステップＳ２０にお
いて所定量の洗浄水で被測定碍子２７の裏面が洗浄され
る。その後ステップＳ２１において電磁弁ＳＶＩが閉じ
られるとともにＳＶ２か開放され、ステップＳ２２で攪
拌羽根１１が回転され、測定用タンク９内の洗浄水が攪
拌される。その後ステップＳ２３において電導度計１０
により汚損洗浄水の電導度Ｒ２が測定される。

次に、ステップＳ２４において演算部１８により前記電
導度Ｒ２から洗浄水の固有電導度Ｒ１ａを減算した後、
ステップＳ２５において前記減算結果に基づいて演算部
１８により汚損量の演算が行われ、さらにステップ８２
６においてポンプ４が停止されてステップＳ２７で被測
定碍子２７が暴露位置に移動され、ダミー碍子２８が洗
浄槽３の開口部を閉鎖する。

さて、この第３実施例の測定方法においては、被測定碍
子２７の汚損量の測定に先立って洗浄槽３、長尺の管路
２，８及び測定用タンク９等の清掃作業を洗浄水により
行なうので、汚損量の測定精度を向上することができる
。

又、この第３実施例においては、洗浄水固有の電導度Ｒ
１ａを測定しておき、被測定碍子２７の洗浄後の汚損洗
浄水の電導度Ｒ２から前記電導度Ｒ１ａを減算した後、
この減算結果から被測定碍子２７の汚損量を演算するよ
うにしたので、汚損量の測定精度を向上することができ
る。

次に、第７図により請求項３記載の発明を具体化した第
４実施例を説明する。

この第４実施例の測定方法は、第６図のステップ２５の
後に、第７図に示すように、ステップＳ２から８８まで
の前洗浄清掃工程Ａと同様の工程、すなわちＳ２ａから
８８ａを後洗浄清掃工程Ｂとして行っている。

この第４実施例の場合には被測定碍子２７の洗浄で生じ
た汚損物が洗浄槽３、管路２，８及び測定用タンク９に
乾燥して付着する以前に清掃して測定用タンク９内に回
収することかでき、このため、次回の汚損量の測定作業
時に管路２，８、洗浄槽３及び測定用タンク９内に付着
して残留しようとする汚損物の量を一層少なくして、測
定精度をさらに向上することができる。

なお、前記第１〜第３の実施例においては、被測定碍子
２７を暴露位置から洗浄槽３内に移動後、清掃後の洗浄
水を排出しているので、両行程を逆にした場合に比べ、
被測定碍子２７の移動中に洗浄槽３内に雨水等が入って
も、測定行程前に排出てき、より好ましい。

又、前記第１〜第４の実施例において、測定終了時点で
測定した洗浄水を貯留しておけば、電導度計１０が乾燥
して性能劣化をきたすこと、あるいは汚損水か乾燥して
汚損物か固着すること等を防止でき、より好ましい。

ところで、第８図は放水量と測定汚損量変化率との関係
を示すグラフである。このグラフから明らかなように、
洗浄水の放水量を４００ｃＣ以上にすれば、汚損量の変
化率が１０％以下に収まり、ステップＳ１から８８まで
の前洗浄清掃工程Ａを行った場合と、前洗浄清掃工程Ａ
及び後洗浄清掃工程Ｂを行った場合とを示す。このグラ
フのように両清掃工程Ａ、Ｂを行った場合には、汚損量
変化率が４００ｃｃの放水量の場合９６％と非常に高く
検出精度を向上することかできる。

又、第９図は塩と、トノコを含有した４００ｃＣの洗浄
水（汚損量０．　０９６５＋ｎｇ／ｃイ）を使用した場
合において、前記管路８の長さと、回収水量との関係を
示すグラフである。このグラフから明らかなように管路
２，８の長さが長くなる程、回収水量が減少し、例えば
○印は１８０秒後の回収水量を示し、・印は６０秒後の
回収水量を示すものである。従って、管路８か例えは２
０ｍのように長くなった場合においても時間の長い１８
０秒後であればほぼ全部が回収されることになる。

なお、この発明は前記実施例に限定されるものではなく
、例えば、洗浄槽３の上部開口を開閉する蓋を装着する
ことにより、洗浄清掃工程中は前記蓋を閉鎖して行い、
被測定碍子の汚損量を測定する場合には前記蓋を開放し
て被測定碍子を洗浄槽３に収容した状態にすることもで
きる。

又、第２，４図におてい、被測定碍子２６．２７は２個
としているが、１個又は３個以上であってもよい。

〔発明の効果〕

以上詳述したように、請求項１記載の発明は、洗浄内に
付着する汚損物を予め洗浄水により清掃して排出するこ
とにより、被測定碍子の汚損量の測定精度を向上するこ
とができるとともに、測定作業の能率を向上し、さらに
前もって測定しておいた洗浄水固有の電導度を被測定碍
子の洗浄後の汚損水の電導度から減算して汚損量を演算
するようにしたので、汚損量の測定精度を向上すること
ができる効果がある。

又、請求項２記載の発明は、洗浄水固有の電導度を実測
するので、請求項１記載の発明よりも汚損量の測定精度
を向上することができる効果かある。

さらに、請求項３記載の発明は、後洗浄清掃を行なうの
で、請求項１又は２記載の発明よりも汚損量の測定精度
をさらに向上することができる効果がある。

【図面の簡単な説明】

第１図はこの発明の碍子汚損量測定方法の第１実施例を
説明するためのフローチャート、第２図は碍子汚損量測
定装置を示す正面図、第３図は測定方法の第２実施例を
説明するためのフローチャート、第４図は碍子汚損量測
定装置の別個を示す路体正面図、第５図はその測定装置
のブロック回路図、第６図は碍子汚損量測定方法の第３
実施例を説明するためのフローチャート、第７図は碍子
汚損量測定方法の第４実施例を説明するためのフローチ
ャート、第８図は洗浄水の放水量と汚損量変化率との関
係を示すグラフ、第９図は管路の長さと回収水量との関
係を示すグラフである。 １・・・洗浄水用タンク、２・・・給水管路、３・・・
洗浄槽、４・・・給水ポンプ、７・・・噴射ノズル、８
・・・管路、９・・・測定用タンク、１０・・・電導度
計、１６・・・制御装置、１７・・・制御部、１８・・
・演算部、２４・・・碍子昇降機構、２６．２７・・・
被測定碍子、ＳＶ１〜ＳＶ３・・・電磁弁。 特許出願人　　　　　東京電力　株式会社日本碍子　株
式会社 代理人　　　　　弁理士　　恩１）博宣（ほか１名） 第２図

Claims (1)

1. 【特許請求の範囲】 １、洗浄水供給源から碍子洗浄槽内へ洗浄水を供給して
   洗浄槽内を清掃した後、被測定碍子を暴露位置から洗浄
   槽内に移動し、清掃後の洗浄水を洗浄槽から排出し、次
   に前記洗浄水供給源から洗浄水を洗浄槽内の被測定碍子
   に噴射して碍子表面を洗浄し、さらに、電導度計により
   洗浄後の汚損水の電導度を測定し、演算制御装置により
   前記電導度から予め測定又は設定しておいた洗浄水用タ
   ンクの洗浄水の固有電導度を減算し、被測定碍子の塩分
   付着密度を演算することを特徴とする碍子汚損量測定方
   法。 ２、洗浄水供給源から碍子洗浄槽内へ洗浄水を供給して
   洗浄槽内を清掃するとともに、清掃後の洗浄水を洗浄槽
   から排出し、次に、所定量の洗浄水を洗浄槽内に供給し
   て電導度計により洗浄水固有の電導度を測定し、その後
   、被測定碍子を暴露位置から洗浄槽内に移動し、前記洗
   浄水を排出し、次に、前記洗浄水供給源から所定量の洗
   浄水を洗浄槽内の被測定碍子に噴射して碍子表面を洗浄
   し、さらに、電導度計により洗浄後の汚損水の電導度を
   測定し、この被測定碍子の洗浄後に得られた電導度から
   前記洗浄水固有の電導度を演算制御装置により減算し、
   この減算された電導度から被測定碍子の塩分付着密度を
   演算することを特徴とする碍子汚損量測定方法。 ３、被測定碍子の洗浄後の汚損水の電導度を測定した後
   、碍子洗浄槽から汚損水を排出し、洗浄水供給源から碍
   子洗浄槽内へ洗浄水を供給して洗浄槽内を清掃すること
   を特徴とする請求項１又は２記載の碍子汚損量測定方法
   。